JPS61169738A - 溶射皮膜の切断・研磨方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は皮膜、特に溶射皮膜の良否判定線に行なわれる
皮膜の切断・研磨方法の改良に関するものである。

（従来の技術） 溶射皮膜の良否判定には引張・曲げ試験、膜厚測定には
磁気膜厚計・超音波厚み針など多くの方法・装置がめる
。なかでも、簡便で正確な方法に溶射皮膜断面の顕微鏡
観察がある。顕微鏡観察を行なうには溶射皮膜の切断・
研磨が必要であり、第２図に従来方法で切断・研磨した
場合の溶射皮膜所間を示す。第２図において、０１は母
材、０２は溶射皮膜、０３は切断面、０３ａは溶射皮膜
が欠落・ダレを起す部分である。

溶射皮膜０２の切断には精密切断機を使用するなど十分
な注意をはらっているが溶射皮膜０２内部の粒子間給金
が弱い九め、切断時の衝撃によって溶射皮膜０２の欠落
が起きる。特にセラ之ツクスなどの脆性材料の溶射皮膜
ｏ２に多く起きる。又、研磨においては常に溶射皮膜０
２が顕微鏡観察用試料のエッヂになる為、溶射皮膜部の
ダレが起きる。溶射皮１１１Ｏ２の厚みが薄い場合に多
い。

したがって、溶射皮膜０２内面ｏ３の顕微鏡観察による
溶射皮膜０２の良否判定及び膜厚確認が正確に判定でき
ない場合がしばしばある。

（発明が解決しようとする問題点） 従来技術による溶射皮膜の切断・研磨方法では切断時に
溶射皮膜が欠落した）、研磨時に溶射皮膜部のダレが起
き顕微鏡観察による溶射皮膜の良否判定及び膜厚確認が
正確にできないため、溶射皮膜の欠落・ダレのない顕微
鏡観察用試料を作る必要がある。本発明はこの従来法の
欠点のない皮膜の切断・研磨方法を提供しようとするも
のである。

（問題点を解決するための手段） すなわち、本発明は、皮膜の切断・研磨する方法におい
て、事前に皮膜の切断箇所に接着剤を塗布・硬化させ溶
射皮膜を保護したのちに切断・研磨することを特徴とす
る方法である。

以下、本発明の一実施態様を第１図によって詳述する。

第１図は、本発明で切断・研磨した場合の溶射皮膜断面
を示す。第１図において１は母材、２は溶射皮膜、３は
切断面、４はエポキシ樹脂系接着剤、である。

まず、切断する溶射皮膜２表面にエポキシ樹脂系接着剤
４を数鴎厚さ塗布・硬化させて溶射皮膜２を保護する。

次に溶射皮膜２表面がエポキシ樹脂系接着剤４で保護さ
れた状態で切断・研磨を行なう。

本発明の溶射皮膜２表面をエポキシ樹脂系接着剤４で保
護することによって、切断時に溶射皮膜２の欠落、研磨
時に皮膜のダレが無くなシ、皮膜断面３の顕微鏡観察に
よって溶射皮膜２の状況・膜厚が正確に判定できる。

なお、本発明とはセラミックスなどの脆性材料及び薄膜
の試料Ｋ特に有効である。

上記の実施態様においては、接着剤としてエポキシ樹脂
系接着剤を例にあげて説明したが、皮膜上に接着し、か
つ硬化しうる接着剤であれば、どのような接着剤でも使
用しうる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明方法を適用した溶射皮膜の切断・研磨し
た場合の溶射皮膜断面を示す図であシ、第２図は従来法
によって溶射皮膜の切断・研磨した場合の溶射皮膜断面
を示す図である。 復代理人　　内　１）　　明 復代理人　　萩　原　亮　−

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 皮膜の観察用試料を切断・研磨する方法において、事前
   に皮膜の切断・研磨箇所に接着剤を塗布・硬化させ皮膜
   表面を保護したのちに切断・研磨を行なうことを特徴と
   する皮膜の切断・研磨方法。