JPS61149965A - Production of amorphous silicon photosensitive body - Google Patents
Production of amorphous silicon photosensitive bodyInfo
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- JPS61149965A JPS61149965A JP27533584A JP27533584A JPS61149965A JP S61149965 A JPS61149965 A JP S61149965A JP 27533584 A JP27533584 A JP 27533584A JP 27533584 A JP27533584 A JP 27533584A JP S61149965 A JPS61149965 A JP S61149965A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電子写真感光体に係り、特にプラズマCVD法
を用いて導電性基板上に成膜され、その感光体表面に表
面保護層を有するアモルファスシリコン感光体の製造方
法に関する。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to an electrophotographic photoreceptor, in particular an electrophotographic photoreceptor that is formed on a conductive substrate using a plasma CVD method and has a surface protective layer on the surface of the photoreceptor. The present invention relates to a method of manufacturing an amorphous silicon photoreceptor.
光導電層を周囲に形成した記録ドラムの前記光導電層を
一様に帯電させ、前記光導電層に対して印字情報に基づ
いてレーザ光を選択的に照射して該光導電層の帯電電位
を選択的に低下させて潜像を形成後、その潜像形成箇所
に帯電トナーを付着させて現像し、この現像した印字画
像を記録紙に転写記録するレーザプリンタの如き電子写
真装置は周知である。The photoconductive layer of a recording drum having a photoconductive layer formed around it is uniformly charged, and the photoconductive layer is selectively irradiated with laser light based on printed information to increase the charged potential of the photoconductive layer. Electrophotographic devices such as laser printers are well-known, which selectively lower the latent image to form a latent image, develop the latent image by attaching charged toner to the area where the latent image is formed, and transfer and record the developed printed image onto recording paper. be.
このような光導電層としては、従来よりセレン(Se)
系の材料が用いられていたが、このSeは有害であり、
長時間使用した後、廃棄する場合に公害問題が発生する
問題があり、また機械的強度が小さく光導電層の表面に
傷が発生して、長時間使用すると印字品位が低下する等
問題が多い。Conventionally, selenium (Se) has been used as such a photoconductive layer.
Se-based materials were used, but this Se is harmful;
There is a problem of pollution when discarded after long-term use, and there are many problems such as poor mechanical strength and scratches on the surface of the photoconductive layer, which deteriorates printing quality when used for a long time. .
そこで最近はアルミニウム(All)よりなる回転体の
周囲に光導電層としてSeの代わりに、人体に無害でか
つ機械的強度の大きいアモルファスシリコン層を形成し
た記録ドラムが開発されている。Therefore, recently, a recording drum has been developed in which an amorphous silicon layer, which is harmless to the human body and has high mechanical strength, is formed as a photoconductive layer around a rotating body made of aluminum (All) instead of Se.
ところでこのような電子写真感光体の特性として、感光
体表面に必要な電荷を蓄積するためには、光を照射しな
い場合の抵抗、即ち暗抵抗が10 〜1′+
10 Ω−cm以上必要である。ところがアモルファ
スシリコンの場合、少量の■族環子、例えばボロン(B
)をドープすることにより、高抵抗化を図っても10
Ω−儂の抵抗しか得られない。By the way, as a characteristic of such an electrophotographic photoreceptor, in order to accumulate the necessary charge on the surface of the photoreceptor, the resistance when no light is irradiated, that is, the dark resistance, must be 10 to 1'+10 Ω-cm or more. be. However, in the case of amorphous silicon, a small amount of group II rings, such as boron (B
) to increase the resistance by doping with 10
Ω - I can only get my resistance.
従ってアモルファスシリコンを感光体として使用するた
めには、第2図に示すように導電性基体1とアモルファ
スシリコン感光体層2の間に、Siにボロン(B)等の
■族環子をを高濃度に添加してP型としたアモルファス
シリコン層、或いはSiに■族環子を高濃度に添加して
N型としたアモルファスシリコン層を、それぞれ正帯電
用の感光体、または負帯電用の感光体のプロ7キング層
3として設け、このブロッキング層3で導電性基体1か
らの電荷の注入を阻止している。Therefore, in order to use amorphous silicon as a photoreceptor, as shown in FIG. An amorphous silicon layer made into a P-type by adding a high concentration of Si, or an amorphous silicon layer made into an N-type by adding a group II ring to Si in a high concentration, is used as a photoreceptor for positive charging or a photoreceptor for negative charging, respectively. This blocking layer 3 prevents charge injection from the conductive substrate 1.
また更にアモルファスシリコン感光層2の表面には、こ
の感光体を帯電させる時に用いるコロナ放電器によって
、感光体の表面に発生するオゾンガスの影響により、ア
モルファスシリコン感光体層20表面が損傷されるのを
防止する目的で、Siと炭素(C)の化合物である炭化
珪素系化合物、或いはSiと窒素(N)化合物である窒
化珪素系化合物が表面保護層4として形成され、このよ
うなブロッキング層3、アモルファスシリコン感光体層
2、表面保護層4から構成される感光体をアモルファス
シリコン感光体と称している。Furthermore, the surface of the amorphous silicon photoreceptor layer 2 is protected from being damaged by ozone gas generated on the surface of the photoreceptor by a corona discharger used to charge the photoreceptor. In order to prevent this, a silicon carbide compound which is a compound of Si and carbon (C), or a silicon nitride compound which is a compound of Si and nitrogen (N) is formed as the surface protective layer 4. A photoreceptor composed of an amorphous silicon photoreceptor layer 2 and a surface protection layer 4 is referred to as an amorphous silicon photoreceptor.
またこのような構造のアモルファスシリコン感光体は、
導電性基体1よりアモルファスシリコン感光体層2に対
して電荷の移動を阻止するブロッキング層3と、コロナ
放電器によってアモルファスシリコン感光層2の表面が
損傷するのを防止する表面保護層4と、光に感度を有し
電子、正孔を発生する感光体層2に於けるようにそれぞ
れの機能が分離しているので機能分離型アモルファスシ
リコン感光体と称している。In addition, an amorphous silicon photoreceptor with such a structure is
A blocking layer 3 prevents the transfer of charges from the conductive substrate 1 to the amorphous silicon photoreceptor layer 2; a surface protection layer 4 prevents the surface of the amorphous silicon photoreceptor layer 2 from being damaged by a corona discharger; The amorphous silicon photoreceptor is called a functionally separated amorphous silicon photoreceptor because its respective functions are separated, such as in the photoreceptor layer 2 which is sensitive to and generates electrons and holes.
また第3図に示すように導電性基体1)の上に前記した
ブロッキング層を形成することなく、直接分厚くアモル
ファスシリコン感光体層12を形成し、その感光体層の
抵抗値を高めた高抵抗型アモルファスシリコンの場合で
も、そのアモルファスシリコン感光体層12の上には、
コロナ放電器による感光体層12の損傷を防ぐために前
記した表面保護層13が通常形成されている。In addition, as shown in FIG. 3, a thick amorphous silicon photoreceptor layer 12 is directly formed on the conductive substrate 1) without forming the above-mentioned blocking layer, and the resistance value of the photoreceptor layer is increased. Even in the case of type amorphous silicon, on the amorphous silicon photoreceptor layer 12,
The above-mentioned surface protective layer 13 is usually formed to prevent damage to the photoreceptor layer 12 by a corona discharger.
ところで、従来このような表面保護層となる炭化珪素系
化合物を形成する場合、容易に入手できる炭素の水素化
合物であるエチレン(C2H4)ガスとSiの水素化合
物であるシラン(SiH4)ガスや、或いはC2H4ガ
スとジシラン(Si2H6)ガスとの混合ガスを、プラ
ズマCVD法により分解する方法がある。また窒化珪素
系化合物を形成する際、容易に入手できるアンモニア(
NHa)ガスと5iHaガスや、あるいはNH,ガスと
Si2H6ガスとの混合ガスをプラズマCVD法で分解
することで形成していた。By the way, conventionally, when forming a silicon carbide compound to serve as such a surface protective layer, ethylene (C2H4) gas, which is an easily available hydrogen compound of carbon, and silane (SiH4) gas, which is a hydrogen compound of Si, or There is a method of decomposing a mixed gas of C2H4 gas and disilane (Si2H6) gas by plasma CVD. In addition, when forming silicon nitride compounds, easily available ammonia (
It was formed by decomposing a mixed gas of NHa) gas and 5iHa gas, or a mixed gas of NH gas and Si2H6 gas using a plasma CVD method.
然し、このようなSiH4ガスやSi2 H6ガスの如
きシラン系ガスと炭化水素系ガスのC2H4ガスとの混
合ガスをプラズマCVD法で分解すると、シラン系ガス
と炭化水素系ガスとの間に於ける分解のされ方が、各々
のガス圧や、両者のガスの混合割合等、アモルファスシ
リコン層の成膜条件により異なり、そのため形成される
感光体膜の光導重度とか、形成される結晶の原子組成比
とかの膜質が一定の値に制御された表面保護層が得られ
ないといった問題があった。However, when a mixed gas of silane gas such as SiH4 gas or Si2 H6 gas and C2H4 gas, which is a hydrocarbon gas, is decomposed by the plasma CVD method, a The way in which the amorphous silicon layer is decomposed depends on the deposition conditions of the amorphous silicon layer, such as the pressure of each gas and the mixing ratio of both gases, and therefore the degree of light transmission of the photoreceptor film formed and the atomic composition ratio of the crystals formed. There was a problem that it was not possible to obtain a surface protective layer whose film quality was controlled to a constant value.
上記問題点は、導電性基板上に形成され、表面に保護層
を有するアモルファスシリコン感光体の前記表面保護層
を、メチル基にて水素原子を置換したシラン系ガスのみ
を単独に分解して形成する本発明のアモルファスシリコ
ン感光体の製造方法によって解決される。The above problem can be solved by decomposing the surface protective layer of an amorphous silicon photoreceptor, which is formed on a conductive substrate and has a protective layer on the surface, solely with a silane gas in which hydrogen atoms are replaced with methyl groups. This problem is solved by the method of manufacturing an amorphous silicon photoreceptor of the present invention.
即ち、本発明のアモルファスシリコン感光体の製造方法
は、アモルファスシリコン感光体層の表面保護層を、ジ
メチルシラン(St(CHO) 2 H2)、テトラメ
チルジシラン(Siz (CH3) 4 H2)等メチ
ル基とシリコン原子の比が2=1のガス単体を分解する
ことにより、ガス圧等の成膜条件が変化した場合でも、
常に同じ特性の膜、即ち組成が((1”0−3(”o、
44’ H)となる表面保護層が得うレるようにしたも
のである。That is, in the method of manufacturing an amorphous silicon photoreceptor of the present invention, the surface protective layer of the amorphous silicon photoreceptor layer is formed by using a methyl group such as dimethylsilane (St(CHO) 2 H2) or tetramethyldisilane (Siz (CH3) 4 H2). By decomposing a single gas with a ratio of 2 = 1 to silicon atoms, even if the film formation conditions such as gas pressure change,
A film with always the same characteristics, that is, the composition ((1"0-3("o,
44'H) so that a surface protective layer can be obtained.
以下、図面を用いながら本発明の一実施例につき詳細に
説明する。Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
第1図は本発明の方法でアモルファスシリコン感光体を
製造するための装置を示す模式図である。FIG. 1 is a schematic diagram showing an apparatus for manufacturing an amorphous silicon photoreceptor by the method of the present invention.
図示するように加熱ヒータ21を内部に設けた円筒状の
〜のドラム22が、気密に封止した容器23内に設置さ
れ、モータ24によって回転されている。As shown in the figure, a cylindrical drum 22 having a heater 21 provided therein is placed in an airtightly sealed container 23 and rotated by a motor 24 .
このドラム22の周囲には、内部が中空で二重構造とな
っている円筒状の電極25が設けられ、この二重構造と
なっている電極25の内部にはアモルファスシリコン感
光体の表面保護層の形成用ガスが導入されるように成っ
ており、その電極25のドラム22と対向する面には多
数のガス排出口26が設けられている。この電極25は
容器23の外部に導出され、その端部に高周波電源27
が接続されている。また内部が中空の電極26に接続さ
れているガス導入管28には、バルブ29.30 、ガ
ス流量計31を介してジボラン(B2H6)ガスボンベ
32に接続され、更にバルブ33.34 、流量計35
を介してジシラン(5i2Hs)ガスボンベ36に接続
され更にバルブ37 、3B、流量計39を介してジメ
チルシラン((CH3) 25iH2)ガスボンベ40
に接続されている。A cylindrical electrode 25 that is hollow inside and has a double structure is provided around the drum 22, and inside the electrode 25 that has a double structure is a surface protective layer of an amorphous silicon photoreceptor. A forming gas is introduced into the electrode 25, and a large number of gas exhaust ports 26 are provided on the surface of the electrode 25 facing the drum 22. This electrode 25 is led out to the outside of the container 23, and a high frequency power source 27 is connected to the end thereof.
is connected. Further, the gas introduction pipe 28 connected to the hollow electrode 26 is connected to a diborane (B2H6) gas cylinder 32 via a valve 29.30 and a gas flow meter 31, and further includes a valve 33.34 and a flow meter 35.
is connected to a disilane (5i2Hs) gas cylinder 36 through a valve 37, 3B, and a dimethylsilane ((CH3) 25iH2) gas cylinder 40 through a flowmeter 39.
It is connected to the.
また容器23の排気口41には、バルブ42を介してメ
カニカルブースタポンプ43およびロータリーポンプ4
4が接続され、またバルブ45を介してディフュージョ
ンポンプ46が接続され、バルブ47を介してロータリ
ーポンプ48が接続されている。Further, a mechanical booster pump 43 and a rotary pump 4 are connected to the exhaust port 41 of the container 23 via a valve 42.
4 is connected, a diffusion pump 46 is connected through a valve 45, and a rotary pump 48 is connected through a valve 47.
このような装置を用いて第1図に示すような機能分離型
のアモルファスシリコン感光体を製造する場合について
述べる。A case will be described in which a functionally separated amorphous silicon photoreceptor as shown in FIG. 1 is manufactured using such an apparatus.
まず容器23内にドラム22を設置し、バルブ45.4
7を開放してディフュージョンポンプ46、ロータリー
ポンプ48を用いて容器23内を1O−6torrの真
空度に成るまで排気する0次いで加熱ヒータ21を用い
てドラム22を200℃〜300℃になるまで加熱する
。First, the drum 22 is installed in the container 23, and the valve 45.4 is
7 is opened and the inside of the container 23 is evacuated to a degree of vacuum of 1O-6 torr using the diffusion pump 46 and the rotary pump 48. Next, the drum 22 is heated to 200°C to 300°C using the heater 21. do.
更にバルブ29,30.33.34を開放にして82H
6ガスおよびSi2H6ガスを容器23内に導入して真
空度を0.5torrにした後、高周波電源27を用い
て電極26とドラム22間に高周波電圧を印加してグロ
ー放電を発生させ、この導入されたガスをプラズマ状態
にして、ドラム22上にそのガスの分解した成分を付着
させて第2図に示すブロッキング層3をo、oiμ1)
〜1μmの厚さに形成する。Furthermore, valves 29, 30, 33, and 34 are opened and 82H
6 gas and Si2H6 gas are introduced into the container 23 to bring the degree of vacuum to 0.5 torr, and then a high frequency voltage is applied between the electrode 26 and the drum 22 using the high frequency power supply 27 to generate a glow discharge. The decomposed gas is made into a plasma state, and the decomposed components of the gas are deposited on the drum 22 to form the blocking layer 3 shown in FIG.
Form to a thickness of ~1 μm.
次いでB2H6ガスの流量を絞った状態にしてバルブ2
9.30,33.34を開放にした状態で、Si2H6
ガスとB2H6ガスを容器23内に導入してポロン(B
)が微量に添加された第2図に示すアモルファスシリコ
ン感光体層2を、5〜30μmの厚さに形成する。Next, the flow rate of B2H6 gas is reduced and valve 2 is opened.
With 9.30 and 33.34 open, Si2H6
The gas and B2H6 gas are introduced into the container 23 and Poron (B
) is added to an amorphous silicon photoreceptor layer 2 shown in FIG. 2 to a thickness of 5 to 30 μm.
更にバルブ29,30,33.34を閉じ、バルブ37
.38を開放にして、容器23内に((CHa )25
iH2)ガスを単独に導入して、炭化珪素化合物よりな
り、第2図に示す表面保護層4を0.01〜1μmの厚
さに形成する。Furthermore, valves 29, 30, 33, and 34 are closed, and valve 37 is closed.
.. 38 is opened and ((CHa)25 is in the container 23.
iH2) A gas is introduced singly to form a surface protective layer 4 made of a silicon carbide compound and shown in FIG. 2 to a thickness of 0.01 to 1 μm.
このように表面保護層4を((CHa )25iH2)
ガスのみで、単独のガスを用いて形成することで、Si
原子とメチル基とが1=2の割合となっており、この割
合でSiとCとが分解されるため、常に光導重度や、形
成される結晶の原子組成比の安定した表面保護層4が得
られる。またこのようにして形成されたアモルファスシ
リコンの表面保護層4の組成を、電子プローブマイクロ
アナリシス(EPMA)の如き分析器で調査した処、化
−si、J、c、、6;Hの組成を有しており、この表
面保護層の暗抵抗はlOΩ−0以上となってこの表面を
帯電させた時にも、その表面の電荷が内部に注入される
のをブロックするブロッキング特性も良く、更にコロナ
放電器に対する放電によって、感光体の周囲に発生する
オゾンガス等に依っても劣化され難い良好な表面保護層
が得られた。また光学的バンドギャップも2.8eVと
大きいため、レーザ光等を用いて潜像を形成する際、こ
のレーザの透過性も良好な表面保護層が得られた。In this way, the surface protective layer 4 ((CHa)25iH2)
By forming using a single gas, Si
The ratio of atoms to methyl groups is 1=2, and since Si and C are decomposed at this ratio, the surface protective layer 4 is always stable in the light guiding degree and the atomic composition ratio of the formed crystal. can get. Furthermore, the composition of the amorphous silicon surface protective layer 4 thus formed was investigated using an analyzer such as an electron probe microanalysis (EPMA), and the composition of -si, J, c, 6; H was determined. The dark resistance of this surface protective layer is 10Ω-0 or more, and even when this surface is charged, it has good blocking properties that block the charge on the surface from being injected into the interior, and it also has good blocking properties that prevent corona. A good surface protective layer was obtained that was not easily deteriorated by ozone gas generated around the photoconductor by discharging the discharge device. Furthermore, since the optical band gap was as large as 2.8 eV, a surface protective layer with good laser transmittance was obtained when a latent image was formed using a laser beam or the like.
以上は機能分離型のアモルファスシリコン感光体の製造
方法に例を用いて述べたが、第3図に示すように高抵抗
型のアモルファスシリコン感光体の表面に表面保護層を
形成する場合に於いても、本発明の方法を用いれば、光
透過性の良好な、かつ表面保護層を形成する被膜を形成
する結晶の原子組成比のそろった良好な保護層が得らた
。The above has been described using an example of a method for manufacturing a functionally separated type amorphous silicon photoreceptor, but as shown in Figure 3, when forming a surface protective layer on the surface of a high resistance type amorphous silicon photoreceptor, Also, by using the method of the present invention, a protective layer with good light transmittance and a uniform atomic composition ratio of the crystals forming the film forming the surface protective layer was obtained.
ちなみに本実施例と比較するため、従来の方法のように
Si2 H6ガスとC2H4ガスとを混合して表面保護
層を形成した場合、二種類のガスの混合比やガス圧を余
程厳密に制御しないと、本発明の方法で得られたような
表面保護層の特性は得られなかった。Incidentally, for comparison with this example, when a surface protective layer is formed by mixing Si2H6 gas and C2H4 gas as in the conventional method, the mixing ratio of the two types of gases and the gas pressure are controlled much more strictly. Otherwise, the properties of the surface protective layer obtained by the method of the present invention could not be obtained.
また本実施例では、ジメチルシラン(St(CH3)2
H2)ガスを用いたが、その他テトラメチルジシラン(
Si2(CHa)4 B2 )ガス等、メチル基とSi
原子の比が2:1のシラン系ガスを用いても良い。Furthermore, in this example, dimethylsilane (St(CH3)2
H2) gas was used, but in addition, tetramethyldisilane (
Si2(CHa)4B2) gas etc., methyl group and Si
A silane gas having an atomic ratio of 2:1 may also be used.
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明のアモルファスシリコン感光体
によれば、表面保護層が単独のガスにて成膜されている
ため、従来の複数のガスにて成膜する場合に比して、形
成される表面保護層に於ける原子配列が安定した良質の
表面保護層が得られるため、このような表面保護層をア
モルファスシリコン感光体に用いれば、高信頼度のアモ
ルファスシリコン感光体が得られる効果がある。[Effects of the Invention] As described above, according to the amorphous silicon photoreceptor of the present invention, since the surface protective layer is formed using a single gas, it is faster to form a film than in the conventional case where a film is formed using multiple gases. As a result, a high-quality surface protective layer with a stable atomic arrangement in the formed surface protective layer can be obtained, so if such a surface protective layer is used for an amorphous silicon photoreceptor, a highly reliable amorphous silicon photoreceptor can be obtained. There is an effect that can be obtained.
第1図は本発明のアモルファスシリコン感光体を形成す
るのに用いる装置の模式図、
第2図、および第3図はアモルファスシリコン感光体の
構成を示す断面図である。
図に於いて、1.1)は基体、2.12は感光体層、3
はブロッキング層、4.13は表面保護層、21はヒー
タ、22はドラム、23は容器、24はモータ、25は
電極、26はガス排出口、27は高周波電源、28はガ
ス導入管、29,30.33,34.37.38.42
.45.47はバルブ、31.35.39は流量針、3
2はB2 H6ガスボンベ、36はSi2 H6ガスボ
ンベ、40は((CHa)25iH2)ガスボンベ、4
1は排気口、43はメカニカルブースタポンプ、44.
48はロータリーポンプ、46はデイフェージョンポン
プを示す。FIG. 1 is a schematic diagram of an apparatus used to form the amorphous silicon photoreceptor of the present invention, and FIGS. 2 and 3 are cross-sectional views showing the structure of the amorphous silicon photoreceptor. In the figure, 1.1) is the substrate, 2.12 is the photoreceptor layer, and 3
is a blocking layer, 4.13 is a surface protection layer, 21 is a heater, 22 is a drum, 23 is a container, 24 is a motor, 25 is an electrode, 26 is a gas outlet, 27 is a high frequency power supply, 28 is a gas introduction pipe, 29 ,30.33,34.37.38.42
.. 45.47 is the valve, 31.35.39 is the flow needle, 3
2 is a B2 H6 gas cylinder, 36 is a Si2 H6 gas cylinder, 40 is a ((CHa)25iH2) gas cylinder, 4
1 is an exhaust port, 43 is a mechanical booster pump, 44.
48 is a rotary pump, and 46 is a dephasing pump.
Claims (2)
アモルファスシリコン感光体の前記表面保護層を、メチ
ル基にて水素原子を置換したシラン系ガスのみを単独に
分解して形成することを特徴とするアモルファスシリコ
ン感光体の製造方法。(1) The surface protective layer of an amorphous silicon photoreceptor formed on a conductive substrate and having a protective layer on the surface is formed by solely decomposing only a silane gas in which hydrogen atoms are replaced with methyl groups. A method for manufacturing an amorphous silicon photoreceptor characterized by:
数の比が1:2であることを特徴とする特許請求の範囲
第(1)項に記載のアモルファスシリコン感光体の製造
方法。(2) The method for manufacturing an amorphous silicon photoreceptor according to claim (1), wherein the ratio of the number of silicon atoms to the number of methyl groups in the silane-based gas is 1:2.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27533584A JPS61149965A (en) | 1984-12-25 | 1984-12-25 | Production of amorphous silicon photosensitive body |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27533584A JPS61149965A (en) | 1984-12-25 | 1984-12-25 | Production of amorphous silicon photosensitive body |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JPS61149965A true JPS61149965A (en) | 1986-07-08 |
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ID=17554029
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP27533584A Pending JPS61149965A (en) | 1984-12-25 | 1984-12-25 | Production of amorphous silicon photosensitive body |
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Country | Link |
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JP (1) | JPS61149965A (en) |
-
1984
- 1984-12-25 JP JP27533584A patent/JPS61149965A/en active Pending
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