JPS61112946A - ホログラム作製装置 - Google Patents

ホログラム作製装置

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Publication number
JPS61112946A
JPS61112946A JP59234637A JP23463784A JPS61112946A JP S61112946 A JPS61112946 A JP S61112946A JP 59234637 A JP59234637 A JP 59234637A JP 23463784 A JP23463784 A JP 23463784A JP S61112946 A JPS61112946 A JP S61112946A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
hologram
observation window
plate
photographic plate
light
Prior art date
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Pending
Application number
JP59234637A
Other languages
English (en)
Inventor
Masayoshi Murata
正義 村田
Masahiro Kuroda
雅博 黒田
Junichiro Hori
順一郎 堀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Heavy Industries Ltd filed Critical Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority to JP59234637A priority Critical patent/JPS61112946A/ja
Publication of JPS61112946A publication Critical patent/JPS61112946A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03HHOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
    • G03H1/00Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
    • G03H1/04Processes or apparatus for producing holograms

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Holo Graphy (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は例えば微粉炭1石炭水温合燃料および石炭1石
油混合燃料等の燃焼研究における粒子分散状況および粒
径分布等を、計測する為のパルス状レーザ光を利用した
ホログラム(物体光の振幅と位相とが記録されたもの)
作製装置に関する。
[従来の技術] 第3図および第4図を参照して従来例を説明する。第3
図は従来のホログラム作製装置の概略構成を示す図であ
り、図中符号1は、ホログラフィの光源としてのルビー
レーザ装置を示す。このル閃 ビーレーザ装置1は、V光時間約30X10−6秒のパ
ルスレーザ光を発生する。上記ルビーレーザ装置1の前
面側には凹レンズ2が設置されており、この凹レンズ2
により上記ルビーレーザ装置1からのレーザビームの直
径を拡大する。上記凹レンズ2の前面側にはコリメータ
レンズ3が配置されており、このコリメータレンズ3に
より入射したレーザ光を平行光とする。上記コリメータ
3により平行となったレーザビームは平面鏡4にて反射
し、ビームスプリッタ5に入射する。このビームスプリ
ッタ5により上記レーザビームは参照光(図中符号Aで
示す)と照明光(図中符号Bで示す)とに分離される。
そのうち参照光は光減衰器6および平面鏡7.8を介し
てホログラフィ用写真乾板9に入射する。一方上記照明
光の方は平面鏡10を介して拡散板11に入射する。こ
の拡散板11により上記照明光は拡散光となり、集光レ
ンズ12および13を介して集光され、前記ホログラフ
ィ用写真乾板9上に投光される。図中符号14は測定対
象としての粒子15を収容した容器を示し、この容器1
4には第1の観測窓16および第2の観測窓17が装着
されている。また前記ホログラフィ用写真乾板9はホル
ダ18により支持されている。
次に第4図を参照してホログラフィ再生装置の構成につ
いて説明する。図中符号21は連続波レーザ光を発生す
るヘリウムネオンレーザ装置を示し、このヘリウムネオ
ンレーザ装置21より発せられたレーザ光は凸レンズ2
2によりその直径を拡大される。その直径を拡大された
レーザ光はコリメータレンズ23により平行光となり、
平面鏡24にて反射されホログラム9に入射する。そし
て図中符号26はカメラを示すとともに符号27は写真
乾板(またはフィルム)を示し、また符号28は上記カ
メラ6の焦点面でピントが合う面であり、符号29はホ
ログラム再生像を示す。
以上の構成を基にその作用を説明する。まず測定対象と
しての粒子群15は容器14内を任意の速度で任意の方
向に移動しており、また測定対象および測定装置は暗室
内に設置されいる。そしてルビーレーザ装置1から発つ
せられたパルスレーザ光は、凸レンズ2およびコリメー
タ3を介してその直径を拡大されるとともに、平行光束
とされる。平行光束となったレーザビームは平面鏡4を
介してビームスプリッタ5に導入され、参照光と照明光
とに分離される。その内弁照光は光減衰器6および平面
@7.8を介してホルダ18に保持されているホログラ
フィ用写真乾板9上に投光される。一方前記照明光の方
は平面鏡10、拡散板11、集光レンズ12および13
を介して容器14の第2の観測窓17に入射し、測定対
象としての粒子群15に投光される。この照明光は粒子
群15を通過し、あるいは粒子群15に拡散されて容器
14の第1の観測窓16を介して物体光として前記ホロ
グラフィ用写真乾板9上に投光される。
このようにして上記ホログラフィ用写真乾板9は参照光
と物体光とにより同時に露光される。その際の露光時間
は前記ルビーレーザ装N1の仕様に起因し、一般的には
約30X10−9秒である。
その後上記ホログラフィ用写真乾板9を現像定着処理し
て水洗、乾燥させてホログラムを作製する。
次にホログラムの再生作用について説明する。
すなわち第4図に示すように、ヘリウムネオンレーザ装
置21より発せられたレーザ光を凸レンズ22および]
リメータ23を介して平行光束とする。そして前記作製
されたホログラム9を作製時と同じ入射角となるように
設置すると、粒子群15のホログラム再生像(虚像)2
9が出現する。
このホログラム再生像29は、測定対象としての粒子群
15がパルスレーザ光ホログラフィによって凍結記録さ
れた結果であり、例えばカメラ26を使用してその焦点
面上にある粒子群15の再生像を写真撮影することによ
り、その面28における粒子群の分散状況および粒径分
布等に関する情報が写真乾板(またはフィルム)27上
に像として記録される。また上記粒子群15の断層写真
は、上記カメラ26の焦点面28を順次変化させ写真撮
影することにより得ることができる。
[発明が解決しようとする問題点] 上記構成によると測定対象の粒子群15が常温雰囲気に
あれば、粒子群の濃度がかなり高くてもホログラムとし
て記録、再生することが可能である。しかしながら微少
粒径の噴霧を計測する場合には以下のような問題がある
。一般的にホログラムで再生できる粒径dは、レーザ光
の波長をλ、ホログラムの有効大きさをD1ホログラム
と再生粒子の距離をλとすれば次の式で表わされる。
d=2.44λu/D ここにλとDは測定装置固有の値で、例えばレーザにル
ビーレーザを使用した場合にはλ=0.6943μmで
、ホログラム乾板として与 41nchX 51nchのものを使用するとD=10
cmなる。よってホログラムと再生粒子の距112をい
かに小さくとるかによって計測可能な粒径dは決定され
る。しかしながら前述した従来の構成によると、参照光
をホログラフィ用写真乾板9に投光させるべく容器14
の第1の観測窓16から離れた位置にホログラフィ用写
真乾板9を設置しているために、ホログラフィ用写真乾
板9を測定対象としての粒子群15に接近させることが
できないという構成となっている。すなわち第1の観測
窓16からホログラフィ用写真乾板9までの距離をり。
とじ、第1の観測窓16から測定対象としての粒子群1
15までの距離をamとすれば、前記2は以下のように
表わされる。
!=J2m十a。
よって最大限近ずけられる距stg−に対して℃〉am
となる。通常の装置ではβ0は約50 cmであり、第
1の観測窓16に最つども近接した粒子15を測定対象
としても、計測可能な粒径dは、d=8.5μ7i1’
Lとなる。但しλ=0.6943μm、D=10cm、
ff=ρ −50cmとする。このように従来の場合に
は、第1の観測窓16とホログラフィ用写真乾板9との
距離λ。が測定分解能を低下させる要因となっており、
その結果数μmの粒子15の計測が不可能となってしま
うという問題があった。
本発明は以上の点に基づいてなされたものでの目的とす
るところは、数μYの粒子についても確実に計測するこ
とが可能なホログラム製作装置を提供することにある。
L問題点を解決するための手段] なすわち本発明によるホログラム製作装置は、ホログラ
ム乾板と、パルス状のレーザ光を照射するパルスレーザ
光源と、上記レーザ光を物体光および参照光とに分割す
るスプリッタと、上記物体光を流動微粒子群中に透過さ
せて上記ホログラム乾板に導く第1光学系と、上記ホロ
グラム乾板の前面へ略平行に配置される半透鏡と、上記
参照光を上記ホログラム乾板の裏面から透過させて上記
半透鏡に導き反射させる第2光学系とを具備したことを
特徴とするものである。
[作用] つまり観測窓を半透鏡とすることにより、従来参照光を
投光させるべく観測窓より離間した位置に設置されてい
たホログラム乾板を、観測窓としての半透鏡の前面に密
着した状態で設置することでき、これによってホログラ
ム乾板と測定対象としての粒子との距離を短縮させ、微
細粒子についても計測可能にぜんとするものである。
[発明の効果] したがって微細粒子に関しても確実に計測し、ホログラ
ムを得ることができ、例えば微粉炭9石炭水湿合燃料お
よび油等各種燃料をノズルより噴出させた場合でも確実
にホログラムを作製することができ、噴霧特性あるいは
霧化特性等を計測する上で極めて効果的である。
[実施例] 以下第1図および第2図を参照して本発明の一実施例を
説明する。なお従来と同一部分には同一符号を付して示
しその説明は省略する。本実施例によるホログラフィ用
写真乾板109は、容器14に装着された第1の観測窓
116の外側に密着した状態で設置されている。また上
記ホログラフィ用写真乾板109は透明なガラス板に透
明な感光膜を施した構成となっている。上記第1の観測
窓116は半透鏡である。ここに半透鏡とは、入射する
光を約50%反射し、残りの50%を透過させるもので
ある。これに対して第2の観測窓117は透明体である
。また従来は参照光を平面鏡7および8を介してホログ
ラフィ用写真乾板9に照射させていたのに対して、本実
施例の場合には上記平面鏡8を削除し、よって参照光は
平面鏡7にて反射した後、上記ホログラフィ用写真乾板
109の裏側よりホログラフィ用写真乾板109を照射
してこれを透過し、前記第1の観測窓116を介してホ
ログラフィ用写真乾板109の表側よりホログラフィ用
写真乾板109に照射するようにしている。
また第2図はポログラム再生装置の構成を示す図であり
、従来と同様である。
以上の構成を基にその作用を説明する。まずルビーレー
ザ装置1より発せられたパルスレーザ光は凸レンズ2お
よびコリメータ3を介してその直径を拡大されるととも
に平行光束となる。平行光束となったレーザビームは平
面鏡4を介してビームスプリッタ5に入射し、このビー
ムスプリッタ5にて参照光(図中符号Aで示す)および
照明光(図中符号Bで示す)に分離される。この内照明
光の方は従来と同様に平面鏡10、拡散板11、集光レ
ンズ12および13を介して容器14の第2の観測窓1
17に入射し、さらに測定対象としての粒子群15に投
光される。粒子群15に投光された照明光は、粒子群1
5を通過する、あるいは粒子群15に散乱されて前記第
1の観測窓116を介して物体光としてポログラフィ用
写真乾板109に到達する。
一方参照光の方は、光減衰器6および平面鏡7を介して
ボログラフィ用写真乾板109の裏側よりホログラフィ
用写真乾板109に照射される。
このホログラフィ用写真乾板109に照射された参照光
は、このホログラフィ用写真乾板109を透過して第1
の観測窓116に到達する。この第1の観測窓116は
半透鏡であるので入射した参照光の内50%を反射する
。よって参照光の内50%が第1の観測窓116にて反
射し、上記ホログラフィ用写真乾板109に表側より投
光される。
このようにして上記ホログラフィ用写真乾板109は参
照光および物体光との両方により同時に露光される。そ
の後上記ホログラフィ用写真乾板109を現像定着処理
して、水洗、乾燥させてホログラムを得る。
次にホログラムの再生作用について説明する。
ヘリウム、ネオンレーザ装@21より発生れたレーザビ
ームは凸レンズ22およびコリメータ23を介して平行
光束となり、平面鏡24を介してホログラム109を照
射する。その際ホログラム109を作製時と同じ入射角
にて設置することにより、粒子群15のホログラム再生
像が虚像として表われる。またこの時ホログラフィ用写
真乾板109と測定対象としての粒子群15とが従来と
異なり非常に接近した位置にあるので、上記ホログラム
再生像には微少径の粒子の像も表わされれている。そし
てこの再生像をカメラ26により写真撮影することによ
り、粒子群15の分散状況および粒径分布等に関する情
報が写真乾板(またはフィルム)27上に記録される。
なお粒子群15の断層写真を撮影する場合には、すでに
述べた通り上記カメラ26の焦点位置を順次変化させた
状態で撮影すればよい。
以上本実施例によると、測定対象としての粒子群15を
収容する容器14の第1の観測窓116を半透鏡とし、
上記第1の観測窓116に密着した状態でホログラフィ
用写真乾板109を設置して、上記ホログラフィ用写真
乾板109に対してその裏側より参照光を入射させ、さ
らに透過させてその透過した内50%を反射させて上記
ホログラフィ用写真乾板109に表側より物体光と共に
照射させるようにしているので、粒子群15とホログラ
フィ用写真乾板109を近接した状態で設置さることが
可能となり、その結果従来測定することができなかった
数μVの粒子の計測が可能となった。したがってそのよ
うな微細粒子を多く含んでいる測定対象、例えば、微粉
炭1石炭水湿合燃料および油等各種燃料をノズルより噴
出させた場合の噴霧特性および霧化特性等を高精度で計
測することが可能となり、信頼性を大幅に向上させるこ
とが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は本発明の一実施例を示す図で、第
1図はホログラム作製装置の概略構成を示す図、第2図
はホログラム再生装置の概略構成を示す図、第3図およ
び第4図は従来例を示す図で、第3図はホログラム作製
装置の概略構成を示す図、第4図はホログラム再生装置
を示す図である。 1・・・ルビーレーザ装置(パルスレーザ光源)、5・
・・スプリッタ、6・・・光減衰器、7,10・・・平
面鏡、11・・・拡散板、12.13・・・集光レンズ
、14・・・容器、15・・・粒子群、116・・・第
1の光学窓、117・・・第2の光学窓、109・・・
ホログラフィ用写真乾板。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ホログラム乾板と、パルス状のレーザ光を照射するパル
    スレーザ光源と、上記レーザ光を物体光および参照光と
    に分割するスプリッタと、上記物体光を流動微粒子群中
    に透過させて上記ホログラム乾板に導く第1光学系と、
    上記ホログラム乾板の前面へ略平行に配置される半透鏡
    と、上記参照光を上記ホログラム乾板の裏面から透過さ
    せて上記半透鏡に導き反射させる第2光学系とを具備し
    たことを特徴とするホログラム作製装置。
JP59234637A 1984-11-07 1984-11-07 ホログラム作製装置 Pending JPS61112946A (ja)

Priority Applications (1)

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JP59234637A JPS61112946A (ja) 1984-11-07 1984-11-07 ホログラム作製装置

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JP59234637A JPS61112946A (ja) 1984-11-07 1984-11-07 ホログラム作製装置

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JPS61112946A true JPS61112946A (ja) 1986-05-30

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ID=16974150

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JP59234637A Pending JPS61112946A (ja) 1984-11-07 1984-11-07 ホログラム作製装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005315850A (ja) * 2004-03-29 2005-11-10 Kgt Inc 三次元位置計測装置
JP2007298327A (ja) * 2006-04-28 2007-11-15 Saitama Univ 粒子計測装置および方法
JP2010025663A (ja) * 2008-07-17 2010-02-04 Nippon Steel Corp 粒度測定装置及び粒度測定方法

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