JPS61150199A - Semiconductor storage device - Google Patents

Semiconductor storage device

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JPS61150199A
JPS61150199A JP59278013A JP27801384A JPS61150199A JP S61150199 A JPS61150199 A JP S61150199A JP 59278013 A JP59278013 A JP 59278013A JP 27801384 A JP27801384 A JP 27801384A JP S61150199 A JPS61150199 A JP S61150199A
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JP
Japan
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voltage
word line
transistor
writing
current
Prior art date
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Application number
JP59278013A
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Japanese (ja)
Inventor
Mitsuhiro Hamada
濱田 満広
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

PURPOSE:To restrict a parasitic thyristor effect and perform a stable writing operation by impressing a high voltage generated in a writing terminal during writing to a non-selected word line. CONSTITUTION:By connecting a restricted voltage impressing circuit 12 to a writing terminal,an electric potential of a word line in a non-selected condition is raised above the potential of a digit line. Accordingly, a circuit 12 operates, but since in resistances R1M, R2M a high resistance is selected, an electric current scarcely flows, a lowering of a voltage becomes a sum of a voltage between a collector and an emitter of a pnp FET Q1M, a voltage between the emitter and a base of an npn FET Q2M, a forward direction voltage of a diode D1M, a word line W1 has a high voltage, and an operation of a parasitic thyristor comprising a written cell and a writing cell in the same word line W1 can be prevented.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電気的に書込み可能な読み出し専用の半導体記
憶装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an electrically writable read-only semiconductor memory device.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

一般に電気的に書込み可能な半導体記憶装置では、メモ
リセル(以下、セルという。)としてベースオープンの
npn)9ンジスタを使用し、デジット線に接続された
工々ツタ側からワード線に接続された=レクタ側(普通
は=レクタ領域を共有して−る0)へ100m人前後の
電流を流し、セルの二々ツタ・ペース接合を!絡すると
とkよ多情報を書き込む。
In general, electrically writable semiconductor memory devices use NPN (npn) 9 transistors with open bases as memory cells (hereinafter referred to as cells), and the digit line is connected to the word line from the side connected to the digit line. A current of around 100 m is applied to the rectifier side (normally = 0 that shares the rector area), and the cells are joined together by two ivy paces! When connected, more information is written.

こ(MF込み創作は高電圧を伴うので、種々の寄生効果
が発生する。そのうち寄生pnp)をンジスタと寄生n
pn 、)ランジスタよシ構成される寄生サイリスタの
うち書込み時に悪影響をおよぼす次の2つの寄生サイリ
スタについて述べる。
This (MF-included creation involves high voltage, so various parasitic effects occur.Among them, parasitic PNP), the transistor and parasitic N
Among the parasitic thyristors configured with transistors (pn, ), the following two parasitic thyristors that have an adverse effect on writing will be described.

第1の寄生サイリスタは、同一のワード線にある書込み
済セルと未書込みセルによシ成るものである。第5図に
おいて、デジット線り、とワード線Wlを選択してセル
M、を書込むとする。この時非選択のワードNWtには
第6図に示す様に、pnp )9ンジスタQ重とnpn
 )ツンジスタQ、よ構成る寄生サイリスタができる。
The first parasitic thyristor consists of a written cell and an unwritten cell on the same word line. In FIG. 5, it is assumed that the digit line and word line Wl are selected to write into the cell M. At this time, the unselected word NWt includes pnp)9 registers Q and npn
) Thungister Q, a parasitic thyristor is formed.

ここで、QlはセルM、のベース、ワード線W1.セル
M、lのベースを各々エミッタ、ベース、コレクタとす
るpnpトランジスタ、Qtは、セルMBのエミッタ、
ベース、ワード線W□を各々エミッタ、ベース、コレク
タとするnpn )ランジスタでるる。ワードドライバ
ーWD、は非選択なので、ワード線WLの電位は約4.
4V、一方デジット線D!は書込み電流を流しているの
で約16Vまで上昇する。この九めワード線W1と基板
間の容量Cを充電する電流がpnpト?ンジスタQ1の
ペース電流として流れ、pnp)?ンジスタQ、がオン
し、pnp )ランジスタQ1とnpn )ランジスタ
Q、よ構成る寄生サイリスタが動作する。するとデビッ
ト線り、からの書込み電流の一部は寄生サイリスタ→セ
ルMH→ワードドライバーWD、という寄生電流通路を
通り、書込もうとしているセルMnに十分な書込み電流
が供給できないことになる。
Here, Ql is the base of cell M, word line W1. A pnp transistor whose emitter, base, and collector are the bases of cells M and l, respectively; Qt is the emitter of cell MB;
An npn (npn) transistor whose base and word line W□ are the emitter, base, and collector, respectively. Since the word driver WD is not selected, the potential of the word line WL is about 4.
4V, while digit line D! Since the write current is flowing, the voltage rises to about 16V. Is the current charging the capacitance C between the ninth word line W1 and the substrate pnp? flows as a pace current in transistor Q1, pnp)? transistor Q is turned on, and the parasitic thyristors consisting of transistor Q1 (pnp) and transistor Q (npn) operate. Then, a part of the write current from the debit line passes through the parasitic current path of parasitic thyristor→cell MH→word driver WD, and a sufficient write current cannot be supplied to the cell Mn to which data is to be written.

第2の寄生サイリスタは、2本のワード線間とその一方
にある書込み済セルによ構成るものである。第7図にお
いてデジット線りとワード線w8を選択してセルM21
を書込むものとする。非選択のワード線Wlにはすでに
書込み済セルM uがあると、第8図に示す様にワード
線Wt、W!間にはpnp )ランジスタQ、とnpn
)ランジスタQ4より成る寄生サイリスタができる。こ
こで、J)nJ) )ランジスタQ3は、セルM 11
のベース、ワードmw、、基板を各々エミッタ、ベース
、コレクタとし、npn)ランジスタQ1は、ワードm
Ws、基板、ワードMW意を各々コレクタ、ベース、工
ずツタとしている。デジット線りが書込み電流を流して
いるとき、前例と同様に16Vぐらいまで上昇する。こ
のため第8図において、ワード線W1と基板の間の寄生
容量Cの充電電流が、pnpトランジスタQ、のトリが
電流となりQso:rレクタ電流として1mA程度流れ
、コレクタすなわち基板へ吸収される。この電流通路の
寄生抵抗rは2にΩぐらいなので、npn )ラノジス
タQ4のペース電位は1mAx2にΩ−2Vまで上昇す
る。一方ワード線W!は選択状態なので電位は1V程度
であり 、npn )ランジスタQ。
The second parasitic thyristor consists of a written cell between and on one of the two word lines. In FIG. 7, select the digit line and word line w8 and select the cell M21.
shall be written. If there is already a written cell Mu on the unselected word line Wl, as shown in FIG. 8, the word lines Wt, W! In between are pnp) transistors Q, and npn
) A parasitic thyristor consisting of transistor Q4 is created. Here, J)nJ)) transistor Q3 is cell M11
The base, word mw, and substrate are the emitter, base, and collector, respectively, and the npn) transistor Q1 is word mw.
The Ws, the board, and the word MW are used as the collector, the base, and the workpiece, respectively. When the digit line is carrying a write current, it rises to about 16V as in the previous example. Therefore, in FIG. 8, the charging current of the parasitic capacitance C between the word line W1 and the substrate becomes a current of the pnp transistor Q, flows as a collector current of about 1 mA, and is absorbed into the collector, that is, the substrate. Since the parasitic resistance r of this current path is about 2Ω, the pace potential of the npn transistor Q4 rises to 1mA×2Ω−2V. On the other hand, word line W! Since it is in the selected state, the potential is about 1V, and the npn) transistor Q.

のベース・エミッタ間には2V−IV=IVの順バイア
スが印加される。このためnpn )ランジスタQ4は
オンし、トランジスタQ、、Q番より成る寄生サイリス
タが動作し、デジット線りからの書込み電流の一部は寄
生サイリスタの方を流れ、書込もうとしているセルMt
1には十分な書込み電流が供給されないことになる。
A forward bias of 2V-IV=IV is applied between the base and emitter of. Therefore, transistor Q4 (npn) is turned on, and the parasitic thyristor consisting of transistors Q, , Q operates, and a part of the write current from the digit line flows through the parasitic thyristor, causing the cell Mt to be written to.
1 will not be supplied with sufficient write current.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

この様に、従来の電気的に書込み可能な読出し専用の半
導体記憶装置tlcおいては、書込み時に本来の書込み
通路と並列に構成される寄生サイリスタが動作してしま
うため、目的とするセルに十分な書込み電流が供給され
ず、セルを書込むことができないという問題点があった
In this way, in the conventional electrically writable read-only semiconductor memory device TLC, the parasitic thyristor configured in parallel with the original write path operates during writing, so There was a problem in that a suitable write current was not supplied and cells could not be written.

従って、本発明の目的は、書込み動作時に寄生サイリス
タが動作することなく安定した書込みが行える電気的に
蟹込み可能な読出し専用の半導体記憶装置を提供するこ
とにある。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide an electrically writable read-only semiconductor memory device that can perform stable writing without operating a parasitic thyristor during a writing operation.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明の半導体記憶装置は、書込み端子より電流を流し
込み接合を破壊するととKよ多情報を書込む半導体記憶
装置において、書込み時に該書込み端子に発生する電圧
を非選択のワード線に印加する抑制電圧印加回路を有し
ている。
The semiconductor memory device of the present invention suppresses the application of the voltage generated at the write terminal to unselected word lines during writing in a semiconductor memory device in which more than K amount of information is written by flowing a current from the write terminal to destroy the junction. It has a voltage application circuit.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例について図面を参照して説明+る
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明の第1の実施例の要部を示す回路図であ
る。第1図において、書込み回路11は説明の都合上、
書込み端子(通常は出力端子)0は1つだけで、しかも
デジット線はDlD、と2末路12が本発明によるもの
である。pnp )ランジスタQIMとnpn)ランジ
スタQtMKよシサイリスタを構成し、そのトリガ電流
を与えるためにダイオードDoMが入っている。このダ
イオードDoMは、pnpトランジスタQ I Mのエ
ミッタに高圧が印加された時にブレークダウンを起こし
、npn )ランジスタ(hmにペース電流を供給する
ことにより動作し、pnpトランジスタQIMのエミッ
タに印加された高電圧が取り除かれると不動作となる。
FIG. 1 is a circuit diagram showing essential parts of a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, for convenience of explanation, the write circuit 11 is
According to the present invention, there is only one write terminal (usually an output terminal) 0, a digit line DID, and two terminals 12. The pnp) transistor QIM and the npn) transistor QtMK constitute a thyristor, and a diode DoM is included to provide a trigger current. This diode DoM breaks down when a high voltage is applied to the emitter of the pnp transistor QIM, and operates by supplying a pace current to the npn) transistor (hm). It becomes inactive when the voltage is removed.

このサイリスタをnpn )ランジスタQIMのエミッ
タから抵抗RIM、ダイオードDIMtMてワード線W
1に接続する。他のワード線についても同様である。な
お、第1の実施例におけるワードドライバーWD s 
、 WD xの回路は通常使用される第2図に示してい
るものとする。この第2図において、npn)ランジス
タQzmは、ワード線を選択している時はオン、非選択
の時はオフしでいて、抵抗R1!、ダイオードI)zt
によシミ源電圧Vcc近くまでつシ上げられる。
This thyristor is connected from the emitter of transistor QIM to resistor RIM, diode DIMtM to word line W.
Connect to 1. The same applies to other word lines. Note that the word driver WD s in the first embodiment
, WD x is shown in FIG. 2, which is commonly used. In FIG. 2, the npn) transistor Qzm is on when the word line is selected and off when the word line is not selected, and the resistor R1! , diode I)zt
The voltage is raised to near the stain source voltage Vcc.

再び第1図において、デコーダ(図示していない。)及
びトリガ回路13によシ、デジット線D3につながって
いる回路が選択され(npn )ランジスタQ謂にペー
ス電流が供給される。 )書込み端子0から100mA
程度の電流が流し込まれているものとする。書込み仕様
によシ書込み端子0は最大20Vまで上昇する。デジッ
ト線D!は、ダイオードDc、pnpトランジスタQs
wのコレクタ・エミッタ間電圧+ npn )ランジス
タQ2w。
Referring again to FIG. 1, the circuit connected to the digit line D3 is selected (npn) by the decoder (not shown) and the trigger circuit 13, and a pace current is supplied to the transistor Q. )Write terminal 0 to 100mA
It is assumed that a certain amount of current is flowing. Depending on the write specifications, write terminal 0 rises to a maximum of 20V. Digit line D! is a diode Dc, a pnp transistor Qs
Collector-emitter voltage of w+npn) transistor Q2w.

Q3wのエミッタ・ペース接合の電圧による電位降下分
、IV+0.4V+1.4V+1.2V=4Vを引いた
16Vまで上昇する。次にワード線の電位について考え
る。ワード線W、が非選択、ワード線W、が選択されて
いるものとする。本発明による抑制電圧印加回路12が
ない場合は、ワード線W1の電位は、第2図におけるワ
ードドライバー回路において、電源電圧VCCから抵抗
R+!8.ダイオードD□によシつられた約4,4vと
なる。このため従来の方法では第6図におけるpnp 
)ランジスタQ、がオンして寄生サイリスタが動作した
シ、第8図におけるpnp )ツンジスタQ3のエミッ
タ・コレクタ間のリーク電流によるnpn トランジス
タQ4のオン→pnp )ランジスタQ、のオン→サイ
リスタの動作という寄生電流通路が形成されていた0 本発明による抑制電圧印加回路12は、書込み端子に接
続することによシ、非選択状態にあるワード線の電位を
デジット線の電位以上まで上げる働きをする。上記の様
に書込み端子0は最大20v−1で上昇し、ダイオード
DCI/Cよる電位降下IVを引くと%pnp )ラン
ジスタQ1wのエミッタは19Vとなる。従って、抑制
電圧印加回路12は動作するが、抵抗R,,,R1Mは
高抵抗(例えば20にΩ)が選ばれているので、電流が
ほとんど流れず、電圧降下は、PnP)ランジスタQI
Mの;レクタ・エミッタ間電圧e npn ):yンジ
スタQ!Mのエミッタ・ペース間電圧、ダイオードDI
Mの順方向電圧の和であ!り0.3V+0.8V+0.
6V=1.7Vとなる。結局ワード線W、の電位は19
V−1,7V −17、3Vまで上げられる。このため
第6図に示す様に同一のワード線W、にある誉込み済セ
ルと未書込みセルよ9成る寄生サイリスタの動作を防ぐ
ことができる。すなわち、第6図において、pnpトラ
ンジスタQ、のエミッタ電位はデジット線り。
The voltage rises to 16V by subtracting the potential drop due to the voltage of the emitter-pace junction of Q3w, IV+0.4V+1.4V+1.2V=4V. Next, consider the potential of the word line. It is assumed that word line W is not selected and word line W is selected. In the absence of the suppression voltage application circuit 12 according to the present invention, the potential of the word line W1 changes from the power supply voltage VCC to the resistance R+! in the word driver circuit in FIG. 8. The voltage is about 4.4V, which is drawn by the diode D□. Therefore, in the conventional method, pnp in FIG.
) transistor Q is turned on and the parasitic thyristor operates, pnp in Figure 8) transistor Q4 is turned on due to leakage current between the emitter and collector of transistor Q3 → pnp) transistor Q is turned on → thyristor operates A parasitic current path was formed.The suppressing voltage applying circuit 12 according to the present invention functions to raise the potential of a word line in a non-selected state to a level higher than the potential of a digit line by being connected to a write terminal. As mentioned above, the write terminal 0 rises by a maximum of 20V-1, and when the potential drop IV caused by the diode DCI/C is subtracted, the emitter of the transistor Q1w becomes 19V. Therefore, the suppression voltage application circuit 12 operates, but since the resistors R,..., R1M are selected to have high resistance (for example, 20Ω), almost no current flows, and the voltage drop is caused by the voltage drop caused by the PnP transistor QI.
M's; rector-emitter voltage e npn ): ynister Q! Emitter-to-pace voltage of M, diode DI
The sum of the forward voltages of M! 0.3V+0.8V+0.
6V=1.7V. In the end, the potential of word line W is 19
It can be raised to V-1,7V-17,3V. Therefore, as shown in FIG. 6, the operation of a parasitic thyristor consisting of a written cell and an unwritten cell on the same word line W can be prevented. That is, in FIG. 6, the emitter potential of the pnp transistor Q is on the digit line.

の16V、ペース電位はワード線W、の電位17.3■
であるため、pnpトランジスタQ1はオンすることが
ない。よりて書込み電流をすべてセルM0に流すことが
できる。なお、この場合選択されたワード線W、に一抑
制電圧印加回路工2よシ抵抗R■、ダイオードD0を介
してサイリスタの動作電流が流れるが、この動作電流は
前記のように無視できる程度に小さいので、他に影響す
ることはない。
16V, the pace potential is word line W, potential 17.3■
Therefore, the pnp transistor Q1 is never turned on. Therefore, all the write current can be passed through the cell M0. In this case, the operating current of the thyristor flows through the selected word line W, the suppression voltage application circuit 2, the resistor R, and the diode D0, but this operating current is negligible as described above. It's small so it won't affect anything else.

一方第8図に示す様に、2本のワード線間W1゜W、と
、その一方のワード線W1にある書込み済セルよ9成る
寄生サイリスタについても、同じことが言える。すなわ
ち、第8図において、デジット線りは16Vまで上昇す
るが、ワード線Wlの電位は173vなので、ワード線
W1と基板の間の寄生容量Cの充電電流は流れず、pn
p)?ンジスタQ3のトリガ電流をなくすことができる
。従ってpnp)、yンジスタQ、のオンが防けるので
、トランジスタQ!、Q+よ)成る寄生サイリスタの書
込み電流のもれをなくすことができる。
On the other hand, as shown in FIG. 8, the same can be said of the parasitic thyristor 9 between the two word lines W1°W and the written cell on one of the word lines W1. That is, in FIG. 8, the digit line rises to 16V, but the potential of the word line Wl is 173V, so the charging current of the parasitic capacitance C between the word line W1 and the substrate does not flow, and the pn
p)? The trigger current of the transistor Q3 can be eliminated. Therefore, transistor Q! pnp) and transistor Q can be prevented from turning on. , Q+) leakage of the write current of the parasitic thyristor can be eliminated.

第3図は本発明の第2図の実施例の要部を示す回路図で
ある。本実施例は、第1図に示す第1の実施例において
、ワード線W、、W、を高電圧につるためのダイオード
DIM、抵抗R1MをワードドライバーWD、/の中に
とシこんだものである。そのワードドライバー回路を第
4図に示す。第4図において、上記のり、M、RIMに
相当するものがダイオードD4m、抵抗R41である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a main part of the embodiment of the present invention shown in FIG. 2. In this embodiment, in the first embodiment shown in FIG. 1, a diode DIM and a resistor R1M for connecting the word lines W, , W, to a high voltage are inserted into the word driver WD, /. It is. The word driver circuit is shown in FIG. In FIG. 4, the diode D4m and the resistor R41 correspond to the above glue, M, and RIM.

抵抗R4,、ダイオードD48は読み出し時にnpn 
)’)ンジスタQ41のコレクタ電流を供給するために
ある゛。端子MHは第3図における抑制電圧印加回路1
20npn トランジスタQ!Mのエミッタへとつなが
っている。
Resistor R4, diode D48 is npn during reading.
)') It is for supplying the collector current of the transistor Q41. Terminal MH is the suppression voltage application circuit 1 in FIG.
20npn transistor Q! It is connected to the emitter of M.

動作は第1の実施例の場合・と全く同じである。The operation is exactly the same as in the first embodiment.

なお、本回路が通常の読出し動作に支障がないのは明ら
かであるO C発明の効果〕 以上、詳細に説明したとお多、本発明によれば、上記手
段を有しているので、書込み時に書込み端子に発生する
高電圧を非選択のワードil[K印加することによシ、
寄生サイリスタ効果がおさえられ、安定した書込み動作
が行える電気的に書込み可能な読出し専用の半導体記憶
装置が得られる。
Note that it is clear that this circuit does not interfere with normal read operations.The effect of the OC invention has been explained above in detail.According to the present invention, since it has the above means, it is possible to By applying the high voltage generated at the write terminal to the unselected word il[K,
An electrically writable read-only semiconductor memory device is obtained in which parasitic thyristor effects are suppressed and stable write operations can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の第XO実施例の要部を示す同図、第4
図は第3図中のワードドライバーの回路図、第5図と第
6図及び第7図と第8図はそれぞれ従来の半導体記憶回
路における寄生サイリスタ11・・・・・・書込み回路
、12・・・・・・抑制電圧印加回路、13・・・・・
・トリガ回路、Dl sDl・・・・・・デジット線、
   Da  、   D、、、  D  IM、  
D、M、  D、l 、  D、、   、  D、、
[D4j・・・ダイオード、MH,−・・・・端子、0
・・・・・・書込み端子、QIM* Qtws” Pn
P ) 77ジスタ、Q1MIQ*wa Qtws Q
41 rQ4r′npn )ランジメタ)B+、M、 
R,、、R,1,B+、!、 B+4.−抵抗、v c
 e ”” ”’電源(電源電圧)、WD、、WD、/
、WD、、WD、/・・・・・・ワードドライバー。 ’i、Dz:  アンシ1ント痒 D、       ρ2
FIG. 1 shows the main part of the XO embodiment of the present invention, and FIG.
The figure shows a circuit diagram of the word driver in FIG. 3, and FIGS. 5 and 6, and FIGS. 7 and 8 respectively show a parasitic thyristor 11, write circuit, 12, etc. in a conventional semiconductor memory circuit. ...Suppression voltage application circuit, 13...
・Trigger circuit, Dl sDl... digit line,
Da, D,, D IM,
D, M, D, l, D,, , D,,
[D4j...Diode, MH, -...Terminal, 0
・・・・・・Write terminal, QIM* Qtws” Pn
P) 77 jista, Q1MIQ*wa Qtws Q
41 rQ4r'npn) range meta) B+, M,
R,,,R,1,B+,! , B+4. - resistance, v c
e ”” ”'Power supply (power supply voltage), WD,, WD, /
, WD, , WD, /... Word driver. 'i, Dz: Anonymous itching D, ρ2

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)書込み端子より電流を流し込み接合を破壊するこ
とにより情報を書込む半導体記憶装置において、書込み
時に該書込み端子に発生する電圧を非選択のワード線に
印加する抑制電圧印加回路を有することを特徴とする半
導体記憶装置。
(1) In a semiconductor memory device in which information is written by flowing a current from a write terminal to destroy a junction, it is possible to include a suppressing voltage application circuit that applies a voltage generated at the write terminal during writing to an unselected word line. Characteristic semiconductor memory device.
(2)抑制電圧印加回路がサイリスタ構造を持ち、書込
み時に動作し読出し時には動作しない回路からなる特許
請求の範囲第(1)項記載の半導体記憶装置。
(2) The semiconductor memory device according to claim (1), wherein the suppression voltage application circuit has a thyristor structure, and is comprised of a circuit that operates during writing and does not operate during reading.
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