JPS6120536A - Ｘ線断層撮影装置 - Google Patents
Ｘ線断層撮影装置Info
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- JPS6120536A JPS6120536A JP59140484A JP14048484A JPS6120536A JP S6120536 A JPS6120536 A JP S6120536A JP 59140484 A JP59140484 A JP 59140484A JP 14048484 A JP14048484 A JP 14048484A JP S6120536 A JPS6120536 A JP S6120536A
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- 238000003325 tomography Methods 0.000 claims description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 7
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
この発明は、Ｘ線を用いて高分解能高精度で被撮影体の
断面像を得る回転電子走査式Ｘ線断層藏影ｖＬ＠に関す
る。
断面像を得る回転電子走査式Ｘ線断層藏影ｖＬ＠に関す
る。
［発明の技術的背景とその問題点］
Ｘ線を被撮影体に放射し、被撮影体を透過したＸＳを検
出し、このＸ線の透過率分布から被撮影体の断層像を得
るＸ線断層撮影装置は、医療分野に限らず、その他の種
々の分野においても種々の物体の断層像を得るのに有益
である。しかしながら、比較的小さな物体、例えば直径
数ミリメートルのような光ファイバなどの断層像を高分
解能で得るには物体を透過したＸ線を検出する多チャン
ネルの検出器を必要とする。
出し、このＸ線の透過率分布から被撮影体の断層像を得
るＸ線断層撮影装置は、医療分野に限らず、その他の種
々の分野においても種々の物体の断層像を得るのに有益
である。しかしながら、比較的小さな物体、例えば直径
数ミリメートルのような光ファイバなどの断層像を高分
解能で得るには物体を透過したＸ線を検出する多チャン
ネルの検出器を必要とする。
第２図に示す従来のＸｌｌｌｌｌｉ層像廠影装置におい
ては、Ｘ線管１から放射されたＸ線は被撮影体３を透過
し、検出器５で検出されている。検出器５で検出された
Ｘ線透過率はデータ収集８１ｆ７で収集された後、画像
再構成装置９に供給されている。
ては、Ｘ線管１から放射されたＸ線は被撮影体３を透過
し、検出器５で検出されている。検出器５で検出された
Ｘ線透過率はデータ収集８１ｆ７で収集された後、画像
再構成装置９に供給されている。
画像再構成装置９はＣＰＵ１１と協働して被撮影体３の
断層像を構成し、画像表示装＠１３に表示している。と
ころで、被撮影体３で示ず穎影領域の直径Ｄ（Ｉｍ）に
対してｎチャンネルの検出器５を用いた場合、被撮影体
３を検出し得るピッチＰはＰ＝Ｄ／ｎである。今、直径
Ｄ＝２４０（ｌｉｔ）とし、ｎ＝３２０とすると、ピッ
チＰ−０，７５（Ｕ＋）となる。また、比較的小型の物
体、例えば直径１０（ａｍ）の場合に−１，ｔ １０
（Ｈｌｌ） （７）Ｌ”ッチで測定する装置を構成しよ
うとすると、ｎ＝１０１０．０１＝１０００チヤンネル
の検出器が必要になり、実際上製造は困難である。従っ
て、このような従来の方法では高分解能の断層像を得る
ことが困難であった。
断層像を構成し、画像表示装＠１３に表示している。と
ころで、被撮影体３で示ず穎影領域の直径Ｄ（Ｉｍ）に
対してｎチャンネルの検出器５を用いた場合、被撮影体
３を検出し得るピッチＰはＰ＝Ｄ／ｎである。今、直径
Ｄ＝２４０（ｌｉｔ）とし、ｎ＝３２０とすると、ピッ
チＰ−０，７５（Ｕ＋）となる。また、比較的小型の物
体、例えば直径１０（ａｍ）の場合に−１，ｔ １０
（Ｈｌｌ） （７）Ｌ”ッチで測定する装置を構成しよ
うとすると、ｎ＝１０１０．０１＝１０００チヤンネル
の検出器が必要になり、実際上製造は困難である。従っ
て、このような従来の方法では高分解能の断層像を得る
ことが困難であった。
このような問題を解決し、高分解能の断層像を得る方法
として、電子銃から発生せしめられる電子ビームを使用
し、この電子ビームで物体を電子的に走査して高分解能
の断層像を得る方法が提案されている。第５図はこのよ
うな電子式走査方法を利用したｘｍ断層撮影装置の一例
である。このＸ線断層路影装置においては電子銃１７が
ら発生ずる荷電粒子のビームは第１偏向コイル１９およ
び第２偏向コイル２１を介して真空容器２３の先端に設
けられているターゲット２５に当たり、このターゲット
２５からＸ線を放射するようになっている。このターゲ
ット２５がら放射されたＸ線はターゲットが配設されて
いる平面より少し外れた位置に対向して配設されている
検出器２７に矢印２９．２９’ で示すように被撮影体
３１を透過して当たり、この検出器群２７により被撮影
体３１を透過して減衰したＸ線を検出するようになって
いる。ところで、このＸＩｉ！断層１！影装躍において
は、ビーム走査により被撮影体３１の断層像を高分解能
で得ている反面、ターゲット平面と検出器群平面とが同
一平面にないため、クーグツト２５から放射されたＸ線
は被撮影体３１に対して傾斜して透過することになり、
高精度の断層像を得る上で障害となっている。
として、電子銃から発生せしめられる電子ビームを使用
し、この電子ビームで物体を電子的に走査して高分解能
の断層像を得る方法が提案されている。第５図はこのよ
うな電子式走査方法を利用したｘｍ断層撮影装置の一例
である。このＸ線断層路影装置においては電子銃１７が
ら発生ずる荷電粒子のビームは第１偏向コイル１９およ
び第２偏向コイル２１を介して真空容器２３の先端に設
けられているターゲット２５に当たり、このターゲット
２５からＸ線を放射するようになっている。このターゲ
ット２５がら放射されたＸ線はターゲットが配設されて
いる平面より少し外れた位置に対向して配設されている
検出器２７に矢印２９．２９’ で示すように被撮影体
３１を透過して当たり、この検出器群２７により被撮影
体３１を透過して減衰したＸ線を検出するようになって
いる。ところで、このＸＩｉ！断層１！影装躍において
は、ビーム走査により被撮影体３１の断層像を高分解能
で得ている反面、ターゲット平面と検出器群平面とが同
一平面にないため、クーグツト２５から放射されたＸ線
は被撮影体３１に対して傾斜して透過することになり、
高精度の断層像を得る上で障害となっている。
［発明の目的コ
この発明は、上記に鑑みなされたもので、その目的とし
ては、高分解能高精度で断層像を得ることがでさるＸ線
１ｌＪｉ層踊影装置を提供することにある。
ては、高分解能高精度で断層像を得ることがでさるＸ線
１ｌＪｉ層踊影装置を提供することにある。
［発明の構成］
上記目的を達成するため、この発明は、被撮影体を中心
に部分円弧状に広がるターゲットに沿って電子ビームを
走査し被撮影体の一断面に対し円弧状にＸ線を放射し、
このＸ線を被拡影体を介して前記ターゲットに対向して
部分円弧状に配設されている検出手段で検出するととも
に、前記ターゲットおよび検出手段からなる組合体また
は被撮影体の少なくとも一方を他方に対して回転し得る
ように構成されていることを要旨とする。
に部分円弧状に広がるターゲットに沿って電子ビームを
走査し被撮影体の一断面に対し円弧状にＸ線を放射し、
このＸ線を被拡影体を介して前記ターゲットに対向して
部分円弧状に配設されている検出手段で検出するととも
に、前記ターゲットおよび検出手段からなる組合体また
は被撮影体の少なくとも一方を他方に対して回転し得る
ように構成されていることを要旨とする。
［発明の実施例〕
以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第１図に示すこの発明の一実施例に係る回転電子走査式
Ｘ線断層撮影装置は、電子銃４１を有し、この電子銃４
１から発生する電子ビームが第１偏向コイル４３および
第２偏向コイル４５により制御されて真空容器４７の先
端に設けられているターゲット４９に当たり、Ｘ線が放
射されるようになっている。ターゲット４つから放射さ
れたＸ線は、被撮影体５１を透過し、ターゲット４９に
対向して配設されている検出器群５３で検出されるよう
になっている。ターゲット４９と検出器群５３の間に配
設された被撮影体５１は試料台５５の上に載置されてい
る。試料台５５はモータ５７により矢印５９で示すよう
に中心軸６１の回りを回転し、これにより被撮影体５１
を中心軸６１を中心に回転し得るようにしている。
Ｘ線断層撮影装置は、電子銃４１を有し、この電子銃４
１から発生する電子ビームが第１偏向コイル４３および
第２偏向コイル４５により制御されて真空容器４７の先
端に設けられているターゲット４９に当たり、Ｘ線が放
射されるようになっている。ターゲット４つから放射さ
れたＸ線は、被撮影体５１を透過し、ターゲット４９に
対向して配設されている検出器群５３で検出されるよう
になっている。ターゲット４９と検出器群５３の間に配
設された被撮影体５１は試料台５５の上に載置されてい
る。試料台５５はモータ５７により矢印５９で示すよう
に中心軸６１の回りを回転し、これにより被撮影体５１
を中心軸６１を中心に回転し得るようにしている。
第２図は、第１図の回転電子走査式Ｘ線断層踏影装置の
ターゲット４９および検出器群５３で構成される平面に
直角な方向からターゲット４９および複数の検出器５３
′からなる検出器群５３の構成を示づとともに、検出器
群５３で検出された各データを処理し表示データ収集装
置６３、画像再構成装置６５、ＣＰＵ６７および画像表
示装置６９の構成を示しているものである。この図から
明らかなように、ターゲット４９および検出器群５３は
それぞれ被撮影体５１を中心に部分円弧状に対向して形
成されている。ターゲット４９および検出器群５３は周
一平面上に配設されているので、各部分円弧状部の角度
は１８０°以下である。
ターゲット４９および検出器群５３で構成される平面に
直角な方向からターゲット４９および複数の検出器５３
′からなる検出器群５３の構成を示づとともに、検出器
群５３で検出された各データを処理し表示データ収集装
置６３、画像再構成装置６５、ＣＰＵ６７および画像表
示装置６９の構成を示しているものである。この図から
明らかなように、ターゲット４９および検出器群５３は
それぞれ被撮影体５１を中心に部分円弧状に対向して形
成されている。ターゲット４９および検出器群５３は周
一平面上に配設されているので、各部分円弧状部の角度
は１８０°以下である。
従って、被撮影体５１の完全な断層像を得るために、モ
ータ５７により試料台５５を介して被撮影体５１を中心
軸６１の周りに回転し、完全な断層像を得るようにして
いる。
ータ５７により試料台５５を介して被撮影体５１を中心
軸６１の周りに回転し、完全な断層像を得るようにして
いる。
このように構成された回転電子走査式Ｘ線断層撮影装置
においては、電子銃４１から発生した電子ビームは第１
偏向］イル４３および第２偏向コイル４５により偏向制
御され、円弧状のターゲット４９上を一端から他端に、
すなわち第２図においてａ点からｂ点に向ってターゲッ
ト４９上を走査するように移動する。その結果、ターゲ
ット４９から放射されるＸ線は被ｍ彰体５１を同様のｈ
向に走査しながら被撮影体５１を透過し、対向する各検
出器５３′により逐次検出される。この場合、前述した
ように、ターゲット４９および検出器群５３の円弧部は
１８０°以下であるので、モータ５７により被撮影体５
１を回転して被撮影体５１も全周囲から走査する。被撮
影体５１を透過し各検出器５３′で検出される検出信号
は被撮影体５１のＸ線透過率を表す信号である。従って
、この各検出器５３′で検出されたＸ線透過率信号をデ
ータ収集装置６３で収集した後、画像再構成装置６５に
供給し、ＣＰＵ６７の制御のもとに被撮影体５１の断層
像を画像再構成装置６５で構成し、これを画像表示装［
６９で表示する。
においては、電子銃４１から発生した電子ビームは第１
偏向］イル４３および第２偏向コイル４５により偏向制
御され、円弧状のターゲット４９上を一端から他端に、
すなわち第２図においてａ点からｂ点に向ってターゲッ
ト４９上を走査するように移動する。その結果、ターゲ
ット４９から放射されるＸ線は被ｍ彰体５１を同様のｈ
向に走査しながら被撮影体５１を透過し、対向する各検
出器５３′により逐次検出される。この場合、前述した
ように、ターゲット４９および検出器群５３の円弧部は
１８０°以下であるので、モータ５７により被撮影体５
１を回転して被撮影体５１も全周囲から走査する。被撮
影体５１を透過し各検出器５３′で検出される検出信号
は被撮影体５１のＸ線透過率を表す信号である。従って
、この各検出器５３′で検出されたＸ線透過率信号をデ
ータ収集装置６３で収集した後、画像再構成装置６５に
供給し、ＣＰＵ６７の制御のもとに被撮影体５１の断層
像を画像再構成装置６５で構成し、これを画像表示装［
６９で表示する。
電子銃４１からターゲット４９を介して被撮影体５１を
走査するＪ、うに放射されるＸ［ｌは無限に狭い走査間
隔で発生ずることができる。すなわら、第３図に示すよ
うに、比較的間隔をあけて配設された検出器群７１の場
合においても一つの検出器、例えば第ｎＷ目の検出器７
１′からターゲット４９を見ると、被撮影体５１を含む
フンシン角度αを形成する円弧状部分りからＸ線を無限
の間隔で細く発生し走査することができる。従って、こ
のように無限に細く発生するＸ線を検出する検出器側の
検出間隔もＣＰＵ６７の制御により自在に細くできるの
で、今その検出チャンネルの数ｎ＝１０００とすると、
直径φ−１０′（ＩＩＩＩｌｌ）の被撮影体５１の場合
にも検出データピッチｐ−φ／ｎ＝ｏ。
走査するＪ、うに放射されるＸ［ｌは無限に狭い走査間
隔で発生ずることができる。すなわら、第３図に示すよ
うに、比較的間隔をあけて配設された検出器群７１の場
合においても一つの検出器、例えば第ｎＷ目の検出器７
１′からターゲット４９を見ると、被撮影体５１を含む
フンシン角度αを形成する円弧状部分りからＸ線を無限
の間隔で細く発生し走査することができる。従って、こ
のように無限に細く発生するＸ線を検出する検出器側の
検出間隔もＣＰＵ６７の制御により自在に細くできるの
で、今その検出チャンネルの数ｎ＝１０００とすると、
直径φ−１０′（ＩＩＩＩｌｌ）の被撮影体５１の場合
にも検出データピッチｐ−φ／ｎ＝ｏ。
０１ （ｌＩｌｍ） −１０（μｍ）の細いデータピッ
チで被撮影体５１の１ｌｌｉ層像を検出することができ
るのである。
チで被撮影体５１の１ｌｌｉ層像を検出することができ
るのである。
なお、被撮影体５１の完全な断層像を得るには、＜１８
０’＋ファン角度）分のデータが必要であるので、上記
実施例では被殿影体５１をモータ５７で回転さゼている
が、この回転角度は、第３図に示すように、ターゲット
および検出器で検出されるデータ角度をθ１（＝θ２）
とすると、（１８０’ ＋フン・ン角度−θ１）であり
、この角度だけ被撮影体５１を回転すればよい。
０’＋ファン角度）分のデータが必要であるので、上記
実施例では被殿影体５１をモータ５７で回転さゼている
が、この回転角度は、第３図に示すように、ターゲット
および検出器で検出されるデータ角度をθ１（＝θ２）
とすると、（１８０’ ＋フン・ン角度−θ１）であり
、この角度だけ被撮影体５１を回転すればよい。
また、上記実施例においては、被撮影体５１をモータ５
７により試料台とともに回転させる場合について説明し
たが、被撮影体５１を回転させる代りに、ターゲット４
９および検出器群５３側を回転さゼるようにしてもよい
。
７により試料台とともに回転させる場合について説明し
たが、被撮影体５１を回転させる代りに、ターゲット４
９および検出器群５３側を回転さゼるようにしてもよい
。
［発明の効果］
以上説明したように、この発明によれば、被撮影体を中
心に部分円弧状に広がるターゲットを介してＸ線発生手
段から被撮影体にＸ線を円弧状に走査放射し、このＸ線
を被撮影体を介して前記ターゲットに対向して部分円弧
状に配設されている検出手段で検出するとともに、前記
ターゲットおよび検出手段または被撮影体の少なくとも
一方を他方に対して回転し、被撮影体を走査するＸ線を
ターゲットから検出器に至る一断面で無限に狭い間隔で
発生することかできるようにしたので、高分解能高精度
で１１７ｉ層像を得ることができる。
心に部分円弧状に広がるターゲットを介してＸ線発生手
段から被撮影体にＸ線を円弧状に走査放射し、このＸ線
を被撮影体を介して前記ターゲットに対向して部分円弧
状に配設されている検出手段で検出するとともに、前記
ターゲットおよび検出手段または被撮影体の少なくとも
一方を他方に対して回転し、被撮影体を走査するＸ線を
ターゲットから検出器に至る一断面で無限に狭い間隔で
発生することかできるようにしたので、高分解能高精度
で１１７ｉ層像を得ることができる。
第１図はこの発明の一実施例に係る回転電子走査式Ｘｌ
１ＪｌｌＩＩＪｉ層撮影装買の構成図、第２図は第１図
の回転電子走査式Ｘ線断層随影装置のシステム構成図、
第３図は第１図の回転電子走査式Ｘ線断層罷影装置の作
用を説明する図、第４図および第５図は従来のＸ線１ｇ
ｉ層躍影装置を示す構成図である。 ４１・・・電子銃、４３．４５・・・偏向＝１イル、４
９・・・ターゲット、５１・・・被撮影体、５３・・・
検出器群、５５・・・試わ１台。 −ミ心ポ
１ＪｌｌＩＩＪｉ層撮影装買の構成図、第２図は第１図
の回転電子走査式Ｘ線断層随影装置のシステム構成図、
第３図は第１図の回転電子走査式Ｘ線断層罷影装置の作
用を説明する図、第４図および第５図は従来のＸ線１ｇ
ｉ層躍影装置を示す構成図である。 ４１・・・電子銃、４３．４５・・・偏向＝１イル、４
９・・・ターゲット、５１・・・被撮影体、５３・・・
検出器群、５５・・・試わ１台。 −ミ心ポ
Claims (1)
- 被撮影体を中心に部分円弧状に広がるターゲットを有し
、このターゲットに沿って電子ビームを走査し被撮影体
の一断面に対し円弧状にＸ線を放射するＸ線発生手段と
、被撮影体を介して前記ターゲットに対向して部分円弧
状に配設され、前記Ｘ線発生手段から前記ターゲットを
介して放射され被撮影体を透過したＸ線を検出する検出
手段と、ターゲットおよび検出手段を一体としてまたは
被撮影体の少なくとも一方を他方に対して回転せる手段
とを有するＸ線断層撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59140484A JPS6120536A (ja) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | Ｘ線断層撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59140484A JPS6120536A (ja) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | Ｘ線断層撮影装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6120536A true JPS6120536A (ja) | 1986-01-29 |
Family
ID=15269673
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59140484A Pending JPS6120536A (ja) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | Ｘ線断層撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6120536A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005288162A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | General Electric Co <Ge> | 静止型コンピュータ断層撮影システム及び方法 |
-
1984
- 1984-07-09 JP JP59140484A patent/JPS6120536A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005288162A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | General Electric Co <Ge> | 静止型コンピュータ断層撮影システム及び方法 |
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