JPS61184917A - Phase detection circuit - Google Patents

Phase detection circuit

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Publication number
JPS61184917A
JPS61184917A JP2591085A JP2591085A JPS61184917A JP S61184917 A JPS61184917 A JP S61184917A JP 2591085 A JP2591085 A JP 2591085A JP 2591085 A JP2591085 A JP 2591085A JP S61184917 A JPS61184917 A JP S61184917A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
output
date
phase
gate
Prior art date
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Pending
Application number
JP2591085A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Katsuyuki Ando
安藤 勝之
Kenzo Okumura
憲三 奥村
Kouji Isodono
宏二 五十殿
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP2591085A priority Critical patent/JPS61184917A/en
Publication of JPS61184917A publication Critical patent/JPS61184917A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To detect lead/lag of a phase of both the 1st and 2nd signals by inputting an output from an EX-OR gate to which the 1st and 2nd signals and an output from an FF circuit latching the level of the 2nd signal at the changing point of time of the 1st signal to a gate circuit and operating it. CONSTITUTION:Suppose that a reference signal Is and a measured signal Im whose phase is retarded by W1 than that of the signal Is are inputted. An output of the EX-OR gate 10 is at level (a). On the other hand, an output from a D-FF11 remains 'H' as shown in figure (b). Thus, a pulse signal whose level is 'H' during the period W1 only and 'L' for the remaining period W2 is led to a display circuit 15 from an AND gate 12 as shown in figure (c). On the other hand, the output of the gate 13 remains 'L' as shown in figure (d). Thus, it is informed by display circuits 15, 16 that the phase of the signal Im is delayed than that of the signal Is.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、複雑な信号の位相を検出することができ、た
とえば周波数カウンタなどに好適に実施される位相検出
回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a phase detection circuit capable of detecting the phase of a complex signal and suitably implemented in, for example, a frequency counter.

背景技術 第4図は典型的な先行技術を示す電気回路図である。基
準周波数を有する基準信号は、入力端子IsからEX−
ORデート1の一方の入力端子に与えられる。また被測
定周波数を有する被測定信号は、入力端子I−からEX
−ORデート1の他方の入力端子に与えられる。EX−
ORデート1からの出力は、トランジスタTri  の
ベースに与えられる。トランジスタTri  のコレク
タは、発光ダイオードD1と抵抗R1との直列回路を介
して電源+Vacに接続される。トランジスタTriの
エミッタは接地される。基準信号と被測定信号との両者
の位相がずれている場合には、EX−ORデート1から
の出力はハイレベルとなり、トランジスタTri  が
導通される。これによって電源+Vccから発光ダイオ
ードD1に電流が流れ、そのため発光ダイオードD1は
点灯して基準信号と被測定信号との位相がずれているこ
とが表示される。
BACKGROUND ART FIG. 4 is an electrical circuit diagram showing a typical prior art. A reference signal having a reference frequency is connected from input terminal Is to EX-
Applied to one input terminal of OR date 1. Also, the signal under test having the frequency under test is input from input terminal I- to EX
- given to the other input terminal of OR date 1. EX-
The output from OR date 1 is provided to the base of transistor Tri. The collector of the transistor Tri is connected to the power supply +Vac via a series circuit of a light emitting diode D1 and a resistor R1. The emitter of transistor Tri is grounded. If the reference signal and the signal under test are out of phase, the output from EX-OR date 1 will be at a high level and transistor Tri will be turned on. As a result, a current flows from the power supply +Vcc to the light emitting diode D1, so that the light emitting diode D1 lights up to indicate that the reference signal and the signal under test are out of phase.

発明が解決しようとする問題点 上記先行技術では、基準信号と被測定信号との位相がず
れている場合しか表示することができず、位相の進みま
たは遅れを表示することができない。
Problems to be Solved by the Invention The above-mentioned prior art can only display when the reference signal and the signal under test are out of phase, and cannot display phase lead or lag.

本発明の目的は、上述の技術的課題を解決し、簡単な回
路構成でしかも2つの信号の位相の進みまたは遅れを検
出することができる位相検出回路を提供することである
An object of the present invention is to solve the above-mentioned technical problems and provide a phase detection circuit that has a simple circuit configuration and can detect a lead or lag in the phase of two signals.

問題点を解決するための手段 本発明は、位相が検出されるべき第1信号および第2信
号が入力されるEX−ORデートと、第1信号がステッ
プ状で変化する時点における第2信号のレベルをラッチ
する7リツプ70ツブと、 EX−ORデートと7リツプ70ツブとの出力のAND
条件を演算するデートとを含むことを特徴とする位相検
出回路である。
Means for Solving the Problems The present invention provides an EX-OR date at which a first signal and a second signal whose phases are to be detected are input, and an EX-OR date of the second signal at the time when the first signal changes in a stepwise manner. AND of the output of the 7-lip 70-tub that latches the level, the EX-OR date, and the 7-lip 70-tub.
The phase detection circuit is characterized in that it includes a date for calculating conditions.

作  用 本発明にしたがえば、位相が検出されるべき第1信号お
よび第2信号が入力されるEX−ORデートからの出力
と、第1信号がステップ状で変化する時点における第2
信号のレベルをラッチする7リツプ707プからの出力
とをAND条件を演算するゲート回路に入力して演算す
ることによりて、第1および第2信号の位相の進みまた
は遅れを検出することが可能となる。
According to the present invention, the output from the EX-OR date into which the first signal and the second signal whose phases are to be detected are input, and the second signal at the time when the first signal changes stepwise.
It is possible to detect the lead or lag in the phase of the first and second signals by inputting and calculating the output from the 7-lip 707 that latches the signal level to a gate circuit that calculates an AND condition. becomes.

実施例 第1図は本発明の一実施例の電気回路図である。Example FIG. 1 is an electrical circuit diagram of an embodiment of the present invention.

基準周波数を有する基準信号は、入力端子IsからEX
−ORデート10の一方の入力端子に与えられるととも
に、D−7リツプ70ツブ11のD入力端子に与えられ
る。また被測定周波数を有する被測定信号は、入力端子
IsからEX−ORデート10の他方の入力端子に与え
られるとともに、7リツプ70ツブ11のT入力端子に
与えられる。
A reference signal having a reference frequency is transmitted from input terminal Is to EX
- It is applied to one input terminal of the OR date 10 and also applied to the D input terminal of the D-7 lip 70 tube 11. Further, the signal to be measured having the frequency to be measured is applied from the input terminal Is to the other input terminal of the EX-OR date 10 and also to the T input terminal of the 7-lip 70-tube 11.

EX−ORデート10からの出力は、ANDデート12
の一方の入力端子に与えられるとともに、もう1つのA
NDデート13の一方の入力端子に与えられる。D−7
リツプ70ツブ11からの出力は、ANDデート12の
他方の入力端子に与えられるとともに、ノット回路14
を介してANDデート13の他方の入力端子に与えられ
る。
The output from EX-OR date 10 is AND date 12
is applied to one input terminal of A, and the other A
It is given to one input terminal of ND date 13. D-7
The output from the lip 70 tube 11 is given to the other input terminal of the AND date 12, and the NOT circuit 14
is applied to the other input terminal of AND date 13 via .

ANDデート12からの出力は表示回路15に与えられ
る。この表示回路15は、抵抗R2と発光ダイオードD
2とトランジスタTr2  との直列回路から構成され
る。トランジスタTr2  のペースにはANDデート
12からの出力が与えられ、このトランジスタTr2 
 のコレクタは発光ダイオードD2のカソードに接続さ
れトランジスタTr2のエミッタは接地される。抵抗R
2の一方端は、電源+Vecに接続される。ANDデー
ト13からの出力は表示回路16に与えら扛る。この表
示回路16は、抵抗R3と発光ダイオードD3とトラン
ジスタTr3  との直列回路から構成される。トラン
ジスタTr3  のベースにはANDデート13からの
出力が与えられ、このトランジスタTr3のコレクタは
発光ダイオードD3のカソードに接続され、トランジス
タTr3  のエミッタは接地される。抵抗R3の一方
端は、電源+Veeに接続される。
The output from AND date 12 is given to display circuit 15. This display circuit 15 includes a resistor R2 and a light emitting diode D.
It consists of a series circuit consisting of a transistor Tr2 and a transistor Tr2. The output from AND date 12 is given to the pace of transistor Tr2, and this transistor Tr2
The collector of the transistor Tr2 is connected to the cathode of the light emitting diode D2, and the emitter of the transistor Tr2 is grounded. Resistance R
One end of 2 is connected to the power supply +Vec. The output from AND date 13 is fed to display circuit 16. This display circuit 16 is composed of a series circuit including a resistor R3, a light emitting diode D3, and a transistor Tr3. The output from the AND date 13 is applied to the base of the transistor Tr3, the collector of the transistor Tr3 is connected to the cathode of the light emitting diode D3, and the emitter of the transistor Tr3 is grounded. One end of the resistor R3 is connected to the power supply +Vee.

第2図および第3図は、本発明に従う位相検出回路のタ
イミングチャートである。まず!#2図を参照して、第
2図(1)で示す基準信号が入力され、かつこの基準信
号よりも位相がWlだけ遅れた第3図(2)で示される
被測定信号が入力された場合を想定する。このと1kE
X−ORデート10からの出力は、第3図(3)で示さ
れる。すなわちEX−ORデート10は、基準信号の立
ち上がり時から被測定信号の立ち上がり時までの期間W
1だけハイレベルとなり、残余の期間W2はローレベル
となるようなパルス信号を導出する。一方D−7リツプ
70ツブ11からの出力は第2図(4)で示されるよう
にハイレベルのままである。したがってANDデート1
2では、第2図(5)で示されるように期間W1だけハ
イレベルであり残余の期間W2だけローレベルであるパ
ルス信号がトランジスタTr2  に導出される。一方
ANDデート13からの出力は、第2図(6)で示され
るようにローレベルのままである。従ってトランジスタ
Tr2は期間W1だけ導通し、期間W2だけ遮断し、こ
の上うな導通・遮断が繰り返し行なわれる。そのため発
光ダイオードD2は期間W1だけ点灯し、期間W2だけ
消灯して点滅が繰り返えされる。一方、発光ダイオード
D3はトランジスタTr3  が遮断されたままである
ため、消灯状態のままである。こうして発光ダイオード
D2が点滅した状態を目視することによって被測定信号
が基準信号よりも位相が遅れたものであることが告知さ
れる。
2 and 3 are timing charts of the phase detection circuit according to the present invention. first! #2 Referring to Figure 2, the reference signal shown in Figure 2 (1) was input, and the signal under test shown in Figure 3 (2) whose phase was delayed by Wl from this reference signal was input. Assume a case. Konoto 1kE
The output from X-OR date 10 is shown in FIG. 3(3). In other words, EX-OR date 10 is the period W from the rising edge of the reference signal to the rising edge of the signal under test.
A pulse signal is derived that is at a high level for only 1 and is at a low level for the remaining period W2. On the other hand, the output from the D-7 lip 70 tube 11 remains at a high level as shown in FIG. 2(4). Therefore AND date 1
2, as shown in FIG. 2(5), a pulse signal that is at a high level for a period W1 and is at a low level for a remaining period W2 is delivered to the transistor Tr2. On the other hand, the output from the AND date 13 remains at a low level as shown in FIG. 2 (6). Therefore, the transistor Tr2 is turned on for a period W1, turned off for a period W2, and is repeatedly turned on and turned off in this manner. Therefore, the light emitting diode D2 is turned on for a period W1, turned off for a period W2, and blinks repeatedly. On the other hand, the light emitting diode D3 remains off because the transistor Tr3 remains cut off. By visually observing the blinking state of the light emitting diode D2, it is announced that the signal to be measured is delayed in phase with respect to the reference signal.

なお、被測定信号と基準信号との位相差が大であればあ
るほど、発光ダイオードD2の点灯期間が長いものとな
る。
Note that the greater the phase difference between the signal under test and the reference signal, the longer the lighting period of the light emitting diode D2 becomes.

次に被測定信号が基準信号よりも位相が進んでいる場合
について説明する。すなわち第3図(1)で示される基
準信号に対して、被測定信号が第3図(2)で示される
ように基準信号よりもWlだけ位相が進んだ場合を想定
する。このときにはEX−ORデート10がらの出力は
、第3図(3)で示されるように期間W1だけハイレベ
ルであり、残余の期間W2だけローレベルである。一方
、D−7リツプ70ツブ11からの出力は、第3図(4
)で示されるように被測定信号の入力待以降ローレベル
のままである。従ってANDデート12からの出力は、
第3図(5)で示されるようにローレベルのままであり
、一方ANDデート13からの出力は、第3図(6)で
示されるように期間W1だけハイレベルであり残余の期
間W2だけローレベルである特性を有するパルス信号が
導出される。したがって、トランツスタTr2  は遮
断されたままであり、そのため発光ダイオードD2は消
灯したままである。一方、トランツスタTr3  は期
間W1だけ導通し、残余の期間W2だけ連断し、このよ
うな一連の動作が繰り返し行なわれる。そのため発光ダ
イオードD3は期間W1だけ点灯し、残余の期間W2だ
け消灯し、このような動作が繰り返すため発光ダイオー
ドD3は点滅される。従って発光ダイオードD3の点滅
状態を目視することによって被測定信号が基準信号より
も位相が進んでいることが告知される。なお前述と同様
に位相差が大きければ太いほど、発光ダイオードD3の
点灯期間は長いものとなる。こうして本実施例で1よ、
2つ。ffi’t fl (i [ヵ1.え15.6カ
1.え1よ、。 1ているかを、発光ダイオードD2.
D3の点灯状態によって告知することが可能となる。な
お、表示手段としては発光ダイオードD2.D3による
目視表示手段に代えて、ブザーなどによる音響手段によ
って告知するようにしてもよい、また、表示手段に代え
て外部の周辺機器を直接接続するようにしてもよい。
Next, a case where the signal under test leads the reference signal in phase will be explained. In other words, assume that the signal under test leads the reference signal in phase by Wl as shown in FIG. 3(2) with respect to the reference signal shown in FIG. 3(1). At this time, the output from EX-OR date 10 is at a high level for a period W1, as shown in FIG. 3(3), and is at a low level for a remaining period W2. On the other hand, the output from the D-7 lip 70 tube 11 is as shown in Figure 3 (4).
), it remains at low level after waiting for input of the signal under test. Therefore, the output from AND date 12 is
The output from AND date 13 remains at a low level as shown in FIG. 3(5), while the output from AND date 13 is at a high level for a period W1 and only for the remaining period W2, as shown in FIG. 3(6). A pulse signal having a characteristic of being at a low level is derived. Therefore, the transistor Tr2 remains cut off, so that the light emitting diode D2 remains off. On the other hand, the transistor Tr3 is conductive for the period W1 and disconnected for the remaining period W2, and this series of operations is repeated. Therefore, the light emitting diode D3 is turned on for the period W1 and turned off for the remaining period W2, and as this operation is repeated, the light emitting diode D3 is blinked. Therefore, by visually observing the blinking state of the light emitting diode D3, it is announced that the signal to be measured is ahead of the reference signal in phase. Note that, as described above, the larger the phase difference is, the longer the lighting period of the light emitting diode D3 becomes. Thus, in this example, 1.
two. ffi't fl (i [Ka1.E15.6Ka1.E1,.1.
It becomes possible to notify by the lighting state of D3. Note that the display means is a light emitting diode D2. Instead of the visual display means using D3, the notification may be made by audible means such as a buzzer, or an external peripheral device may be directly connected instead of the display means.

こうして本実施例では、2つの信号の位相を検出してし
かも位相の進みおよび遅れを検出して表示することが可
能となる。
In this manner, in this embodiment, it is possible to detect the phases of two signals and also to detect and display the lead and lag of the phases.

発明の効果 以上のように本発明によれば、簡単な回路構成で2つの
信号間の位相の進みおよび遅れを検出することが可能で
ある。
Effects of the Invention As described above, according to the present invention, it is possible to detect the phase lead and lag between two signals with a simple circuit configuration.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例の電気回路図、第2図は被測
定信号が基準信号よりも位相が遅れているときのタイミ
ングチャート、第3図は被測定信号が基準信号よりも位
相が進んでいるときのタイミングチャート、第4図は典
型的な先行技術の電気回路図である。 10・・・EX−ORゲート、11・・・D−7リツプ
ト回路、15.16・・・表示回路、Is、Ia+・・
・入力端子
Figure 1 is an electrical circuit diagram of an embodiment of the present invention, Figure 2 is a timing chart when the signal under test is delayed in phase than the reference signal, and Figure 3 is the phase of the signal under test that is later than the reference signal. FIG. 4 is a typical prior art electrical circuit diagram. 10...EX-OR gate, 11...D-7 lip circuit, 15.16...display circuit, Is, Ia+...
・Input terminal

Claims (1)

【特許請求の範囲】 位相が検出されるべき第1信号および第2信号が入力さ
れるEX−ORデートと、 第1信号がステップ状で変化する時点における第2信号
のレベルをラッチするフリップフロップと、 EX−ORデートとフリップフロップとの出力のAND
条件を演算するデートとを含むことを特徴とする位相検
出回路。
[Claims] An EX-OR date into which a first signal and a second signal whose phases are to be detected are input, and a flip-flop that latches the level of the second signal at the time when the first signal changes in a stepwise manner. AND the output of EX-OR date and flip-flop
A phase detection circuit comprising: a date for calculating a condition;
JP2591085A 1985-02-12 1985-02-12 Phase detection circuit Pending JPS61184917A (en)

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JP2591085A JPS61184917A (en) 1985-02-12 1985-02-12 Phase detection circuit

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JP (1) JPS61184917A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005065251A (en) * 2003-07-31 2005-03-10 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Logic circuit and semiconductor integrated circuit

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005065251A (en) * 2003-07-31 2005-03-10 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Logic circuit and semiconductor integrated circuit

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