JPS61191935A - 光フアイバの伝送帯域の測定装置 - Google Patents
光フアイバの伝送帯域の測定装置Info
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- JPS61191935A JPS61191935A JP3026885A JP3026885A JPS61191935A JP S61191935 A JPS61191935 A JP S61191935A JP 3026885 A JP3026885 A JP 3026885A JP 3026885 A JP3026885 A JP 3026885A JP S61191935 A JPS61191935 A JP S61191935A
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- JP
- Japan
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- optical fiber
- terminal
- measured
- optical
- transmission band
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/333—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using modulated input signals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は光スイッチを用いた新規な光ファイバの伝送
帯域の測定装置に関する。
帯域の測定装置に関する。
［従来の技術］
従来の光ファイバの伝送帯域の測定を第２図の測定系に
基づいて説明する。
基づいて説明する。
光源としてのレーザーダイオード１をシンセサイザ２で
変調し、変調光を励振用光ファイバ３を通して被測定光
ファイバ４に入射する。なお、５は励振用光ファイバ３
と被測定光ファイバ４との融着接続部である。まず初め
に、長尺の被測定光ファイバ４に変調光を周波数を直流
からＩＧＩＩＺ程度まで掃引しながら入射し、このとき
の各変調周波数での光出力を光／電気変換器６で電気信
号に変換した後、コントローラ７にメモリーしておく。
変調し、変調光を励振用光ファイバ３を通して被測定光
ファイバ４に入射する。なお、５は励振用光ファイバ３
と被測定光ファイバ４との融着接続部である。まず初め
に、長尺の被測定光ファイバ４に変調光を周波数を直流
からＩＧＩＩＺ程度まで掃引しながら入射し、このとき
の各変調周波数での光出力を光／電気変換器６で電気信
号に変換した後、コントローラ７にメモリーしておく。
なお、８は同軸ケーブルである。
次に被測定光ファイバ４を部位９でカットバックして数
メートルの短尺とし、同様に変調周波数を掃引し、この
ときの参照光となる光出力を電気信号に変換しコントロ
ーラ７にメモリーする。被測定光ファイバ４が長尺なと
きと短尺なときの電気信号レベルから、各変調周波数に
ついて電気信号の減衰量を計算し、直流の場合よりも電
気信号レベルが６ｄＢ下がった周波数より伝送帯域幅を
求める。
メートルの短尺とし、同様に変調周波数を掃引し、この
ときの参照光となる光出力を電気信号に変換しコントロ
ーラ７にメモリーする。被測定光ファイバ４が長尺なと
きと短尺なときの電気信号レベルから、各変調周波数に
ついて電気信号の減衰量を計算し、直流の場合よりも電
気信号レベルが６ｄＢ下がった周波数より伝送帯域幅を
求める。
［発明が解決しようとする問題点］
ところが、この方法ではカットバックという操作が入る
ため、被測定光ファイバ４のカット具合が悪いと測定結
果に悪影響を及ぼす。更に、カットバックするための時
間がかかり、被測定光ファイバ４の本数が多いときには
測定時間が長くなってしまう。また、カットバックする
とき被測定光ファイバ４に触れるので、被測定光ファイ
バ４の状態によっては正しく測定できない場合がある。
ため、被測定光ファイバ４のカット具合が悪いと測定結
果に悪影響を及ぼす。更に、カットバックするための時
間がかかり、被測定光ファイバ４の本数が多いときには
測定時間が長くなってしまう。また、カットバックする
とき被測定光ファイバ４に触れるので、被測定光ファイ
バ４の状態によっては正しく測定できない場合がある。
［発明の目的］
この発明は以上の従来技術の問題点を解消すべく創案さ
れたものであり、この発明の目的は非破壊・非接触にて
短時間で誤差少なく伝送帯域を測定することができる光
ファイバの伝送帯域の測定装置を提供することにある。
れたものであり、この発明の目的は非破壊・非接触にて
短時間で誤差少なく伝送帯域を測定することができる光
ファイバの伝送帯域の測定装置を提供することにある。
［発明の概要］
上記の目的を達成するために、この発明は、被測定光フ
ァイバの両端が接続されるための四端子光スイッチの１
対の入・出力端子と、上記光スイッチの他の入力端子に
励振用光ファイバを介して接続された光源と、上記光ス
イッチの他の出力端子に光出力を測定すべく銹導用光フ
ァイバを介して接続された測定系とを備えたものであり
、光スイッチの切換により上記光源からの光を、励振用
光ファイバ、被測定光ファイバおよびＩｔ″Ｓ用光フ？
イバを伝送させて測定系に入れたときの光出力の周波数
特性と、被測定光ファイバを通さずに励振用光ファイバ
および誘導用光ファイバを伝送させて測定系に入れたと
きの光出力の周波数特性とから被測定光ファイバの伝送
帯域を求めるようになしたものである。
ァイバの両端が接続されるための四端子光スイッチの１
対の入・出力端子と、上記光スイッチの他の入力端子に
励振用光ファイバを介して接続された光源と、上記光ス
イッチの他の出力端子に光出力を測定すべく銹導用光フ
ァイバを介して接続された測定系とを備えたものであり
、光スイッチの切換により上記光源からの光を、励振用
光ファイバ、被測定光ファイバおよびＩｔ″Ｓ用光フ？
イバを伝送させて測定系に入れたときの光出力の周波数
特性と、被測定光ファイバを通さずに励振用光ファイバ
および誘導用光ファイバを伝送させて測定系に入れたと
きの光出力の周波数特性とから被測定光ファイバの伝送
帯域を求めるようになしたものである。
［実施例］
以下に、この発明の実施例を添付図面に従って詳述する
。
。
ζ
第１図において、１０は光源としてのレーザーダイオー
ドであり、レーザーダイオード１０はシンセサイザー１
により変調されレーザーダイオード１０からは直流から
ＩＧＨｚ程度までの正弦波変調光が出射されるようにな
らでいる。また、１２は入力端子としてＡ−８端子を、
出力端子としてＣ・Ｃ端子を有する四端子の光スイッチ
である。光スイッチ１２には光導波路型式・機械式など
のものが用いられる。光スイッチ１２がＯＮのときには
Ａ端子とＣ端子間およびＢ端子とＣ端子間とがそれぞれ
接続され、またＯＦＦのときにはＡ端子とＣ端子間およ
びＢ端子とＣ端子間とがそれぞれ接続されるようになり
ている。
ドであり、レーザーダイオード１０はシンセサイザー１
により変調されレーザーダイオード１０からは直流から
ＩＧＨｚ程度までの正弦波変調光が出射されるようにな
らでいる。また、１２は入力端子としてＡ−８端子を、
出力端子としてＣ・Ｃ端子を有する四端子の光スイッチ
である。光スイッチ１２には光導波路型式・機械式など
のものが用いられる。光スイッチ１２がＯＮのときには
Ａ端子とＣ端子間およびＢ端子とＣ端子間とがそれぞれ
接続され、またＯＦＦのときにはＡ端子とＣ端子間およ
びＢ端子とＣ端子間とがそれぞれ接続されるようになり
ている。
また、レーザーダイオード１０から出射される変調光を
導く励振用光ファイバ１３の出力端は光スイッチ１２の
Ａ端子に融着接続されている。更に、被測定光ファイバ
１４の入射端はＣ端子に、また出射端はＢ端子にそれぞ
れ融着接続されている。更に、光スイッチ１２のＣ端子
と光／電気変換器１５の入力端との間は誘導用光ファイ
バ１６により接続されている。誘導用光ファイバ１６に
は被測定光ファイバ１４よりも開口数が大きく且つコア
径が大きい光ファイバが用いられる。光／電気変換器１
５は誘導用光ファイバ１６からの入射光を電気信号に変
換するが、この変換された電気信号はコントローラ１７
に入力されるようになっている。また、シンセサイザ１
１とコントローラ１７との間も電気的に接続されており
、シンセサイザ１１からコントローラ１７に変調周波数
情報が入力される。なお、１８は同軸ケーブルであり、
また１９は融着接続部である。
導く励振用光ファイバ１３の出力端は光スイッチ１２の
Ａ端子に融着接続されている。更に、被測定光ファイバ
１４の入射端はＣ端子に、また出射端はＢ端子にそれぞ
れ融着接続されている。更に、光スイッチ１２のＣ端子
と光／電気変換器１５の入力端との間は誘導用光ファイ
バ１６により接続されている。誘導用光ファイバ１６に
は被測定光ファイバ１４よりも開口数が大きく且つコア
径が大きい光ファイバが用いられる。光／電気変換器１
５は誘導用光ファイバ１６からの入射光を電気信号に変
換するが、この変換された電気信号はコントローラ１７
に入力されるようになっている。また、シンセサイザ１
１とコントローラ１７との間も電気的に接続されており
、シンセサイザ１１からコントローラ１７に変調周波数
情報が入力される。なお、１８は同軸ケーブルであり、
また１９は融着接続部である。
次に本実施例の作用について述べる。まず、光スイッチ
１２をＯＦＦ状態とし、励振用光ファイバ１３を通じて
光スイッチ１２のＡｌ）ｌｉｔ子にレーザーダイオード
１０の変調光をその周波数を掃引しつつ入射する。光ス
イッチ１２はＯＦＦであってＡ端子・Ｃ端子間およびＢ
端子・Ｃ端子間が接続されるから、Ａ端子から入射され
た光はＣ端子より被測定光ファイバ１４に入射しこれを
伝播した後、Ｂ端子、Ｃ端子を経て誘導用光ファイバ１
６を通って光／ｉｆ気変換器１５に入射される。光／電
気変換器１５に入射された入射光はその強度に応じたレ
ベルの電気信号に変換され、更にこの電気信号はコント
ローラ１７に入力されメモリーされる。
１２をＯＦＦ状態とし、励振用光ファイバ１３を通じて
光スイッチ１２のＡｌ）ｌｉｔ子にレーザーダイオード
１０の変調光をその周波数を掃引しつつ入射する。光ス
イッチ１２はＯＦＦであってＡ端子・Ｃ端子間およびＢ
端子・Ｃ端子間が接続されるから、Ａ端子から入射され
た光はＣ端子より被測定光ファイバ１４に入射しこれを
伝播した後、Ｂ端子、Ｃ端子を経て誘導用光ファイバ１
６を通って光／ｉｆ気変換器１５に入射される。光／電
気変換器１５に入射された入射光はその強度に応じたレ
ベルの電気信号に変換され、更にこの電気信号はコント
ローラ１７に入力されメモリーされる。
このとき、コントローラ１７にメモリーされる電気信号
レベルは被測定光ファイバ１４を伝播して減衰された光
出力である。
レベルは被測定光ファイバ１４を伝播して減衰された光
出力である。
次に、光スイッチ１２をＯＮとし変調周波数を掃引しな
がらＡ端子より変調光を入射する。光スイッチ１２はＯ
Ｎ状態ではＡ端子・Ｄ端子間およびＢ端子・Ｃ端子間が
接続されるから、Ａ端子から入射された変調光は被測定
光ファイバ１４を伝送されることなくＤ端子より直ちに
誘導用光ファイバ１６を通じて光／電気変換器１５に入
射される。
がらＡ端子より変調光を入射する。光スイッチ１２はＯ
Ｎ状態ではＡ端子・Ｄ端子間およびＢ端子・Ｃ端子間が
接続されるから、Ａ端子から入射された変調光は被測定
光ファイバ１４を伝送されることなくＤ端子より直ちに
誘導用光ファイバ１６を通じて光／電気変換器１５に入
射される。
入射光は光／電気変換器１５で電気信号に変換された後
、コントローラ１７に入力されメモリーされる。このと
きコントローラ１７にメモリーされる電気信号レベルは
レーザーダイオード１０からの光入力を表わす参照信号
となる。
、コントローラ１７に入力されメモリーされる。このと
きコントローラ１７にメモリーされる電気信号レベルは
レーザーダイオード１０からの光入力を表わす参照信号
となる。
光スイッチ１２がＯＦＦの場合にコントローラ１７に入
力された電気信号と、ＯＮの場合にコントローラ１７に
入力された電気信号とから、被測定光ファイバ１４を伝
送したことによる減衰量を各変調周波数について算出し
、この減衰特性より被測定光ファイバ１４の伝送帯域を
求める。
力された電気信号と、ＯＮの場合にコントローラ１７に
入力された電気信号とから、被測定光ファイバ１４を伝
送したことによる減衰量を各変調周波数について算出し
、この減衰特性より被測定光ファイバ１４の伝送帯域を
求める。
上述したように、この発明では、被測定光ファイバ１４
を光スイッチ１２に融着接続してセットした後は、光ス
イッチ１２を切り換えるだけでよく、従来のようなカッ
トバックが不要となる。このため、測定時間を大幅に短
縮できると共に、カットバックに伴う測定誤差をなくす
ことができる。
を光スイッチ１２に融着接続してセットした後は、光ス
イッチ１２を切り換えるだけでよく、従来のようなカッ
トバックが不要となる。このため、測定時間を大幅に短
縮できると共に、カットバックに伴う測定誤差をなくす
ことができる。
また、誘導用光ファイバ１６のコア径および開口数が被
測定光ファイバ１４よりも大きいので、接続損失が少な
く、精度のよい安定した伝送帯域の測定ができる。
測定光ファイバ１４よりも大きいので、接続損失が少な
く、精度のよい安定した伝送帯域の測定ができる。
なお、上記実施例では伝送帯域を測定する方法として正
弦波変調光をその変調周波数を掃引させることにより被
測定光ファイバ１４の周波数特性を求めるようにしたが
、レーザーダイオード等から被測定光ファイバに単一パ
ルスを入射したときの出射パルスの拡がりから伝送帯域
を測定する方法を用いてもよい。このパルス法でも、光
スイッチの切換により、被測定光ファイバを伝送させた
ときの出射パルスと、伝送させないときの出射パルスと
をそれぞれ測定する。そして、各々のパルスを時間域か
ら周波数域にフーリエ変換して各周波数に対する減衰量
を算出する。
弦波変調光をその変調周波数を掃引させることにより被
測定光ファイバ１４の周波数特性を求めるようにしたが
、レーザーダイオード等から被測定光ファイバに単一パ
ルスを入射したときの出射パルスの拡がりから伝送帯域
を測定する方法を用いてもよい。このパルス法でも、光
スイッチの切換により、被測定光ファイバを伝送させた
ときの出射パルスと、伝送させないときの出射パルスと
をそれぞれ測定する。そして、各々のパルスを時間域か
ら周波数域にフーリエ変換して各周波数に対する減衰量
を算出する。
［発明の効果］
以上の説明から明らかなように、この発明によれば次の
ような優れた効果を発揮する。
ような優れた効果を発揮する。
（１） 被測定光ファイバを光スイッチに接続した後
は、カットバックを行なうことなく、光スイッチの切換
により簡単に測定ができる。このため、測定時間を大幅
に短縮できると共に、非接触・非破壊にて測定でき測定
誤差を低減できる。
は、カットバックを行なうことなく、光スイッチの切換
により簡単に測定ができる。このため、測定時間を大幅
に短縮できると共に、非接触・非破壊にて測定でき測定
誤差を低減できる。
（２） 誘導用光ファイバの開口数およびコア径を被
測定光ファイバよりも大きくすることにより、接続損失
も少なく安定した精度のよい伝送帯域の測定ができる。
測定光ファイバよりも大きくすることにより、接続損失
も少なく安定した精度のよい伝送帯域の測定ができる。
第１図は本発明に係る測定装置の一実施例を示す概略構
成図、第２図は従来の測定方法を説明するための測定装
置の概略構成図である。 図中、１，１０はレーザーダイオード、２゜１１はシン
セサイザ、３．１３は励振用光ファイバ、４，１４は被
測定光ファイバ、５．１９は融着接続部、６，１５は光
／電気変換器、７，１７はコントローラ、８．１８は同
軸ケーブル、９はカットバックする部位、１２は光スイ
ッチ、１６は誘導用光ファイバ、Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄは光ス
イッチの端子である。
成図、第２図は従来の測定方法を説明するための測定装
置の概略構成図である。 図中、１，１０はレーザーダイオード、２゜１１はシン
セサイザ、３．１３は励振用光ファイバ、４，１４は被
測定光ファイバ、５．１９は融着接続部、６，１５は光
／電気変換器、７，１７はコントローラ、８．１８は同
軸ケーブル、９はカットバックする部位、１２は光スイ
ッチ、１６は誘導用光ファイバ、Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄは光ス
イッチの端子である。
Claims (2)
- （１）被測定光ファイバの両端が接続されるための、四
端子の光スイッチの１対の入・出力端子と、上記光スイ
ッチの他の入力端子に励振用光ファイバを介して接続さ
れた光源と、上記光スイッチの他の出力端子に光出力を
測定すべく誘導用光ファイバを介して接続された測定系
とを備えたことを特徴とする光ファイバの伝送帯域の測
定装置。 - （２）上記誘導用光ファイバが上記被測定光ファイバよ
り開口数が大きく且つコア径が大きいことを特徴とする
特許請求の範囲第１項記載の光ファイバの伝送帯域の測
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3026885A JPS61191935A (ja) | 1985-02-20 | 1985-02-20 | 光フアイバの伝送帯域の測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3026885A JPS61191935A (ja) | 1985-02-20 | 1985-02-20 | 光フアイバの伝送帯域の測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61191935A true JPS61191935A (ja) | 1986-08-26 |
Family
ID=12298951
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3026885A Pending JPS61191935A (ja) | 1985-02-20 | 1985-02-20 | 光フアイバの伝送帯域の測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61191935A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5189299A (en) * | 1988-06-20 | 1993-02-23 | Virginia Polytechnic Institute & State University | Method and apparatus for sensing strain in a waveguide |
-
1985
- 1985-02-20 JP JP3026885A patent/JPS61191935A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5189299A (en) * | 1988-06-20 | 1993-02-23 | Virginia Polytechnic Institute & State University | Method and apparatus for sensing strain in a waveguide |
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