JPS608735A - プラズマモニタリング装置 - Google Patents

プラズマモニタリング装置

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Publication number
JPS608735A
JPS608735A JP58115858A JP11585883A JPS608735A JP S608735 A JPS608735 A JP S608735A JP 58115858 A JP58115858 A JP 58115858A JP 11585883 A JP11585883 A JP 11585883A JP S608735 A JPS608735 A JP S608735A
Authority
JP
Japan
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chemical species
laser
laser light
fluorescence
cell
Prior art date
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Pending
Application number
JP58115858A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisajiro Osada
長田 久二郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP58115858A priority Critical patent/JPS608735A/ja
Publication of JPS608735A publication Critical patent/JPS608735A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/6402Atomic fluorescence; Laser induced fluorescence

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はプラズマモニタ1ノング装置に係り、特にプラ
ズマ利用装置内のプラズマ中のある化学種を測定するプ
ラズマモニタリング装置に関する。
〔発明の背景〕
従来より、微量の原子、二原子分子等を亮感度に検出す
る方法として、レーザ励起螢光法が知られている。例え
ば、この方法によって、プラズマ利用装置内のプラズマ
中に存在する原子。
二原子分子等の化学種を検出するためには、長時間にわ
たって精度良く測定てろ必要かある。
また、測定対象となるプラズマ中の化学種は、鋭〜・吸
収スペクトルを有するので、励起用のレーザ光としては
、線幅が狭く、波長安定1L4:の良いものを用いるこ
とが必要である。
然るに、一般のレーザ光は発振波長に多少の変動がある
ため、レーザ励起螢光法によってi+時間にわたり測定
を行なうと精度が悪くなる。
この点について、第1図を参照して若干説明する。この
図において、Aは測定対象となるある化学種の吸収曲線
であり、B 、 B’、 B”は励起用レーザ光はスペ
クトルである。まず、測定開始時の調整によって、励起
用レーザ光の波長は、till定対象となるある化学種
の吸収波長に合iつされる。その場合のレーザ光スペク
トルはBのようになり、測定対象の化学種のレーザ光に
よる励起効率は最大となる。
然し乍ら、長時間にわたってレーザ光を照射或いは起動
していると周囲温度の影響等によってレーザ光の波長に
ずれが生じ、そのスペクトルはB′又はBrrの様にな
る。この様な状態になると、測定対象となる化学種の励
起効率は低下し、同一濃度であっても測定される螢光量
は低下するので、測定棺度上問題と′f、「ろ。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、上述した様なレーザ励起螢光法による
測定の問題点を解決し、高感度でかつ長時間にわたって
精度良く測定することができるプラズマモニタリング装
置を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明は、唄11定対象の特定化学種を入れたセルfレ
ーザ光の一部を導き、このセルから発生した音圧信号と
、セルへの入射前のレーザ光の光量との関係から測定化
学種によるレーザ光の吸収率な算出する。而して、こσ
)舅、出された吸収率、即ちセルにおけろレーザ光の波
長の変化に基いて、励起源におけろレーザ励起による螢
光の測定量を補正する様にしたものである。この様に、
レーザ光の波長の変化によって測定化学種の励起効率の
変化を補正することができるので、長時間にわたって高
精度の測定を行なうことができる。
〔発明の実施例〕
以下−1図面を参照して本発明の一実施例について説明
する。
第2図は、本発明の一実施例によるプラズマモニタリン
グ装置の構成を示す図である。この図において、レーザ
1は、測定対象となるある化学種の吸収波長に合せた波
長のレーザ光2を発振する。ビームスプリンタろは、レ
ーザ1より発射されたレーザ光2を二方向、即ち破線で
示した補圧右方向と下方向に分割−する。
プラズマ利用装置4は、その中のプラズマ中に測定対象
となる化学種を含む。このプラズマ利用装置4は、光学
窓5 、 5’、5″を備え、ビームスプリッタ6で分
割された一部のレーザ光2は、光学窓5よりプラズマ利
用装置4内に入り、その中の化学種を励起して光学窓5
″より出て行く。測定対象の化学種が励起されたことに
よって発する螢光6は、光学窓5′より送出される。
そして、この螢光6は集光のために設けられた光学系7
を介して螢光検出装置8に集められる。
螢光検出装置8は、集光された螢光のみを検出し、その
螢光強反に比例した電気信号に変換する。変換後の電気
信号は後述する演算器15に馬えられる。
さて、前述したビームスプリンタ3で分割されたも51
方のレーザ光2は、ノ・−フミラー9に傅かれる。この
ノーーフミラー9はビームスプリッタ3からのレーザ光
をほぼ均等に分割する。
なお、その途中にはテ目ツバ12が設けられており、こ
れによってレーザ光はチョッピングされろ。
ハーフミラ−9で反射された一部分のレーザ光は、光電
変換器10に送られ、またそれを透過した他の部分のレ
ーザ光はセル11に送られる。ここで、光電変換器10
は、到来したレーザ光の強度に応じてそれを電気信号に
変換する。
セル11は、測定対象となる特定の化学種を収納すると
共に、ノ・−フミラー9を透過したレーザを導入及び導
出するための光学面を有する。
また、圧電変換器16は、セル11内の化学種がチョッ
ピングされたレーザ光を吸収することにより発生する音
圧を電気信号に変換する。吸収率演算器14は、光電変
換器10及び圧電変換器16から送られる電気信号によ
り吸収率に比例した電気信号を出力する。
螢光発生率演算器15は、吸収率演算器14及び螢光検
出装置8から送られる電気イぎ号に従って、螢光発生率
に比例した電気信号を出力する。この電気信号は表示装
置16に表示される。
次に、この様に構成された装置の作用について説1明す
る。
通常、プラズマ利用装置4内の測定対象となる化学種の
吸収線幅は0.003跋程度である。また、励起源に使
うレーザ光の線幅は、吸収?flA 幅の半分程度まで
狭めろことができ、それを長時間維持できる。しかし、
その発振波長の安定性は、主にレーザ光年系の温度に」
二って決才り、01°C程度の温度変化でも問題となる
上述(−た構成によるモニタリング装置によれば、この
影響を除去できる。即ち、レーザ1より発射されたレー
ザ光2はビームスプリンタ3で分割される。この分割さ
れたレーザ光の一部は、チョッパ12によってチョッピ
ングされ、ハーフミラ−9に達する。このハーフミラ−
9を透過したレーザ光はセル11を通過する。セル11
には測定対象の特定の化学種が入っており、レーザ光は
この化学種に吸収されろ。このレーザ光がセル11中の
一定濃度の化学種に吸収される割合は、チョッピングし
たレーザ光を吸収する際に発生する音圧かもめられる。
レーザ光を吸収した特定の化学種の一部は螢光を発せず
、周囲にレーザ光エネルギーを放出する。
所で、レーザ光はチョッピングされているので、この放
出熱量は時り刻々と変化し、これがセル11中に疎密波
即ち音波を発生させる。この音圧、皿ち音波の圧力は、
吸収元搦に比例するので、圧電変換器1りは音圧っまり
吸収先月に比例した電気信号に変換してその信号を出力
する。
一方、ハーフミラ−9で放射されたレーザ光は、光電変
換器10で電気(g号に変換される。
而して、光電変換器1o及び圧?lf変換器13からの
電気信号は、吸収率演算器14に寿えら汽ここで、2つ
の電気信号の大小がらレーザ光がセル11中で吸収され
た比率かめられろ。
この方法によれば、螢光吸収率の比較的低い測定化学種
について高感度で吸収比率が測定できる。この吸収率は
、モニタ対象となろプラズマ利用装置4内の測定対象と
なる化学種でも同一である。即ち、プラズマ利用装置4
内の化学種から発生される螢光乙の光量は、吸収光量に
比例するので、セル11側の吸収率演算器14でめられ
た吸収比率に応じて螢光検出装Ft8の出力を補正する
ことができる。つまり、螢光発生率演算器15からは、
吸収率演算器14及び螢光検出装置R8からの電気信号
にglって螢光発生率に比例した信号が出力されろ。こ
の様にして、レーザ光の微妙な波長のずれによる影響を
除去することかできる。
〔発明の効果〕
以上説明した様に、本発明によれば、レーザ励起螢光法
による化学種の測定に際し、レーザ内の温度変化等で生
ずるレーザの発振波長の微妙な変化に起因する測定化学
種の励起効率の変化を補正できるようにしたので、長時
間にわたって精度良< (III定することができろ。
【図面の簡単な説明】
第1図は測定化学種の吸収曲線と励起用レーザ光のスペ
クトルの関係を示した図、第2図は本発明の一実施例に
よるプラスマモニタリング装置の構成を示す図である。 1 レーザ、 5 レーザスプリッタ 4・グリズマ利用装置、8・螢光検出装置9・ハーフミ
ラ−111セル 171 吸収率演算器、 15・螢光発年率演算器、 、1 ノ [7+ 液長 オ 2 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ある波長のレーザ光を発生するレーザと、測定対象とな
    る化学種を含むプラズマを収納するプラズマ利用装置と
    、該レーザ光によって励起される上記化学種の螢光を検
    出し、電気信号を出力する検出手段を有するプラズマモ
    ニタリング装置において、測定対象となる特定の化学種
    を収納すると共に前記レーザ光の一部が導かれるセルと
    、該セルに導かれろ前のレーザ光の光量と該レーザ光に
    よってセル内で発生した音圧に従って該特定の化学種に
    よろレーザ光の吸収率を算出する第1の演算手段と、前
    記検出手段及び該第1の演算手段からの信号に基いて螢
    光発生率に比例した信号を出力する第2の演算手段を有
    することを特徴とするプラズマモニタリング装置。
JP58115858A 1983-06-29 1983-06-29 プラズマモニタリング装置 Pending JPS608735A (ja)

Priority Applications (1)

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JP58115858A JPS608735A (ja) 1983-06-29 1983-06-29 プラズマモニタリング装置

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JP58115858A JPS608735A (ja) 1983-06-29 1983-06-29 プラズマモニタリング装置

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JPS608735A true JPS608735A (ja) 1985-01-17

Family

ID=14672882

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JP58115858A Pending JPS608735A (ja) 1983-06-29 1983-06-29 プラズマモニタリング装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62129741A (ja) * 1985-12-02 1987-06-12 Hitachi Ltd 光音響分析方法及び装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62129741A (ja) * 1985-12-02 1987-06-12 Hitachi Ltd 光音響分析方法及び装置
JPH0523617B2 (ja) * 1985-12-02 1993-04-05 Hitachi Ltd

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