JPS61172052A - 測定プロ−ブ - Google Patents
測定プロ−ブInfo
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- JPS61172052A JPS61172052A JP60226636A JP22663685A JPS61172052A JP S61172052 A JPS61172052 A JP S61172052A JP 60226636 A JP60226636 A JP 60226636A JP 22663685 A JP22663685 A JP 22663685A JP S61172052 A JPS61172052 A JP S61172052A
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- electrode
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N17/00—Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light
- G01N17/02—Electrochemical measuring systems for weathering, corrosion or corrosion-protection measurement
Landscapes
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
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- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
- Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、エナメル被覆されたプローブ本体と融着され
る電極用の担体を備えた測定プローブに係る。
る電極用の担体を備えた測定プローブに係る。
従来の技術
このような形式のエナメル被覆された測定プローブは公
知であ−る。このプローブは、エナメル被覆された装置
においてエナメル層の欠陥を検出する孔検出プローブと
して使用することもできるし、或いは、ｒＨ値もしくは
ｐＨ値を測定する測定プローブとして使用することもで
きる。このようなプローブは、腐食性の強い環境におい
て測定を行なうのに主として用いられる。このような腐
食性の強い条件のもとで測定プローブを使用した場合に
は、比較的短時間のうちに、腐食が生じ、特に、測定プ
ローブが色々な腐食性媒体に曝される場合には、プロー
ブの利用性が損なわれるという危具が生じる。
知であ−る。このプローブは、エナメル被覆された装置
においてエナメル層の欠陥を検出する孔検出プローブと
して使用することもできるし、或いは、ｒＨ値もしくは
ｐＨ値を測定する測定プローブとして使用することもで
きる。このようなプローブは、腐食性の強い環境におい
て測定を行なうのに主として用いられる。このような腐
食性の強い条件のもとで測定プローブを使用した場合に
は、比較的短時間のうちに、腐食が生じ、特に、測定プ
ローブが色々な腐食性媒体に曝される場合には、プロー
ブの利用性が損なわれるという危具が生じる。
発明が解決しようとする問題点
そこで、本発明によって解決しようとする問題点は、防
食性を改善することによって利用範囲を広げるか又は寿
命を延ばすようにして上記形式の測定プローブを改良す
ることである。
食性を改善することによって利用範囲を広げるか又は寿
命を延ばすようにして上記形式の測定プローブを改良す
ることである。
問題点を解決するための手段
上記の問題点は、エナメル被覆されたプローブ本体と融
着される電極用の担体を備えた測定プローブにおいて、
上記担体が、上記プローブ本体と融着されるエナメル又
はセラミック材料の円錐体であり、この円錐体に、電極
、又は、電極を取り付けるように働く金属本体が融着さ
れることを特徴とする測定プローブによって解消される
。更に別の構成においては、多数の電極が上記円錐体と
融着される。或いは又、電極として働くネジが上記金属
本体にねじ込まれる。
着される電極用の担体を備えた測定プローブにおいて、
上記担体が、上記プローブ本体と融着されるエナメル又
はセラミック材料の円錐体であり、この円錐体に、電極
、又は、電極を取り付けるように働く金属本体が融着さ
れることを特徴とする測定プローブによって解消される
。更に別の構成においては、多数の電極が上記円錐体と
融着される。或いは又、電極として働くネジが上記金属
本体にねじ込まれる。
実施例 ′
以下、添付図面を参照して、本発明の好ましい実施例を
説明する。
説明する。
第１図ないし第３図は、各々、電極が取り付けられる測
定プローブの端部を示している。測定プローブのその他
の部分は、公知の構造である。
定プローブの端部を示している。測定プローブのその他
の部分は、公知の構造である。
第１図に示す実施例では、測定電極１がエナメル又はセ
ラミック材料の円錐体２と融着される。
ラミック材料の円錐体２と融着される。
この円錐体は、外部に向かって広がっている。この円錐
体２は１、エナメル又はセラミック材料の粉末から作成
され、この粉末は、必要に応じてバインダと混合されて
もよく、４００ないし１０００ｂａｒの圧力でプレスさ
れる。このプレスされる本体は１円柱としてプレスされ
てもよいし、或いは１円錐として均一にプレスされても
よい。プレスされた本体は、乾燥の後、機械的に加工さ
れ、測定電極用のボアがあけられると共に１円柱状にプ
レスされた本体の場合には適切な円錐形状に形成される
。次いで、上記のボアに、電極１が挿入される。この電
極は、ここに示す実施例では、所期の用途に対して防食
性を示すと共に以下で述べるように円錐のボア内に融着
し得る白金又は他の材料で構成される。測定電極を挿入
した後、円錐体は、約７００ないし７５０℃の温度に２
時間置かれる。この電極は、焼結中に、シール状態で溶
着することができる。然し乍ら、ここに示す実施例では
、タンタルのような電極材料は、もしこのような材料が
焼結中にもろくなったりするか又は電極の材料と円錐体
の材料の温度膨張係数が著しく異なるような場合には、
使用することができない。
体２は１、エナメル又はセラミック材料の粉末から作成
され、この粉末は、必要に応じてバインダと混合されて
もよく、４００ないし１０００ｂａｒの圧力でプレスさ
れる。このプレスされる本体は１円柱としてプレスされ
てもよいし、或いは１円錐として均一にプレスされても
よい。プレスされた本体は、乾燥の後、機械的に加工さ
れ、測定電極用のボアがあけられると共に１円柱状にプ
レスされた本体の場合には適切な円錐形状に形成される
。次いで、上記のボアに、電極１が挿入される。この電
極は、ここに示す実施例では、所期の用途に対して防食
性を示すと共に以下で述べるように円錐のボア内に融着
し得る白金又は他の材料で構成される。測定電極を挿入
した後、円錐体は、約７００ないし７５０℃の温度に２
時間置かれる。この電極は、焼結中に、シール状態で溶
着することができる。然し乍ら、ここに示す実施例では
、タンタルのような電極材料は、もしこのような材料が
焼結中にもろくなったりするか又は電極の材料と円錐体
の材料の温度膨張係数が著しく異なるような場合には、
使用することができない。
必要に応じて、焼結後に円錐体を研磨し、所定の寸法に
する。プローブ本体４の対応する円錐状のくぼみに挿入
する前に、円錐体の外面３にエナメルをスプレーし、乾
燥後、プローブ本体４に融着させる。この溶着段階の前
に、プローブ本体も予めエナメル被覆される。この実、
流側による測定プローブは、とりわけ、孔を検出するプ
ローブとして、或いは、ｒＨ値を測定するプローブとし
て使用できる。この構造の効果は、次の通りである。１
０円錐体を整形する場合に、多数の電極を溶着すること
ができる。２．第１図において、腐食が生じて下方に進
行しても、測定プローブはシール状態に保たれる。３．
セラミック材料の防食性が充分でなくても、生成物に曝
される円錐体の面に、付加的な防食エナメル層を付着す
ることができる。４．この構造は、高い圧力に耐え、然
も、円錐体をプローブ担体とは別に予め形成することが
できる。
する。プローブ本体４の対応する円錐状のくぼみに挿入
する前に、円錐体の外面３にエナメルをスプレーし、乾
燥後、プローブ本体４に融着させる。この溶着段階の前
に、プローブ本体も予めエナメル被覆される。この実、
流側による測定プローブは、とりわけ、孔を検出するプ
ローブとして、或いは、ｒＨ値を測定するプローブとし
て使用できる。この構造の効果は、次の通りである。１
０円錐体を整形する場合に、多数の電極を溶着すること
ができる。２．第１図において、腐食が生じて下方に進
行しても、測定プローブはシール状態に保たれる。３．
セラミック材料の防食性が充分でなくても、生成物に曝
される円錐体の面に、付加的な防食エナメル層を付着す
ることができる。４．この構造は、高い圧力に耐え、然
も、円錐体をプローブ担体とは別に予め形成することが
できる。
プローブ本体４に同様にエナメル層Ｅが設けられた第２
図の実施例は、第１図の実施例と同様のものであるが、
測定電極１としてネジが設けられている。このネジは、
円錐体２に溶着された円柱状の金属本体５にねじ込まれ
る。この構造の特定の効果は、別の材料の電極を必要と
するような別の腐食性媒体中で測定を行なうように測定
プローブを使用しなければならない場合、電極として働
くネジを別の材料のネジと交換できることである。
図の実施例は、第１図の実施例と同様のものであるが、
測定電極１としてネジが設けられている。このネジは、
円錐体２に溶着された円柱状の金属本体５にねじ込まれ
る。この構造の特定の効果は、別の材料の電極を必要と
するような別の腐食性媒体中で測定を行なうように測定
プローブを使用しなければならない場合、電極として働
くネジを別の材料のネジと交換できることである。
第３図に示す実施例では、第２図の実施例に対応する素
子が同じ参照番号で示されている。この実施例では、溶
着される円柱状の金属９本体５が使用電解液に化学的に
耐える材料で構成される。
子が同じ参照番号で示されている。この実施例では、溶
着される円柱状の金属９本体５が使用電解液に化学的に
耐える材料で構成される。
この実施例においては、電極１は、エナメル被覆できる
と共に電解液にも耐える材料のネジで構成される。この
ネジの頭の外面にはエナメル層１１が設けられ、このエ
ナメル層は、ダイアフラム１２を形成するように頭の下
面まで延びる。ダイアフラムの領域においては、頭の下
面と円錐体２の上面が光沢仕上げされる。電解液は、ボ
ア８．９．６．１０を経てダイアフラム１２に達する。
と共に電解液にも耐える材料のネジで構成される。この
ネジの頭の外面にはエナメル層１１が設けられ、このエ
ナメル層は、ダイアフラム１２を形成するように頭の下
面まで延びる。ダイアフラムの領域においては、頭の下
面と円錐体２の上面が光沢仕上げされる。電解液は、ボ
ア８．９．６．１０を経てダイアフラム１２に達する。
このエナメル被覆されたプローブは、ｐＨ測定プローブ
として特に使用できる。
として特に使用できる。
第１図は、本発明による測定プローブの第１の実施例を
示す縦断面図、 第２図は、本発明による測定プローブの別の実施例を示
す断面図、そして 第３図は、更に別の実施例を示す断面図である。 １・・・測定電極 ２・・・円錐体３・・・円錐
体の外面 ４・・・プローブ本体５・・・金属本体
Ｅ・・・エナメル層１１・・・エナメル層 １２・・・ダイアフラム 第 １ 図 図面の浄書（内容（こ変更なし・）第２
図 手続補正書（方式） 昭和 年６トイ・１８Ｅ３ 特許庁長官 宇 賀 道 部 殿 い聞事件の表示
昭和６０年特許願第２２６６３６号発明の名称
測定プロ − プ補正をする者 事件との関係 出願人
示す縦断面図、 第２図は、本発明による測定プローブの別の実施例を示
す断面図、そして 第３図は、更に別の実施例を示す断面図である。 １・・・測定電極 ２・・・円錐体３・・・円錐
体の外面 ４・・・プローブ本体５・・・金属本体
Ｅ・・・エナメル層１１・・・エナメル層 １２・・・ダイアフラム 第 １ 図 図面の浄書（内容（こ変更なし・）第２
図 手続補正書（方式） 昭和 年６トイ・１８Ｅ３ 特許庁長官 宇 賀 道 部 殿 い聞事件の表示
昭和６０年特許願第２２６６３６号発明の名称
測定プロ − プ補正をする者 事件との関係 出願人
Claims (3)
- （１）エナメル被覆されたプローブ本体と融着される電
極用の担体を備えた測定プローブにおいて、上記担体は
、上記プローブ本体（４）と融着されるエナメル又はセ
ラミック材料の円錐体（２）であり、この円錐体に、電
極（１）、又は、電極を取り付けるように働く金属本体
（５）が融着されることを特徴とする測定プローブ。 - （２）多数の電極（１）が上記円錐体（第１図の２）と
融着される特許請求の範囲第（１）項に記載の測定プロ
ーブ。 - （３）電極として働くネジが上記金属本体（５）にねじ
込まれる特許請求の範囲第（１）項に記載の測定プロー
ブ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3437619.4 | 1984-10-13 | ||
| DE3437619A DE3437619A1 (de) | 1984-10-13 | 1984-10-13 | Messsonde |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61172052A true JPS61172052A (ja) | 1986-08-02 |
Family
ID=6247838
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60226636A Pending JPS61172052A (ja) | 1984-10-13 | 1985-10-11 | 測定プロ−ブ |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4788506A (ja) |
| EP (1) | EP0180071B1 (ja) |
| JP (1) | JPS61172052A (ja) |
| DE (2) | DE3437619A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5904993A (en) * | 1994-09-22 | 1999-05-18 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Joint body of aluminum and silicon nitride and method of preparing the same |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3819026A1 (de) * | 1988-06-03 | 1989-12-14 | Pfaudler Werke Ag | Sondenanordnung |
| US4948492A (en) * | 1989-05-01 | 1990-08-14 | General Electric Company | Electrode probe for use in aqueous environments of high temperature and high radiation |
| US4978921A (en) * | 1989-05-01 | 1990-12-18 | General Electric Company | Electrode probe for use in aqueous environments of high temperature and high radiation |
| EP0850333A2 (de) * | 1995-09-15 | 1998-07-01 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und anordnung zur überwachung der zellstoffkochung |
| WO2006105963A2 (de) * | 2005-04-08 | 2006-10-12 | Ellenberger & Poensgen Gmbh | Sensor, insbesondere kapazitiver niveausensor, sowie verfahren zu dessen herstellung |
| DE102013101420A1 (de) * | 2013-02-13 | 2014-08-14 | Endress + Hauser Conducta Gesellschaft für Mess- und Regeltechnik mbH + Co. KG | Elektrochemischer Sensor |
| CN104749234B (zh) * | 2015-04-16 | 2018-02-13 | 中国科学院地球化学研究所 | 一种用于高温高压水热体系的铂电极及其制备方法 |
| DE102019103171A1 (de) * | 2019-02-08 | 2020-08-13 | Endress+Hauser Conducta Gmbh+Co. Kg | Ionenselektive Elektrode für einen elektrochemischen Sensor |
| DE102019103167A1 (de) * | 2019-02-08 | 2020-08-13 | Endress+Hauser Conducta Gmbh+Co. Kg | Ionenselektive Elektrode für einen elektrochemischen Sensor |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE7930207U1 (de) * | 1980-02-21 | Schering Ag, 1000 Berlin Und 4619 Bergkamen | EintauchmeBsonde | |
| US2714189A (en) * | 1951-07-17 | 1955-07-26 | Ruth B Klausmeyer | Electrolytic method and cell |
| GB1498791A (en) * | 1974-12-27 | 1978-01-25 | Lowndes R | Apparatus for measuring hydrogen ion activity |
| US4052667A (en) * | 1976-09-08 | 1977-10-04 | Rite Autotronics Corporation | Moisture meter construction |
| US4617511A (en) * | 1980-03-31 | 1986-10-14 | Kennecott Corporation | Electrode probe assembly for glass lined metal vessels |
| DE3243334A1 (de) * | 1982-11-19 | 1984-05-24 | Hahn-Meitner-Institut für Kernforschung Berlin GmbH, 1000 Berlin | Durchfuehrung fuer messelektroden in hochdruckbehaeltern |
-
1984
- 1984-10-13 DE DE3437619A patent/DE3437619A1/de not_active Withdrawn
-
1985
- 1985-10-08 EP EP85112721A patent/EP0180071B1/de not_active Expired
- 1985-10-08 DE DE8585112721T patent/DE3567737D1/de not_active Expired
- 1985-10-09 US US06/785,696 patent/US4788506A/en not_active Expired - Fee Related
- 1985-10-11 JP JP60226636A patent/JPS61172052A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5904993A (en) * | 1994-09-22 | 1999-05-18 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Joint body of aluminum and silicon nitride and method of preparing the same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0180071B1 (de) | 1989-01-18 |
| EP0180071A1 (de) | 1986-05-07 |
| US4788506A (en) | 1988-11-29 |
| DE3567737D1 (en) | 1989-02-23 |
| DE3437619A1 (de) | 1986-04-17 |
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