JPS61179594A - Washing apparatus - Google Patents

Washing apparatus

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JPS61179594A
JPS61179594A JP25271385A JP25271385A JPS61179594A JP S61179594 A JPS61179594 A JP S61179594A JP 25271385 A JP25271385 A JP 25271385A JP 25271385 A JP25271385 A JP 25271385A JP S61179594 A JPS61179594 A JP S61179594A
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light
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は洗浄装置、特にはんだ付後のプリント基板の洗
浄を行うのに好適な洗浄装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Application of the Invention] The present invention relates to a cleaning device, and particularly to a cleaning device suitable for cleaning printed circuit boards after soldering.

〔発明の背景〕[Background of the invention]

プリント基板の組立工程では、通常基板に部品をはんだ
付する作業が実施されるが、本工程でははんだ付品質を
確保するためにフラックスが使用される。プリント基板
にこの様なフラックスが残っていると、腐食、電気的接
触特性不良等の問題が生じるので、一般にはんだ付は後
のプリント基iに対して洗浄作業が実施される。
In the printed circuit board assembly process, components are usually soldered to the board, and flux is used in this process to ensure soldering quality. If such flux remains on the printed circuit board, problems such as corrosion and poor electrical contact characteristics will occur, so the printed circuit board i is generally cleaned after soldering.

洗浄作業ではこの様なフラックスを効率的に除去するた
め、フラックス及び被洗浄物の形状、材質に適応した洗
浄液、洗浄工法が選定される。
In cleaning operations, in order to efficiently remove such flux, cleaning solutions and cleaning methods that are appropriate for the shape and material of the flux and the object to be cleaned are selected.

洗浄品質を確保するためには、この様な洗浄工法の選定
と共に洗浄液の清浄度が非常に大きな要因となる。一定
量の洗浄液で洗浄をくり返すことにより、洗浄液中にフ
ラックスが溶解され、洗浄液中のフラックス濃度が増大
する。
In order to ensure cleaning quality, the cleanliness of the cleaning solution is a very important factor as well as the selection of such a cleaning method. By repeating cleaning with a certain amount of cleaning liquid, the flux is dissolved in the cleaning liquid, and the flux concentration in the cleaning liquid increases.

この様に汚れた洗浄液で洗浄したものは、洗浄特性その
ものがそこなわれると共に、本来清浄な表面も逆汚染さ
れるので、高品質な洗浄特性を得るためには清浄な液で
洗浄するということが重要な課題となる。
If something is cleaned with such a dirty cleaning solution, the cleaning properties itself will be damaged, and the originally clean surface will also become counter-contaminated, so in order to obtain high-quality cleaning properties, it is important to wash with a clean solution. is an important issue.

洗浄液中のフラックス濃度はコネクターの様に電気的接
触部を有する部品は、0.01重量%以下にする必要が
あり、これ以上の濃度では接触不良が発生する。第6@
は接触不良発生率と洗浄液中のフラックス濃度との関係
を示すもので、洗浄の最終段階で必要なフラックス濃度
が0.01重量%以下であることがわかる。
The flux concentration in the cleaning liquid must be 0.01% by weight or less for parts having electrical contact portions such as connectors; if the concentration is higher than this, poor contact will occur. 6th @
shows the relationship between the incidence of poor contact and the flux concentration in the cleaning solution, and it can be seen that the flux concentration required at the final stage of cleaning is 0.01% by weight or less.

この様に洗浄液中のフラックス濃度を低濃度に管理する
ためには、 (1)設定した蒸留量が常に得られること。
In order to manage the flux concentration in the cleaning solution to a low concentration in this way, (1) the set distillation amount must always be obtained;

(ii)洗浄槽をできるだけ多槽化すること、(市)洗
浄液中のフラックス濃度を常にモニター管理すること。
(ii) Increase the number of cleaning tanks as much as possible, and (city) constantly monitor and manage the flux concentration in the cleaning solution.

が有効である。is valid.

従来装置については、この様な蒸留量管理およびフラッ
クス濃度管理が充分行われることなく、経験的な管理法
に依存していたため、結果としてプリント基板は、洗浄
品質のバラツキを免れなかった。
Conventional apparatuses rely on empirical control methods without adequately controlling the amount of distillation and flux concentration, and as a result, printed circuit boards are subject to variations in cleaning quality.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明の目的は、洗浄液中のフラックス濃度をモニター
管理するフラックス濃度計を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a flux concentration meter that monitors and manages the flux concentration in a cleaning liquid.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明は、フラックスの付着した被洗浄物を洗浄液によ
って洗浄する洗浄槽と、少なくとも1つの洗浄槽を通過
して洗浄によって汚染された洗浄液を入力し清浄な洗浄
液を出力する蒸留機とを有する洗浄装置を前提とする。
The present invention provides a cleaning system that includes a cleaning tank that cleans an object to be cleaned with flux attached thereto with a cleaning liquid, and a distillation machine that inputs the cleaning liquid that has passed through at least one cleaning tank and is contaminated by cleaning, and outputs a clean cleaning liquid. equipment is assumed.

本発明は、蒸留機の出力である清浄な洗浄液のサンプル
をとり込む第一の容器と、いずれかの洗浄槽を通過した
後の汚染された洗浄液のサンプルをとり込む第2の容器
とを有するフラックス濃度計である。第1および第2の
容器ともに少なくとも一部は透明であり、光を透過させ
ることができる。このフラックス濃度計は、特定領域の
波長をもつ光を照射する第1および第2の照射手段と、
第1の容器を通過した後の第1の照射手段の照射する光
の光量を検出する第1の光度計と、第1の容器および第
2の容器を通過した後の第2の照射手段の照射する光の
光量を検出する第2の光度計と、第1の光度計の検出す
る光の透過率と第2の光度計の検出する光の透過率とを
比較し、その結果フラックスによる透過率を求める制御
手段とを有することを特徴とする。
The present invention has a first container for taking a sample of clean wash liquid that is the output of the distiller and a second container for taking a sample of contaminated wash liquid after passing through one of the wash tanks. It is a flux concentration meter. Both the first and second containers are at least partially transparent and can transmit light. This flux densitometer includes first and second irradiation means that irradiate light having a wavelength in a specific region;
a first photometer that detects the amount of light emitted by the first irradiation means after passing through the first container; A second photometer that detects the amount of irradiated light compares the transmittance of light detected by the first photometer and the transmittance of light detected by the second photometer, and as a result, the transmittance by the flux is determined. and a control means for determining the ratio.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

次に本発明の実施例について図面を用いて詳細に説明す
る。
Next, embodiments of the present invention will be described in detail using the drawings.

第4図は本発明の一実施例に関連するプリント基板用洗
浄装置の構成を断面で示したものである。本装置はプリ
ント基板11をスプレー洗浄するための第1洗浄槽1お
よび第2洗浄槽2゜漬浸洗浄を行うための第3洗浄槽3
と、洗浄した液を回収するための第1〜第3回収タンク
4〜6、洗浄した排液を回収タンクに選択的に流すため
の第1フラツププレート7および第2フラッププレート
8.基板を保持搬送するた、めの上部基板保持ハンガー
13、下部基板保持ハンガ12.洗浄槽中の基板をスプ
レー洗浄するためのスプレーノズル10、スプレーノズ
ルを摺動させるための摺動ヘッド14、並びにスプレー
中に洗浄液が飛散することを防止するための開閉シャッ
ター15より構成される。
FIG. 4 is a cross-sectional view of the configuration of a printed circuit board cleaning device related to an embodiment of the present invention. This device consists of a first cleaning tank 1 and a second cleaning tank 2 for spray cleaning a printed circuit board 11, and a third cleaning tank 3 for performing immersion cleaning.
and first to third recovery tanks 4 to 6 for recovering the washed liquid, a first flap plate 7 and a second flap plate 8 for selectively flowing the washed waste liquid to the recovery tank. An upper substrate holding hanger 13 and a lower substrate holding hanger 12 for holding and transporting the substrate. It is comprised of a spray nozzle 10 for spray cleaning the substrate in the cleaning tank, a sliding head 14 for sliding the spray nozzle, and an opening/closing shutter 15 for preventing the cleaning liquid from scattering during spraying.

なお搬入コンベヤー19は5本洗浄装置までプリント基
板11を搬送するコンベヤー、排出コンベヤー20は、
洗浄後のプリント基板11を搬送するコンベヤーである
Note that there are five carry-in conveyors 19, a conveyor for conveying the printed circuit boards 11 to the cleaning device, and a discharge conveyor 20.
This is a conveyor that transports the printed circuit board 11 after cleaning.

また上部ハンガーアーム18はプリント基板11を洗浄
槽から洗浄槽へと移動させるための搬送機構である。第
3洗浄槽3と第1〜第3回収タンク4〜6には洗浄液1
6が貯えられあるいは回収される。
Further, the upper hanger arm 18 is a transport mechanism for moving the printed circuit board 11 from one cleaning tank to another. The cleaning liquid 1 is in the third cleaning tank 3 and the first to third recovery tanks 4 to 6.
6 is stored or retrieved.

第5図は本実施例の洗浄液16のフローを示したもので
、第4図に示したちの以外にフラックスの混入した洗浄
液を清浄化するための蒸留機28、蒸留された液を貯蔵
するための第1〜第4貯液タンク22〜25、蒸留量を
モニターするためのフローメータ26及び最終洗浄槽で
ある第3洗浄槽3の洗浄液中のフラックス濃度をモニタ
ーするためのフラックス濃度計27により構成される。
FIG. 5 shows the flow of the cleaning liquid 16 of this embodiment. In addition to those shown in FIG. The first to fourth liquid storage tanks 22 to 25, the flow meter 26 for monitoring the distillation amount, and the flux concentration meter 27 for monitoring the flux concentration in the cleaning liquid in the third cleaning tank 3, which is the final cleaning tank. configured.

第5図の第1洗浄槽と第2洗浄槽においてそれぞれ「1
回目洗浄」と「2回目洗浄」とあるのは、各々の洗浄槽
で行われる2つの工程とそのとき使用される洗浄液のフ
ローを示している。なお第5図における矢印はすべて洗
浄液の流れとその方向を示している。
In the first cleaning tank and the second cleaning tank in Fig. 5,
The phrases ``second cleaning'' and ``second cleaning'' indicate two steps performed in each cleaning tank and the flow of the cleaning liquid used at that time. Note that all the arrows in FIG. 5 indicate the flow and direction of the cleaning liquid.

次に第5図を用いて本実施例において洗浄液の流れとそ
の管理方法について説明する。
Next, the flow of the cleaning liquid and its management method in this embodiment will be explained using FIG.

蒸留機28により蒸留された清浄な洗浄液は−たん第4
貯液タンク25に貯蔵された後フローメータ26を通っ
て第3洗浄槽3に入る。第3洗浄槽3からオーバーフロ
ーした液は第3貯液タンク24に流れこみ、第3貯液タ
ンク24からオーバーフローした液は第2貯液タンク2
3に流れ込み、以下第2貯液タンク23から第1貯液タ
ンク22へとオーバーフローし、洗浄液中のフラックス
濃度を次第に増しながら再び蒸留機28にもどる。
The clean washing liquid distilled by the distiller 28 is
After being stored in the liquid storage tank 25, it passes through a flow meter 26 and enters the third cleaning tank 3. The liquid overflowing from the third cleaning tank 3 flows into the third liquid storage tank 24, and the liquid overflowing from the third liquid storage tank 24 flows into the second liquid storage tank 2.
3, then overflows from the second liquid storage tank 23 to the first liquid storage tank 22, and returns to the distiller 28 while gradually increasing the flux concentration in the cleaning liquid.

前述した様にプリント基板11が電気的に問題のない清
浄面を得るためには洗浄液中のフラックス濃度は0.0
1重量%以下にする必要があり1本実施例では最終洗浄
工程である第3洗浄槽3のフラックス濃度を上記濃度以
下にする必要がある。
As mentioned above, in order to obtain a clean surface with no electrical problems on the printed circuit board 11, the flux concentration in the cleaning solution should be 0.0.
It is necessary to keep the flux concentration below 1% by weight, and in this embodiment, it is necessary to keep the flux concentration in the third cleaning tank 3, which is the final cleaning step, below the above concentration.

洗浄液中のフラックス濃度を一定濃度以下に保つために
は投入するフラックス量に対して、常に一定の蒸留量が
確保されることが必要となる。フローメータ26はこの
目的のための第4貯液タンク25と第3洗浄槽3間に設
置されているもので、一定の流量以下でアラームが発せ
られ、装置が停止する。
In order to keep the flux concentration in the cleaning liquid below a certain level, it is necessary to always ensure a certain amount of distillation with respect to the amount of flux introduced. The flow meter 26 is installed between the fourth liquid storage tank 25 and the third cleaning tank 3 for this purpose, and when the flow rate is below a certain level, an alarm is issued and the device is stopped.

第1図は第3洗浄槽3の洗浄液中のフラックス濃度をモ
ニターするためのフラックス濃度計27の構造を示した
ものである。フラックス濃度計27は、特性領域の波長
を持つ光を発光するための発光器29aと発光器29b
、各ステ゛ −タスの洗浄液にこの光を通過させるため
洗浄液をプールするためのセル30a、セル30b、セ
ル30c、セル中の洗浄液を通過した光の光量を検出す
るための光度計31aと光度計31b、これら2つの光
度計からの情報を判定、コントロールするためのコント
ロールユニット32および洗浄液を循環させるためのマ
イクロポンプ(図示せず)より構成され1発光器29a
に対してはセル30a、及び光度計31aが対応し1発
光器29bに対しては、セル30b。
FIG. 1 shows the structure of a flux concentration meter 27 for monitoring the flux concentration in the cleaning liquid in the third cleaning tank 3. The flux concentration meter 27 includes a light emitter 29a and a light emitter 29b for emitting light having a wavelength in a characteristic region.
, a cell 30a, a cell 30b, a cell 30c for pooling the cleaning liquid in order to pass this light through the cleaning liquid of each status, a photometer 31a and a light intensity for detecting the amount of light that has passed through the cleaning liquid in the cell. A total of 31b, a control unit 32 for determining and controlling information from these two photometers, and a micropump (not shown) for circulating cleaning liquid;
Cell 30a and photometer 31a correspond to cell 30a, and cell 30b corresponds to light emitter 29b.

セル30c及び光度計31bが対応した位置に設置され
る。
A cell 30c and a photometer 31b are installed at corresponding positions.

第1図において、矢印をもった実線は洗浄液の流れを示
し、太い矢印は光の流れを示し、矢印をもった破線は制
御情報の流れを示す。
In FIG. 1, solid lines with arrows indicate the flow of cleaning liquid, thick arrows indicate the flow of light, and broken lines with arrows indicate the flow of control information.

次に第1図、第2図および第3図を用いて本実施例のフ
ラックス濃度計27の機能を説明する。
Next, the functions of the flux concentration meter 27 of this embodiment will be explained using FIG. 1, FIG. 2, and FIG. 3.

一般に物質はその物質固有に特定の波長の光を吸収する
性質をもっている。セル30aでは蒸留され、第4貯液
タンク25に貯蔵されていた清浄な洗浄液が流れており
1発光器29aにより発生した光はこの液を通過して光
度計31aに検出される。第2図はこの様にして光度計
31aに入力された光の透過率特性を示したものでal
、a2.a3の波長で本セルを通過した液特有の吸収が
生じている。本セルを流れる液は蒸留された液が流れて
おり、フラックスは混入されておらず、al、a2.a
3の吸収特性は洗浄液と洗浄液に添加されている分解防
止剤等の特性が表われていると考えられる。
In general, substances have an inherent property of absorbing light of a specific wavelength. A clean cleaning liquid that has been distilled and stored in the fourth liquid storage tank 25 flows in the cell 30a, and the light generated by the first light emitter 29a passes through this liquid and is detected by the photometer 31a. Figure 2 shows the transmittance characteristics of light input to the photometer 31a in this way.
, a2. Absorption peculiar to the liquid passing through this cell occurs at a wavelength of a3. The liquid flowing through this cell is a distilled liquid, and no flux is mixed in. Al, a2. a
The absorption characteristics of No. 3 are considered to be due to the characteristics of the cleaning liquid and the decomposition inhibitor added to the cleaning liquid.

一方1発光器29bにより発生した光はセル30aと同
じ液が流れるセル30bと最終洗浄槽である第3洗浄槽
3よる来る若干のフラックスが混入された洗浄液が流れ
るセル30cを通過して光度計31bに入力させる。こ
の時の吸収特性は第2図に示すごとく蒸留した洗浄液が
持つ吸収特性al、a2.a3に加えて、第3洗浄槽3
の洗浄液が持つ特性、すなわちフラックスの濃度に応じ
た特性bl、b2が追加される。ユニットコントロール
32では上述した様図の透過特性を除去すると第3図の
斜線で示したエリアがフラックス特有の吸収特性として
検出され、本特性値の大小を計量することにより。
On the other hand, the light generated by the first light emitter 29b passes through a cell 30b in which the same liquid as the cell 30a flows, and a cell 30c in which a cleaning liquid mixed with some flux from the third cleaning tank 3, which is the final cleaning tank, flows and is then passed through the photometer. 31b. At this time, the absorption characteristics of the distilled cleaning liquid are as shown in FIG. 2, al, a2. In addition to a3, third cleaning tank 3
Characteristics bl and b2 corresponding to the concentration of the flux, that is, the characteristics possessed by the cleaning liquid are added. In the unit control 32, when the above-mentioned transmission characteristic is removed, the area indicated by diagonal lines in FIG. 3 is detected as an absorption characteristic peculiar to the flux, and the magnitude of this characteristic value is measured.

洗浄液中のフラックス濃度をモニターすることができる
The flux concentration in the cleaning solution can be monitored.

一般に洗浄液中には、洗浄液が分解し、酸等に変化する
ことを防止するために、数%の分解防止剤が混入されて
いるが、本分解防止剤は洗浄液の蒸留再製をくりかえし
ていく間に化学変化により濃度が変化する。一方この様
な分解防止剤にも固有の光吸収特性があり、従って0゜
01%程度のフラックス濃度を精度よく検出するだめに
はこの様な分解防止剤の濃度変化の影響が非常に重要な
ファクターとなる。
Generally, a few percent of a decomposition inhibitor is mixed into a cleaning solution in order to prevent the cleaning solution from decomposing and turning into acids, etc. However, this decomposition inhibitor is used to prevent the cleaning solution from being repeatedly distilled and remanufactured. The concentration changes due to chemical changes. On the other hand, these decomposition inhibitors also have unique light absorption characteristics, and therefore, the influence of changes in the concentration of such decomposition inhibitors is extremely important in order to accurately detect flux concentrations of about 0.01%. Become a factor.

本フラックス濃度計27ではこの様な分解防止剤とモニ
ターしたいフラックスの吸収特性の分離を可能としたも
ので、このため比較用の洗浄液は新液ではなくモニター
したい洗浄槽(本実施例では第3洗浄槽3)の洗浄液と
分解防止剤の分解レベルについては同レベルである蒸留
後の洗浄液を用いることにより上述した誤差を最小限に
することができる。
This flux concentration meter 27 makes it possible to separate the absorption characteristics of the decomposition inhibitor and the flux to be monitored.For this reason, the cleaning solution for comparison is not the new solution, but the cleaning tank to be monitored (in this example, the third The above-described error can be minimized by using a distilled cleaning liquid that has the same decomposition level as the cleaning liquid in the cleaning tank 3) and the decomposition inhibitor.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、フラックス濃度を常にモニター管理で
きるフラックス濃度計が得られるので、洗浄液を常に清
浄に保つことができるという効果がある。
According to the present invention, a flux concentration meter that can constantly monitor and manage the flux concentration is obtained, so there is an effect that the cleaning liquid can always be kept clean.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例を示すフラックス濃度計の構
成を示す図、第2図および第3図はフラックス濃度計に
おいて得られる光の波長と透過率との関係を示す図、第
4図は本発明に関連する洗浄装置(例)の断面図、第5
図は第1図に示す洗浄装置中を流れる洗浄液のフロー図
、第6図は洗浄液中のフラックス濃度と接触不良率との
関係を示す図である。 27・・−フラックス濃度計 29a、29b・=発光器 30 a 、 30 b 、 30 c −セル31a
、31b、−光度計 32・・・コントロールユニット 第 1 口 吊 2 閏 躬 3閉 3oo   tooo  7so。置数η篭〕躬 +閃 躬 6 口 、1.It(V量%)
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of a flux densitometer showing an embodiment of the present invention, FIGS. 2 and 3 are diagrams showing the relationship between the wavelength of light obtained in the flux densitometer and the transmittance, and FIG. The figure is a sectional view of a cleaning device (example) related to the present invention.
This figure is a flow diagram of the cleaning liquid flowing through the cleaning apparatus shown in FIG. 1, and FIG. 6 is a diagram showing the relationship between the flux concentration in the cleaning liquid and the contact failure rate. 27...-Flux concentration meter 29a, 29b...=Light emitter 30a, 30b, 30c-Cell 31a
, 31b, - Photometer 32... Control unit 1st opening 2 jumping 3 closing 3oo tooo 7so. Placement number η basket〕man + flash 6 mouth, 1. It (V amount%)

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  フラックスの付着した被洗浄物を洗浄液によって洗浄
する洗浄槽と、少なくとも1つの該洗浄槽を通過して洗
浄によって汚染された洗浄液を入力し清浄な洗浄液を出
力する蒸留機とを有する洗浄装置において、特定領域の
波長をもつ光を照射する第1および第2の照射手段と、
前記清浄な洗浄液のサンプルをとり込む透明部分を有す
る少なくとも1つの第1の容器と、いずれかの前記洗浄
槽を通過した後の汚染された洗浄液のサンプルをとり込
む透明部分を有する第2の容器と、第1の容器を通過し
た後の第1の照射手段の照射する光の光量を検出する第
1の光度計と、第1の容器および第2の容器を通過した
後の第2の照射手段の照射する光の光量を検出する第2
の光度計と、第1の光度計の検出する光の透過率と第2
の光度計の検出する光の透過率とを比較し、その結果前
記フラックスによる透過率を求める制御手段とを有する
フラックス濃度計を設けたことを特徴とする洗浄装置。
A cleaning device having a cleaning tank for cleaning an object to be cleaned with flux attached thereto with a cleaning liquid, and a distillation machine for inputting the cleaning liquid contaminated by the cleaning through at least one of the cleaning tanks and outputting the clean cleaning liquid, first and second irradiation means that irradiate light having a wavelength in a specific region;
at least one first container having a transparent portion for capturing a sample of the clean cleaning solution; and a second container having a transparent portion for capturing a sample of contaminated cleaning solution after passing through any of the cleaning tanks. a first photometer for detecting the amount of light emitted by the first irradiation means after passing through the first container; and a second irradiation device after passing through the first container and the second container. a second device for detecting the amount of light emitted by the means;
the transmittance of the light detected by the first photometer and the second photometer.
1. A cleaning device comprising a flux densitometer that compares the transmittance of light detected by the photometer and determines the transmittance of the flux as a result.
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