JPS61158139A - 気相成長装置 - Google Patents

気相成長装置

Info

Publication number
JPS61158139A
JPS61158139A JP28078684A JP28078684A JPS61158139A JP S61158139 A JPS61158139 A JP S61158139A JP 28078684 A JP28078684 A JP 28078684A JP 28078684 A JP28078684 A JP 28078684A JP S61158139 A JPS61158139 A JP S61158139A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
susceptor assembly
reaction tube
phase growth
reaction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP28078684A
Other languages
English (en)
Inventor
Kichizo Komiyama
吉三 小宮山
Kotei Iwata
岩田 公弟
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shibaura Machine Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Machine Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Machine Co Ltd filed Critical Toshiba Machine Co Ltd
Priority to JP28078684A priority Critical patent/JPS61158139A/ja
Publication of JPS61158139A publication Critical patent/JPS61158139A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02612Formation types
    • H01L21/02617Deposition types
    • H01L21/0262Reduction or decomposition of gaseous compounds, e.g. CVD
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518Deposited layers
    • H01L21/02521Materials
    • H01L21/02524Group 14 semiconducting materials
    • H01L21/02529Silicon carbide

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、たとえば、半導体基板(以下、ウェハという
)などの被理体にシリコン等の薄膜を気相成長させるた
めの気相成長装置に関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
この種の気相成長装置は、一般に、反応部の形式によシ
横形、縦形およびシリンダ形(バレル形とも称せられる
)などが知られている。この内、シリンダ形のものは、
被処理体としてのウェハを支持体としての多角形シリン
ダ形のサセプタに対して長手方向に沿って数段にわたっ
てたて掛けることができ、す゛セプタを縦方向に配列し
、さらにウェハの加熱手段としては一般に2ング加熱に
よるものが実用化され、工業用として種々のすぐれた特
性を有するものである。
以下、まず従来例として第5図につきラング加熱方式の
i I)ンダ形気相成長装置を簡単に説明する。
1は内部が反応部として構成された石英ガラスでつくら
れた反応管、2は反応管1内に配置されるとともに正多
角形をなす傾斜した外周面に縦方向に沿って被処理体と
してのウェハ3を支持するサセプタ組立体、4はサセプ
タ組立体2を回転させる回転ロッド、5は歯車機構6を
介して回転口、ド4を駆動するモータ、1は反応管1の
外側にあって、反応管内部のサセプタ組立体2およびウ
ェハ3を加熱するように複数の赤外線2ングで構成され
たランプユニ、ト、8は反応管1の上部に設けられガス
供給ノズルを構成するガスリング、9は当該ガスリング
に連結され外部よシ反応ガスを反応管1内に矢印で示す
ガス流のように導入する供給パイプ、1mは反応ガスを
排出するように反応管1の底部に設けられた排気口であ
る。
このように、サセプタ組立体2を回転口、ド4によシ回
転しながらランプユニット7によシサセグメ組立体2お
よびウェハ3を加熱し、供給パイプ9によシ反応ガスを
反応管1内に導入することによシ、ウェハ3の表面に気
相成長させ、しかるのち、反応ガスを排気口1aよシ排
出するようになっている。
上記従来の装置において、サセプタ組立体2の多角形の
外周面においてのみウェハ3が支持される構成のため、
量産性について未だ十分でなく、能力をあげるために、
いきおい装置全体が大型化する問題があった。
また、ラング加熱方式の場合には、ウェハ3を直接加熱
しサセプタも加熱されるのでウェハの表面と裏面の温度
差が少なくスリ、グと呼ばれる結晶欠陥が少ないので望
ましい加熱方法と一般にいわれているが、しかし、2ン
グ寿命が比較的短かいこと、個々のラングの出力制御が
容易でなく温度分布を平均化する、いわゆる均熱の調整
が困難であるという問題もあった。
〔発明の目的〕
本発明は、上記従来装置の諸事情にもとづきなされたも
ので、その目的とするところは、生産性の大幅な向上が
でき、・装置の小型化が容易であり、均熱の調整が容易
でスリップの少ない高品質の処理をなし得る気相成長装
置を提供するにある。
〔発明の概要〕
上記の目的を達成するために、本発明においては基本的
にいって反応管内に配置されるサセプタ組立体のシリン
ダ状の周壁の外周面および内周面に被処理体を支持させ
、ト、グプレートに反応ガスを導入する導入孔を設ける
とともに&)ムプレートに反応ガスを排出する排出孔を
設けてなる構成の気相成長装置を提案するものである。
〔発明の実施例〕
以下、第1図ないし第4図を参照して本発明の詳細な説
明する。
まず、第1図に示す第1の実施例において、IOは石英
ガラスで構成された反応管、11は反応管10内の反応
部に配置されたサセプタ組立体、12はサセプタ組立体
11を回転させる回転ロッド、13は歯車機構14を介
して回転口、ド12を駆動するモータ、15はガス供給
ノズルを構成し反応管IQの上部に設けられたガスリン
グ、16はガスリング15に取付けられ外部より反応ガ
スを反応管10内に導入する反応ガス導入手段をなす供
給ノ4イデ、12は反応管10の外周を間隔をおいてら
せん状に取囲み、加熱手段を構成する高周波加熱コイル
、18は反応管10の下端部に設けられた反応ガス排出
手段をなす排気口である。
上記構成において、被処理体としてのウェハ20は、図
示のようにサセプタ組立体11の主すセグメをなす周壁
21の外周面21&だけでなくその内周面21bにも縦
方向に沿って配置される。との周壁21は全体にシリン
ダ状をなすとともにその外周面21aおよび内周面21
bが各ウェハ20を配置し易いように多角形状の面構成
となっている。更に、当該周壁2ノは、図示のように、
止端から下端にかけて肉厚が除徐に大きくなったチー/
1面構成をなし、外周面21&および内周面21bは、
それぞれ垂直面に対し、それぞれ外方および内方に同角
度で傾斜している。この傾斜によシクエハ20は落下し
ないようになっている。
第2図に示す変形例のように、サセプタ組立体の周壁2
ノの外周面21&および内周面21bに座ぐシによる支
持凹部22を形成し、この凹部の支持面を内外局面につ
いて同様に垂直面に対して傾斜させ凹部以外の周壁を垂
直の面構成をしてもよい。
サセプタ組立体11のトッププレート23およびがトム
プレート24には、それぞれ反応ガスを流通させる導入
孔25および排出孔26が形成される。従って、反応ガ
スは、上方よシサセプタ組立体11の外周面と反応管1
0との間の環状の流通路27を通って下方へ流れると同
時に、前記導入孔25よシ入って、サセプタ組立体J1
の内側の流通路28を通りて排出孔26よシ下方へ流れ
る。
トラ−ffレート23およびホームプレート24は多角
形状のグレートで、前記導入孔25および排出孔26は
7周壁21の多角形状の内外周面21*、21bに対応
して等角度で形成した複数個の丸孔で構成することがで
きる。
また、組立体11内においてトッププレート23および
?トムグレート24間に、小径シリンダ状の内側仕切シ
部材30が配置される。尚該部材30は、石英ガラスで
形成され、周壁2ノとの間で内側のガス流通路2Bの大
きさ、すなわち断面積を規定する。
すなわち、外側のガス流通路27と内側のガス流通路2
8の断面積管おおむね均等とするように仕切9部材3Q
の位置が定められる。これによυ、反応ガスの流速が内
外の流通路で均等となるので、周壁21上の内外の周面
21a。
21b上のウェハ20に対するIヌ流速による影響が同
条件となる。
なお、サセプタ組立体1ノの周壁21、トッププレート
23およびボトムグレート24はSiCコーテングの施
された黒鉛でつくられる。
以上の構成の装置において、ウェハ20上に気相成長の
処理を行なう場合には、回転口、ドによりサセプタ組立
体11を回転させながら反応ガスを反応管lo内に供給
パイf16よシ導入し、外側および内側の流通路27,
211に流通させる。そして、高周波加熱コイル17に
ょカテセグタ組立体11全体およびウェハ2oを誘導加
熱方式によル加熱する。これによ)サセプタ組立体11
が1回転する間に、外周面21aおよび内周面21bに
設置したウェハ2oに気相成長を行なわせることができ
る。
ウェハ20が設置された外周面21mおよび内周面21
bは、第1図、第2図のいずれの構成でもチー/4’面
をなし、下方にいくほど、それぞれ外方および内方に突
出した構成とt【っているので、加熱コイル17との関
係で、ウェハ20の縦方′向における温度勾配をより少
なくし、均゛熱鳴果を得ることができる。
また、内側仕切シ部材30により、内外の流通路j7 
、2 IIのがス流通断面積が均等化されるため、ガス
流速が両流通路27.28で等しくなった。従って、ガ
ス流速によシ影響される生成膜の厚さ分布も均一化され
るとともにスリ、fの発生も極力おさえることができる
更K、加熱手段として用いた高周波加熱コイル17では
、コイルのピッチを調整することにより均熱調整をより
簡単になし得、従来のラング加熱方式に比して調整が容
易である。また。
サセグタ組立体のトッププレートおよびボトムグレート
に近接する周壁部分けこれらグレートに熱をうばわれる
ために極端に温度低下する問題があったが、高周波加熱
コイルを用いることによシ、ラング加熱と異なりトップ
プレートやボトムグレートに対する加熱も十分になし得
る。
従って、上記問題を解消し、よシ均等な加熱効果を上げ
ることができる。
第3図に示す第2の実施例は第1の実施例と基本的部分
は同一で、これら部分に同じ参照番号を付しである。こ
の実施例では、サセグタ組立体1ノの内側のシリンダ状
仕切シ部材30をSICコーテングを施した黒鉛で形成
するとともに、高周波加熱コイル17の更に外側に反射
板3ノを設けたものである。
仕切シ部材30を上記材料で形成したので、加熱中に当
該部材30は熱を保ち、いわゆる補助加熱源としての機
能を果す。
また1反射板3ノを設けたのでサセグタ組立体1ノから
の輻射熱を反射させることができる。
上記構成を付加することにより、熱エネルギーを一層有
効利用できるとともにサセグタ組立体11およびウェハ
20の温度をより均一化できる。
次K、第4図に示す第3の実施例も第1の実施例と基本
的部分は同一で、これら部分に同一の参照番号を付しで
ある。この実施例では、主すセグタをなす周壁2ノの外
周面21mおよび内周面21bだけでなく、仕切シ部材
30の周面上にもウェハ20を配置するようにし、この
一部材を第2の実施例と同様、SICコーテングを施し
た黒鉛で形成し、補助サセグタとして構成したものであ
る。これは、加熱コイル17からの距離と主すセグタの
周壁2ノの質量を考慮しなされたものである。
上記構成により、ウェハの生産性を一層向上させること
ができる。
なお、上述したいずれの実施例においても、サセグタ組
立体はユニット構成となっているので、組立体の装着、
取出し操作を容易になし得る。また、サセグタの部分は
一枚ずつ着脱しなければならないが組立式のため容易に
操作できるので同等支障はない。
また、サセグタ自動着税装置を用いれば着脱操作は一層
能率化される。
なお、実施例では、サセグタ組立体の主すセグタをなす
周壁を多角形の面構成としたが、円筒形としてそζに平
坦な凹部を設けてウェハの支持面として構成してもよい
〔発明の効果〕
以上のように1本発明によれば、主すセグタをなすサセ
グタ組立体の周壁の内周面にも被処理体を配置するよう
Kし、トッププレートおよびボトムグレートに反応がス
を流通させる導入孔および排出孔を設けたので、一度の
処理動作で、従来装置に比して2倍前後の処理をなし得
、生産性が大@に向上し、エネルギーの節約が計れると
ともに装置の小型化も容易であシ、シかも、高品質の処
理をも可能にする等、優れた気相成長装置を提供できる
ものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の気相成長装置の第1の実施例の概要を
示す縦断面図、第2図は主サセグタとしての周壁部分の
変形例を示す部分拡大断面図、第3図および第4図は本
発明の第2および第3の実施例をそれぞれ示す縦断面図
、第5図゛は気相成長装置の従来例を示す部分破断正面
図である。 10・・・反応管、1!・・・サセグタ組立体、17・
・・高周波加熱コイル、20・・・ウェハ、2ノ・・・
周壁、2ノ&・・・外周面、21b・・・内周面、30
・・・仕切り部材つ 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦第1図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)内部に反応ガスを流通させる反応管と、当該反応
    管内に配置され被処理体を支持するサセプタ組立体と、
    反応管の外側に配置された加熱手段と、反応管に設けら
    れた反応ガス導入手段ならびに反応ガス排出手段とを具
    備してなり、前記サセプタ組立体はシリンダ状の周壁と
    、トッププレートおよびボトムプレートを有し、被処理
    体が前記周壁の外周面ならびに内周面に支持されるとと
    もに前記トッププレートに反応ガスを導入する導入孔が
    設けられ、前記ボトムプレートに反応ガスを排出する排
    出孔が設けられることを特徴とする気相成長装置。 (2)加熱手段は高周波加熱コイルよりなる特許請求の
    範囲第1項記載の気相成長装置。(3)反応ガス導入手
    段は反応管の上部に設けられ、反応ガス排出手段は反応
    管の下端部に設けられ、サセプタ組立体の周壁は上端か
    ら下端にかけて肉厚が徐々に大となるテーパ面構成をな
    す特許請求の範囲第1項記載の気相成長装置。 (4)サセプタ組立体の周壁において、当該周壁の内周
    面および外周面に被支持体の支持面を垂直面に対して傾
    斜した支持凹部を設けてなる特許請求の範囲第1項記載
    の気相成長装置。 (5)サセプタ組立体の内側に小径の仕切り部材を設け
    、周壁の外周面と反応管との間の外側のガス流通路と、
    周壁の内周面と前記仕切り部材との間の内側のガス流通
    路とのガス流通断面積を均等にしてなる特許請求の範囲
    第1項記載の気相成長装置。 (6)サセプタ組立体の内側に小径の仕切り部材を設け
    てSiCコーテングを施した黒鉛で形成し、補助加熱源
    として構成してなる特許請求の範囲第1項記載の気相成
    長装置。 (7)仕切り部材の外周面にも被処理体を支持させてな
    る特許請求の範囲第6項記載の気相成長装置。
JP28078684A 1984-12-28 1984-12-28 気相成長装置 Pending JPS61158139A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28078684A JPS61158139A (ja) 1984-12-28 1984-12-28 気相成長装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28078684A JPS61158139A (ja) 1984-12-28 1984-12-28 気相成長装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61158139A true JPS61158139A (ja) 1986-07-17

Family

ID=17629934

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28078684A Pending JPS61158139A (ja) 1984-12-28 1984-12-28 気相成長装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61158139A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5002011A (en) * 1987-04-14 1991-03-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Vapor deposition apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5002011A (en) * 1987-04-14 1991-03-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Vapor deposition apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6554905B1 (en) Rotating semiconductor processing apparatus
US5493987A (en) Chemical vapor deposition reactor and method
US8088225B2 (en) Substrate support system for reduced autodoping and backside deposition
US6465761B2 (en) Heat lamps for zone heating
US20160068996A1 (en) Susceptor and pre-heat ring for thermal processing of substrates
TWI673396B (zh) 大氣磊晶沈積腔室
TWI625821B (zh) 用於更均勻的層厚度的基板支撐環
US20160071749A1 (en) Upper dome for epi chamber
JP3242281B2 (ja) 熱処理装置
TW202230491A (zh) 用於半導體晶圓反應器中的預熱環之系統及方法
US20090101633A1 (en) Reactor with small linear lamps for localized heat control and improved temperature uniformity
JP3068914B2 (ja) 気相成長装置
US4848272A (en) Apparatus for forming thin films
JP2009071210A (ja) サセプタおよびエピタキシャル成長装置
JPS61158139A (ja) 気相成長装置
JP2008041698A (ja) 処理装置および処理方法
JP4003899B2 (ja) 回転式気相薄膜成長装置
JPS594434A (ja) 気相反応装置
US20110097681A1 (en) Substrate Processing Equipment
KR100848359B1 (ko) 배치식 반응챔버의 히팅시스템
JP2007095923A (ja) 半導体結晶の成長装置
EP0330708B1 (en) Apparatus for forming thin films
KR102581140B1 (ko) 열처리 장치
JPH017727Y2 (ja)
JPS63144514A (ja) 薄膜形成装置