JPS61147131A - Insepcting device for through hole - Google Patents

Insepcting device for through hole

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Publication number
JPS61147131A
JPS61147131A JP26923284A JP26923284A JPS61147131A JP S61147131 A JPS61147131 A JP S61147131A JP 26923284 A JP26923284 A JP 26923284A JP 26923284 A JP26923284 A JP 26923284A JP S61147131 A JPS61147131 A JP S61147131A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
hole
printed board
light source
mask
Prior art date
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Pending
Application number
JP26923284A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Moritoshi Ando
護俊 安藤
Kikuo Mita
三田 喜久夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
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Priority to JP26923284A priority Critical patent/JPS61147131A/en
Publication of JPS61147131A publication Critical patent/JPS61147131A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956Inspecting patterns on the surface of objects
    • G01N21/95692Patterns showing hole parts, e.g. honeycomb filtering structures

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain an inspecting device which has the X-Y stage of simple constitution by providing a light source, a photodetecting element, etc., for the defect detection of a through hole only on one surface of a printed board. CONSTITUTION:Then both-surface printed board 1 having through holes 1a-1d, etc., ios movable by the X-Y stage. The rays of light from a light source 3 provided above the printed board 1 is cut off partially by a mark 4 and the rays of light irradiated through a lens 5 is reflected by metal-plated land parts 6a and 6b, but transmitted through the printed board 1 at other parts and absorbed by a light absorbing material 2. Further, there is normally no light reflected in an area 8 where the rays of light is cut off by the mask 4. An image picked up by a TV camera 7, on the other hand, is displayed as an image 9 on a cathode-raty tube and also converted into an electric signal, which is outputted to a control circuit. Then, it is indicated that there is a defect such as a cut if light leaks from a through hole 1b although the light from te light source is cut off by the mask 4.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、電子機器に用いられる両面プリント板、多層
プリント板に係り、特にこのようなプリント板に設けら
れたスルーホールの検査装置に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Technical Field of the Invention] The present invention relates to double-sided printed boards and multilayer printed boards used in electronic equipment, and particularly to an inspection device for through holes provided in such printed boards. be.

〔従来技術〕[Prior art]

両面プリント板や、多層プリント板には、それら基板に
形成されている表、裏のプリント配線間や、各層プリン
ト配線間の電気的接続のために。
For double-sided printed boards and multilayer printed boards, for electrical connections between printed wiring on the front and back sides of the board, and between printed wiring on each layer.

スルーホールが電気的或いは化学的メッキ法により形成
されている。通常スルーホールのメッキ層が常に良好な
状態であるとは限らず、製造工程等により切れ目、ピン
ホール等の不良が生じる場合がある。これらの不良は接
続目的を阻害し、プリント板の信頼性を損なうためこの
ような不良を予め検査する必要がある。
Through holes are formed by electrical or chemical plating. Normally, the plating layer of a through hole is not always in good condition, and defects such as cuts and pinholes may occur due to the manufacturing process. It is necessary to check for such defects in advance because these defects impede the connection purpose and impair the reliability of the printed circuit board.

従来、このようなスルーホールの欠陥を検査する方法と
してスルーホールが設けられたプリント板上にローラマ
スクを設け、ローラマスクをプリント板上で移動しなが
らプリント板に光を照射し。
Conventionally, as a method for inspecting defects in such through holes, a roller mask is provided on a printed board with through holes provided therein, and the printed board is irradiated with light while the roller mask is moved on the printed board.

スルーホールを透過した光をプリント板でローラマスク
と逆面に設けられた複数の受光素子を用いて検知し、漏
光があるかないかによりスルーホールの欠陥を検出して
いた。
The light transmitted through the through-holes was detected using multiple light-receiving elements installed on the opposite side of the roller mask on a printed board, and defects in the through-holes were detected based on whether there was light leakage.

〔発明が解決しようとする間!I) 上述のようなスルーホール検査装置においては。[While invention tries to solve! I) In the through-hole inspection device as described above.

プリント板の一面側から光を照射し、他面側の漏光を検
出するため、プリント板の上下面に光路が作成され、ス
ルーホールの欠陥検出が行われる。
In order to irradiate light from one side of the printed board and detect light leakage from the other side, optical paths are created on the upper and lower surfaces of the printed board, and through-hole defects are detected.

従って1例えばプリント板下面より光を照射する場合に
は、プリント板下面には通常プリント板を移動するため
のX−Yステージ等が設けられており、光路を遮断しな
い為にX−Yステージ等の構造を考慮する必要があり、
装置が複雑化する問題があった。さらにローラマスクを
常に移動して検査するため、プリント板との摩擦により
ローラマスクの寿命が短かかった。
Therefore, 1. For example, when irradiating light from the bottom surface of a printed board, an X-Y stage or the like is usually provided on the bottom surface of the printed board to move the printed board. It is necessary to consider the structure of
There was a problem that the device became complicated. Furthermore, since the roller mask was constantly moved and inspected, the life of the roller mask was shortened due to friction with the printed circuit board.

本発明は上記従来の欠点に鑑み、プリント板の一面上の
みに光源、受光素子等を設け、X−Yステージ等を簡単
な構成で実現できることを可能にしたスルーホール検査
装置を提供することを目的とするものである。
In view of the above-mentioned conventional drawbacks, the present invention aims to provide a through-hole inspection device in which a light source, a light receiving element, etc. are provided only on one side of a printed board, and an X-Y stage, etc. can be realized with a simple configuration. This is the purpose.

〔問題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明は上記目的を達成するために、プリント板に設け
られたスルーホールの漏光パターンを検知して該スルー
ホールの欠陥を検出するスルーホール検査装置において
、前記プリント板の片面に光を照射する光源と1M光源
と前記プリント板間に位置して前記光源の光を集光する
集光手段と。
In order to achieve the above object, the present invention provides a through-hole inspection device that detects a defect in the through-hole by detecting a light leakage pattern of a through-hole provided in a printed board, in which one side of the printed board is irradiated with light. a light source, a condensing means located between the 1M light source and the printed board to condense the light from the light source;

該集光手段と前記光源の間に位置して前記光源の一部を
遮光するマスク手段と、前記プリント板に対して前記光
源と同一面上に位置し前記プリント板の反射光を撮像す
る撮像手段と該撮像手段で撮像した信号から前記スルー
ホールの欠陥を検出制御する制御手段とを有することを
特徴とするスルーホール検査装置を提供することで達成
される。
a mask means located between the light condensing means and the light source to block a part of the light source; and an imaging means located on the same plane as the light source with respect to the printed board to take an image of reflected light from the printed board. This is achieved by providing a through-hole inspection apparatus characterized by having a control means for detecting and controlling defects in the through-hole from a signal captured by the imaging means.

〔作  用〕[For production]

上記手段によれば、プリント板の一面のみに光源、撮像
手段が設けられているため、光源の光はプリント板で反
射され、スルーホールの欠陥情報を含む反射光は光源と
同一面側に設けられた撮像手段で検出されるのでプリン
ト板の他面は光が通過しない領域となり、プリント板の
他面のX−Yステージ等の構造を簡単化する作用を有す
る。
According to the above means, since the light source and the imaging means are provided only on one side of the printed board, the light from the light source is reflected by the printed board, and the reflected light containing defect information of the through holes is provided on the same side as the light source. Since the other surface of the printed board becomes an area through which light does not pass, it has the effect of simplifying the structure of the X-Y stage, etc. on the other surface of the printed board.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下1本発明の実施例を添付図面に従って詳述する。 An embodiment of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.

本実施例は、受光素子としてテレビカメラ(以下TVカ
メラで示す)を用いたもので、第1図に本実施例の概略
斜視図を示す。同図において1両面にパターン配線が施
され多数のスルーホール1a〜1d等を有する両面プリ
ント板(以下プリント板で示す)1の下面には光吸収材
2が設けられている。プリント板、1はX−Yステージ
により互いに直交するX軸、Y軸上を移動可能に構成さ
れている。
This embodiment uses a television camera (hereinafter referred to as TV camera) as a light receiving element, and FIG. 1 shows a schematic perspective view of this embodiment. In the figure, a light absorbing material 2 is provided on the lower surface of a double-sided printed board (hereinafter referred to as printed board) 1 which has pattern wiring on both sides and has a large number of through holes 1a to 1d. A printed board 1 is configured to be movable on an X-axis and a Y-axis orthogonal to each other by an X-Y stage.

プリント板1の上方に設けられた光源3からの光は、一
部が光源3の発光面に設けられたマスク4により遮蔽さ
れ、レンズ5を介してプリント板■の上面に照射される
。プリント板工に照射された光の中で金属メンキされた
ランド部5a、5b以外に照射された光は、プリント板
l内に透過し。
A portion of the light from a light source 3 provided above the printed board 1 is blocked by a mask 4 provided on the light emitting surface of the light source 3, and is irradiated onto the upper surface of the printed board 2 via a lens 5. Of the light irradiated onto the printed board work, the light irradiated onto areas other than the metal-coated lands 5a and 5b is transmitted into the printed board l.

光吸収材2に吸収される。またランド部6a、5bに照
射された光は反射し、この反射光はTVカメラ7のレン
ズ7aにより撮像される。
It is absorbed by the light absorbing material 2. Further, the light irradiated onto the land portions 6a and 5b is reflected, and this reflected light is imaged by the lens 7a of the TV camera 7.

一方、マスク4により光が遮蔽されたブリ・ント板1上
の領域8では通常反射光はなく、TVカメラ7で撮像さ
れた画像はブラウン管を介して画像9として表示される
On the other hand, in the area 8 on the brightness plate 1 where light is blocked by the mask 4, there is usually no reflected light, and the image captured by the TV camera 7 is displayed as an image 9 via a cathode ray tube.

TVカメラ7にti像された画像は電気信号に変換され
9図示しない部分に設けられた制御回路に出力される。
The image captured by the TV camera 7 is converted into an electrical signal and output to a control circuit 9 provided in a portion not shown.

第2図はその制御回路のブロック図であり、TVカメラ
7からの電気信号である画像信号は穴位置アドレス部1
0に入力し、穴位置アドレス部10でプリント板1に多
数設けられたスルーホール中心位置(アドレス)が検出
される。穴位置アドレス10からの検出信号はアドレス
加算部11に入力し、アドレス加算部11において、予
め各スルーホール位置のピッチが入力されている穴ピツ
チアドレス部12からのデータと加算されアドレス加算
部11で加算されたアドレス信号は比較部13に入力す
る。
FIG. 2 is a block diagram of the control circuit, and the image signal which is an electric signal from the TV camera 7 is transmitted to the hole position address section
0, and the hole position address unit 10 detects the center positions (addresses) of many through holes provided on the printed board 1. The detection signal from the hole position address 10 is input to the address adder 11, and the address adder 11 adds the data from the hole pitch address section 12 to which the pitch of each through hole position is input in advance. The address signals added in are input to the comparator 13.

一方、TVカメラ7からの他の画像信号9例えば領域8
で反射した光がある場合の画像信号は漏光アドレス部1
4に入力し、漏光アドレス部14ではTVカメラ7で漏
光パターンを検出した該漏光パターンの中心位置のアド
レス信号を比較部13に出力する。比較部13では入力
した両アドレスを比較し9両アドレス信号が一致した時
、欠陥信号を出力して一致したアドレス(位置)に存在
するスルーホールに欠陥があることを検出15する。
On the other hand, other image signals 9 from the TV camera 7, for example area 8
The image signal when there is light reflected by the light leakage address section 1
4, and the light leakage address section 14 outputs to the comparison section 13 an address signal of the center position of the light leakage pattern detected by the TV camera 7. The comparator 13 compares both input addresses, and when both address signals match, outputs a defect signal to detect 15 that there is a defect in the through hole existing at the matched address (position).

以上のような構成のスルーホール検査装置において、そ
の動作説明を第3図Tag、 (b)を用いて行う。
The operation of the through-hole inspection apparatus having the above configuration will be explained using FIG. 3, (b).

第3図(a)は、TVカメラ7で撮像された画像の) 
    一部を示すものである。同図において、X軸、
Y軸は前述のX−Yステージの移動方向であるX方向、
Y方向と同一である。画像16には2つのスルーホール
la、lbが存在している。
FIG. 3(a) shows an image captured by the TV camera 7)
This is a partial list. In the same figure, the X axis,
The Y axis is the X direction, which is the moving direction of the aforementioned X-Y stage;
It is the same as the Y direction. Two through holes la and lb exist in the image 16.

また、スルーホールla、lbはY軸上の座標が同一で
あるA列上に配置されており、光源3の光はスルーホー
ルla、lbに入射し1例えば。
Further, the through holes la and lb are arranged on the A row having the same coordinates on the Y axis, and the light from the light source 3 enters the through holes la and lb, for example.

第4図(a)に示すように光吸収材2により光が吸収さ
れる為スルーホールla、lbから漏光は発生していな
い。
As shown in FIG. 4(a), since light is absorbed by the light absorbing material 2, no light leakage occurs from the through holes la and lb.

この時、TVカメラ7からは同図(blに示す反射信号
波形が出力されている。従ってスライスレベルをB1に
設定すれば、スルーホール位置を検出することができる
。すなわち画像16で撮像した画像信号を穴位置アドレ
ス部10に出力してスルーホールla、lbの穴中心位
置2例えば。
At this time, the reflected signal waveform shown in the figure (bl) is output from the TV camera 7. Therefore, by setting the slice level to B1, the through hole position can be detected. In other words, the image captured in image 16 A signal is output to the hole position address unit 10 to determine the hole center position 2 of the through holes la and lb, for example.

(Xユ、y(1)  (xi)、yし)の検出を行う。(Xyu, y(1) (xi), yshi) is detected.

次にX−Yステージ1′を駆動することによりプリント
板1を矢印17方向に移動する。この移動中、プリント
板1の画像をTVカメラ7により常に確認し、この画像
信号を漏光アドレス部14に出力している。A列に配列
されたスルーホールla、lbが距MPだけ移動した時
の画像18を第3図中)に示す。
Next, the printed board 1 is moved in the direction of arrow 17 by driving the X-Y stage 1'. During this movement, the image of the printed board 1 is constantly checked by the TV camera 7, and this image signal is output to the light leakage address section 14. An image 18 when the through holes la and lb arranged in row A are moved by a distance MP is shown in FIG. 3).

この移動路MIpは、予め前述の穴ピツチアドレス部1
2に入力されているデータに等しい。従って、プリント
板1の画像を漏光アドレス部14に入力し、この時スル
ーホール1bに漏光がある時はこの漏光のアドレスが比
較部13に出力される。
This moving path MIp is formed in advance by the hole pitch address section 1 described above.
It is equal to the data input in 2. Therefore, the image of the printed board 1 is input to the light leakage address section 14, and if there is light leakage in the through hole 1b at this time, the address of this light leakage is output to the comparison section 13.

このスルーホール1bの漏光は光源の光がマスク4によ
り遮光されているにもかかわらず漏れた光であり、第5
図に示すようにスルーホール1bに切れ目19の欠陥が
あることを示すものである。
This light leakage from the through hole 1b is light that leaks even though the light from the light source is blocked by the mask 4.
As shown in the figure, there is a defect in the through hole 1b with a cut 19.

一方、比較部13には前述の画像16で読取ったスルー
ホール1bのアドレス信号にスルーホール間のピッチp
のデータが加えられたアドレス信号が入力しており、比
較部13では両アドレス信号は一致し、スルーホール1
bの欠陥が検出できる。この時漏光アドレス部14から
欠陥であるスルーホール1bのアドレス(座標位置)を
外部に表示するようにしてもよい。
On the other hand, the comparator 13 uses the address signal of the through hole 1b read in the image 16 described above to match the pitch p between the through holes.
The address signal to which the data of
Defect b can be detected. At this time, the address (coordinate position) of the defective through hole 1b may be displayed externally from the light leakage address section 14.

また、A列のスルーホールla、lbが移動中にプリン
ト板1の例えばパターン配線の施されていない部分から
の漏光もある。この漏光を含む画像信号も漏光アドレス
部14に入力し、漏光アドレス部14からこの部分20
のアドレス信号も比較部13に入力するが、スルーホー
ルが存在しないアドレスであるためアドレス加算部11
から入力するアドレス信号とが一致せずスルーホール存
在位置以外の漏光では欠陥検出信号は出力されない。
Further, while the through holes la and lb in the A row are moving, light may leak from, for example, a portion of the printed board 1 where no pattern wiring is provided. The image signal including this light leakage is also input to the light leakage address section 14, and from the light leakage address section 14 this portion 20 is inputted.
The address signal is also input to the comparator 13, but since the address does not have a through hole, the address signal is input to the address adder 11.
The defect detection signal is not outputted if light leaks outside the position where the through hole exists because the address signal input from the through hole does not match.

次にさらにX−Yステージ1′を駆動して1ビ・7チ分
プリント板1を矢印17方向に移動し、同様の検出動作
を繰り返し、順次スルーホールの欠陥を検出し、プリン
ト板1の全てのスルーホールに対して欠陥検査を行うこ
とが出来る。
Next, the X-Y stage 1' is further driven to move the printed board 1 by 1 bit. Defect inspection can be performed on all through holes.

以上のように本実施例によれば、プリント板1の上面に
マスク4を介した光を照射させ、プリント板1のスルー
ホールla、lbから漏光した光を1台のTVカメラ7
で撮像することが出来る。
As described above, according to this embodiment, the upper surface of the printed board 1 is irradiated with light through the mask 4, and the light leaked from the through holes la and lb of the printed board 1 is transmitted to one TV camera 7.
It is possible to take an image with

第6図は本発明の他の実施例を示す概略斜視図である。FIG. 6 is a schematic perspective view showing another embodiment of the present invention.

同図において第1図と同一箇所には同一番号を付して構
成上の説明を省略する。
In this figure, the same parts as in FIG. 1 are given the same numbers, and the explanation of the structure will be omitted.

同図において、第1図と異なる箇所は光源を2つ設けた
ことと、光源21の下部に設けられたマスク22は第1
図に示したマスク4よりも大きく。
In the figure, the difference from FIG. 1 is that two light sources are provided, and the mask 22 provided below the light source 21 is
It is larger than the mask 4 shown in the figure.

プリント板1に照射される光をスルーホールの2ピッチ
分遮蔽できる大きさであること、及び光源23の下部に
スリット状のマスク24を設けこのマスク24のスリッ
トの幅はプリント板1上に設けられたスルーホール1e
−1hのランド部6e。
The size is such that the light irradiated onto the printed board 1 can be blocked by two pitches of through holes, and a slit-shaped mask 24 is provided at the bottom of the light source 23, and the width of the slit of this mask 24 is set on the printed board 1. through hole 1e
-1h land portion 6e.

6f又は6g、6hをカバーできる大ききである。It is large enough to cover 6f, 6g, or 6h.

また光源23の光量は予めランド部68〜6hの反射光
量がプリント板1の基材部25と同レベルの反射光量に
なるように調節されている。
Further, the amount of light from the light source 23 is adjusted in advance so that the amount of reflected light from the land portions 68 to 6h is at the same level as the amount of reflected light from the base portion 25 of the printed board 1.

従って、マスク22で一部を遮蔽された光源21の光は
レンズ26を介してプリント板1に照射され、プリント
板l上に暗領域27を作成する。
Therefore, the light from the light source 21 partially blocked by the mask 22 is irradiated onto the printed board 1 through the lens 26, creating a dark area 27 on the printed board l.

ここで光源23の光をマスク24.レンズ28を介して
プリント板lに照射すると、暗領域26内の領域°29
のみがマスク24を通して光が照射される。第7図(a
)はこの時の両光線の光路を示す第6図のA−A断面図
である。プリント板1に入射した光は基材部25内に透
過し、はとんどの光は光吸収材2により光吸収されるが
スルーホール1gの側面にメッキの切れ目が存在する時
には基材部25内に透過した光の一部が切れ目からスル
ーホール位置内に漏れ、漏光30として外部に出射され
る。この時、TVカメラ7で受光した画像を電気信号に
変換した同図(blに示す信号強度波形図の漏光スライ
スレベルを82とすれば、漏光30による波形凸部31
を検出して、第2図の漏光アドレス部14に出力するこ
とにより上述と同様に比較部13でアドレス加算部11
からのアドレス信号と比較し、欠陥検出を行うことが出
来る。
Here, the light from the light source 23 is masked 24. When the printed board l is irradiated through the lens 28, the area within the dark area 26 is
Light is irradiated only through the mask 24. Figure 7 (a
) is a sectional view taken along line AA in FIG. 6, showing the optical paths of both light beams at this time. The light incident on the printed board 1 is transmitted into the base material part 25, and most of the light is absorbed by the light absorbing material 2, but when there is a break in the plating on the side of the through hole 1g, the light is transmitted into the base material part 25. A part of the light transmitted inside leaks into the through-hole position from the cut and is emitted to the outside as leaked light 30. At this time, if the light leakage slice level of the signal intensity waveform diagram shown in the same figure (bl) in which the image received by the TV camera 7 is converted into an electric signal is 82, the waveform convex portion 31 due to the light leakage 30
By detecting and outputting it to the light leakage address section 14 in FIG.
Defects can be detected by comparing with the address signal from.

一方、光源23の光が照射されたスルーホールle、ラ
ンド部60では、スルーホールleに入射した光は光吸
収材2により光吸収され、ランド部6eに照射された光
は反射し、TVカメラ7に受光される。この時受光され
る光量は光源23の光量が予め調節されていることによ
り、基材25で反射する光量とほぼ等しく、穴位置スラ
イスレベルをCとすればスルーホール1eのみが影とな
ってTVカメラ7に受光される。このように本実施例に
よれば、マスク24のスリット部を介して光源23の光
がプリント板lに照射される領域29内のスルーホール
位置を検出することが出来。
On the other hand, in the through hole le and the land portion 60 that are irradiated with the light from the light source 23, the light that enters the through hole le is absorbed by the light absorbing material 2, and the light that is irradiated to the land portion 6e is reflected, and the TV camera The light is received at 7. The amount of light received at this time is approximately equal to the amount of light reflected by the base material 25 because the amount of light from the light source 23 is adjusted in advance.If the hole position slice level is C, only the through hole 1e will be in the shadow. The light is received by the camera 7. As described above, according to the present embodiment, it is possible to detect the position of the through hole in the region 29 where the printed board l is irradiated with the light from the light source 23 through the slit portion of the mask 24.

光源23により、ランド部6eの反射光量を制御するこ
とが出来る。従って、基材部25の反射光量とランド部
6の反射光量との差を小さくすることが出来TVカメラ
7のグイナミソクレンジを小さくすることが出来る。
The light source 23 can control the amount of light reflected from the land portion 6e. Therefore, the difference between the amount of reflected light from the base portion 25 and the amount of reflected light from the land portion 6 can be reduced, and the range of the TV camera 7 can be reduced.

第8図は本発明の第2の他の実施例を示す図であり、第
1図と同一箇所には同一番号を付して構成上の説明を省
略する。
FIG. 8 is a diagram showing a second alternative embodiment of the present invention, in which the same parts as in FIG. 1 are given the same numbers and explanations on the structure will be omitted.

同図において第1図と異なる箇所は、TVカメラを2台
用いていることである。この場合、光源3からマスク4
及びレンズ5を介してプリント板32に照射された光の
反射光はTVカメラ33゜34で受光される。特にプリ
ント板32が薄い場合、第9図に示すようにスルーホー
ル35のメッキの切れ目36からの漏光を直接TVカメ
ラ33゜34で受光することができ、受光精度を向上す
ることができる。
The difference between this figure and FIG. 1 is that two TV cameras are used. In this case, from light source 3 to mask 4
The reflected light of the light irradiated onto the printed board 32 through the lens 5 is received by the TV cameras 33 and 34. In particular, when the printed board 32 is thin, as shown in FIG. 9, leaked light from the plating cuts 36 of the through holes 35 can be directly received by the TV cameras 33 and 34, improving the accuracy of light reception.

以上説明したように本発明によれば、プリント板lの一
面上に単−又は複数の光源とTVカメラ等を設けること
により、プリント板lの下面に設けられていたX−Yス
テージ1′等の構造を簡単に構成することが出来る。ま
た、スルーホールの位置を検出する際には、第4図(b
lに示すスライスレベルB3を設け、ランド部と共にス
ルーホール部を検出し、測長センサ39a、39bを用
いて第10図(a)、 (b)に示すように直交した図
形の長さを測り、スルーホール位置を求めることも出来
る。
As explained above, according to the present invention, by providing one or more light sources and a TV camera etc. on one surface of the printed board l, the X-Y stage 1' etc. provided on the lower surface of the printed board l can be structure can be easily constructed. In addition, when detecting the position of the through hole,
A slice level B3 shown in FIG. 10 is provided, the land portion and the through hole portion are detected, and the lengths of the orthogonal shapes are measured using the length measurement sensors 39a and 39b as shown in FIGS. 10(a) and 10(b). , it is also possible to find the through hole position.

例えば、測長センサ39a、39bで測ったスルーホー
ル37の外周の4点の座標位置が(xl。
For example, the coordinate positions of four points on the outer periphery of the through hole 37 measured by the length measurement sensors 39a and 39b are (xl).

0)、  (X2.O)、  (0,37+)、  (
0,y2)とすれば、そのスルーホール37の中心38
は((x + +x 2) /2. (y I+72)
 /2)として求めることが出来る。
0), (X2.O), (0,37+), (
0, y2), the center 38 of the through hole 37
is ((x + +x 2) /2. (y I+72)
/2).

本発明の実施例は以上に限るわけではなく、第11図に
示すように光源3の下部に透過率の異なる領域を有する
マスク40を設けてプリント板1に光照射を行いTVカ
メラ7で反射光を受光しても第6図に構成を示す他の実
施例と同様な作用を呈することが出来る。
The embodiment of the present invention is not limited to the above, but as shown in FIG. Even when light is received, the same effect as that of the other embodiment shown in FIG. 6 can be achieved.

又1本発明に用いる受光素子はTVカメラ7に限らず、
2次元的な受光素子であれば、同様に用いることができ
る。またプリント板1に設けられたスルーホールが任意
の位置に設けられている時には、予めスルーホールの穴
ピッチを検出し、この検出データを穴ピッチアドレス部
12ト入力する手段を設けて構成してもよい。
Furthermore, the light receiving element used in the present invention is not limited to the TV camera 7,
A two-dimensional light receiving element can be used similarly. Further, when the through holes provided in the printed board 1 are provided at arbitrary positions, a means is provided to detect the hole pitch of the through holes in advance and input this detected data to the hole pitch address section 12. Good too.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上詳細に説明したように本発明によればプリント板に
設けられたスルーホールの金属メッキの切れ目、ピンホ
ール等の不良を検査する際、プリント板の片面上のみに
光学装置を設けることにより、X−Yステージ等を簡単
に構成することが出来、スルーホールの検査装置を容易
に設計することが出来る。
As explained in detail above, according to the present invention, when inspecting defects such as breaks in the metal plating of through holes provided on a printed board, pinholes, etc., by providing an optical device only on one side of the printed board, The X-Y stage and the like can be easily configured, and a through-hole inspection device can be easily designed.

冬 また、光源、マスク等を複数用いることにより。winter Also, by using multiple light sources, masks, etc.

又は透過率のことなるマスクを用いることによりTVカ
メラ等の受光素子のグイナミソクレンジを小さくするこ
とが出来る。
Alternatively, by using masks with different transmittances, it is possible to reduce the range of light receiving elements of a TV camera or the like.

さらに、マスクもプリント板上を可動することがなく、
長時間使用することが出来る。
Furthermore, the mask does not move on the printed board,
It can be used for a long time.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明のスルーホール検査装置の概略斜視図。 第2図はスルーホール装置の回路ブロック図。 第3図はTV画像の構成図、第4図(a)は漏光の構成
図。 第4図(b)は反射信号の特性図。 第5図はプリント板の一部の断面図。 第6図は本発明の他の実施例のスルーホール検査装置の
概略斜視図。 第7図(a)はプリント板の一部の断面図。 第8図は本発明の第2の他の実施例のスルーホール検査
装置の概略斜視図。 第9図はプリント板の一部の断面図。 第10図(a)、 (b)はスルーホールの中心を測定
する方法を説明する構成図。 第11図は本発明のスルーホール検査装置の概略斜視図
である。 1.32・・・プリント板。 la 〜ld、31・−−スルーホール。 1′・・・X−Yステージ。 2・・・光吸収材。 3.21.23・・・光源。 4.22.24・・・マスク。 5.26.28・・・レンズ。 6a〜6d・・・ランド部。 7.33.  34・・・TVカメラ。 8・・・領域。 10・・・穴位置アドレス。 11・・・アドレス加算部。 12・・・穴ピツチアドレス部。 13・・・比較部。 14・・・漏光アドレス部。 16.18・・・画像。 19・・・切れ目。 25・・・基材部。 第111 (G)   第4薗 156!! 第6図 B2 第8wA 第9図 第10図 (b)
FIG. 1 is a schematic perspective view of a through-hole inspection device of the present invention. FIG. 2 is a circuit block diagram of the through-hole device. FIG. 3 is a block diagram of a TV image, and FIG. 4(a) is a block diagram of light leakage. FIG. 4(b) is a characteristic diagram of the reflected signal. FIG. 5 is a cross-sectional view of a part of the printed board. FIG. 6 is a schematic perspective view of a through-hole inspection device according to another embodiment of the present invention. FIG. 7(a) is a sectional view of a part of the printed board. FIG. 8 is a schematic perspective view of a through-hole inspection device according to a second alternative embodiment of the present invention. FIG. 9 is a cross-sectional view of a part of the printed board. FIGS. 10(a) and 10(b) are configuration diagrams illustrating a method for measuring the center of a through hole. FIG. 11 is a schematic perspective view of the through-hole inspection device of the present invention. 1.32...Printed board. la ~ ld, 31 -- through hole. 1'...X-Y stage. 2...Light absorbing material. 3.21.23...Light source. 4.22.24...Mask. 5.26.28...Lens. 6a to 6d...Land portion. 7.33. 34...TV camera. 8...Area. 10... Hole position address. 11... Address addition section. 12... Hole pitch address section. 13... Comparison section. 14...Light leakage address section. 16.18...Image. 19... cut. 25...Base material part. 111th (G) 4th field 156! ! Fig. 6B2 Fig. 8wA Fig. 9 Fig. 10 (b)

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)プリント板に設けられたスルーホールの漏光パタ
ーンを検知して該スルーホールの欠陥を検出するスルー
ホール検査装置において、前記プリント板の片面に光を
照射する光源と、該光源と前記プリント板間に位置して
前記光源の光を集光する集光手段と、該集光手段と前記
光源の間に位置して前記光源の一部を遮光するマスク手
段と、前記プリント板に対して前記光源と同一面上に位
置し前記プリント板の反射光を撮像する撮像手段と該撮
像手段で撮像した信号から前記スルーホールの欠陥を検
出制御する制御手段とを有することを特徴とするスルー
ホール検査装置。
(1) A through-hole inspection device that detects a light leakage pattern of a through-hole provided in a printed board to detect defects in the through-hole, which includes a light source that irradiates light onto one side of the printed board, and a light source that irradiates light onto one side of the printed board; a light condensing means located between the boards to condense the light from the light source; a mask means located between the condensing means and the light source to block a part of the light source; A through hole characterized in that it has an imaging means located on the same plane as the light source and takes an image of reflected light from the printed board, and a control means that detects and controls defects in the through hole from a signal taken by the imaging means. Inspection equipment.
(2)前記スルーホール位置および前記漏光パターンの
中心位置を検出する検出手段を有することを特徴とした
特許請求の範囲第1項記載のスルーホール検査装置。
(2) The through-hole inspection device according to claim 1, further comprising detection means for detecting the through-hole position and the center position of the light leakage pattern.
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