JPS61121612A - Latch circuit - Google Patents

Latch circuit

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JPS61121612A
JPS61121612A JP59242371A JP24237184A JPS61121612A JP S61121612 A JPS61121612 A JP S61121612A JP 59242371 A JP59242371 A JP 59242371A JP 24237184 A JP24237184 A JP 24237184A JP S61121612 A JPS61121612 A JP S61121612A
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low
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Yasunori Kanai
金井 泰憲
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名和田 一正
Mitsuhisa Shimizu
光久 清水
Hirotaka Yada
裕貴 矢田
Taichi Saito
齊藤 太一
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/027Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
    • H03K3/037Bistable circuits
    • H03K3/0375Bistable circuits provided with means for increasing reliability; for protection; for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied; for storing the actual state when the supply voltage fails
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/01Details
    • H03K3/013Modifications of generator to prevent operation by noise or interference

Abstract

PURPOSE:To prevent the software error due to a spike electromotive force caused by irradiation of an alpha ray by inserting a low pass filter consisting of a resistor and a capacitance to a feedback loop in a latch circuit having plural logical gate circuits and the feedback loop feeding back an output of at least a logical gate circuit to an input of the other logical gate. CONSTITUTION:Suppose that a data is stored in the state that an output Q is at a high level and an output Q' is at a low level and a negative noise pulse is caused to, a node A, by alpha ray irradiation in this state. The noise pulse is fed to a base of a transistor (TR) T6 via a TR T14 to cut off temporarily the TR T6 so as to generate a positive noise pulse to a node B. When a low pass filter LPF is inserted between an emitter of the TR T16 and the base of a TR T2 in this case, the noise pulse caused at the node B is not transmitted to the base of the TR T2 so as to prevent the inversion of a stored data.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、ラッチ回路に関し、特にα線照射等によるン
フトエラーに対処するためフィ一本ドパツクループ内に
低域フィルタを挿入したラッチ回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a latch circuit, and more particularly to a latch circuit in which a low-pass filter is inserted in a single fiber pack loop in order to cope with a shift error caused by α-ray irradiation or the like.

(従来の技術) 第5図は、従来形のラッチ回路の1例を示す。(Conventional technology) FIG. 5 shows an example of a conventional latch circuit.

同図のラッチ回路は、3個(DNOI’ −) G 1
 、G2゜G3を備えている。NORゲートG1および
G2の各出力は互いに他のN0Rf−1の入力に帰還さ
れている。NORゲートG3の各入力には入力データD
T およびクロック/4’ルスCI、Kが印加され、該
N0RfゲートG3O出力はN0RfゲートGIノ1ツ
の入力に接続されている。また、NOI”−トG2の入
力には反転クロック/4ルスCLKが印加されている。
There are three latch circuits in the figure (DNOI' -) G 1
, G2°G3. The respective outputs of NOR gates G1 and G2 are fed back to the input of the other N0Rf-1. Input data D is input to each input of NOR gate G3.
T and a clock/4' pulse CI,K are applied, and the N0Rf gate G3O output is connected to the input of the N0Rf gate GI. Further, an inverted clock/4 pulse CLK is applied to the input of the NOI''-to G2.

第5図の回路においては、第6図に示すように、クロッ
クツ9ルスCLKが低レベルに変化した時点で入力デー
タDTが低レベルの場合は、 NORゲートG3の出力
が高レベルとなる。この時、N0RfゲートGlの出力
Qが当初高レベルでありたものとすると、該出力Qは低
レベルに変化する。したがって、反転クロックパルスd
1が高レベルから低レベルに変化した時点でNORグー
)G2の2つの入力が共に低レベルとなシ出力ζが高レ
ベルに変化する。これによシ、NORグー)Glの1つ
の入力端子が高レベルに保たれ、N0RゲートG3の出
力が高レベルから低レベルに変化した後も出力Qが低レ
ベルに保持される。また、クロックパルスCLKが高レ
ベルから低レベルに変化した時点で入力データDTが高
レベルの場合は、 NORグー)G3の出力は低レベル
のまま保持される。そして、この時反転クロックパルス
CLKが低レベルから高レベルに変化するとN0Rゲー
トG2の出力冴が低レベルになシ、これに応じてNOR
ゲートG1の出力Qが高レベルに変化する。そして、反
転クロック/4ルスCLKが高レベルから低レベルに変
化した後もN0Rr−)G2の一方の入力が出力Qによ
シ高レベルに保たれているから出力Qは低レベルに保持
される。
In the circuit of FIG. 5, as shown in FIG. 6, if the input data DT is at a low level when the clock signal CLK changes to a low level, the output of the NOR gate G3 becomes a high level. At this time, assuming that the output Q of the N0Rf gate Gl is initially at a high level, the output Q changes to a low level. Therefore, the inverted clock pulse d
1 changes from high level to low level, the two inputs of NOR G2 both become low level, and the output ζ changes to high level. As a result, one input terminal of NOR gate G1 is kept at high level, and the output Q is kept at low level even after the output of NOR gate G3 changes from high level to low level. Furthermore, if the input data DT is at a high level at the time when the clock pulse CLK changes from a high level to a low level, the output of NOR G3 is held at a low level. At this time, when the inverted clock pulse CLK changes from low level to high level, the output level of N0R gate G2 becomes low level, and accordingly, NOR
The output Q of gate G1 changes to high level. Even after the inverted clock/4 pulse CLK changes from a high level to a low level, one input of N0Rr-)G2 is kept at a high level by the output Q, so the output Q is kept at a low level. .

ところで、上述のようなラッチ回路を使用した集積回路
装置においても、集積度向上の必要性から、最近主要素
子が微細化し、内部信号の低振幅化および回路の低消費
電力化が行なわれている。
By the way, even in integrated circuit devices using latch circuits such as those mentioned above, due to the need to improve the degree of integration, the main elements have recently been miniaturized, the amplitude of internal signals has been reduced, and the power consumption of the circuit has been reduced. .

これにともない、/4ツケージ部材のセラミック中に含
まれる放射性物質から放射されるα線によるソフトエラ
ーが問題となっている。すなわち、従来形のラッチ回路
においては、このソフトエラーに対して特別の対策が施
されていなかったため、α線照射によるスノ母イク状起
電力によってラッチ回路の記憶データが破壊されるとい
う不都合がありた・ (発明が解決しようとする問題点) 本発明は、前述の従来形における問題点に鑑み、α線照
射によるスパイク状起電力等によって生ずるソフトエラ
ーを防止し、ラッチ回路の信頼性を向上させることを目
的とする。
Along with this, soft errors due to alpha rays emitted from radioactive substances contained in the ceramic of the /4 cage member have become a problem. In other words, in conventional latch circuits, no special measures were taken against this soft error, so there was an inconvenience in that the data stored in the latch circuit was destroyed by the snow-like electromotive force caused by alpha ray irradiation. (Problems to be solved by the invention) In view of the problems with the conventional type described above, the present invention prevents soft errors caused by spike-like electromotive force caused by α-ray irradiation and improves the reliability of the latch circuit. The purpose is to

(問題点を解決するための手段) 本発明においては、複数の論理r−ト回路とこれらの論
理ゲート回路のうち少なくとも1つの論理ゲート回路の
出力を他の論理ゲート回路の入力に帰還する帰還ループ
を有するラッチ回路において、該帰還ループに抵抗と容
量等によって形成される低域フィルタを挿入する構成が
用いられる。
(Means for Solving the Problems) In the present invention, a plurality of logic gate circuits and a feedback circuit that feeds back the output of at least one logic gate circuit among these logic gate circuits to the input of another logic gate circuit are provided. In a latch circuit having a loop, a configuration is used in which a low-pass filter formed by a resistor, a capacitor, etc. is inserted into the feedback loop.

(作用) 上述のような手段を用いることによシ、α線照射等によ
っ℃生じたスパイク状起電力が該帰還ループを介して入
力側に帰還されることが防止され、したがってラッチ回
路の記憶内容が破壊されることが防止される。
(Function) By using the above-mentioned means, the spike-like electromotive force generated by α-ray irradiation etc. is prevented from being fed back to the input side via the feedback loop, and therefore the latch circuit is Memory contents are prevented from being destroyed.

(実施例) 以下、図面によシ本発明の詳細な説明する。(Example) Hereinafter, the present invention will be explained in detail with reference to the drawings.

第1図は、本発明の1実施例に係わるラッチ回路の概略
を示す、同図のラッチ回路は、第5図の従来形のラッチ
回路におけるN0Rf −) G 2の出力からNOR
グー)Glの入力につながる帰還回路に低域フィルタL
PFを挿入したものである。低域フィルタLPFは、例
えば帰還回路に直列に挿入された抵抗Rとこの抵抗8と
グランド間に設けられた分布容量Cとによって構成され
る。あるいは、該低域フィルタLPFは該抵抗Rと帰還
回路各部に存在する票遊容量によりて構成してもよくま
た帰還回路とグランド間に容量を接続してもよい。その
他の部分は第5図の回路と同じであシ同−参照符号で示
されている。第1図のラッチ回路の動作は前述の第5図
のものと同じであるが、α線照射によるスノ母イク状起
電力が帰還回路に挿入された低域フィルタLPFによっ
て遮断されるからラッチ回路の記憶内容の破壊が防止さ
れる。
FIG. 1 schematically shows a latch circuit according to an embodiment of the present invention.
Goo) A low-pass filter L is connected to the feedback circuit connected to the input of Gl.
This is with a PF inserted. The low-pass filter LPF is composed of, for example, a resistor R inserted in series in a feedback circuit and a distributed capacitance C provided between this resistor 8 and ground. Alternatively, the low-pass filter LPF may be constituted by the resistor R and a voltage capacitor present in each part of the feedback circuit, or a capacitor may be connected between the feedback circuit and ground. The other parts are the same as the circuit of FIG. 5 and are designated by the same reference numerals. The operation of the latch circuit in Fig. 1 is the same as that in Fig. 5 described above, but the latch circuit operates because the snow-like electromotive force caused by α-ray irradiation is blocked by the low-pass filter LPF inserted in the feedback circuit. Destruction of the memory contents is prevented.

第2図は、第1図のラッチ回路の詳細な回路構成を示す
。第2図において、トランジスタTI。
FIG. 2 shows a detailed circuit configuration of the latch circuit of FIG. 1. In FIG. 2, transistor TI.

T2.T3.T4および抵抗R1,R2,R3はECL
型のNORゲートを構成するものであシ第1図のグー)
Glに相当する。トランジスタT 5 、T6゜T7.
T8および抵抗R5,R6はゲートG2に相当するEC
L型N0Re−トを構成する。さらに、トランジスタT
9 、TIO、T11 、T12および抵抗R7,R8
,R9はゲートG3に相当するECI、型NOR型P−
)である*ゲートG3の出力はトランジスタT13およ
び抵抗RIOKよって構成されるエミッタホロワを介し
てグー)G1の1つの入力すなわちトランジスタT1の
ペースに接続されている。ff−トGlの出力はトラン
ジスタT15および抵抗R12によりて構成されるエミ
ッタホロワを介して出力Qとして取シ出され、かつトラ
ンジスタT14抵抗R11によって構成されるエミッタ
ホロワを介してf−トG 2の1つの入力すなわちトラ
ンジスタT6のペースに接続されている。tた、ゲート
G2の出力はトランジスタT17および抵抗R14で構
成されるエミッタホロワを介して出力Qとして取シ出さ
れると共に、トランジスタT16および抵抗R13によ
って構成されるエミッタホロワを介してr−トG1の1
つの入力すなわちトランジスタT2のペースに入力され
ている。但し、トランジスタT16のエミッタからトラ
ンジスタで2のペースに至る帰還回路には抵抗Rおよび
容量Cによりて構成される低域フィルタLPFが挿入さ
れている。
T2. T3. T4 and resistors R1, R2, R3 are ECL
This is what constitutes the NOR gate of the type shown in Figure 1).
Corresponds to Gl. Transistors T5, T6°T7.
T8 and resistors R5 and R6 are EC corresponding to gate G2
Configures an L-type N0Re-to. Furthermore, the transistor T
9, TIO, T11, T12 and resistors R7, R8
, R9 is an ECI corresponding to gate G3, type NOR type P-
) is connected to one input of gate G1, ie to the pace of transistor T1, via an emitter follower constituted by transistor T13 and resistor RIOK. The output of the ff-to-G1 is taken out as an output Q through an emitter follower constituted by a transistor T15 and a resistor R12, and is taken out as an output Q through an emitter follower constituted by a transistor T14 and a resistor R11 to one of the f-to-G2. It is connected to the input or pace of transistor T6. In addition, the output of the gate G2 is taken out as an output Q via an emitter follower composed of a transistor T17 and a resistor R14, and is also taken out as an output Q via an emitter follower composed of a transistor T16 and a resistor R13.
one input, namely the pace of transistor T2. However, a low-pass filter LPF constituted by a resistor R and a capacitor C is inserted in the feedback circuit extending from the emitter of the transistor T16 to the transistor 2 pace.

第2図の回路において、NORダーグー3の各入力すな
わちトランジスタT9およびTIOのペースにはそれぞ
れ入力データDTおよびクロックパルスCLKが印加さ
れている。そして、これらの各入力信号がいずれも低1
ノベルの場合にはトランジスタで9およびTIOが共に
カットオフし、トランジスタTllがオンとなる。した
がってトランジスタT130ペースに接続されているN
0RfゲートG3の出力は高1ノベルとなる。これに対
して、入力データDT iたはクロックパルスCLKの
うち少なくとも一方が高レベルの場合には、トランジス
タT9tたは710がオンとなυ、トランジスタTll
がオフとなる。したかりて、NOR/ゲートG3の出力
が低1ノベルとなる。他のN0Rr −)GlおよびG
2も同様の原理で動作する。そして、このような各NO
RゲートG1.G2.G3によりて前述の第5図のラッ
チ回路と同様の動作が行なわれる。
In the circuit of FIG. 2, input data DT and clock pulse CLK are applied to each input of the NOR gate 3, that is, the pace of transistors T9 and TIO. Each of these input signals is low 1.
In the case of Novell, transistors 9 and TIO are both cut off, and transistor Tll is turned on. Therefore N connected to the transistor T130 pace
The output of 0Rf gate G3 becomes high 1 novel. On the other hand, when at least one of the input data DT i or the clock pulse CLK is at a high level, the transistor T9t or 710 is turned on, υ, and the transistor Tll
is turned off. Therefore, the output of NOR/gate G3 becomes a low 1 novel. other N0Rr-)Gl and G
2 operates on a similar principle. And each NO like this
R gate G1. G2. G3 performs the same operation as the latch circuit of FIG. 5 described above.

ところで、第2図の回路において、例えば出力Qが高レ
ベル、出力σが低レベルの状態にデータ保持が行なわれ
ているものとする。この時、NOR? −) G 1の
トランジスタで1およびT2は共にカットオフしておシ
、ノードAは高レベルとなっている。また、NORゲー
トG2のトランジスタT6がオンとなってお)ノードB
は低レベルに保持されている。この状態で、α線照射に
よシ例えばノードAに負極性のノイズパルスが生じたも
のとする。このノイズ/母ルスはトランジスタT14’
を介してトランジスタT6のペースに印加され、該トラ
ンジスタT6を一時的にカットオフしてノードBに正極
性のノイズパルスを発生させる。この時。
By the way, in the circuit shown in FIG. 2, it is assumed that data is held in a state where the output Q is at a high level and the output σ is at a low level, for example. At this time, NOR? -) In the transistor G1, both 1 and T2 are cut off, and node A is at a high level. Also, the transistor T6 of the NOR gate G2 is turned on, and the node B
is kept at a low level. In this state, it is assumed that a noise pulse of negative polarity is generated, for example, at node A due to α-ray irradiation. This noise/mother pulse is the transistor T14'
is applied to the pace of transistor T6 through the transistor T6, temporarily cutting off the transistor T6 and generating a positive noise pulse at node B. At this time.

もしトランジスタT16のエミッタとトランジスタT2
のペース間に低域フィルタM丁が挿入されてないものと
すると、該ノイズパルスがトランジスタT16を介して
NORゲート11のトランジスタで2のペースに帰還さ
れノード人の電位をなお、低レベルに引き下げるように
動作する。これによ)、ラッチ回路の記憶データが破壊
される。これに対して、もし、トランジスタT16のエ
ミッタとトランジスタT2のベース間に低域フィルタL
PFが挿入されておればノードBに生じたノイズパルス
がトランジスタT2のペースに伝達されなくなフ前述の
ような記憶データの反転が防止される。なお、低域フィ
ルタLPFの挿入場所は、入力データDTの入力される
端子から見て最終段の帰還回路に挿入することが好まし
い。このような位置に挿入することによシ、例えば、入
力データDTおよびクロック端子CLKのレベルに応じ
て出力Qおよび互が出力されるまでには各信号が低域フ
ィルタLPFを通過せず、出力すが発生した後、初めて
低域フィルタLPFを介して? −) G 1に帰還さ
れるため、低域フィルタLPFの存在によって各出力Q
およびすが伝達遅延を受けることがなく高速動作を行な
うことができる。
If the emitter of transistor T16 and transistor T2
Assuming that a low-pass filter M is not inserted between the paces of , the noise pulse is fed back to the pace of 2 by the transistor of the NOR gate 11 via the transistor T16, and the potential of the node person is still lowered to a low level. It works like this. As a result, the data stored in the latch circuit is destroyed. On the other hand, if the low-pass filter L is connected between the emitter of transistor T16 and the base of transistor T2,
If PF is inserted, the noise pulse generated at node B will not be transmitted to the transistor T2, and the above-mentioned inversion of stored data will be prevented. Note that it is preferable that the low-pass filter LPF be inserted in the final stage feedback circuit when viewed from the terminal into which the input data DT is input. By inserting the signal at such a position, for example, each signal does not pass through the low-pass filter LPF until the output Q and each other are output according to the levels of the input data DT and the clock terminal CLK. After the occurrence of the problem, is it first passed through the low-pass filter LPF? −) Since each output Q
and high-speed operation can be performed without suffering transmission delay.

第3図は、本発明の他の実施例に係わるラッチ回路を示
す。同図の回路は、3個のORゲートG4゜G5.G6
および1個のアンドゲートG7を具備する。ORゲート
G4およびG5の肯定出力は共にAND)la−トG7
の入力に接続されておシ、ANDゲートG7の出力の1
つは低域フィルタLPFを介して0R)f−トG5の1
つの入力に帰還されている。また、各0R)Ia−トG
4およびG5の反転出力はORゲートG6においてワイ
ヤードOR演算され反転出力ガが生成される。肯定出力
Qは瓜r−トG7の他の出力端子から取)出される。な
り、 AMDI’ −) G 7はワイヤード駒回路に
よって構成することも可能である。
FIG. 3 shows a latch circuit according to another embodiment of the invention. The circuit in the figure consists of three OR gates G4, G5. G6
and one AND gate G7. The positive outputs of OR gates G4 and G5 are AND) la-to G7
1 of the output of AND gate G7
One is 1 of 0R)f-toG5 via the low-pass filter LPF.
It is fed back to two inputs. Also, each 0R) Ia-G
The inverted outputs of G4 and G5 are wired ORed in OR gate G6 to generate an inverted output. The affirmative output Q is taken from the other output terminal of the connector G7. AMDI'-) G 7 can also be configured by a wired piece circuit.

第3図のラッチ回路の動作も前述の各ラッチ回路の動作
と同じであシ、例えばクロックパルスCLKが高レベル
から低レベルに変化した時に入力データDTが低レベル
であれば出力Qが低レベルに変化する。そして、この低
レベルの出方がMΦゲートG7から低域フィルタLPF
を介してORゲートG5の入力に帰還され、反転クロッ
クパルスCLKが低レベルになりた時点以後も該ORゲ
ートG5の出力が低レベルになシ出力Qが低レベルに保
持される。この時、ORグー)G6の出力すなわち出力
すけ高レベルに保持される。また、クロックツ9ルスC
LKが高レベルから低レベルに変化した時点で入力デー
タDTが高レベルの場合には0RゲートG4の出力が高
レベルとなる。この時点で、反転クロツク/4ルスct
gt低レベルカラ高レベルに変化すると0Rr−トG5
の出力が高レベルとな)アンドfゲートG7の出力が高
レベルとなる。
The operation of the latch circuit in FIG. 3 is the same as that of each latch circuit described above. For example, if the input data DT is low level when the clock pulse CLK changes from high level to low level, the output Q is low level. Changes to The way this low level comes out is from the MΦ gate G7 to the low pass filter LPF.
is fed back to the input of the OR gate G5 through the inverted clock pulse CLK, and the output Q of the OR gate G5 is kept at a low level even after the inverted clock pulse CLK becomes a low level. At this time, the output of ORG6 is held at the output threshold level. Also, Clockz 9rus C
If the input data DT is at a high level when LK changes from high level to low level, the output of 0R gate G4 becomes high level. At this point, the inverted clock/4 rus ct
When gt changes from low level to high level, 0Rr-toG5
The output of ANDf gate G7 becomes high level.

したがってラッチ回路の出力Qが高レベルとなシ、かつ
この高レベルの出力が低域フィルタLPFを介してOR
グー)G5の入力に帰還されデータ保持が行なわれる。
Therefore, the output Q of the latch circuit is not at a high level, and this high level output is ORed via the low pass filter LPF.
(G) It is fed back to the input of G5 and data is held.

第4図は、第3図のラッチ回路の具体的な回路構成を示
す。第4図において、トランジスタT18゜T19 、
T20 、T21、ダイオードD1、抵抗R15,R1
6,R17はKCL型のORI’−)を構成し第3図に
おけるグー)G4に相当する。また、トランジスタT2
2 、T23 、T24 、T25、および抵抗R18
,R19はECL型のORゲートを構成し第3図のff
 −) G 5に相当する。また、トランジスタT24
のコレクタとトランジスタT24のコレクタとが接続さ
れてワイヤード凡ゲートを構成し第3図におけるゲート
G7に対応する。さらに、トランジスタT28.T29
および抵抗R22はワイヤード0Rゲートを構成し第3
図におけるff −トG 6に対応する。なお、トラン
ジスタT26および抵抗R20によって構成されるエミ
ッタホロワおよびトランジスタT27および抵抗R21
によって構成されるエミッタホロワはそれぞれ帰還回路
用および出力用のバッファ回路として使用されている。
FIG. 4 shows a specific circuit configuration of the latch circuit shown in FIG. 3. In FIG. 4, transistors T18°T19,
T20, T21, diode D1, resistor R15, R1
6, R17 constitutes the KCL type ORI'-) and corresponds to G4 in FIG. Also, transistor T2
2, T23, T24, T25, and resistor R18
, R19 constitutes an ECL type OR gate, and ff in FIG.
-) Equivalent to G5. In addition, the transistor T24
The collector of the transistor T24 is connected to the collector of the transistor T24 to form a wired gate, which corresponds to the gate G7 in FIG. Furthermore, transistor T28. T29
and resistor R22 constitute a wired 0R gate and the third
This corresponds to ff-G6 in the figure. Note that the emitter follower constituted by the transistor T26 and the resistor R20, the transistor T27 and the resistor R21
The emitter followers constructed by the above are used as a feedback circuit and an output buffer circuit, respectively.

なお、第4図の回路の動作は第3図の回路において説明
したものと同じであるからその説明を省略する。
The operation of the circuit shown in FIG. 4 is the same as that described for the circuit shown in FIG. 3, so a description thereof will be omitted.

(発明の効果) 以上のように、本発明によれば、極めて簡単な回路構成
によシ、α線照射によって発生するス/−Pイク状起電
力が入力側に帰還されることがなくなシ、α線等による
ソフトエラーを的確に防止することが可能になる。また
、ラッチ回路の出力信号の遅延時間が増大することがな
いので高速度のラッチ回路が実現される。
(Effects of the Invention) As described above, according to the present invention, due to the extremely simple circuit configuration, the S/-P current electromotive force generated by α-ray irradiation is not fed back to the input side. It becomes possible to accurately prevent soft errors caused by radiation, alpha rays, etc. Further, since the delay time of the output signal of the latch circuit does not increase, a high-speed latch circuit can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の1実施例に係わるラッチ回路の概略を
示すブロック回路図、第2図は第1図の回路の詳細を示
す電気回路図、第3図は本発明の他の実施例に係わるラ
ッチ回路の概略を示すブロック回路図、第4図は第3図
の回路の詳細を示す電気回路図、第5図は従来形のラッ
チ回路の概略を示すブロック回路、そして第6図は第5
図の回路の動作を説明するための波形図である。 Gl  、G2  、G3  二 NORシシ′−ト 
、 G4.G5゜G6:ORゲート、G 7 : AN
D?’−ト、R:抵抗、C:容量、LPF :低域フィ
ルタ、Tl 、T2 、・・・。 T29 : )ランジスタ、R1,R2,・・・、R2
2:抵抗、Dl:ダイオード。 (,2LPF −)2図 第3図 第4図
FIG. 1 is a block circuit diagram showing an outline of a latch circuit according to one embodiment of the present invention, FIG. 2 is an electric circuit diagram showing details of the circuit in FIG. 1, and FIG. 3 is another embodiment of the present invention. 4 is an electrical circuit diagram showing details of the circuit in FIG. 3, FIG. 5 is a block circuit diagram showing an outline of a conventional latch circuit, and FIG. Fifth
FIG. 3 is a waveform diagram for explaining the operation of the circuit shown in the figure. Gl, G2, G3 two NOR sheets
, G4. G5゜G6: OR gate, G7: AN
D? R: resistance, C: capacitance, LPF: low-pass filter, Tl, T2,... T29: ) transistor, R1, R2,..., R2
2: Resistor, Dl: Diode. (,2LPF -)2Figure 3Figure 4

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、複数の論理ゲート回路、少なくとも1つの論理ゲー
ト回路の出力を他の論理ゲート回路の入力に帰還するこ
とによって形成された帰還ループ回路、および該帰還ル
ープ回路中に挿入された低域フィルタを具備することを
特徴とするラッチ回路。 2、前記複数の論理ゲート回路は2個のNORゲート回
路を含み、第1のNORゲート回路出力は第2のNOR
ゲート回路の入力に帰還され、第2のNORゲート回路
出力は第1のNORゲート回路の入力に帰還され、かつ
少なくともいづれか一方の帰還回路に低域フィルタを挿
入した特許請求の範囲第1項に記載のラッチ回路。 3、前記複数の論理ゲート回路は2個のORゲート回路
と1個のANDゲート回路を含み、第1および第2のO
Rゲート回路の出力がANDゲート回路に入力され、A
NDゲート回路の出力が該第1または第2のORゲート
回路の入力に帰還されて帰還回路が構成され、該帰還回
路に低域フィルタが挿入されている特許請求の範囲第1
項に記載のラッチ回路。 4、前記低域フィルタは抵抗と容量による積分回路であ
る特許請求の範囲第1項から第3項までのいずれか1項
に記載のラッチ回路。
[Claims] 1. A plurality of logic gate circuits, a feedback loop circuit formed by feeding back the output of at least one logic gate circuit to the input of another logic gate circuit, and a feedback loop circuit inserted into the feedback loop circuit. A latch circuit comprising a low-pass filter. 2. The plurality of logic gate circuits include two NOR gate circuits, and the output of the first NOR gate circuit is the output of the second NOR gate circuit.
The second NOR gate circuit output is fed back to the input of the first NOR gate circuit, and a low-pass filter is inserted in at least one of the feedback circuits. The latch circuit described. 3. The plurality of logic gate circuits include two OR gate circuits and one AND gate circuit, and the first and second O gate circuits include two OR gate circuits and one AND gate circuit.
The output of the R gate circuit is input to the AND gate circuit, and the A
The output of the ND gate circuit is fed back to the input of the first or second OR gate circuit to form a feedback circuit, and a low-pass filter is inserted in the feedback circuit.
The latch circuit described in section. 4. The latch circuit according to any one of claims 1 to 3, wherein the low-pass filter is an integrating circuit including a resistor and a capacitor.
JP59242371A 1984-11-19 1984-11-19 Latch circuit Granted JPS61121612A (en)

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DE8585308403T DE3581606D1 (en) 1984-11-19 1985-11-19 LOCKING CIRCUIT WITH SEMICONDUCTORS.
KR8508642A KR890004467B1 (en) 1984-11-19 1985-11-19 Semiconductor latch circuit with noise resistance circuit
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63152213A (en) * 1986-12-17 1988-06-24 Hitachi Ltd Logic integrated circuit
JPH024015A (en) * 1988-06-21 1990-01-09 Fujitsu Ltd Emitter coupled logic circuit

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JPS57191134U (en) * 1981-05-29 1982-12-03

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