JPS6117083A - ウインド選別方式によるよう素１２５定量サ−ベメ−タ装置 - Google Patents
ウインド選別方式によるよう素１２５定量サ−ベメ−タ装置Info
- Publication number
- JPS6117083A JPS6117083A JP13527584A JP13527584A JPS6117083A JP S6117083 A JPS6117083 A JP S6117083A JP 13527584 A JP13527584 A JP 13527584A JP 13527584 A JP13527584 A JP 13527584A JP S6117083 A JPS6117083 A JP S6117083A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、シンチレーションサーベイにおいて、波高選
別により、ウィンド（エネルギレベル）を選別し、サム
ピーク法を応用して標準線源なしでよう素１２５の放射
線を定量的に測定し得るウィンド選別方式によるよう素
１２５定量サーベメータ装置に関する。
別により、ウィンド（エネルギレベル）を選別し、サム
ピーク法を応用して標準線源なしでよう素１２５の放射
線を定量的に測定し得るウィンド選別方式によるよう素
１２５定量サーベメータ装置に関する。
従来のサーペメータは、よう素（１２５１）の光子スペ
クトル（エネルギスペクトル）ｔｌ−考慮したウィンド
が作られておらず、まだ、絶対放射能は、わらかしめ放
射能の異なる複数個の標準線源による校正が必要である
ため、その測足が繁雑であるという欠点がおった。
クトル（エネルギスペクトル）ｔｌ−考慮したウィンド
が作られておらず、まだ、絶対放射能は、わらかしめ放
射能の異なる複数個の標準線源による校正が必要である
ため、その測足が繁雑であるという欠点がおった。
本発明は、上述の点に鑑み、従来技術の問題点でおる標
準線源を用いることなく汚染現場で足置測定し得る取扱
いが容易なウィンド選別方式によるよう素１２５定量サ
ーペメータ装置ｆｃ提供すること金目的とする。
準線源を用いることなく汚染現場で足置測定し得る取扱
いが容易なウィンド選別方式によるよう素１２５定量サ
ーペメータ装置ｆｃ提供すること金目的とする。
このような目的を達成するために、本発明は、よ５素１
２５の放射線をエネルギに比例した電気信号に変換し出
力するシンナレーショングローブと、このシンチレーシ
ヨンプローブの入力に誦圧電圧ｉｎ与させてシングルス
ピークとサムピークまたはシングルスピークとサムピー
クとの和ごとにウィンド選別する切換スイッチを設けた
高圧発生回路とを備え、かつ、決められた値しか計数し
ないデスクリミネータ回路により前記サムピーク範囲に
おける計数値（Ｎ、Ｃ）のシングルスピーク範囲におけ
る計数値（ＮＳ）に対する比岨（Ｒ１）または全ビーク
範囲における計数値（Ｎ’Ｓ＋ＮＣ）の各範囲の計数値
（ＮＳ ） 、 （ＮＣ）に対する比率（Ｒ２） 、
（Ｒ３）と、前記サムピーク範囲におけるバックグラウ
ンドレベル（ＢＣ）のシングルスピーク範囲におけるバ
ックグラウンドレベル（ＢＳ）に対する比率（Ｈ１）ま
たは全ピーク範囲のバックグラウンドレベル（ＢＣ十Ｂ
Ｂ）の各範囲のバックグラウンドレベル（ＢＳ ）、（
、ＢＣ）に対する比率（［２） 、 （Ｈｌ ）の相対
的関係から、最も検出限界の低いピーク範’１Ｍを決定
し前記シングルスピーク、サムピークまたはシングルス
ピークおよびサムピークの和とのいずれの範囲を適用し
て指示するかの選別をすると共に、前記ウィンドごとに
決定される効率係数算式の変換係数（Ｆ）に前記計数値
（ＮＳ）、（ＮＣ）、または（ＮＳ＋ＮＣ）のいずれか
を乗算して絶対放射能を表示し、かつマルチチャンネル
波高分析器に波高を出力可能なことを特徴とする。
２５の放射線をエネルギに比例した電気信号に変換し出
力するシンナレーショングローブと、このシンチレーシ
ヨンプローブの入力に誦圧電圧ｉｎ与させてシングルス
ピークとサムピークまたはシングルスピークとサムピー
クとの和ごとにウィンド選別する切換スイッチを設けた
高圧発生回路とを備え、かつ、決められた値しか計数し
ないデスクリミネータ回路により前記サムピーク範囲に
おける計数値（Ｎ、Ｃ）のシングルスピーク範囲におけ
る計数値（ＮＳ）に対する比岨（Ｒ１）または全ビーク
範囲における計数値（Ｎ’Ｓ＋ＮＣ）の各範囲の計数値
（ＮＳ ） 、 （ＮＣ）に対する比率（Ｒ２） 、
（Ｒ３）と、前記サムピーク範囲におけるバックグラウ
ンドレベル（ＢＣ）のシングルスピーク範囲におけるバ
ックグラウンドレベル（ＢＳ）に対する比率（Ｈ１）ま
たは全ピーク範囲のバックグラウンドレベル（ＢＣ十Ｂ
Ｂ）の各範囲のバックグラウンドレベル（ＢＳ ）、（
、ＢＣ）に対する比率（［２） 、 （Ｈｌ ）の相対
的関係から、最も検出限界の低いピーク範’１Ｍを決定
し前記シングルスピーク、サムピークまたはシングルス
ピークおよびサムピークの和とのいずれの範囲を適用し
て指示するかの選別をすると共に、前記ウィンドごとに
決定される効率係数算式の変換係数（Ｆ）に前記計数値
（ＮＳ）、（ＮＣ）、または（ＮＳ＋ＮＣ）のいずれか
を乗算して絶対放射能を表示し、かつマルチチャンネル
波高分析器に波高を出力可能なことを特徴とする。
次に、不発明の一実施例を図面に基づき、詳細に説明す
る。
る。
第１図は本発明の一実施例の概略ｍ成因を示し、（４）
はその正面図、（８）はそのシンチレーションプローブ
を除いた平面図である。図においてよう素１２５定量サ
ーベメータ装置１は、シンチレータ２、プローブ３、サ
ーベメータ本体４とから構成される゛。
はその正面図、（８）はそのシンチレーションプローブ
を除いた平面図である。図においてよう素１２５定量サ
ーベメータ装置１は、シンチレータ２、プローブ３、サ
ーベメータ本体４とから構成される゛。
シンチレータ２は、光電子増倍管とそのブリーダ回路と
を収容するグローブ３にアダプタ５により装着される。
を収容するグローブ３にアダプタ５により装着される。
また、サーベメータ本体４は、把手６により支持される
と共に、プローブ３を保持し、指示計７、エネルギデス
クリレベル切換スイッチ８、電源スィッチ９、計数前ス
ピーカ１０．７’ローブ接続コネクタ１１．アンプアウ
トコネクタ１２等が装着される。
と共に、プローブ３を保持し、指示計７、エネルギデス
クリレベル切換スイッチ８、電源スィッチ９、計数前ス
ピーカ１０．７’ローブ接続コネクタ１１．アンプアウ
トコネクタ１２等が装着される。
次に、第２図は本す−ベメータ装置の原理ブロック図を
示す。図において第１図と同一の機能を有する部分には
、同一の符号が付されている。シンチレーション２およ
びプローブ３け、放射される放射線を光電変換し、電気
量（を荷）に変換し、電気信号（電流パルス）として出
力を取り出す。
示す。図において第１図と同一の機能を有する部分には
、同一の符号が付されている。シンチレーション２およ
びプローブ３け、放射される放射線を光電変換し、電気
量（を荷）に変換し、電気信号（電流パルス）として出
力を取り出す。
また、高圧発生回路１５は、プローブ３に印加する高圧
全発生する回路で、エネルギデスクリレベル切換スイッ
チ８の切換えにより、高圧出力電圧を変えて、プローブ
３の光電子増倍管の利得を変えることができる。すガわ
ち、第３図に示すようにエネルギ範囲を、本実施例では
２０ ＫｅＶないし４５ ＫｅＶ、４５ ＫｅＶないし
８０ ＫｅＶ または２０ＫｅＶないし８０ ＫｅＶの
３段切換金することにより、シングルスピークとサムピ
ークまたはシングルスピークとサムピークとの和のウィ
ンド（エネルギ範囲）を設定し、それぞれのウィンド別
の計数値′ｆｔＮ５ 、ＮＣ，ＮＳ＋ＮＣとすれば、計
数値ＮＳとＮＣまたはＮＳ＋ＮＣの比率Ｒ＋ 、Ｒ２、
Ｒ３は第（１）式、第（２）式、第（３）式にて示され
る。
全発生する回路で、エネルギデスクリレベル切換スイッ
チ８の切換えにより、高圧出力電圧を変えて、プローブ
３の光電子増倍管の利得を変えることができる。すガわ
ち、第３図に示すようにエネルギ範囲を、本実施例では
２０ ＫｅＶないし４５ ＫｅＶ、４５ ＫｅＶないし
８０ ＫｅＶ または２０ＫｅＶないし８０ ＫｅＶの
３段切換金することにより、シングルスピークとサムピ
ークまたはシングルスピークとサムピークとの和のウィ
ンド（エネルギ範囲）を設定し、それぞれのウィンド別
の計数値′ｆｔＮ５ 、ＮＣ，ＮＳ＋ＮＣとすれば、計
数値ＮＳとＮＣまたはＮＳ＋ＮＣの比率Ｒ＋ 、Ｒ２、
Ｒ３は第（１）式、第（２）式、第（３）式にて示され
る。
ま７ｔ、ＢＳはシングルスピークのバックグランド、Ｂ
Ｃはサムピークのバックグランドとすれば、このバック
グランドＢｓ、ＢＣは外部要件等によるノイズレベルで
あるから、バックグランドレベルＢＳ、ＢＣＯ比軍Ｈ】
、Ｒ２、Ｒ３は、第（４）式。
Ｃはサムピークのバックグランドとすれば、このバック
グランドＢｓ、ＢＣは外部要件等によるノイズレベルで
あるから、バックグランドレベルＢＳ、ＢＣＯ比軍Ｈ】
、Ｒ２、Ｒ３は、第（４）式。
第（５）式、第（６〕式にて示される。
この比５４Ｈ＋ 、Ｒ２、Ｒ３はほぼ一定値を示し、比
率Ｒｚ 、Ｒ２、Ｒ３、Ｈｌ、１ｌｔ２．［３の相対的
関係から、計数値ＮＳ、ＮＣまたはＮｔ（ＮＳ＋ＮＣ）
、一般にはＮＯどのエネルギ範囲を選別するのが、エネ
ルギが低いｒ線、Ｘ線でおるよう素の放射線を最も高精
度で測定できるかを明確にする。
率Ｒｚ 、Ｒ２、Ｒ３、Ｈｌ、１ｌｔ２．［３の相対的
関係から、計数値ＮＳ、ＮＣまたはＮｔ（ＮＳ＋ＮＣ）
、一般にはＮＯどのエネルギ範囲を選別するのが、エネ
ルギが低いｒ線、Ｘ線でおるよう素の放射線を最も高精
度で測定できるかを明確にする。
なお、デスクリミネータ１７は、増幅器１６からの入カ
バルス信号（°計数値Ｎ）のうち、−足しベル範凹の計
数値Ｎのみを選別して、一定波高の ′パルスに整形し
指示計７への入力とする。
バルス信号（°計数値Ｎ）のうち、−足しベル範凹の計
数値Ｎのみを選別して、一定波高の ′パルスに整形し
指示計７への入力とする。
さらに、この計数値Ｎｔ−絶対放射能強度に換算するた
めに、変換計数Ｆ＃′ｉそれぞれのウィンド別に異なる
変換係数計算式により選定され、それぞれＦａ 、Ｆｃ
、Ｆｔとすれば、第４図に示すような変換曲線Ｆが得
られる。従って、絶対放射能Ａは第（７）弐咳より算出
される。
めに、変換計数Ｆ＃′ｉそれぞれのウィンド別に異なる
変換係数計算式により選定され、それぞれＦａ 、Ｆｃ
、Ｆｔとすれば、第４図に示すような変換曲線Ｆが得
られる。従って、絶対放射能Ａは第（７）弐咳より算出
される。
Ａ＝ＮＸＦ・・・・・・・・・（７）
また、増幅器１６よりスペクトル精密測定のためにマル
チチャンイル波高分析用信号Ｐ’に出力する。
チチャンイル波高分析用信号Ｐ’に出力する。
以上に説明するように本発明は、よう素の放射能を計数
分析して電気信号に変換し出力するシンチレーションプ
ローブと、このシンチレーションプローブへ高圧電圧を
付与してシングルスピークとサムピークまたはシングル
スピークとサムピークとの和とにウィンド選別する複数
個の切換スイッチを設けた高圧発生回路とｆｔ偏え、前
記サムピークにおける計数値（ＮＣ）に対するシングル
スピークにおける計数値（ＮＳ）との比率（Ｒ１）また
は計数値（Ｎ Ｃ＋ Ｎ Ｓ）に対する計数値（Ｎ Ｓ
）との比率（Ｒ２）と、前記サムピークにおけるバック
グラウンドレベル（ＢＣ）のシングルスピークにおける
バックグラウンドレベル（ＢＳ）に対する比率（Ｈ１）
またはバックグラウンドレベル（ＢＣ＋ＢＳ）とバック
グラウンドレベル（ＢＳ）との比率（Ｒ２）の相対的関
係から、前記シングルスピーク、サムピークまｆｃｋ′
ｉシングルスピークおよびサムピークの和とのいずれの
ビークを適用するかの選別をすると共に、前記ウィンド
ごとに決定される効率係数算式の変換係数（Ｆ）に前記
計数値（ＮＳ）、（ＮＣ）または（ＮＳ＋ＮＣ）のいず
れかを乗算して絶対放射能強度を表示し、マルチチャン
ネル波高分析器に波高分布を表示させることにより、ウ
ィンド選別方式が考慮されず校正のために標準線源を必
要とするという従来技術の問題点が有効に解決され、標
準線源が不要となり汚染現場で定量測定が可能となり、
その取扱が容易である等の効果を有する。
分析して電気信号に変換し出力するシンチレーションプ
ローブと、このシンチレーションプローブへ高圧電圧を
付与してシングルスピークとサムピークまたはシングル
スピークとサムピークとの和とにウィンド選別する複数
個の切換スイッチを設けた高圧発生回路とｆｔ偏え、前
記サムピークにおける計数値（ＮＣ）に対するシングル
スピークにおける計数値（ＮＳ）との比率（Ｒ１）また
は計数値（Ｎ Ｃ＋ Ｎ Ｓ）に対する計数値（Ｎ Ｓ
）との比率（Ｒ２）と、前記サムピークにおけるバック
グラウンドレベル（ＢＣ）のシングルスピークにおける
バックグラウンドレベル（ＢＳ）に対する比率（Ｈ１）
またはバックグラウンドレベル（ＢＣ＋ＢＳ）とバック
グラウンドレベル（ＢＳ）との比率（Ｒ２）の相対的関
係から、前記シングルスピーク、サムピークまｆｃｋ′
ｉシングルスピークおよびサムピークの和とのいずれの
ビークを適用するかの選別をすると共に、前記ウィンド
ごとに決定される効率係数算式の変換係数（Ｆ）に前記
計数値（ＮＳ）、（ＮＣ）または（ＮＳ＋ＮＣ）のいず
れかを乗算して絶対放射能強度を表示し、マルチチャン
ネル波高分析器に波高分布を表示させることにより、ウ
ィンド選別方式が考慮されず校正のために標準線源を必
要とするという従来技術の問題点が有効に解決され、標
準線源が不要となり汚染現場で定量測定が可能となり、
その取扱が容易である等の効果を有する。
第１図は不＠明の一実施例の概略構成図を示し、（Ａ）
はその正面図、（ト）はそのシンチレーションプローブ
を除いた平面図、落２図は本す−ベメータ装置の原理ブ
ロック図、第３図はウィンド選別説明図、第４図は絶対
放射能強度への変換率曲線図である。 ｌ：よう素定量す−ベメータ装置、２：シンチレータ、
３ニブロープ、８：エネルギデスクリレペル切換スイッ
チ、１５：高圧発生回路、１６：増幅器、１７：デスク
リミネータ。 第 １ 図 ’ｖ＊牢Ｎ 第４ 図 第２図 第３図
はその正面図、（ト）はそのシンチレーションプローブ
を除いた平面図、落２図は本す−ベメータ装置の原理ブ
ロック図、第３図はウィンド選別説明図、第４図は絶対
放射能強度への変換率曲線図である。 ｌ：よう素定量す−ベメータ装置、２：シンチレータ、
３ニブロープ、８：エネルギデスクリレペル切換スイッ
チ、１５：高圧発生回路、１６：増幅器、１７：デスク
リミネータ。 第 １ 図 ’ｖ＊牢Ｎ 第４ 図 第２図 第３図
Claims (1)
- １）よう素＾１＾２＾５の放射線をエネルギーに比例し
た電気信号に変換し出力するシンチレーシヨンプローブ
と、このシンチレーシヨンプローブの入力に高圧電圧を
付与させてシングルスピークとサムピークまたはシング
ルスピークとサムピークとの和ごとにウインド選別する
切換スイッチを設けた高圧発生回路とを備え、かつ、決
められた値しか計数しないデスクリミネータ回路により
前記サムピーク範囲における計数値（ＮＣ）のシングル
スピーク範囲における計数値（ＮＳ）に対する比率（Ｒ
＿１）または全ピーク範囲における計数値（Ｎｔ＝ＮＳ
＋ＮＣ）の各範囲の計数値（ＮＳ）、（ＮＣ）に対する
比率（Ｒ＿２）、（Ｒ＿３）と、前記サムピーク範囲に
おけるバックグラウンドレベル（ＢＣ）のシングルスピ
ーク範囲におけるバックグラウンドレベル（ＢＳ）に対
する比率（Ｈ＿１）または全ピーク範囲のバックグラウ
ンドレベル（ＢＣ＋ＢＳ）の各範囲のバックグラウンド
レベル（ＢＳ）、（ＢＣ）に対する比率（Ｈ＿２）、（
Ｈ＿３）との相対的関係から、最も検出限界の低いピー
ク範囲を決定し前記シングルスピーク、サムピークまた
はシングルスピークおよびサムピークの和とのいずれの
範囲を適用して指示するかの選別をすると共に、前記ウ
インドごとに決定される効率係数算式の変換係数（Ｆ）
に前記計数値（ＮＳ）、（ＮＣ）または（ＮＳ＋ＮＣ）
のいずれかを乗算して絶対放射能を表示し、かつマルチ
チャンネル波高分析器に波高を出力可能なことを特徴と
するウインド選別方式によるよう素＾１＾２＾５定量サ
ーベメータ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13527584A JPS6117083A (ja) | 1984-07-02 | 1984-07-02 | ウインド選別方式によるよう素１２５定量サ−ベメ−タ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13527584A JPS6117083A (ja) | 1984-07-02 | 1984-07-02 | ウインド選別方式によるよう素１２５定量サ−ベメ−タ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6117083A true JPS6117083A (ja) | 1986-01-25 |
| JPH056677B2 JPH056677B2 (ja) | 1993-01-27 |
Family
ID=15147892
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13527584A Granted JPS6117083A (ja) | 1984-07-02 | 1984-07-02 | ウインド選別方式によるよう素１２５定量サ−ベメ−タ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6117083A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6319871B1 (en) | 1998-08-31 | 2001-11-20 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Dielectric material |
| JP2008249337A (ja) * | 2007-03-29 | 2008-10-16 | Natl Inst Of Radiological Sciences | 放射能絶対測定方法、放射線検出器集合体の検出効率決定方法、及び、放射線測定装置の校正方法 |
-
1984
- 1984-07-02 JP JP13527584A patent/JPS6117083A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6319871B1 (en) | 1998-08-31 | 2001-11-20 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Dielectric material |
| JP2008249337A (ja) * | 2007-03-29 | 2008-10-16 | Natl Inst Of Radiological Sciences | 放射能絶対測定方法、放射線検出器集合体の検出効率決定方法、及び、放射線測定装置の校正方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH056677B2 (ja) | 1993-01-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |