JPS6117083A - ウインド選別方式によるよう素125定量サ−ベメ−タ装置 - Google Patents
ウインド選別方式によるよう素125定量サ−ベメ−タ装置Info
- Publication number
- JPS6117083A JPS6117083A JP13527584A JP13527584A JPS6117083A JP S6117083 A JPS6117083 A JP S6117083A JP 13527584 A JP13527584 A JP 13527584A JP 13527584 A JP13527584 A JP 13527584A JP S6117083 A JPS6117083 A JP S6117083A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、シンチレーションサーベイにおいて、波高選
別により、ウィンド(エネルギレベル)を選別し、サム
ピーク法を応用して標準線源なしでよう素125の放射
線を定量的に測定し得るウィンド選別方式によるよう素
125定量サーベメータ装置に関する。
別により、ウィンド(エネルギレベル)を選別し、サム
ピーク法を応用して標準線源なしでよう素125の放射
線を定量的に測定し得るウィンド選別方式によるよう素
125定量サーベメータ装置に関する。
従来のサーペメータは、よう素(1251)の光子スペ
クトル(エネルギスペクトル)tl−考慮したウィンド
が作られておらず、まだ、絶対放射能は、わらかしめ放
射能の異なる複数個の標準線源による校正が必要である
ため、その測足が繁雑であるという欠点がおった。
クトル(エネルギスペクトル)tl−考慮したウィンド
が作られておらず、まだ、絶対放射能は、わらかしめ放
射能の異なる複数個の標準線源による校正が必要である
ため、その測足が繁雑であるという欠点がおった。
本発明は、上述の点に鑑み、従来技術の問題点でおる標
準線源を用いることなく汚染現場で足置測定し得る取扱
いが容易なウィンド選別方式によるよう素125定量サ
ーペメータ装置fc提供すること金目的とする。
準線源を用いることなく汚染現場で足置測定し得る取扱
いが容易なウィンド選別方式によるよう素125定量サ
ーペメータ装置fc提供すること金目的とする。
このような目的を達成するために、本発明は、よ5素1
25の放射線をエネルギに比例した電気信号に変換し出
力するシンナレーショングローブと、このシンチレーシ
ヨンプローブの入力に誦圧電圧in与させてシングルス
ピークとサムピークまたはシングルスピークとサムピー
クとの和ごとにウィンド選別する切換スイッチを設けた
高圧発生回路とを備え、かつ、決められた値しか計数し
ないデスクリミネータ回路により前記サムピーク範囲に
おける計数値(N、C)のシングルスピーク範囲におけ
る計数値(NS)に対する比岨(R1)または全ビーク
範囲における計数値(N’S+NC)の各範囲の計数値
(NS ) 、 (NC)に対する比率(R2) 、
(R3)と、前記サムピーク範囲におけるバックグラウ
ンドレベル(BC)のシングルスピーク範囲におけるバ
ックグラウンドレベル(BS)に対する比率(H1)ま
たは全ピーク範囲のバックグラウンドレベル(BC十B
B)の各範囲のバックグラウンドレベル(BS )、(
、BC)に対する比率([2) 、 (Hl )の相対
的関係から、最も検出限界の低いピーク範’1Mを決定
し前記シングルスピーク、サムピークまたはシングルス
ピークおよびサムピークの和とのいずれの範囲を適用し
て指示するかの選別をすると共に、前記ウィンドごとに
決定される効率係数算式の変換係数(F)に前記計数値
(NS)、(NC)、または(NS+NC)のいずれか
を乗算して絶対放射能を表示し、かつマルチチャンネル
波高分析器に波高を出力可能なことを特徴とする。
25の放射線をエネルギに比例した電気信号に変換し出
力するシンナレーショングローブと、このシンチレーシ
ヨンプローブの入力に誦圧電圧in与させてシングルス
ピークとサムピークまたはシングルスピークとサムピー
クとの和ごとにウィンド選別する切換スイッチを設けた
高圧発生回路とを備え、かつ、決められた値しか計数し
ないデスクリミネータ回路により前記サムピーク範囲に
おける計数値(N、C)のシングルスピーク範囲におけ
る計数値(NS)に対する比岨(R1)または全ビーク
範囲における計数値(N’S+NC)の各範囲の計数値
(NS ) 、 (NC)に対する比率(R2) 、
(R3)と、前記サムピーク範囲におけるバックグラウ
ンドレベル(BC)のシングルスピーク範囲におけるバ
ックグラウンドレベル(BS)に対する比率(H1)ま
たは全ピーク範囲のバックグラウンドレベル(BC十B
B)の各範囲のバックグラウンドレベル(BS )、(
、BC)に対する比率([2) 、 (Hl )の相対
的関係から、最も検出限界の低いピーク範’1Mを決定
し前記シングルスピーク、サムピークまたはシングルス
ピークおよびサムピークの和とのいずれの範囲を適用し
て指示するかの選別をすると共に、前記ウィンドごとに
決定される効率係数算式の変換係数(F)に前記計数値
(NS)、(NC)、または(NS+NC)のいずれか
を乗算して絶対放射能を表示し、かつマルチチャンネル
波高分析器に波高を出力可能なことを特徴とする。
次に、不発明の一実施例を図面に基づき、詳細に説明す
る。
る。
第1図は本発明の一実施例の概略m成因を示し、(4)
はその正面図、(8)はそのシンチレーションプローブ
を除いた平面図である。図においてよう素125定量サ
ーベメータ装置1は、シンチレータ2、プローブ3、サ
ーベメータ本体4とから構成される゛。
はその正面図、(8)はそのシンチレーションプローブ
を除いた平面図である。図においてよう素125定量サ
ーベメータ装置1は、シンチレータ2、プローブ3、サ
ーベメータ本体4とから構成される゛。
シンチレータ2は、光電子増倍管とそのブリーダ回路と
を収容するグローブ3にアダプタ5により装着される。
を収容するグローブ3にアダプタ5により装着される。
また、サーベメータ本体4は、把手6により支持される
と共に、プローブ3を保持し、指示計7、エネルギデス
クリレベル切換スイッチ8、電源スィッチ9、計数前ス
ピーカ10.7’ローブ接続コネクタ11.アンプアウ
トコネクタ12等が装着される。
と共に、プローブ3を保持し、指示計7、エネルギデス
クリレベル切換スイッチ8、電源スィッチ9、計数前ス
ピーカ10.7’ローブ接続コネクタ11.アンプアウ
トコネクタ12等が装着される。
次に、第2図は本す−ベメータ装置の原理ブロック図を
示す。図において第1図と同一の機能を有する部分には
、同一の符号が付されている。シンチレーション2およ
びプローブ3け、放射される放射線を光電変換し、電気
量(を荷)に変換し、電気信号(電流パルス)として出
力を取り出す。
示す。図において第1図と同一の機能を有する部分には
、同一の符号が付されている。シンチレーション2およ
びプローブ3け、放射される放射線を光電変換し、電気
量(を荷)に変換し、電気信号(電流パルス)として出
力を取り出す。
また、高圧発生回路15は、プローブ3に印加する高圧
全発生する回路で、エネルギデスクリレベル切換スイッ
チ8の切換えにより、高圧出力電圧を変えて、プローブ
3の光電子増倍管の利得を変えることができる。すガわ
ち、第3図に示すようにエネルギ範囲を、本実施例では
20 KeVないし45 KeV、45 KeVないし
80 KeV または20KeVないし80 KeVの
3段切換金することにより、シングルスピークとサムピ
ークまたはシングルスピークとサムピークとの和のウィ
ンド(エネルギ範囲)を設定し、それぞれのウィンド別
の計数値′ftN5 、NC,NS+NCとすれば、計
数値NSとNCまたはNS+NCの比率R+ 、R2、
R3は第(1)式、第(2)式、第(3)式にて示され
る。
全発生する回路で、エネルギデスクリレベル切換スイッ
チ8の切換えにより、高圧出力電圧を変えて、プローブ
3の光電子増倍管の利得を変えることができる。すガわ
ち、第3図に示すようにエネルギ範囲を、本実施例では
20 KeVないし45 KeV、45 KeVないし
80 KeV または20KeVないし80 KeVの
3段切換金することにより、シングルスピークとサムピ
ークまたはシングルスピークとサムピークとの和のウィ
ンド(エネルギ範囲)を設定し、それぞれのウィンド別
の計数値′ftN5 、NC,NS+NCとすれば、計
数値NSとNCまたはNS+NCの比率R+ 、R2、
R3は第(1)式、第(2)式、第(3)式にて示され
る。
ま7t、BSはシングルスピークのバックグランド、B
Cはサムピークのバックグランドとすれば、このバック
グランドBs、BCは外部要件等によるノイズレベルで
あるから、バックグランドレベルBS、BCO比軍H】
、R2、R3は、第(4)式。
Cはサムピークのバックグランドとすれば、このバック
グランドBs、BCは外部要件等によるノイズレベルで
あるから、バックグランドレベルBS、BCO比軍H】
、R2、R3は、第(4)式。
第(5)式、第(6〕式にて示される。
この比54H+ 、R2、R3はほぼ一定値を示し、比
率Rz 、R2、R3、Hl、1lt2.[3の相対的
関係から、計数値NS、NCまたはNt(NS+NC)
、一般にはNOどのエネルギ範囲を選別するのが、エネ
ルギが低いr線、X線でおるよう素の放射線を最も高精
度で測定できるかを明確にする。
率Rz 、R2、R3、Hl、1lt2.[3の相対的
関係から、計数値NS、NCまたはNt(NS+NC)
、一般にはNOどのエネルギ範囲を選別するのが、エネ
ルギが低いr線、X線でおるよう素の放射線を最も高精
度で測定できるかを明確にする。
なお、デスクリミネータ17は、増幅器16からの入カ
バルス信号(°計数値N)のうち、−足しベル範凹の計
数値Nのみを選別して、一定波高の ′パルスに整形し
指示計7への入力とする。
バルス信号(°計数値N)のうち、−足しベル範凹の計
数値Nのみを選別して、一定波高の ′パルスに整形し
指示計7への入力とする。
さらに、この計数値Nt−絶対放射能強度に換算するた
めに、変換計数F#′iそれぞれのウィンド別に異なる
変換係数計算式により選定され、それぞれFa 、Fc
、Ftとすれば、第4図に示すような変換曲線Fが得
られる。従って、絶対放射能Aは第(7)弐咳より算出
される。
めに、変換計数F#′iそれぞれのウィンド別に異なる
変換係数計算式により選定され、それぞれFa 、Fc
、Ftとすれば、第4図に示すような変換曲線Fが得
られる。従って、絶対放射能Aは第(7)弐咳より算出
される。
A=NXF・・・・・・・・・(7)
また、増幅器16よりスペクトル精密測定のためにマル
チチャンイル波高分析用信号P’に出力する。
チチャンイル波高分析用信号P’に出力する。
以上に説明するように本発明は、よう素の放射能を計数
分析して電気信号に変換し出力するシンチレーションプ
ローブと、このシンチレーションプローブへ高圧電圧を
付与してシングルスピークとサムピークまたはシングル
スピークとサムピークとの和とにウィンド選別する複数
個の切換スイッチを設けた高圧発生回路とft偏え、前
記サムピークにおける計数値(NC)に対するシングル
スピークにおける計数値(NS)との比率(R1)また
は計数値(N C+ N S)に対する計数値(N S
)との比率(R2)と、前記サムピークにおけるバック
グラウンドレベル(BC)のシングルスピークにおける
バックグラウンドレベル(BS)に対する比率(H1)
またはバックグラウンドレベル(BC+BS)とバック
グラウンドレベル(BS)との比率(R2)の相対的関
係から、前記シングルスピーク、サムピークまfck′
iシングルスピークおよびサムピークの和とのいずれの
ビークを適用するかの選別をすると共に、前記ウィンド
ごとに決定される効率係数算式の変換係数(F)に前記
計数値(NS)、(NC)または(NS+NC)のいず
れかを乗算して絶対放射能強度を表示し、マルチチャン
ネル波高分析器に波高分布を表示させることにより、ウ
ィンド選別方式が考慮されず校正のために標準線源を必
要とするという従来技術の問題点が有効に解決され、標
準線源が不要となり汚染現場で定量測定が可能となり、
その取扱が容易である等の効果を有する。
分析して電気信号に変換し出力するシンチレーションプ
ローブと、このシンチレーションプローブへ高圧電圧を
付与してシングルスピークとサムピークまたはシングル
スピークとサムピークとの和とにウィンド選別する複数
個の切換スイッチを設けた高圧発生回路とft偏え、前
記サムピークにおける計数値(NC)に対するシングル
スピークにおける計数値(NS)との比率(R1)また
は計数値(N C+ N S)に対する計数値(N S
)との比率(R2)と、前記サムピークにおけるバック
グラウンドレベル(BC)のシングルスピークにおける
バックグラウンドレベル(BS)に対する比率(H1)
またはバックグラウンドレベル(BC+BS)とバック
グラウンドレベル(BS)との比率(R2)の相対的関
係から、前記シングルスピーク、サムピークまfck′
iシングルスピークおよびサムピークの和とのいずれの
ビークを適用するかの選別をすると共に、前記ウィンド
ごとに決定される効率係数算式の変換係数(F)に前記
計数値(NS)、(NC)または(NS+NC)のいず
れかを乗算して絶対放射能強度を表示し、マルチチャン
ネル波高分析器に波高分布を表示させることにより、ウ
ィンド選別方式が考慮されず校正のために標準線源を必
要とするという従来技術の問題点が有効に解決され、標
準線源が不要となり汚染現場で定量測定が可能となり、
その取扱が容易である等の効果を有する。
第1図は不@明の一実施例の概略構成図を示し、(A)
はその正面図、(ト)はそのシンチレーションプローブ
を除いた平面図、落2図は本す−ベメータ装置の原理ブ
ロック図、第3図はウィンド選別説明図、第4図は絶対
放射能強度への変換率曲線図である。 l:よう素定量す−ベメータ装置、2:シンチレータ、
3ニブロープ、8:エネルギデスクリレペル切換スイッ
チ、15:高圧発生回路、16:増幅器、17:デスク
リミネータ。 第 1 図 ’v*牢N 第4 図 第2図 第3図
はその正面図、(ト)はそのシンチレーションプローブ
を除いた平面図、落2図は本す−ベメータ装置の原理ブ
ロック図、第3図はウィンド選別説明図、第4図は絶対
放射能強度への変換率曲線図である。 l:よう素定量す−ベメータ装置、2:シンチレータ、
3ニブロープ、8:エネルギデスクリレペル切換スイッ
チ、15:高圧発生回路、16:増幅器、17:デスク
リミネータ。 第 1 図 ’v*牢N 第4 図 第2図 第3図
Claims (1)
- 1)よう素^1^2^5の放射線をエネルギーに比例し
た電気信号に変換し出力するシンチレーシヨンプローブ
と、このシンチレーシヨンプローブの入力に高圧電圧を
付与させてシングルスピークとサムピークまたはシング
ルスピークとサムピークとの和ごとにウインド選別する
切換スイッチを設けた高圧発生回路とを備え、かつ、決
められた値しか計数しないデスクリミネータ回路により
前記サムピーク範囲における計数値(NC)のシングル
スピーク範囲における計数値(NS)に対する比率(R
_1)または全ピーク範囲における計数値(Nt=NS
+NC)の各範囲の計数値(NS)、(NC)に対する
比率(R_2)、(R_3)と、前記サムピーク範囲に
おけるバックグラウンドレベル(BC)のシングルスピ
ーク範囲におけるバックグラウンドレベル(BS)に対
する比率(H_1)または全ピーク範囲のバックグラウ
ンドレベル(BC+BS)の各範囲のバックグラウンド
レベル(BS)、(BC)に対する比率(H_2)、(
H_3)との相対的関係から、最も検出限界の低いピー
ク範囲を決定し前記シングルスピーク、サムピークまた
はシングルスピークおよびサムピークの和とのいずれの
範囲を適用して指示するかの選別をすると共に、前記ウ
インドごとに決定される効率係数算式の変換係数(F)
に前記計数値(NS)、(NC)または(NS+NC)
のいずれかを乗算して絶対放射能を表示し、かつマルチ
チャンネル波高分析器に波高を出力可能なことを特徴と
するウインド選別方式によるよう素^1^2^5定量サ
ーベメータ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13527584A JPS6117083A (ja) | 1984-07-02 | 1984-07-02 | ウインド選別方式によるよう素125定量サ−ベメ−タ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13527584A JPS6117083A (ja) | 1984-07-02 | 1984-07-02 | ウインド選別方式によるよう素125定量サ−ベメ−タ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6117083A true JPS6117083A (ja) | 1986-01-25 |
JPH056677B2 JPH056677B2 (ja) | 1993-01-27 |
Family
ID=15147892
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13527584A Granted JPS6117083A (ja) | 1984-07-02 | 1984-07-02 | ウインド選別方式によるよう素125定量サ−ベメ−タ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6117083A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6319871B1 (en) | 1998-08-31 | 2001-11-20 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Dielectric material |
JP2008249337A (ja) * | 2007-03-29 | 2008-10-16 | Natl Inst Of Radiological Sciences | 放射能絶対測定方法、放射線検出器集合体の検出効率決定方法、及び、放射線測定装置の校正方法 |
-
1984
- 1984-07-02 JP JP13527584A patent/JPS6117083A/ja active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6319871B1 (en) | 1998-08-31 | 2001-11-20 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Dielectric material |
JP2008249337A (ja) * | 2007-03-29 | 2008-10-16 | Natl Inst Of Radiological Sciences | 放射能絶対測定方法、放射線検出器集合体の検出効率決定方法、及び、放射線測定装置の校正方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH056677B2 (ja) | 1993-01-27 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |