JPS6086413A - 物理量検出装置 - Google Patents
物理量検出装置Info
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- JPS6086413A JPS6086413A JP19462583A JP19462583A JPS6086413A JP S6086413 A JPS6086413 A JP S6086413A JP 19462583 A JP19462583 A JP 19462583A JP 19462583 A JP19462583 A JP 19462583A JP S6086413 A JPS6086413 A JP S6086413A
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- capacitance
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- sensor
- thin film
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
- G01D5/14—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
- G01D5/24—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying capacitance
- G01D5/241—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying capacitance by relative movement of capacitor electrodes
- G01D5/2417—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying capacitance by relative movement of capacitor electrodes by varying separation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
- G01L9/0041—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
- G01L9/0072—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using variations in capacitance
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- Measuring Fluid Pressure (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
厘業上の利用分野
本発明は、静電容量型センサを使用して圧力等の物理量
を検出する物理量検出装置に関するものである。
を検出する物理量検出装置に関するものである。
従来例の構成とその問題点
近年、マイクロコンピュータ技術の向上にともない、物
理量を検出する装置の必要性が高まっている。
理量を検出する装置の必要性が高まっている。
以下図面を参照しながら、この種の物PJj量検出装置
の一例である圧力検出装置を例にして、説明を行う。
の一例である圧力検出装置を例にして、説明を行う。
第1図4は、アルミナダイアフラムを用いたメ静電容量
型センサ1であり、第1図すは同静電容量型センサ1の
ダイアフラノ・2の内面の平面図であり、第1図Cは同
基台3の内面の平面図である。
型センサ1であり、第1図すは同静電容量型センサ1の
ダイアフラノ・2の内面の平面図であり、第1図Cは同
基台3の内面の平面図である。
同図において、2は外圧Pによって変位するアルミナ薄
板を用いたダイアフラムで、第1図すのような円形の薄
膜電極4が印刷によって形成されている。一方十分な厚
み(約5問)をもったアルミナよりなる基台3の内面に
は、薄膜電極4の外形と同寸法の外形をもつリング状の
薄膜電極5と、この薄膜電極5の内部に円形の薄膜電極
6が第1図Cのように形成されている。各薄膜電極4,
6゜6には、それぞれ信号取り出し線7,8.9が接続
され、基台3の外側に取り出される。ダイアフラム2お
よび基台3は、一定のギヤ2プを保ってガラス10によ
って封看さ汎、かつ内部は真空にされている。このよう
に構成すると、薄膜電極4とれり、膜電極6で形成され
る第1のコンデンサと、薄膜看り極4と薄膜電極5で形
成される第2のコンデンサが得られる。上記第1のコン
デンサは、外圧Pによるダイアフラム2の変位に応じて
静電容量が鋭敏に変化するのに対し、上記第2のコンテ
ンサ&″i薄膜電極5がガラス1oに近接した外周に位
置するため、外圧Pによる静電容量変化は、第1のコン
デンサに比して実質的に少ない。それ故、第2のコンデ
ンサを基準コンデンサとして、第1のコンデンサの静電
容量変化を検出するような2検出回路によって外圧Pを
検知することが可能となる。
板を用いたダイアフラムで、第1図すのような円形の薄
膜電極4が印刷によって形成されている。一方十分な厚
み(約5問)をもったアルミナよりなる基台3の内面に
は、薄膜電極4の外形と同寸法の外形をもつリング状の
薄膜電極5と、この薄膜電極5の内部に円形の薄膜電極
6が第1図Cのように形成されている。各薄膜電極4,
6゜6には、それぞれ信号取り出し線7,8.9が接続
され、基台3の外側に取り出される。ダイアフラム2お
よび基台3は、一定のギヤ2プを保ってガラス10によ
って封看さ汎、かつ内部は真空にされている。このよう
に構成すると、薄膜電極4とれり、膜電極6で形成され
る第1のコンデンサと、薄膜看り極4と薄膜電極5で形
成される第2のコンデンサが得られる。上記第1のコン
デンサは、外圧Pによるダイアフラム2の変位に応じて
静電容量が鋭敏に変化するのに対し、上記第2のコンテ
ンサ&″i薄膜電極5がガラス1oに近接した外周に位
置するため、外圧Pによる静電容量変化は、第1のコン
デンサに比して実質的に少ない。それ故、第2のコンデ
ンサを基準コンデンサとして、第1のコンデンサの静電
容量変化を検出するような2検出回路によって外圧Pを
検知することが可能となる。
一般に、このイflfの圧力検出装置は、使用される環
境力泳及しく 、’6”Tf度範囲が広く、かつ要求さ
れる精度が厳しいのが普通である。また、上記静電界i
ii: 型セフ fの静電容量変化には、ダイア77
ム厚がo、s my 、圧力範囲が150〜750mx
Hgで、平均O9○sPF/mmHgと静電容量変化が
轍小であるため、検出回路の回路基板や静電容量型セン
サのわずかな位置変動が浮遊容i1jの変動を導き、圧
力検出装置の大きな1A1差原因となる。そのため、回
路基板や静電容量型センサは、ケースに固定されなくて
はならない。
境力泳及しく 、’6”Tf度範囲が広く、かつ要求さ
れる精度が厳しいのが普通である。また、上記静電界i
ii: 型セフ fの静電容量変化には、ダイア77
ム厚がo、s my 、圧力範囲が150〜750mx
Hgで、平均O9○sPF/mmHgと静電容量変化が
轍小であるため、検出回路の回路基板や静電容量型セン
サのわずかな位置変動が浮遊容i1jの変動を導き、圧
力検出装置の大きな1A1差原因となる。そのため、回
路基板や静電容量型センサは、ケースに固定されなくて
はならない。
第2図は、上記静電界47k )9jJセンサ1を使用
した従来の物理量検出装置の一実施例の断面図である。
した従来の物理量検出装置の一実施例の断面図である。
同図において、1は」二記した構造の静電界j、j:!
、(jjセンサであり、この静電容量型センサ1は○す
/グ11を介して底部に小さな開IJ12iもったケー
ス13に収納され、底面に樹脂リンク14をもつ押え板
15をビス16により、ケース13の段部に固着するこ
とにより静電容量型センサ1を固定している。17は静
電容量検出回路の回路基板であり、ビス18によりケー
ス13の段部に固定されており、静電界−H,jH,)
、5!+センザ1の信号取り出し線7〜9が、回路基板
17に半[1」fゴけしである。
、(jjセンサであり、この静電容量型センサ1は○す
/グ11を介して底部に小さな開IJ12iもったケー
ス13に収納され、底面に樹脂リンク14をもつ押え板
15をビス16により、ケース13の段部に固着するこ
とにより静電容量型センサ1を固定している。17は静
電容量検出回路の回路基板であり、ビス18によりケー
ス13の段部に固定されており、静電界−H,jH,)
、5!+センザ1の信号取り出し線7〜9が、回路基板
17に半[1」fゴけしである。
なお、ケース13の上面には盈26が結合されている。
第3図は、第2図の信号取り出し線9の接続部の拡大断
面図である。同図において、2は上記ダイアフラム、3
は基台、10は静電容量型センサ1のキャップを制御す
るだめのガラステアリ、1γは回路基板、9は静電容量
型センサ1の信号取り出し線である。6′は静電界J1
1型センザ1の上記薄膜電極6の取り出し部であり、基
台3の貫通孔19に通した信号取り出し線9を最も固定
が容易な半田20.21で固定するため、厚膜のメタラ
イス層22.23を印刷しである。また信号取り出し線
9は半田24により、回路基板17に接b″じしてあり
、−119に洋白線や1欧銅線が利用される。
面図である。同図において、2は上記ダイアフラム、3
は基台、10は静電容量型センサ1のキャップを制御す
るだめのガラステアリ、1γは回路基板、9は静電容量
型センサ1の信号取り出し線である。6′は静電界J1
1型センザ1の上記薄膜電極6の取り出し部であり、基
台3の貫通孔19に通した信号取り出し線9を最も固定
が容易な半田20.21で固定するため、厚膜のメタラ
イス層22.23を印刷しである。また信号取り出し線
9は半田24により、回路基板17に接b″じしてあり
、−119に洋白線や1欧銅線が利用される。
以」二のような構成にすると、ヒートサイクル等の環境
変化が起った際、信号取り出し線9の熱膨張係数が17
〜20×10−’/”Cと大きいため、メタライス層2
2と基台3の間に応力が働き、メタライス層22が剥離
するという現象が生じる問題がある。なおメタライズ層
23に働く応力は、メタライズ層22−23間の距離が
約5糎で、半11124−メタライズ層221iflの
距離の約A−楠と短かいため、実質的に少なく、問題に
ならない。
変化が起った際、信号取り出し線9の熱膨張係数が17
〜20×10−’/”Cと大きいため、メタライス層2
2と基台3の間に応力が働き、メタライス層22が剥離
するという現象が生じる問題がある。なおメタライズ層
23に働く応力は、メタライズ層22−23間の距離が
約5糎で、半11124−メタライズ層221iflの
距離の約A−楠と短かいため、実質的に少なく、問題に
ならない。
発明の目的
本発明は、温度サイクルのような環境変化が生じても、
静電各歯型センサの信号取り出し線の基台との接着部の
剥離が生じないような物理量検出装置を提供することを
目的とするものである。
静電各歯型センサの信号取り出し線の基台との接着部の
剥離が生じないような物理量検出装置を提供することを
目的とするものである。
発明の構成
上記目的を達成するために本発明の物Fll[1検出装
置は、基台と上記基台とIツ〒定のIHI隔を?4Gる
ように配置されたアルミナダイアフラムと、両名の相対
向する面に形成された薄膜電極と、上記薄膜電極の信号
取り出し線とを(iifiえた静”IL 6 ’、ニー
i’0(リセンザと、上記静電容量型センサの静電容量
検出回路と、上記静電容量型センサおよび静電容量検出
回路を収納するケースとをJA俯し、上記静電W 11
’: !Iリセンサの信号取り出し線に、たわみを持た
せて、上記静電容量検出回路に接続するように構成した
ものであり、これにより、静電容量型センサの信頼性向
上を図るものである。
置は、基台と上記基台とIツ〒定のIHI隔を?4Gる
ように配置されたアルミナダイアフラムと、両名の相対
向する面に形成された薄膜電極と、上記薄膜電極の信号
取り出し線とを(iifiえた静”IL 6 ’、ニー
i’0(リセンザと、上記静電容量型センサの静電容量
検出回路と、上記静電容量型センサおよび静電容量検出
回路を収納するケースとをJA俯し、上記静電W 11
’: !Iリセンサの信号取り出し線に、たわみを持た
せて、上記静電容量検出回路に接続するように構成した
ものであり、これにより、静電容量型センサの信頼性向
上を図るものである。
実施例の説明
以下本発明の一実施例について、図面を参照しながら説
明する。
明する。
第4図は、本発明の一実施例における静電容量型センサ
を用いた物理量検出装置の断面図を示すものである。な
お、従来例で説明した部分と共通の部分については同じ
図@を用いて説明する。第4図において、1は静電容量
型センサ、2はダイアフラム、3は基台であり、0リン
グ11および樹脂リング14をもつ押え板15、ビス1
6により、静電容量型センサ1を小さなパイプ状の開口
12を底面にもつケース13の内底面に固定している。
を用いた物理量検出装置の断面図を示すものである。な
お、従来例で説明した部分と共通の部分については同じ
図@を用いて説明する。第4図において、1は静電容量
型センサ、2はダイアフラム、3は基台であり、0リン
グ11および樹脂リング14をもつ押え板15、ビス1
6により、静電容量型センサ1を小さなパイプ状の開口
12を底面にもつケース13の内底面に固定している。
一方、静電容量型センサの回路基板17はビス18によ
りケース13の段部に固定しである。
りケース13の段部に固定しである。
寸だ、静電容量型センサ1の信号取り出し線7〜9は半
円状のたわみ25をもたせて、回路基板17に半1目イ
マ1けする、 第5図は、第4図の信号取り出し線9の接続部の拡大断
面図である。構成要素は上述した、第3図と同じである
。従来例との違いは信号取り出し線9と基台3との接N
T41Sと、信号取り出し線9と回路基板1γの接続部
の間に、信号取り出し線9にたわみ25を設けたところ
にある。」二言己のような構成にず扛ば、ヒートサイク
ル等の環境変化が生じた場合に、メタライズ層22に生
ずる応力は、信号取り出し線9のたわみ25で吸収され
、メタライズ層22の剥離現象かなくなる。
円状のたわみ25をもたせて、回路基板17に半1目イ
マ1けする、 第5図は、第4図の信号取り出し線9の接続部の拡大断
面図である。構成要素は上述した、第3図と同じである
。従来例との違いは信号取り出し線9と基台3との接N
T41Sと、信号取り出し線9と回路基板1γの接続部
の間に、信号取り出し線9にたわみ25を設けたところ
にある。」二言己のような構成にず扛ば、ヒートサイク
ル等の環境変化が生じた場合に、メタライズ層22に生
ずる応力は、信号取り出し線9のたわみ25で吸収され
、メタライズ層22の剥離現象かなくなる。
以上のような構成を用いれば、何ら新しい下根を追加す
ることなしに、信号取り出し腺にたわみを設けるという
最も簡単な手段で、本発明の実施例の物理量検出装置の
信頼性全回上さぜることか可能となる。
ることなしに、信号取り出し腺にたわみを設けるという
最も簡単な手段で、本発明の実施例の物理量検出装置の
信頼性全回上さぜることか可能となる。
なお、信号取り出し線7〜9のたゎみ25は半円状に限
られることなく波形状、凸状なとどのような形状であっ
てもよい。
られることなく波形状、凸状なとどのような形状であっ
てもよい。
発明の効果
以上の説明から明らかなように、木づa14JIの物理
量検出装置は、静電容量型センサの信号取り出し腺にた
わみを設けることにより、従来の製造T法を何ら変更せ
ずに、かつ、信号取り出し線をたわませるという最も簡
単な手段の追加たけて、ヒートサイクルや振動サイクル
等の環境変化に十分耐え得る物理′fi′!検出装置を
得ることが可能と々す、物理量検出装置の信頼性を向上
させることができるものである。
量検出装置は、静電容量型センサの信号取り出し腺にた
わみを設けることにより、従来の製造T法を何ら変更せ
ずに、かつ、信号取り出し線をたわませるという最も簡
単な手段の追加たけて、ヒートサイクルや振動サイクル
等の環境変化に十分耐え得る物理′fi′!検出装置を
得ることが可能と々す、物理量検出装置の信頼性を向上
させることができるものである。
第1図aは静電容量型センサの斜視図、第1図すは同セ
ンサのダイヤフラムの平面図、第1図Cは同センサの基
台の内部平面図、第2図は従来の物理11に検出装置の
一例の断面図、第3図は第2図の要部拡大断面図、第4
図は本発明の物理量検出装置の一実施例の断面図、第5
図は第4図の要部の拡大断面図である。 1・・・・・・静′1シ容量型センザ、2・・・・ダイ
アフラム、3・・・・基台、4,5.6・・・・薄膜電
極、7,8゜9・ ・信号取り出し線、10・・・−・
ガラス、11・・・・・0リング、12・・・・開口、
13・・・・・ケース、14・・・にjJ脂リンク、1
5・・ ・押え板、16・・・・・・ビス、17・・・
・・回路基板、18・・・・・・ヒス、19・・・・貫
通孔、20,21.24・・・・・半田、22゜23−
・−・メタライズ層、26−・・・たわみ。 第1図 第2図 1゜ 第3図 4
ンサのダイヤフラムの平面図、第1図Cは同センサの基
台の内部平面図、第2図は従来の物理11に検出装置の
一例の断面図、第3図は第2図の要部拡大断面図、第4
図は本発明の物理量検出装置の一実施例の断面図、第5
図は第4図の要部の拡大断面図である。 1・・・・・・静′1シ容量型センザ、2・・・・ダイ
アフラム、3・・・・基台、4,5.6・・・・薄膜電
極、7,8゜9・ ・信号取り出し線、10・・・−・
ガラス、11・・・・・0リング、12・・・・開口、
13・・・・・ケース、14・・・にjJ脂リンク、1
5・・ ・押え板、16・・・・・・ビス、17・・・
・・回路基板、18・・・・・・ヒス、19・・・・貫
通孔、20,21.24・・・・・半田、22゜23−
・−・メタライズ層、26−・・・たわみ。 第1図 第2図 1゜ 第3図 4
Claims (1)
- 基台と上記基台と所定の間隔を得るように配置されたア
ルミナダイブフラムと、両者の相対向する面に形成され
た薄膜電極と、上記薄膜電極の信号取り出し線とを備え
た静電容量型センサと、上記静’rt容量型センサの静
電容量検出回路と、上記静′i5’8−量型センサおよ
び上記静電容量検出回路を収納するケースとを具備し、
上記静電容量型センサの信号取9出し線に、たわみを持
たせて上記静1’6容jj1検出回路に接続することを
特徴とする物理iil検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19462583A JPS6086413A (ja) | 1983-10-18 | 1983-10-18 | 物理量検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19462583A JPS6086413A (ja) | 1983-10-18 | 1983-10-18 | 物理量検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6086413A true JPS6086413A (ja) | 1985-05-16 |
Family
ID=16327625
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19462583A Pending JPS6086413A (ja) | 1983-10-18 | 1983-10-18 | 物理量検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6086413A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6425289B1 (en) | 1998-04-17 | 2002-07-30 | Micronas Gmbh | Capacitive sensor |
JP2011209051A (ja) * | 2010-03-29 | 2011-10-20 | Advics Co Ltd | 電子デバイスおよび電子デバイスの実装方法 |
-
1983
- 1983-10-18 JP JP19462583A patent/JPS6086413A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6425289B1 (en) | 1998-04-17 | 2002-07-30 | Micronas Gmbh | Capacitive sensor |
JP2011209051A (ja) * | 2010-03-29 | 2011-10-20 | Advics Co Ltd | 電子デバイスおよび電子デバイスの実装方法 |
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