JPS61144564A - ガスクロマトグラフィー用のイオン化検出装置 - Google Patents
ガスクロマトグラフィー用のイオン化検出装置Info
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- JPS61144564A JPS61144564A JP60279392A JP27939285A JPS61144564A JP S61144564 A JPS61144564 A JP S61144564A JP 60279392 A JP60279392 A JP 60279392A JP 27939285 A JP27939285 A JP 27939285A JP S61144564 A JPS61144564 A JP S61144564A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/62—Detectors specially adapted therefor
- G01N30/64—Electrical detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
- G01N27/64—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using wave or particle radiation to ionise a gas, e.g. in an ionisation chamber
- G01N27/66—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using wave or particle radiation to ionise a gas, e.g. in an ionisation chamber and measuring current or voltage
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ガスクロマトグラフィー検出装置、さらに詳
しくはイオン化形のこのような検出装置、およびガスク
ロマトグラフカラムからの流出物を分析する方法に関す
る。
しくはイオン化形のこのような検出装置、およびガスク
ロマトグラフカラムからの流出物を分析する方法に関す
る。
従来の技術
ガスクロマトグラフィー用のイオン化検出装置は当業者
に公知である。１９６１年現在のこのような検出装置を
広範囲に調査することにより、Ｊ、Ｅ、ラブ口７り（Ｌ
ｏｖｅｌｏｃｋ）による１アイオナイゼーシヨ／・メン
ンノ・フォー・、ジ・アナリシス・オプ・ガシズ・アン
Ｐ・ペーノξ −ズ （Ｖ″ １ｏｎｉｚａｔｉｏ
ｎ Ｍｅｔｈｏｄｓ ｆｏｒｔｈｅ Ａｎ
ａｌｙｓｉｓ ｏｆ Ｇａ５ｅｓ ａｎｄ Ｖ
ａｐｏｒｓ“）なる表題の文献〔アナリチカル・ケミス
トリー（Ａｎａｌｙｔｉｃａｌ Ｃｈｅｍｉｓｔｒｙ
）、第３３巻、第２号、１９６１年２月、１６２〜１７
８頁〕が得られた。とりわけ、この文献中で論評された
検出装置は、クロスセクションイオン化検−出装置、ア
ルゴン検出装置、および電子捕捉検出装置を包含する。
に公知である。１９６１年現在のこのような検出装置を
広範囲に調査することにより、Ｊ、Ｅ、ラブ口７り（Ｌ
ｏｖｅｌｏｃｋ）による１アイオナイゼーシヨ／・メン
ンノ・フォー・、ジ・アナリシス・オプ・ガシズ・アン
Ｐ・ペーノξ −ズ （Ｖ″ １ｏｎｉｚａｔｉｏ
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ａｌｙｓｉｓ ｏｆ Ｇａ５ｅｓ ａｎｄ Ｖ
ａｐｏｒｓ“）なる表題の文献〔アナリチカル・ケミス
トリー（Ａｎａｌｙｔｉｃａｌ Ｃｈｅｍｉｓｔｒｙ
）、第３３巻、第２号、１９６１年２月、１６２〜１７
８頁〕が得られた。とりわけ、この文献中で論評された
検出装置は、クロスセクションイオン化検−出装置、ア
ルゴン検出装置、および電子捕捉検出装置を包含する。
これら検出装置の特徴は、それぞれイオン化線源、すな
わち放射性物質を含有するという事実である。
わち放射性物質を含有するという事実である。
クロマトグラフ検出装置における放射性物質の使用が、
必然的に、若干の健康上の危険を実験室中へ導入し、か
つ検出装置の使用後の洗浄のような作業を煩雑にする。
必然的に、若干の健康上の危険を実験室中へ導入し、か
つ検出装置の使用後の洗浄のような作業を煩雑にする。
これら健康上の危険により、またこれら装置は所定の官
庁による監督を受け、これがその適用および使用を煩雑
にする。
庁による監督を受け、これがその適用および使用を煩雑
にする。
放射性素子の必要をなくしたイオン化検出装置が開発さ
れた。しかしながら大ていの場合、これら装置は、これ
らがキャリヤまたはサンプル以外のガスを必要とするこ
とがあるという事実を包含する種々の理由から、アルゴ
ンおよび電子捕捉検出装置として使用するのに不適当で
ある。その例が、前述のラブロックによる文献中に引用
された光イオン化検出装置、およびフレームイオン化検
出装置である。
れた。しかしながら大ていの場合、これら装置は、これ
らがキャリヤまたはサンプル以外のガスを必要とするこ
とがあるという事実を包含する種々の理由から、アルゴ
ンおよび電子捕捉検出装置として使用するのに不適当で
ある。その例が、前述のラブロックによる文献中に引用
された光イオン化検出装置、およびフレームイオン化検
出装置である。
さらに最近になって、熱イオン放射電子線源を使用する
電子捕捉検出装置が開発された。このような検出装置が
米国特許明細書第４３０４９９７号に記載されている。
電子捕捉検出装置が開発された。このような検出装置が
米国特許明細書第４３０４９９７号に記載されている。
しかしながら、この装置は熱イオン検出装置に固有の若
干の難点を有する。このような難点の１つが、放射フィ
ラメントが多数のサンプル成分により゛ゝ被毒“されう
ろことであり、すなわちこれら成分が表面に吸着され、
それによりその熱放射が低減しうろことである。
干の難点を有する。このような難点の１つが、放射フィ
ラメントが多数のサンプル成分により゛ゝ被毒“されう
ろことであり、すなわちこれら成分が表面に吸着され、
それによりその熱放射が低減しうろことである。
発明が解決しようとする問題点
前述の理由から、イオン化線、付加的ガス、および加熱
されたフィラメントの使用を回避するイオン化検出装置
を得ることが望ましい。
されたフィラメントの使用を回避するイオン化検出装置
を得ることが望ましい。
問題点を解決するだめの手段
本発明は、検出室、この室中に電位を形成する装置、お
よびこの室中へ自由電子を供給する装置を含有する種類
の、ガスクロマトグラフィーで使用される検出装置にお
いて、電子供給装置が： 前記検出室に隣接する固体発光素子；および発光素子か
ら電子を放出させるため、この発光素子に紫外線を照射
する装置より成る検出装置に関する。固体発光素子を検
出室に隣接配置しかつこの発光素子を紫外線で照射する
ことにより電子が供給される。
よびこの室中へ自由電子を供給する装置を含有する種類
の、ガスクロマトグラフィーで使用される検出装置にお
いて、電子供給装置が： 前記検出室に隣接する固体発光素子；および発光素子か
ら電子を放出させるため、この発光素子に紫外線を照射
する装置より成る検出装置に関する。固体発光素子を検
出室に隣接配置しかつこの発光素子を紫外線で照射する
ことにより電子が供給される。
また本発明は、クロマトグラ７カラムからサンプルを溶
離するだめのキャリヤとしてガスを使用する種類の、ガ
ス分析で使用される検出装置において： イオン化室を制限するケーシング； 前記カラムからの流出物を前記室中へ注入する入口管路
装置； 前記室からカラム流出物を排出する出口管路装置； 光照射に応答し、電子を前記イオン化室中へ放射する装
置； 光子を前記電子放射装置へ指向させる装置；前記室中に
電位を形成する装置；および前記室を通る流量に応答し
、前記カラムから溶離するサンプルガス成分を表示する
装置より成るガスクロマトグラフィー用のイオン化検出
装置に関する。
離するだめのキャリヤとしてガスを使用する種類の、ガ
ス分析で使用される検出装置において： イオン化室を制限するケーシング； 前記カラムからの流出物を前記室中へ注入する入口管路
装置； 前記室からカラム流出物を排出する出口管路装置； 光照射に応答し、電子を前記イオン化室中へ放射する装
置； 光子を前記電子放射装置へ指向させる装置；前記室中に
電位を形成する装置；および前記室を通る流量に応答し
、前記カラムから溶離するサンプルガス成分を表示する
装置より成るガスクロマトグラフィー用のイオン化検出
装置に関する。
さらに本発明は、ガスクロマトグラ７カラムからの、サ
ンプルガスの存在する流出物を、希ガスキャリヤを使用
し分析するに当り：前記流出物を、発光物質の存在する
イオン化区間を通過させ； 発光物質に光子を照射して電子を放出させ、希ガス原子
をそれらの準安定状態に励起し；この準安定な希ガス原
子をサンプルガスの分子で衝撃し、このサンプルガス分
子をイオン化し；かつ 前記イオン化区間中でイオン化されたサンゾルガス分子
の濃度を測定する、ガスクロマトグラフカラムからの流
出物を分析する方法に関する。
ンプルガスの存在する流出物を、希ガスキャリヤを使用
し分析するに当り：前記流出物を、発光物質の存在する
イオン化区間を通過させ； 発光物質に光子を照射して電子を放出させ、希ガス原子
をそれらの準安定状態に励起し；この準安定な希ガス原
子をサンプルガスの分子で衝撃し、このサンプルガス分
子をイオン化し；かつ 前記イオン化区間中でイオン化されたサンゾルガス分子
の濃度を測定する、ガスクロマトグラフカラムからの流
出物を分析する方法に関する。
まださらに本発明は、ガスクロマトグラ７カラムからの
流出物を、・・ロゲン化化合物および酸素より成る群か
ら選択されたす／プルガスの存在において分析するに当
り、 前記流出物を、光エミフタの存在するイオン化区間を通
過させ； 前記光エミッタに光子を照射して電子を前記イオン化区
間中へ放出させ； 前記イオン化区間にわたり定常電流を形成し；かつ このようなサンプルガスによる電子の捕捉から生じる定
常電流曵の低減を、このようなガスの濃度の示度として
測定する、ガスクロマトグラ７カラムからの流出物を分
析する方法に関する。
流出物を、・・ロゲン化化合物および酸素より成る群か
ら選択されたす／プルガスの存在において分析するに当
り、 前記流出物を、光エミフタの存在するイオン化区間を通
過させ； 前記光エミッタに光子を照射して電子を前記イオン化区
間中へ放出させ； 前記イオン化区間にわたり定常電流を形成し；かつ このようなサンプルガスによる電子の捕捉から生じる定
常電流曵の低減を、このようなガスの濃度の示度として
測定する、ガスクロマトグラ７カラムからの流出物を分
析する方法に関する。
実施例
本発明によれば、ガスクロマトグラフィー用の、放射線
源を必要としないイオン化検出装置が得られる。その代
りに、電子線源が紫外線で照射された光エミッタである
。さらに詳しくは、このような検出装置の１種が、電子
がアルゴンをその準安定状態へ励起するものである。そ
の他のこの種検出装置において、電子がサンプル成分に
より捕捉され、電子捕捉検出装置を形成する。
源を必要としないイオン化検出装置が得られる。その代
りに、電子線源が紫外線で照射された光エミッタである
。さらに詳しくは、このような検出装置の１種が、電子
がアルゴンをその準安定状態へ励起するものである。そ
の他のこの種検出装置において、電子がサンプル成分に
より捕捉され、電子捕捉検出装置を形成する。
以下に、本発明を図面実施例につき詳説する。
第１図は、本発明によるアルゴン検出装置を示す。検出
装置の本体１０は、実質的に不活性な非金属材料、この
実施例の場合はポリテトラフルオルエチレン（ＰＴＦＥ
）より成るブロックである。このブロックには、第１図
に示すように本体１０の左側のリセス１４から延びる実
質的に水平な管路１２が穿孔形成されている。この管路
１２は、本体１ｏの右手側面外方へ連続する小さい管路
１６と同軸である。この管路１２が垂直管路１８と交差
し、この垂直通路が、本体１０の底面外方へ延びる縦孔
２０、および本体１００頂面外方へ延びる大きいねじ孔
２２に接続する。クロマトグラフカラム２４の終端部が
、２ミクロンフリソトジスク２８を支持する、常用のス
テンレス鋼製液体クロマトグラフカラム終端部継手２６
により管路１２へ接続されている。この継手は、リセス
１４中へ押込嵌めされ、かつ、管路１２をライニングす
る管状の銅箔電極３０と電気的に接続する。電極８０、
継手２６およびカラム２４が検出装置の陰極を形成する
。陽極が、管路１６中へ挿入されたステンレス鋼管３２
より成る。１実施例において、管３２が外径１／１６イ
ンチ（約１．５９調）および内径０．０２０インチ（約
０．５１■）を有した。
装置の本体１０は、実質的に不活性な非金属材料、この
実施例の場合はポリテトラフルオルエチレン（ＰＴＦＥ
）より成るブロックである。このブロックには、第１図
に示すように本体１０の左側のリセス１４から延びる実
質的に水平な管路１２が穿孔形成されている。この管路
１２は、本体１ｏの右手側面外方へ連続する小さい管路
１６と同軸である。この管路１２が垂直管路１８と交差
し、この垂直通路が、本体１０の底面外方へ延びる縦孔
２０、および本体１００頂面外方へ延びる大きいねじ孔
２２に接続する。クロマトグラフカラム２４の終端部が
、２ミクロンフリソトジスク２８を支持する、常用のス
テンレス鋼製液体クロマトグラフカラム終端部継手２６
により管路１２へ接続されている。この継手は、リセス
１４中へ押込嵌めされ、かつ、管路１２をライニングす
る管状の銅箔電極３０と電気的に接続する。電極８０、
継手２６およびカラム２４が検出装置の陰極を形成する
。陽極が、管路１６中へ挿入されたステンレス鋼管３２
より成る。１実施例において、管３２が外径１／１６イ
ンチ（約１．５９調）および内径０．０２０インチ（約
０．５１■）を有した。
ねじ孔２２中へねじ込まれているのがねじ込みプラグ３
４であり、このプラグは中空でありかつその終端部にホ
ルダ３６を有し、このホルダに、発光箔の小片３８が例
えば接着により固定されている。この箔は、紫外線によ
り活性化される任意の材料であればよい。１実施例にお
いて、ＥＭ１９７８１Ｒ光エミンタより成る３平方ミリ
メートルのアンチモン／セシウム（ｓｂ／Ｃｓ）合金箔
エミツタが使用された。また使用されることのできる他
の安定な光エミッタは、例えば、ハマ？ ７ （Ｈａｍ
ａｍａ ｊ ＳＬＩ ） Ｒ９５５光電子増倍管からの
多アルカリ金属（Ｎａ−に−５ｂ−Ｃｓ）ホトカッ−１
を包含する。この材料は、大きい放射感度を９３０ ｎ
ｍ〜１６０ ｎｍ間に有する。箔３８は、適当なコネク
タ４ｏおよび導線４２により陰極に電気的に接続されて
いた。検出装置の紫外線源は、縦孔２ｏ中へ挿入サレタ
ハママン“ペンシル“形紫外線うンプΦ舎であった。
４であり、このプラグは中空でありかつその終端部にホ
ルダ３６を有し、このホルダに、発光箔の小片３８が例
えば接着により固定されている。この箔は、紫外線によ
り活性化される任意の材料であればよい。１実施例にお
いて、ＥＭ１９７８１Ｒ光エミンタより成る３平方ミリ
メートルのアンチモン／セシウム（ｓｂ／Ｃｓ）合金箔
エミツタが使用された。また使用されることのできる他
の安定な光エミッタは、例えば、ハマ？ ７ （Ｈａｍ
ａｍａ ｊ ＳＬＩ ） Ｒ９５５光電子増倍管からの
多アルカリ金属（Ｎａ−に−５ｂ−Ｃｓ）ホトカッ−１
を包含する。この材料は、大きい放射感度を９３０ ｎ
ｍ〜１６０ ｎｍ間に有する。箔３８は、適当なコネク
タ４ｏおよび導線４２により陰極に電気的に接続されて
いた。検出装置の紫外線源は、縦孔２ｏ中へ挿入サレタ
ハママン“ペンシル“形紫外線うンプΦ舎であった。
ランプ４４からの紫外線が発光箔３８を衝撃し、管路１
２により形成された検出室中に電子雲を生じる。アルゴ
ン（′または類似に作用するヘリウムのようなガス）を
、クロマトグラフカラムからの溶離す／ゾルのためのキ
ャリヤとして使用した場合、アルザ／原子が、ラゾロソ
クにより説明されたように電子衝撃によりその準安定状
態へ励起されかつその後にサンプル分子をイオン化する
。このことが、電源４６により形成された陽極３２およ
び陰極３０間の印加電圧による電流を生じる。この電流
が、増幅器４８により増幅されかつ記録装置５ｏにより
記録される。
２により形成された検出室中に電子雲を生じる。アルゴ
ン（′または類似に作用するヘリウムのようなガス）を
、クロマトグラフカラムからの溶離す／ゾルのためのキ
ャリヤとして使用した場合、アルザ／原子が、ラゾロソ
クにより説明されたように電子衝撃によりその準安定状
態へ励起されかつその後にサンプル分子をイオン化する
。このことが、電源４６により形成された陽極３２およ
び陰極３０間の印加電圧による電流を生じる。この電流
が、増幅器４８により増幅されかつ記録装置５ｏにより
記録される。
陽極３２の陰極３０に対する位置が、一定の印加電圧に
おけるレスポンスレベルを決定する。
おけるレスポンスレベルを決定する。
第２図に示すように、このレスポンスが、一定の電極分
離度において印加電圧とともに増大する。十分な一般的
作動条件が、電極ギャップ５６９メートルおよび印加電
圧１５００ゼルトテある。第３図に示すように、さらに
高感度の動作モーｒを得るため、印加電圧を２ｏｏｏ＝
ｇルトに増大させると、レスポンスにおいて１桁の量的
増大が得られる。
離度において印加電圧とともに増大する。十分な一般的
作動条件が、電極ギャップ５６９メートルおよび印加電
圧１５００ゼルトテある。第３図に示すように、さらに
高感度の動作モーｒを得るため、印加電圧を２ｏｏｏ＝
ｇルトに増大させると、レスポンスにおいて１桁の量的
増大が得られる。
検出装置の作動に影響する他の因子は、露光されるエミ
ンタ箔の面積である。明白に電子フラフクスが、紫外線
に露光されるエミツタの表面積およびまた線の強度に比
例する。さらに陽極３２が、平滑に研摩された円曲面で
あることが重要である。このことが、高電圧におけるア
ーク放電を回避する。まだ種々の変法が当業者に明白で
ある。例えば、これら変法が、陽極を電気絶縁するため
最低限のプラスチックを使用するステンレス鋼構造を包
含してもよい。また、紫外線が石英導光管を経て導入さ
れてもよく。
ンタ箔の面積である。明白に電子フラフクスが、紫外線
に露光されるエミツタの表面積およびまた線の強度に比
例する。さらに陽極３２が、平滑に研摩された円曲面で
あることが重要である。このことが、高電圧におけるア
ーク放電を回避する。まだ種々の変法が当業者に明白で
ある。例えば、これら変法が、陽極を電気絶縁するため
最低限のプラスチックを使用するステンレス鋼構造を包
含してもよい。また、紫外線が石英導光管を経て導入さ
れてもよく。
およびノイズ低減が、ラブロックの３極検出装置におけ
るように、発生せるイオンを捕集する第３の電極を導入
することにより達成されてもよい。
るように、発生せるイオンを捕集する第３の電極を導入
することにより達成されてもよい。
本発明の他の変法を第４図および第５図に示す。この変
法において、電子源としての光エミッションが電子捕捉
検出装置で使用される。当業者に公知のように、電子捕
捉検出装置の場合、自由電子雲を含有するイオン室が、
形成された全ての自由電子を捕集するのに丁度に十分で
ある電位に維持される。このようなイオン室中へ、自由
電子を捕捉することのできるガスまたは蒸気が導入され
た場合、゛相応する電流量の低減を容易に観測すること
ができる。このものは、若干の特定成分、詳しくは酸素
および・・ロゲン化化合物に対し極めて鋭敏な検出装置
である。窒素は、最も一般に使用されるキャリヤガスで
ある。
法において、電子源としての光エミッションが電子捕捉
検出装置で使用される。当業者に公知のように、電子捕
捉検出装置の場合、自由電子雲を含有するイオン室が、
形成された全ての自由電子を捕集するのに丁度に十分で
ある電位に維持される。このようなイオン室中へ、自由
電子を捕捉することのできるガスまたは蒸気が導入され
た場合、゛相応する電流量の低減を容易に観測すること
ができる。このものは、若干の特定成分、詳しくは酸素
および・・ロゲン化化合物に対し極めて鋭敏な検出装置
である。窒素は、最も一般に使用されるキャリヤガスで
ある。
第４図および第５図に示した電子捕捉検出装置は、金属
製本体５２を包含し、これは例えばステンレス鋼または
アルミニウムより成ることができる。この本体は、それ
を貫通する水平円筒孔５４、および実質的にそれにわた
り延び、る平行な円筒リセス５６を有する。孔５４およ
びリセス５６が垂直スロット５８により接続されている
。第４図に示すように、リセス５６の左端に、紫外線う
／プロ２の形状を受容しかつそれに適合するようにフレ
ア６０が備えられている。リセス５６、スロット５８お
よび孔５４の内面が、紫外線の反射率を増大させるため
高度に研磨されている。
製本体５２を包含し、これは例えばステンレス鋼または
アルミニウムより成ることができる。この本体は、それ
を貫通する水平円筒孔５４、および実質的にそれにわた
り延び、る平行な円筒リセス５６を有する。孔５４およ
びリセス５６が垂直スロット５８により接続されている
。第４図に示すように、リセス５６の左端に、紫外線う
／プロ２の形状を受容しかつそれに適合するようにフレ
ア６０が備えられている。リセス５６、スロット５８お
よび孔５４の内面が、紫外線の反射率を増大させるため
高度に研磨されている。
石英管６４が孔５４中に取付けられている。
１実施例において、この管が長さ４５ミリメートルであ
りかつ内径１４ミリ、メートルを有した。
りかつ内径１４ミリ、メートルを有した。
この管の終端部がＰＴＦＥプラグ６６、．６８により停
止されている。これらプラグ６６．６８は陰極７ｏおよ
び陽極７２をそれぞれ収容する同じ同軸貫通孔を有し、
これら電極のそれぞれが外径１／１６“ （約１６．Ｗ
ａ）および内径１／３２ ”（約０．８ ｍｍ ）のス
テンレス鋼管から形成されている。さらに、プラグ６６
に掃去孔７４が備えられている。石英管６４の下側内周
面の範囲内に対向して取付けられているのが、導線７８
により陰極７０に電気的に接続された発光箔片７６であ
る。実際の実施例において、この箔７６は１５ｘ２５ミ
ＩＪメートルの寸法であった。
止されている。これらプラグ６６．６８は陰極７ｏおよ
び陽極７２をそれぞれ収容する同じ同軸貫通孔を有し、
これら電極のそれぞれが外径１／１６“ （約１６．Ｗ
ａ）および内径１／３２ ”（約０．８ ｍｍ ）のス
テンレス鋼管から形成されている。さらに、プラグ６６
に掃去孔７４が備えられている。石英管６４の下側内周
面の範囲内に対向して取付けられているのが、導線７８
により陰極７０に電気的に接続された発光箔片７６であ
る。実際の実施例において、この箔７６は１５ｘ２５ミ
ＩＪメートルの寸法であった。
紫外線ランプ６２は・・ママン紫外線う／ゾであり、か
つその放射が、これら図面から明白なヨウに、直接にス
ロット５８および石英管６４を経て発光箔７６０面にま
で透過される。それにより種々の印加電圧で得られる定
常電流を第６図の図表に示す。
つその放射が、これら図面から明白なヨウに、直接にス
ロット５８および石英管６４を経て発光箔７６０面にま
で透過される。それにより種々の印加電圧で得られる定
常電流を第６図の図表に示す。
前述により形成した検出装置に、陰極７０を経て流入す
る毎分５０ミリメートルの窒素流を供給した。この検出
装置は１．ノクロルエタン、クロロホルムおよヒドリク
ロルエチレンのサンプルに十分に応答した。しかしなが
ら、ヘキサ／およびヘプタ／は実際に応答が得られなか
った。明白なことは、電子捕捉モーＰで作動された検出
装置がハロゲン化化合物の場合にだけ適当な応答を生じ
ることを示す。
る毎分５０ミリメートルの窒素流を供給した。この検出
装置は１．ノクロルエタン、クロロホルムおよヒドリク
ロルエチレンのサンプルに十分に応答した。しかしなが
ら、ヘキサ／およびヘプタ／は実際に応答が得られなか
った。明白なことは、電子捕捉モーＰで作動された検出
装置がハロゲン化化合物の場合にだけ適当な応答を生じ
ることを示す。
多数の変法が、エレクトロン検出セルのこの設計および
構造変更に際′し行なわれうろことは当業者に明白であ
る。例えば、紫外線ランプが検出装置本体中に全体的に
含有されて、もよく、その結果紫外線エネルギがシリン
ダを経てエミフタの長さを照射することができる。選択
的に、紫外線エネルギは、光束の均質な分配を保証する
ため半球面の終端部を有する導光管を経てセル中へ透過
されることができる。これら技術が、さらに容易に掃去
されることのできる小形セルの形成を可能にする。他の
変法は、紫外線ランプを、これを微細な金網で被覆する
ことにより陽極として使用することである。さらに、掃
去ガスが検出セル中へ、理想的に検出セルの壁に密接す
る環状流として導入されうるとともに、サンプルがセル
に軸方向に入る。このことが。
構造変更に際′し行なわれうろことは当業者に明白であ
る。例えば、紫外線ランプが検出装置本体中に全体的に
含有されて、もよく、その結果紫外線エネルギがシリン
ダを経てエミフタの長さを照射することができる。選択
的に、紫外線エネルギは、光束の均質な分配を保証する
ため半球面の終端部を有する導光管を経てセル中へ透過
されることができる。これら技術が、さらに容易に掃去
されることのできる小形セルの形成を可能にする。他の
変法は、紫外線ランプを、これを微細な金網で被覆する
ことにより陽極として使用することである。さらに、掃
去ガスが検出セル中へ、理想的に検出セルの壁に密接す
る環状流として導入されうるとともに、サンプルがセル
に軸方向に入る。このことが。
エミフタの汚染からの保護を支援する。
また、多数の他の変法が、本発明の範囲内で行なわれう
ろことは明白である。従って、前述の実施例は本発明を
説明するにすぎず、本発明がこれにより制限されないこ
とは明白である。
ろことは明白である。従って、前述の実施例は本発明を
説明するにすぎず、本発明がこれにより制限されないこ
とは明白である。
第１図は本発明による装置の１実施例の構造を示す縦断
面図、第２図および第３図は、第１図の装置につきそれ
ぞれサンプル負荷量とレスポンスとの関係および印加電
圧とレスポンス変動との関係を示す図表、第４図および
第５図は本発明による装置の他の１実施例の構造を示す
それぞれ縦断面図およびその５−５線による横断面図、
および第６図は、第４図および第５図に示した装置につ
き印加電圧と定常電流との関係を示す図表である。 １０・・・検出装置本体、１２・・・水平管路、１４・
・・リセス、１６・・・小形管路、１８・・・垂直管路
、２０・・・縦孔、２２・・・ねじ孔、２＋・・・クロ
マトグラフカラム、２６・・・クロマトグラ７カラム終
端部継手、２８・・・フリントノスク、３ｏ・・・管状
鋼箔電極（陰極）、３２・・・ステンレス鋼管（陽極）
、３４・・・ねじ込みプラグ、３６・・・発光箔ホルダ
、３８・・・発光箔、４０・・・コ坏りタ、４２・・・
導線、４４・・・紫外線ランプ、４６・・・電源、４８
・・・増幅器、５０・・・記録装置、５２・・・金属製
本体、５４・・・水平円筒孔、５６・・・リセス、５８
・・・垂直スロット、６０゛°フレア、６２・・・紫外
線ランプ。 ６４・・・石英管、６６．６８・・・ＰＴＦＥゾラグ、
７０・・・陰極、７２・・−陽榎、７４・・・掃去孔、
７６・・・発光箔、７８・・・導線 １２・・・検出室 ２卜・・ゴスクコマドグラフカラム ３０ ・陰極 ３２・・・陽極 ／Ｉ−ｊ／Ｉ” ｌ１ｌ−’ ／ＩＩ−’
サンプル負荷重（ダラム） 印加電圧（ゼルト）
面図、第２図および第３図は、第１図の装置につきそれ
ぞれサンプル負荷量とレスポンスとの関係および印加電
圧とレスポンス変動との関係を示す図表、第４図および
第５図は本発明による装置の他の１実施例の構造を示す
それぞれ縦断面図およびその５−５線による横断面図、
および第６図は、第４図および第５図に示した装置につ
き印加電圧と定常電流との関係を示す図表である。 １０・・・検出装置本体、１２・・・水平管路、１４・
・・リセス、１６・・・小形管路、１８・・・垂直管路
、２０・・・縦孔、２２・・・ねじ孔、２＋・・・クロ
マトグラフカラム、２６・・・クロマトグラ７カラム終
端部継手、２８・・・フリントノスク、３ｏ・・・管状
鋼箔電極（陰極）、３２・・・ステンレス鋼管（陽極）
、３４・・・ねじ込みプラグ、３６・・・発光箔ホルダ
、３８・・・発光箔、４０・・・コ坏りタ、４２・・・
導線、４４・・・紫外線ランプ、４６・・・電源、４８
・・・増幅器、５０・・・記録装置、５２・・・金属製
本体、５４・・・水平円筒孔、５６・・・リセス、５８
・・・垂直スロット、６０゛°フレア、６２・・・紫外
線ランプ。 ６４・・・石英管、６６．６８・・・ＰＴＦＥゾラグ、
７０・・・陰極、７２・・−陽榎、７４・・・掃去孔、
７６・・・発光箔、７８・・・導線 １２・・・検出室 ２卜・・ゴスクコマドグラフカラム ３０ ・陰極 ３２・・・陽極 ／Ｉ−ｊ／Ｉ” ｌ１ｌ−’ ／ＩＩ−’
サンプル負荷重（ダラム） 印加電圧（ゼルト）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、検出室（１２）、この室中に電位を形成する装置（
２４、２６、３０、３２）、およびこの室中へ自由電子
を供給する装置（４４、３８）を含有する種類の、ガス
クロマトグラフィーで使用される検出装置において、電
子供給装置（３８、４４）が： 前記検出室（１２）に隣接する固体発光素子（３８）；
および 発光素子（３８）から電子を放出させるため、この発光
素子（３８）に紫外線を照射する装置（４４）より成る
ことを特徴とするガスクロマトグラフィー用のイオン化
検出装置。 ２、前記発光素子（３８）がアンチモンおよびセシウム
より成る合金であることを特徴とする、特許請求の範囲
第１項記載のガスクロマトグラフィー用のイオン化検出
装置。 ３、前記合金がナトリウムおよびカリウムを含有するこ
とを特徴とする、特許請求の範囲第２項記載のガスクロ
マトグラフィー用のイオン化検出装置。 ４、クロマトグラフカラムからサンプルを溶離するため
のキャリヤとしてガスを使用する種類の、ガス分析で使
用される検出装置において： イオン化室を制限するケーシング； 前記カラムからの流出物を前記室中へ注入する入口管路
装置； 前記室からカラム流出物を排出する出口管路装置； 光照射に応答し、電子を前記イオン化室中へ放射する装
置； 光子を前記電子放射装置へ指向させる装置； 前記室中に電位を形成する装置；および 前記室を通る流量に応答し、前記カラムから溶離するサ
ンプルガス成分を表示する装置より成るガスクロマトグ
ラフィー用のイオン化検出装置。 ５、ガスクロマトグラフカラムからの、サンプルガスの
存在する流出物を、希ガスキャリヤを使用し分析するに
当り： 前記流出物を、発光物質の存在するイオン化区間を通過
させ； 発光物質に光子を照射して電子を放出させ、希ガス原子
をそれらの準安定状態に励起し；この準安定な希ガス原
子をサンプルガスの分子で衝撃し、このサンプルガス分
子をイオン化し；かつ 前記イオン化区間中でイオン化されたサンプルガス分子
の濃度を測定することを特徴とするガスクロマトグラフ
カラムからの流出物を分析する方法。 ６、前記希ガスがアルゴンであることを特徴とする、特
許請求の範囲第５項記載のガスクロマトグラフカラムか
らの流出物を分析する方法。 ７、前記濃度測定が、選択された電位差における電極間
の電流量を測定することより成ることを特徴とする、特
許請求の範囲第５項記載のガスクロマトグラフカラムか
らの流出物を分析する方法。 ８、ガスクロマトグラフカラムからの流出物を、ハロゲ
ン化化合物および酸素より成る群から選択されたサンプ
ルガスの存在において分析するに当り、 前記流出物を、光エミッタの存在するイオン化区間を通
過させ； 前記光エミッタに光子を照射して電子を前記イオン化区
間中へ放出させ； 前記イオン化区間にわたり定常電流を形成し；かつ このようなサンプルガスによる電子の捕捉から生じる定
常電流の低減を、このようなガスの濃度の示度として測
定することを特徴とするガスクロマトグラフカラムから
の流出物を分析する方法。 ９、前記光子が紫外領域中にあることを特徴とする、特
許請求の範囲第８項記載のガスクロマトグラフカラムか
らの流出物を分析する方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB848431663A GB8431663D0 (en) | 1984-12-14 | 1984-12-14 | Ionization detector |
| GB8431663 | 1984-12-14 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61144564A true JPS61144564A (ja) | 1986-07-02 |
| JPH0625753B2 JPH0625753B2 (ja) | 1994-04-06 |
Family
ID=10571221
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60279392A Expired - Lifetime JPH0625753B2 (ja) | 1984-12-14 | 1985-12-13 | ガスクロマトグラフィー用のイオン化検出装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4740695A (ja) |
| EP (1) | EP0184892B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0625753B2 (ja) |
| CA (1) | CA1233878A (ja) |
| DE (1) | DE3586529T2 (ja) |
| GB (1) | GB8431663D0 (ja) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB8506788D0 (en) * | 1985-03-15 | 1985-04-17 | Secr Defence | Thermal electron source |
| GB2183897B (en) * | 1985-10-30 | 1990-07-11 | Perkin Elmer Corp | Ionization detectors for gas chromatography |
| US4804846A (en) * | 1987-12-04 | 1989-02-14 | O. I. Corporation | Photoionization detector for gas chromatography |
| US4988870A (en) * | 1989-10-10 | 1991-01-29 | Und-Sem Foundation | Open-split interface for mass spectrometers |
| US5198772A (en) * | 1991-03-12 | 1993-03-30 | Mks Instruments, Inc. | Removable discharge initiating means for cold cathode discharge ionization gauge |
| DE19627620C1 (de) * | 1996-07-09 | 1997-11-13 | Bruker Saxonia Analytik Gmbh | Elektroneneinfangdetektor |
| US5739699A (en) * | 1996-09-03 | 1998-04-14 | Hewlett-Packard Company | Method and apparatus for ion discrimination in an electron capture detector |
| US5760291A (en) * | 1996-09-03 | 1998-06-02 | Hewlett-Packard Co. | Method and apparatus for mixing column effluent and make-up gas in an electron capture detector |
| US5804828A (en) * | 1996-09-30 | 1998-09-08 | Hewlett-Packard Company | Method and apparatus for optimizing the sensitivity and linearity of an electron capture detector |
| US5892364A (en) * | 1997-09-11 | 1999-04-06 | Monagle; Matthew | Trace constituent detection in inert gases |
| US9310308B2 (en) | 2012-12-07 | 2016-04-12 | Ldetek Inc. | Micro-plasma emission detector unit and method |
| US10126278B2 (en) | 2016-03-04 | 2018-11-13 | Ldetek Inc. | Thermal stress resistant micro-plasma emission detector unit |
| WO2019144228A1 (en) | 2018-01-23 | 2019-08-01 | Ldetek Inc. | Valve assembly for a gas chromatograph |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4219671Y1 (ja) * | 1964-02-15 | 1967-11-14 |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US3238367A (en) * | 1963-02-20 | 1966-03-01 | Beckman Instruments Inc | Device for the analysis of a fluent material by bombarding the same with photoelectrons |
| NL6406030A (ja) * | 1964-05-29 | 1965-11-30 | ||
| US3824684A (en) * | 1973-08-27 | 1974-07-23 | Black & Decker Mfg Co | Method of assembling an electric motor device and heat sink |
| JPS5522741B2 (ja) * | 1975-01-16 | 1980-06-18 | ||
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| GB1571799A (en) * | 1975-12-15 | 1980-07-16 | Secr Defence | Detection of polar vapours |
| US4377749A (en) * | 1981-02-25 | 1983-03-22 | Young Robert A | Photoionizer |
| US4413185A (en) * | 1981-04-29 | 1983-11-01 | Her Majesty The Queen In Right Of Canada, As Represented By The Minister Of National Defence | Selective photoionization gas chromatograph detector |
| US4476392A (en) * | 1981-12-28 | 1984-10-09 | Young Robert A | Photoelectron source for use in a gas chromatograph detector and mass spectrometer ion source |
-
1984
- 1984-12-14 GB GB848431663A patent/GB8431663D0/en active Pending
-
1985
- 1985-07-22 EP EP85305196A patent/EP0184892B1/en not_active Expired
- 1985-07-22 DE DE8585305196T patent/DE3586529T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1985-10-15 US US06/787,563 patent/US4740695A/en not_active Expired - Lifetime
- 1985-10-18 CA CA000493359A patent/CA1233878A/en not_active Expired
- 1985-12-13 JP JP60279392A patent/JPH0625753B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4219671Y1 (ja) * | 1964-02-15 | 1967-11-14 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3586529T2 (de) | 1993-01-21 |
| EP0184892A1 (en) | 1986-06-18 |
| CA1233878A (en) | 1988-03-08 |
| GB8431663D0 (en) | 1985-01-30 |
| DE3586529D1 (de) | 1992-09-24 |
| EP0184892B1 (en) | 1992-08-19 |
| US4740695A (en) | 1988-04-26 |
| JPH0625753B2 (ja) | 1994-04-06 |
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