JPS61187633A - 試験装置 - Google Patents
試験装置Info
- Publication number
- JPS61187633A JPS61187633A JP2897585A JP2897585A JPS61187633A JP S61187633 A JPS61187633 A JP S61187633A JP 2897585 A JP2897585 A JP 2897585A JP 2897585 A JP2897585 A JP 2897585A JP S61187633 A JPS61187633 A JP S61187633A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- housing
- side chamber
- room
- temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/60—Investigating resistance of materials, e.g. refractory materials, to rapid heat changes
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、各種材料の疲労寿命を推定する試験に用い゛
ら札る試験装置に関する。
ら札る試験装置に関する。
背景技術
たとえば人口衛星などに用いられる太陽電池装置などは
、宇宙環境下で、温度に関し広い温度変化範囲と厳しい
温度変化サイクル下におかれる。
、宇宙環境下で、温度に関し広い温度変化範囲と厳しい
温度変化サイクル下におかれる。
またその性能が人口衛星の寿命に大きな影響を与える。
したがってこのような太陽電池装置などの耐久性などの
確認試験は、必要不可欠である。
確認試験は、必要不可欠である。
この確ＢｖＬＩＩには、たとえばいわゆる温度サイクル
試験が行なわれ、確実に動作する人口衛星・部品を製作
するために必要な耐久性の事前確認と、その解析結果が
得られる。
試験が行なわれ、確実に動作する人口衛星・部品を製作
するために必要な耐久性の事前確認と、その解析結果が
得られる。
第２図は先行技術の試験装置１の簡略化した断面図であ
る。試験装置１は、ハウジング２とヒータなどの加熱手
段３と、冷却手段４とを備える。
る。試験装置１は、ハウジング２とヒータなどの加熱手
段３と、冷却手段４とを備える。
このハウジング１内に、被試験対象５が配置される。
このような試験装置１において、高温時における試験で
は、冷却手段４を停止させ加熱手段３を動作させゐ、ま
た低温時における検査では、加熱手段３を停止させ冷却
手段４を動作させる。このようにして試験を行なう試験
装ＷＬ１では、被試験対象５の温度を上下させるために
ハウジング２内部全体の温度を変化させねばならない、
したがって熱容量が大きく、たとえば高温時から低温時
に移る期間または低温時から高温時に移る期間の時間が
長くなってしま）、またハウジング２を構成する材料は
、高温および低温の両条件に耐性を有する材料でなけれ
ばならない、また同一のハウジング内において高温およ
び低温試験の繰返しを行なうため、ハウジング２の材質
疲労がはげしく、故障がおきやすいという問題点があっ
た。
は、冷却手段４を停止させ加熱手段３を動作させゐ、ま
た低温時における検査では、加熱手段３を停止させ冷却
手段４を動作させる。このようにして試験を行なう試験
装ＷＬ１では、被試験対象５の温度を上下させるために
ハウジング２内部全体の温度を変化させねばならない、
したがって熱容量が大きく、たとえば高温時から低温時
に移る期間または低温時から高温時に移る期間の時間が
長くなってしま）、またハウジング２を構成する材料は
、高温および低温の両条件に耐性を有する材料でなけれ
ばならない、また同一のハウジング内において高温およ
び低温試験の繰返しを行なうため、ハウジング２の材質
疲労がはげしく、故障がおきやすいという問題点があっ
た。
第３図は、このような問題を解決するために用いられた
試験装置１ａの簡略化した断面図である。
試験装置１ａの簡略化した断面図である。
本先行技術は、第２図を参照して説明した先行技術の試
験装置１の構成に類似し、対応する部分には同一の参照
符を付す１本先行技術の試！！装置１ａハ、２つのハウ
ジング２ａ、２ｂから成り、一方のハウジング２ａには
加熱手段３が備えられ、他方のハウジング２ｂには冷却
手段４が備えられる。
験装置１の構成に類似し、対応する部分には同一の参照
符を付す１本先行技術の試！！装置１ａハ、２つのハウ
ジング２ａ、２ｂから成り、一方のハウジング２ａには
加熱手段３が備えられ、他方のハウジング２ｂには冷却
手段４が備えられる。
このような試験装置１ａにおいて、被試験対象５は高温
時における試験に際して、ハウジング２ｂ内に送入され
、低温時の試験に際しては、ハウジング２ｂ内に送入さ
れる。
時における試験に際して、ハウジング２ｂ内に送入され
、低温時の試験に際しては、ハウジング２ｂ内に送入さ
れる。
このような試験装置１ａにおいては、第２図の試験装ｆ
！１に関連して述べた問題点に関して、単一のハウジン
グ内を高温または低温にすることに起因する問題点は解
消されるけれども、一方で下記のような問題点が新たに
発生することとなった。
！１に関連して述べた問題点に関して、単一のハウジン
グ内を高温または低温にすることに起因する問題点は解
消されるけれども、一方で下記のような問題点が新たに
発生することとなった。
すなわち、２つの異なるハウジング２ａ、２ｂ間で被試
験対象５を移動させる操作に時間を要し、また被試験対
象５をこのように移動させる構成が必要なため、試験装
置１ａの構成が大型化してしまうという問題点があった
。
験対象５を移動させる操作に時間を要し、また被試験対
象５をこのように移動させる構成が必要なため、試験装
置１ａの構成が大型化してしまうという問題点があった
。
発明が解決しようとする問題点
本発明は、上述の問題点を解決し、簡略化された構成で
、有利に試験を実施することができる試験装置を提供す
ることを目的とする。
、有利に試験を実施することができる試験装置を提供す
ることを目的とする。
問題点を解決するための手段
本発明は、ハウジングと、
ハウジング内を複数の部屋に仕切り、かつそれぞれが個
別に開閉動作を行なう仕切手段と、被試験対象が取付け
られ、被試験対象が前記複数の各部屋に選択的に臨むよ
うに変位される取付は手段とを含むことを特徴とする試
験装置である。
別に開閉動作を行なう仕切手段と、被試験対象が取付け
られ、被試験対象が前記複数の各部屋に選択的に臨むよ
うに変位される取付は手段とを含むことを特徴とする試
験装置である。
作 用
試験装置のハウジング内には、ハウジング内を複数の部
屋に仕切り、かつそれぞれが個別に開閉動作を行なう仕
切手段が設けられる。またハウジング内には被試験対象
が取付けられ、被試験対象が前記複数の各部屋に選択的
に臨むように変位される取付は手段が設けられる。した
がって、前記ハウジング内の各部屋が、必要とされる試
験に関し異なった状態であっても、被試験対象は前記仕
切手段によって各部屋に個別的に臨むようにでき、各部
屋の状態下における試験を実施されることができる。
屋に仕切り、かつそれぞれが個別に開閉動作を行なう仕
切手段が設けられる。またハウジング内には被試験対象
が取付けられ、被試験対象が前記複数の各部屋に選択的
に臨むように変位される取付は手段が設けられる。した
がって、前記ハウジング内の各部屋が、必要とされる試
験に関し異なった状態であっても、被試験対象は前記仕
切手段によって各部屋に個別的に臨むようにでき、各部
屋の状態下における試験を実施されることができる。
実施例
第１図は、本発明の一実施例の試験装置１０の簡略化し
た断面図である。試験装置１０はハウジング１１を備え
る。ハウジング１１の挿通孔１２゜１３．１４．１５を
外部がら挿通して、板体１６ａ。
た断面図である。試験装置１０はハウジング１１を備え
る。ハウジング１１の挿通孔１２゜１３．１４．１５を
外部がら挿通して、板体１６ａ。
１６ｂ、１１ａ、’１７ｂが設けられる。板体１６ａ、
１６ｂは、シャッタ装ｆｉｌｅを構成し、板体１７ａ。
１６ｂは、シャッタ装ｆｉｌｅを構成し、板体１７ａ。
１７ｂはシャッタ装置１７を構成する。板体１６ｍ＋１
６ｂ；１７ａ、１７ｂは、それぞれ矢符Ａ １ 、Ａ
２方向に変位されることができる。
６ｂ；１７ａ、１７ｂは、それぞれ矢符Ａ １ 、Ａ
２方向に変位されることができる。
板体１６ａの板体１６ｂに臨む端部には、凹状溝１８が
形成され、この凹状溝１８′と対応する形状の突起１９
が、板体１６ｂの板体１６ａに臨む端部に形成される。
形成され、この凹状溝１８′と対応する形状の突起１９
が、板体１６ｂの板体１６ａに臨む端部に形成される。
また板体１７ｍ、１７ｂに関しても同様の構成となって
おり、板体１７ａは凹状溝２０を有し、板体１７ｂは突
起２１を有する。
おり、板体１７ａは凹状溝２０を有し、板体１７ｂは突
起２１を有する。
ケーシング１１の内周面１１ａのシャッタ装置１６．１
７の間の部分には、ケーシング１１の内方に向けて突出
部２２．２３が形成される。この突起２２．２３にはさ
まれて、被検出体の取付は部材２４が設けられる。この
取付は部材２４は、たとえば第１図の紙面と垂直方向の
細線まわりに矢符Ｂ１．Ｂ２方向に角変位可能とされる
。またこの取付は部材２４の一方表面には取付片２５゜
２６を介して、被試験対象２７が取付けられる。
７の間の部分には、ケーシング１１の内方に向けて突出
部２２．２３が形成される。この突起２２．２３にはさ
まれて、被検出体の取付は部材２４が設けられる。この
取付は部材２４は、たとえば第１図の紙面と垂直方向の
細線まわりに矢符Ｂ１．Ｂ２方向に角変位可能とされる
。またこの取付は部材２４の一方表面には取付片２５゜
２６を介して、被試験対象２７が取付けられる。
この取付は部材２４および突起２２．２３によって、ケ
ーシング１１内は２つの部屋２８．２９に仕切られる０
部屋２８は、たとえば高温試験層の部屋であって、加熱
手段３０が設けられる０部屋２９は、たとえば低温試験
用の部屋であって、冷障子Ｐｉ３１が設けられる。
ーシング１１内は２つの部屋２８．２９に仕切られる０
部屋２８は、たとえば高温試験層の部屋であって、加熱
手段３０が設けられる０部屋２９は、たとえば低温試験
用の部屋であって、冷障子Ｐｉ３１が設けられる。
一方、前述したような板体１６ａ、１６ｂ、１７ａ。
１７ｂの構成によって、たとえば板体１６ａ、１６ｂが
相互に接近する方向に変位されたとき、凹状溝１８に突
起１９が嵌込み、部屋２８を部屋２８ａ、２８ｂに仕切
る。また同様にシャッタ装置１７によって部屋２９は部
屋２９ａ、２９ｂに仕切られることができる。
相互に接近する方向に変位されたとき、凹状溝１８に突
起１９が嵌込み、部屋２８を部屋２８ａ、２８ｂに仕切
る。また同様にシャッタ装置１７によって部屋２９は部
屋２９ａ、２９ｂに仕切られることができる。
上述したような構成を有する試験装置１０の動作状態を
説明する。被試験対象２７を高温試験しようとするとき
、シャッタ装置１６は開いて被試験対象２７が高温の部
屋２８に臨むにのときシャッタ装ｒｆｔ１７は閉じられ
、低温側の部屋２９と高温側の部屋２８との間で、熱量
の移動が可及的に減少するようにする。次に被試験対象
２７を低温室２９側で試験しようとするとき、シャッタ
装置１７が聞かれ、取付は部材２４が、前述した第１図
の紙面と垂直な軸線まわりに、矢符Ｂ１方向または矢符
Ｂ２方向に１８０度角変位して、被試験対束２７が低温
側の部屋２９に臨むようにする。
説明する。被試験対象２７を高温試験しようとするとき
、シャッタ装置１６は開いて被試験対象２７が高温の部
屋２８に臨むにのときシャッタ装ｒｆｔ１７は閉じられ
、低温側の部屋２９と高温側の部屋２８との間で、熱量
の移動が可及的に減少するようにする。次に被試験対象
２７を低温室２９側で試験しようとするとき、シャッタ
装置１７が聞かれ、取付は部材２４が、前述した第１図
の紙面と垂直な軸線まわりに、矢符Ｂ１方向または矢符
Ｂ２方向に１８０度角変位して、被試験対束２７が低温
側の部屋２９に臨むようにする。
次にシャッタ装置１６が閉じられる。このようにして被
試験対象２７に対して、低温側の部屋２９で低温試験を
行なうことができる。このとき、閉じられているシャッ
タ装ｒ１１１６は、前述のシャッタ装置１７に関して説
明したように、高温側の部屋２８と低温側の部屋２９と
の開でおこる熱量の移動を可及的に低減するようにして
いる。
試験対象２７に対して、低温側の部屋２９で低温試験を
行なうことができる。このとき、閉じられているシャッ
タ装ｒ１１１６は、前述のシャッタ装置１７に関して説
明したように、高温側の部屋２８と低温側の部屋２９と
の開でおこる熱量の移動を可及的に低減するようにして
いる。
本実施例においては、部屋２８が高温試験、部屋２つが
低温試験に使われるようにした。したがって試験状態が
、高温試験から低温試験にまたは低温試験から高温試験
に変換されるとき、被試験対象２７のみの温度を変化す
ればよいので熱容量が小さく、被試験対象２７を高温試
験から低温試験に切換えるなどの試験のサイクルを短縮
することができる。また部屋２８を高温試験、部屋２９
を低温試験と定めれば、部屋２８を構成するハウジング
１１の材料および板体１６ａ、１６ｂを構成する材料を
、高温状態に適する材料によって形成し、また部屋２９
を構成するハウジング１１の材料および板体１７ａ、１
７ｂを構成する材料を、低温状態に適合した材料から構
成するようにすればよい。
低温試験に使われるようにした。したがって試験状態が
、高温試験から低温試験にまたは低温試験から高温試験
に変換されるとき、被試験対象２７のみの温度を変化す
ればよいので熱容量が小さく、被試験対象２７を高温試
験から低温試験に切換えるなどの試験のサイクルを短縮
することができる。また部屋２８を高温試験、部屋２９
を低温試験と定めれば、部屋２８を構成するハウジング
１１の材料および板体１６ａ、１６ｂを構成する材料を
、高温状態に適する材料によって形成し、また部屋２９
を構成するハウジング１１の材料および板体１７ａ、１
７ｂを構成する材料を、低温状態に適合した材料から構
成するようにすればよい。
すなわち各試験の状態に適合した材料から各部屋が構成
されるので、ハウジング１１および板体１６ａ、１６ｂ
；１７ａ、１７．ｂに関する材料疲労が少なくできる。
されるので、ハウジング１１および板体１６ａ、１６ｂ
；１７ａ、１７．ｂに関する材料疲労が少なくできる。
また高温試験用の部屋２８と低温試験用の部屋２９とは
、単一のハウジング１１内に設けられるので、前述した
ような試験を繰返す期間中被試験対象２７を、たとえば
外気に触れることをなくすことができる。
、単一のハウジング１１内に設けられるので、前述した
ような試験を繰返す期間中被試験対象２７を、たとえば
外気に触れることをなくすことができる。
また本実施例の試験装Ｍ１０によって試験を行なう場合
、駆動されるものはシャッタ装置１６゜１７および取付
は部材２４のみであるので、試験装ｇ１１０の構成を簡
略化することができる。
、駆動されるものはシャッタ装置１６゜１７および取付
は部材２４のみであるので、試験装ｇ１１０の構成を簡
略化することができる。
前述の実施例で、試験は温度に関する試験であったが、
本発明は温度に関する試験に限らず広く各種の試験を行
なう試験装置に関して実施することができる。
本発明は温度に関する試験に限らず広く各種の試験を行
なう試験装置に関して実施することができる。
また前述の実施例では、試験装置１０は基本的に高温側
の部Ｍ２８と低温側の部！２９の２つのＷ６星に仕切ら
れたが、仕切部材２４および突起２２．２３などを複数
組設けることによって、ケーシング１１内を３つ以上の
部屋に仕切るようにしてもよい。
の部Ｍ２８と低温側の部！２９の２つのＷ６星に仕切ら
れたが、仕切部材２４および突起２２．２３などを複数
組設けることによって、ケーシング１１内を３つ以上の
部屋に仕切るようにしてもよい。
また前述の実施例ではシャッタ装置１６．１７を用いた
が、このシャッタ装置１６．１７を設けず、取付は部材
２４と突起２２．２３とを、気密であってしかも取付は
部材２４が前述したように角変位されるような構成も、
本発明の精神に含まれる。
が、このシャッタ装置１６．１７を設けず、取付は部材
２４と突起２２．２３とを、気密であってしかも取付は
部材２４が前述したように角変位されるような構成も、
本発明の精神に含まれる。
効 果
以上のように本発明に従えば、ハウジング内を複数の部
屋に仕切る仕切手段を設け、この仕切手段はそれぞれ個
別に開閉動作を竹なうようにした。
屋に仕切る仕切手段を設け、この仕切手段はそれぞれ個
別に開閉動作を竹なうようにした。
また被試験対象が取付けられる取付は部材は、ハウジン
グ内が仕切られて構成される複数の各部屋に選択的に臨
むように変位される。したがって試験装置の構成は簡略
化されるとともに、好適な試験状態を実現することがで
きる。
グ内が仕切られて構成される複数の各部屋に選択的に臨
むように変位される。したがって試験装置の構成は簡略
化されるとともに、好適な試験状態を実現することがで
きる。
第１図は本発明の一実施例の試験装置１ｏの簡略化した
断面図、ｖＪ２図は先行技術の試験装置１の簡略化した
断面図、第３図は他の先行技術の試験装ｊｉ １ ａの
簡略化した断面図である。 １０・・・試験装置、１１・・・ハウジング、１６，１
７・・・シャッタ装置、２２．２３・・・突起、２４・
・・取付は部材、２７・・・被試験対象、２８・・・高
温試験用の部屋、２９・・・低温試験用の部屋 代理人 弁理士 画数 圭一部 第 ２ 図 第３図
断面図、ｖＪ２図は先行技術の試験装置１の簡略化した
断面図、第３図は他の先行技術の試験装ｊｉ １ ａの
簡略化した断面図である。 １０・・・試験装置、１１・・・ハウジング、１６，１
７・・・シャッタ装置、２２．２３・・・突起、２４・
・・取付は部材、２７・・・被試験対象、２８・・・高
温試験用の部屋、２９・・・低温試験用の部屋 代理人 弁理士 画数 圭一部 第 ２ 図 第３図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ハウジングと、 ハウジング内を複数の部屋に仕切り、かつそれぞれが個
別に開閉動作を行なう仕切手段と、被試験対象が取付け
られ、被試験対象が前記複数の各部屋に選択的に臨むよ
うに変位される取付け手段とを含むことを特徴とする試
験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2897585A JPS61187633A (ja) | 1985-02-16 | 1985-02-16 | 試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2897585A JPS61187633A (ja) | 1985-02-16 | 1985-02-16 | 試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61187633A true JPS61187633A (ja) | 1986-08-21 |
Family
ID=12263420
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2897585A Pending JPS61187633A (ja) | 1985-02-16 | 1985-02-16 | 試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61187633A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6348143U (ja) * | 1986-09-16 | 1988-04-01 | ||
| JPH05215658A (ja) * | 1992-02-04 | 1993-08-24 | Thermo Electron Kk | 環境試験装置 |
| KR100442866B1 (ko) * | 2000-11-20 | 2004-08-02 | 삼성전자주식회사 | 전자 장치의 환경 테스트 방법 및 이를 적용한 환경 챔버 |
-
1985
- 1985-02-16 JP JP2897585A patent/JPS61187633A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6348143U (ja) * | 1986-09-16 | 1988-04-01 | ||
| JPH0545966Y2 (ja) * | 1986-09-16 | 1993-11-30 | ||
| JPH05215658A (ja) * | 1992-02-04 | 1993-08-24 | Thermo Electron Kk | 環境試験装置 |
| KR100442866B1 (ko) * | 2000-11-20 | 2004-08-02 | 삼성전자주식회사 | 전자 장치의 환경 테스트 방법 및 이를 적용한 환경 챔버 |
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