JPS61156869A - 大型形式光感知デバイス及び該デバイス使用方法 - Google Patents
大型形式光感知デバイス及び該デバイス使用方法Info
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- JPS61156869A JPS61156869A JP60299686A JP29968685A JPS61156869A JP S61156869 A JPS61156869 A JP S61156869A JP 60299686 A JP60299686 A JP 60299686A JP 29968685 A JP29968685 A JP 29968685A JP S61156869 A JPS61156869 A JP S61156869A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14665—Imagers using a photoconductor layer
-
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- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の背景〕
発明の分野
本発明は、大盤の光感知デバイス並びに該デバイスの使
用方法に係わる。
用方法に係わる。
本発明による大型光感知デバイスは、特にX線像の検出
に適当であるが、例えば可視光線など他の種類の放射線
の検出にも用いられ得る。
に適当であるが、例えば可視光線など他の種類の放射線
の検出にも用いられ得る。
X線像の検出の分野においては、電気的信号の形態のx
itW報を得る目的で、XwAフィルムの使用を他の適
当な方法に替えることに最近の研究が係わっている。こ
の方法には、儂処理が可能であるとい5重要な利点があ
る。
itW報を得る目的で、XwAフィルムの使用を他の適
当な方法に替えることに最近の研究が係わっている。こ
の方法には、儂処理が可能であるとい5重要な利点があ
る。
久豆組亙立肢肛
これまでに開発された゛、フィルムを甲いないラジオグ
ラフィ技術の一例として、X線で露光され、レーザ光線
で読出されるフラットパネル(flat parcel
s )の使用がある。また、別の注目すべき例として、
X線発生体の前を通過する直線状の検出器アレイの使用
も指摘される。
ラフィ技術の一例として、X線で露光され、レーザ光線
で読出されるフラットパネル(flat parcel
s )の使用がある。また、別の注目すべき例として、
X線発生体の前を通過する直線状の検出器アレイの使用
も指摘される。
本発明は、大型形式光感知デバイスの独創的な構造に係
わる。
わる。
本発明による大型形式光感知デバイスは、特に次の諸利
点をもたらす。
点をもたらす。
−例えば36X43♂大の、X線像形式が達成される可
能性。
能性。
−X線像フィルムカセットのものに等しい小すな外形寸
法。
法。
一従来のラジオクラフイ設備の適合の可能性。
−X線撮影フィルムのものよりもより高い電気光学的性
能。
能。
−例えば飽和線量、ダイナミックレンジ、解偉力、書込
み時間、像再生時間、像処理等に関して医用ラジオグラ
フィにも適応可能な性能。
み時間、像再生時間、像処理等に関して医用ラジオグラ
フィにも適応可能な性能。
−高感度。
一像処理用の電気的信号の高速発生。
本発明による大型形式光感知デバイスは実質的に、僅か
にn型にドープされた氷菓添加アモルファスシリコンか
ら成る半導体基板を含み、この基板は第1の面並びにt
Jzの面を有し、前記第1の面は互いに重ね合される鎖
素子、即ち、 −前記半導体基板との接合を構成する材料によって中央
に開口部を設けて実質的に矩形に形成された、浮動グリ
ッドと呼称される複数個のパッドであって、行及び列状
に等間隔に配置されるパッド、 一絶縁材料層、 一浮動クリッドの輪郭沿いに配置される複数個の制御グ
リッドのグリッド網 を支持するべく構成されており、また前記第2の面は互
いに重ね合される別の鎖素子、即ち、−浮動グリッドの
中央開口部に対応する位置に配置されるドレインと呼称
される複数個の導電パッド、並び忙浮動グリッド列に配
置されて浮動グリッドを囲繞するソースと呼称される複
数個の梯子形電極、 −6浮動グリッドの行の上方に位置する、ドレイン同士
の接続部 を支持するべく構成されている。
にn型にドープされた氷菓添加アモルファスシリコンか
ら成る半導体基板を含み、この基板は第1の面並びにt
Jzの面を有し、前記第1の面は互いに重ね合される鎖
素子、即ち、 −前記半導体基板との接合を構成する材料によって中央
に開口部を設けて実質的に矩形に形成された、浮動グリ
ッドと呼称される複数個のパッドであって、行及び列状
に等間隔に配置されるパッド、 一絶縁材料層、 一浮動クリッドの輪郭沿いに配置される複数個の制御グ
リッドのグリッド網 を支持するべく構成されており、また前記第2の面は互
いに重ね合される別の鎖素子、即ち、−浮動グリッドの
中央開口部に対応する位置に配置されるドレインと呼称
される複数個の導電パッド、並び忙浮動グリッド列に配
置されて浮動グリッドを囲繞するソースと呼称される複
数個の梯子形電極、 −6浮動グリッドの行の上方に位置する、ドレイン同士
の接続部 を支持するべく構成されている。
本発明の他の諸特徴は、以下の説明及び添付図■を参照
することによって当業者に明らかとなろ5・ 異なる図において、同じ参照符号は同じ要素を示すが、
明瞭さを増すぺ(様々な要素の寸法及び比率は顧みなか
った。
することによって当業者に明らかとなろ5・ 異なる図において、同じ参照符号は同じ要素を示すが、
明瞭さを増すぺ(様々な要素の寸法及び比率は顧みなか
った。
第1図は、本発明による光感知デバイスの一具体例の斜
視図である。
視図である。
例えばガラス、アルミナ、石英、あるいは溶融石英のよ
うな絶縁材料から成る基板1はその一方の面を、以下制
御クリッドと呼称する複数個の導電グリッド2のグリッ
ド網によって被覆されている。グリッド2は、第1図に
記号X及びYで示した互いに直交する二つの方向に堆積
されている。
うな絶縁材料から成る基板1はその一方の面を、以下制
御クリッドと呼称する複数個の導電グリッド2のグリッ
ド網によって被覆されている。グリッド2は、第1図に
記号X及びYで示した互いに直交する二つの方向に堆積
されている。
制御グリッドを支持した基板10面は、その全体を例え
ば二酸化ケイ素あるいは窒化ケイ素のような絶縁材料の
層3で被覆されている。
ば二酸化ケイ素あるいは窒化ケイ素のような絶縁材料の
層3で被覆されている。
絶縁材料N3の上には、以下浮動グリッドと呼称する複
数個のパッド4のプレイが堆積されている。
数個のパッド4のプレイが堆積されている。
第1図に示した浮動グリッドは矩形の形状を有し、その
中央にはやはり矩形である開口部を具えている。
中央にはやはり矩形である開口部を具えている。
上記浮動グリッドは、複数の行(方向X)と複数の列(
方向Y)とから成るマトリクス状に等間隔に配置されて
いる。
方向Y)とから成るマトリクス状に等間隔に配置されて
いる。
浮動グリッドの形成に用いられる材料は、該グリッドを
後述するように被覆する、僅かにn型にドープされた水
素添加アモルファスシリコンカラ族る半導体基板5との
接合を構成する。
後述するように被覆する、僅かにn型にドープされた水
素添加アモルファスシリコンカラ族る半導体基板5との
接合を構成する。
即ち、浮動グリッドは、例えばp型にドープされたアモ
ルファスシリコンあるいは多結晶質シリコンによって形
成され得る・また、ショットキー接合を実現するべく、
浮動グリッドは例えばプラチナのような金属によっても
形成され得る。
ルファスシリコンあるいは多結晶質シリコンによって形
成され得る・また、ショットキー接合を実現するべく、
浮動グリッドは例えばプラチナのような金属によっても
形成され得る。
容易に了解され得るように、第1図に示した以外の形状
を有する浮動グリッド、即ち例えば正方形あるいは矩形
の中央開口部を具えだ正方形の浮動グリッドを用いるこ
とも可能である。
を有する浮動グリッド、即ち例えば正方形あるいは矩形
の中央開口部を具えだ正方形の浮動グリッドを用いるこ
とも可能である。
浮動グリッドの形状がどのようであれ制御グリッド2の
グリッド網は、第1図から知見され得るように、浮動グ
リッドの輪郭を辿るように配置されたグリッド2から成
るものが用いられる。
グリッド網は、第1図から知見され得るように、浮動グ
リッドの輪郭を辿るように配置されたグリッド2から成
るものが用いられる。
上記僅かにn型にドーグされた水素添加アモルファスシ
リコンの半導体基板5は、浮動グリッド上に堆積されて
いる。
リコンの半導体基板5は、浮動グリッド上に堆積されて
いる。
上記のような半導体は、光導電性を有する。僅かにn型
にドープされた水素添加アモルファスシリコンを得るた
めに、例えばホウ素のような物質を用いて補償が行なわ
れる。この補償によって、水素添加されたアモルファス
シリコンのnmドーピングが低減され得る。
にドープされた水素添加アモルファスシリコンを得るた
めに、例えばホウ素のような物質を用いて補償が行なわ
れる。この補償によって、水素添加されたアモルファス
シリコンのnmドーピングが低減され得る。
水素添加されたアモルファスシリコンの大型形式パネル
を製造することは、既に公知である。従って、例えば3
6X43cIIL 大の形式に対応するラジオグラフィ
上有用な寸法を有する水素添加アモルファスシリコン製
パネルの取得が可能である。゛半導体基板5上には、っ
ぎに2種類の型の電極が堆積されている。
を製造することは、既に公知である。従って、例えば3
6X43cIIL 大の形式に対応するラジオグラフィ
上有用な寸法を有する水素添加アモルファスシリコン製
パネルの取得が可能である。゛半導体基板5上には、っ
ぎに2種類の型の電極が堆積されている。
上記電極のうち8F!1の種類は、浮動グリッド4の中
央開口部に対応する位置に配置された複数個の導電パッ
ドもしくはいわゆるドレインDから成る。
央開口部に対応する位置に配置された複数個の導電パッ
ドもしくはいわゆるドレインDから成る。
第20r4類の電極は梯子形に設計されており、ソース
として知られる。複数個のソースSは浮動グリッド列沿
L−)1:、即ち第1図に示した方向Yk配装されて、
浮動グリッドを¥5繞している。
として知られる。複数個のソースSは浮動グリッド列沿
L−)1:、即ち第1図に示した方向Yk配装されて、
浮動グリッドを¥5繞している。
絶縁材料の層6がっぎに上記電極の上に堆積されており
、この層6は方向1m伸長する各浮動グリッド行の上方
に配rIt、すれたドレインDIfE士を相互接続する
のに用いられる接続部7及び8を支持するざぐ構成され
ている。接続部7及び8は、酸化インジウムあるいは酸
化第2スズのよ5な透明な導電材料によって形成される
。同様に一層6を構成する絶縁材料も透明でなければな
らない。層6は、窒化ケイ素あるいは酸化ケイ素によっ
て形成され得る。
、この層6は方向1m伸長する各浮動グリッド行の上方
に配rIt、すれたドレインDIfE士を相互接続する
のに用いられる接続部7及び8を支持するざぐ構成され
ている。接続部7及び8は、酸化インジウムあるいは酸
化第2スズのよ5な透明な導電材料によって形成される
。同様に一層6を構成する絶縁材料も透明でなければな
らない。層6は、窒化ケイ素あるいは酸化ケイ素によっ
て形成され得る。
ドレイン電極り及びソース電極Sは、半導体基板51C
リンを注入することによって形成され得る。
リンを注入することによって形成され得る。
この注入は、絶縁層6越しに実施され得る。
ドレイン電極り及びソースII極Sはまた、れ型にドー
プされたアモルファスシリコンを得るべ(半導体基板5
を処理した後に、+7ユノグラフイによって形成するこ
ともできる。
プされたアモルファスシリコンを得るべ(半導体基板5
を処理した後に、+7ユノグラフイによって形成するこ
ともできる。
本発明による光感知デバイスがラジオグラフィ像の検出
に用いられる場合、接続部7及び8を支持する絶縁材料
ffjG上にシンチレータ材料)M9が堆積される。シ
ンチレータ9はX線を可視光線忙転換する機能を有し、
前、記可視光線は透明な層6及び接続部7,8を透過し
得る。
に用いられる場合、接続部7及び8を支持する絶縁材料
ffjG上にシンチレータ材料)M9が堆積される。シ
ンチレータ9はX線を可視光線忙転換する機能を有し、
前、記可視光線は透明な層6及び接続部7,8を透過し
得る。
シンチレータ9は1例えばアルカリハライド、硫化亜鉛
、硫化カドミラみ、タングステン酸亜鉛、タングステン
酸カドミウム、希土類スルホキシド、ガドリニウムスル
ホキシド等のような材料と有機バインダによって公知の
ように形成される。
、硫化カドミラみ、タングステン酸亜鉛、タングステン
酸カドミウム、希土類スルホキシド、ガドリニウムスル
ホキシド等のような材料と有機バインダによって公知の
ように形成される。
絶縁層1は本発明によるデバイスの動作に必須ではな(
、保護的な機能を実質的に果たすものであるという点が
留意されるべきである。
、保護的な機能を実質的に果たすものであるという点が
留意されるべきである。
同様に、絶縁層6は、デバイスがラジオグラフィ像の検
出に用いられ、シンチレータの使用l必要とする場合に
は省略され得る。
出に用いられ、シンチレータの使用l必要とする場合に
は省略され得る。
Wc続′a7を絶縁性のシンチレータ層9上に直接堆積
し、該接続m7とドレイ/Dとの間に結合部8を設ける
ことも可能である。このような具体例の一利点は、接続
m7及び8がシンチレータより伝達される放射線を透過
させな(どもよいという点にある。
し、該接続m7とドレイ/Dとの間に結合部8を設ける
ことも可能である。このような具体例の一利点は、接続
m7及び8がシンチレータより伝達される放射線を透過
させな(どもよいという点にある。
第2図は、第1図のデバイスの上面図である。
ドレインD同士を接続する複数個の接続部7が各1個の
出力増幅器10に接続されていることが知見される。各
梯子形ソース電極Sは、電流源12と接続されたマルチ
ブレク?11と接続されている。
出力増幅器10に接続されていることが知見される。各
梯子形ソース電極Sは、電流源12と接続されたマルチ
ブレク?11と接続されている。
出力増幅器10及びマルチプレクサ11は、木兄明光感
知デバイスの他の素子同様絶縁基板1上に堆積され得る
。出力増幅器の構成には、例えば多結晶シリコン上に形
成されるJFET)ランジスタを用いることが可能であ
る。
知デバイスの他の素子同様絶縁基板1上に堆積され得る
。出力増幅器の構成には、例えば多結晶シリコン上に形
成されるJFET)ランジスタを用いることが可能であ
る。
第°1図に示した本発明によるデバイスの断面図である
第3図〜第6図を参照しつつ、本発明デバイスの動作を
以下に説明する。
第3図〜第6図を参照しつつ、本発明デバイスの動作を
以下に説明する。
第3図〜第6図では図示の明瞭化を計って、絶縁層6及
びシンチレータ層9は省略した。
びシンチレータ層9は省略した。
第3図及び第4図は、パネルのゼロリセッテンクを示す
。
。
正のパルスが制御グリッド2に付与され、このパルスは
容量効果により浮動グリッド4へ伝送される。
容量効果により浮動グリッド4へ伝送される。
従って、浮動グリッド4と半導体基板5とによって構成
されたダイオードは、順方向即ち導電方向へバイアスさ
れる。
されたダイオードは、順方向即ち導電方向へバイアスさ
れる。
負の電荷が浮動グリッド4に蓄積される。時間T の経
過後、制御グリッド2は本デバイスの大地電位に復帰す
る。第4図に示すように、浮動グリッドはその負の電荷
を維持し、従って半導体基板5において正の電荷の結合
を誘導する。浮動グリッド4及び半導体基板5によって
構成されたダイオードはカットオフされる。こうして、
周囲のソース電極Sと中央のドレインDとの間の導通は
。
過後、制御グリッド2は本デバイスの大地電位に復帰す
る。第4図に示すように、浮動グリッドはその負の電荷
を維持し、従って半導体基板5において正の電荷の結合
を誘導する。浮動グリッド4及び半導体基板5によって
構成されたダイオードはカットオフされる。こうして、
周囲のソース電極Sと中央のドレインDとの間の導通は
。
浮動グリッド4上に位置するチャネルを完全に塞ぐこと
Kよって阻止されろ。
Kよって阻止されろ。
第5図は、本発明による光感知デバイスへの情報の書込
み方法を示す。
み方法を示す。
図示したデノ、(イスは、図中波形の矢印によって概略
的に示した光線を受光する0 上記光線はシンチレータ層から発し得るが、検出される
べき放射線そのものから成ることも可能である。
的に示した光線を受光する0 上記光線はシンチレータ層から発し得るが、検出される
べき放射線そのものから成ることも可能である。
受光された光は、浮動グリッド4上に位置するチャネル
の深さを増大する。前記チャネルは(第4図に示−jよ
うに)デバイスのリセット時に完全に塞がれたことが想
起される0 第5図は、チャネルの深さが各浮動グリッド4によって
受光される光量に応じて様々であることを概略的に示し
ている0 第6図は、本発明によるデバイスの受取った光情報の読
出し方法を示す。
の深さを増大する。前記チャネルは(第4図に示−jよ
うに)デバイスのリセット時に完全に塞がれたことが想
起される0 第5図は、チャネルの深さが各浮動グリッド4によって
受光される光量に応じて様々であることを概略的に示し
ている0 第6図は、本発明によるデバイスの受取った光情報の読
出し方法を示す。
読出しの一方法は全増幅器の出力におし・て電流を測定
することKあつ、その際マルチプレクサ11は各梯子形
ソースSを電流源12と連続的に接続する。
することKあつ、その際マルチプレクサ11は各梯子形
ソースSを電流源12と連続的に接続する。
こうして、周囲のソースと中央のドレインとの間の各チ
ャネルの状態が連続的に測定される。
ャネルの状態が連続的に測定される。
測定されるべき各チャネルは、該チャネルの受光した光
の強度(応じて所定の状態にセットされる。
の強度(応じて所定の状態にセットされる。
検出器のソースとドレインとの間に流れる電流の強度か
ら、書込み時に中性化された全電荷が測定される。
ら、書込み時に中性化された全電荷が測定される。
ソース及びドレイン間の電流にきわめて様々な変化を生
じさせるKは、チャネル内で僅かな電荷キャリヤが発生
しさえすれば十分である。
じさせるKは、チャネル内で僅かな電荷キャリヤが発生
しさえすれば十分である。
各ドレインに集められる電荷は、読出し時間Tに従属す
る。従つ℃デバイスの利得は、読出し時間Tを加減する
ことによって調整される。
る。従つ℃デバイスの利得は、読出し時間Tを加減する
ことによって調整される。
電荷キャリヤの加熱発生は各チャネルを、外的な励起の
全くの不在下に開く傾向にある。この点を考慮して捕集
された出力信号を修正゛する必要性を回僻するために、
負の鋸波形信号(a negativeratylp
−function signal )が制御グリッド
に持続時間T。の正のパルスに続いて付与される。
全くの不在下に開く傾向にある。この点を考慮して捕集
された出力信号を修正゛する必要性を回僻するために、
負の鋸波形信号(a negativeratylp
−function signal )が制御グリッド
に持続時間T。の正のパルスに続いて付与される。
上記負の鋸波形信号を、第4図に示す。この信号は浮動
グリッド4に、キャリヤの加熱発生の結果失われた負の
電荷を回復する。負の鋸波形信号は好ましくは、検出器
の読出し時に終了するような持続時間を有する。
グリッド4に、キャリヤの加熱発生の結果失われた負の
電荷を回復する。負の鋸波形信号は好ましくは、検出器
の読出し時に終了するような持続時間を有する。
本発明によるデバイスの緒特性を、理論的に算出した。
前記緒特性には、飽和線量、ダイナミックレンジ、解像
力、書込み時間、像再生時間等が含まれる。
力、書込み時間、像再生時間等が含まれる。
上記算出のために、各検出器を、中央のドレインの周囲
に直列に並置された4個の直線形電界効果トランジスタ
と見做した。
に直列に並置された4個の直線形電界効果トランジスタ
と見做した。
本発明によるデバイスの緒特性は、医用ラジオグラフィ
に適応可能である。
に適応可能である。
第1図は本発明による光感知デバイスの一具体例の斜視
図、第2図は第1図のデバイスの上面図、第3図から第
6図は本発明によるデバイスのリセット、書込み及び読
出しを説明する断面図である。 1・・・絶縁材料基板、 2・・・制御グリッド
、3.6・・・絶縁材料層、 4・・・浮動グリッド
、5・・・半導体基板、 7.8・・・接続部
。 9・・・シンチレータ材料層、 1・0・・・出力tH幅器、 11・・・マルチ
プレクサ。 12・・・電流源。
図、第2図は第1図のデバイスの上面図、第3図から第
6図は本発明によるデバイスのリセット、書込み及び読
出しを説明する断面図である。 1・・・絶縁材料基板、 2・・・制御グリッド
、3.6・・・絶縁材料層、 4・・・浮動グリッド
、5・・・半導体基板、 7.8・・・接続部
。 9・・・シンチレータ材料層、 1・0・・・出力tH幅器、 11・・・マルチ
プレクサ。 12・・・電流源。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)大形型式の光感知デバイスであつて、僅かにn型
にドープされた水素添加アモルファスシリコンから成る
半導体基板を含み、この基板は第1の面並びに第2の面
を有し、前記第1の面は互いに重ね合される諸素子、即
ち、−前記半導体基板との接合を構成する材料 によつて中央に開口部を設けて実質的に 矩形に形成された、浮動グリッドと呼称 される複数個のパッドであつて、行及び 列状に等間隔に配置されるパッド、 −絶縁材料層、 −浮動グリッドの輪郭沿いに配置される複 数個の制御グリッドのグリッド網 を支持するべく構成されており、また前記第2の面は互
いに重ね合される別の諸素子、即ち、 −浮動グリッドの中央開口部に対応する位 置に配置されるドレインと呼称される複 数個の導電パッド並びに浮動グリッド列 に配置されて浮動グリッドを囲繞するソ ースと呼称される複数個の梯子形電極、 −各浮動グリッドの行の上方に位置する、 ドレイン同士の接続部 を支持するべく構成されていることを特徴とする光感知
デバイス。 (2)絶縁材料層が半導体基板の、ドレイン及びソース
を支持する第2の面を被覆し、同一行のドレイン同士の
接続部は前記絶縁層によつて支持されることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項に記載の光感知デバイス。 (3)シンチレータ層が同一行のドレイン同士の接続部
を支持する絶縁層を被覆することを特徴とする特許請求
の範囲第2項に記載の光感知デバイス。 (4)シンチレータ層が半導体基板の、ドレイン及びソ
ースを支持する第2の面を被覆し、同一行のドレイン同
士の接続部は前記シンチレータ層によつて支持されるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の光感知デ
バイス。 (5)制御グリッド網が絶縁材料層上に堆積されること
を特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のデバイス。 (6)各ドレイン接続部が出力増幅器に接続されること
を特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の光感知デバ
イス。 (7)各梯子形ソース電極が電流源と接続されたマルチ
プレクサと接続されることを特徴とする特許請求の範囲
第1項に記載の光感知デバイス。 (8)出力増幅器が制御グリッドを支持する絶縁材料層
上に形成されることを特徴とする特許請求の範囲第6項
に記載の光感知デバイス。(9)マルチプレクサが制御
グリッドを支持する絶縁材料層上に形成されることを特
徴とする特許請求の範囲第7項に記載の光感知デバイス
。 (10)特許請求の範囲第1項に記載の大型形式光感知
デバイスの使用方法であつて、該デバイスのゼロリセツ
テングが制御グリッドに正のパルスを付与し、その後前
記グリッドをデバイスの大地電位に復帰させることによ
つて実施されることを特徴とする使用方法。 (11)デバイスの読取りが出力増幅器の出力における
電流測定によつて実施され、その際マルチプレクサは各
梯子形ソースを電流源と連続的に接続することを特徴と
する特許請求の範囲第10項に記載の方法。 (12)デバイスのゼロリセツテングが正のパルスに負
の鋸波形を後続させることによつて実施されることを特
徴とする特許請求の範囲第 10項に記載の方法。 (13)デバイスのゼロリセツテングが正のパルスに負
の鋸波形を後続させることによつて実施されることを特
徴とする特許請求の範囲第 11項に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR8419919A FR2575602B1 (fr) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | Dispositif photosensible de grand format, et procede d'utilisation |
FR8419919 | 1984-12-27 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61156869A true JPS61156869A (ja) | 1986-07-16 |
Family
ID=9311029
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60299686A Pending JPS61156869A (ja) | 1984-12-27 | 1985-12-25 | 大型形式光感知デバイス及び該デバイス使用方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4799094A (ja) |
EP (1) | EP0189710B1 (ja) |
JP (1) | JPS61156869A (ja) |
DE (1) | DE3567991D1 (ja) |
FR (1) | FR2575602B1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02164067A (ja) * | 1988-12-19 | 1990-06-25 | Fujitsu Ltd | X線画像センサ |
Families Citing this family (19)
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EP0275446A1 (de) * | 1986-12-19 | 1988-07-27 | Heimann GmbH | Röntgenstrahlendetektor |
EP0360886A1 (de) * | 1988-09-26 | 1990-04-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgendetektor |
JPH0334456A (ja) * | 1989-06-30 | 1991-02-14 | Nippon Steel Corp | pinダイオードとその製造方法及び密着型イメージセンサ |
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US5771271A (en) * | 1997-04-16 | 1998-06-23 | Infimed, Inc. | Phototimer for radiology imaging |
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US7279120B2 (en) | 2003-09-04 | 2007-10-09 | Intematix Corporation | Doped cadmium tungstate scintillator with improved radiation hardness |
WO2006046163A1 (en) * | 2004-10-29 | 2006-05-04 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Gos ceramic scintillating fiber optics x-ray imaging plate for use in medical df and rf imaging and in ct |
DE102006002083B4 (de) | 2006-01-16 | 2009-06-10 | Siemens Ag | Halterung mit Röntgendetektor |
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US3935446A (en) * | 1975-02-28 | 1976-01-27 | General Electric Company | Apparatus for sensing radiation and providing electrical readout |
US4146904A (en) * | 1977-12-19 | 1979-03-27 | General Electric Company | Radiation detector |
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FR2501943B1 (fr) * | 1981-03-13 | 1986-01-17 | Thomson Csf | Dispositif photosensible solide a deux dimensions et dispositif d'analyse d'image, utilisant le transfert de charges electriques, comportant un tel dispositif |
FR2517864A1 (fr) * | 1981-12-07 | 1983-06-10 | Telecommunications Sa | Dispositif d'enregistrement et de lecture d'images |
US4520380A (en) * | 1982-09-29 | 1985-05-28 | Sovonics Solar Systems | Amorphous semiconductors equivalent to crystalline semiconductors |
US4630090A (en) * | 1984-09-25 | 1986-12-16 | Texas Instruments Incorporated | Mercury cadmium telluride infrared focal plane devices having step insulator and process for making same |
-
1984
- 1984-12-27 FR FR8419919A patent/FR2575602B1/fr not_active Expired
-
1985
- 1985-12-16 US US06/809,508 patent/US4799094A/en not_active Expired - Fee Related
- 1985-12-24 DE DE8585402611T patent/DE3567991D1/de not_active Expired
- 1985-12-24 EP EP85402611A patent/EP0189710B1/fr not_active Expired
- 1985-12-25 JP JP60299686A patent/JPS61156869A/ja active Pending
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JPH02164067A (ja) * | 1988-12-19 | 1990-06-25 | Fujitsu Ltd | X線画像センサ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0189710A1 (fr) | 1986-08-06 |
FR2575602A1 (fr) | 1986-07-04 |
FR2575602B1 (fr) | 1987-01-30 |
US4799094A (en) | 1989-01-17 |
DE3567991D1 (en) | 1989-03-02 |
EP0189710B1 (fr) | 1989-01-25 |
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