JPS6078710A - Cutter for semiconductor wafer - Google Patents

Cutter for semiconductor wafer

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Publication number
JPS6078710A
JPS6078710A JP58188090A JP18809083A JPS6078710A JP S6078710 A JPS6078710 A JP S6078710A JP 58188090 A JP58188090 A JP 58188090A JP 18809083 A JP18809083 A JP 18809083A JP S6078710 A JPS6078710 A JP S6078710A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor wafer
stage
cutting
rotary cutting
light
Prior art date
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Pending
Application number
JP58188090A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
上滝 優治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP58188090A priority Critical patent/JPS6078710A/en
Publication of JPS6078710A publication Critical patent/JPS6078710A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は、半導体ウェハを切断するときに回転切断歯
が何らかの原因で異常振動するときに、ただちに回転切
断歯とステージの動作を止め、かつ、作業者に異常を報
知するよ5tCした半導体ウニへの切断装置に関するも
のである。
[Detailed Description of the Invention] [Technical Field of the Invention] This invention provides a method for immediately stopping the operation of the rotary cutting teeth and the stage when the rotating cutting teeth vibrate abnormally for some reason when cutting a semiconductor wafer, and This relates to a device for cutting semiconductor sea urchins that operates at 5tC to notify the operator of abnormalities.

〔従来技術〕[Prior art]

第1図は従来の半導体ウェハの切断装置の切断箇所を示
す図で、第1図<a)は正面図、第1図(klは側面図
である。これらの図において、1は回転切断歯、2は切
断される半導体ウェハ、3は前記半導体ウェハ2のセッ
ト用ステージである。
Fig. 1 is a diagram showing cutting locations of a conventional semiconductor wafer cutting device, in which Fig. 1<a) is a front view and Fig. 1 (kl is a side view).In these figures, 1 is a rotary cutting tooth. , 2 is a semiconductor wafer to be cut, and 3 is a stage for setting the semiconductor wafer 2.

第2図は従来の半導体ウェハの切断装置の制御回路を示
すブロック図である。この図で、4はコントロール回路
で、ステージ制御回路5.ステージ動作用モータ6を制
御してセント用ステージ3を移動せしめる。また、コン
トロール回路4は回転切断歯制御回路T2回転切断歯動
作用モータ8を制御して回転切断歯1を駆動し前記セッ
ト用ステージ3によって移動されたステージ上の半導体
ウェハ2を切断する。
FIG. 2 is a block diagram showing a control circuit of a conventional semiconductor wafer cutting apparatus. In this figure, 4 is a control circuit, stage control circuit 5. The cent stage 3 is moved by controlling the stage operation motor 6. Further, the control circuit 4 controls the rotary cutting tooth control circuit T2 and the rotary cutting tooth operation motor 8 to drive the rotary cutting tooth 1 and cut the semiconductor wafer 2 on the stage moved by the setting stage 3.

このように、半導体ウェハ2を切断するときは回転切断
歯1を高速回転させた状態で半導体ウェハ2のセント用
ステージ3を移動させながら半導体ウェハ2を切断する
。しかし、半導体ウニ1120表面の形状が異常であっ
たり、ノイズ等により半導体ウニ・・2リセツト用ステ
ージiが誤動作すると半導体クエへ2全体を破損したり
回転切断歯1を破損したりして、金銭的損失や品質に悪
影響を与えることになる。
In this way, when cutting the semiconductor wafer 2, the semiconductor wafer 2 is cut while moving the cent stage 3 of the semiconductor wafer 2 while rotating the rotary cutting teeth 1 at high speed. However, if the shape of the surface of the semiconductor urchin 1120 is abnormal or the stage i for resetting the semiconductor urchin 2 malfunctions due to noise etc., the entire semiconductor urchin 2 may be damaged or the rotary cutting tooth 1 may be damaged. This will result in material loss and a negative impact on quality.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

この発明は、上記の点Kかんがみてなされたもので、半
導体ウェハの表面形状の異常時およびセット用ステージ
の誤動作時には、半導体クエ/1の切断動作を停止せし
め、かつ、異常状態を報知するようにしたものである。
This invention was made in consideration of the above point K, and is designed to stop the cutting operation of the semiconductor que/1 and notify the abnormal state when the surface shape of the semiconductor wafer is abnormal or when the setting stage malfunctions. This is what I did.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

第3図(a)、(b)はこの発明の一実施例を示す半導
体ウェハの切断装置の正面図、および側面図であり、1
〜3は第1図と同じものであり、9は発光体、10は前
記発光体9からの光を受光する受光体であり、これらで
異常状態を検知する検知手段が構成される。
FIGS. 3(a) and 3(b) are a front view and a side view of a semiconductor wafer cutting apparatus showing an embodiment of the present invention;
3 are the same as those in FIG. 1, 9 is a light emitter, and 10 is a light receiver that receives light from the light emitter 9. These constitute a detection means for detecting an abnormal state.

絽4図はこの発明の制御回路を示すブロック図であり、
4〜BはwL2図と同じものであり、11は前記受光体
10からの信号により停止信号を発する停止回路、12
は報知装置で、停止回路11の信号により異常状態を表
示する表示装置13と、異常状態を報知する警報装[1
14とからなる。また、15はリセットスイッチである
Figure 4 is a block diagram showing the control circuit of this invention.
4 to B are the same as those in the wL2 diagram, 11 is a stop circuit that issues a stop signal based on the signal from the photoreceptor 10, 12
is a notification device, which includes a display device 13 that displays an abnormal state by a signal from a stop circuit 11, and an alarm device [1] that notifies an abnormal state.
It consists of 14. Further, 15 is a reset switch.

次に動作について説明する。いま、例えは半導体ウェハ
2の表面が異常であったり、ノイズ等により半導体ウニ
/X2のセット用ステージ3が誤動作すると、回転切断
歯1全体に振動が発生するため正常時受光体10に供給
されていた発光体9から出る光が回転切断#ilKさえ
ぎられるため、受光体1θに光が供給されなくなる。こ
のため、受光体10からの信号により停止回路11が動
作し。
Next, the operation will be explained. For example, if the surface of the semiconductor wafer 2 is abnormal or the setting stage 3 of the semiconductor wafer/X2 malfunctions due to noise or the like, vibration will occur in the entire rotary cutting tooth 1, so that the wafer is not supplied to the photoreceptor 10 under normal conditions. Since the light emitted from the light emitter 9 that had been in use is blocked by the rotational cut #ilK, no light is supplied to the light receiver 1θ. Therefore, the stop circuit 11 is activated by the signal from the photoreceptor 10.

コントロール回路4にストップ信・号を与え、ステージ
制御回路5にストップ信号が供給され、ステージ動作用
モータ6が停止する。同様に1回転切断歯制御回WII
?にもストップ信号が供給され、回転切断歯動作用モー
タ8が停止する。一方、表示装置13.警報装置14も
停止回路11からの信号により動作し、その異常状態を
表示および報知する。したがって、回転切断歯1の破損
および半導体クエハ2の品質への悪影響を餘去すること
ができる。
A stop signal is supplied to the control circuit 4, a stop signal is supplied to the stage control circuit 5, and the stage operation motor 6 is stopped. Similarly, 1 rotation cutting tooth control time WII
? A stop signal is also supplied to the rotary cutting tooth motor 8, and the rotary cutting tooth operation motor 8 is stopped. On the other hand, the display device 13. The alarm device 14 is also activated by a signal from the stop circuit 11, and displays and notifies the abnormal state. Therefore, damage to the rotary cutting teeth 1 and adverse effects on the quality of the semiconductor wafer 2 can be avoided.

なお、上記実施例においては発光体9と受光体10とK
よる呵視尤による制御を用いたが、この発明は上記の光
以外の紫外*、レーザ光、赤外線でもよく、あるいは電
磁的な検出素子等でも同様の効果が得られる。さらに、
報知装置12は、表示装置13と警報装置14のうち少
なくとも一方を備えていれはよい。
In addition, in the above embodiment, the light emitter 9, the photoreceptor 10, and the K
Although the present invention uses light other than the above-mentioned light, such as ultraviolet light*, laser light, or infrared light, or an electromagnetic detection element can also be used to obtain the same effect. moreover,
The notification device 12 may include at least one of a display device 13 and an alarm device 14.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、この発明による半導体クエへの切
断装置は、回転切断歯の異常振動時を検知する検知手段
を設け、異常状態時を検知した信号により自動的に回転
切断歯を停止せしめ、かつ、切断される半導体ウェハの
セット用ステージを停止させるよ51CLだので、回転
切断歯の破損や半導体ウェハの破損の悪影響を防ぐこと
ができると同時に、装置の異常を早急にみつけ、これに
対処することができる。また、検知手段に発光体と受光
体を用いたものは、簡単、安価な構成で回転切断歯の異
常振動を検出できる利点がある。
As explained above, the cutting device for semiconductor chips according to the present invention is provided with a detection means for detecting abnormal vibrations of the rotating cutting teeth, and automatically stops the rotating cutting teeth in response to a signal detecting the abnormal state. In addition, since the 51CL stops the stage for setting the semiconductor wafer to be cut, it is possible to prevent damage to the rotary cutting teeth and damage to the semiconductor wafer, and at the same time, it is possible to quickly find and deal with abnormalities in the equipment. can do. Further, a detection means using a light emitting body and a light receiving body has the advantage that abnormal vibration of the rotary cutting tooth can be detected with a simple and inexpensive structure.

【図面の簡単な説明】 第1図(a)、(b)は従来の半導体ウェハの切断装置
を示す正面図および側面図、第2図は従来の半導体ウニ
への切断装置の制御回路を示すブロック図、第3図(a
)、(b)はこの発明の一実施例を示す半導体ウェハの
切断装置の正面図および側面図、第4図はこの発明の制
御回路のフロック図である。 図中、1は回転切断歯、2は半導体ウェハ、3はセット
用ステージ、4はコントロール回路、5はステージ制御
回路、6はステージ動作用モータ、1は回転切断歯制御
回路、8は回転切断歯動作用モータ、9は発光体、10
は受光体、11は停止回路、12は報知装置、13は表
示装置、14は警報装置、15はリセットスイッチであ
る。 なお、図中の同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 大岩増雄 (ほか2名ン 第1図 ・(a) (b) 第 24図 第3図 (a ) (b) 絶 第4図 ヲ璽 1−ゴ:+1
[Brief Description of the Drawings] Figures 1 (a) and (b) are front and side views of a conventional semiconductor wafer cutting device, and Figure 2 is a control circuit of a conventional semiconductor wafer cutting device. Block diagram, Figure 3 (a
) and (b) are a front view and a side view of a semiconductor wafer cutting apparatus showing an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a block diagram of a control circuit of the present invention. In the figure, 1 is a rotary cutting tooth, 2 is a semiconductor wafer, 3 is a setting stage, 4 is a control circuit, 5 is a stage control circuit, 6 is a stage operation motor, 1 is a rotary cutting tooth control circuit, and 8 is a rotary cutting Motor for tooth movement, 9 is a light emitter, 10
1 is a photoreceptor, 11 is a stop circuit, 12 is a notification device, 13 is a display device, 14 is an alarm device, and 15 is a reset switch. Note that the same reference numerals in the figures indicate the same or corresponding parts. Agent Masuo Oiwa (and 2 others) Figure 1 (a) (b) Figure 24 Figure 3 (a) (b) Absolute Figure 4 1-go: +1

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)切断される半導体ウェハが載置されたセット用ス
テージをコントロール回路を介してステージ動作用モー
タを駆動して移動せしめるとともに、前記半導体ウェハ
を切断する回転切断歯を回転切断歯動作用モータにより
駆動せしめて前記半導体ウェハを切断する半導体ウェハ
の切断装置において、前記回転切断歯の異常振動を検出
するための検知手段を備え、前記検知手段により前記異
常振動を検知したとき前記ステージ動作用モータおよび
回転切断歯動作用モータを前記コントロール回路を介し
て停止せしめる停止回路と、この停止回路の信号により
前記異常振動を報知する報知装置とを備えたことを特徴
とする半導体ウエノ1の切断装置。
(1) The setting stage on which the semiconductor wafer to be cut is mounted is moved by driving a stage operation motor via a control circuit, and the rotary cutting teeth for cutting the semiconductor wafer are moved by the rotating cutting tooth operation motor. A semiconductor wafer cutting apparatus that cuts the semiconductor wafer by being driven by a motor for operating the stage, further comprising a detection means for detecting abnormal vibration of the rotary cutting teeth, and when the abnormal vibration is detected by the detection means, the stage operation motor A cutting device for semiconductor wafer 1, comprising: a stop circuit for stopping a rotary cutting tooth operation motor via the control circuit; and a notification device for notifying the abnormal vibration by a signal from the stop circuit.
(2)回転切断歯の異常振動を検出するための検知手段
は、発光体と受光体とからなり、前記異常振動により前
記発光体と受光体間の光がさえぎられることを検知する
ものである特許請求の範囲第+11項記載の半導体ウェ
ハの切断装置。
(2) The detection means for detecting abnormal vibrations of the rotary cutting teeth includes a light emitter and a light receiver, and detects that light between the light emitter and the light receiver is blocked by the abnormal vibration. A semiconductor wafer cutting device according to claim 11.
JP58188090A 1983-10-04 1983-10-04 Cutter for semiconductor wafer Pending JPS6078710A (en)

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JP (1) JPS6078710A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016127060A (en) * 2014-12-26 2016-07-11 株式会社ディスコ Cutting device
JP2016159409A (en) * 2015-03-04 2016-09-05 株式会社ディスコ Cutting device
JP2017185599A (en) * 2016-04-07 2017-10-12 株式会社ディスコ Cutting device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016127060A (en) * 2014-12-26 2016-07-11 株式会社ディスコ Cutting device
JP2016159409A (en) * 2015-03-04 2016-09-05 株式会社ディスコ Cutting device
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