JPS61201156A - Sector circuit in scanning type ultrasonic flaw detecting instrument - Google Patents

Sector circuit in scanning type ultrasonic flaw detecting instrument

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JPS61201156A
JPS61201156A JP60042350A JP4235085A JPS61201156A JP S61201156 A JPS61201156 A JP S61201156A JP 60042350 A JP60042350 A JP 60042350A JP 4235085 A JP4235085 A JP 4235085A JP S61201156 A JPS61201156 A JP S61201156A
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JP
Japan
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circuit
ultrasonic
signal
ultrasonic transducer
delay time
Prior art date
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Application number
JP60042350A
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Japanese (ja)
Inventor
Shusuke Suzuki
秀典 鈴木
Yukio Yoshida
幸男 吉田
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Tokyo Keiki Inc
Original Assignee
Tokyo Keiki Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To facilitate delay time setting by delaying and transmitting ultrasonic waves from a row of ultrasonic transducers in the sequence of the disposition, inputting received signals in a memory circuit and reading with a delay in the sequence of the disposition of the transducers. CONSTITUTION:Drive signals from a delay time setting circuit 2 are transmitted to a driving circuit 3 and the start of transmission from each TJ of a raw (n) of ultrasonic transducers (TJ) is delayed in the order of disposition. The ultrasonic wave front is tilted an angle theta to the TJ row. This angle theta is adjusted by the delay time. The ultrasonic waves proceed through the object to be inspected and is scattered if defects exist. The scattered wave is received by the TJ row 4, A/D converted 6 and stored in a memory circuit 7. The output from the circuit 7 is read with a timing coincident with the delay time as set in each TJ, A/Dconverted 8, summed 9 and displayed 11. Hence, the delay time of both the transmitting and receiving circuits can be adjusted optionally and the proceeding direction of the ultrasonic waves can be changed as desired to provide for high accuracy flaw detection.

Description

【発明の詳細な説明】 a、産業上の利用分野 本発明は走査型超音波探傷装置のセクタ回路に関する。[Detailed description of the invention] a. Industrial application field The present invention relates to a sector circuit for a scanning ultrasonic flaw detection device.

b、従来の技術 第5図は従来技術による走査型超音波探傷装置のセクタ
回路のブロックダイアグラムであり、第6図は走査型超
音波探傷器の超音波トランスデュ−サから送信される超
音波の進行方向および波面を示す概念図である。
b. Conventional technology Figure 5 is a block diagram of a sector circuit of a scanning type ultrasonic flaw detector according to the prior art, and Figure 6 shows the ultrasonic wave transmitted from the ultrasonic transducer of the scanning type ultrasonic flaw detector. FIG. 2 is a conceptual diagram showing a traveling direction and a wave front.

制御回路1aからの制御信号によりディレー素子2a(
2□a・・・2na)の遅延時間が選択され、各パルサ
ー3a(3,a・・・3na)は基準信号に対してディ
レー素子(2,8・・・2na)によって定まる遅延時
間だけ遅延した送信信号を超音波トランスデユーサ4a
(4,a・・・4na)におくる。このとき、超音波ト
ランスデユーサ4+a・・・4naから被検体の中に送
信される超音波の位相が超音波トランスデユーサの配列
の端部からの距離に比例して変化するように、遅延素子
の遅延時間が設定される。この結果、第6図に図示する
ように、被検体の中を進行する超音波は超音波トランス
デユーサの法線に対して着定角度θ傾斜した方向に伝播
する。
The delay element 2a (
2□a...2na) delay time is selected, and each pulser 3a (3,a...3na) delays the reference signal by the delay time determined by the delay element (2,8...2na). The transmitted signal is sent to the ultrasonic transducer 4a.
(4,a...4na). At this time, a delay is made so that the phase of the ultrasound transmitted from the ultrasound transducers 4+a...4na into the subject changes in proportion to the distance from the end of the array of ultrasound transducers. The delay time of the element is set. As a result, as shown in FIG. 6, the ultrasonic waves traveling through the subject propagate in a direction inclined at a fixed angle θ with respect to the normal line of the ultrasonic transducer.

上記超音波は被検体の中の欠陥等により反射され、反射
された超音波は上記超音波トランスデユーサ群により検
出され電気信号群に変換される。
The ultrasonic waves are reflected by defects in the object, and the reflected ultrasonic waves are detected by the ultrasonic transducers and converted into electrical signals.

上記超音波トランスデユーサからの電気信号はプリアン
プ群5aで増幅され、それぞれの出力はそれぞれの遅延
時間が対応するディレー素子2.・・・2naの遅延時
間に等しいディレー素子6a (6、a・・・6 na
)を経て加算増幅回の遅延時間は制御回路1aからの制
御信号により選択される。
Electrical signals from the ultrasonic transducer are amplified by a preamplifier group 5a, and each output is sent to a delay element 2.2 with a corresponding delay time. ...Delay element 6a equal to the delay time of 2na (6, a...6 na
), the delay time of the summing amplification circuit is selected by a control signal from the control circuit 1a.

上記ディレー素子6.a・・・6naによって位相が調
整されているので、上記加算増幅回路7aの出力は超音
波トランスデユーサ列に垂直な面に対して角度θだけ傾
斜した方向から見た欠陥の映像信号となっている。上記
映像信号はアナログ/デジタル変換回路8aにおいてデ
ジタル信号に変換されたのち記憶回路9aで記憶される
。上記記憶回路は上記制御部1aにより制御され、同様
に上記制御部に制御されるCRT等の周辺機器10aに
映像信号を送る。この際記憶回路9aには外部の座標変
換回路からのコントロール信号により座標変換された形
でデジタル信号が記憶される。上記座標変換回路は記憶
回路へデジタル信号を読みこむときのアドレス信号を角
度θに応じて変える回路であり、上記制御部にコントロ
ールされる。上記記憶回路にはA/D変換部が接続され
、制御部のコントロール信号により映像信号を出力し、
例えば上記CRTはこの映像信号にもとすき上記欠陥を
Bスフ−1画像として表示する。
The above delay element 6. Since the phase is adjusted by a...6na, the output of the summing amplifier circuit 7a becomes a video signal of the defect viewed from a direction inclined at an angle θ with respect to a plane perpendicular to the ultrasonic transducer array. ing. The video signal is converted into a digital signal in an analog/digital conversion circuit 8a and then stored in a storage circuit 9a. The storage circuit is controlled by the control section 1a, and sends a video signal to a peripheral device 10a, such as a CRT, which is also controlled by the control section. At this time, the digital signal is stored in the storage circuit 9a in a form whose coordinates have been transformed by a control signal from an external coordinate transformation circuit. The coordinate conversion circuit is a circuit that changes an address signal when reading a digital signal into the storage circuit according to the angle θ, and is controlled by the control section. An A/D conversion section is connected to the storage circuit, and outputs a video signal according to a control signal from a control section,
For example, the above-mentioned CRT displays the above-mentioned defects as a B-1 image in this video signal.

C0発明が解決しようとする問題点 走査型超音波探傷器においては、送信・受信回路のディ
レー素子による遅延時間を切り換えることにより超音波
の進行方向θを変えることができ、従来技術によるとき
は固定ディレー素子群を制御信号で切り換えることによ
り遅延時間を切り換える。この結果つぎの問題点が生じ
る。
C0 Problems to be solved by the invention In a scanning ultrasonic flaw detector, the direction of propagation θ of the ultrasonic waves can be changed by changing the delay time by the delay element of the transmitting/receiving circuit; The delay time is switched by switching the delay element group using a control signal. As a result, the following problem arises.

l)セクター角(超音波トランスデユーサ列の法線に対
して超音波進行方向のなす角度)が30’の場合には、
最大遅延時間が1μ3近くになり、鮮明な画像を得るた
めにはディレー素子の値を正確に選定しなければならず
回路設計が難しい。
l) When the sector angle (the angle formed by the direction of ultrasound propagation with the normal to the row of ultrasound transducers) is 30',
The maximum delay time is close to 1 μ3, and in order to obtain a clear image, the value of the delay element must be accurately selected, making circuit design difficult.

1))逆にセクター角が微小であるとき、遅延時間を1
onsのオーダーで制御しなければならない。
1)) Conversely, when the sector angle is small, the delay time is 1
must be controlled on the order of ons.

iii )ディレー素子のラインおよび制御部の回路が
複雑である。
iii) The line of the delay element and the circuit of the control section are complicated.

iv)同時に駆動する超音波トランスデユーサの数が多
くなると、特に受信回路のディレー回路の負担が大きい
iv) When the number of ultrasonic transducers driven simultaneously increases, the load on the delay circuit of the receiving circuit becomes particularly large.

本発明は送信回路と受信回路またはその一方の回路の遅
延時間をディレー素子を用いずに設定することができる
走査型超音波探傷装置のセクタ回路を提供することを目
的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a sector circuit for a scanning ultrasonic flaw detection apparatus that can set the delay time of a transmitting circuit and a receiving circuit, or one of the circuits, without using a delay element.

d0問題点を解決するための手段 上記目的は、超音波トランスデユーサ列と、上記超音波
トランスデユーサ列の各超音波トランスデユーサを駆動
する駆動回路列と、上記各超音波トランスデユーサの送
信立ち上がりの時点を超音波トランスデユーサの配列の
順に遅延させる遅延時間設定回路と、上記遅延時間設定
回路を制御する制御回路と、上記超音波トランスデユー
サによって受信された反射超音波の信号を増幅する増幅
回路から成る増幅回路列と、上記増幅回路の出力をアナ
ログ信号からデジタル信号に変換するA/D変換回路と
、上記A/D変換回路の出力を保持する記憶回路と、上
記制御回路からの制御信号によって超音波トランスデユ
ーサの配列の順に遅延して読みだされた上記記憶回路の
出力信号をデジタル信号からアナログ信号に変換するD
/A変換回路と、上記超音波トランスデユーサ列の各超
音波トランスデユーサの出力に対応する各D/A変換回
路の出力を入力とする加算回路と1、上記加算回路の出
力信号を表示装置に送るインターフェース回路を備える
走査型超音波探傷装置のセクタ回路によって解決された
d0 Means for Solving Problems The above object is to provide an array of ultrasonic transducers, a drive circuit array for driving each ultrasonic transducer in the array of ultrasonic transducers, and an array of ultrasonic transducers for each of the ultrasound transducers. a delay time setting circuit that delays the start of transmission in the order of the arrangement of the ultrasonic transducers; a control circuit that controls the delay time setting circuit; and a reflected ultrasound signal received by the ultrasonic transducer. an amplifier circuit array consisting of an amplifier circuit that amplifies the output of the amplifier circuit; an A/D conversion circuit that converts the output of the amplifier circuit from an analog signal to a digital signal; a storage circuit that holds the output of the A/D conversion circuit; D converting the output signal of the storage circuit, which is delayed and read out in the order of the arrangement of the ultrasonic transducers, from a digital signal to an analog signal according to a control signal from the circuit;
/A converter circuit, an adder circuit whose input is the output of each D/A converter circuit corresponding to the output of each ultrasonic transducer in the ultrasonic transducer array; and 1, displaying the output signal of the adder circuit. The problem was solved by a sector circuit of a scanning ultrasonic flaw detector that includes an interface circuit to the device.

e0作用 制御回路からクロックパルスが遅延時間設定回路に送ら
れ、一定数のクロックパルス毎に駆動回路列の各駆動回
路をその配列の順に順次駆動させる駆動信号を遅延時間
設定回路が駆動回路列に送る。
A clock pulse is sent from the e0 action control circuit to the delay time setting circuit, and the delay time setting circuit sends a drive signal to the drive circuit array to sequentially drive each drive circuit in the drive circuit array in the order of their arrangement every certain number of clock pulses. send.

この際超音波トランスデユーサ列に含まれる超音波トラ
ンス、デューサの数Nと一連の駆動信号によって駆動さ
れる超音波トランスデユーサの数nは必ずしも一致させ
る必要はない、N>nとし、一連の駆動信号によって互
いに隣接する超音波トランスデユーサの組を駆動し、一
連の駆動信号毎に駆動される超音波トランスデユーサの
組を移動することにより、超音波送信源の位置を空間的
に移動することができる。
At this time, the number N of ultrasonic transformers and ducers included in the ultrasonic transducer row and the number n of ultrasonic transducers driven by a series of drive signals do not necessarily have to match. The position of the ultrasound transmission source can be spatially adjusted by driving sets of ultrasound transducers adjacent to each other using drive signals of Can be moved.

各超音波トランスデユーサの超音波送信開始の時点は上
記駆動信号によって定まり、その配列の順に遅延するの
で、各超音波トランスデユーサから送信される超音波の
位相も隣接する超音波トランスデユーサ毎に順次遅れる
。したがって一連の駆動信号によって生成される超音波
の波面は超音波トランスデユーサ列に対して角度θだけ
傾斜する。すなわち超音波トランスデユーサ列の法線に
対して角度θだけ傾斜した方向に進行する。
The time point at which each ultrasonic transducer starts transmitting ultrasonic waves is determined by the above drive signal, and is delayed in the order of the arrangement, so the phase of the ultrasonic waves transmitted from each ultrasonic transducer also differs from that of the adjacent ultrasonic transducer. It is delayed sequentially. Therefore, the wavefront of the ultrasound generated by the series of drive signals is inclined by an angle θ with respect to the array of ultrasound transducers. That is, it travels in a direction inclined by an angle θ with respect to the normal line of the ultrasonic transducer array.

上記進行方向を有する超音波は被検体の中を進行し、被
検体中に欠陥などが存在すると散乱され散乱波が発生す
る。上記散乱波は超音波トランスデユーサ列によって受
信され電気信号に変換され、各超音波トランスデユーサ
毎に設けられた増幅回路で増幅される。増幅回路の出力
は、後段のアナログ/デジタル変換回路においてデジタ
ル信号に変換され、その後段の記憶回路に保持される。
The ultrasonic wave having the above-mentioned direction of travel travels through the object, and if a defect or the like exists in the object, it is scattered and scattered waves are generated. The scattered waves are received by an array of ultrasonic transducers, converted into electrical signals, and amplified by an amplifier circuit provided for each ultrasonic transducer. The output of the amplifier circuit is converted into a digital signal in a subsequent analog/digital conversion circuit, and is held in a subsequent storage circuit.

記憶回路の保持内容は、制御回路からの読み出し信号に
よって読み出され、デジタル/アナログ変換回路におい
てデジタル信号からアナログ信号に変換される。この際
、各超音波トランスデユーサに対応する信号の読み出し
時点を制御することにより、記憶回路に人力された時点
に対する記憶回路から出力される時点の遅延時間を変化
させることができる。各超音波トランスデユーサに対応
する遅延時間を、送信回路の遅延時間設定回路において
各超音波トランスデユーサに対して設定された遅延時間
に一致させ、デジタル/アナログ変換回路の各超音波ト
ランスデユーサに対応するデジタル信号の和を加算回路
において計算することにより、超音波を送信した超音波
トランスデユーサから超音波トランスデユーサ列の法線
に対して角度θだけ傾斜した方向に存在する欠陥の映像
信号が得られる。
The content held in the memory circuit is read out by a read signal from the control circuit, and is converted from a digital signal to an analog signal in a digital/analog conversion circuit. At this time, by controlling the time point at which the signal corresponding to each ultrasonic transducer is read, it is possible to change the delay time between the time point at which the signal is inputted to the memory circuit and the time point at which the signal is output from the memory circuit. The delay time corresponding to each ultrasonic transducer is made to match the delay time set for each ultrasonic transducer in the delay time setting circuit of the transmitting circuit, and each ultrasonic transducer of the digital/analog conversion circuit is By calculating the sum of the digital signals corresponding to the user in an adding circuit, defects existing in a direction inclined by an angle θ from the ultrasonic transducer that transmitted the ultrasonic wave to the normal to the ultrasonic transducer array are detected. video signal can be obtained.

一連の駆動信号毎に駆動される超音波トランスデユーサ
の組を空間的に移動し又は上記角度θを変化させること
により、被検体の中の欠陥像をインターフェース回路を
介して例えばCRTなどの表示装置に表示することがで
きる。
By spatially moving a set of ultrasonic transducers driven by a series of drive signals or by changing the above-mentioned angle θ, a defect image in the object can be displayed on a CRT or the like via an interface circuit. It can be displayed on the device.

f、実施例 第1図は本発明に係る走査型超音波探傷装置のセクタ回
路の好ましい実施例のブロックダイアグラム、第2図は
本発明に係る走査型超音波探傷装置のセクタ回路の超音
波トランスデユーサの配列と一連の駆動信号で発生する
超音波を示す概念的断面図である。
f. Embodiment FIG. 1 is a block diagram of a preferred embodiment of a sector circuit of a scanning ultrasonic flaw detector according to the present invention, and FIG. 2 is an ultrasonic transformer of a sector circuit of a scanning ultrasonic flaw detector according to the present invention. FIG. 2 is a conceptual cross-sectional view showing an arrangement of deducers and ultrasonic waves generated by a series of drive signals.

制御回路1からクロックパルスが遅延時間設定回路2に
送られ、一定数のクロックパルス毎に各駆動回路をその
配列の順に順次駆動させる駆動信号を遅延時間設定回路
2が駆動回路列3に送る。
A clock pulse is sent from the control circuit 1 to the delay time setting circuit 2, and the delay time setting circuit 2 sends a drive signal to the drive circuit array 3 to sequentially drive each drive circuit in the order of its arrangement every fixed number of clock pulses.

遅延時間設定回路2は、例えばクロックパルスを入力信
号とするシリアルINパラレルOUTシフトレジスタに
よって実現することができる。
The delay time setting circuit 2 can be realized, for example, by a serial IN/parallel OUT shift register that receives a clock pulse as an input signal.

超音波トランスデユーサ列4の各超音波トランスデユー
サ(1・・・N)の超音波送信開始の時点は上記駆動信
号によって定まり、その配列の順に遅延するので、各超
音波トランスデユーサから送信される超音波の位相も順
次遅れる。したがって一連の駆動信号によって生成され
る超音波の波面は超音波トランスデユーサ列に対して角
度θだけ傾斜する。すなわち超音波トランスデユーサ列
の法線に対して角度θだけ傾斜した方向に進行する。な
お上記角度θは遅延時間によって定まり、遅延時間は制
御回路1のクロックパルスの周期などの調整によって変
えることができる。
The time point at which each ultrasonic transducer (1...N) in the ultrasonic transducer array 4 starts transmitting ultrasonic waves is determined by the drive signal described above, and is delayed in the order of the array. The phase of the transmitted ultrasonic waves is also sequentially delayed. Therefore, the wavefront of the ultrasound generated by the series of drive signals is inclined by an angle θ with respect to the array of ultrasound transducers. That is, it travels in a direction inclined by an angle θ with respect to the normal line of the ultrasonic transducer array. Note that the angle θ is determined by the delay time, and the delay time can be changed by adjusting the period of the clock pulse of the control circuit 1, etc.

この際超音波トランスデユーサ列4に含まれる超音波ト
ランスデユーサの数Nと一連の駆動信号によって駆動さ
れる超音波トランスデユーサの数nは必ずしも一致させ
る必要はない。N>nとし、一連の駆動信号によって互
いに隣接する超音波トランスデユーサの組を駆動し、一
連の駆動信号毎に駆動される超音波トランスデユーサの
組を移動することにより、超音波送信源の位置を空間的
に移動することができる。
At this time, the number N of ultrasonic transducers included in the ultrasonic transducer array 4 and the number n of ultrasonic transducers driven by the series of drive signals do not necessarily have to match. N>n, and by driving a set of ultrasound transducers adjacent to each other with a series of drive signals, and moving the set of ultrasound transducers driven for each series of drive signals, the ultrasound transmission source is The position of can be moved spatially.

上記進行方向を有する超音波は被検体の中を進行し、被
検体中に欠陥などが存在すると散乱され散乱波が発生す
る。上記散乱波は上記超音波トランスデエーサ列4によ
って受信され電気信号に変換され、各超音波トランスデ
ユーサ毎に設けられた増幅回路から成る増幅回路列5で
増幅される。
The ultrasonic wave having the above-mentioned direction of travel travels through the object, and if a defect or the like exists in the object, it is scattered and scattered waves are generated. The scattered waves are received by the ultrasonic transducer array 4, converted into electrical signals, and amplified by an amplifier circuit array 5 comprising an amplifier circuit provided for each ultrasonic transducer.

上記両幅回路5の出力は、後段のアナログ/デジタル変
換回路6においてデジタル信号に変換され、その後段の
記憶回路7に保持される。上記記憶回路7の保持内容は
、上記制御回路1からの読み出し信号によって読み出さ
れデジタル/アナログ変換回路8においてデジタルから
アナログ信号に変換される。この際、各超音波トランス
デユーサに対応する信号の読み出しを制御することによ
り、記憶回路7に入力された時から記憶回路から出力さ
れる時までの時間を変えることができる、すなわち遅延
時間可変遅延回路とすることができる。
The output of the double-width circuit 5 is converted into a digital signal by an analog/digital conversion circuit 6 at a subsequent stage, and is held in a storage circuit 7 at a subsequent stage. The contents held in the storage circuit 7 are read out by a read signal from the control circuit 1 and converted from digital to analog signals in the digital/analog conversion circuit 8. At this time, by controlling the reading of the signal corresponding to each ultrasonic transducer, it is possible to change the time from when it is input to the memory circuit 7 to when it is output from the memory circuit, that is, the delay time is variable. It can be a delay circuit.

各超音波トランスデユーサに対応する遅延時間を、送信
回路の遅延時間設定回路2において各超音波トランスデ
ユーサに対して設定された遅延時間に一致させ、デジタ
ル/アナログ変換回路8の各超音波トランスデユーサに
対応するデジタル信号の和を加算回路9において計算す
ることにより、超音波を送信した超音波トランスデユー
サ群から超音波トランスデユーサ列の法線に対して角度
θだけ傾斜した方向に存在する欠陥の映像信号が得られ
る。
The delay time corresponding to each ultrasonic transducer is made to match the delay time set for each ultrasonic transducer in the delay time setting circuit 2 of the transmitting circuit, and each ultrasonic wave of the digital/analog conversion circuit 8 is By calculating the sum of the digital signals corresponding to the transducers in the adding circuit 9, the direction from the ultrasonic transducer group that transmitted the ultrasonic waves by an angle θ with respect to the normal to the ultrasonic transducer array is calculated. A video signal of the defect present in the image can be obtained.

上記映像信号に基づいて、BスコープまたはCスコープ
として欠陥の画像が得られる。
Based on the video signal, an image of the defect is obtained as a B scope or a C scope.

例えばBスコープ画像は、上記インターフェース回路1
0を、A/D変換回路記憶回路、D/A変換回路、座標
変換回路(いずれも図示せず)で構成し、座標変換する
ことにより得られる。上記映像信号を上記A/D変換回
路によってデジタル信号に変換し、このデジタル信号を
上記回路に記憶させる。制御回路lによって角度θに応
じてコントロールされている上記座標変換回路からのア
ドレス指定コントロール信号により指定される上記記憶
回路の位置に、超音波トランスデユーサ列の始めから終
りまでの1フレ一ム分の信号が記憶される。記憶回路の
出力は、制御回路1のコントロール信号により制御され
たD/A変換回路を経て、例えばCRTなどの表示装置
1)に送られ超音波トランスデユーサ列に垂直方向の映
像信号(Bスコープ)として出力される。なお角度θを
変化させることも可能である。
For example, the B scope image is
0 is configured by an A/D conversion circuit storage circuit, a D/A conversion circuit, and a coordinate conversion circuit (all not shown), and is obtained by coordinate conversion. The video signal is converted into a digital signal by the A/D conversion circuit, and this digital signal is stored in the circuit. One frame from the beginning to the end of the ultrasonic transducer array is stored in the storage circuit at a position specified by the addressing control signal from the coordinate conversion circuit, which is controlled according to the angle θ by the control circuit l. The minute signal is memorized. The output of the storage circuit is sent to a display device 1) such as a CRT via a D/A conversion circuit controlled by a control signal from a control circuit 1, and is sent to a vertical video signal (B scope ) is output as Note that it is also possible to change the angle θ.

またプローブを移動することにより超音波の進行方向を
着定角度θに保ちながら超音波を被検体の中で平行移動
させ、そのとき得られる映像信号を他のインターフェー
ス回路10を介してCR7回路に送り、被検体の中の欠
陥をCスコープとして表示装置1)に表示することもで
きる。
In addition, by moving the probe, the ultrasonic waves are moved in parallel within the subject while keeping the direction of propagation of the ultrasonic waves at a fixed angle θ, and the image signal obtained at that time is sent to the CR7 circuit via another interface circuit 10. It is also possible to display the defect in the object as a C scope on the display device 1).

第2図においてはN個の超音波トランスデユーサからな
る超音波トランスデユーサ列の中の第5から第12まで
の超音波トランスデユーサ(n=8)が一連の駆動信号
によって駆動され、超音波トランスデユーサ列の法線に
対して角度θの方向に超音波が進行する状態である。次
の一連の駆動信号により第6から第13の超音波トラン
スデユーサを駆動することにより、超音波送信源が空間
的に平行移動される。なお、アナログ/デジタル変換回
路6の制御、記憶回路7のアドレス、アクティブ/イナ
クティブ制御、デジタル/アナログ変換回路8の制御、
加算回路9の制御、インクフェース回路10(A/D変
換回路、記憶回路、D/A変換回路、座標変換回路)お
よび表示回路1)の制御はマイクロプロセンサーなどを
用いて公知の技術で実現することができる。
In FIG. 2, the fifth to twelfth ultrasonic transducers (n=8) in the ultrasonic transducer array consisting of N ultrasonic transducers are driven by a series of drive signals, This is a state in which ultrasonic waves travel in a direction at an angle θ with respect to the normal line of the ultrasonic transducer array. The ultrasound transmission source is spatially translated by driving the sixth through thirteenth ultrasound transducers with the next series of drive signals. In addition, control of the analog/digital conversion circuit 6, address of the memory circuit 7, active/inactive control, control of the digital/analog conversion circuit 8,
Control of the adder circuit 9, ink face circuit 10 (A/D conversion circuit, memory circuit, D/A conversion circuit, coordinate conversion circuit) and display circuit 1) is realized by known technology using a micropro sensor etc. can do.

第3図は本発明に係るセクタ回路を用いた走査型超音波
探傷器のプローブ12が被検体13の中に超音波14を
送り欠陥15を探傷するときの概念的断面図である。超
音波トランスデユーサ列の配列方向をX軸とし被検体の
表面に対して垂直方向を2軸とするとき、一連の駆動信
号毎に超音波の送信源がX方向に移動し、xy面内の欠
陥15の画像16がBスコープとして例えばCRT上に
表示される。
FIG. 3 is a conceptual cross-sectional view when the probe 12 of the scanning ultrasonic flaw detector using the sector circuit according to the present invention sends an ultrasonic wave 14 into the object 13 to detect a defect 15. When the arrangement direction of the ultrasonic transducer row is the X axis and the direction perpendicular to the surface of the subject is the two axes, the ultrasonic transmission source moves in the X direction for each series of drive signals, and An image 16 of the defect 15 is displayed as a B scope on, for example, a CRT.

またプローブ12をX軸に対して直角方向のy軸に沿っ
て移動することにより、欠陥の2次元画像(Cスコープ
)を表示することもできる。
Furthermore, by moving the probe 12 along the y-axis perpendicular to the x-axis, a two-dimensional image (C scope) of the defect can also be displayed.

第4図はCRT上に表示された欠陥15の画像16の例
である(Bスコープ)。
FIG. 4 is an example of an image 16 of a defect 15 displayed on a CRT (B scope).

なお超音波トランスデユーサを2次元(例えば第3図の
xy平面内)に配列することにより、プローブ12を移
動することな(欠陥の2次元画像をうろこともできる。
Note that by arranging the ultrasonic transducers in two dimensions (for example, in the xy plane in FIG. 3), it is possible to scan the two-dimensional image of the defect without moving the probe 12.

g8発明の効果 i)送信回路および受信回路の遅延時間を任意にかつ容
易に調整することができる。
g8 Effects of the invention i) The delay times of the transmitting circuit and the receiving circuit can be arbitrarily and easily adjusted.

ii)&H音波の進行方向を容易に変えることができる
ので、欠陥検知能力が向上する。
ii) Since the traveling direction of &H sound waves can be easily changed, defect detection ability is improved.

iii )従来技術によるとき必要とされる遅延線の数
量が大幅に減少し、遅延線の周波数特性は゛遅延量に反
比例するので、この結果周波数特性が向上する。すなわ
ち周波数の高いプローブを使用しても感度の低下が少な
い。
iii) The number of delay lines required when using the prior art is greatly reduced, and the frequency characteristics of the delay lines are inversely proportional to the amount of delay, resulting in improved frequency characteristics. That is, even if a high frequency probe is used, there is little decrease in sensitivity.

iv)各超音波トランスデユーサの受信波に対応した信
号が記憶回路に保持されているので、加算回路前段でデ
ジタル処理することが可能である。したがって鮮明な画
像を得るための画像処理、およびその他の画像処理をす
ることができる。すなわちビデオ信号の早い段階でデジ
タル化しているので、信号の質を落とすことなく、高度
な信号処理を容易に行うことができる。
iv) Since the signal corresponding to the received wave of each ultrasonic transducer is held in the storage circuit, it is possible to digitally process it before the addition circuit. Therefore, image processing for obtaining a clear image and other image processing can be performed. In other words, since the video signal is digitized at an early stage, advanced signal processing can be easily performed without degrading the signal quality.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明に係る走査型超音波探傷装置のセクタ回
路の好ましい実施例のブロックダイアグラム、第2図は
本発明に係る走査型超音波探傷装置のセクタ回路の超音
波トランスデユーサの配列および一連の駆動信号で発生
する超音波を示す概念的断面図、第3図は本発明に係る
セクタ回路を用いた走査型超音波探傷装置のプローブ1
2が被検体13の中に超音波14を送り欠陥15を探傷
するときの概念的断面図、第4図はCRT上に表示され
た欠陥15の画像の例(Bスコープ)、第5図は従来技
術による走査型超音波探傷装置のセクタ回路のブロック
ダイアグラム、第6図は走査型超音波探傷器の超音波ト
ランスデユーサから送信される超音波の進行方向および
波面を示す概念図である。 ■・・・制御回路、  2・・・遅延時間設定回路、3
・・・駆動回路列、 4・・・超音波トランスデユーサ
列、5・・・増幅回路列、 6・・・A/D変換回路、
7・・・記憶回路、  8・・・D/A変換回路、9・
・・加算回路、  10・・・インターフェース回路、
1)・・・表示装置。
FIG. 1 is a block diagram of a preferred embodiment of a sector circuit of a scanning ultrasonic flaw detector according to the present invention, and FIG. 2 is an arrangement of ultrasonic transducers of a sector circuit of a scanning ultrasonic flaw detector according to the present invention. and a conceptual cross-sectional view showing ultrasonic waves generated by a series of drive signals. FIG. 3 is a probe 1 of a scanning ultrasonic flaw detection device using a sector circuit according to the present invention
2 is a conceptual cross-sectional view when sending the ultrasonic wave 14 into the object 13 to detect a defect 15, FIG. 4 is an example of an image of the defect 15 displayed on a CRT (B scope), and FIG. FIG. 6 is a block diagram of a sector circuit of a scanning ultrasonic flaw detector according to the prior art, and is a conceptual diagram showing the traveling direction and wavefront of an ultrasonic wave transmitted from an ultrasonic transducer of a scanning ultrasonic flaw detector. ■...Control circuit, 2...Delay time setting circuit, 3
... Drive circuit row, 4... Ultrasonic transducer row, 5... Amplifier circuit row, 6... A/D conversion circuit,
7... Memory circuit, 8... D/A conversion circuit, 9...
...addition circuit, 10...interface circuit,
1) Display device.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)超音波トランスデューサ列と、上記超音波トラン
スデューサ列の各超音波トランスデューサを駆動する駆
動回路列と、上記各超音波トランスデューサの送信立ち
上がりの時点を超音波トランスデューサの配列の順に遅
延させる遅延時間設定回路と、上記遅延時間設定回路を
制御する制御回路と、上記超音波トランスデューサによ
って受信された反射超音波の信号を増幅する増幅回路か
ら成る増幅回路列と、上記増幅回路の出力をアナログ信
号からデジタル信号に変換するA/D変換回路と、上記
A/D変換回路の出力を保持する記憶回路と、上記制御
回路からの制御信号によって超音波トランスデューサの
配列の順に遅延して読みだされた上記記憶回路の出力信
号をデジタル信号からアナログ信号に変換するD/A変
換回路と、上記超音波トランスデューサ列の各超音波ト
ランスデューサの出力に対応する各D/A変換回路の出
力を入入力とする加算回路と、上記加算回路の出力信号
を表示装置に送るインターフェース回路を備えることを
特徴とする走査型超音波探傷装置のセクタ回路。 2)上記インターフェース回路がA/D変換回路と、上
記A/D変換回路の出力を記憶する記憶回路と、上記記
憶回路内のアドレスを指定する座標変換回路と、上記記
憶回路の出力をアナログ信号に変換するD/A変換回路
を備えるBスコープ表示用インターフェース回路である
ことを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の走査
型超音波探傷装置のセクタ回路。 3)上記インターフェース回路がCスコープ表示用イン
ターフェース回路であることを特徴とする特許請求の範
囲第(1)項記載の走査型超音波探傷装置のセクタ回路
(1) An ultrasonic transducer array, a drive circuit array that drives each ultrasonic transducer in the ultrasonic transducer array, and a delay time setting that delays the start of transmission of each ultrasonic transducer in the order of the array of ultrasonic transducers. a control circuit that controls the delay time setting circuit, an amplifier circuit array that includes an amplifier circuit that amplifies the reflected ultrasound signal received by the ultrasound transducer, and converts the output of the amplifier circuit from an analog signal to a digital signal. an A/D conversion circuit that converts into a signal, a storage circuit that holds the output of the A/D conversion circuit, and the storage that is read out with a delay in the order of the ultrasonic transducer array according to a control signal from the control circuit. A D/A conversion circuit that converts the output signal of the circuit from a digital signal to an analog signal, and an addition circuit whose input and input are the outputs of each D/A conversion circuit corresponding to the output of each ultrasonic transducer in the ultrasonic transducer array. and an interface circuit for sending the output signal of the adding circuit to a display device. 2) The interface circuit includes an A/D conversion circuit, a storage circuit that stores the output of the A/D conversion circuit, a coordinate conversion circuit that specifies an address within the storage circuit, and converts the output of the storage circuit into an analog signal. The sector circuit of a scanning ultrasonic flaw detection apparatus according to claim 1, wherein the sector circuit is a B-scope display interface circuit comprising a D/A conversion circuit for converting into a B-scope display. 3) A sector circuit for a scanning ultrasonic flaw detection apparatus according to claim 1, wherein the interface circuit is a C scope display interface circuit.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52107187A (en) * 1976-03-04 1977-09-08 Hitachi Medical Corp Device for driving ultrasonic vibrator
JPS58106455A (en) * 1981-12-18 1983-06-24 Toshiba Corp Ultrasonic test equipment

Patent Citations (2)

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