JPS61153545A - 粒子分析装置 - Google Patents
粒子分析装置Info
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- JPS61153545A JPS61153545A JP27362884A JP27362884A JPS61153545A JP S61153545 A JPS61153545 A JP S61153545A JP 27362884 A JP27362884 A JP 27362884A JP 27362884 A JP27362884 A JP 27362884A JP S61153545 A JPS61153545 A JP S61153545A
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- Japan
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1429—Signal processing
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Pathology (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術的分野〕
この発明は例えば血液中の血球の如き液中に懸濁する粒
子を計数・分類することが可能な粒子分析装置に関する
。
子を計数・分類することが可能な粒子分析装置に関する
。
従来、このような粒子を計数する装置としては。
粒子１個が通過できる程の微細孔内に粒子が浮量する懸
濁液を通過させ、この通過時に粒子と懸濁液との電気イ
ンピーダンスの差に基づいて粒子を判別するとともＫこ
の粒子の大きさに比例したパルスを発生させ、このパル
スの信号に対しである閾値を設定し、その閾値のどの範
囲のパルスであるかを判断し、計数・分類する装置があ
った。しかし、実際このような装置を使用した場合懸濁
液が不均一であることや、液中の気泡、電源の変動。
濁液を通過させ、この通過時に粒子と懸濁液との電気イ
ンピーダンスの差に基づいて粒子を判別するとともＫこ
の粒子の大きさに比例したパルスを発生させ、このパル
スの信号に対しである閾値を設定し、その閾値のどの範
囲のパルスであるかを判断し、計数・分類する装置があ
った。しかし、実際このような装置を使用した場合懸濁
液が不均一であることや、液中の気泡、電源の変動。
外部の雑音岬によ夕、第２図に示すようなパルス信号の
ベースラインＩが変動し、誤計測を招くという問題があ
り念、なお、第２図中（１９は粒子パルス、 （ＵＳは
ゼロレベルを示す。
ベースラインＩが変動し、誤計測を招くという問題があ
り念、なお、第２図中（１９は粒子パルス、 （ＵＳは
ゼロレベルを示す。
又この様な誤計測を防ぐために第４図に示すような検出
器からのパルス信号を微分回路（１優に通ることが考え
られた。この微分回路ｒｉ場は、切換スイッチα？）ヲ
設け、外部雑音等のベースラインの隆起ｆに対応して券
七切換スイッチα７）をその都度切換えて時定数を切換
えるのである。しかし時定数を小さくすればベースライ
ンの変動は除去されるが、大きさが大きいパルスよシも
、立上がシが急なパルスが、大きな出力信号として生じ
誤計測となる。
器からのパルス信号を微分回路（１優に通ることが考え
られた。この微分回路ｒｉ場は、切換スイッチα？）ヲ
設け、外部雑音等のベースラインの隆起ｆに対応して券
七切換スイッチα７）をその都度切換えて時定数を切換
えるのである。しかし時定数を小さくすればベースライ
ンの変動は除去されるが、大きさが大きいパルスよシも
、立上がシが急なパルスが、大きな出力信号として生じ
誤計測となる。
又、時定数を大きくしても、大きなパルスに対して第５
図に示すパルスのようにアンダーシュート（１１が生じ
、やはり誤計測の原因となシ、又、パルスの到来に応じ
て時定数を変化させる切換方法では、複雑な回路装置を
必要とするという欠点もある。
図に示すパルスのようにアンダーシュート（１１が生じ
、やはり誤計測の原因となシ、又、パルスの到来に応じ
て時定数を変化させる切換方法では、複雑な回路装置を
必要とするという欠点もある。
この発明は上記欠点を解決するためのもので、パルス信
号のベースラインの変動を効果的に除去し、粒子の正確
な計測・分類を可能とした粒子分析装置を提供すること
を目的とする。
号のベースラインの変動を効果的に除去し、粒子の正確
な計測・分類を可能とした粒子分析装置を提供すること
を目的とする。
上記目的を達成するために１本発明は粒子と粒子懸濁液
との電気インピーダンスの差異に基づい念粒子の大きさ
に比例したパルス信号からそのベースラインの変動分を
出し、その変動分を原信号から差し引くことにより、パ
ルス信号が常にゼロ点ベルｔら立ち上がるようにした粒
子分析装置を提供する。
との電気インピーダンスの差異に基づい念粒子の大きさ
に比例したパルス信号からそのベースラインの変動分を
出し、その変動分を原信号から差し引くことにより、パ
ルス信号が常にゼロ点ベルｔら立ち上がるようにした粒
子分析装置を提供する。
本発明によれば、Ｓ濁液の濃度変化や外部雑音等のさま
ざまな原因によって引き起こされるベースラインの変動
に対しても常にゼロレベルから立ち立がる安定したパル
ス信号列が得られる。
ざまな原因によって引き起こされるベースラインの変動
に対しても常にゼロレベルから立ち立がる安定したパル
ス信号列が得られる。
又、微分回路や時定数切換スイッチ等を用いたときの様
な波形の歪がなく、又、大炎フな装置も必要なく正確な
計測が可能となる。
な波形の歪がなく、又、大炎フな装置も必要なく正確な
計測が可能となる。
以下この発明について図面を参照しながら詳述する。
第１図は本発明の一実施例で分析装置の構成を示す図で
ある。検出器（１）は、光学的（例えば投下光方式）、
又は電気的（例えば粒子と懸濁液との電気インピーダン
スの差異に基づく方式）Ｋ粒子を検出し、その大きさに
比例したパルスを発生する。この検出器（１）からのパ
ルス列は、ボトムピークホールド回路（２）によってベ
ースラインの信号のみが検出される。ボトムピークホー
ルド回路（２）の詳細については後述する。こうして得
られ九ベースライン信号は差動アンプ（３）Ｋよって黍
基検出器（１）よりの原信号から差し引かれる。その結
果、出力は常にゼロレベルよ多立ち上がる安定したアニ
ダシュート等による波形の歪のないパルス列となる。第
３図はその得られるパルス列の一例である。
ある。検出器（１）は、光学的（例えば投下光方式）、
又は電気的（例えば粒子と懸濁液との電気インピーダン
スの差異に基づく方式）Ｋ粒子を検出し、その大きさに
比例したパルスを発生する。この検出器（１）からのパ
ルス列は、ボトムピークホールド回路（２）によってベ
ースラインの信号のみが検出される。ボトムピークホー
ルド回路（２）の詳細については後述する。こうして得
られ九ベースライン信号は差動アンプ（３）Ｋよって黍
基検出器（１）よりの原信号から差し引かれる。その結
果、出力は常にゼロレベルよ多立ち上がる安定したアニ
ダシュート等による波形の歪のないパルス列となる。第
３図はその得られるパルス列の一例である。
このパルス列は弁別回路（４）に供給される。この弁別
回路（４）は計数・分類したい粒子パルスの上限値及び
下限値に対する設定した閾値ａ及びｂ６有し、善器差動
アンプ（３）からの出力がａ−ｂの範囲内にあるのか、
又は範囲外かを弁別する。弁別回路（４）の出力は計数
・分類記録器（５）に供給され計数及び分類し、記録さ
れる。
回路（４）は計数・分類したい粒子パルスの上限値及び
下限値に対する設定した閾値ａ及びｂ６有し、善器差動
アンプ（３）からの出力がａ−ｂの範囲内にあるのか、
又は範囲外かを弁別する。弁別回路（４）の出力は計数
・分類記録器（５）に供給され計数及び分類し、記録さ
れる。
次に≠母ボトムピークホールド回路（２）について説明
する。このボトムピークホールド回路（２）はその非反
転入力端子に検出器（１）の出力が供給されるコンパレ
ータ（６） ｔ 有する。このコンパレータ（６）の出
力端子ダイオード（７）を介してバッファアンプ（８ン
の入力端子に接続されている。このダイオードけ）はそ
のカソードが肴ワコンパレータ（６）の出力端子に、又
アノードが≠社バッファアンプ（８）の入力端子にそれ
ぞれ接続されている。このバッファアンプ（８）の出力
端子は、抵抗（１，１を介し−１ｍコンパレータ（６ン
の反転入力端子と接続されるとともに、差動アンダ（３
）の反転入力端子に接続されている。一方構器ダイオー
ド（７）のアノードと接地間に抵抗ａυ及びコンデンサ
ー（９）の直列回路が接続され、さらにこの抵抗（１１
）とコンデンサー（９）の共通接続点は抵抗ａりを介し
て正の電源子ｖ（１３に接続されている。
する。このボトムピークホールド回路（２）はその非反
転入力端子に検出器（１）の出力が供給されるコンパレ
ータ（６） ｔ 有する。このコンパレータ（６）の出
力端子ダイオード（７）を介してバッファアンプ（８ン
の入力端子に接続されている。このダイオードけ）はそ
のカソードが肴ワコンパレータ（６）の出力端子に、又
アノードが≠社バッファアンプ（８）の入力端子にそれ
ぞれ接続されている。このバッファアンプ（８）の出力
端子は、抵抗（１，１を介し−１ｍコンパレータ（６ン
の反転入力端子と接続されるとともに、差動アンダ（３
）の反転入力端子に接続されている。一方構器ダイオー
ド（７）のアノードと接地間に抵抗ａυ及びコンデンサ
ー（９）の直列回路が接続され、さらにこの抵抗（１１
）とコンデンサー（９）の共通接続点は抵抗ａりを介し
て正の電源子ｖ（１３に接続されている。
ベースライン抽出方法について説明する。通常のボトム
ピークホールド回路では、ペースツインの下方の変動に
は応答できるが、上方の変動献翰えば、外部の雑音等に
は追従できなかった。そこで本発明のボトムピークホー
ルド回路（２）では正の電圧ａｊと抵抗ｕｌＫ！って常
に正の値へコンデンサー（９）を充電させておく。この
充電の速度が、ベースラインの上方変動に対する追従速
度となる。ベースラインの変動はパルス１個の通常速度
に比べて非常に遅いため、抵抗ｒ１４によるコンデンサ
ー（９）への充電はボトムピーク抽出に関してはほとん
ど影響がない。
ピークホールド回路では、ペースツインの下方の変動に
は応答できるが、上方の変動献翰えば、外部の雑音等に
は追従できなかった。そこで本発明のボトムピークホー
ルド回路（２）では正の電圧ａｊと抵抗ｕｌＫ！って常
に正の値へコンデンサー（９）を充電させておく。この
充電の速度が、ベースラインの上方変動に対する追従速
度となる。ベースラインの変動はパルス１個の通常速度
に比べて非常に遅いため、抵抗ｒ１４によるコンデンサ
ー（９）への充電はボトムピーク抽出に関してはほとん
ど影響がない。
このような回路においてコンデンサー（９）は電源（１
３により充電される。今、この充電電圧Ｖｕｅｆ／とす
ると、この電圧ＶＲｅ ｆ ／は抵抗Ｉ、バッファアン
プ（８）及び抵抗Ｈ？介してコンパレータ（６）の反転
入力端子に達する。そしてこのコンパレータ（６）で検
出器１１）からの電圧Ｖｉｎと比較される。
３により充電される。今、この充電電圧Ｖｕｅｆ／とす
ると、この電圧ＶＲｅ ｆ ／は抵抗Ｉ、バッファアン
プ（８）及び抵抗Ｈ？介してコンパレータ（６）の反転
入力端子に達する。そしてこのコンパレータ（６）で検
出器１１）からの電圧Ｖｉｎと比較される。
今、この２つの電圧ｖｉｎ、Ｖｉｅｆの関係がＶｉｎ）
い状態）となり、正の電源＋Ｖ［３１及び抵抗（１３に
よるコンデンサー（９）への充電がゆりくりした速度で
行なわれる。その充電はＶＲｅｆがＶｉｎＫなるまで行
われる。そこでベースラインの上への変動についての追
従は、その変動速度が遅いため、この充電速度で十分で
ある。そして積上差動アンプ（３）の非反転端子には、
◆咎検出器（１）からのｖｉｎと１反転端子にはＶｕｅ
ｆ（＝Ｖｉｎ）が入力され、この差動アンプ（３）の出
カフ７ （Ｗｉｎ−Ｖｉｅｆ）はＯとなる。又粒子によ
るパルスがあるときは、その変動する速度が速いため、
前記の充電速度では追従できず１粒子のパルスについて
は影響はない。結局、ベースラインはゼロレベルより立
ち上がる粒子のパルスが得られる。
い状態）となり、正の電源＋Ｖ［３１及び抵抗（１３に
よるコンデンサー（９）への充電がゆりくりした速度で
行なわれる。その充電はＶＲｅｆがＶｉｎＫなるまで行
われる。そこでベースラインの上への変動についての追
従は、その変動速度が遅いため、この充電速度で十分で
ある。そして積上差動アンプ（３）の非反転端子には、
◆咎検出器（１）からのｖｉｎと１反転端子にはＶｕｅ
ｆ（＝Ｖｉｎ）が入力され、この差動アンプ（３）の出
カフ７ （Ｗｉｎ−Ｖｉｅｆ）はＯとなる。又粒子によ
るパルスがあるときは、その変動する速度が速いため、
前記の充電速度では追従できず１粒子のパルスについて
は影響はない。結局、ベースラインはゼロレベルより立
ち上がる粒子のパルスが得られる。
又、電圧Ｖｆｎ、Ｖｎｅｆの関係がＶ ｉ ｎ＜ＶＲｅ
ｆのときｆｉコンパレータ１６）の出力はＬ（通常−
１５ＶでＬ（Ｖｉｅｆ）で羞是ダイオードけ）はＯＮ状
態（導通状態）となり、砕七正の電源＋ＶαＪ及び抵抗
（１３によるコンデンサー（９）の電荷が肴喝コンパレ
ータ（６）により蟇い込まれる状態となシＶｉｅｆがＶ
ｉｎになるまで電位が落ちて行く。そしてＶｘｅｆがＶ
ｆｎになった時点でダイオード（７）はＯＦＦ状態とな
る。委剖差動アンプ（３）の非反転端子罠は壽起検出器
（１）からのＶｉｎと、反転端子にはＶｌｔｅｆ（＝Ｖ
ｉｎ）入力され、との差動アンプ（３）の出力（ｖｉｎ
−Ｖｉｅｆ）はＯとなる。
ｆのときｆｉコンパレータ１６）の出力はＬ（通常−
１５ＶでＬ（Ｖｉｅｆ）で羞是ダイオードけ）はＯＮ状
態（導通状態）となり、砕七正の電源＋ＶαＪ及び抵抗
（１３によるコンデンサー（９）の電荷が肴喝コンパレ
ータ（６）により蟇い込まれる状態となシＶｉｅｆがＶ
ｉｎになるまで電位が落ちて行く。そしてＶｘｅｆがＶ
ｆｎになった時点でダイオード（７）はＯＦＦ状態とな
る。委剖差動アンプ（３）の非反転端子罠は壽起検出器
（１）からのＶｉｎと、反転端子にはＶｌｔｅｆ（＝Ｖ
ｉｎ）入力され、との差動アンプ（３）の出力（ｖｉｎ
−Ｖｉｅｆ）はＯとなる。
結果として、変動速度の速い粒子パルスの波形には影響
なく、ベースラインの変動のみがボトムピークホールド
回路（２）により制御をうけ幹齢差動アンプ（３）の出
力はベースフィンが常に平担なゼロレベルより立ち上が
る粒子のパルスが得られ、よシ正確な粒子の計数・分類
が可能となる。
なく、ベースラインの変動のみがボトムピークホールド
回路（２）により制御をうけ幹齢差動アンプ（３）の出
力はベースフィンが常に平担なゼロレベルより立ち上が
る粒子のパルスが得られ、よシ正確な粒子の計数・分類
が可能となる。
本発明は上記の実施例以外に種々変形実施が可能である
。例えば前記ボトムピークホールド回路の代わりに第６
図に示すようなものが考えられる。
。例えば前記ボトムピークホールド回路の代わりに第６
図に示すようなものが考えられる。
前記検出器からのパルスが高速Ａ／Ｄコンバータ翰に入
力し１．ここからの出力は比較器＠によってラッチ儲に
ラッチされている初期値と比較され、高速Ａ／Ｄコンバ
ータ［株］からの出力が小さいときのみラッチ［有］が
書き換えられる。又ベースラインの上方への動きに対し
てカウンタＱυによってラッチ＠のデータはゆっく夛カ
ウントアツプされる様にしておく。ラッチの出力はＤ／
Ａコンバータ＠によってアナログ化され、前記差動アン
プへ入力される。
力し１．ここからの出力は比較器＠によってラッチ儲に
ラッチされている初期値と比較され、高速Ａ／Ｄコンバ
ータ［株］からの出力が小さいときのみラッチ［有］が
書き換えられる。又ベースラインの上方への動きに対し
てカウンタＱυによってラッチ＠のデータはゆっく夛カ
ウントアツプされる様にしておく。ラッチの出力はＤ／
Ａコンバータ＠によってアナログ化され、前記差動アン
プへ入力される。
その他、高速Ａ／Ｄコンバータ（イ）を用いずカウンタ
と比較器とラッチのみで構成することもできる。
と比較器とラッチのみで構成することもできる。
第１図は、本発明の実施例装置の概略構成図。
第２図は、外部雑音等で発生したパルスを示す図。
第３図は１本発明を用い友場合の安定したパルスを示す
図、第４図は１時定数切換スイッチを用いた従来装置の
概略構放図％第５図は、この従来装Ｒを用いた場合に起
こるアンダーシニートヲ示す図、第６図は、本発明の他
の実施例を示すボトムピークホールド回路の構成図であ
る。 １・・・検出器、２・・・ボトムピークホールド回路。 ３・・・差動アンプ、４・・・弁別回路、５・・・計数
・分類記録器、６・・・コンパレータ、７・・・ダイオ
ード、８・・・バッファアンプ、９・・・コンデンサ、
１０，１１，１２・・・抵抗、 １３・・・正電圧
端子、２０・・・高速Ａ／Ｄコンバータ。 ２１・・・カウンタ、２２・・・比較器、２３・・・ラ
ッチ、２４・・・Ｄ／Ａコンバータ。 代理人 弁理士 則近憲佑（−１！か１名）第１図 第２図 第３図 第４図 第５図
図、第４図は１時定数切換スイッチを用いた従来装置の
概略構放図％第５図は、この従来装Ｒを用いた場合に起
こるアンダーシニートヲ示す図、第６図は、本発明の他
の実施例を示すボトムピークホールド回路の構成図であ
る。 １・・・検出器、２・・・ボトムピークホールド回路。 ３・・・差動アンプ、４・・・弁別回路、５・・・計数
・分類記録器、６・・・コンパレータ、７・・・ダイオ
ード、８・・・バッファアンプ、９・・・コンデンサ、
１０，１１，１２・・・抵抗、 １３・・・正電圧
端子、２０・・・高速Ａ／Ｄコンバータ。 ２１・・・カウンタ、２２・・・比較器、２３・・・ラ
ッチ、２４・・・Ｄ／Ａコンバータ。 代理人 弁理士 則近憲佑（−１！か１名）第１図 第２図 第３図 第４図 第５図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 懸濁液中の粒子を検出しパルス信号を発生する検出器と
、 この検出器からのパルス信号のベースラインの変動値を
抽出する抽出回路と、この抽出回路により抽出した変動
値を原信号から差し引く差動回路と、 この差動回路からの出力を分析する分析手段とを具備し
た粒子分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27362884A JPS61153545A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 粒子分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27362884A JPS61153545A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 粒子分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61153545A true JPS61153545A (ja) | 1986-07-12 |
Family
ID=17530354
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27362884A Pending JPS61153545A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 粒子分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61153545A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63233352A (ja) * | 1987-03-20 | 1988-09-29 | Canon Inc | 粒子解析装置 |
| JP2020173259A (ja) * | 2015-12-25 | 2020-10-22 | 国立大学法人大阪大学 | 分類分析方法、分類分析装置および分類分析用記憶媒体 |
| WO2021192578A1 (ja) * | 2020-03-26 | 2021-09-30 | 株式会社アドバンテスト | 微粒子測定システム、計測装置 |
-
1984
- 1984-12-27 JP JP27362884A patent/JPS61153545A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63233352A (ja) * | 1987-03-20 | 1988-09-29 | Canon Inc | 粒子解析装置 |
| JP2020173259A (ja) * | 2015-12-25 | 2020-10-22 | 国立大学法人大阪大学 | 分類分析方法、分類分析装置および分類分析用記憶媒体 |
| WO2021192578A1 (ja) * | 2020-03-26 | 2021-09-30 | 株式会社アドバンテスト | 微粒子測定システム、計測装置 |
| GB2608243A (en) * | 2020-03-26 | 2022-12-28 | Advantest Corp | Fine particle measuring system, and measurement device |
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