JPS61186824A - 放射温度計 - Google Patents
放射温度計Info
- Publication number
- JPS61186824A JPS61186824A JP60026711A JP2671185A JPS61186824A JP S61186824 A JPS61186824 A JP S61186824A JP 60026711 A JP60026711 A JP 60026711A JP 2671185 A JP2671185 A JP 2671185A JP S61186824 A JPS61186824 A JP S61186824A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- variable
- output
- detector
- linearizing
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Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 11
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 claims abstract description 13
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims abstract description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 9
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims abstract description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000009738 saturating Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/80—Calibration
- G01J5/808—Calibration using linearising circuits
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、種々の測温範囲の測定が可能な放射温度計
に関するものである。
に関するものである。
[従来の技術]
熱放射を用いて測定対象の温度を測定する放射温度計に
は、検出器としてSiその他の素子が用いられている。
は、検出器としてSiその他の素子が用いられている。
[この発明が解決しようとする問題点]しかしながら、
この検出素子の温度に対する出力は、非常に大きな非線
形性をもっており、測定温度範囲は限られている。通常
は、測温範囲に応じて検出器、リニアライザを含む測定
回路を異にした別個の敢!)J温度計を複数個用意して
使い分けており、1台のtll剣温度針で低温から高温
までの測定は困難であった。
この検出素子の温度に対する出力は、非常に大きな非線
形性をもっており、測定温度範囲は限られている。通常
は、測温範囲に応じて検出器、リニアライザを含む測定
回路を異にした別個の敢!)J温度計を複数個用意して
使い分けており、1台のtll剣温度針で低温から高温
までの測定は困難であった。
この発明の目的は、以上の点に鑑み、1台の放射温度計
で広い温度範囲の測定を可能にした放射温度計を提供す
ることである。
で広い温度範囲の測定を可能にした放射温度計を提供す
ることである。
[問題点を解決するための手段]
この発明は、測定対象からの放射エネルギーを電気信号
に変換する検出器と、この検出器の出力の大きさを可変
とする可変手段と、この可変手段の出力を温度に対応し
た信号に信号に変換するリニアライズ手段と、測温範囲
に応じて可変手段の増幅度とリニアライズ手段の変換定
数とを連動して切り換える制御手段とを漏えるようにし
た放射温度計である。
に変換する検出器と、この検出器の出力の大きさを可変
とする可変手段と、この可変手段の出力を温度に対応し
た信号に信号に変換するリニアライズ手段と、測温範囲
に応じて可変手段の増幅度とリニアライズ手段の変換定
数とを連動して切り換える制御手段とを漏えるようにし
た放射温度計である。
[実施例]
第1図は、この発明の一実施例を示す構成説明図である
。
。
図において、1は、測定対象からの放射エネルギーを検
出するSiセルのような検出器、2は、抵抗R1,R2
,R3をスイッチ81、S2.S3で選択して増幅度(
ゲイン、刊19 )を可変とし、検出器1の出力の大き
さを所定のレベルに可変して増幅する可変手段としての
可変利得増幅器、3は、変換室tl!設定手段4の変換
定数をスイッチS+−,82−、S3−で選択し可変利
得増幅器2の出力をrQ度に対応した信号に変換するリ
ニアライズ手段、5は、リニアライズ手段3の出力信号
を出力するための出力回路、6は、検出器1の出力信号
の大きさ、つまり測温範囲に応じてスイッチS + 、
S 2 、 S 3 、およびスイッチSt−,52
−1S3−を連動して切り換える制皿手段である。
出するSiセルのような検出器、2は、抵抗R1,R2
,R3をスイッチ81、S2.S3で選択して増幅度(
ゲイン、刊19 )を可変とし、検出器1の出力の大き
さを所定のレベルに可変して増幅する可変手段としての
可変利得増幅器、3は、変換室tl!設定手段4の変換
定数をスイッチS+−,82−、S3−で選択し可変利
得増幅器2の出力をrQ度に対応した信号に変換するリ
ニアライズ手段、5は、リニアライズ手段3の出力信号
を出力するための出力回路、6は、検出器1の出力信号
の大きさ、つまり測温範囲に応じてスイッチS + 、
S 2 、 S 3 、およびスイッチSt−,52
−1S3−を連動して切り換える制皿手段である。
次に、第2図、第3図を参照して動作を説明する。
検出器1で検出された出力信号e1は、可変利得増幅器
2に供給され、第2図で示すように、測温範囲To−T
1、T1〜T2、T2〜T3のどの範囲にあるかによっ
て制御手段6は、可変利1q増幅器2のスイッチSl、
32.83のいずれかと、変換定数設定手段4のスイッ
チS+−,82= % S 3−のいずれかとを連動し
て切換選択してオンとする。つまり、スイッチS+、8
2.83のいずれかをオンとすることにより抵抗R1、
R2、R3のいずれかが選択され、可変利得増幅器2は
所定の増幅度とされ、またスイッチS+−1S2−.8
3−のいずれかをオンとすることにより変換定数設定手
段4の所定の変換定数がリニアライズ手段3の変換定数
とされる。
2に供給され、第2図で示すように、測温範囲To−T
1、T1〜T2、T2〜T3のどの範囲にあるかによっ
て制御手段6は、可変利1q増幅器2のスイッチSl、
32.83のいずれかと、変換定数設定手段4のスイッ
チS+−,82= % S 3−のいずれかとを連動し
て切換選択してオンとする。つまり、スイッチS+、8
2.83のいずれかをオンとすることにより抵抗R1、
R2、R3のいずれかが選択され、可変利得増幅器2は
所定の増幅度とされ、またスイッチS+−1S2−.8
3−のいずれかをオンとすることにより変換定数設定手
段4の所定の変換定数がリニアライズ手段3の変換定数
とされる。
このことにより、第2図で示すように検出器1の出力C
1は、測UK囲に応じて可変手段としての可変刊1q増
幅器2により所定倍増幅されて適当な大きさの出力信号
02となり、この出力e2は、リニアライズ手段3によ
り、各測温範囲に応じた可変刊1り増幅器2の出力に最
適な変換定数でリニアライズ変換され、第3図で示すよ
うに温度に対してリニア(直線的)な関係の温度に対応
した出力e3が取り出せる。この出力e3は、出力回路
5を通じて外部に出力され、指示、記録、制御、その池
に使用される。
1は、測UK囲に応じて可変手段としての可変刊1q増
幅器2により所定倍増幅されて適当な大きさの出力信号
02となり、この出力e2は、リニアライズ手段3によ
り、各測温範囲に応じた可変刊1り増幅器2の出力に最
適な変換定数でリニアライズ変換され、第3図で示すよ
うに温度に対してリニア(直線的)な関係の温度に対応
した出力e3が取り出せる。この出力e3は、出力回路
5を通じて外部に出力され、指示、記録、制御、その池
に使用される。
このように、測温範囲に応じて可変利1q増幅器2の利
1g、およびリニアライズの変換定数を連動して切り換
えることにより、単一の放04 W度肝で常温から30
00 ’C位までの測定が可能となる。
1g、およびリニアライズの変換定数を連動して切り換
えることにより、単一の放04 W度肝で常温から30
00 ’C位までの測定が可能となる。
たとえば、検出器1にSiを用い多少測温範囲を単複さ
せ、300〜700”C,600〜1200℃、110
0〜3000℃というような測温範囲とするとよい。
せ、300〜700”C,600〜1200℃、110
0〜3000℃というような測温範囲とするとよい。
また、第4図で示すようにリニアライズ手段3、制御手
段6をマイクロコンピュータのような演蓮制御手段で構
成し、変換定数設定手段4の変換定数をメモリに記憶さ
せるようにしてもよい。また、この例では、検出器1の
出力の大きさを可変とする可変手段として、可変利得増
幅器の代わりに、検出器1に並列に接続された負荷抵抗
R1、R2、R3、スイッチ$1、S2、S3よりなる
可変負荷抵抗10を用いている。
段6をマイクロコンピュータのような演蓮制御手段で構
成し、変換定数設定手段4の変換定数をメモリに記憶さ
せるようにしてもよい。また、この例では、検出器1の
出力の大きさを可変とする可変手段として、可変利得増
幅器の代わりに、検出器1に並列に接続された負荷抵抗
R1、R2、R3、スイッチ$1、S2、S3よりなる
可変負荷抵抗10を用いている。
第4図において、第1図と同一符号は同一構成要素を示
し、検出器1の出力e1は、マイクロコンピュータのよ
うな演算i、++憤り手段8により測)n範囲に応じて
スイッチSt、82.83をオンとして0荷抵抗R1,
R2,R3を選択して所定の増幅度が選択され、所定倍
増幅される。この可変手段としての可変負荷抵抗10の
出力e2は、プリアンプ2−1A−D変換器7でデジタ
ル信号とされ、演障制御手段8により、測温範囲に応じ
て可変手段10の増幅度の切り換えと連動して所定の変
換定数をメモリ9より読み出し、リニアライズ変換の演
算を行い、出力回路5より出力e3を取り出すようにし
ている。出力jH@e 1. e 2 、 e3のtr
t子は第2図、第3図と同様である。
し、検出器1の出力e1は、マイクロコンピュータのよ
うな演算i、++憤り手段8により測)n範囲に応じて
スイッチSt、82.83をオンとして0荷抵抗R1,
R2,R3を選択して所定の増幅度が選択され、所定倍
増幅される。この可変手段としての可変負荷抵抗10の
出力e2は、プリアンプ2−1A−D変換器7でデジタ
ル信号とされ、演障制御手段8により、測温範囲に応じ
て可変手段10の増幅度の切り換えと連動して所定の変
換定数をメモリ9より読み出し、リニアライズ変換の演
算を行い、出力回路5より出力e3を取り出すようにし
ている。出力jH@e 1. e 2 、 e3のtr
t子は第2図、第3図と同様である。
このように、可変手段の増幅度の可変は、可変利得増幅
器の帰還抵抗による増幅度の可変または、可変負荷抵抗
の負荷抵抗による増幅度の可変のいずれでもよく、Si
素子その他の素子の出力を飽和させることなく使用でき
る。また、各温度領域におけるベース分の補償、加算は
、リニアライズ手段、または出力回路のいずれで行って
もよい。
器の帰還抵抗による増幅度の可変または、可変負荷抵抗
の負荷抵抗による増幅度の可変のいずれでもよく、Si
素子その他の素子の出力を飽和させることなく使用でき
る。また、各温度領域におけるベース分の補償、加算は
、リニアライズ手段、または出力回路のいずれで行って
もよい。
(−発明の効果1
以上述べたように、この発明は、測温範囲に応じて可変
手段の増幅度およびリニアライズ手段の変換定数を連動
して切り変えるようにしているので、単一の放射)島度
肝で、広い範囲の測温が高精度に可能となり、多くの用
途に使用できる。
手段の増幅度およびリニアライズ手段の変換定数を連動
して切り変えるようにしているので、単一の放射)島度
肝で、広い範囲の測温が高精度に可能となり、多くの用
途に使用できる。
第1図は、第4図は、この弁明の一実施例を示す構成説
明図、第2図、第3図は、動作説明図である。 1・・・検出器、 2・・・可変利1η増幅器(可変手
段)、3・・・リニアライズ手段、 4・・・変換定数
設定手段、 5・・・出力回路、 6・・・制御手段、
7・・・A−D変換器、 8・・・演算制御手段、
9・・・メモリ、10・・・可変負荷抵抗
明図、第2図、第3図は、動作説明図である。 1・・・検出器、 2・・・可変利1η増幅器(可変手
段)、3・・・リニアライズ手段、 4・・・変換定数
設定手段、 5・・・出力回路、 6・・・制御手段、
7・・・A−D変換器、 8・・・演算制御手段、
9・・・メモリ、10・・・可変負荷抵抗
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、測定対象からの放射エネルギーを電気信号に変換す
る検出器と、この検出器の出力の大きさを可変とする可
変手段と、この可変手段の出力を温度に対応した信号に
変換するリニアライズ手段と、測温範囲に応じて前記可
変手段の増幅度とリニアライズ手段の変換定数とを連動
して切り換える制御手段とを備えたことを特徴とする放
射温度計。 2、前記可変手段として、可変利得増幅器または可変負
荷抵抗を用いたことを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の放射温度計。 3、前記リニアライズ手段、制御手段をマイクロコンピ
ュータのような演算制御手段で構成したことを特徴とす
る特許請求の範囲第1項または第2項記載の放射温度計
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60026711A JPH0665973B2 (ja) | 1985-02-14 | 1985-02-14 | 放射温度計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60026711A JPH0665973B2 (ja) | 1985-02-14 | 1985-02-14 | 放射温度計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61186824A true JPS61186824A (ja) | 1986-08-20 |
JPH0665973B2 JPH0665973B2 (ja) | 1994-08-24 |
Family
ID=12200944
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60026711A Expired - Fee Related JPH0665973B2 (ja) | 1985-02-14 | 1985-02-14 | 放射温度計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0665973B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5169234A (en) * | 1990-02-13 | 1992-12-08 | Ultrakust Electronic Gmbh | Infrared temperature sensor |
JP2012083158A (ja) * | 2010-10-08 | 2012-04-26 | Mitsubishi Electric Corp | レーダ装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5345035U (ja) * | 1976-09-21 | 1978-04-17 | ||
JPS57102128A (en) * | 1980-12-18 | 1982-06-25 | Katsutoshi Kai | Growing of seed pig in small body and propagating same |
-
1985
- 1985-02-14 JP JP60026711A patent/JPH0665973B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5345035U (ja) * | 1976-09-21 | 1978-04-17 | ||
JPS57102128A (en) * | 1980-12-18 | 1982-06-25 | Katsutoshi Kai | Growing of seed pig in small body and propagating same |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5169234A (en) * | 1990-02-13 | 1992-12-08 | Ultrakust Electronic Gmbh | Infrared temperature sensor |
JP2012083158A (ja) * | 2010-10-08 | 2012-04-26 | Mitsubishi Electric Corp | レーダ装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0665973B2 (ja) | 1994-08-24 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |