JPS61155731A - Photometric signal processing circuit for chromatoscanner - Google Patents

Photometric signal processing circuit for chromatoscanner

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JPS61155731A
JPS61155731A JP27756384A JP27756384A JPS61155731A JP S61155731 A JPS61155731 A JP S61155731A JP 27756384 A JP27756384 A JP 27756384A JP 27756384 A JP27756384 A JP 27756384A JP S61155731 A JPS61155731 A JP S61155731A
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JP
Japan
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slit
sample
luminous flux
rectangular
holding circuit
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Application number
JP27756384A
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Japanese (ja)
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Shunichiro Sasaki
佐々木 俊一郎
Kenji Nakamura
健次 中村
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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Publication of JPS61155731A publication Critical patent/JPS61155731A/en
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59Transmissivity
    • G01N21/5907Densitometers
    • G01N21/5911Densitometers of the scanning type

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  • Health & Medical Sciences (AREA)
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Abstract

PURPOSE:To prevent sharp changes in the sensitivity of a photometry system, by providing a sample holding circuit in dynode feedback path from a photo multiplier for monitoring to hold a detection signal even immediately after luminous flux incident into a sample plate is interrupted. CONSTITUTION:The interruption of luminous flux passing through a crossing section between a rectangular slit and a slit of a slit disc is detected by a timing detection means 54 immediately therebefore and the current input voltage is held into a sample holding circuit 32. During the interruption of the luminous flux from the rectangular slit, a dynode feed backing is applied to photo multiplier tubes 14, 22 and 24 based on the voltage level held in the sample holding circuit 32. The crossing between the rectangular skit and the slit of the slit disc is restarted, when the luminous flux irradiates a sample plate again, the sample holding circuit 32 is turned OFF by a signal from a timing detection circuit 54 to change the measuring path to the normal one.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は薄層クロマトグラフィなどにおいて試料プレー
ト上で分離された試料分画を光学的に定量するために使
用されるクロマトスキャナ、特に試料プレート上に照射
される微小光束を走査させる、所謂フライングスポット
方式のクロマトスキャナにおける測光信号処理回路に関
するものである。
Detailed Description of the Invention (Industrial Application Field) The present invention relates to a chromato scanner used for optically quantifying sample fractions separated on a sample plate in thin layer chromatography, etc. The present invention relates to a photometric signal processing circuit in a so-called flying spot type chromatographic scanner that scans a minute beam of light irradiated onto the surface.

(従来の技術) 試料プレート上に照射する微小光束を試料プレート上で
移動させて測定を行なうフライングスポット方式のクロ
マトスキャナを構成するには、光束結像用ミラーを回転
軸のまわりに左右へ振らせるか、もしくは結像させる微
小光束の形を刻み込んだスリットを左右に振って往復運
動させる必要があった。特に、より高速化することを目
指す場合。
(Prior art) To configure a flying spot chromatography scanner that performs measurements by moving a minute beam of light irradiated onto a sample plate, the beam imaging mirror is swung left and right around a rotation axis. It was necessary to make a reciprocating movement by swinging the slit from side to side, or by swinging the slit inscribed with the shape of the minute beam of light to be imaged. Especially if you aim to go faster.

ミラーを振る(或いは一方向のみに回転させる)方法で
はミラーの慣性負荷が影響して速度の上限が決まってし
まう、また、スリットの往復運動を行なわせる方法では
モータ(一般にステップモータが多く用いられる)の頻
繁な正逆転を要するため、これがモータの連続的な高速
運転の障害となり(ミラーを左右に振る場合も同様)、
クロマトスキャナの高速化を阻んでいた。
In the method of shaking the mirror (or rotating it only in one direction), the upper limit of the speed is determined by the inertial load of the mirror, and in the method of making the slit reciprocate, a motor (generally a step motor is often used) is used. ) requires frequent forward and reverse rotations, which impedes continuous high-speed operation of the motor (the same applies when shaking the mirror left and right).
This was preventing the speeding up of chromatographic scanners.

(発明が解決しようとする問題点) そこで、本発明者らは、円板に細長い溝穴もしくは特定
のパターンのスリットを打ち抜いたスリット円板を回転
させ、これに通常の細長い矩形状スリットを組合せて両
者の交叉部分の穴から光を通して試料プレートへの照射
光束を走査させるフライングスポット方式のクロマトス
キャナを別途提案している。
(Problem to be Solved by the Invention) Therefore, the present inventors rotated a slit disk in which elongated slots or slits of a specific pattern were punched into the disk, and combined it with ordinary elongated rectangular slits. We have separately proposed a flying spot type chromatographic scanner that scans the irradiation beam onto a sample plate by passing light through a hole at the intersection of the two.

そのフライング方式クロマトスキャナの概略を第4図に
示す、2は回転式のスリット円板で、中心からの距離が
回転角に応じて変化するスリット4−1.4−2が設け
られている。このスリット円板2はモータ8の回転軸に
取りつけられている。
The flying type chromatographic scanner is schematically shown in FIG. 4. Reference numeral 2 denotes a rotary slit disk, and slits 4-1 and 4-2 whose distance from the center changes according to the rotation angle are provided. This slit disk 2 is attached to the rotating shaft of a motor 8.

モータ8としてはステップモータが好ましい。The motor 8 is preferably a step motor.

スリット円板2には矩形状スリット10が組み合わされ
、矩形状スリット10の長手方向がスリット円板2の半
径方向になるように両者が位置決めされている。矩形状
スリットloは分光器(図示略)の出口スリットとすれ
ばよい0回転スリット円板2のスリット4−1又は4−
2と矩形状スリット10との交叉部分の穴を分光器から
の単色光が通過する。
A rectangular slit 10 is combined with the slit disk 2, and both are positioned so that the longitudinal direction of the rectangular slit 10 is in the radial direction of the slit disk 2. The rectangular slit lo may be the exit slit of a spectroscope (not shown). The slit 4-1 or 4- of the zero-rotation slit disk 2
2 and the rectangular slit 10, monochromatic light from the spectroscope passes through the hole.

12はハーフミラ−で、スリット円板2のスリット4−
1又は4−2と矩形状スリット1oとの交叉部分の穴を
通過した光束の一部をモニタ用光電子増倍管14に導き
、残部を結像用光学素子16゜18を経て試料プレート
20に導く、試料プレート20はステージ(図示略)に
よりX方向及びY方向に移動できるように支持されてい
る。
12 is a half mirror, and the slit 4 of the slit disk 2
1 or 4-2 and the rectangular slit 1o is guided to the photomultiplier tube 14 for monitoring, and the remaining part is directed to the sample plate 20 through the optical element 16-18 for imaging. The sample plate 20 to be guided is supported by a stage (not shown) so as to be movable in the X direction and the Y direction.

22は試料プレート20からの反射光を検出する光電子
増倍管、24は試料プレート2oがらの透過光を検出す
る光電子増倍管である。
22 is a photomultiplier tube that detects reflected light from the sample plate 20, and 24 is a photomultiplier tube that detects transmitted light from the sample plate 2o.

第5図にスリット円板2を詳細に示す、スリット4−1
.4−2は、スリット円板2が矢印方向に回転すること
により中心からの距離がR+がらR2へ増加していくよ
うに螺旋状に形成されている。
Fig. 5 shows the slit disk 2 in detail, slit 4-1.
.. 4-2 is formed in a spiral shape so that the distance from the center increases from R+ to R2 as the slit disk 2 rotates in the direction of the arrow.

矩形状スリットlOをスリット円板2のスリット4−1
.4−2により逐次交叉させながら走査してゆく場合、
照射光束が試料プレート上で別の走査線又はレーンに移
動する間、すなわち第5図でθlと02の範囲が矩形状
スリット10と交叉する期間はスリット円板2を通過す
る光束が消失する。そのため、光源モニタ用の光電子増
倍管14や測光用の光電子増倍管22,24をダイノー
ドフィードバックをかけて用いるならば、供給されてい
る負高圧が一瞬突発的に上昇し、感度の定常性が破られ
る。クロマトスキャナの走査速度を向上させて使うには
スリット円板2を高速回転させて測定するが、測光信号
処理系の応答はある速度までしか追従し切れないから、
負高圧レベルが急に上昇すればその変動したレベルのま
までの測定、すなわち測光感度が変化した状態での測定
となって正しい測定がなされない。
The rectangular slit lO is connected to the slit 4-1 of the slit disk 2.
.. When scanning while sequentially crossing each other according to 4-2,
While the irradiation light flux moves to another scanning line or lane on the sample plate, that is, during the period when the range of θl and 02 intersects the rectangular slit 10 in FIG. 5, the light flux passing through the slit disk 2 disappears. Therefore, if the photomultiplier tube 14 for light source monitoring and the photomultiplier tubes 22 and 24 for photometry are used with dynode feedback, the supplied negative high pressure will suddenly rise for a moment, and the sensitivity will become unstable. is broken. To improve the scanning speed of the chromato scanner, the slit disk 2 is rotated at high speed for measurement, but the response of the photometric signal processing system can only follow up to a certain speed.
If the negative high pressure level suddenly rises, the measurement will be performed at the changed level, that is, the photometric sensitivity will be changed, and correct measurement will not be performed.

また測光用光電子増倍管22,24にも試料プレート2
0からの光が来なくなるので、測光信号がプリアンプ及
び対数変換アンプを順次通っていくとすれば吸光度信号
として最終出力を得る際には出力が飽和してしまうこと
になる。これは対数変換アンプの入力が0の状態になる
ためである。
In addition, the sample plate 2 is also attached to the photomultiplier tubes 22 and 24 for photometry.
Since light from 0 no longer comes, if the photometric signal passes through the preamplifier and the logarithmic conversion amplifier in sequence, the output will be saturated when the final output is obtained as an absorbance signal. This is because the input of the logarithmic conversion amplifier becomes 0.

これらの異常発生を防止して常に安定で正確な動作をす
る測光用電気系を構成する必要がある。
It is necessary to configure a photometric electrical system that prevents these abnormalities from occurring and always operates stably and accurately.

本発明は1分光器の出口スリットからもれ出る光束が一
時中断する間消失するモニタ用光電子増倍管からの光電
流を見かけ上残存させることにより、ダイノードフィー
ドバックを経由して負高圧が突破的上昇を起こさないよ
うにした測光信号処理回路を提供することを目的とする
ものである。
The present invention allows the photocurrent from the monitoring photomultiplier tube, which disappears during a temporary interruption of the light flux leaking from the exit slit of the spectrometer, to remain apparently, thereby creating a breakthrough negative high voltage via dynode feedback. It is an object of the present invention to provide a photometric signal processing circuit that does not cause an increase.

(問題を解決するための手段) 本発明による測光信号処理回路を、実施例を示す第1図
により説明すると、サンプルホールド回路32が少なく
ともモニタ用光電子増倍管14からのダイノードフィー
ドバック経路中に設けられ、試料プレートへの照射光束
断続のタイミングを検出し、サンプルホールド回路32
の動作を制御するタイミング検出手段54が設けられて
いる。
(Means for Solving the Problems) The photometric signal processing circuit according to the present invention will be explained with reference to FIG. The sample hold circuit 32
Timing detection means 54 is provided to control the operation of the .

(作用) 矩形状スリット10とスリット円板2のスリット4−1
又は4−2との交叉部を通過する光束が中断される直前
をタイミング検出手段54で検出し、サンプルホールド
回路32にその時の入力電圧を保持させる。そして、矩
形状スリットlOからの光束の中断期間はそのサンプル
ホールド回路32に保持された電圧レベルをもとにして
光電子増倍管14,22.24へダイノードフィードバ
ックをかける。
(Function) Rectangular slit 10 and slit 4-1 of slit disk 2
Alternatively, the timing detection means 54 detects the moment immediately before the light beam passing through the intersection with 4-2 is interrupted, and the sample-hold circuit 32 holds the input voltage at that time. During the interruption period of the light flux from the rectangular slit 1O, dynode feedback is applied to the photomultiplier tubes 14, 22, and 24 based on the voltage level held in the sample and hold circuit 32.

短形状スリット10とスリット4−1又は4−2との交
叉が再び始まり、試料プレート20に再び光束が照射さ
れる時点になると、タイミング検出回路54からの信号
によりサンプルホールド回路32をオフとして通常の測
光経路に切り替える。
When the intersection between the rectangular slit 10 and the slit 4-1 or 4-2 starts again and the sample plate 20 is irradiated with the light beam again, the sample hold circuit 32 is turned off by a signal from the timing detection circuit 54 and the normal operation is performed. Switch to the photometry path.

(実施例) 第1図は一実施例を示す回路図である。(Example) FIG. 1 is a circuit diagram showing one embodiment.

14.22.24はそれぞれ第4図に示されているモニ
タ用1反射光検出用、透過光検出用の光電子増倍管であ
る。30はモニタ用光電子増倍管14の検出出力を増幅
するプリアンプ(前置増幅器)、32はプリアンプ30
の出力を入力とするサンプルホールド回路、34はサン
プルホールド回路32の出力電圧を光電子増倍管14.
22゜24の負高圧に変換して各光電子増倍管14゜2
2.24に負高圧を印加するダイノードフィードバック
用のDC−DCコンバータである。
14, 22, and 24 are photomultiplier tubes for monitoring 1 for detecting reflected light and for detecting transmitted light, respectively, shown in FIG. 30 is a preamplifier (preamplifier) that amplifies the detection output of the monitor photomultiplier tube 14; 32 is a preamplifier 30;
A sample-and-hold circuit 34 inputs the output voltage of the sample-and-hold circuit 32 to the photomultiplier tube 14.
Convert to negative high pressure of 22°24 and apply each photomultiplier tube 14°2
This is a DC-DC converter for dynode feedback that applies negative high voltage to 2.24.

36は反射光検出用光電子増倍管22の検出出力を増幅
するプリアンプ、38は透過光検出用光電子増倍管24
の検出出力を増幅するプリアンプであり、プリアンプ3
6.38の出力端子にはそれぞれサンプルホールド回路
40.42が接続されている。 サンプルホールド回路
32,40゜42の出力端子にはそれぞれ対数変換アン
プ44゜46.48が接続され、対数変換アンプ44の
出力端子が吸光度信号アンプ50の一方の入力端子に接
続されるとともに、対数変換アンプ46及び48の出力
端子が切替えスイッチSWIを経て吸光度信号アンプ5
0の他方の入力端子に接続されている。
36 is a preamplifier that amplifies the detection output of the photomultiplier tube 22 for detecting reflected light, and 38 is a photomultiplier tube 24 for detecting transmitted light.
This is a preamplifier that amplifies the detection output of the preamplifier 3.
Sample and hold circuits 40 and 42 are connected to the output terminals 6 and 38, respectively. Logarithmic conversion amplifiers 44°46.48 are connected to the output terminals of the sample and hold circuits 32 and 40°42, respectively, and the output terminal of the logarithmic conversion amplifier 44 is connected to one input terminal of the absorbance signal amplifier 50. The output terminals of the conversion amplifiers 46 and 48 are connected to the absorbance signal amplifier 5 via the changeover switch SWI.
0 is connected to the other input terminal of 0.

吸光度信号アンプ50の出力端子は切替えスイッチSW
2を経てA/D変換部52に接続されている。A/D変
換部52にはまた、反射光検出用のプリアンプ36の出
力端子が切替えスイッチSW2を経て接続されている0
反射光検出用のプリアンプ36からA/D変換部52に
接続されるこの経路は蛍光測定用の経路である。  A
/D変換部52は吸光度信号アンプ50からの吸光度信
号又はプリアンプ36からの蛍光信号をディジタル信号
に変換してC:PU (図示時)に送出する。
The output terminal of the absorbance signal amplifier 50 is a changeover switch SW.
2 to the A/D converter 52. The A/D converter 52 is also connected to an output terminal of a preamplifier 36 for detecting reflected light via a changeover switch SW2.
This path connected from the preamplifier 36 for reflected light detection to the A/D converter 52 is a path for fluorescence measurement. A
The /D converter 52 converts the absorbance signal from the absorbance signal amplifier 50 or the fluorescence signal from the preamplifier 36 into a digital signal and sends it to C:PU (as shown).

透過光検出用光電子増倍管24は、試料プレートが透過
型の場合にのみ作動させるように、その負高圧がスイッ
チSW3を経て印加されるようになっている。
A negative high voltage is applied to the photomultiplier tube 24 for detecting transmitted light through a switch SW3 so that it is activated only when the sample plate is of a transmission type.

サンプルホールド回路32,40.42にはタイミング
検出手段54が接続されている。タイミング検出手段5
4はCPUにより実現され、第4図に示されているよう
なスリット円板2を駆動するモータ8(例えばステップ
モータ)の回転開始点からのパルス数又は時間などを検
出することにより、矩形状スリット10とスリット4−
1又は4−2との交叉が開始するタイミング、その交叉
が終了するタイミングなどを検出する。
A timing detection means 54 is connected to the sample and hold circuits 32, 40, and 42. Timing detection means 5
4 is realized by the CPU, and by detecting the number of pulses or time from the rotation start point of the motor 8 (for example, a step motor) that drives the slit disk 2 as shown in FIG. Slit 10 and slit 4-
The timing at which the crossover with 1 or 4-2 starts, the timing at which the crossover ends, etc. are detected.

第2図にはサンプルホールド回路32,40゜42の一
例を具体的に示す、プリアンプ30゜36又は38から
の信号はサンプル側アナログスイッチ60及びホールド
側アナログスイッチ62の一方の入力端子を経てオペア
ンプ(演算増幅器)64に入力される。アナログスイッ
チ60とアナログスイッチ62の一方の入力端子の間に
は直列抵抗Rrと並列コンデンサCとからなる時定数回
路が接続されている。抵抗R+は通常の測光時に高速測
光可能とするための時定数調整用に設けられたものであ
る。アナログスイッチ60.62はタイミング検出手段
54から発生される制御パルスによりスイッチング動作
が行なわれる。オペアンプ64の一方の入力端子と出力
端子の間に接続された抵抗R2は、光電流入力を電圧出
力に変換するためのものである。
FIG. 2 specifically shows an example of the sample and hold circuit 32, 40° 42. The signal from the preamplifier 30° 36 or 38 is sent to the operational amplifier via one input terminal of the sample-side analog switch 60 and the hold-side analog switch 62. (operational amplifier) 64. A time constant circuit consisting of a series resistor Rr and a parallel capacitor C is connected between one input terminal of the analog switch 60 and the analog switch 62. The resistor R+ is provided for adjusting a time constant to enable high-speed photometry during normal photometry. The switching operation of the analog switches 60 and 62 is performed by control pulses generated from the timing detection means 54. A resistor R2 connected between one input terminal and the output terminal of the operational amplifier 64 is for converting photocurrent input into voltage output.

ここで、第2図のサンプルホールド回路を用いた本実施
例の動作を説明する。
Here, the operation of this embodiment using the sample and hold circuit shown in FIG. 2 will be explained.

通常の測光時、すなわち、試料プレートに光束が照射さ
れているときは、アナログスイッチ60をオン、アナロ
グスイッチ62を図で上側の端子に接続しておく、試料
プレートへの入射光束が中断される直前に、矩形状スリ
ット部の走査ストロークの最終点での測光信号をサンプ
リングした状態でサンプル側アナログスイッチ60をオ
フにする。
During normal photometry, that is, when the sample plate is irradiated with a light beam, the analog switch 60 is turned on and the analog switch 62 is connected to the upper terminal in the figure, so that the light beam incident on the sample plate is interrupted. Immediately before, the sample-side analog switch 60 is turned off while the photometric signal at the final point of the scanning stroke of the rectangular slit section is sampled.

そして入射光束が中断している間はホールド側アナログ
スイッチ62はコンデンサCと結ばれている下側の端子
に接続され、入力電圧が保持されることになる。
While the incident light flux is interrupted, the hold-side analog switch 62 is connected to the lower terminal connected to the capacitor C, and the input voltage is held.

次に各光電子増倍管14,22.24に再び入射光束が
入るようになった時点(入射した直後の時点)でアナロ
グスイッチ62の方を再び図中の上側に切換え、続いて
アナログスイッチ60も再びオンに戻して通常の測光中
の状態に復帰させる。
Next, at the point when the incident light beam starts to enter each photomultiplier tube 14, 22, 24 again (immediately after the incident light beam enters), the analog switch 62 is switched to the upper side in the figure again, and then the analog switch 62 is switched to the upper side in the figure. Turn it back on again to return to normal photometry mode.

本実施例では、m光用の光電子増倍管22゜24からの
信号がくるところにもサンプルホールド回路40.42
を設け、試料プレートへの入射光束が中断されている期
間中も見かけ上側光信号が存在しているようにしている
ので、プリアンプ30.36.38及び対数変換アンプ
44,46゜48を経て最終的に得られる吸光度信号も
飽和しないようになる。
In this embodiment, the sample and hold circuits 40 and 42 are also installed where the signal from the photomultiplier tube 22 and 24 for m light comes.
, so that the optical signal on the side appears to exist even during the period when the incident light flux to the sample plate is interrupted, so that the final The absorbance signal obtained in this way also becomes unsaturated.

本実施例の変形として、サンプルホールド回路32.4
2をそれぞれプリアンプ30.38の入力端子と光電子
増倍管14,24の間に設けることができる。
As a modification of this embodiment, the sample and hold circuit 32.4
2 can be provided between the input terminal of the preamplifier 30, 38 and the photomultiplier tubes 14, 24, respectively.

また、プリアンプ30.38がサンプルホールド回路3
2.42中のオペアンプ64を兼用するようにしてもよ
い。
In addition, the preamplifier 30.38 is the sample hold circuit 3.
The operational amplifier 64 in 2.42 may also be used.

第3図はサンプルホールド回路32,40゜42の他の
例を具体的に示したものである。プリアンプ30.36
又は38からの信号はホールド側アナログスイッチ62
の一方の入力端子を経てオペアンプ64に入力される。
FIG. 3 specifically shows another example of the sample-and-hold circuit 32, 40° 42. Preamplifier 30.36
Or the signal from 38 is the hold side analog switch 62
The signal is input to the operational amplifier 64 through one input terminal of the .

ホールド側アナログスイッチ62の他方の入力端子と、
プリアンプ30.36又は38につながる入力端子との
間に接続されるホールド用コンデンサCはサンプル側ア
ナログスイッチ66を経てプリアンプにつながる入力端
子に接続されている。アナログスイッチ66.62はタ
イミング検出手段54からの制御パルスによりスイッチ
ング動作が行なわれる。
The other input terminal of the hold-side analog switch 62,
A hold capacitor C connected between the input terminal connected to the preamplifier 30, 36 or 38 is connected to the input terminal connected to the preamplifier via the sample side analog switch 66. The analog switches 66 and 62 perform switching operations in response to control pulses from the timing detection means 54.

このサンプルホールド回路では、通常測光時はスイッチ
66をオフ、スイッチ62を図で上側に接続しておく、
試料プレートへの入射光束が中断される直前になるとス
イッチ66をオンとしてコンデンサCに入力電圧を保持
させる。入射光束中断中はスイッチ66をオフ、スイッ
チ62を図で下側に接続して、保持された電圧により光
電子増倍管14,22,24へのダイノードフィードバ
ック等を行なわせる。再び矩形状スリットとスリット円
板のスリットとが交叉するようになると、スイッチ62
を図の上側に切り替え1通常の測光状態に復帰させる。
In this sample hold circuit, during normal photometry, the switch 66 is turned off, and the switch 62 is connected to the upper side in the figure.
Immediately before the incident light beam on the sample plate is interrupted, the switch 66 is turned on to cause the capacitor C to hold the input voltage. During interruption of the incident light flux, the switch 66 is turned off, the switch 62 is connected to the lower side in the figure, and the maintained voltage causes dynode feedback to the photomultiplier tubes 14, 22, 24, etc. When the rectangular slit and the slit of the slit disk intersect again, the switch 62 is activated.
1. Switch to the upper side of the diagram to return to the normal photometry state.

本考案の他の変形として、スリット円板のスリットの本
数を偶数本とし、異なる溝幅のスリットを交互に刻み抜
いて、実測時には2種のスリットのうちの一方のスリッ
トのみを用いて吸光度データを読み取ってレコーダ上に
記録するようにしてもよい、また、矩形状スリットの方
も幡の異なるものに差し替えることができるようのにし
たり、走査ストロークの変更を矩形状スリットの高さの
変更、切り換えではなく、装置本体内のコンピュータに
より走査方向のデータ読込み区間の変更により行なうよ
うにしてもよい、このような変形により、試料プレート
上の照射点の大きさや走査ストロークを自由に設定でき
るようになる。
As another modification of the present invention, the number of slits in the slit disk is an even number, and slits of different groove widths are cut out alternately, so that only one of the two types of slits is used during actual measurement to obtain absorbance data. The rectangular slit may be read and recorded on the recorder, or the rectangular slit may be replaced with one with a different banner, or the scanning stroke may be changed by changing the height of the rectangular slit. Instead of switching, this may be done by changing the data reading section in the scanning direction using the computer inside the device. With this modification, it is possible to freely set the size of the irradiation point on the sample plate and the scanning stroke. Become.

(発明の効果) 本発明では、モニタ用光電子増倍管からのダイノードフ
ィードバック経路中にサンプルホールド回路を設け、試
料プレートへの入射光束が中断したときにも中断直前の
検出信号を保持するようにしたので、サンプルホールド
回路がなければ生じる光電子増倍管への印加負高圧の突
発的上昇を防止して、測光系の感度の急激な変化を防止
し、安定で正確な測定を行なうことができるようになる
(Effects of the Invention) In the present invention, a sample hold circuit is provided in the dynode feedback path from the monitoring photomultiplier tube, so that even when the light beam incident on the sample plate is interrupted, the detection signal immediately before the interruption is held. This prevents sudden increases in negative high voltage applied to the photomultiplier tube, which would otherwise occur without a sample hold circuit, and prevents sudden changes in the sensitivity of the photometry system, making it possible to perform stable and accurate measurements. It becomes like this.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は一実施例を示す回路図、第2図及び第3図はそ
れぞれ実施例で使用されるサンプルホールド回路の例を
示す回路図、第4図は本発明が使用されるクロマトスキ
ャナの光学系の一例を示す概略斜視図、第5図は第4図
中のスリット円板を示す平面図である。 2・・・・・・スリット円板、 4−1.4−2・・・
・・・スリット、  10・・・・・・矩形状スリット
、  14,22゜24・・・・・・光電子増倍管、 
 20・・・・・・試料プレート、32.40.42・
・・・・・サンプルホールド回路、34・・・・・・ダ
イノードフィードバック用DC−DCコンバータ、 5
4・・・・・・タイミング検出手段。
FIG. 1 is a circuit diagram showing one embodiment, FIGS. 2 and 3 are circuit diagrams each showing an example of a sample hold circuit used in the embodiment, and FIG. 4 is a circuit diagram of a chromatography scanner in which the present invention is used. FIG. 5 is a schematic perspective view showing an example of the optical system, and FIG. 5 is a plan view showing the slit disk in FIG. 4. 2...Slit disk, 4-1.4-2...
...Slit, 10...Rectangular slit, 14,22゜24...Photomultiplier tube,
20...Sample plate, 32.40.42.
... Sample hold circuit, 34 ... DC-DC converter for dynode feedback, 5
4... Timing detection means.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)光束を試料プレートに断続的に照射して走査させ
、光電子増倍管により検出を行なうフライングスポット
方式のクロマトスキャナの測光信号処理回路において、 サンプルホールド回路が、少なくともモニタ用光電子増
倍管からのダイノードフィードバック経路中に設けられ
ているとともに、試料プレートへの照射光束断続のタイ
ミングを検出し、前記サンプルホールド回路の動作を制
御するタイミング検出手段が設けられていることを特徴
とする測光信号処理回路。
(1) In the photometric signal processing circuit of a flying spot chromatographic scanner that intermittently irradiates and scans a sample plate with a beam of light and performs detection with a photomultiplier tube, the sample hold circuit at least connects the photomultiplier tube for monitoring. The photometric signal is provided in a dynode feedback path from the dynode feedback path, and further includes timing detection means for detecting the timing of intermittent irradiation of the sample plate and controlling the operation of the sample hold circuit. processing circuit.
(2)前記タイミング検出手段により制御されるサンプ
ルホールド回路が対数変換アンプへの入力部にも設けら
れている特許請求の範囲第1項に記載の測光信号処理回
路。
(2) The photometric signal processing circuit according to claim 1, wherein a sample hold circuit controlled by the timing detection means is also provided at an input section to the logarithmic conversion amplifier.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6388413A (en) * 1986-09-30 1988-04-19 Shimadzu Corp Spectrophjotometer
JPS6423656U (en) * 1987-08-01 1989-02-08

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JP2560293B2 (en) * 1986-09-30 1996-12-04 株式会社島津製作所 Spectrophotometer
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