JPS61122946A - Optical pick-up - Google Patents

Optical pick-up

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Publication number
JPS61122946A
JPS61122946A JP59243177A JP24317784A JPS61122946A JP S61122946 A JPS61122946 A JP S61122946A JP 59243177 A JP59243177 A JP 59243177A JP 24317784 A JP24317784 A JP 24317784A JP S61122946 A JPS61122946 A JP S61122946A
Authority
JP
Japan
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optical system
sub
main
optical
spot
Prior art date
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Pending
Application number
JP59243177A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Katsuya Yagi
克哉 八木
Kazumasa Ando
和誠 安藤
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Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Inc filed Critical Konica Minolta Inc
Priority to JP59243177A priority Critical patent/JPS61122946A/en
Publication of JPS61122946A publication Critical patent/JPS61122946A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Abstract

PURPOSE:To make a construction and assembling simple and to make a focusing operation easy by forming a lens composing a main optical system and a deflecting optical part composing a sub-optical system in a body with a plastic and equalizing a focus distance of both optical systems. CONSTITUTION:In a compound lens 3, a surface 3b of a sub-optical system is eccentric in one direction outside a main optical system 3 and formed in a single body. For this reason, comming-out light from the surface 3b of the sub-optical system is corrected as a sub-spot S5 at the position away from a main spot S4 on a surface D of information recording media. The sub=spot S5 is reflected from the surface D, the surface 3a of the main optical system is transmitted, and thereafter, the spot is reflected by a beam splitter 2, and converted S5 to the second light detecting device 5. The second light detects a focus error and automatically focused. Incident light from the main optical system 3a is collected as the main spot S4 on the surface D, and the reflecting light is converged S4 to the first light detecting device 4 and the information is read. The focus distance of the main optical system and the sub-optical system is equalized. Thus, the construction and assembling go to be simple and a focus operation is made easy.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、光ディスク等の情報記録媒体(以下(3Dと
称す)の情報を読み取る光ピックアップに関する。詳細
には、元ピックアップの情報記録媒体に対する焦点を自
動的に調整し得る合焦検出機能を備えた光ピックアップ
に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to an optical pickup that reads information from an information recording medium (hereinafter referred to as 3D) such as an optical disk. The present invention relates to an optical pickup equipped with a focus detection function that can be automatically adjusted.

従来の技術 前記光ピックアップにおいて、情報読み取り検知のため
の主光束とけ別に副光束を用いて合焦検出を行う副光束
法が公知である。
2. Description of the Related Art In the above-mentioned optical pickup, a sub-beam method is known in which focus detection is performed using a sub-beam in addition to a main beam for information reading and detection.

例えば、第10図に示す光ピックアップは、レーザー光
源である半導体レーザー1と、該半導体レーザーlから
放射される光束をCD面り上に集光する主光学系である
集光レンズ3aと、該集光レンズ3aで集光された主ス
ポットS4の反射光を受光し情報を読み取る第1光検出
器4と、前記集光レンズ3aの外側に配設され、かつ前
記半導体レーザー1から放射される光束をCD面り上に
集光する偏向光学部材を含む副光学系である第2のレン
ズ3bと、該第2のレンズ3bで集光された副スポット
S5の反射光を受光し合焦検出する2分割光検出器であ
る第2光検出器5と、前記第2光検出器5からの信号に
よって集光レンズ3a及び第2のレンズ3bを合焦移動
するレンズ移動装置である電磁、躯動装置Mから成るも
のである。
For example, the optical pickup shown in FIG. 10 includes a semiconductor laser 1 which is a laser light source, a condensing lens 3a which is a main optical system which condenses a luminous flux emitted from the semiconductor laser 1 onto a CD surface, and a first photodetector 4 that receives the reflected light of the main spot S4 focused by the condenser lens 3a and reads information; A second lens 3b, which is a sub-optical system including a deflection optical member that focuses the light beam onto the CD surface, receives the reflected light of the sub-spot S5 focused by the second lens 3b, and detects focus. A second photodetector 5, which is a two-split photodetector, and an electromagnetic lens moving device, which moves the condensing lens 3a and the second lens 3b to focus based on the signal from the second photodetector 5. It consists of a moving device M.

前記光ピックアップは、第2のレンズ3bによってCD
面り上に集光される副スポットのCD面りによる反射光
が、第2のレンズ31:!とCD!iiDとの間隔に応
じて集光レンズ3aの光軸と交差する方向へ移動する状
態を第2光検出器5で検出することによって、合焦検出
する。又、集光レンズ3aによる主スポツ) S4のC
D面りによる反射光を第1光検出器4で検出することに
よって、CDの情報を読み取り検出する。
The optical pickup picks up the CD by the second lens 3b.
The light reflected by the CD surface of the sub-spot focused on the surface is reflected by the second lens 31:! And CD! Focusing is detected by detecting, with the second photodetector 5, a state in which the condensing lens 3a moves in a direction intersecting the optical axis according to the distance from iiD. Also, the main spot due to the condensing lens 3a) C of S4
The information on the CD is read and detected by detecting the light reflected by the D surface with the first photodetector 4.

前記光ピックアップは、合焦検出するための偏向光学部
材を含む副光学系と情報を読み取シ検出する主光学系が
別々に設けられているために、主光学系の光束が偏向光
学部材を含む副光学系の光束によってケラれることかな
く、しかも主光学系の主スポットを微小スポットに絞シ
込むことができ、レーザー光源の出力を有効に利用する
ことができる。又、レーザーの出力の周辺部の光を偏向
光学部材を含む副光学系の光束として利用するため、レ
ーザー光源の出力を有効に利用することができる。更に
、主光学系と偏向光学部材を含む副光学系とが別々に設
けられていることから、調整が簡単で、感度及び検出節
回の良好な合焦検出を行うことができる。
The optical pickup has a separate sub-optical system including a deflection optical member for focus detection and a main optical system for reading and detecting information, so that the light beam of the main optical system includes the deflection optical member. The main spot of the main optical system can be narrowed down to a minute spot without being eclipsed by the light beam of the sub-optical system, and the output of the laser light source can be used effectively. Further, since the peripheral light of the laser output is used as the light beam of the sub-optical system including the deflection optical member, the output of the laser light source can be effectively used. Furthermore, since the main optical system and the sub-optical system including the deflection optical member are provided separately, adjustment is easy and focus detection with good sensitivity and detection speed can be performed.

しかしながら、前記光ピックアップは、■主光学系のレ
ンズと副光学系の偏向光学部材とが別体構造であって、
しかも夫々は製作が困難な構造のものであり、■主光学
系と偏向光学部材を含む副光学系を一体に組み立て調整
するために繁雑な作業を必要とするものであり、更に、
■主光学系のレンズと副光学系の偏向光学部材が夫々ガ
ラス製で重いものであるために、合焦操作を円滑に行う
ことが困難なものである、等の問題点がある。
However, in the optical pickup, (1) the lens of the main optical system and the deflection optical member of the sub-optical system have separate structures;
Moreover, each of them has a structure that is difficult to manufacture, and requires complicated work to assemble and adjust the main optical system and the sub-optical system including the deflection optical member.
(2) Since the lens of the main optical system and the deflection optical member of the sub-optical system are made of glass and are heavy, there are problems such as difficulty in performing focusing operations smoothly.

発明の目的 本発明は、前記従来の問題点を解消すべく、情′f+/
胱取りのためCD上に集光させる主光学系と合焦検出の
だめの副光束を作る偏向光学部材を含む副光学系とを製
作容易な構造にすることによって、構造及び組立が簡単
で、しかも合焦操作を行い易糸の焦点距離をほぼ等しく
することによって、光光糸の温度変化に基く合焦誤差を
消去し得る光ピックアップを提供することを目的とする
Purpose of the Invention The present invention aims to solve the above-mentioned conventional problems.
By making the main optical system that condenses light onto a CD for bladder removal and the sub-optical system that includes a deflection optical member that produces a sub-luminous flux for focus detection, easy to manufacture, the structure and assembly are simple. It is an object of the present invention to provide an optical pickup that can eliminate focusing errors due to temperature changes in optical fibers by performing a focusing operation and making the focal lengths of the optical fibers approximately equal.

発明の構成 本発明は、レーザー光源と、前記レーザー光源より放射
される光束を情報記録媒体上に集光させる主光学系と、
前記レーザー光源より放射される光束を前記情報記録媒
体上の前記主光学系により集光される位置から離れた位
置に集光させ、かつ前記主光学系を通る光束の外側の光
束を通す偏向光学部材を含む副光学系と、該副光学系に
より導かれかつ前記情報記録媒体で反射された光を受光
して合焦検出する複数に分割された光検出器とを具備す
る光ピックアップにおいて、前記主光学系の少なくとも
一つのレンズと副光学系の前記偏向光学部材とがプラス
チックで一体に形成されて成るものであることを特徴と
する光ピックアップを構成とするものであって、前記構
成によって前記目的を達成することができた。
Structure of the Invention The present invention includes a laser light source, a main optical system that focuses a luminous flux emitted from the laser light source onto an information recording medium,
deflection optics that focuses the light beam emitted from the laser light source at a position on the information recording medium away from the position where the light beam is focused by the main optical system, and that passes the light beam outside the light beam that passes through the main optical system; In the optical pickup, the optical pickup includes a sub-optical system including a member, and a photodetector divided into a plurality of parts for detecting focus by receiving light guided by the sub-optical system and reflected by the information recording medium. The optical pickup is characterized in that at least one lens of the main optical system and the deflection optical member of the sub-optical system are integrally formed of plastic, and the above-mentioned structure makes it possible to I was able to achieve my goal.

実施例 本発明を第1図乃至第9図に示す実施例によって、以下
詳細に説明する。
Embodiments The present invention will be explained in detail below with reference to embodiments shown in FIGS. 1 to 9.

第1図は、第1実施例であって、情報読取りのための主
光学系の面の外側に合焦検出のための偏向光学部材を含
む副光学系の面を設けたことを特徴とする複合レンズを
有する光ピックアップを水体レーザー、 2Viビーム
スプリッタ−13は集光レンズである主光学系の面3a
と副光学系の面3b七を有する複合レンズ、4は主光学
系の主スポッ) Sa r Bmを検出して情報を凱み
取る第1光検出器、5は副光学系の副スポット”5 +
 s5を検出しか主光学系の面3aの外側にかつ1方向
に偏心して設けられたものである。そのため、副光学系
の副スポットSsは、CD面り上において主光学系の主
スポットS4に対して前記偏心している方向にずれて集
光される。又、複合レンズ3は、プラスチック製であっ
て、主光学系の面3aと副光学系の面3bとが一体に成
形されたものである。第2光検出器5は、2分割光検出
器である。
FIG. 1 shows a first embodiment, which is characterized in that a surface of a sub-optical system including a deflection optical member for focus detection is provided outside the surface of a main optical system for reading information. The optical pickup having a compound lens is a water body laser, and the 2Vi beam splitter 13 is a surface 3a of the main optical system which is a condensing lens.
and a compound lens having surfaces 3b and 7 of the sub-optical system, 4 is the main spot of the main optical system), a first photodetector that detects the information Sa r Bm, and 5 is the sub-spot of the sub-optical system. +
s5 is provided outside the surface 3a of the main optical system and eccentrically in one direction. Therefore, the sub spot Ss of the sub optical system is focused on the CD surface with a shift in the eccentric direction with respect to the main spot S4 of the main optical system. Further, the compound lens 3 is made of plastic, and a surface 3a of the main optical system and a surface 3b of the sub optical system are integrally molded. The second photodetector 5 is a two-split photodetector.

前記光ピックアップによる合焦作動は、次のように行わ
れる。半導体レーザー1からの発散光は、ビームスプリ
ッタ−2を透過し、複合レンズ3に入射する。副光学系
の面3bからの出射光は、CD面り上において主スポッ
トS4から離れた位置に副スポットS5として集光され
る。副スポツ)Ssld、CD面りから反射され、複合
レンズ3の主光学系の面3aを透過した後、ビームスプ
リッタ−2で反射されて第2光検出器5に集光S、され
る。第2光検出器5は2分割光検出器であって、分割線
で2分される領域の光量を比較することによって、合焦
誤差を検出する。検出された合焦誤差に応じて、複合レ
ンズ3をCD面りに対して接近離反させるレンズ移動装
置(図示せず)が作動し、自動的に合焦される。尚、主
光学系の面3aからの出射光は、CD面り上に主スポッ
トS4として集光される。主スポットS4は、CD面り
で反射され、複合レンズ:3を透過した後、ビームスプ
リッタ−2で反射されて第1光検出器4に集光s4され
る。第1光検出器4に集光された主スポットs4の光量
を計測することによって、CD上の情報を読み取る。
The focusing operation by the optical pickup is performed as follows. Divergent light from the semiconductor laser 1 passes through the beam splitter 2 and enters the compound lens 3. The light emitted from the surface 3b of the sub optical system is focused as a sub spot S5 at a position away from the main spot S4 on the CD surface. The light Ssld is reflected from the CD surface, passes through the surface 3a of the main optical system of the compound lens 3, is reflected by the beam splitter 2, and is focused on the second photodetector 5. The second photodetector 5 is a two-split photodetector, and detects a focusing error by comparing the amount of light in the area divided into two by the dividing line. Depending on the detected focusing error, a lens moving device (not shown) that moves the compound lens 3 toward and away from the CD surface is operated, and the object is automatically focused. Note that the light emitted from the surface 3a of the main optical system is focused on the CD surface as a main spot S4. The main spot S4 is reflected by the CD surface, passes through the compound lens 3, is reflected by the beam splitter 2, and is focused on the first photodetector 4 s4. Information on the CD is read by measuring the amount of light from the main spot s4 focused on the first photodetector 4.

ことKよって、ファーフィールド法によるトラッキング
誤差検出を行い得るようにすることができる。
Therefore, it is possible to perform tracking error detection using the far field method.

第2図は、第2実施例であって、第1実施例の複合レン
ズにおける副光学系の面を2分割しかつ主光学系の面に
対し対称に偏心させて設けたことを特徴とする元ピック
アップを示す。
FIG. 2 shows a second embodiment, which is characterized in that the surface of the sub-optical system in the compound lens of the first embodiment is divided into two parts and is provided symmetrically and decentered with respect to the surface of the main optical system. Shows original pickup.

第2図において、3は複合レンズで、主光学系の面3a
の外側に数面3aに対し対称に偏心させて設けた副光学
系の第1面3bと第2面3b’を有するものである。尚
副光学系の各面31)、3b’の光@ob。
In Fig. 2, 3 is a compound lens, and the surface 3a of the main optical system is
It has a first surface 3b and a second surface 3b' of a sub-optical system, which are provided on the outer side of the optical system and eccentrically symmetrically with respect to the several surfaces 3a. Furthermore, each surface 31) and 3b' of the sub-optical system @ob.

Ob′は、第3図に示す如く、主光学系の面3aの光軸
Oaに対して対称に設定されたものである。
As shown in FIG. 3, Ob' is set symmetrically with respect to the optical axis Oa of the surface 3a of the main optical system.

5及ヒ5′ハ、副光学系の副スポットS s + 85
+35’+s 5/を検出して合焦誤差を検出する第2
及び第3の光検出器である。第1図における符号と同一
のものは、同−又は相当する部材を示す。
5 and 5'c, sub-spot of sub-optical system S s + 85
+35'+s 5/ to detect the focusing error.
and a third photodetector. The same reference numerals as in FIG. 1 indicate the same or corresponding members.

第2図に示す光ピックアップにおいては、前記の如く複
合レンズ3の副光学系の面が3b、3b’が主光学系の
面3aに対称に2分割されているため、副光束り6. 
L5’がCD面り上に2つの副スポットs5. s5’
として集光される。前記副スポットS、。
In the optical pickup shown in FIG. 2, the surfaces 3b and 3b' of the sub-optical system of the compound lens 3 are divided into two symmetrically with respect to the surface 3a of the main optical system as described above, so that the sub-light beam 6.
L5' has two sub-spots s5. on the CD surface. s5'
The light is focused as The sub-spot S.

85′は夫々第2及び@3の光検出器5,5′に集光s
5.s5’され、第5図の光検出部のブロック線図に示
される如く、合焦誤差を検出する。前記検出される合焦
誤差は、2点における合焦誤差を比較することによって
求められるものであるため、精度が高くしかも(3D面
りの傾きに影響されない合焦誤差の検出が可能である。
85' focuses the light onto the second and @3 photodetectors 5 and 5', respectively.
5. s5', and a focusing error is detected as shown in the block diagram of the photodetecting section in FIG. Since the detected focusing error is determined by comparing the focusing errors at two points, it is possible to detect the focusing error with high precision (not affected by the inclination of the 3D plane).

又、本実施例の複合レンズは、第1実施例のものに比べ
て、副光束L5゜L5/の戻〕効率が高い。
Furthermore, the compound lens of this embodiment has a higher efficiency in returning the sub-luminous flux L5°L5/ than that of the first embodiment.

尚、本実施例の複合レンズ3は、合焦誤差の検出を副ス
ポットS5.S、′のみによって行い得るものであるた
め、2つの副光学系の面3b、3b’による副スポット
S5,85′を主光学系の面3aによる主スポットS4
と同一平面上に集光させるものでなくても良い。
It should be noted that the compound lens 3 of this embodiment detects the focusing error using the sub spot S5. Since it can be performed only by S, ′, the sub spots S5 and 85′ formed by the surfaces 3b and 3b′ of the two sub optical systems are combined with the main spot S4 formed by the surface 3a of the main optical system.
The light does not need to be focused on the same plane.

第4図は、第3実施例の複合レンズを平面図で示すもの
である。前記複合レンズの副光学系の面3bは、主光学
系の面3aで構成される光学系の光軸Oaに関して回転
対称なトーリック面であり、このトーリック面で構成さ
れる光学系の光軸をobで示す。
FIG. 4 shows a plan view of the compound lens of the third embodiment. The surface 3b of the sub-optical system of the compound lens is a toric surface that is rotationally symmetrical with respect to the optical axis Oa of the optical system constituted by the surface 3a of the main optical system, and the optical axis of the optical system constituted by this toric surface is Indicated by ob.

第3実施例は、第2図の光ピックアップの複合レンズを
第4図の複合レンズに置き換えたものであって、CD面
り上における副スポットS5は主スポットS4を同心円
状に囲むように集光される。そのため、合焦誤差を検出
する第2光検出器5は、第6図の光検出部のブロック線
図に示される如く、情報を読み取る第1党検出器4を同
心円状に凹むものを用いることができる。前記第2光検
出器5は、広い範囲において合焦誤差を検出し得るため
、第2実施例のものと比べて精度、副光束L5の戻9効
率等が高く、しかも、合焦誤差はCD面りの傾きに影響
されない合焦誤差の検出が可能である。
In the third embodiment, the compound lens of the optical pickup shown in FIG. 2 is replaced with the compound lens shown in FIG. be illuminated. Therefore, the second photodetector 5 that detects the focusing error should be recessed concentrically with the first photodetector 4 that reads information, as shown in the block diagram of the photodetector section in FIG. I can do it. The second photodetector 5 can detect a focusing error in a wide range, so it has higher precision, higher efficiency of return of the sub-luminous flux L5, etc. than that of the second embodiment, and moreover, the focusing error is CD It is possible to detect focusing errors that are not affected by the inclination of the surface.

第7図は、第4実施例であって、複合レンズ3を半導体
レーザー1と集光レンズ6との間に設けたことを特徴と
する光ピックアップを示す。尚、第2図と同一の符号は
、同−又は相当する部材を示す。
FIG. 7 shows an optical pickup according to a fourth embodiment, which is characterized in that a compound lens 3 is provided between a semiconductor laser 1 and a condenser lens 6. Note that the same reference numerals as in FIG. 2 indicate the same or corresponding members.

第7図において、複合レンズ3の副光学系の面3b、3
b’は第2図及び第3図と同様のものであって、副光学
系の面3b、3b’を通る副光束L5゜L、/は集光レ
ンズ6によってCD面り上に副スポットs6. s、’
  として集光される。副スポットS5+85′は、C
D面り上で反射され、複合レンズ3の主光学系の面3a
を透過し、ビームスプリッタ−2で反射されて第2及び
第3の光検出器5,5′に集光される。合焦誤差の検出
は、第5図の光検出部のブロック線図に示されると同様
に行われる。
In FIG. 7, surfaces 3b, 3 of the sub-optical system of the compound lens 3
b' is the same as in FIGS. 2 and 3, and is a sub-luminous flux L5°L passing through the surfaces 3b and 3b' of the sub-optical system, and / is a sub-spot s6 on the CD surface by the condensing lens 6. .. s,'
The light is focused as The sub spot S5+85' is C
It is reflected on the D surface, and the surface 3a of the main optical system of the compound lens 3
The light is transmitted through the beam splitter 2, reflected by the beam splitter 2, and focused on the second and third photodetectors 5, 5'. Detection of a focusing error is performed in the same manner as shown in the block diagram of the photodetector section in FIG.

本実施例において、焦点距離はCD面りの側に配置され
た集光し/ズ6が主として担うため、複合レンズ3は集
光パワーの小さいもので良い。又、複合レンズ3は、集
光レンズ6への入射角が小さいため、光束の利用効率が
良い。
In this embodiment, the focal length is mainly determined by the condensing lens 6 disposed on the CD surface side, so the compound lens 3 may have a small condensing power. Moreover, since the angle of incidence of the compound lens 3 on the condensing lens 6 is small, the efficiency of use of the luminous flux is good.

第8図は、第5実施例であって、第2実施例のものにお
いてビームスプリッタ−を除去したものである。複合し
/ズ3の副光学系の面3bを通る副光束L5による副ス
ポットS5は、主光学系の面3aの光軸と交差する方向
で、しかも半導体レーザー1の近くに戻される。従って
、合焦めための第2光検出器5と半導体レーザー1とを
同一方向を向いて隣接配置すると共に一体構造とするこ
とができ、該一体構造のものと複合レンズとによって簡
単な構造の光ピックアップを構成することができる。尚
、本実施例における情報の読み取シは、主光学系の戻シ
光によるレーザー光源の自己結合効果を利用して検出す
る5coop方式を採用することによって行い得る。
FIG. 8 shows a fifth embodiment, in which the beam splitter is removed from the second embodiment. A sub spot S5 caused by the sub light beam L5 passing through the surface 3b of the sub optical system of the compound lens 3 is returned close to the semiconductor laser 1 in a direction intersecting the optical axis of the surface 3a of the main optical system. Therefore, the second photodetector 5 for focusing and the semiconductor laser 1 can be arranged adjacent to each other facing the same direction and can be made into an integral structure, and the integral structure and the compound lens can simplify the structure. An optical pickup can be configured. Note that reading of information in this embodiment can be performed by employing a 5-coop method for detection using the self-coupling effect of the laser light source by the return light of the main optical system.

第9図は、第6実施例であって、複合レンズ3を半導体
レーザー1と2枚の集光レンズ6.7との間に設けたこ
とを特徴とする光ピックアップを示す。該光ビッグアッ
プは、複合レンズ3が前記の如く配置されていることか
ら第4実施例と同様の作用効果を奏し、ビームスプリッ
タ−を有していないことから第5実施例と同様の作用効
果を奏するものである。
FIG. 9 shows an optical pickup according to a sixth embodiment, which is characterized in that a compound lens 3 is provided between a semiconductor laser 1 and two condensing lenses 6.7. The optical big up has the same effect as the fourth embodiment because the compound lens 3 is arranged as described above, and the same effect as the fifth embodiment because it does not have a beam splitter. It is something that plays.

以上の各実施例は、主光学系を構成するレンズと副光学
系を構成する偏向光学部材とがプラスチックで一体成形
されたものであることから、構造及び組立が簡単である
と共に、前記夫々の光学系が軽量となり合焦操作を小さ
い力で円滑に行い得るものである。
In each of the above embodiments, the lens constituting the main optical system and the deflection optical member constituting the sub-optical system are integrally molded from plastic, so that the structure and assembly are simple, and each of the above-mentioned components is simple. The optical system is lightweight, and focusing operations can be performed smoothly with little force.

尚、以上の各実施例において、主光学系と副光学系の焦
点距離を同一とすることが好ましい。即ち、プラスチッ
ク類である複合レンズが、温度変化によってその屈折率
が変化して合焦誤差を生じるが、前記の如く構成するこ
とによって、前記合焦誤差を消去し得る。
In each of the above embodiments, it is preferable that the main optical system and the sub optical system have the same focal length. That is, the refractive index of a composite lens made of plastic changes due to temperature changes, causing a focusing error. However, by configuring the lens as described above, the focusing error can be eliminated.

発明の効果 本発明の光ピックアップは、主光学系を構成するレンズ
と副光学系を構成する偏向光学部材とがプラスチックで
一体に形成されたものであることから、構造及び組立が
簡単であると共に、前記夫々の光学系が軽量となり合焦
操作を小さい力で円清に行うことができる。
Effects of the Invention The optical pickup of the present invention is simple in structure and assembly because the lens constituting the main optical system and the deflection optical member constituting the sub optical system are integrally formed of plastic. , each of the optical systems described above is lightweight, and a focusing operation can be performed with little force.

又、本発明の光ピックアップは、主光学系と副光学系の
焦点距離をほぼ等しくすることによって、光学系の屈折
率が温度変化に基き変化することによって生じる合焦誤
差を、消去することができる。
Furthermore, in the optical pickup of the present invention, by making the focal lengths of the main optical system and the sub optical system approximately equal, it is possible to eliminate focusing errors caused by changes in the refractive index of the optical system due to temperature changes. can.

以上の如く、本発明は、前記構成によって、前記目的の
光ピックアップを提供することができた。
As described above, the present invention was able to provide the objective optical pickup with the above configuration.

は同第2実施例の概略図、第3Vは第2図の要部の説明
図、第4図は本発明の第3に施例の要部の説明図、第5
図は第2実施例の光検出部のブロック線図、第6図は第
SJ!施例の光検出部のブロック線図、第7図乃至第9
図は本発明の第5乃至第7の実施例の概略図、第10図
は従来例の概略図である。
3 is a schematic diagram of the second embodiment of the present invention, 3V is an explanatory diagram of the main part of FIG. 2, FIG. 4 is an explanatory diagram of the main part of the third embodiment of the present invention, and 5
The figure is a block diagram of the photodetector section of the second embodiment, and FIG. 6 is the SJ! Block diagram of the photodetector section of the example, FIGS. 7 to 9
The figures are schematic diagrams of fifth to seventh embodiments of the present invention, and FIG. 10 is a schematic diagram of a conventional example.

■・・・半導体レーザー、 2・・・ビームスプリッタ
−23・・・複合レンズ、    3a・・・主光学系
の面。
■... Semiconductor laser, 2... Beam splitter 23... Complex lens, 3a... Surface of main optical system.

31)、3b’・・・副光学系の面、4・・・第1光検
出器。
31), 3b'... Surface of sub-optical system, 4... First photodetector.

5・・・第2光検出器、  D・・・(3Dの面。5... Second photodetector, D... (3D surface.

Oa・・・主光学系の光軸。Oa: Optical axis of the main optical system.

ob、ob’・・・副光学系の光軸。ob, ob'... Optical axis of the sub optical system.

S4・・・主スポット、    S5.S4・・・副ス
ポット。
S4...main spot, S5. S4...Sub spot.

特許出願人  小西六写真工業株式会社第゛ ぢ 第2図 第3図 !!!4図Patent applicant: Konishiroku Photo Industry Co., Ltd. Di Figure 2 Figure 3 ! ! ! Figure 4

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)レーザ光源と、前記レーザー光源より放射される
光束を情報記録媒体上に集光させる主光学系と、前記レ
ーザー光源より放射される光束を前記情報記録媒体上の
前記主光学系により集光される位置から離れた位置に集
光させ、かつ前記主光学系を通る光束の外側の光束を通
す偏向光学部材を含む副光学系と、該副光学系により導
かれかつ前記情報記録媒体で反射された光を受光して合
焦検出する複数に分割された光検出器とを具備する光ピ
ックアップにおいて、前記主光学系の少なくとも一つの
レンズと副光学系の前記偏向光学部材とがプラスチック
で一体に形成されて成るものであることを特徴とする光
ピックアップ。
(1) A laser light source, a main optical system that focuses the light flux emitted from the laser light source onto an information recording medium, and a main optical system that focuses the light flux emitted from the laser light source on the information recording medium. a sub-optical system including a deflection optical member that condenses the light at a position away from the position where the light is emitted and transmits a light beam outside the light beam passing through the main optical system; In an optical pickup comprising a plurality of divided photodetectors that receive reflected light and detect focus, at least one lens of the main optical system and the deflection optical member of the sub optical system are made of plastic. An optical pickup characterized in that it is integrally formed.
(2)前記偏向光学部材の1つの光学面が、前記主光学
系の光軸に関して回転対称のトーリック面であることを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光ピックアップ
(2) The optical pickup according to claim 1, wherein one optical surface of the deflection optical member is a toric surface rotationally symmetrical with respect to the optical axis of the main optical system.
(3)前記レンズと前記偏向光学部材の焦点距離がほぼ
等しいことを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2
項に記載の光ピックアップ。
(3) Claim 1 or 2, characterized in that the lens and the deflection optical member have substantially the same focal length.
Optical pickup described in section.
(4)レーザー光源と合焦検出する複数に分割された光
検出器とが同一方向を向いて隣接配置されたものである
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第3項のい
ずれか1項に記載の光ピックアップ。
(4) Any one of claims 1 to 3, characterized in that a laser light source and a plurality of divided photodetectors for detecting focus are arranged adjacent to each other facing the same direction. The optical pickup according to item 1.
(5)レーザー光源の自己結合効果を利用して情報を読
み取るようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第1
項乃至第4項のいずれか1項に記載の光ピックアップ。
(5) Claim 1, characterized in that information is read using the self-coupling effect of a laser light source.
The optical pickup according to any one of items 1 to 4.
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