JPS61146022A - Automatic adjusting system of transversal equalizer - Google Patents
Automatic adjusting system of transversal equalizerInfo
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- JPS61146022A JPS61146022A JP26888284A JP26888284A JPS61146022A JP S61146022 A JPS61146022 A JP S61146022A JP 26888284 A JP26888284 A JP 26888284A JP 26888284 A JP26888284 A JP 26888284A JP S61146022 A JPS61146022 A JP S61146022A
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- tap coefficient
- distortion
- transversal equalizer
- equalized
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- Cable Transmission Systems, Equalization Of Radio And Reduction Of Echo (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、トランスバーサル等化器の自動調整方式に関
し、特にトランスバーサル等化器におけるタップ係数設
定の調整手順を改善するトランスバーサル等化器の自動
調整方式に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial Application Field) The present invention relates to an automatic adjustment method for a transversal equalizer, and in particular to a transversal equalizer that improves the adjustment procedure for tap coefficient settings in a transversal equalizer. Regarding automatic adjustment method.
（従来の技術）
従来、例えばＴＤＭＡ（Ｔｉｍｅ ＤｉｖｉｓｅｉｎＭ
ｕｌｔｉｐｌｅ Ａｃｃｅｓｓ）方式による衛星通信回
線等においては、通信経路において生起する振幅歪なら
びに位相歪を等化する手段として、通常トランスバーサ
ル等化器が用いられている。このトランスバーサル等化
器は、一般に、トランスノ（−サル・フィルタと、この
トランスノ（−サル・フィルタのタップ係数設定条件を
記憶する記憶回路と、この記憶回路に対する前記タップ
係数設定条件の薔込みおＬび胱出しを制御する制御回路
と、この制御回ｗ５を介して前記記ｔｌ＠路に入力され
るタップ係数設定条件を設定するサミール・スイッチ等
とを備えており、サミール・スイッチにより、あらかじ
め制御回路を介して記憶回路に記憶収納されているタッ
プ係数設定条件が、前記制御回路等を経由してトランス
バーサル・フィルタの各タップに対応する重み付は回路
にタップ係数制御信号として入力され、所定の歪等化作
用が実行される。(Prior Art) Conventionally, for example, TDMA (Time Division
In satellite communication lines and the like based on the multiple access (multiple access) system, a transversal equalizer is usually used as a means for equalizing amplitude distortion and phase distortion occurring in a communication path. This transversal equalizer generally includes a transversal filter, a memory circuit that stores the tap coefficient setting conditions of the transversal filter, and a memory circuit that stores the tap coefficient setting conditions for the transversal filter. It is equipped with a control circuit that controls the closing and emptying of the bladder, and a Samir switch that sets the tap coefficient setting conditions that are input to the above-mentioned tl@path via this control circuit w5. The tap coefficient setting conditions, which are stored in advance in the memory circuit via the control circuit, are inputted to the circuit as tap coefficient control signals via the control circuit, etc., and the weighting corresponding to each tap of the transversal filter is input to the circuit as a tap coefficient control signal. and a predetermined distortion equalization operation is performed.
このトランスバーサル等化器のタップ係数設定条件全１
歪等化の対象とする被等化装置に対応して、あらかじめ
設定するトランスバーサル等化器の調整方式として框、
−例として第２図に主要部が示される工うに、トランス
バーサル・フィルタ１１、Ｄ−Ａ変換器１２、制御回路
１３、サミール・スイッチ１４おＬび記憶回路１５エク
底る調整対象のトランスバーサル等化器１６と、被等化
装置１８とに対応して、試験信号発生器１７と、歪測定
器１９とが備えられている。All tap coefficient setting conditions for this transversal equalizer: 1
Depending on the device to be equalized that is the target of distortion equalization, frame,
- As an example, the main parts of the device are shown in FIG. A test signal generator 17 and a distortion measuring device 19 are provided corresponding to the equalizer 16 and the device to be equalized 18 .
ｌ＠２図において、試験信号発生器１７からは、所定の
試験ｖＪ４整用偏号信号ランスバーサル等化器１６に入
力され、その出力信号は被等化装置１８を経由して歪測
定器１９に入力される。歪測定器１９においてハ、トラ
ンスバーサル等化器１６お工び彼等化装置ｌｉｔ経由し
て入力される試験調整用信号の振幅歪ならびに位相歪の
周波数特性が計測され、この歪の周波数特性全参照して
、サミール・スイッチ１４お工び制御回路１３ｉ介して
、被等化！［１８に対応するタップ係数設定条件が修正
されて記憶回路１５に記憶され収納される。In Figure 1@2, a test signal generator 17 inputs a predetermined test vJ4 equalization signal to a balance equalizer 16, and its output signal passes through an equalized device 18 to a distortion measuring device 19. is input. In the distortion measuring device 19, the frequency characteristics of the amplitude distortion and phase distortion of the test adjustment signal inputted via the transversal equalizer 16 and the equalization device lit are measured, and the frequency characteristics of this distortion are all measured. Refer to the Samir switch 14 through the control circuit 13i to be equalized! [The tap coefficient setting conditions corresponding to 18 are corrected and stored in the storage circuit 15.
この修正され友タップ係数設定条件に、制御回路１３を
介して記憶回路１５から読出され、Ｄ−Ａ変換器１２を
経由してトランスバーサル・フィルタ１１の、それぞれ
対応する重み付け、回路に供給されて、トランスバーサ
ル等化器１６の歪等化特性が修正される。この１５にし
て、歪測定器１９にエフ計測される歪周波数特性を参照
して、トランスバーサル等化器１６に対するタップ係数
設定条件に対する修正値が人為的に割出しされ、記憶回
路１５における記憶内容が改変されて、歪測定器１９に
おいて計測される歪周波数特性が、所定の許容条件に適
合する状態において、トランスバーサル等化器１６の被
等化装置１１ｉｅ１８に対応する歪等化特性の調整が終
了する０通常に、所望の歪等化特性が得られるまでに、
上述の調整手順を数回繰返しているのが冥情である。The modified friend tap coefficient setting conditions are read out from the storage circuit 15 via the control circuit 13 and supplied to the corresponding weighting circuit of the transversal filter 11 via the DA converter 12. , the distortion equalization characteristics of the transversal equalizer 16 are modified. In step 15, a correction value for the tap coefficient setting condition for the transversal equalizer 16 is artificially determined with reference to the distortion frequency characteristic measured by the distortion measuring device 19, and the storage contents in the storage circuit 15 are calculated. is modified so that the distortion frequency characteristics measured by the distortion measuring device 19 meet predetermined allowable conditions, the distortion equalization characteristics corresponding to the equalized device 11ie18 of the transversal equalizer 16 are adjusted. Normally, until the desired distortion equalization characteristics are obtained,
Unfortunately, the above adjustment procedure is repeated several times.
（発明が解決しょうとする問題点）
上述の従来のトランスバーサル等化器の調整方式におい
ては、第２図に示される工うに、試験１ぎ号発生器１７
と歪測定器１９とを用いて、トランスバーサル等化器１
６お工び被等化装置１８を経由して出力される試験調整
用信号の振幅歪ならびに位相歪の周波数特性を計測し、
この計測値に対応して、トランスバーサル等化器６の記
憶回路１５に収納されるタップ係数設定条件の修正値の
割出し全人為的に行い、サミール・スイッチ１４’を介
して記憶回路１５の記憶内容を修正する調整手順を数回
繰返して実行する必要がある。従って、トランスバーサ
ル等化器の調整の友めに多大の時間を要するという欠点
がある。しかも、歪測定器１９にエリ計６４１」される
振幅歪ならびに位相歪の周波数特性に対応して、人為的
に記憶回路１５に対するタップ係数設定条件の修正値の
割出しを行っている。このため、トランスバーサル等化
器１６に対するタップ係数設定の調整′ｏ１度が低下す
るという欠点も介在する。(Problems to be Solved by the Invention) In the conventional transversal equalizer adjustment method described above, the test signal generator 17 is
Transversal equalizer 1 using
6. Measure the frequency characteristics of the amplitude distortion and phase distortion of the test adjustment signal output via the equalized device 18,
Corresponding to this measured value, a correction value of the tap coefficient setting condition stored in the storage circuit 15 of the transversal equalizer 6 is determined completely artificially, and the correction value of the tap coefficient setting condition stored in the storage circuit 15 of the transversal equalizer 6 is determined manually. It is necessary to repeat the adjustment procedure several times to correct the stored contents. Therefore, there is a drawback that it takes a lot of time to adjust the transversal equalizer. Furthermore, correction values for the tap coefficient setting conditions for the storage circuit 15 are artificially determined in accordance with the frequency characteristics of amplitude distortion and phase distortion measured by the distortion measuring device 19. Therefore, there is also the disadvantage that the adjustment of the tap coefficient setting for the transversal equalizer 16 is reduced by 1 degree.
（問題点全解決するための手段）
上述の問題点を解決するために、不発明のトランスバー
サル等化器の自動調整方式においてに、所定のトランス
バーサル等化器と、このトランスバーサル等化器に縦続
接続される被等比装置とを試験調整対象として、前記ト
ランスバーサル等化器の入力側に接続されて、所定の試
験調整用信号を前記トランスバーサル等化器に供給する
試験信号発生器と、前記被等化装置の出力側に接続され
て、Ｃの被測定装置から出力される前記試験調整用信号
の歪周波数特性を計測する歪測定器と、前記歪測定器に
より計測される歪周波数特性を入力し、前記トランスバ
ーサル等化器内のタップ係数設定条件の記憶回路に収納
することを目的として、前記被等比装置に対する歪等化
作用に適合するタップ係数設定条件を算出して出力する
タップ係数演算回路と、全備えている。(Means for Solving All Problems) In order to solve the above-mentioned problems, in the automatic adjustment method of an uninvented transversal equalizer, a predetermined transversal equalizer and this transversal equalizer are used. a test signal generator that is connected to the input side of the transversal equalizer and supplies a predetermined test adjustment signal to the transversal equalizer, with the geometric ratio device connected in cascade to the transversal equalizer as a test adjustment target; and a strain measuring device connected to the output side of the device to be equalized to measure the distortion frequency characteristics of the test adjustment signal output from the device under test C, and the distortion measured by the strain measuring device. Frequency characteristics are input, and tap coefficient setting conditions that are compatible with the distortion equalization effect on the geometric ratio device are calculated for the purpose of storing the frequency characteristics in a storage circuit of tap coefficient setting conditions in the transversal equalizer. It is fully equipped with a tap coefficient calculation circuit for output.
（実施例） 次に、不発明について図面を参照して詳細に説明する。(Example) Next, the invention will be explained in detail with reference to the drawings.
第１図に、本発明の一実施例の主要部を示すブロック図
である１図に示される工うに、本実施例に、トランスバ
ーサル・フィルタ１．Ｄ−Ａ変換器２、制御回路３、サ
ミール・スイッチ４お工び記憶回路５工り成る調整対象
のトランスバーサル等化器６と、被等化装置８とに対応
して、試験信号発生器７と、歪測定器９と、タップ係数
演算回路１０とが備えられている。FIG. 1 is a block diagram showing the main parts of an embodiment of the present invention.In this embodiment, a transversal filter 1. A test signal generator is installed in correspondence with the transversal equalizer 6 to be adjusted, which is composed of a D-A converter 2, a control circuit 3, a Samir switch 4 and an operation memory circuit 5, and a device to be equalized 8. 7, a distortion measuring device 9, and a tap coefficient calculation circuit 10.
第１図において、試験信号発生器７からは、所定の試験
調整用１ｇ号がトランスバーサル等化器６に入力され、
その出力信号は彼等化装置ｔ８ｔ−経由して歪測定器９
に入力される。トランスバーサル等化器６０作用につい
ては、一般的に工く知られているＬうに、サミール・ス
イッチ４から制御回路３を介して記憶回路５に収納され
ているタップ係数設定条件が、タップ係数制御信号とし
て制御回路３を介して読出され、Ｄ−Ａ変換器２により
Ｄ−Ａ変換されてトランスバーサル・フィルタの各重み
付は回路に入力されて、所定の歪等化作用が行われる。In FIG. 1, a predetermined test adjustment signal No. 1g is input from the test signal generator 7 to the transversal equalizer 6,
The output signal is passed through the equalizer t8t- to the distortion measuring device 9.
is input. Regarding the operation of the transversal equalizer 60, tap coefficient setting conditions stored in the memory circuit 5 from the Samir switch 4 via the control circuit 3 are tap coefficient control. The signal is read out as a signal via the control circuit 3, subjected to D-A conversion by the D-A converter 2, and each weighting of the transversal filter is input to the circuit, where a predetermined distortion equalization effect is performed.
歪測定器９においては、被等化装置８から送られてくる
前記試験調整用信号を入力して、その振幅歪ならびに位
相歪の周波数特性が計測される。この歪の周波数特性は
、一般的には所定形式のディジタル臘として出力され、
タップ係数演算回路１０に送出さルる。トランスバーサ
ル等化器６の初期等化特性における等化器を零に設定し
たものとすると、上記の歪周波数特性のディジタル値は
、明らかに被等化装置８において生起されｔ歪量である
。タップ係数演算回路１０においては、上記の歪周波数
特性のディジタル値を入力して、この歪周波数特性に対
応する振幅ならびに位相の歪量を規定量以下に抑制する
ためのタップ係数設定条件が算出され、トランスバーサ
ル等化器６に送られる。この歪抑制用に算出されるタッ
プ係数設定条件が、取りも亘さず被等化装置８に対応す
るトランスバーサル等化器６のタップ係数設定条件その
ものであることは言うまでもない。In the distortion measuring device 9, the test adjustment signal sent from the device to be equalized 8 is input, and the frequency characteristics of its amplitude distortion and phase distortion are measured. The frequency characteristics of this distortion are generally output as digital data in a predetermined format.
It is sent to the tap coefficient calculation circuit 10. Assuming that the initial equalization characteristic of the transversal equalizer 6 is set to zero, the digital value of the above-mentioned distortion frequency characteristic is clearly the amount of distortion t generated in the device to be equalized 8. In the tap coefficient calculating circuit 10, the digital value of the above-mentioned distortion frequency characteristic is input, and tap coefficient setting conditions are calculated for suppressing the amount of amplitude and phase distortion corresponding to this distortion frequency characteristic to a specified amount or less. , are sent to the transversal equalizer 6. It goes without saying that the tap coefficient setting conditions calculated for distortion suppression are exactly the tap coefficient setting conditions of the transversal equalizer 6 corresponding to the device 8 to be equalized.
この算出タップ係数設定条件のディシル値は、制御回路
３に入力され、制御回路３を弁じて記憶回路５に収納さ
れる。このタップ係数設定条件に、所定のタップ制御信
号として制御回路３を介して読出され、Ｄ−Ａ変換器２
を経由してトランスバーサル・フィルタ１に供給される
が、これＫｊリドランスバーサル・フィルタ１の各タッ
プに対するタップ係数が設定され、被等化装置８に対応
するトランスバーサル等化器６の調整が終了する。The decile value of the calculated tap coefficient setting condition is input to the control circuit 3 and stored in the memory circuit 5 through the control circuit 3. Based on this tap coefficient setting condition, a predetermined tap control signal is read out via the control circuit 3, and the DA converter 2
Kj is supplied to the transversal filter 1 via Kj, and the tap coefficients for each tap of the redundance filter 1 are set, and the adjustment of the transversal equalizer 6 corresponding to the device to be equalized 8 is performed. finish.
な２、上記の説明においては、説明の都合上トランスバ
ーサル等化器６の初期等化特性における等化ｉｔ−零に
設定する場合について動作説明を行ったが、一般的には
、本発明による調整方式においてハ、トランスバーサル
等化器６の初期等化特性が任意の等化器を有する場合に
おいても、歪測定器９お工びタップ係数演算回路１０ｔ
−介して、トランスバーサル等化器６の調整が自動的に
実行される。その理由は、前述の動作説明にエリ明らか
な二うに、トランスバーサル等化器６、被等化装置８、
歪測定器９お工びタップ係数演算回路１０が、一つの帰
還ループ全形成しており、このループによる帰還作用に
エリ、歪測定器９において計測される振幅歪ならびに位
相歪の周波数特性に対応する歪量が、トランスバーサル
等化器６０等化限界量まで抑制される形で、トランスバ
ーサル等化器６のタップ係数設定に関する調整が自動的
に行われることによる。すなわち、本発明の自動調整方
式においてに、トランスバーサル等化器６の等化限界量
に違するレベルまで、人為的に入力できる［囲を超える
高次の歪成分をも含めて、正確にタップ係数設定条件を
設定して調整を行うことができる。2. In the above explanation, for convenience of explanation, the operation was explained for the case where the equalization it-zero is set in the initial equalization characteristic of the transversal equalizer 6, but in general, the operation according to the present invention is explained. In the adjustment method, even when the initial equalization characteristic of the transversal equalizer 6 has an arbitrary equalizer, the distortion measuring device 9 and the tap coefficient calculation circuit 10t
- through which the adjustment of the transversal equalizer 6 is automatically carried out. The reason is that the transversal equalizer 6, the equalized device 8,
The distortion measuring device 9 and the tap coefficient calculating circuit 10 form one feedback loop, and the feedback action by this loop corresponds to the frequency characteristics of the amplitude distortion and phase distortion measured by the distortion measuring device 9. This is because the adjustment regarding the tap coefficient setting of the transversal equalizer 6 is automatically performed in such a manner that the distortion amount is suppressed to the equalization limit amount of the transversal equalizer 60. That is, in the automatic adjustment method of the present invention, it is possible to artificially input up to a level that is different from the equalization limit amount of the transversal equalizer 6. Adjustments can be made by setting coefficient setting conditions.
（発明の効果）
以上詳細に説明した工うに、本発明に、調整対象のトラ
ンスバーサル等化器お工び彼等化装置ｔヲ経由して出力
される試験調整用信号の歪周波数特性を用いて前記トラ
ンスバーサル等化器のタップ係数設定条件を算出し、こ
の算出されるタップ係数設定条件に工って前記トランス
バーサル等化器のタップ係数全設定することに１０．極
めて短時間において、正確にトランスバーサル等化器の
調整を目動的に行い得るという効果があり、また、歪周
波数特性の既知値が存在する場合には、サミール・スイ
ッチ等にエリ人為的に前記歪周波数特性全人カした後、
本発明による自動調整を介して、工り正確な微調＊を行
い得ることも可能であり、更に、電話回線等全利用して
、本発明の適用により遠隔制御に工って、前記タップ係
数演算回路の動作制御お工び動作状態監視等を行うこと
にＬす、前記トランスバーサル等化器の調整作業者の負
担を軽減させ得るという効果も期待できる。(Effects of the Invention) As described above in detail, the present invention uses the distortion frequency characteristics of the test adjustment signal outputted via the transversal equalizer to be adjusted and the equalization device t. 10. Calculating tap coefficient setting conditions for the transversal equalizer, and using the calculated tap coefficient setting conditions to set all tap coefficients of the transversal equalizer. This has the effect of making it possible to adjust the transversal equalizer accurately and purposefully in an extremely short time.In addition, if known values of the distortion frequency characteristics exist, it is possible to artificially adjust the transversal equalizer by adjusting the Samir switch, etc. After the distortion frequency characteristics of the whole person are adjusted,
Through the automatic adjustment according to the present invention, it is also possible to perform accurate fine adjustment*.Furthermore, by applying the present invention, it is possible to perform the tap coefficient calculation by remote control, making full use of telephone lines, etc. The present invention can also be expected to reduce the burden on the operator who adjusts the transversal equalizer, who is responsible for controlling the operation of the circuit and monitoring the operation status of the circuit.
第１図は本発明の一実施例の主要部金示すブロック図、
第２図に従来のトランスバーサル等化器の調整方式の主
要部金示すブロック図である。
図において、１．１１・・・・・・トランスバーサル・
フィルタ、２．１２・・・・・・Ｄ−Ａ変換器、３．１
３・・・・・・制御回路、４．１４・・・・・・サミー
ル・スイッチ、５．１５・・・・・・記憶回路、６．１
６・・・・・・トランスバーサル等化器、７．１７・・
・・・・試験信号発生器、８゜１８・・・・・・被等化
Ｉｔｃ［，９，１９・・・・・・歪測定器、１０・・・
・・・タップ係数演算回路。FIG. 1 is a block diagram showing the main parts of an embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a block diagram showing the main parts of a conventional transversal equalizer adjustment method. In the figure, 1.11...transversal
Filter, 2.12...D-A converter, 3.1
3... Control circuit, 4.14... Samir switch, 5.15... Memory circuit, 6.1
6... Transversal equalizer, 7.17...
...Test signal generator, 8゜18...Equalized Itc[,9,19...Distortion measuring device, 10...
...Tap coefficient calculation circuit.
Claims (1)
ル等化器に縦続接続される被等化装置とを試験調整対象
として、 前記トランスバーサル等化器の入力側に接続されて、所
定の試験調整用信号を前記トランスバーサル等化器に供
給する試験信号発生器と、 前記被等化装置の出力側に接続されて、この被等化装置
から出力される前記試験調整用信号の歪周波数特性を計
測する歪測定器と、 前記歪測定器により計測される歪周波数特性を入力し、
前記トランスバーサル等化器内のタップ係数設定条件の
記憶回路に収納することを目的として、前記被等化装置
に対する歪等化作用に適合するタップ係数設定条件を算
出して出力するタップ係数演算回路と、 を備えることを特徴とするトランスバーサル等化器の自
動調整方式。[Claims] A predetermined transversal equalizer and a device to be equalized connected in cascade to the transversal equalizer are tested and adjusted, and the device is connected to the input side of the transversal equalizer. , a test signal generator that supplies a predetermined test adjustment signal to the transversal equalizer; and the test adjustment signal that is connected to the output side of the equalized device and output from the equalized device. inputting a strain measuring device that measures the strain frequency characteristics of the strain measuring device; and inputting the strain frequency characteristics measured by the strain measuring device;
a tap coefficient calculation circuit that calculates and outputs tap coefficient setting conditions that are compatible with the distortion equalization effect on the equalized device for the purpose of storing the tap coefficient setting conditions in a storage circuit in the transversal equalizer; An automatic adjustment method for a transversal equalizer, comprising: and
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26888284A JPS61146022A (en) | 1984-12-20 | 1984-12-20 | Automatic adjusting system of transversal equalizer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26888284A JPS61146022A (en) | 1984-12-20 | 1984-12-20 | Automatic adjusting system of transversal equalizer |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61146022A true JPS61146022A (en) | 1986-07-03 |
Family
ID=17464569
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26888284A Pending JPS61146022A (en) | 1984-12-20 | 1984-12-20 | Automatic adjusting system of transversal equalizer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61146022A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5237588A (en) * | 1989-03-13 | 1993-08-17 | Sony Corporation | Automatic equalizer |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56100554A (en) * | 1979-09-21 | 1981-08-12 | Int Standard Electric Corp | Pulse modulating method |
-
1984
- 1984-12-20 JP JP26888284A patent/JPS61146022A/en active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS56100554A (en) * | 1979-09-21 | 1981-08-12 | Int Standard Electric Corp | Pulse modulating method |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US5237588A (en) * | 1989-03-13 | 1993-08-17 | Sony Corporation | Automatic equalizer |
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