JPS6089954A - 電子回路作成装置 - Google Patents

電子回路作成装置

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JPS6089954A
JPS6089954A JP58198516A JP19851683A JPS6089954A JP S6089954 A JPS6089954 A JP S6089954A JP 58198516 A JP58198516 A JP 58198516A JP 19851683 A JP19851683 A JP 19851683A JP S6089954 A JPS6089954 A JP S6089954A
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JP
Japan
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electronic circuit
unit
resistance
approximate
circuit
Prior art date
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JP58198516A
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JPH0126162B2 (ja
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Kazumi Ishimoto
石本 一美
Eiji Ichitenmanya
一天満谷 英二
Kazuhiro Mori
和弘 森
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/702Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof of thick-or thin-film circuits or parts thereof

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は電子回路の特性を計測し、この電子回路の特性
を所定の値になるように抵抗を供給し電子回路を完成さ
せる電子回路作成装置に関するものである。
従来例の構成とその問題点 従来の厚膜ハイブリッドICの機能トリミングを行う電
子回路作成装置は、第1図に示すように電子回路の回路
特性を測定する測定工程1と、この測定工程1により判
定された抵抗に近い抵抗2を選択する近似抵抗選択工程
3と、選択された近似抵抗2を測定工程1により測定さ
れた抵抗値になるようにトリミングするトリミング工程
4と、トリミングされた抵抗2aを電子回路に装着する
装着工程6とからなるが、測定工程1と、近似抵3、、
、−ジ 抗選択工程3 、 ) IJ ミンク工程4.装着工程
6が一対一で対応しているため、いずれかの工程で故障
が発生した場合、装着全体が停してしまうため効率が悪
く、生産性が低いという欠点を有していた。
発明の目的 本発明は一上記従来の欠点を解消するものであり、歩留
まりの向上、生産性の向上を図るものである。
発明の構成 本発明の電子回路作成装置は、電子回路の調整箇所に用
いる抵抗以外の部品を装着した電子回路の回路特性を計
測し、この電子回路を調整するだめに最適な抵抗値を選
択する電子回路測定ユニットと、この電子回路のシリア
ルナンバーを印字スる印字ユニットと、電子回路を調整
するために計測した回路特性データを電子回路のシリア
ルナンバーと一致させながら記憶しておくメインコンコ
ントローラーと、装置が故障した際に電子回路をストッ
クし、また装置全体の流れのバランスヲ保つバッファー
ストッカーと、電子回路に印字されたシリアルナンバー
を読取り、メインコントローラーに記憶しておいだ回路
特性データと電子回路とを一致させるシリアルナンバー
読取装置と、予め抵抗値の異なる抵抗を複数個用意し、
前記抵抗の配列の中から、上記電子回路測定ユニットに
よって選択された抵抗値に近い値の近似抵抗を選択する
近似抵抗選択ユニットと、選択された近似抵抗を上記電
子回路測定ユニットにて測定された抵抗値になるように
抵抗値調整を行うトリミングユニットと、トリバッグさ
れた近似抵抗を前記電子回路に装着する装着ユニットと
からなり、トリミング不良を起した場合でも新しく別の
近似抵抗を修正トリミングし、電子回路の調整箇所に装
着することにより、回路全体が不良とならず、歩留まり
が高くなり、生産性の高い電子回路の作成を可能とする
ものである。
また、装置全体のいずれかのユニットが故障した際、例
えば、測定ユニットが故障した際に、バ・ilX、、、
ファーストツカ−にストックされていた電子口5ページ 路を後工程に流すととにより装置全体の流れのバランス
を保つことが出来、バッファーストッカーから後工程の
ユニットが故障した際には、測定ユ 。
ニットは動作させておき、電子回路特性データはメイン
コントラ−に記憶させ、またシリアルナンバーを印字後
、バッファーストッカーにストックさせることにより、
装置全体を効率よく稼動させ、生産性の高い電子回路の
作成を可能とする。
実施例の説明 以下に、本発明の実施例の第2図にもとづいて説明する
。図において、11はメインコントローラー、12はシ
ーケンスコントローラー、13は近似抵抗選択ユニット
、14は近似抵抗選択ユニット13により選択された近
似抵抗17を電子回路測定ユニット19によって測定さ
れた抵抗値になるようにレーザ光等によって抵抗値調整
を行う公知のトリばングユニット、16は厚膜ハイブリ
ッドIC等の電子回路26の調整箇所にトリミングユニ
ット14によってトリミングされた抵抗17aを固着さ
せるだめの固着剤を塗布する塗布ユニッ6ベージ ト、16はトリεフグ済の抵抗17aを電子回路26へ
装着する装着ユニット、18は電子回路26の位置決め
を行うX−Yテーブル、2oは測定ユニット19の測定
ヘッドである電子回路26への測定用ピン(図示せず)
を備えている。31は、電子回路26をX−Yテーブル
18に搬送する搬送コンベアー、22は近似抵抗選択ユ
ニット13によって選択された近似抵抗17をトリミン
グユニット14へ搬送するコンベアー、23はトリミン
グユニット14において、トリミングエラーが発生した
際、再度修正トリミングを行うため修正トリミングを行
う近似抵抗28をトリミングユニット14まで搬送する
修正コンベアーである。
24は、トリミングユニット14においてトリミングを
行う近似抵抗1Tの抵抗値測定を行う電極、25は、修
正トリミングを行う近似抵抗28の抵抗値測定を行う修
正電極、27は、X−Yテーブル18の駆動制御を行う
数値制御装置である。
32は、電子回路測定ユニッ)19により測定された電
子回路26に電子回路26のシリアルナ7ベージ ンバーを印字する印字ユニット、29は、電子回路26
をストックするバッファーストッカー、30は電子回路
26に印字されたシリアルナンバーを読取り、メインコ
ントローラー11に記憶しておいた回路特性データと電
子回路26と一致させるシリアルナンバー読取装置であ
る。
以上の構成において、電子回路26は、測定ヘッド2o
によって測定され、測定ユニット19によって、電子回
路26の調整箇所に必要な抵抗値の演算を行い、その演
算結果は、メインコントローラー11に転送される。次
に測定が終了した電子回路26は、シリアルナンバー印
字ユニット32により、電子回路26のシリアルナンバ
ーが印字される0シリアルナンバーが印字された電子回
路26は、バッファーストッカー29より後工程で、故
障あるいは、電子回路26がストックされている状態の
場合、バ・yファストツカ−29にストックされる。バ
ッファストッカー29あるいは、測定コンベアー21か
ら供給された電子回路26は、シリアルナンバー読取装
置30により、電子回路18開昭GO−89954(3
) のシリアルナンバーを読取り、メインコントローラー1
1に記憶しておいた回路特性データと電子回路26とを
一致させ、その結果をもとに、シーケンスコントローラ
ー12を介して、近似抵抗選択ユニット13が動作し、
近似抵抗17の選択が行われ、必要とする抵抗値に近い
近似抵抗1Tがコンベアー22へ移される。次に、近似
抵抗1了は、コンベアー22により、トリミングユニッ
ト14まで搬送され、電極24によって、抵抗値を測定
しながら、調整箇所の抵抗値になるまで、トリミングユ
ニット14のレーザ光によってトリミングされる。トリ
ミングされた抵抗17aはコンベアー22により、装着
ユニット16に対応する位置まで搬送され、所定の位置
に到着後、装着ユニット16により、x−Yテーブル1
Bにセツティングされている電子回路26上へ装着され
る。
この一連の流れの中で、トリミング不良が発生した際に
は、トリミング不良を発生した近似抵抗17と同じ抵抗
値の別の近似抵抗を再度、近似抵抗選択ユニット13に
より選択し、選択された修正用9ページ の近似抵抗28は修正コンベアー23により、トリミン
グユニット14′!!で搬送され、修正電極25により
測定されつつ修正トリミングされる。修正トリミングさ
れた抵抗28aは、コンベアー22と合流し、電子回路
26に装着される。なお、トIJ ミングエラーを発生
した近似抵抗は廃除される。
発明の効果 このように本発明によれば、トリミング不良を発生した
際にも、別の近似抵抗によって再度トリピンクし電子回
路に供給が可能であるため厚膜ハイフリットICを直接
トリミングする場合に比べ、回路全体が不良となってし
まうこともなく、ICの歩留まりが高くなり、生産性の
高いシステムであるという効果が得られる。
また、装置全体のいずれかのユニットが故障した際、例
えば、測定ユニットが故障した際に、バッファーストッ
カーにストックされていた電子回路を後工程に流すこと
により、装置全体の流れのバランスを保つことが出来、
バ・ンファストソ力−から後工程のユニットが故障した
際には、測定ユ1o、、、−ジ ニットは動作させておき、電子回路特性テークはメイン
コントローラーに記憶させ、まだシリアルナンバーを印
字後、バッファーストッカーにストックさせることによ
り、装置全体を停止させることなく、効率よく稼動させ
、生産性の高い電子回路の作成を可能とする。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来例のシステム構成図、第2図は本発明の
一実施例のシステム構成図である。 11・・・・・・メインコントローラー、12・・・・
・・シーケンスコントローラー、13・・・・・・近似
抵抗選択ユニット、14・・・・・・トリミングユニッ
ト、15・・・・・・塗布ユニット、16・・・・・・
装着ユニット、17・・・・・・近似抵抗、17a・・
・・・・抵抗、18・・・・・・x−yテーブル、19
・・・・・・電子回路測定ユニット、20・川・・測定
ヘッド、21・・・・・・測定コンベアー、22・・・
・・・コンベアー、23・・・・・・修正コンベアー−
24・・・・・・電極、25・・・・・・修正電極、2
6・・・・・・電子回路、27・・・・・・数値制御装
置、28・・・・・・近似抵抗、29・・・・・・バッ
ファーストッカー、30・・・・・・シリアルナンパ1
14−ヮ ー読取装置、31・・・・・・搬送コンベアー、32・
・・・・・印字ユニット。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 電子回路の回路特性を計測し、この電子回路を調整する
    ために必要な抵抗値を判定する電子回路測定ユニットと
    、この電子回路のシリアルナンノ(−を印字する印字ユ
    ニットと、電子回路を調整するために計測した回路特性
    データを電子回路の7リアルナンバーと一致させながら
    記憶しておくメインコントローラーと、電子回路をスト
    ックシ、装置全体の流れのバランスを保つバッファース
    トッカーと、電子回路に印字されたシリアルナンバーを
    読取り、メインコントローラーに記憶しておいた回路特
    性データと電子回路とを一致させるシリアルナンバー読
    取装置と、予め抵抗値の異なる抵抗を複数個備え、この
    抵抗の中から、前記電子回路測定ユニットによって判定
    された抵抗値に近い値の近似抵抗を選択する近似抵抗選
    択ユニットと、選択された近似抵抗を前記電子回路測定
    ユニ2ページ ットにて測定された抵抗値になるようにトリミングし抵
    抗値調整を行うトリばングユニ、ノドと、トリミングさ
    れた抵抗を前記電子回路に装着する装着ユニットとから
    なる電子回路作成装置。
JP58198516A 1983-10-24 1983-10-24 電子回路作成装置 Granted JPS6089954A (ja)

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JP58198516A JPS6089954A (ja) 1983-10-24 1983-10-24 電子回路作成装置

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JP58198516A JPS6089954A (ja) 1983-10-24 1983-10-24 電子回路作成装置

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JPS6089954A true JPS6089954A (ja) 1985-05-20
JPH0126162B2 JPH0126162B2 (ja) 1989-05-22

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