JPS61124672A - ヤーン束の平均断面形状を測定する方法 - Google Patents
ヤーン束の平均断面形状を測定する方法Info
- Publication number
- JPS61124672A JPS61124672A JP60258795A JP25879585A JPS61124672A JP S61124672 A JPS61124672 A JP S61124672A JP 60258795 A JP60258795 A JP 60258795A JP 25879585 A JP25879585 A JP 25879585A JP S61124672 A JPS61124672 A JP S61124672A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- yarn
- light
- degrees
- scattered light
- angle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 15
- 238000012986 modification Methods 0.000 claims description 10
- 230000004048 modification Effects 0.000 claims description 10
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 claims description 3
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 claims 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 20
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 9
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 6
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 6
- 230000004044 response Effects 0.000 description 4
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 4
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 2
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 2
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 2
- 238000007373 indentation Methods 0.000 description 2
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 238000012905 input function Methods 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 description 1
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229920006267 polyester film Polymers 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 239000004753 textile Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/28—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring areas
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/08—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters
- G01B11/10—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters of objects while moving
- G01B11/105—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters of objects while moving using photoelectric detection means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
- G01N15/0205—Investigating particle size or size distribution by optical means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/36—Textiles
- G01N33/365—Filiform textiles, e.g. yarns
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Pathology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Treatment Of Fiber Materials (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Spinning Or Twisting Of Yarns (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は一般的に繊条構造物の製、造に関し、更に詳細
には、ヤーン又は繊条の平均断面特性を光散乱分析(1
iaht scattering analysis
)から決定する方法に関する。
には、ヤーン又は繊条の平均断面特性を光散乱分析(1
iaht scattering analysis
)から決定する方法に関する。
従来の技術及び発明が解決しようとする問題照光反射率
測定は、米国特許第3,471.702号においてパン
ベルド(Van Veld )によって開示された如
く、例えば嵩(bulk>の如く、あるヤーンの物理的
パラメータと相関関係があることが知られているが、ヤ
ーン又は繊条からの光の反射及びこのようなり−ン又は
繊条の断面特性がこのような反射に有している効果につ
いての知識の欠如によって、マルチローブの(nult
ilobal)ヤーン又は繊条の平均断面形状の特性を
表わすための満足すべき方法は案出されていない。
測定は、米国特許第3,471.702号においてパン
ベルド(Van Veld )によって開示された如
く、例えば嵩(bulk>の如く、あるヤーンの物理的
パラメータと相関関係があることが知られているが、ヤ
ーン又は繊条からの光の反射及びこのようなり−ン又は
繊条の断面特性がこのような反射に有している効果につ
いての知識の欠如によって、マルチローブの(nult
ilobal)ヤーン又は繊条の平均断面形状の特性を
表わすための満足すべき方法は案出されていない。
問題を解決するための手段
入射及び散乱光線の双方を含んでいる平面に垂直に方向
づけされた長手方向の軸線を有するマルチローブのヤー
ン束から散乱した検出光が、マル 、チローブの繊条の
断面形状の特性を表わすパラメータを得るための最も適
切な方法を提供することが発見された。重要なパラメー
タの1つである平均修正比(M R) (avera
ae modification ratio)は、引
張り(tention )下にある径路内のマルチロー
ブの繊条の束を動かすことにより、それから入射光線を
繊条束径路に対して垂直な平面内の東上に向けることに
よって測定される。入射光線の平面において束から散乱
した光は、入射光線の位置から6度乃至176度の任意
のところに角度的に位置づけされた少くとも1つの場所
において検出され、そしてその強さが測定される。この
ようにして測定された強さが分析されて、東向の繊条の
平均修正比を決定する。
づけされた長手方向の軸線を有するマルチローブのヤー
ン束から散乱した検出光が、マル 、チローブの繊条の
断面形状の特性を表わすパラメータを得るための最も適
切な方法を提供することが発見された。重要なパラメー
タの1つである平均修正比(M R) (avera
ae modification ratio)は、引
張り(tention )下にある径路内のマルチロー
ブの繊条の束を動かすことにより、それから入射光線を
繊条束径路に対して垂直な平面内の東上に向けることに
よって測定される。入射光線の平面において束から散乱
した光は、入射光線の位置から6度乃至176度の任意
のところに角度的に位置づけされた少くとも1つの場所
において検出され、そしてその強さが測定される。この
ようにして測定された強さが分析されて、東向の繊条の
平均修正比を決定する。
好ましい実M態様において、束から散乱した光は入射光
線から約128度、角度的に変位した2つの近接して間
隔をへだてた場所において検出される。
線から約128度、角度的に変位した2つの近接して間
隔をへだてた場所において検出される。
明細書及び特許請求の範囲中の用、iIr!条(fil
ament) J及び[ヤーン(yarn) Jはそれ
等の通常、受は入れられた意味に使用されている、即ち
[繊条(filament) Jは極端な艮ざの個々の
織物用繊維のことを言い、そして[ヤーン(yarn)
Jはある程度の結合力を有している繊条の束のことを
言う。用語[修正比(modificationrat
io ) J (MR)と言うのはマルチローブの繊
条のチップ(ttp)を囲んでいる円の半径(RO)と
繊条のへこみ内に記入される円の半径(Ri )との比
を意味する。用語「チップ半径比(tipradius
ratio) J (T R)と言うのは、マルチ
ローブの繊条のチップ内の最大の記入された円の半径(
Rt )と、繊条内の最大の記入された円の半径(Ri
)との比を意味する。[アーム角度(arn+ an
gle ) J (AA )と言うのは、そのチップに
対して対称な線上の点からマルチローブの繊条の繊条チ
ップのいづれの側に対してタンジェントによって形成さ
れた鋭角(φ)を意味する。これ等のシンボルの意味は
本文の後で論述する。
ament) J及び[ヤーン(yarn) Jはそれ
等の通常、受は入れられた意味に使用されている、即ち
[繊条(filament) Jは極端な艮ざの個々の
織物用繊維のことを言い、そして[ヤーン(yarn)
Jはある程度の結合力を有している繊条の束のことを
言う。用語[修正比(modificationrat
io ) J (MR)と言うのはマルチローブの繊
条のチップ(ttp)を囲んでいる円の半径(RO)と
繊条のへこみ内に記入される円の半径(Ri )との比
を意味する。用語「チップ半径比(tipradius
ratio) J (T R)と言うのは、マルチ
ローブの繊条のチップ内の最大の記入された円の半径(
Rt )と、繊条内の最大の記入された円の半径(Ri
)との比を意味する。[アーム角度(arn+ an
gle ) J (AA )と言うのは、そのチップに
対して対称な線上の点からマルチローブの繊条の繊条チ
ップのいづれの側に対してタンジェントによって形成さ
れた鋭角(φ)を意味する。これ等のシンボルの意味は
本文の後で論述する。
本発明の方法によって特徴づけられるべき繊条の個々の
繊条及びヤーンの束は溶融したポリマー又はポリマーの
溶液をマルチローブの形状を備えているオリフィスを通
り押出成形によって作られることができる。
繊条及びヤーンの束は溶融したポリマー又はポリマーの
溶液をマルチローブの形状を備えているオリフィスを通
り押出成形によって作られることができる。
実 施 例
本発明によるマルチローブの(multilobal)
繊条又はヤーンに関する散乱光分析を行うために3つの
測定モードが例示されている。第1図に示した如く、第
1のモードでは、サンプル繊条又はヤーン10は、その
サンプルを垂直な入射光線12の通路内に位置づけして
、サンプルの長手方向の軸線の周りにサンプル10のコ
ンピュータ制御回転を可能にする保持器(図示せず)に
取付けられる。この装置では、検出器14はサンプル1
0の長手方向の軸線に垂直な平面内で入射光線12の方
向に対して6度から176度を走査する角度θの1度毎
にサンプル10を走査する。各検出器走査の終りにあた
って、サンプルはその軸線の周りに10度回転される。
繊条又はヤーンに関する散乱光分析を行うために3つの
測定モードが例示されている。第1図に示した如く、第
1のモードでは、サンプル繊条又はヤーン10は、その
サンプルを垂直な入射光線12の通路内に位置づけして
、サンプルの長手方向の軸線の周りにサンプル10のコ
ンピュータ制御回転を可能にする保持器(図示せず)に
取付けられる。この装置では、検出器14はサンプル1
0の長手方向の軸線に垂直な平面内で入射光線12の方
向に対して6度から176度を走査する角度θの1度毎
にサンプル10を走査する。各検出器走査の終りにあた
って、サンプルはその軸線の周りに10度回転される。
サンプルが360度に亘り回転されたときこれ等の10
度の増分において検出され光の強さは平均される。
度の増分において検出され光の強さは平均される。
第2図に示された如き第2のモードは検出器14−角度
θ′の予め選択された位置に固定されていて、走査しな
いという点で第1のモードと異なっている。ヤーン10
′は、ヤーンの走行路に垂直な平面内にある入射光線1
2′の焦点を通り引張りながら径路内を移動される。ヤ
ーンから散乱した光は入射光と同一の平面において検出
器14−によって検出される。
θ′の予め選択された位置に固定されていて、走査しな
いという点で第1のモードと異なっている。ヤーン10
′は、ヤーンの走行路に垂直な平面内にある入射光線1
2′の焦点を通り引張りながら径路内を移動される。ヤ
ーンから散乱した光は入射光と同一の平面において検出
器14−によって検出される。
第3図に示した如き第3のモードは、約128度の角度
θ“において光線12′の入射点から固定した関係に2
つの近接して間隔をへだてた検出器14″及び14”’
が位置づけされていることを除けば、第2図の第2のモ
ードと本質的に同一である。検出器14”、14”’は
好ましくは約6度間隔をへだてられている。
θ“において光線12′の入射点から固定した関係に2
つの近接して間隔をへだてた検出器14″及び14”’
が位置づけされていることを除けば、第2図の第2のモ
ードと本質的に同一である。検出器14”、14”’は
好ましくは約6度間隔をへだてられている。
上記に規定した如く、修正比(MR)、アーム角度(A
A)及びチップ半径比(TR)の用語は第4図を参照す
ることによってより完全に理解されることができる、(
MR)はRO/R+に関連しており、この場合、RlL
は繊条10のチップ(tips) 22の周囲を囲んで
いる円20の半径であり、RiG、t11条10のへこ
み24内に記入されている円の半径である。チップ半径
比(TR)は繊条10のチップ22内に含まれている最
大の円26の半径Rtの比であり、そしてアーム角度(
AA)は、そのチップの対称線上の点29から繊条チッ
プ22のそれぞれの側へのタンジェントによって形成さ
れた鋭角φである。
A)及びチップ半径比(TR)の用語は第4図を参照す
ることによってより完全に理解されることができる、(
MR)はRO/R+に関連しており、この場合、RlL
は繊条10のチップ(tips) 22の周囲を囲んで
いる円20の半径であり、RiG、t11条10のへこ
み24内に記入されている円の半径である。チップ半径
比(TR)は繊条10のチップ22内に含まれている最
大の円26の半径Rtの比であり、そしてアーム角度(
AA)は、そのチップの対称線上の点29から繊条チッ
プ22のそれぞれの側へのタンジェントによって形成さ
れた鋭角φである。
マルチローブのヤーンの断面形状特性を分析するために
例示の目的のために選択された8flは光学的装置(第
5図)と、移送システム(第6図)と、測定制御システ
ム(第7図)とを含む。第5図を参照すると、光学的装
置が示されており、これは第3図に関連して記載した好
ましいモードを行なうように操作されることができる。
例示の目的のために選択された8flは光学的装置(第
5図)と、移送システム(第6図)と、測定制御システ
ム(第7図)とを含む。第5図を参照すると、光学的装
置が示されており、これは第3図に関連して記載した好
ましいモードを行なうように操作されることができる。
更に詳細には、100ワット石英ハロゲンランプ40か
らの光はレンズ42によって低角度光学的ディフューザ
(diffuser) 48を経て、全体的に46とし
て示された、光学的ハウジングの入口においてスリット
44上に焦点を合わされる。シャープカットオフフィル
ター50がスリット44の丁度下流に配置されており、
ヤーンを螢光発光せしめることがある光線から紫外線光
を除去する。レンズ52は、焦点レンズ53及びコンピ
ューター作動シャッター55を経て、ディフューザ56
へ基準光線と呼ばれる、光線の1部分を反射するビーム
スプリッタ−54を通過する前に光線を規準する。
らの光はレンズ42によって低角度光学的ディフューザ
(diffuser) 48を経て、全体的に46とし
て示された、光学的ハウジングの入口においてスリット
44上に焦点を合わされる。シャープカットオフフィル
ター50がスリット44の丁度下流に配置されており、
ヤーンを螢光発光せしめることがある光線から紫外線光
を除去する。レンズ52は、焦点レンズ53及びコンピ
ューター作動シャッター55を経て、ディフューザ56
へ基準光線と呼ばれる、光線の1部分を反射するビーム
スプリッタ−54を通過する前に光線を規準する。
ディフューザ56から拡散した光は中立密度(neut
ral deusity )を通り2つの光フフイバー
RL 、及びR2の受光端内を通過する。
ral deusity )を通り2つの光フフイバー
RL 、及びR2の受光端内を通過する。
ビームスプリッタ−54によって伝送された光線の部分
は分析ビームと呼ばれ、コンピュータ作動シャッター6
0及び光線を移動しているヤーン12上に焦点を合わせ
るためのレンズ62を通過する。非散乱光は反射器プレ
ート63を経て吸光のための光トラップ(light
trap)に送る。ヤーンの走行路に垂直な平面及び入
射ビームの平面において、ヤーン12から散乱した光は
、光ファイバY1及びYlの2つの近接して間隔をへだ
でた端を含んでいる検出器ハウジング66によって検出
される、Yl及びYlの各々はそれ自身のスリット穴及
びハジイマイラー(hazy my+ar)ポリエステ
ルフィルム光学的ディフューザ68に整合する。スリッ
ト穴が互に5.7度離れた2つの別々の角度における散
乱光の受講を許容する。
は分析ビームと呼ばれ、コンピュータ作動シャッター6
0及び光線を移動しているヤーン12上に焦点を合わせ
るためのレンズ62を通過する。非散乱光は反射器プレ
ート63を経て吸光のための光トラップ(light
trap)に送る。ヤーンの走行路に垂直な平面及び入
射ビームの平面において、ヤーン12から散乱した光は
、光ファイバY1及びYlの2つの近接して間隔をへだ
でた端を含んでいる検出器ハウジング66によって検出
される、Yl及びYlの各々はそれ自身のスリット穴及
びハジイマイラー(hazy my+ar)ポリエステ
ルフィルム光学的ディフューザ68に整合する。スリッ
ト穴が互に5.7度離れた2つの別々の角度における散
乱光の受講を許容する。
検出器ハウジング66は円弧67内を回転するために長
手方向のヤーン軸線と同心的に取付けられている。好ま
しくはハウジングは角度θによって示された如く約40
度乃至180度の範囲に亘って回転される。
手方向のヤーン軸線と同心的に取付けられている。好ま
しくはハウジングは角度θによって示された如く約40
度乃至180度の範囲に亘って回転される。
光ファイバR1及びR2は対応するファイバY1及びY
lと一緒に2セツトの2またに分かれたファイバー70
.71を具備している。各々の2またに分かれたファイ
バ一端はそのそれぞれの光電子増倍管74.75にアド
レスする。ブイルター72.73が、光フアイバー出力
における光レベルを個々の光電子増倍管の特性に適合す
るのに使用されている。
lと一緒に2セツトの2またに分かれたファイバー70
.71を具備している。各々の2またに分かれたファイ
バ一端はそのそれぞれの光電子増倍管74.75にアド
レスする。ブイルター72.73が、光フアイバー出力
における光レベルを個々の光電子増倍管の特性に適合す
るのに使用されている。
コンピュータ制御シャッター55.60は相補的な方法
で動作する。シャッター55が開き、そしてシャッター
60が閉じると、分析器はランプドリフト(Iaa+p
drift)に対して較正されることができ、そして
光電子増倍管74.75の双方の感度を同時に変化する
。ディフューザ56は、それが光電子増倍管の双方に対
して同時に均等なスキャテラ−(5catterer
)として動作するように、この較正に対する基準のスキ
ャテラーとし、て役立つ。同様に、シャッター60が開
きそしてシャッター55が閉じると、標準の較正ディフ
ューザ76が、検出器を45度の如きある適切な角度に
して、ヤーンの位置における分析ビーム路内に挿入され
て、光電子増倍管74.75の応答が測定されることが
できる。浮遊光(stray light )の測定は
、シャッター55及び60の双方を同時に閉じて行なわ
れる。
で動作する。シャッター55が開き、そしてシャッター
60が閉じると、分析器はランプドリフト(Iaa+p
drift)に対して較正されることができ、そして
光電子増倍管74.75の双方の感度を同時に変化する
。ディフューザ56は、それが光電子増倍管の双方に対
して同時に均等なスキャテラ−(5catterer
)として動作するように、この較正に対する基準のスキ
ャテラーとし、て役立つ。同様に、シャッター60が開
きそしてシャッター55が閉じると、標準の較正ディフ
ューザ76が、検出器を45度の如きある適切な角度に
して、ヤーンの位置における分析ビーム路内に挿入され
て、光電子増倍管74.75の応答が測定されることが
できる。浮遊光(stray light )の測定は
、シャッター55及び60の双方を同時に閉じて行なわ
れる。
第6図は反射率分析器のヤーン移送システムのだめの全
体的な概略図である。ヤーン移送システムの目的は(1
)ヤーンサンプルを選択された一定の引張り、又はビー
ム路に亘って一定の差動ニップロール(diHeren
cial n1proll)速度で運ぶこと、(2)人
間の干渉の必要なく本装置によってヤーンの自動的張り
(string up )を可能にすることである。
体的な概略図である。ヤーン移送システムの目的は(1
)ヤーンサンプルを選択された一定の引張り、又はビー
ム路に亘って一定の差動ニップロール(diHeren
cial n1proll)速度で運ぶこと、(2)人
間の干渉の必要なく本装置によってヤーンの自動的張り
(string up )を可能にすることである。
ヤーン移送システムの入力端において、パッケージ10
3からのヤーンは、ヤーン端がジェット(jet )の
入口端内に供給されると、ジェット104内に組込まれ
たヤーンセンサ1によって感知される。この事象(oc
curreuce )が空気にジェット100.101
.111及び104を起こさせる。後者のジェットはヤ
ーン端を流体制御されたカッター105を通り、それか
ら開いた第1のセットの回転移送O−ル106a 、1
06bを通り:光学的入力及び出力シェツト100及び
101を通り、そして第2のセットの回転移送ロール1
08L、108リーを通過後、ジェット111を通って
、ウェスト(waste )容器へ推進する。ジェット
111内に組込まれたヤーンセンサ2が通過するヤーン
を感知した後、入力シェツト104への空気が切られ、
そして推進したヤーンの運動は、移送ロール1oab−
が流体手段によってニップロール106Lに対して下降
されたとき、駆動される移送ロール106bによって取
り上げられる。ロール106旦−及び106リーは定速
同期電動機106によって駆動される。ジェット100
とジェット101との間のスパンにおいて、2つの可動
な光学的ビン102a及び102bが下げられて、測定
領域102における走行するヤーンをぴんと張らせるた
めに2つの固定した案内ビン102cm、102L上方
のラップ角度(wrapangle )を増加する。
3からのヤーンは、ヤーン端がジェット(jet )の
入口端内に供給されると、ジェット104内に組込まれ
たヤーンセンサ1によって感知される。この事象(oc
curreuce )が空気にジェット100.101
.111及び104を起こさせる。後者のジェットはヤ
ーン端を流体制御されたカッター105を通り、それか
ら開いた第1のセットの回転移送O−ル106a 、1
06bを通り:光学的入力及び出力シェツト100及び
101を通り、そして第2のセットの回転移送ロール1
08L、108リーを通過後、ジェット111を通って
、ウェスト(waste )容器へ推進する。ジェット
111内に組込まれたヤーンセンサ2が通過するヤーン
を感知した後、入力シェツト104への空気が切られ、
そして推進したヤーンの運動は、移送ロール1oab−
が流体手段によってニップロール106Lに対して下降
されたとき、駆動される移送ロール106bによって取
り上げられる。ロール106旦−及び106リーは定速
同期電動機106によって駆動される。ジェット100
とジェット101との間のスパンにおいて、2つの可動
な光学的ビン102a及び102bが下げられて、測定
領域102における走行するヤーンをぴんと張らせるた
めに2つの固定した案内ビン102cm、102L上方
のラップ角度(wrapangle )を増加する。
走行するヤーンの一定の引張り制御は、典型的には米国
特許第4.295.360号に開示された片持梁(ca
ntilever)ビン型の張力計107によってジェ
ット101の出口において行った測定に基づいている。
特許第4.295.360号に開示された片持梁(ca
ntilever)ビン型の張力計107によってジェ
ット101の出口において行った測定に基づいている。
張力計107は走行するヤーンに対して気体によって動
かされて、光学的ビン102L、102bが下げられ、
そして移送ロール108L及び108リーが閉じたとき
ヤーンの引張りを感知する。第7図を参照すると、張力
計107及びひづみゲージメータ107aによって生じ
たアナログ電圧信号がコンピュータ202aによって必
要なフォーマットに変換するためにアナログ/ディジタ
ル(A/D)変換器201に入力される。ヤーン引張り
の比例制御は、サーボモータ108を経て、0−/L/
108a 、 108bの瞬間回転速度を変化すること
によって行なわれる、前記サーボモータ108は典型的
には軸回転フィードバックを提供するために取付けられ
たタコメータ110を有しているエアロチク(A er
otech )4020Bであり、コントローラ109
によって電気的に制御される。モータ108に接続され
たシャフトエンコーダ111はD/Aモジュール206
によって使用するためのクロックモジュール202dに
入力パルスを送り、D/Aモジュール206がコントロ
ーラ109へのアナログフィードバック信号を発生して
O−ル速度を一定に維持する。その結果、サーボモータ
108はロール108a 1108!!−を一定の速度
で回転して走行するヤーンに対して一定の引っ張り比(
drawratio )を提供する。他のモードにおい
て一定のヤーンの引張りは、張力計107及びひづみゲ
ージメータ107Lからの信号を用いてA/Dモジュー
ル201及びD/Aモジュール206を経てコントロー
ラ109にフィードバックするようにして維持される。
かされて、光学的ビン102L、102bが下げられ、
そして移送ロール108L及び108リーが閉じたとき
ヤーンの引張りを感知する。第7図を参照すると、張力
計107及びひづみゲージメータ107aによって生じ
たアナログ電圧信号がコンピュータ202aによって必
要なフォーマットに変換するためにアナログ/ディジタ
ル(A/D)変換器201に入力される。ヤーン引張り
の比例制御は、サーボモータ108を経て、0−/L/
108a 、 108bの瞬間回転速度を変化すること
によって行なわれる、前記サーボモータ108は典型的
には軸回転フィードバックを提供するために取付けられ
たタコメータ110を有しているエアロチク(A er
otech )4020Bであり、コントローラ109
によって電気的に制御される。モータ108に接続され
たシャフトエンコーダ111はD/Aモジュール206
によって使用するためのクロックモジュール202dに
入力パルスを送り、D/Aモジュール206がコントロ
ーラ109へのアナログフィードバック信号を発生して
O−ル速度を一定に維持する。その結果、サーボモータ
108はロール108a 1108!!−を一定の速度
で回転して走行するヤーンに対して一定の引っ張り比(
drawratio )を提供する。他のモードにおい
て一定のヤーンの引張りは、張力計107及びひづみゲ
ージメータ107Lからの信号を用いてA/Dモジュー
ル201及びD/Aモジュール206を経てコントロー
ラ109にフィードバックするようにして維持される。
ヤーン検出器1及び2は、それぞれ、ジェット101の
入口におけるヤーン端の供給、及びウェストジェット1
11の出口におけるヤーン端の外観を検知するために位
置づけされている。ヤーン検出器信号は、それ等がコン
ピュータ202aに入力される前に1セツトの光アイソ
レータ(opt−ical 1solator ) 1
12を経て、DEC,64ビツトI10モジユール20
3(典型的にはDECDRV−11−J)を通過する。
入口におけるヤーン端の供給、及びウェストジェット1
11の出口におけるヤーン端の外観を検知するために位
置づけされている。ヤーン検出器信号は、それ等がコン
ピュータ202aに入力される前に1セツトの光アイソ
レータ(opt−ical 1solator ) 1
12を経て、DEC,64ビツトI10モジユール20
3(典型的にはDECDRV−11−J)を通過する。
第7図のブロック300によって示された如く、第6図
の移送システムの気体作動構成要素は、ジェット104
.100.101.111と:気体作動カッター105
と;気体により上下動する移送ロール106b 、10
8bと:光学的案内ビン102a、102塾−と、張力
計107とを含んでおり、これ等はすべて、気体コント
ローラ309内に含まれている24ボルトのソリッドス
テートリレイ作動弁のバンクによって完全に制御される
。
の移送システムの気体作動構成要素は、ジェット104
.100.101.111と:気体作動カッター105
と;気体により上下動する移送ロール106b 、10
8bと:光学的案内ビン102a、102塾−と、張力
計107とを含んでおり、これ等はすべて、気体コント
ローラ309内に含まれている24ボルトのソリッドス
テートリレイ作動弁のバンクによって完全に制御される
。
I10モジュール203から光アイソレータ 113を
経て受けとられた弁作動信号が正確なシーケンスで弁ソ
レノイドを作動するためのソリッドステートリレイを制
御している間、低圧力の空気が共通の空気マニホールド
から弁に供給される。
経て受けとられた弁作動信号が正確なシーケンスで弁ソ
レノイドを作動するためのソリッドステートリレイを制
御している間、低圧力の空気が共通の空気マニホールド
から弁に供給される。
出力制御リレイ309に加えて、I10モジュールは分
析及び基準ビームシャッター制御信号を、光アイソレー
タ113を経て、シャッター55及び60の作動i並び
にターンテーブルモータ79を位置づけするステッピン
グモータコントローラ78に情報を位置づけするための
シャッターコントローラ回路409に供給する。検出器
ハウシング66をその弧状の径路に保持している検出器
アームの方向は角度表示メータ78上で読み取られる。
析及び基準ビームシャッター制御信号を、光アイソレー
タ113を経て、シャッター55及び60の作動i並び
にターンテーブルモータ79を位置づけするステッピン
グモータコントローラ78に情報を位置づけするための
シャッターコントローラ回路409に供給する。検出器
ハウシング66をその弧状の径路に保持している検出器
アームの方向は角度表示メータ78上で読み取られる。
コンピュータシステム200はDECPDP−11/2
3:lンビュータ202aと;A/D変換器201と:
I10ディジタルインターフェースモジュール203と
;ランダムアクセスメモリ2020と;バブル(bub
ble)メモリ204と:ターミナル205に結合され
ているシリアルデータ入力ポート202bと:D/A変
換器206と;リアルタイムクロック202!−とを具
備している。
3:lンビュータ202aと;A/D変換器201と:
I10ディジタルインターフェースモジュール203と
;ランダムアクセスメモリ2020と;バブル(bub
ble)メモリ204と:ターミナル205に結合され
ているシリアルデータ入力ポート202bと:D/A変
換器206と;リアルタイムクロック202!−とを具
備している。
すべてのユニットはDECQ−Busを経てコンピュー
タ202Lに連絡している。データ入力機能はA/D変
換器201及びりOツク202dを経て主として引き出
される。典型的にイー・エム・アイーゲンコムコーブ(
E M I −Gencoa+Corp、 )によって
製造された9824A型である光電子増倍管74及び7
5がそれ等の出力を増幅器兼比率回路77へ送る。−回
路77内に含まれた7を口’jテハイス(Analog
Devices) 436 Bであるアナログ分局器が
光電子倍増管74及び75の分離した出力信号を釣合の
とれるようにする。比率I 1 / I 2並びに光電
子増倍管74及び75の独立出力は信号した時間にコン
ピュータ内に入るためのA/D変換器201に対する入
力ライン0O101及び02上に現われる。光電子増倍
管の較正段階中、分析ビームに対してシャッター60が
閉じられ、そして基準ビーム光学的シャッター55が開
かれたき、コンピュータ202Lが2つの測定した光電
子増倍管の値をそれ等の対応する設定点(set pa
int )と比較する。ディジタル/アナログ変換器2
06から信号を送ると、その結果が、電源74a及び7
5aの出力を調整することによって個々の光電子増倍管
の高電圧作動点変更するために印加される。
タ202Lに連絡している。データ入力機能はA/D変
換器201及びりOツク202dを経て主として引き出
される。典型的にイー・エム・アイーゲンコムコーブ(
E M I −Gencoa+Corp、 )によって
製造された9824A型である光電子増倍管74及び7
5がそれ等の出力を増幅器兼比率回路77へ送る。−回
路77内に含まれた7を口’jテハイス(Analog
Devices) 436 Bであるアナログ分局器が
光電子倍増管74及び75の分離した出力信号を釣合の
とれるようにする。比率I 1 / I 2並びに光電
子増倍管74及び75の独立出力は信号した時間にコン
ピュータ内に入るためのA/D変換器201に対する入
力ライン0O101及び02上に現われる。光電子増倍
管の較正段階中、分析ビームに対してシャッター60が
閉じられ、そして基準ビーム光学的シャッター55が開
かれたき、コンピュータ202Lが2つの測定した光電
子増倍管の値をそれ等の対応する設定点(set pa
int )と比較する。ディジタル/アナログ変換器2
06から信号を送ると、その結果が、電源74a及び7
5aの出力を調整することによって個々の光電子増倍管
の高電圧作動点変更するために印加される。
キーボード端子205は、作業者がヤーンの形式情報を
都合よく入れるのを可能にし、一方バプルメモリ204
がソフトウェア及びパラメータ記憶、並びに、一時的な
データ記憶を提供する。第8図を参照すると、各々の走
行の最初において、作業者はヤーン型式コードについて
分析されるべきヤーンのためのサンプル及び走行情報を
キーボード205に入れる。バブルメモリ204内に記
憶されたユニークなセットの平板状のヤーン基準パラメ
ータは各々のヤーン型式のコードと関連があり、それは
下記を含む:散乱強度値(SCatte−ringin
tensitvVallje )を特定の断面特性に関
連づけるための直線相関係数二MRの公称値:及び検出
器ハウジング66のための規定した方向θ。
都合よく入れるのを可能にし、一方バプルメモリ204
がソフトウェア及びパラメータ記憶、並びに、一時的な
データ記憶を提供する。第8図を参照すると、各々の走
行の最初において、作業者はヤーン型式コードについて
分析されるべきヤーンのためのサンプル及び走行情報を
キーボード205に入れる。バブルメモリ204内に記
憶されたユニークなセットの平板状のヤーン基準パラメ
ータは各々のヤーン型式のコードと関連があり、それは
下記を含む:散乱強度値(SCatte−ringin
tensitvVallje )を特定の断面特性に関
連づけるための直線相関係数二MRの公称値:及び検出
器ハウジング66のための規定した方向θ。
次に、コンピュータは較正手順を開始、する。シャッタ
ー55が開いており、且つシャッター60が閉じている
時、光ファイバーR工及びR5及びそれぞれの光電子増
倍管74及び75を経て得られた基準信号が測定され、
そしてそれぞれのPMT高電圧電源74a及び74リー
がコンピュータによって自動的に調整されて出力をプリ
セット定電圧レベルにバイアスする。電源調整後、コン
ピュータは検出器ハウジング66をθ−45度の位置に
移動せしめる、そしてシャッター55及び60の双方を
閉じて、浮遊(stray )光信号レベル、■Si
(i−1,2,3)を記録する。これ等はそれぞれの
出力PMT74 (i −1) 、PMT75 (i−
2>及びこれ等の比(+=3)によって決定される如く
、光ファイバーY1及びY2の出力における低レベル光
の強さを測定することによって得られる。
ー55が開いており、且つシャッター60が閉じている
時、光ファイバーR工及びR5及びそれぞれの光電子増
倍管74及び75を経て得られた基準信号が測定され、
そしてそれぞれのPMT高電圧電源74a及び74リー
がコンピュータによって自動的に調整されて出力をプリ
セット定電圧レベルにバイアスする。電源調整後、コン
ピュータは検出器ハウジング66をθ−45度の位置に
移動せしめる、そしてシャッター55及び60の双方を
閉じて、浮遊(stray )光信号レベル、■Si
(i−1,2,3)を記録する。これ等はそれぞれの
出力PMT74 (i −1) 、PMT75 (i−
2>及びこれ等の比(+=3)によって決定される如く
、光ファイバーY1及びY2の出力における低レベル光
の強さを測定することによって得られる。
同様に、基準信号レベルVRi (i =1.2.3
)はシャッター55を開き、そしてシャッター60を閉
じることによって記録される。従って再びシャッター5
5が閉じ、そしてシャッター60が開いたとき、コンピ
ュータは標準ディフューザプレート76に信号を送って
、読取りVDi(i−1,2,3)を得るために分析ビ
ーム路内に移動する。較正段階を終るために、コンピュ
ータは下記の等式から一連の較正係数を計算する。
)はシャッター55を開き、そしてシャッター60を閉
じることによって記録される。従って再びシャッター5
5が閉じ、そしてシャッター60が開いたとき、コンピ
ュータは標準ディフューザプレート76に信号を送って
、読取りVDi(i−1,2,3)を得るために分析ビ
ーム路内に移動する。較正段階を終るために、コンピュ
ータは下記の等式から一連の較正係数を計算する。
この場合、Cは所定の幾何学的光学定数(opt 1c
sconstant )である。器具の較正が完全に終
った後、作業者は、分析されるべきヤーンサンプルの確
認をコンピュータ202a内に入れる。このステップは
、予め記憶したヤーン標準パラメータセットから値を自
動的に読出す。このセット(set)から、モータ#2
108(モータ#2コントローラ108を経て)に対す
る公称速度が定められ、この速度は規定されたヤーン引
張り設定点に適合する( meet )。(張った(s
tring up )後、張力計107によって感知さ
れた変化に瞬間的に応答して、モータ#2.108の速
度を制御することによって、一定のヤーン引張りが周期
的な引張り変化面内に維持される)。更に、標準ヤーン
パラメータセットにおける他の値に応答して、コンピュ
ータは検出器組立体66をユニークな方向θに(モータ
コントローラ78及び回転テーブル79を経て)自動的
に位置づけして、そのヤーンのためのMRに対する散乱
比(scattering ratio)I L /
I tの最良の相関関係を得る。
sconstant )である。器具の較正が完全に終
った後、作業者は、分析されるべきヤーンサンプルの確
認をコンピュータ202a内に入れる。このステップは
、予め記憶したヤーン標準パラメータセットから値を自
動的に読出す。このセット(set)から、モータ#2
108(モータ#2コントローラ108を経て)に対す
る公称速度が定められ、この速度は規定されたヤーン引
張り設定点に適合する( meet )。(張った(s
tring up )後、張力計107によって感知さ
れた変化に瞬間的に応答して、モータ#2.108の速
度を制御することによって、一定のヤーン引張りが周期
的な引張り変化面内に維持される)。更に、標準ヤーン
パラメータセットにおける他の値に応答して、コンピュ
ータは検出器組立体66をユニークな方向θに(モータ
コントローラ78及び回転テーブル79を経て)自動的
に位置づけして、そのヤーンのためのMRに対する散乱
比(scattering ratio)I L /
I tの最良の相関関係を得る。
次に作業者はサンプルヤーン端をパッケージ103から
入力シェツト104の入口に装入してヤーンの張り(5
trinlJup)シーケンスを開始する。
入力シェツト104の入口に装入してヤーンの張り(5
trinlJup)シーケンスを開始する。
ジェット104に加えて、ジェット100. 101、
及び111はスタート検出器1が作業者の手を感知する
や否や同時に作動される。入力シェツト104がヤーン
端をカッター105、定速ローラ106のニップを通り
、光学的区画室46の入口側におけるジェット100を
通り、光学的領域内の案内ビン102を横切り、光学的
区画室46の出口側におけるジェット101を通り、°
可変速度移送ロール108を通り、そしてジェット11
1の出口におけるウェスト容器(図示せず)内に推進す
る。ジェット111においてヤーン端の到着を感知する
と、第2のヤーン検出器2がコンピュータ202aへの
信号を生じて、ジェット104への空気の供給を止め;
ニップロール106bを下げ:張力計107を走行する
ヤーンから引上げ二ニップロール108bを下げ;光学
的ビン102a、102b−を下げ:そして順次にジェ
ット 100.101を止める。
及び111はスタート検出器1が作業者の手を感知する
や否や同時に作動される。入力シェツト104がヤーン
端をカッター105、定速ローラ106のニップを通り
、光学的区画室46の入口側におけるジェット100を
通り、光学的領域内の案内ビン102を横切り、光学的
区画室46の出口側におけるジェット101を通り、°
可変速度移送ロール108を通り、そしてジェット11
1の出口におけるウェスト容器(図示せず)内に推進す
る。ジェット111においてヤーン端の到着を感知する
と、第2のヤーン検出器2がコンピュータ202aへの
信号を生じて、ジェット104への空気の供給を止め;
ニップロール106bを下げ:張力計107を走行する
ヤーンから引上げ二ニップロール108bを下げ;光学
的ビン102a、102b−を下げ:そして順次にジェ
ット 100.101を止める。
ヤーンが張っている間、基準信号レベルVRi(+−1
,2,3)が再び測定される。更に、張力計107によ
って測定したとき、ヤーンを張っている間に引張りが0
.5グラム以下であるときは、その作業(rlJn)は
中断される。低い引張りの原因は、例えば、ヤーンの巻
きつき又は破断状態が存在することを示している。可変
速度モータ#2.108はモータ#2コントローラから
の指令に応答してその回転速度を変化して、一定の引張
りを測定されるべき特定のヤーン型式にもたら測定段階
は一定のヤーンの引張りに到達したとき開始され、そし
て瞬間的にヤーン錯乱強さ値(seatterina
1ntensity value) V Y i (
i −1,2,3)が走路の長さ、典型的には20米、
に亘って記録されたとき終る。作業者はコンピュータを
分岐(branch)に導いて測定を繰返して、前のデ
ータセットの確認を得ることができる。測定が完了した
とき、ソフトウェアシーケンスがカッター105を作動
し、そして器械内のヤーンはウェストジェット111を
経てウェストに排出される。
,2,3)が再び測定される。更に、張力計107によ
って測定したとき、ヤーンを張っている間に引張りが0
.5グラム以下であるときは、その作業(rlJn)は
中断される。低い引張りの原因は、例えば、ヤーンの巻
きつき又は破断状態が存在することを示している。可変
速度モータ#2.108はモータ#2コントローラから
の指令に応答してその回転速度を変化して、一定の引張
りを測定されるべき特定のヤーン型式にもたら測定段階
は一定のヤーンの引張りに到達したとき開始され、そし
て瞬間的にヤーン錯乱強さ値(seatterina
1ntensity value) V Y i (
i −1,2,3)が走路の長さ、典型的には20米、
に亘って記録されたとき終る。作業者はコンピュータを
分岐(branch)に導いて測定を繰返して、前のデ
ータセットの確認を得ることができる。測定が完了した
とき、ソフトウェアシーケンスがカッター105を作動
し、そして器械内のヤーンはウェストジェット111を
経てウェストに排出される。
一旦弁VYi(i−1,2,3)が記録されると、If
・■ξ及びI t / I tの別々の標準化した平均
及び平均値とのそれ等の標準偏差が計算したMR値と共
に計算され、そして表示される。
・■ξ及びI t / I tの別々の標準化した平均
及び平均値とのそれ等の標準偏差が計算したMR値と共
に計算され、そして表示される。
I1及びI2並びにI l/ I 2の値はによって与
えられる。
えられる。
コノ場合、X I ハI L 、I ! 又ハI >
/ I ! +7) 1方である。
/ I ! +7) 1方である。
更に、サンプルしたヤーンの長さに亘る平均MRは式I
L /I ! −AMR+8を反転することによって
得られる、この場合、直線相関係数A及びBは、予め公
知の断面特性を有する特定のヤーン型式に対する経験デ
ータから決定した。従って、この場合、Nは作業(ru
n>中に得られたサンプル数であり、そしてMはNサン
プルに用いられた(take over )平均修正比
(modification ratio)である。
L /I ! −AMR+8を反転することによって
得られる、この場合、直線相関係数A及びBは、予め公
知の断面特性を有する特定のヤーン型式に対する経験デ
ータから決定した。従って、この場合、Nは作業(ru
n>中に得られたサンプル数であり、そしてMはNサン
プルに用いられた(take over )平均修正比
(modification ratio)である。
異なる断面形状特性を有している6つの40−13
T−865SDフラツト30−ブノ(tr−iloba
l)ナイロン繊条ヤーンが用意された。これ等のヤーン
の繊条断面形状は1又はそれ以上の公知の方法によって
、及び本発明の第3のモードによって試験された。
T−865SDフラツト30−ブノ(tr−iloba
l)ナイロン繊条ヤーンが用意された。これ等のヤーン
の繊条断面形状は1又はそれ以上の公知の方法によって
、及び本発明の第3のモードによって試験された。
各々のヤーンの薄片がミクロトームを用いてその長手方
向軸線に垂直に切られ、そして当技術において公知の技
法によって顕微鏡のスライド上に取付けられた。2つの
顕微鏡写真を一緒にしてヤーンの束を形成している13
の繊条の各々が明瞭に示されるように拡大して各々のヤ
ーンの断面の2つの顕微鏡写真がつくられた。顕微鏡写
真上の個々のフィラメントの画像の周辺は市販のディジ
タイザ(ヌモニクスモデル(N umonics M
odel )224の如き)を用いてトレースされた。
向軸線に垂直に切られ、そして当技術において公知の技
法によって顕微鏡のスライド上に取付けられた。2つの
顕微鏡写真を一緒にしてヤーンの束を形成している13
の繊条の各々が明瞭に示されるように拡大して各々のヤ
ーンの断面の2つの顕微鏡写真がつくられた。顕微鏡写
真上の個々のフィラメントの画像の周辺は市販のディジ
タイザ(ヌモニクスモデル(N umonics M
odel )224の如き)を用いてトレースされた。
ディジタイザ−は周辺トレーシングをX−Yデータ対に
書き換えて、それからMR及びTRが小さいコンピュー
タを用いて計算される。各々のヤーンを構成している1
3の繊条のディジタイザトレーシングから決定された平
均MR及びTRが以下の第1表に表記されている。
書き換えて、それからMR及びTRが小さいコンピュー
タを用いて計算される。各々のヤーンを構成している1
3の繊条のディジタイザトレーシングから決定された平
均MR及びTRが以下の第1表に表記されている。
五−m=L
Yl 40−21 1.66
.32Y2 33−14 1.62
.33Y3 29−21
1゜49 .37Y4 29−11
1.49 .39Y
501−14 1,401 .41
拳Y6 01−11 1.46
.40*デイジタイザトレーシングはサンプ
ルY5のための13I!条の11(のみ)に対して行な
朴れた。
.32Y2 33−14 1.62
.33Y3 29−21
1゜49 .37Y4 29−11
1.49 .39Y
501−14 1,401 .41
拳Y6 01−11 1.46
.40*デイジタイザトレーシングはサンプ
ルY5のための13I!条の11(のみ)に対して行な
朴れた。
上記6ヤーンの各々の20ヤード(約18.3m)が第
5図に示された光学的装置を有する装置及び第6図に示
された移送システムによって、そして第3図に示した如
き本発明の第3のモードを用いて特性を表わされた。
5図に示された光学的装置を有する装置及び第6図に示
された移送システムによって、そして第3図に示した如
き本発明の第3のモードを用いて特性を表わされた。
従って、6ヤーンY1、Y2・・・Y6に対してた、2
つの固定した検出器は約128度の平均散乱角度(sc
attering angle)θにおいて5.7度間
隔をへだてられた。1ヤ一ド/秒(約0.914II/
秒)で走行する20ヤード(約18.3m)の長さのヤ
ーンサンプル上で、それぞれ固定角度θl−125゜1
[及(Fe2−130.8度ニオいて、強さの繰返し測
定、Il及び■2が行なわれた。I l / I !の
値が6つのヤーンに対して第■表に記録された。ディジ
タイザによって決定されたI L / I e対MR値
が第9図にプロットされた。高い相関係数を有する、式
1t/It−aMR+bの直線がMR値のかなり広い範
囲に亘って得られる。従って他の40−13 T86
5SDヤーンのMR値は今説明した如< I L /
I sの測定により、且つ直線関係の較正カーブ(第9
図)を用いて測定される。
つの固定した検出器は約128度の平均散乱角度(sc
attering angle)θにおいて5.7度間
隔をへだてられた。1ヤ一ド/秒(約0.914II/
秒)で走行する20ヤード(約18.3m)の長さのヤ
ーンサンプル上で、それぞれ固定角度θl−125゜1
[及(Fe2−130.8度ニオいて、強さの繰返し測
定、Il及び■2が行なわれた。I l / I !の
値が6つのヤーンに対して第■表に記録された。ディジ
タイザによって決定されたI L / I e対MR値
が第9図にプロットされた。高い相関係数を有する、式
1t/It−aMR+bの直線がMR値のかなり広い範
囲に亘って得られる。従って他の40−13 T86
5SDヤーンのMR値は今説明した如< I L /
I sの測定により、且つ直線関係の較正カーブ(第9
図)を用いて測定される。
Y 1 40−21 0.908Y2 3
3−14 0.903Y3 29−21
0.848Y4 29−11 0
.846Y5 01−14 0,7
94Y6 01−11 0,810
3−14 0.903Y3 29−21
0.848Y4 29−11 0
.846Y5 01−14 0,7
94Y6 01−11 0,810
第1図は本発明によるマルチローブのフィラメント又は
ヤーン上で散乱した光の分析を行うための1つのモード
の概略的なダイアグラムである。 第2図はマルチローブの繊条を含むヤーン上で散乱した
光の分析を行なうための第2のモードの概略的なダイア
グラムである。 第3図は本発明によるマルチローブの繊条を含むヤーン
上で散乱した光の分析を行なうための好ましいモードの
概略的なダイアグラムである。 第4図は本発明の方法によって特徴づけられた形状を有
している3つのロープの繊条の拡大断面図の概略図であ
る。 第5図、第6図及び第7図は本発明の好ましい実19様
の光学的システム、ヤーン移送システム及び測定制御シ
ステムの概略図である。 第8図は本発明の動作モードのブロックダイアダラムで
ある。 第9図は本発明による3つのローブのm条の修正比と散
乱した光の強さとの間の相関関係を示しているグラフで
ある。 10.10′ ・・・繊条又はヤーン12.12′
・・・入射光線 14.14’ 、14” 、14“′・・・検 出 器
40・・・ハロゲンランプ 42・・・レンズ 44・◆・スリット 53・・・焦点レンズ R1、Rt、70.11・・・光ファイバ74.75・
・・光電子増倍管 100.104.101.111争Φ・ジェット105
争・・カッター 107・・・張 力 計
ヤーン上で散乱した光の分析を行うための1つのモード
の概略的なダイアグラムである。 第2図はマルチローブの繊条を含むヤーン上で散乱した
光の分析を行なうための第2のモードの概略的なダイア
グラムである。 第3図は本発明によるマルチローブの繊条を含むヤーン
上で散乱した光の分析を行なうための好ましいモードの
概略的なダイアグラムである。 第4図は本発明の方法によって特徴づけられた形状を有
している3つのロープの繊条の拡大断面図の概略図であ
る。 第5図、第6図及び第7図は本発明の好ましい実19様
の光学的システム、ヤーン移送システム及び測定制御シ
ステムの概略図である。 第8図は本発明の動作モードのブロックダイアダラムで
ある。 第9図は本発明による3つのローブのm条の修正比と散
乱した光の強さとの間の相関関係を示しているグラフで
ある。 10.10′ ・・・繊条又はヤーン12.12′
・・・入射光線 14.14’ 、14” 、14“′・・・検 出 器
40・・・ハロゲンランプ 42・・・レンズ 44・◆・スリット 53・・・焦点レンズ R1、Rt、70.11・・・光ファイバ74.75・
・・光電子増倍管 100.104.101.111争Φ・ジェット105
争・・カッター 107・・・張 力 計
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、マルチローブの繊条のヤーン束のための修正比の如
き平均断面形状パラメータを測定する方法において、 引張りの下にある径路内でヤーンを動かすこと;入射光
線を該径路に垂直な平面内でヤーンの方に向けること; ヤーンからの散乱した光を入射光線からある角度におけ
る位置において該平面内に向けること;該位置において
検出した散乱した光の強さを測定すること;そして 該強さに基づいた較正カーブから該ヤーンの平均修正比
を決定すること、 とを含むことを特徴とする方法。 2、該位置が該入射光から約0度と180度との間に配
置されている特許請求の範囲第1項記載の方法。 3、マルチローブの繊条のヤーンのための修正比の如き
平均断面形状パラメータを測定する方法において、 引張りの下で径路内のヤーンを動かすこと;該径路に垂
直な平面内の該ヤーン上に入射光線を向けること; 引張りの下で径路内でヤーンを動かすこと;入射光線を
該径路に垂直な平面内に該ヤーン上に入射光線を向ける
こと; 入射光から規定の角度で第1の及び第2の間隔をへだて
た角度位置において入射光の平面にヤーンからの散乱さ
れた光を検出すること; 該第1の及び第2の位置における散乱した光の強さを測
定すること; 該第1の位置において測定した散乱した光の強さ及び該
第2の位置において測定した散乱した光を割立てる(r
ation)ことに基づいた較正カーブからの該ヤーン
の平均修正比を決定すること、とを含んでいることを特
徴とする方法。 4、該第1の及び第2の位置が該入射光からの約前記角
度の周りに約6度だけ間隔をへだてられている特許請求
の範囲第3項記載の方法; 5、入射光線からの該角度が約128度である特許請求
の範囲第1〜3項のいづれか1つの項に記載の方法。 6、該入射光線が白色光である特許請求の範囲第1項記
載の方法。 7、該ヤーンが個々にマルチローバルの繊条である特許
請求の範囲第1〜3項のいづれか1つの項に記載の方法
。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/673,874 US4634280A (en) | 1984-11-21 | 1984-11-21 | Method for measuring shape parameters of yarn |
US673874 | 1991-03-22 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61124672A true JPS61124672A (ja) | 1986-06-12 |
Family
ID=24704433
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60258795A Pending JPS61124672A (ja) | 1984-11-21 | 1985-11-20 | ヤーン束の平均断面形状を測定する方法 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4634280A (ja) |
EP (1) | EP0182660B1 (ja) |
JP (1) | JPS61124672A (ja) |
KR (1) | KR860004303A (ja) |
BR (1) | BR8505810A (ja) |
CA (1) | CA1247362A (ja) |
DE (1) | DE3579889D1 (ja) |
ES (1) | ES8800751A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008005952A (ja) * | 2006-06-28 | 2008-01-17 | Sophia Co Ltd | 遊技機 |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0197763B1 (en) * | 1985-04-04 | 1991-09-18 | Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation | Monitoring for contaminants in textile product |
IT1185450B (it) * | 1985-10-16 | 1987-11-12 | Nuovo Pignone Spa | Stribbia ottica perfezionata,particolarmente adatta per open-end |
US4719060A (en) * | 1986-07-17 | 1988-01-12 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Method of predicting yarn properties |
US5138879A (en) * | 1989-01-04 | 1992-08-18 | Zellweger Uster, Inc. | Method for producing multiple fiber data |
US5203206A (en) * | 1989-01-04 | 1993-04-20 | Zellweger Uster, Inc. | Apparatus and methods for testing tension-elongation or cross-sectional properties of single fibers and multiple fiber bundles |
US5167150A (en) * | 1989-01-04 | 1992-12-01 | Zellweger Uster, Inc. | Apparatus and methods for testing tension-elongation or cross-sectional properties of single fibers and multiple fiber bundles |
ES2108011T3 (es) * | 1989-01-04 | 1997-12-16 | Zellweger Uster Inc | Metodo para el ensayo de fibras. |
US5072691A (en) * | 1989-10-30 | 1991-12-17 | Strandberg Jr Charles F | Apparatus for monitoring size encapsulation of yarn on a slasher |
US5043590A (en) * | 1989-10-30 | 1991-08-27 | Strandberg Jr Charles F | Method and apparatus for monitoring size encapsulation of yarn on a slasher |
US5149981A (en) * | 1989-10-30 | 1992-09-22 | Strandberg Jr Charles F | Method for monitoring size encapsulation of yarn by determining hairiness of the yarn |
US5539515A (en) * | 1990-03-14 | 1996-07-23 | Zellweger Uster, Inc. | Apparatus and methods for measurement and classification of trash in fiber samples |
US5469253A (en) * | 1990-03-14 | 1995-11-21 | Zellweger Uster, Inc. | Apparatus and method for testing multiple characteristics of single textile sample with automatic feed |
US5430301A (en) * | 1990-03-14 | 1995-07-04 | Zellweger Uster, Inc. | Apparatus and methods for measurement and classification of generalized neplike entities in fiber samples |
DE4019106A1 (de) * | 1990-06-15 | 1991-12-19 | Hoechst Ag | Verfahren und vorrichtung zum messen des verwirbelungszustandes eines multifilamentgarnes |
TW295607B (ja) * | 1993-05-24 | 1997-01-11 | Courtaulds Fibres Holdings Ltd | |
TW256860B (ja) * | 1993-05-24 | 1995-09-11 | Courtaulds Fibres Holdings Ltd | |
US5841892A (en) * | 1995-05-31 | 1998-11-24 | Board Of Trustees Operating Michigan State University | System for automated analysis of 3D fiber orientation in short fiber composites |
US5907394A (en) * | 1998-02-06 | 1999-05-25 | Zellweger Uster, Inc. | Fiber strength testing system |
KR20020009935A (ko) * | 2000-07-28 | 2002-02-02 | 구광시 | 합성섬유 모노필라멘트의 단면균일성 측정방법 |
US20050004956A1 (en) * | 2003-07-02 | 2005-01-06 | North Carolina State University | Optical method for evaluating surface and physical properties of structures made wholly or partially from fibers, films, polymers or a combination thereof |
WO2014029038A1 (de) * | 2012-08-20 | 2014-02-27 | Uster Technologies Ag | Charakterisierung einer optoelektronischen messeinheit für ein textiles prüfgut |
CN103472210B (zh) * | 2013-08-28 | 2015-08-19 | 东华大学 | 纱线起毛起球形态及毛球剥离测量装置与方法 |
CN103471650B (zh) * | 2013-08-28 | 2016-04-06 | 东华大学 | 对管纱摩擦起毛起球形态及抽拔力测量装置与方法 |
CN109751963A (zh) * | 2019-03-04 | 2019-05-14 | 天津工业大学 | 一种电子纱单纤维直径及其均匀性的测定方法 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1229739B (de) * | 1964-02-21 | 1966-12-01 | Bundesrep Deutschland | Vorrichtung zur kontinuierlichen Bestimmung des Durchmessers eines duennen Drahtes |
US3471702A (en) * | 1967-09-29 | 1969-10-07 | Du Pont | Method for measuring bulk level of yarn |
US3877814A (en) * | 1973-02-07 | 1975-04-15 | Ppg Industries Inc | Method of and apparatus for detecting concave and convex portions in a specular surface |
US3945181A (en) * | 1973-08-11 | 1976-03-23 | Toray Industries, Inc. | Process and apparatus for measuring uniformity of physical properties of yarn |
DE2451533A1 (de) * | 1974-10-30 | 1976-05-06 | Leuze Electronic Kg | Vorrichtung zum abtasten von faeden, fadenaehnlichen gebilden und dergleichen |
CH609011A5 (ja) * | 1975-12-04 | 1979-02-15 | Peyer Siegfried | |
US4139890A (en) * | 1977-03-17 | 1979-02-13 | Bethlehem Steel Corporation | Bar gauge plotting and display system |
CH643060A5 (de) * | 1979-11-20 | 1984-05-15 | Zellweger Uster Ag | Verfahren zur bestimmung des durchmessers oder des querschnittes eines faden- oder drahtfoermigen koerpers, vorrichtung zur ausfuehrung des verfahrens, sowie anwendung des verfahrens. |
US4389575A (en) * | 1980-07-03 | 1983-06-21 | Sparton Corporation | Fabric inspection system |
DE3219389A1 (de) * | 1982-05-24 | 1983-11-24 | Richter Bruno Gmbh | Optisch-elektrisches messverfahren zur erfassung von unrunden querschnitten insbesondere strangartiger gegenstaende und einrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
-
1984
- 1984-11-21 US US06/673,874 patent/US4634280A/en not_active Expired - Lifetime
-
1985
- 1985-11-19 BR BR8505810A patent/BR8505810A/pt not_active IP Right Cessation
- 1985-11-20 JP JP60258795A patent/JPS61124672A/ja active Pending
- 1985-11-20 KR KR1019850008663A patent/KR860004303A/ko not_active Application Discontinuation
- 1985-11-20 DE DE8585308441T patent/DE3579889D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1985-11-20 ES ES549101A patent/ES8800751A1/es not_active Expired
- 1985-11-20 EP EP85308441A patent/EP0182660B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1985-11-21 CA CA000495910A patent/CA1247362A/en not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008005952A (ja) * | 2006-06-28 | 2008-01-17 | Sophia Co Ltd | 遊技機 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
ES549101A0 (es) | 1987-11-16 |
EP0182660B1 (en) | 1990-09-26 |
CA1247362A (en) | 1988-12-28 |
KR860004303A (ko) | 1986-06-20 |
EP0182660A2 (en) | 1986-05-28 |
EP0182660A3 (en) | 1987-08-19 |
DE3579889D1 (de) | 1990-10-31 |
ES8800751A1 (es) | 1987-11-16 |
BR8505810A (pt) | 1986-08-12 |
US4634280A (en) | 1987-01-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS61124672A (ja) | ヤーン束の平均断面形状を測定する方法 | |
JP3211089B2 (ja) | 繊維又はその他の試料の単独の存在物を測定する電気光学装置 | |
DE69020533T2 (de) | Partikelfühler mit parallellauf durch mehrere löcher. | |
DE69819302T3 (de) | Detektor und nachweisverfahren für fremdfasern und fremdmaterial basierend auf lichtabsorptionsmessung | |
DE10008517C2 (de) | Optisches Meßsystem | |
CA2189048A1 (en) | Methods and apparatus for determining a first parameter(s) of an object | |
CA1127866A (en) | Shade determination | |
JPH05180751A (ja) | 粒子画像分析装置 | |
CN1751237B (zh) | 测量和检验连续的细长纺纱材料 | |
DE4223840C2 (de) | Refraktometer | |
CN101784883A (zh) | 用于纤维网的制造的电磁检测方法和装置 | |
US4638168A (en) | Apparatus for measurement of hollow fiber dimensions | |
US20040189979A1 (en) | Multipoint measurement system and method | |
US2299983A (en) | Cotton fiber measuring instrument | |
US5875419A (en) | System and method for determining yarn hairiness | |
US4776697A (en) | Method for the illumination of particles contained in a medium for an optical analysis, and an optical particle analyser | |
EP0610555A2 (de) | Vorrichtung zur Bestimmung der Luftdurchlässigkeit einer Warenbahn | |
US5448362A (en) | Non-contact measurement of displacement and changes in dimension of elongated objects such as filaments | |
JPS61204535A (ja) | 光フアイバの検査装置 | |
CN202083659U (zh) | 人造短纤维的质量均匀度检测装置 | |
EP0679889A2 (en) | A method and an apparatus for particle image analysis | |
CN1018075B (zh) | 纱线试样支数的自动测定装置 | |
CH695501A5 (de) | Vorrichtung am Ausgang einer Strecke zur Erfassung eines Faserverbands. | |
EP0483607A1 (de) | Verfahren zum Feststellen einer Eigenschaft eines Faserverbandes | |
DE19515373C2 (de) | Vorrichtung zur Aufnahme von von einer Strahlungsquelle auf eine bandförmige laufende Probe gerichteter und von der Probe reflektierter oder durch die Probe transmittierter Strahlung |