JPS6067833A - Optical fiber inspector - Google Patents

Optical fiber inspector

Info

Publication number
JPS6067833A
JPS6067833A JP17556983A JP17556983A JPS6067833A JP S6067833 A JPS6067833 A JP S6067833A JP 17556983 A JP17556983 A JP 17556983A JP 17556983 A JP17556983 A JP 17556983A JP S6067833 A JPS6067833 A JP S6067833A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical fiber
imaging means
fiber
inspection
frame memory
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP17556983A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Seiji Yasu
安 精治
Tomohiro Murakami
知広 村上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SANTETSUKU KK
Sunoco Inc R&M
Original Assignee
SANTETSUKU KK
Sunoco Inc R&M
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SANTETSUKU KK, Sunoco Inc R&M filed Critical SANTETSUKU KK
Priority to JP17556983A priority Critical patent/JPS6067833A/en
Publication of JPS6067833A publication Critical patent/JPS6067833A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/33Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/31Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enable a highly accurate measurement at a high speed by arranging an inspector so as to measure various structural parameters of an optical fiber in the same condition as when light is actually transmitted. CONSTITUTION:A light emitting diode 5 projects one end face of an optical fiber 1' for inspection while a laser diode 6 is provided at the other end face thereof 1' to oscillate a laser light guided therethrough. A reflected image from the one end face is magnified by the optical system and taken by a photographing means 10. The video signal is converted into a digital signal with an A/D converter 14 and written into a frame memory FM with the writing operation controlled by a control circuit FMW. A microcomputer MCS uses the data written to determine a data on the brightness of the magnified image according to the specified signal processing sequence. The laser diode used for the light source enables the measurement of spot size and the refractive index distribution with the fiber set in the waveguide mode.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は、光ファイバの種々の構造パラメータ(例え
ばクラツド径、コア径、偏心率、非円率)を測定する装
置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to an apparatus for measuring various structural parameters (eg, cladding diameter, core diameter, eccentricity, non-circularity) of an optical fiber.

〔従来技術〕[Prior art]

光ファイバの構造パラメータであるクラツド径、コア径
、偏心率、非円率を測定する従来の装置としては、例え
ばa)試験用ファイバの一端より通常のランプ?照射し
、他端で顕微鏡を介してテレビカメラで通過光のパター
ンを観測するのに合ワせてコンピュータでファイバ断面
での各種ノ々ラメータが計測可能な様に構成さした装置
とか、b)上記a)の装置におけるのと同様な方法であ
るが「イメージ回転プリズム」全従来の顕微鏡の光学系
に加えてパターンイメージ全回転させるこトニよ、!l
11種々のパラメータの二次元情報が得らnる様構成さ
f′Lfc装置とかがある。
Conventional devices for measuring the structural parameters of optical fibers, such as cladding diameter, core diameter, eccentricity, and noncircularity, include, for example: a) using a normal lamp from one end of the test fiber; irradiate the fiber, observe the pattern of the passing light with a television camera through a microscope at the other end, and at the same time measure various parameters at the cross section of the fiber with a computer, or b) The same method as in the device a) above is used, but in addition to the "image rotation prism", the pattern image is completely rotated in addition to the optical system of the conventional microscope! l
There is an f'Lfc device configured to obtain two-dimensional information on various parameters.

t;i、もう一つの構造パラメータである屈折率分布全
測定する従来の装置として、差分干渉法を用いてコア内
の屈折率分布を測定する干渉顕微鏡装置がある。その他
、屈折率分布の測定法は種々知ら扛ているが、上で挙げ
た装@を含めて従来の装置においては・光源として通常
の顕微鏡に用いらnるランプが使用さnている。また、
測定対象とするファイバが殆んどマルチモードファイバ
で、シングルモードのファイバ用に測定精度のよい測定
装置がなかった。
t;i Another conventional device for measuring the entire refractive index distribution, which is another structural parameter, is an interference microscope device that measures the refractive index distribution in the core using differential interferometry. Various other methods for measuring refractive index distribution are known, but in conventional apparatuses, including the above-mentioned apparatus, a lamp used in ordinary microscopes is used as a light source. Also,
Most of the fibers to be measured are multimode fibers, and there was no measuring device with good measurement accuracy for single mode fibers.

マルチモードファイバは、そのクラツド径が125μm
、コア径が50μmと国際的に規格化さnているが、シ
ングルモードファイバの場合は、コア内屈折率分布によ
る光の分布に違いがあることからコア径そのものの大き
さ全規定するのではなく、光のスポットサイズの大きさ
全規定している。ここにスポットサイズとは、輝度分布
がガウス分布である場合を導波モードでの光強度の最大
直の1/e2となる端の光パターンの幅をいう(以下同
じ)。従って、シングルモードファイバに対しては、マ
ルチモードファイバにおける様ニコアの寸法全計測する
ことに意味はなく・コア?おおう光のスポットサイズの
大きさが問題となる。
The multimode fiber has a cladding diameter of 125 μm.
The core diameter is internationally standardized as 50 μm, but in the case of single-mode fibers, the core diameter itself is not completely specified because the distribution of light varies depending on the refractive index distribution within the core. The size of the light spot is completely specified. Here, the spot size refers to the width of the light pattern at the end that is 1/e2 of the maximum light intensity in the waveguide mode when the brightness distribution is a Gaussian distribution (the same applies hereinafter). Therefore, for single-mode fibers, there is no point in measuring all the core dimensions like in multi-mode fibers. The problem is the spot size of the covering light.

しかし、従来の測定装置は、実際に通信を行う状態と全
く同じ伝搬状態の下でファイバの種々の特性全計測する
ことを想定して作らnたものでない為、導波モードの光
のスポットサイズが測定出来ず、特にシングルモードフ
ァイバの特性測定用にすぐれたものがなかった。
However, conventional measurement devices were not created with the assumption that they would measure all of the various characteristics of the fiber under exactly the same propagation conditions as the actual communication conditions, so the spot size of the light in the guided mode could not be measured, and there was no particularly good one for measuring the characteristics of single mode fiber.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本願の発明は、実際の光伝送時と同じ状蓉で光ファイバ
の各種構造パラメータ(クラツド径、コア径、偏心率、
非円率、スポットサイズ、屈折率分布等を指す、以下同
じ)?光源にレーザダイオードを用いて高精度に測定で
きる光ファイバ検盃装置?提供する。
The invention of the present application applies various structural parameters (cladding diameter, core diameter, eccentricity,
Refers to non-circularity, spot size, refractive index distribution, etc. (same hereinafter)? An optical fiber inspection device that uses a laser diode as a light source and can measure with high precision? provide.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

光ファイバの各種構造パラメータ全精密に測定するには
、光ファイバを実際の通信時における状態と同じ状態に
して検査、測定しなければならない。特に、シングルモ
ードファイバでは、従来の装置では計測対象となってい
なかったコア内スポットサイズ及びそのサイズ内での屈
折率分布全精密に測定することが要求さ江る。そこでこ
のようなシングルモードファイバでは、計測対象として
はコア径よりも導波モードでのスポットサイズの方が重
要である。この点に鑑みて、本願の発明に係る光フアイ
バ用検査装置は、次に列挙する特徴を有する様構成さn
ている。
In order to precisely measure all of the various structural parameters of an optical fiber, it is necessary to inspect and measure the optical fiber in the same state as it will be in during actual communication. In particular, for single mode fibers, it is required to accurately measure the spot size within the core and the entire refractive index distribution within that size, which has not been measured with conventional devices. Therefore, in such a single mode fiber, the spot size in the guided mode is more important than the core diameter as a measurement target. In view of this point, the optical fiber inspection device according to the invention of the present application is configured to have the following features.
ing.

a)光iにレーザダイオードを用い、実際の光伝送時と
同じ状態で光ファイバの各種の構造パラメータ?高精度
に測定する。即ち、通常の光源ランプではファイバ内で
導波モードが得らnなりか。
a) Using a laser diode for light i, various structural parameters of the optical fiber under the same conditions as during actual optical transmission? Measure with high precision. That is, with a normal light source lamp, a waveguide mode can be obtained within the fiber.

レーザダイオード全光源に用いることによシファイバ内
を導波モードにした状態でスポットサイズとか屈折率分
布?測定することができる。レーザダイオードは、シン
グルモードファイバに対しては波長人=1.8μmの長
波長レーザ全、またマルチモードファイバに対しては波
長λさ085μmの短波長レーザを夫々用いる。
By using a laser diode as a total light source, the spot size and refractive index distribution can be determined by making the fiber into a waveguide mode? can be measured. As the laser diode, a long wavelength laser with a wavelength of 1.8 μm is used for a single mode fiber, and a short wavelength laser with a wavelength λ of 085 μm is used for a multimode fiber.

但し、クラツド径、コア径の測定には導波モードにする
必要がない為通常のランプ全光源に用いてもよい。
However, since it is not necessary to use waveguide mode to measure the cladding diameter and core diameter, it may be used as an ordinary lamp light source.

b)各種の構造パラメータの内、特にスポットサイズ及
び屈折率分布の測定は、二次元的な’611J定データ
?必要とし、オた他のパラメータもより高い精度で測定
しようとすれば二次元的測定データ?必要とする。
b) Among various structural parameters, spot size and refractive index distribution are measured using two-dimensional '611J constant data? Also, if you want to measure other parameters with higher precision, what about two-dimensional measurement data? I need.

′しかじ、これらについては、従来の装置で採用されて
いた光学系の回転とか、TV左カメラはファイバ自体を
回転させるとかいった方法ではなく、画像処理技術によ
り従来の方法と同等以上の精密さで二次元的測定が行え
る。従来の装置では上記の様に何らかの回転機構が備え
らnていたのに対して、本願で開示する検査装置は、そ
うしたものが不要であるのでその機構が簡単になるとい
う利点がある。
'However, instead of rotating the optical system used in conventional equipment, or rotating the fiber itself for the TV left camera, we are using image processing technology to achieve precision that is equal to or higher than conventional methods. Two-dimensional measurements can be made with While conventional devices are equipped with some kind of rotation mechanism as described above, the inspection device disclosed in the present application does not require such a mechanism, and therefore has the advantage that its mechanism is simple.

C)検査用ファイバからの出射光パターンKl像する際
に、顕微鏡の対物レンズの焦点用層に応じて該ファイバ
の端面と該対物レンズとの距離全自動的に変化させる自
動焦点制御機構が備えら扛ている。その制御機構は、後
に詳しく述べである様に、出射光パターンのエッヂが検
出され、そのエッヂの微係数からフォーカス制御回路?
介してレンズ系微動装置が駆動さnる様に構成さnてい
る。
C) Equipped with an automatic focus control mechanism that automatically changes the distance between the end face of the fiber and the objective lens in accordance with the focusing layer of the objective lens of the microscope when imaging the light pattern Kl emitted from the inspection fiber. I'm running away. As will be described in detail later, the control mechanism is that the edge of the emitted light pattern is detected and the focus control circuit is based on the differential coefficient of the edge.
The lens system fine movement device is configured to be driven through the lens system.

d)出射光パターンを撮像するのに用いる赤外線ビジコ
ンには、同一場所に強度のある光が長時間照射さ扛るこ
とによる劣化であり、ビジコンの寿命にかかわる重要な
問題である「焼付」現象があることが欠、咀の−っであ
るが、本麿て開示する検査装置では、ビジコンへの光I
α射時間全極端に少なくすることにより上記の問題が軽
減さ扛、ビジコンの寿命が大幅に延長回顧となっている
。ブなわち1フyイパからの出射パターンについて画像
処理技術による信号処理2行ない、各種構造パラメータ
’k it 側できる様構成されているので、実質的に
はパターンイメージをフレームメモリニ取り込む時間(
例えば88X101秒)だけV−ザ光がファイバに照射
されてぃnばよいことになるので、レーザダイオード?
マイクロコンピュータの制御によりスイッチングさせて
いる。この結果、レーザダイオードを連続して長時間発
振させておく必要もなく、ビジコンの寿命のみならずレ
ーザダイオードのが命が延びるという利点がある。
d) The infrared vidicon used to image the emitted light pattern is subject to the "burn-in" phenomenon, which is a deterioration caused by irradiating the same place with intense light for a long period of time, and is an important problem that affects the lifespan of the vidicon. However, in the inspection device that Honmaro discloses, the light I
By minimizing the total α-emission time, the above problems are alleviated, and the lifespan of the busicom is greatly extended. In other words, the output pattern from one fiber is subjected to two signal processing processes using image processing technology, and various structural parameters are processed on the side of the frame memory.
For example, the fiber needs to be irradiated with the V-za light for only 88 x 101 seconds), so the laser diode?
Switching is controlled by a microcomputer. As a result, there is no need to keep the laser diode oscillating continuously for a long time, and there is an advantage that not only the life of the vidicon but also the life of the laser diode is extended.

e)シングルモードファイバでは、コアMが約10μm
であるのにijシクヲッド径が125μmであって、コ
アの外周とクラッドの外周とが60jm近く離nている
。その乙、コア内導波モードの光は殆んどコア内に集中
して伝搬することになり、ファイバ端面での出射光パタ
ーンの観測ではクラッドの外周と空気との境界が観測出
来ずクラツド径が測定出来ないということになる。この
対策として、クラッド全体を照射するための光源として
発光ダイオード?用い、ビー1z 7プリツタ?介して
ファイバの端面をごく短時間照射をせ、その反射光がビ
ジコンによりとらえらjクラッド径が計測可能となる様
構成さしている。
e) For single mode fiber, core M is approximately 10 μm
However, the diameter of ij is 125 μm, and the distance between the outer periphery of the core and the outer periphery of the cladding is nearly 60 m. Second, most of the light in the intra-core waveguide mode is concentrated in the core and propagates, so when observing the output light pattern at the fiber end face, the boundary between the outer periphery of the cladding and the air cannot be observed, and the cladding diameter This means that it cannot be measured. As a countermeasure for this, can we use a light emitting diode as a light source to illuminate the entire cladding? Used, Bee 1z 7 Pritsuta? The structure is such that the end face of the fiber is irradiated for a very short time through the fiber, and the reflected light is captured by a vidicon, making it possible to measure the cladding diameter.

f)本願の発明に係るファイバ検査装置では、検査用フ
ァイバが装置にセットさnnば、そn以降自動的に、各
種構造パラメータが計測されCRT又はプリンタにより
結果が表示さnる様マイクロコンピュータを用いた制御
fQlシステムが採用さnている。
f) In the fiber testing device according to the invention of the present application, once the fiber for testing is set in the device, various structural parameters are automatically measured and the results are displayed on a CRT or printer using a microcomputer. The control fQl system used is employed.

次にこの発明の突施例につき図面?参照しつつ詳しく説
明する。第1図はこの発明に係るファイバ検査装置の一
実施例?示す模式図である。導波光源としてシングルモ
ードファイバf8 付きのレーザダイオードLDが用い
らn2シングルモードフ1イパf に対向して検査用シ
ングルモードファイバF (約i m)の一端がファイ
バ支持治具S1により固足さnている。検査用ファイバ
がシングルモードファイバであ扛ば、レーザダイオード
LDとして波長λ=1.8μmの光通信用赤外半導体レ
ーザが用いられ、一方マpチモードファイバを検食する
場合にはス=(185μm付近の発光ダイオードが用い
られる。
Next, are there drawings for specific embodiments of this invention? This will be explained in detail with reference to the following. FIG. 1 is an embodiment of the fiber inspection device according to the present invention. FIG. A laser diode LD with a single mode fiber f8 is used as a waveguide light source, and one end of a single mode fiber F (approximately i m) for inspection is fixed by a fiber support jig S1, facing the n2 single mode fiber f1. There are n. If the fiber for inspection is a single mode fiber, an infrared semiconductor laser for optical communication with a wavelength λ = 1.8 μm is used as the laser diode LD, whereas when inspecting a multimode fiber, A light emitting diode around 185 μm is used.

レーザダイオードLDで発振したレーザ光は、シングル
モードファイバfs k介して検査用ファイバvvcm
波さnる。他方、支持治具S、により固定さまた検査用
ファイバの他端での端面のイメージは、ビームスプリッ
タBs及びマイクロスコープMi介して赤外線ビジコン
カメラエ■Cの光電面に結像さnる。この際、観測する
イメージが、ファイバ全体のイメージか、コアのみのイ
メージかによpマイクロノコ−1Mの対物レスズの倍率
が変えられ、クラッドを含むファイバ端面全体を撮像す
る場合にクラッド部分を照明するために・発光ダイオー
ドLED (波長^;任V)からの可視光又は赤外光を
ビームスゲl)ツタBs2介して端面に照射している。
The laser light oscillated by the laser diode LD is transmitted to the inspection fiber VVCM via the single mode fiber FSK.
Waves. On the other hand, an image of the end face at the other end of the inspection fiber fixed by the support jig S is formed on the photocathode of the infrared vidicon camera C via the beam splitter Bs and the microscope Mi. At this time, the magnification of the objective lens of the P Micro Saw-1M is changed depending on whether the image to be observed is of the entire fiber or only the core, and when imaging the entire end face of the fiber including the cladding, the cladding part is illuminated. In order to do this, the end face is irradiated with visible light or infrared light from a light emitting diode LED (wavelength ^; V) through the beam sedge Bs2.

信号処理部spで自動焦点調節に必要な焦点制御信号が
作らnる。焦点制御信号に基づき、検査用シングルモー
ドファイバFの端面と対物レンズとの相対距離が調整さ
れ最適な焦点距離が設定される。自動焦点合わせ後、赤
外線ビジコンIVCで得られたビデオ信号は、信号処理
部sp内でデジタル信号に変換さn、フレームメモリに
書き込まn後述する種々の信号処理の後各種構造パラメ
ータに関する情報が得られる。
A focus control signal necessary for automatic focus adjustment is generated by a signal processing unit sp. Based on the focus control signal, the relative distance between the end face of the inspection single mode fiber F and the objective lens is adjusted to set the optimal focal length. After automatic focusing, the video signal obtained by the infrared vidicon IVC is converted into a digital signal in the signal processing unit sp, and written into the frame memory. After various signal processing described below, information on various structural parameters is obtained. .

この発明の検査装置で測定する主なパラメータは、クラ
ツド径、コア径、スポットサイズ径、スポットサイズの
真円度、偏心率、非円率、及びコア内の屈折率分布とそ
の二次元分布等でおるが、こnらのパラメータに関する
情報は・フレームメモリ全二次元マトリックスと見なし
てソフトウェアによる処理により得ら扛る。すなわち、
検査用ファイバからの出射パターンイメージを撮像し、
パターンの中心會通るライン上の輝度分布から各97 
ハラメータがめらする。この場合、ツインは水平、垂直
方向のものに限らずあらゆる方向でのフィン上の輝度分
布が処理可能である。測定精度は、マイクロスコープM
のレンズ系と撮像管であるビジコンカメラエV’Cの解
像度で決まp1最適設計にてシングルモードファイバの
コア径(約10μm)及びスポットサイズの大きさを0
01μmの精度で、又クラッド径を01μm以下の精度
で測定することが可能である。
The main parameters measured by the inspection device of this invention are cladding diameter, core diameter, spot size diameter, spot size roundness, eccentricity, non-circularity, refractive index distribution in the core and its two-dimensional distribution, etc. However, information regarding these parameters is obtained by software processing, regarding the frame memory as a two-dimensional matrix. That is,
Capturing the output pattern image from the inspection fiber,
From the brightness distribution on the line passing through the center of the pattern, each 97
Harameter glares. In this case, the twin can process brightness distributions on the fins in all directions, not just horizontal and vertical directions. Measurement accuracy is Microscope M
The core diameter of the single mode fiber (approximately 10 μm) and the spot size are determined by the resolution of the lens system and the image pickup tube, vidicon camera V'C, and are determined by the p1 optimal design.
It is possible to measure the cladding diameter with an accuracy of 0.1 μm or less.

第2図は、第1図の検査装置の構成を示すグロック図で
ある。レーザダイオード(LD)(iからのレーザ光が
支持治具4によp固定さnた光ファイバ1に導波さn、
こnと対向する様支持治具3により固定さ詐た検査用光
ファイバ1′の一端部でコアにさらに導波されている。
FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of the inspection apparatus shown in FIG. 1. Laser light from a laser diode (LD) (i) is guided to an optical fiber 1 fixed to a support jig 4,
One end of the inspection optical fiber 1', which is fixed by a support jig 3 so as to face the optical fiber 1', is further guided to the core.

他方、支持治具2により固定さnたファイバ1′の他端
での端部像が、ビームスグリツタ7、対物レンズ8、結
像レンズ9を介して赤外線ビジコンカメラ10の光電面
に結像さnる。この光電面の部分的な「焼け」?防ぎ方
命?延長すると同時に、長期間輝度の直線性ヲ維持させ
る為に・後述するフレームメモリに端面像全撮像する1
)V−ム周期(赤外線ビジコンカメラ10が1画面分の
走査を行う時間:約38 m5ec ) タ’/’j 
、マイクロコンピュータシステムMC8内のマイクロコ
ンピュータの制御によりLDスイッチング回路16によ
ってレーザダイオード6が発振させらnている。発光ダ
イオード5及びビームスプリッタ7は、検査用ファイバ
11がシングルモードファイバの場合にレーザ光が導波
しないクラッド部分の端面?照明する為に設けらnてい
る。検査用ファイバ1′がマルチモードファイバの場合
には、レーザダイオード6によるレーザ光の導波は不要
で、ファイバ端面を照明する発光ダイオード5のみが必
要である。
On the other hand, the end image at the other end of the fiber 1' fixed by the support jig 2 is imaged on the photocathode of the infrared vidicon camera 10 via the beam sinter 7, the objective lens 8, and the imaging lens 9. Sanru. Is this partial "burning" of the photocathode? How to prevent it? In order to maintain the linearity of brightness for a long period of time at the same time, the entire end face image is captured in the frame memory (described later).
) V-me cycle (time for the infrared vidicon camera 10 to scan one screen: approximately 38 m5ec) Ta'/'j
The laser diode 6 is caused to oscillate by the LD switching circuit 16 under the control of the microcomputer in the microcomputer system MC8. When the inspection fiber 11 is a single mode fiber, the light emitting diode 5 and the beam splitter 7 are the end faces of the cladding portion where the laser light is not guided. It is provided for illumination. When the inspection fiber 1' is a multimode fiber, the laser diode 6 does not need to guide the laser light, and only the light emitting diode 5 that illuminates the fiber end face is required.

照明さnたクラッドの像?含むファイバ11の端部像は
、必要な倍率に応じた対物レンズ8により拡大さn、更
に結像レンズ9により赤外線ビジコン10の光電面に結
像させらnる。このときの対物レンズ8の切換及び焦点
距離調節は自動的に行わルる様構成さnている。ビデオ
信号の画像処母結果に基づき最適な焦点距離となる様に
、対物レンズ8又は検査用光ファイバ1′の出口側の支
持治具2がマイクロコンピュータの制御により動かさn
る。例えば、対物レンズ8を動かす場合について記述す
る。まず、対物レンズ8は、検査用光ファイバ1′が新
しく取付けられる毎に、マイクロコンピュータの指令に
基づきレンズ系微a装置により光ファイバ11に最も近
い位置まで移動させらnる。次にその位置でのビデオ信
号を後述するフレームメモリに取り込み、あらかじめ定
め1’) fL iフレームメモリ上の特定のエツジの
映像信号の変化率、つまり微係数?マイクロコンピュー
タで演算する。扱う対象となる微係数は主として映像上
の水平おるいは垂直の偏微係数でおる。映像信号の微係
数は、焦点調節に関する情報?含んでおり、同じ場所で
の微係数が最大の点で最適な焦点調節が行わnたこと?
意味する。この原理に基づき、レンズ系微動装置FDで
徐々に対物レンズ8を移動させて最適な焦点距離が決め
ら扛ている。
Illuminated cladding statue? The end image of the fiber 11 contained therein is magnified by an objective lens 8 according to the required magnification, and further imaged on the photocathode of an infrared vidicon 10 by an imaging lens 9. At this time, switching of the objective lens 8 and adjustment of the focal length are automatically performed. The supporting jig 2 on the exit side of the objective lens 8 or the inspection optical fiber 1' is moved under the control of a microcomputer so that the optimal focal length is obtained based on the image processing result of the video signal.
Ru. For example, a case will be described in which the objective lens 8 is moved. First, each time the optical fiber 1' for inspection is newly installed, the objective lens 8 is moved to the position closest to the optical fiber 11 by the lens system micro-a device based on instructions from the microcomputer. Next, the video signal at that position is taken into a frame memory, which will be described later, and the change rate of the video signal at a specific edge on the i-frame memory is determined in advance (1'), that is, the differential coefficient? Calculate using a microcomputer. The differential coefficients to be treated are mainly horizontal or vertical partial differential coefficients on the image. Is the differential coefficient of the video signal information about focus adjustment? Does the optimum focus adjustment occur at the point where the differential coefficient at the same location is maximum?
means. Based on this principle, the objective lens 8 is gradually moved by the lens system fine movement device FD to determine the optimum focal length.

映像信号のフレームメモリFMへの記録は次の様に行わ
れている。赤外線ビジコンカメラ10で得らnたビデオ
信号は、まず広帯域の前置増幅器に変換さnる。この場
ひ、ADコンバータ14け1ビデオ信号?直接実時間で
デジタル化する必要がナノ あるため、変換時間が最大でも50丑士秒以下の並列比
較型などの高速変換に適したADコンバータを使用しな
くてはならない。ADコンバータ14の変換ビット数は
8ビツトで、そこからのデジタル信号はフレームメモリ
書き込み制御回路FMwK、mえらnる。フレームメモ
リ書キ込み制御回路FMWは、後述するメモリ制御回路
MCやCRT表示タイミング生成回路DTとタイミング
オ信すは、同期分離回路18によって同期信号成分が取
り出され、嘔らに引も水平同期信号に分間さする。得ら
2tた各同期信8!−會基に、CRT表示タイミ/グ生
成回路DTでは、フレームメモリFMのデータ取p込み
タイミングやCRTK表示させる表示タイミング?ビジ
コンカメラ10 カラの映像信号に同期させた形で、フ
レームメモリFHちるいはグラフィックメモリGMのア
ドレスひ含む表示、取9込みタイミングが逐時発生さn
でいるOまた・メモリfシ11却回路MCは、フレーよ
メモリFMとグラフィックメモリGMの缶き込み/読み
出しのタイミングのfjll 御1c行なっている。
Recording of the video signal into the frame memory FM is performed as follows. The video signal obtained by the infrared vidicon camera 10 is first converted into a wideband preamplifier. In this case, 14 AD converters and 1 video signal? Since it is necessary to directly digitize data in real time, it is necessary to use an AD converter suitable for high-speed conversion, such as a parallel comparison type with a maximum conversion time of 50 seconds or less. The number of conversion bits of the AD converter 14 is 8 bits, and the digital signal from there is sent to the frame memory write control circuit FMwK. The frame memory write control circuit FMW receives a timing signal from a memory control circuit MC and a CRT display timing generation circuit DT, which will be described later.A synchronization signal component is extracted by a synchronization separation circuit 18, and a horizontal synchronization signal is also sent to the frame memory write control circuit FMW. for a minute. Got 2t each synchronized communication 8! -Basically, in the CRT display timing/timing generation circuit DT, what is the data capture timing of the frame memory FM and the display timing for CRTK display? Vidicon camera 10 In synchronization with the color video signal, display and import timing including the address of frame memory FH or graphic memory GM are generated sequentially.
The output/memory output circuit MC controls the timing of loading/reading the frame memory FM and the graphic memory GM.

フレームメモリF Mは%1024XIQ24X8ビッ
ト程度の分解能と階調表現?有しており、1メガバイト
のメモリ容量ケ有する。グラフィックメモリGMは、通
常1024x1024xlビツトの分解能?有しており
、フレームメモリp Mが赤外線ビジコンカメラ10か
らのビデオイメージ紮記憶するのに対し、マイクロコン
ピュータからの1算結果及びメソセージ、コマンド等の
文字を表示するために用いらnる。フレームメモIJF
liIの内容は、フレームメモリインターフェースF 
II 工f 通シーC:マイクロコンピュータからの読
み書きが可能となっている。一方、フレームメモUFM
の出力は、ビデオデータ?取り込んでいない状態Tは常
に表示モードにあり、CRT表示タイミング生成回路に
よフてアナログ信号に変換さnる。このDAコンバータ
53も、変換速度はADコンバータ14のと同程度以上
の高速性のものが要求さ汎る。
Frame memory FM has a resolution and gradation expression of about %1024XIQ24X8 bits? It has a memory capacity of 1 MB. Graphic memory GM usually has a resolution of 1024x1024xl bits? While the frame memory PM stores video images from the infrared vidicon camera 10, it is used to display arithmetic results and characters such as messages and commands from the microcomputer. Frame memo IJF
The content of liI is the frame memory interface F.
II Engineering F Communication C: Can be read and written from a microcomputer. On the other hand, frame memo UFM
Is the output video data? The state T that is not captured is always in the display mode, and is converted into an analog signal by the CRT display timing generation circuit. The DA converter 53 is also required to have a conversion speed comparable to or higher than that of the AD converter 14.

グラフインクメモリGMは、マイクロコンピュータから
のみ読み書きが可能で、グラフィックメモリインターフ
ェースGM工に介してマイクロコオ信号とグラフィック
メモリGMからの二鎖ビデオデータは、CRT表示制御
口路DCにより単独あるいは軍ね合わせた形でCRT 
15の上に表示さnる。
The graph ink memory GM can be read and written only from the microcomputer, and the microcoder signal and the double-stranded video data from the graphic memory GM are transmitted through the graphic memory interface GM, either individually or in combination by the CRT display control port DC. CRT in shape
Displayed above 15.

第2図に示しfC検査装置のシステムでは、上述した構
成回路ブロック及び機能の他に、種々のコマンドや情報
入カケ与えるためのキーボード66及びキーボードイン
ターフェース661−トか、測定結果を印字させる為の
プリンタ60及びプリンタインターフェース60’が備
えらnている。更に必要に応じて・測定データのバック
アップやファイリングなどのため、フロッピーディスク
FD及ヒフロッピーディスクインターフェースFDI?
オプションとして備え寸けることができる。また、ホス
トコンピュータHCとのデータのやりとりのためGP−
IBインターフェースG工も装備可能である。
In addition to the constituent circuit blocks and functions described above, the system of the fC inspection device shown in FIG. 2 includes a keyboard 66 and a keyboard interface 661 for inputting various commands and information, and a A printer 60 and a printer interface 60' are provided. Furthermore, if necessary, floppy disk FD and floppy disk interface FDI can be used for backup and filing of measurement data.
It can be prepared as an option. In addition, for exchanging data with the host computer HC, GP-
IB interface G can also be installed.

本システムでは、検査用光ファイバの基本的な構造パラ
メータであるビームスポット径、コアの真円度、コアの
クラッドに対する偏心度などは、マイクロコンピュータ
の制御の下にソフトウェア処理によりめられている。そ
の処理内容については後で詳しく説明がなさ扛るが、こ
こではその概略のみ記述する。まず、フレームメモリF
Mに取り込ま才した全データについて順次読み出し、輝
度が最大の点がめらツ1.る。その点勿ビームの中心ト
シて、ビームスポットの輝度がガウス分布?してい^場
合は中心の輝度の1 / e’の輝度?示す部分?、フ
レームメモリFMから順次読み出しでめ、得らnた閉曲
線からビームスポット径及びその真円度がめらnる。ま
た、クラッドのエツジが、偏漱係数の極大!lfを有す
る部分の集合としてめら7’L・さらにこnから・ビー
ムパターンに対するクラッドの偏心度がめらnる。さら
に。
In this system, the basic structural parameters of the optical fiber for inspection, such as the beam spot diameter, the circularity of the core, and the eccentricity of the core with respect to the cladding, are determined by software processing under the control of a microcomputer. The details of the processing will not be explained in detail later, but only an outline thereof will be described here. First, frame memory F
Sequentially read out all the data imported into M, and find the point with the maximum brightness.1. Ru. Of course, at the center of the beam, is the brightness of the beam spot a Gaussian distribution? If so, is the brightness 1/e' of the center brightness? The part to show? , and the beam spot diameter and its circularity can be determined from the obtained closed curve. Also, the edge of the cladding has the maximum coefficient of unevenness! As a set of parts having lf, the eccentricity of the cladding with respect to the beam pattern is determined from 7'L. moreover.

屈折率についてはコア内の輝度分布から相対的な屈折率
分布がせる。クラツド径は、発光ダイオード5で)′6
フアイバ11の端面全体を照射して得らnるスポットの
輝度分布から測定さnる。なお。
Regarding the refractive index, a relative refractive index distribution is determined from the luminance distribution within the core. The cladding diameter is (for light emitting diode 5)'6
It is measured from the brightness distribution of a spot obtained by irradiating the entire end face of the fiber 11. In addition.

コアのビームスポットの輝度分布がガウス分布でない場
合は、上記の信号処理より複雑な信号処理により上記の
閉曲線に該当するものがめらnる。
If the brightness distribution of the beam spot of the core is not a Gaussian distribution, signal processing that is more complex than the above-mentioned signal processing is performed to find the one that corresponds to the above-mentioned closed curve.

そうした信号処理はソフトウェア上の処理であるので本
願ではこn以上詳し2くは触れない。
Since such signal processing is software processing, it will not be discussed in more detail in this application.

次に、第2図に示した検査装置のより詳細なブロック図
を第3図に示す。第3図において、第2図におけるブロ
ックと同一の符号を付しである部分は、第2図における
ものと同一または相当部分を示すものとし、重複する説
明は行わない。
Next, FIG. 3 shows a more detailed block diagram of the inspection apparatus shown in FIG. 2. In FIG. 3, parts with the same reference numerals as blocks in FIG. 2 indicate the same or equivalent parts as in FIG. 2, and no redundant explanation will be given.

ム、 検査用光ファイバ1′の端面像が、ビーXスプリッタ7
、対物lノノズ8.結像レンズ9からなるレンズ系を介
して赤外線ビジコンカメラ1oの充電面で結像され、ビ
デオ信号72が得られる。この揚台、前述した様に、光
m面の寿命を延長すると同時に長期間輝度の直線性を維
持するため、極く短時間の間だけレーザダイオード(L
L)) 6を発振させている。これは、CPU56の制
御によりパラレル出力ポート54が制御信号77を出し
、この信号によりLD、LEDスイッチング回路16が
動作し、レーザダイオード6の発振を制御して行なわれ
ている。
The end face image of the inspection optical fiber 1' is
, objective l nozzle 8. An image is formed on the charging surface of the infrared vidicon camera 1o through a lens system consisting of an imaging lens 9, and a video signal 72 is obtained. As mentioned above, this platform uses a laser diode (L
L)) 6 is oscillated. This is done by the parallel output port 54 outputting a control signal 77 under the control of the CPU 56, which operates the LD/LED switching circuit 16 and controls the oscillation of the laser diode 6.

発光ダイオード(LED) 5及びビームスプリッタ7
は、クラッド全体を照明するために設けられており、ク
ラツド径やコアのクラッドに対する偏心度をめる時など
のほか、マルチモードファイバのクラツド径やコア径な
どのパラメータをめることにも利用される。
Light emitting diode (LED) 5 and beam splitter 7
is provided to illuminate the entire cladding, and is used not only to determine the cladding diameter and eccentricity of the core relative to the cladding, but also to determine parameters such as the cladding diameter and core diameter of multimode fibers. be done.

得られたビデオ信号72は前置増幅器13により適当な
fil圧振幅(数VP−P )まで増幅されその出力の
輝度信号74は高速ビデオA、I)コンバーター4ニょ
ってデジタルビデオ信号75に変換される。ADコンバ
ータ14の変換ビット数は通常8ビツトのものが使用さ
れ、1Iif度信号が256のステップに量子化さ示レ
ートと同じ周期でサンプリングされ、シリアル入力/パ
ラレル出力のシフトレジスタ29〜86に各階を周ビッ
トごとに入力される。さらに、発振回路25からのシフ
トクロック86の8周期ごとにラッチクロック79のエ
ツジでDフリップフロラプレ (〆FF) 87〜44にラッチされ、フレームメモリ
を構成する8組の8ビツト構成のRAM181〜138
の入力データとなる。一方、前置増幅器1Bで増幅され
たビデオ信号74は同期分離回路18に加えられ、黒レ
ベル以下の複合同期信号が出力として得られる。得られ
た複合同期信号81は部分され、一方は微分回路21に
より水平同期信号だけが抽出された微分ハル782が出
力され、さらにワンショットマルチバイブレーク22を
介して規定のパルス幅とタイミングを有するHリセット
パルス84が得られる。
The obtained video signal 72 is amplified to an appropriate filtration amplitude (several VP-P) by the preamplifier 13, and the output luminance signal 74 is converted into a digital video signal 75 by the high-speed video converter 4. converted. The conversion bit number of the AD converter 14 is usually 8 bits, and the 1Iif signal is quantized into 256 steps, sampled at the same period as the indicated rate, and sent to serial input/parallel output shift registers 29 to 86 for each floor. is input bit by bit. Further, every 8 cycles of the shift clock 86 from the oscillation circuit 25, the edges of the latch clock 79 are latched into D flip flops 87 to 44, and eight sets of 8-bit RAMs 181 to 44 constitute a frame memory. 138
This is the input data. On the other hand, the video signal 74 amplified by the preamplifier 1B is applied to the sync separation circuit 18, and a composite sync signal below the black level is obtained as an output. The obtained composite synchronization signal 81 is divided into parts, one of which is outputted by the differentiation circuit 21 as a differential hull 782 in which only the horizontal synchronization signal is extracted, and further passed through the one-shot multi-by-break 22 to generate an H signal having a specified pulse width and timing. A reset pulse 84 is obtained.

また、他方は、積分回路23によりVsync成分だり
が抽出され積分パルヌ信号88が得られる。これを同様
にワンショットマルチバイフレーク24により波形成形
を行なってVリセットパルス85をイ)1ている。この
実施例では、タイミングが最も簡単になングが生成され
ている。つまり、赤外線ビジコンカメラ10の出力であ
るビデオ溶号72とCRT 15に表示するためのビデ
オ信号との量器をとることにより、フレームメモリ13
1〜138の書き込みと表示を同じタイミングで行なう
ことができる。さらにこの実施例ではCP U 56か
らのフレームメモリあるいはグラフインクメモリのアク
セスと、CRT15の表示(又は書き込み)のためのア
クセスの競合を防ぐため、CPU56のシステムクロノ
クこラッチクロック79のタイミングを同一とし、CP
 U 56から見ればサイクルスチールでCRT15関
係のアクセスが行なわれている状態を実現している(後
述の第5図参照)。
On the other hand, the Vsync component is extracted by the integrating circuit 23, and an integrated PALNU signal 88 is obtained. This is similarly waveform-shaped using the one-shot multi-by-flake 24 to generate the V reset pulse 85. In this example, the timing is generated with the simplest timing. That is, by measuring the video signal 72 output from the infrared vidicon camera 10 and the video signal to be displayed on the CRT 15, the frame memory 13
1 to 138 can be written and displayed at the same timing. Furthermore, in this embodiment, in order to prevent conflict between access to the frame memory or graph ink memory from the CPU 56 and access for display (or writing) on the CRT 15, the timing of the latch clock 79 of the CPU 56 is made the same. Toshi, CP
From the perspective of the U 56, a state is realized in which accesses related to the CRT 15 are being performed by cycle stealing (see FIG. 5, which will be described later).

り86を出力している。さらに、ドツトカウンタ26で
1キャラクタ単位(シフトレジスタのロードの周期)に
カウントダウンを行ない、キャラクタクロック90を得
ている。続いて、1ライン分のカウントをキャラクタカ
ウンタ27で行ない、同時にブランク信号(図示せず)
、水平周期信号(Hsync)88を得ている。1フレ
一ム分のカウンタを行なうために設けられているライン
カウンタ28より同時に垂直同期信号(Vsync) 
89を得ている。これらのカウンタのカウント値は、フ
レームメモリ181〜138あるいはグラフィックメモ
リ64の内容の表示あるいは書き込みのためのCRT表
示アトl/ス98として使用される。CRT表示アドレ
ス98とCPTJアドレス96(後述)は、アドレスマ
ルチプレクサ68により切換えられると同時に、フレー
ムメモリ131〜138.グラフィックメモリ64を構
成しているグイナミノクRAMのアドレス端子に加えら
れる時分割のメモリアドレス139を生成する。フレー
ムメモリの読み出し/書き込みの制御・アドレスマルチ
プレクサ68の切換えの制御、またDFF87〜44の
ラッチタイミングの制御、あるいはシフトレジスタ45
〜52のロードクロyりの生成などは、土としてタイミ
ング制御回路55で行なわれている。
86 is output. Further, the dot counter 26 counts down in character units (shift register load cycle) to obtain a character clock 90. Next, the character counter 27 counts one line, and at the same time a blank signal (not shown) is generated.
, a horizontal periodic signal (Hsync) 88 is obtained. At the same time, a vertical synchronization signal (Vsync) is output from the line counter 28 provided for counting one frame.
I got 89. The count values of these counters are used as a CRT display atlas 98 for displaying or writing the contents of the frame memories 181 to 138 or the graphic memory 64. The CRT display address 98 and CPTJ address 96 (described later) are switched by the address multiplexer 68, and at the same time, the frame memories 131-138. A time-division memory address 139 is generated to be added to the address terminal of the Guinaminoku RAM constituting the graphic memory 64. Control of reading/writing of frame memory, switching of address multiplexer 68, latch timing of DFFs 87 to 44, or shift register 45
The generation of road clocks .about.52 and the like are performed by the timing control circuit 55.

第4図は、第3図のタイミング制、御回路55及びその
周辺部の回路構成を詳細に表わした回路図で、第5図は
該当する回路部分での信号のタイミング図であるドツト
カウンタ26のドツトカウンタ出力92及びシフトクロ
ック86をもとにして、インバータ280とAND素子
200でロードクロック(LC)87を作成し、Dフリ
ップフロップ201でI< A S信号224の基本タ
イミングである信号216とその反転である信号218
が生成される。また、信号216をDフリップフロップ
202で遅延し、時分割アドレスを得るための切換信号
S W 219を得ている。ドツトカウンタ26の分周
出力215は、そのままCP U 56とCRT15関
係のアドレス信号の切換信号CPU/CRT215とし
て利用される。インバータ208は、シフトクロック8
6のエツジの極性を逆にするために設けられたものであ
る。メモリ制御信号104を構成するそれぞれの信号は
、ゲート204〜212で作成される。ANDゲート2
05はアドレスバス96の上位アドレスをデコードする
意味で設けられており、正論理あるいは負論理の1アド
レス信号が入力され、フレームメモリ181〜138の
アドレスを規定する。この実施例では、ANDゲート2
05はフレームメモリのCP U 56から見たアドレ
ス領域を決定することになる。RAS信号224につい
ては、まずゲート206でQc信号215がHレベルに
あるとき(すなわちCP U 56の有効期間)のみア
ドレスのデコードを有効とし、Qc倍信号Lレベルの時
は表示あるいは書き込みモードであるのでRAS信号2
24が有効になるように、ORゲート207で以上の論
理を実現している。
FIG. 4 is a circuit diagram showing in detail the circuit configuration of the timing control circuit 55 and its peripheral parts in FIG. 3, and FIG. Based on the dot counter output 92 and shift clock 86, an inverter 280 and an AND element 200 create a load clock (LC) 87, and a D flip-flop 201 generates a signal 216 which is the basic timing of the I<A S signal 224. and its inverse, the signal 218
is generated. Further, the signal 216 is delayed by the D flip-flop 202 to obtain a switching signal S W 219 for obtaining a time division address. The frequency-divided output 215 of the dot counter 26 is used as it is as a switching signal CPU/CRT 215 for address signals related to the CPU 56 and the CRT 15. The inverter 208 has a shift clock 8
This is provided to reverse the polarity of the edge 6. Each signal making up memory control signal 104 is generated by gates 204-212. AND gate 2
05 is provided to decode the upper address of the address bus 96, and one address signal of positive logic or negative logic is input thereto to define the addresses of the frame memories 181 to 138. In this example, AND gate 2
05 determines the address area seen from the CPU 56 of the frame memory. Regarding the RAS signal 224, first, the gate 206 makes address decoding valid only when the Qc signal 215 is at the H level (that is, during the valid period of the CPU 56), and when the Qc signal 215 is at the L level, it is in display or write mode. So RAS signal 2
The above logic is realized by the OR gate 207 so that 24 becomes valid.

ORゲート207の出力228とフリップフロップ20
1のζ出力218をNANDゲート208を介してRA
S信号224が作成される。また、CAS信号225は
ドツトカウンタ26のQ 114HM’ 214をその
ままインバータ209で反転させて、各メモ1月こ常曇
こ加えられる。
Output 228 of OR gate 207 and flip-flop 20
1 ζ output 218 through NAND gate 208 to RA
An S signal 224 is created. Further, the CAS signal 225 is added to each memo every month by inverting Q114HM' 214 of the dot counter 26 as it is by the inverter 209.

ライト信号については、フレームメモリの場合書き込み
動作はこの実施例の場合赤外線ビジコンカメラの画像に
限られるので、CPU56がノfラレル出力ポート54
のフレームメモリ取り込み信号94のビットを書き込む
ことにより、NANDゲート212のWR(F )信号
229が有効となり書き込み動作が行なわれる。グラフ
ィックメモ1ノに関しては、フレームメモリと同様に、
アドレス信号226がANDゲート210に加えられ、
CP U3Oから見たグラフインクメモリ64のアドレ
スカメ規定される。グラフィックメモリ64は、CPU
56で処理された結果をグラフィックや文字で出力する
ためのもので、CP U 56からの読み出しや書き込
みが可能となっている。以上のほめ)にタイミング制御
回路55では、ドツトカウンタ26のQc倍信号そのま
まラッチロック79、さら船こCPUクロック(図示せ
ず)として使用されてL)る。
Regarding the write signal, in the case of a frame memory, the write operation is limited to the image of the infrared vidicon camera in this embodiment, so the CPU 56
By writing the bit of the frame memory capture signal 94, the WR(F) signal 229 of the NAND gate 212 becomes valid and a write operation is performed. Regarding graphic memo 1, like frame memory,
address signal 226 is applied to AND gate 210;
The address camera of the graph ink memory 64 as seen from the CPU 3O is defined. The graphics memory 64 is a CPU
It is used to output the results processed by the CPU 56 in the form of graphics or characters, and can be read from or written to by the CPU 56. In addition to the above, in the timing control circuit 55, the Qc multiplied signal from the dot counter 26 is directly used as a latch lock 79 and a CPU clock (not shown).

ビデオADコンバータ14がら呆FF19を介してビデ
オデータ8oを各階調ごとに8ビツトのブロックとして
フレームメモリに書き込むことに至るので、メモリのサ
イクルタイムは、CPU56のアクセスを含めてもシフ
トクロックのサイクルにくらべて4倍になるので、アク
セスタイムやサイクルタイムの長いメモリが使用できる
Since the video data 8o is written to the frame memory as an 8-bit block for each gradation through the video AD converter 14 and the FF 19, the memory cycle time is equal to the cycle of the shift clock even including the access by the CPU 56. Since the memory size is four times that of the previous one, it is possible to use memory with long access times and cycle times.

CP U 56からのフレームメモリの読み出しは、8
アドレスバス96の下位アドレス(Ao AI A2 
) (具体的には図示せず)により、画面上の8ビ、ト
のうち左から何ドツトか指定する。このことによりリニ
アなアドレスとして画面上のX、Y指定が容易になる上
、1回のアクセスで任意の点のアクセスができる。さら
に、選択された8ビツトのデータはスリースティトバッ
ファ59を介してCPU56が読み込むことができる。
Frame memory reading from the CPU 56 takes 8
Lower address of address bus 96 (Ao AI A2
) (not specifically shown) to specify the number of dots from the left of the 8 bits on the screen. This makes it easy to specify X and Y on the screen as a linear address, and also allows access to any point in one access. Further, the selected 8-bit data can be read by the CPU 56 via the three-state buffer 59.

グラフィックメモリ64に関しては、単に入出力にデー
タバッファ68.スリースティトバッファ67を介して
行なうことができる。
As for the graphics memory 64, it simply uses data buffers 68 . This can be done via the three-state buffer 67.

これらのメモリのCRTによる表示のtこめ、フレーム
メモリの出力には夫々8ビツトのパラレル→シリアル変
換のシフトレジスタ45〜52が設けられており、8ビ
ツトの階調データを逐次出力することができる。そのデ
ータが高速ビテオDAコンバータ53に加えられ、アナ
ログ256階調のモノクロ映信信号がイ14られる。こ
の場合、DAコンバータとしては、セット、リングタイ
ムが数十ナノ秒の高速ビデオDAコンバータが必要であ
る。グラフィックメモリ64の2値イメージについては
、シフトレジスタ65によってグラフィックメモリ出力
101を逐次シフトして出力し、グラフィックメモリビ
デオ信号102が得られる。これらのデータとHsyn
cl言号88及びVsync信号89がビデオ混合回路
20に加えられ、それにより表示のためのビデオ信号7
6が得られ、CRT 15にデータが表示される。
8-bit parallel-to-serial conversion shift registers 45 to 52 are provided at the output of the frame memory for display on a CRT of these memories, and can output 8-bit gradation data sequentially. . The data is applied to a high-speed video DA converter 53, and an analog 256-gradation monochrome video signal is generated. In this case, the DA converter requires a high-speed video DA converter with set and ring times of several tens of nanoseconds. As for the binary image in the graphic memory 64, the graphic memory output 101 is sequentially shifted and outputted by the shift register 65, and a graphic memory video signal 102 is obtained. These data and Hsyn
cl word 88 and Vsync signal 89 are applied to video mixing circuit 20, thereby converting video signal 7 for display.
6 is obtained and the data is displayed on the CRT 15.

以上の説明でフレームメモリを中心とした画像取り込み
及びCP U 56のデータ読み込み及びCRT表示に
ついて一応ふれた。次に焦点距離調整について説明する
。通常検査用光ファイバ1′を光フアイバ支持治具2,
8によって本装置にセットした場合は、はとんど全ての
場合レンズ系の移動により焦点合わせを最適にする必要
がある。このため本検査装置システムでは自動焦点距離
調節機能が内蔵され、常に最適の焦点合わせての画像を
フレームメモリに取り込んだ状態で種々のパラメータが
測定できるようにしである。
In the above explanation, we briefly touched on image capture mainly from the frame memory, data reading by the CPU 56, and CRT display. Next, focal length adjustment will be explained. Optical fiber support jig 2,
8, it is necessary to optimize focusing by moving the lens system in almost all cases. For this reason, this inspection apparatus system has a built-in automatic focal length adjustment function, so that various parameters can be measured while always capturing an optimally focused image into the frame memory.

本検査装置システムでは一例として、以下に第6図、第
7図を参照して説明する手続で自動焦点調節を行なって
いる。第6図は、レンズ系の移動量とファイバ端面のあ
る位置での輝度微係数との関係を示すグラフで、第7図
は自動焦点調節のフせた状態から開始し、最初はNとい
う籾いステップで輝度微係数の差が逆転した点をみつけ
、その後は徐々に基本ステップをAi■かくしくN=N
÷K。
As an example, in this inspection apparatus system, automatic focus adjustment is performed by the procedure described below with reference to FIGS. 6 and 7. Figure 6 is a graph showing the relationship between the amount of movement of the lens system and the luminance differential coefficient at a certain position on the fiber end face. Find a point where the difference in luminance differential coefficients is reversed in a small step, and then gradually change the basic step to Ai ■ Thus N=N
÷K.

K:整数)。ステンピングモータ12を逆転させて行き
すぎたレンズ系を逆にもどす(A=−A、)操作をくり
返す。Nが最小ステップNm1nより小さくなった場合
は、レンズ系の位置は最適な位置(第6図のFE点に該
当)からの最小ステップの誤差以内にあるので自動焦点
調節処理を終了する。
K: integer). The operation of reversing the stamping motor 12 and returning the lens system that has gone too far (A=-A) is repeated. If N becomes smaller than the minimum step Nm1n, the position of the lens system is within the minimum step error from the optimal position (corresponding to the FE point in FIG. 6), and the automatic focus adjustment process ends.

次に、最大輝度微係数をめる処理につき説明する。第8
図(a)は、フレームメモリイメージIM上で、自動焦
点調節のための微係数演算の対象となる一次元領域(N
=0とN=ONtAxの2点間の直場合の輝度分布A、
B上の最大輝度微係数が得られる点a+bを示すグラフ
である。また、第9図は最大輝度微係数をめるフローチ
ャートである。
Next, the process of calculating the maximum brightness differential coefficient will be explained. 8th
Figure (a) shows a one-dimensional area (N
Direct brightness distribution A between the two points =0 and N=ONtAx,
It is a graph showing a point a+b on B where the maximum luminance differential coefficient is obtained. Moreover, FIG. 9 is a flowchart for calculating the maximum brightness differential coefficient.

この例ではフレームメモリイメージの水平−次元につい
て最大輝度係数をめている。自動焦点調節に依るレンズ
系の移動は、CPU56が、パラレル出力ポート54に
ステッピングモータ制御信号78を出力させることによ
り、ステッピングモータドライブ回路17に信号が加え
られステンピングモータ12が規定ステップ数だけ回転
し、その結果−軸微動装置11がスライドしてレンズ系
(対物レンズ8、結集レンズ9.赤外線ビジコンカメラ
10)を移動させる。
This example assumes a maximum brightness factor for the horizontal dimension of the frame memory image. Movement of the lens system due to automatic focus adjustment is achieved by the CPU 56 outputting a stepping motor control signal 78 to the parallel output port 54, which applies a signal to the stepping motor drive circuit 17 and rotates the stamping motor 12 by a specified number of steps. As a result, the axial fine movement device 11 slides to move the lens system (objective lens 8, focusing lens 9, infrared vidicon camera 10).

このようにして最適な焦点調節状態でフレームメモリ1
81〜138に取り込まれた画像は、ROMア ロ2に書き込まれたフに一ムウェアにより主としてRA
 M 58内に変数をおいて処理され、結果はパラレル
入出カポ−トロ1に出力され、プリンタ60に印字され
る。また、これらの指令は、キーボード66の入力によ
って行なわれパラレル入出カポ−トロ1を介して逆にC
P U 56に伝えられる。
In this way, frame memory 1 can be adjusted in the optimal focus adjustment state.
The images captured in ROMs 81 to 138 are mainly stored in RA by software written in ROM Allo 2.
Variables are placed in M58 for processing, and the results are output to parallel input/output capotro 1 and printed on printer 60. Further, these commands are inputted from the keyboard 66 and are sent back to C through the parallel input/output capotro 1.
This will be communicated to P U 56.

〔トス不全白] 以上これまで説明をおこなったこの発明に係る九7アイ
パ検査装置は、検査用ファイバからの出射光パターンを
撮像する手段として可視光から1.8μmの波長の光に
府答する赤外線ビジコンカメラを用いていた。しかしな
がら、検査用ファイバの種類により、壕だ検査対象、目
的に応じて他の、例えば可視光用ビジコン(これは波長
λ=085μmのレーザ光も撮像可能)といった撮像管
を用いても各種構造−代うメークが測定可能である。ま
た、電荷結合素子(CCD)の様な固体撮像素子を用い
ることも可能である。
[Toss Insufficient White] The 97 Eyepa inspection device according to the present invention described above uses light with a wavelength of 1.8 μm from visible light as a means for imaging the light pattern emitted from the inspection fiber. An infrared vidicon camera was used. However, depending on the type of inspection fiber, there may be trenches, or depending on the purpose of the inspection, various structures may be used. Alternative makeup can be measured. It is also possible to use a solid-state imaging device such as a charge-coupled device (CCD).

さらに、シングルモードファイバを検査する際のレーザ
光の波長λ二1.3μmの波長領域で感度のある単体の
光検出器を用いても同様な効果が得られる。そういった
光検出器を撮像手段に採用した実施例につき、以下に第
10図から第15図を参照しつつ説明する、 第1θ図は、単体の光検出器を用いた場合を表わす4シ
算式図である。検査用ファイバの端面で得られるビーム
パターンp、Pをω像するために、単体の光検出器りを
該端面と平行な面上を所定の走査タイミングで上下左右
(X、Y方向)に走査させる氾動手段が検査装置に組込
才れている。この場合、 X、Y方向のいずれを水平走
査方向と選んでもよい。この走査によって出射光・曵タ
ーンが2次元的に撮像され、@3図の実施例におけるの
と同様な信号ニ 処理の後、目的の検査結果が得られる。この場合のス次
元的な走査タイミング及び光検出SDからのイ1(号の
lIX出しクイミングは、第3図におけるCPUのルリ
御によりビジコンの光電面からの映像イd号の取出しと
同様な操作で行なわれる。
Furthermore, the same effect can be obtained by using a single photodetector that is sensitive in the wavelength region of 1.3 μm, which is the wavelength λ of the laser light when inspecting a single mode fiber. An example in which such a photodetector is used as an imaging means will be described below with reference to FIGS. 10 to 15. FIG. It is. In order to image the beam patterns p and P obtained at the end face of the inspection fiber, a single photodetector is scanned vertically and horizontally (X, Y directions) on a plane parallel to the end face at a predetermined scanning timing. Flooding means is incorporated into the inspection equipment. In this case, either the X or Y direction may be selected as the horizontal scanning direction. By this scanning, the emitted light and the wind turn are imaged two-dimensionally, and after signal processing similar to that in the embodiment shown in Fig. 3, the desired inspection results are obtained. In this case, the dimensional scanning timing and the quimming of the IIX output from the photodetection SD are the same operations as the extraction of the image IIX from the photocathode of the busicon under the control of the CPU in Fig. 3. It will be held in

z11図目1複数の光検出器1)、Dから々る一次元ア
レイを、水平又は垂直の一方向(図ではY方向)に検査
用ファイバの端面と平行な面一ヒで、所定の一次元方向
の走査タイミングで走査駆動手段により走査させる場合
の模式図である。ある位置での一次元アレイからの信号
が、所定の信JJ−取出し走査タイミング忙従い信号処
理される。このとき、フレームメモリに対応するデータ
が収容される信号処理タイミングと走査駆動手段による
機械的な走査タイミングとがCPUにより所定の制御プ
ログラム通りに実行される様検査装置が構成されている
z 11 Figure 1 Plural photodetectors 1) A one-dimensional array from D is aligned horizontally or vertically in one direction (Y direction in the figure) in a plane parallel to the end surface of the inspection fiber, with a predetermined primary It is a schematic diagram in the case of scanning by a scanning drive means at the scanning timing of the original direction. The signals from the one-dimensional array at a certain location are processed according to the predetermined signal JJ-extraction scan timing. At this time, the inspection apparatus is configured such that the signal processing timing at which the data corresponding to the frame memory is stored and the mechanical scanning timing by the scanning driving means are executed by the CPU according to a predetermined control program.

第12図は、平面状に配置された複数の光検出器により
出射光パターンを撮像する場合の模式図である。この場
合は、複数の光検出器から成る受光平面がビジコンカメ
ラの受光面に対応することになり、映像信号の取出しに
機械的な走を駆動手段は必要とされず、全て電気的な走
査方法により目的を達成し得る。この実施例において単
体の光検出器を″41数個用いる代りに電荷結合素子(
CCD)のような単体の固体撮像素子を用いることも可
能である。
FIG. 12 is a schematic diagram when an emitted light pattern is imaged by a plurality of photodetectors arranged in a plane. In this case, the light-receiving plane made up of multiple photodetectors corresponds to the light-receiving surface of the vidicon camera, and no mechanical scanning driving means is required to extract the video signal, and the entire scanning method is electrical. The purpose can be achieved by In this embodiment, instead of using several ``41'' single photodetectors, charge-coupled devices (
It is also possible to use a single solid-state imaging device such as a CCD (CCD).

第13図は、光検出器に結合されたシングルモード71
イパfを検査用光ファイバの出射側の端面近くに配置さ
せ出射光パターンp、Pを撮像する場合の模式図である
。シングルモードファイバが検査用光ファイバの出射側
の端面に面する端面を受光面と考えれば、第10図の場
合と同様に出射光パターンを撮像することが可能である
FIG. 13 shows a single mode 71 coupled to a photodetector.
It is a schematic diagram in the case where the IPA f is arranged near the end face of the output side of the optical fiber for inspection, and the output light patterns p and P are imaged. If the end face of the single mode fiber facing the output side end face of the inspection optical fiber is considered as the light receiving surface, it is possible to image the emitted light pattern in the same way as in the case of FIG.

第14図は、複数の光検出器の夫々に結合された′6を
数のシングルモードファイバf、fから構成される一次
元アレイを用いて出射光パターンを撮像する場合の模式
図である。この場合は第11図と同様な機緘的、電久的
処理で目的が達成される。上記の一次元アレイは、隣合
う同士のファイバのコア間不随をお互いが光結合しない
程度に接近させたものを用い々いと解像度が上がらない
FIG. 14 is a schematic diagram when an emitted light pattern is imaged using a one-dimensional array composed of single mode fibers f and f coupled to each of a plurality of photodetectors. In this case, the purpose is achieved by mechanical and electronic processing similar to that shown in FIG. In the one-dimensional array described above, the resolution cannot be improved unless the cores of adjacent fibers are brought close to each other to such an extent that they do not optically couple with each other.

例えば、ファイバ束を製作する際にコア間の距離を約2
0μm程度にして一次元アレイを作る。
For example, when making a fiber bundle, the distance between the cores is approximately 2
A one-dimensional array is made with a thickness of about 0 μm.

第15図は、光検出器に結合されたシングルモードファ
イバを用いて二次元的傾配置されたものを用いた場合の
模式図である。
FIG. 15 is a schematic diagram in the case of using a two-dimensional tilted arrangement using a single mode fiber coupled to a photodetector.

この場合の信号処理は第12図の場合に準じて行なわれ
る。第15図の場合は、第14図と同様各ファイバのコ
ア間隔を互いに結合がない程度に接近させて[S2置さ
れたものを製作して用いる必要がある。この実施例は、
従来のイメージファイバに相当するが、実質的にはシン
グルモードファイバのコア部分を利用する検出手段であ
るので精度(解像度)の点でけるかによい結果が得られ
る。
Signal processing in this case is performed in accordance with the case shown in FIG. In the case of FIG. 15, as in FIG. 14, it is necessary to fabricate and use a fiber in which the core spacing of each fiber is made close to the extent that no coupling occurs. This example is
Although it corresponds to a conventional image fiber, since it is a detection means that essentially utilizes the core portion of a single mode fiber, much better results can be obtained in terms of accuracy (resolution).

以上説Fy+ 1.た第10図から第15図の実施例の
場合はビジコンカメラを用いた場合に比べて次の特長が
ある。
Above theory Fy+ 1. The embodiments shown in FIGS. 10 to 15 have the following features compared to the case where a vidicon camera is used.

1)撮像管のような焼付がなく、直線性がよい。1) There is no burn-in like in image pickup tubes, and the linearity is good.

−11)7アイパイ」光検出器の場合は、上記i)に加
えて、受光面がlO/1m以下と小さく、又隣合う受光
面間隔を20μm以下程以下率さくできるだめ解像度が
撮像管又は従来のCCDを用いた場合よりよくなり、そ
の結果測定精度が向上する。
-11) In the case of a 7-eye pie photodetector, in addition to i) above, the light receiving surface is small, less than 1O/1m, and the resolution is lower than that of an image pickup tube or This is better than when using a conventional CCD, resulting in improved measurement accuracy.

第10図から第15図に示した実施例の場合にも、検査
用ファイバを収換えたり、光学系の対物レンズの倍率を
変えたりする際に焦点合せが必要であるが、第3図の実
施例の場合と同様な構成で自動焦点調節を行なわせるこ
とが出来る。すなわち、端面のパターンイメージを拡大
する光学系を検査用光ファイバの端面に対してX次元的
に移動可能な様にして自動焦点調節を行なうが、又ら d検査用光ファイバの出射側の端面を光学系に対してX
次元的に移動可能な様にして919節する。
In the case of the embodiments shown in FIGS. 10 to 15, focusing is required when exchanging the inspection fiber or changing the magnification of the objective lens of the optical system. Automatic focus adjustment can be performed with the same configuration as in the embodiment. In other words, automatic focus adjustment is performed by making the optical system that magnifies the pattern image of the end face movable in the X dimension with respect to the end face of the optical fiber for inspection. to the optical system
919 sections are made so that they can be moved dimensionally.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

この発FJ]は以」二説明した通り、実際の光伝送時と
同じ状態で光することが出来るという効果がある。また
、ビジコンカメラの1焼付」現象が様カ起らない様に配
慮しであるためその寿命が延びるという効果もある。
As explained below, this FJ has the effect of being able to emit light in the same state as during actual optical transmission. Furthermore, care has been taken to prevent the phenomenon of "one-time burn-in" of the vidicon camera, which has the effect of extending its lifespan.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

@1図はこの発明に係る光フアイバ検査装置の一実施例
を示す模式図、@2図に第1図の検査装置の構成を示す
ブロック図、第3図は第2図に示した検査装置のより詳
細なブロック図、第41″/1−は@3図のタイミング
制御回路55及びその周辺部の回路図、第5図は第4図
の回路の該当する部分の信号のタイミング図、第6図は
レンズ系の移動量とファイバ端而での輝度微係数との関
係を示すグラフ、第7図は自動焦点調節のだめのフロー
チャート、第8図(a)はフし・−ムメモリイメージ上
の一次元頭域を表わす図、第8図(b)、第8図(c)
は夫々焦点調節の際は最大輝度微係数が得られる点を示
すグラフ、第9図は最大輝度微係数をめるだめのフロー
チャート、第10図は撮僅素子として単体の光検出器を
用いた場合の模式図、第11図は複数の光検出器からな
る一次元アレイを用いた場合の模式図、第12図は平面
状に装置された複数の光検出器を用いる場合の模式図、
第13図から第15図は犬々光検田器に結合されたシン
グルモードファイバを用いる場合の模式図である。 図において LD・・・・レーデダイオード、f50・シングルモー
ドファイバ、F・・・検査用光ファイバ、BS−・ビー
ムスプリッタ、LED・・・発光ダイオード、M・・・
マイクロスコープ、IVC・・・赤外1aヒジフンカメ
ラ、Sl、 S2・・・ 支持治具、SP・・・信号処
理部、1・・・光フ1イパ、1′・・・検査用光ファイ
バ、7・・・ビームスプ本 路、DT・・・CRT表Xタイミング生成回路、FM・
・・フレームメモリ、F M W・・・フレームメモリ
書き込み制御回路、MC5・・・DC・・・CRT表示
制御回路である。 ” なお各図中同一符号は同一または相当部分を示すも
の2する。 代理人弁理士 東 島 隆 治 第6図 第7図 第8図((1) 第9図
@Figure 1 is a schematic diagram showing an embodiment of the optical fiber inspection apparatus according to the present invention, @2 Figure is a block diagram showing the configuration of the inspection apparatus shown in Figure 1, and Figure 3 is the inspection apparatus shown in Figure 2. A more detailed block diagram of 41''/1- is a circuit diagram of the timing control circuit 55 of Figure 3 and its peripheral parts, and Figure 5 is a timing diagram of signals of the corresponding part of the circuit of Figure 4. Figure 6 is a graph showing the relationship between the amount of movement of the lens system and the brightness differential coefficient at the end of the fiber, Figure 7 is a flowchart for automatic focus adjustment, and Figure 8 (a) is a graph showing the frame memory image. Figures 8(b) and 8(c) representing the one-dimensional head area of
are graphs showing the point at which the maximum brightness differential coefficient is obtained during focus adjustment, Figure 9 is a flowchart for determining the maximum brightness differential coefficient, and Figure 10 is a graph showing the point at which the maximum brightness differential coefficient is obtained, and Figure 10 is a graph showing the point at which the maximum brightness differential coefficient is obtained when adjusting the focus. FIG. 11 is a schematic diagram of a case in which a one-dimensional array consisting of a plurality of photodetectors is used, and FIG. 12 is a schematic diagram of a case in which a plurality of photodetectors arranged in a plane is used.
FIGS. 13 to 15 are schematic diagrams in the case of using a single mode fiber coupled to a dog-dog optical detector. In the figure, LD: Raded diode, F50: single mode fiber, F: inspection optical fiber, BS: beam splitter, LED: light emitting diode, M...
Microscope, IVC... Infrared 1a digital camera, Sl, S2... Support jig, SP... Signal processing section, 1... Optical fiber 1, 1'... Optical fiber for inspection, 7・・・Beamsp main path, DT...CRT table X timing generation circuit, FM・
...Frame memory, FMW...Frame memory write control circuit, MC5...DC...CRT display control circuit. ” Note that the same reference numerals in each figure indicate the same or corresponding parts2.Representative Patent Attorney Takaharu Higashijima Figure 6 Figure 7 Figure 8 ((1) Figure 9

Claims (1)

【特許請求の範囲】 (1)検査用光ファイバの一方の端面を照射するための
発光ダイオードと、前記端面からの反射像を拡大するた
めの光学系と、前記光学系からの拡大像を撮像するため
の撮像手段と、前記撮像手段からの映像信号をデジタル
信号に変換するためのアナログ/デジタルコンバータと
、前記デジタル信号を書き込むためのフレームメモリと
、前記フレームメモリの書き込み動作を制御するフレー
ムメモリ書き込み制御回路と、前記フレームメモリ内に
書き込まれたデータを用いて所定の信号処理手順により
前記拡大像の輝度に関するデータをめる制御プログラム
を内蔵するマイクロコンピュータとを具備することを特
徴とする光フアイバ検査装置。 (2)前記検査用光ファイバの他方の端面に設けられ、
その中を導波するレーザ光を発振させるしX過させるた
めに前記一方の端面近くに設けられたビームスプリッタ
とを具備することを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載の光フアイバ検査装置。 (3)前記撮像手段が赤外線ビジコンカメラであること
を特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項記載の光
フアイバ検査装置。 (4)前記撮像手段が半導体光検出器であり、前記半導
体光検出器を前記一方の端面に平行な平面に沿って所定
の走査タイミングで上下左右に走査させて前記拡大像を
撮像する走査駆動手段を具備することを特徴とする特許
請求の範囲第1項又は第2項記載の光フアイバ検査装置
。 (5)前記撮像手段が半導体光検出器とそれに結合され
たシングルモードファイバであって、前記シングルモー
ドファイバの受光面を前記一方の端面に平行な平面に沿
って所定の走査タイミングで上下左右に走査させて前記
拡大像を撮像する走査駆動手段を具備することを特徴と
する特許請求の範四箇1項又は第2項記載の光フアイバ
検査装置。 (6)前端撮像手段は複数の半導体光検出器から構成さ
れる一次元アレイ状の撮像手段であって、前記−次元ア
レイ状の撮像手段をその一次元の方向と垂直な方向に前
記一方の端面lこ平行な平面に沿って所定の走査タイ主
ングで移動させて前記拡大像を撮像する走査駆動手段を
具備することを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第
2項記載の光フアイバ検査装置。 (7)前記撮像手段は半導体光検出器とそれに結合され
たシングルモードファイバの複数の組から構成される一
次元アレイ状の撮像手段であって、前記−次元アレイ状
の撮像手段をその一次元の方向と垂直な方向に前記一方
の端面に平行な平面に沿って所定の走査タイミングで移
動させて前記拡大像を撮像する走査駆動手段を具備する
ことを特徴とする特許請求の範囲@1項又は第2項記載
の光フアイバ検査装置。 (8)前記撮像手段は複数の半導体光検出器を平面状に
配置させた撮像手段であって、Mil記拡大像を所定の
走査タイミングで撮像することを特徴とする特許請求の
範囲第1項又は第2項記載の光フアイバ検査装置。 (9)前記撮像手段は半導体光検出器とそれに結合され
たシングルモードファイバの複数の組を平面状に配置さ
せた撮像手段であって、前記拡大像を所定の走査タイミ
ングで撮像することを特徴とする特許請求の範囲第1項
又は第2項記載の光フアイバ検査装置。 Q0前記拡大像を撮像する際の焦点合わせを自動的に行
う様8次元的に移動可能に構成された自動焦点調節機構
を具備することを特徴とする特許請求の範囲第1項又は
第2項記載の光フアイバ検査装置。 0】)前記自動焦点調節機構は、前記光学系を前記一方
の端面に対して3次元的に移動可能に構成されたもので
あることを特徴とする特許請求の範囲第10項記載の光
フアイバ検査装置。 (6)前記自動焦点調節機構は、前記一方の端面を前記
光学系に対して8次元的(ζ移動可能に構成されたもの
であることを特徴とする特許請求の範囲第10項記載の
光ファイ)<検査装置。 〔ン人−F 哨ζ 色 〕
[Scope of Claims] (1) A light emitting diode for illuminating one end face of an optical fiber for inspection, an optical system for enlarging a reflected image from the end face, and an image capturing the enlarged image from the optical system. an analog/digital converter for converting a video signal from the imaging means into a digital signal, a frame memory for writing the digital signal, and a frame memory for controlling the writing operation of the frame memory. An optical system comprising: a write control circuit; and a microcomputer containing a control program that uses the data written in the frame memory to obtain data regarding the brightness of the enlarged image through a predetermined signal processing procedure. Fiber inspection equipment. (2) provided on the other end surface of the inspection optical fiber;
An optical fiber inspection apparatus according to claim 1, further comprising a beam splitter provided near the one end face for oscillating and passing a laser beam guided therein. . (3) The optical fiber inspection apparatus according to claim 1 or 2, wherein the imaging means is an infrared vidicon camera. (4) The imaging means is a semiconductor photodetector, and a scanning drive for capturing the enlarged image by scanning the semiconductor photodetector vertically and horizontally at a predetermined scanning timing along a plane parallel to the one end surface. An optical fiber inspection device according to claim 1 or 2, characterized in that it comprises means. (5) The imaging means is a semiconductor photodetector and a single-mode fiber coupled thereto, and the light-receiving surface of the single-mode fiber is scanned vertically, horizontally, and vertically at predetermined scanning timing along a plane parallel to the one end surface. The optical fiber inspection apparatus according to claim 4, characterized in that it comprises a scanning drive means for scanning and capturing the enlarged image. (6) The front end imaging means is a one-dimensional array-like imaging means composed of a plurality of semiconductor photodetectors, and the front-end imaging means is a one-dimensional array-like imaging means that is arranged in a direction perpendicular to the one-dimensional direction of the one-dimensional array. The light according to claim 1 or 2, further comprising a scanning drive means for capturing the enlarged image by moving it with a predetermined scanning direction along a plane parallel to the end surface l. Fiber inspection equipment. (7) The imaging means is a one-dimensional array-like imaging means composed of a plurality of sets of semiconductor photodetectors and single mode fibers coupled thereto, and the -dimensional array-like imaging means is Claims @Claim 1, further comprising a scanning drive means for capturing the enlarged image by moving it at a predetermined scanning timing along a plane parallel to the one end surface in a direction perpendicular to the direction of Or the optical fiber inspection device according to item 2. (8) The imaging means is an imaging means in which a plurality of semiconductor photodetectors are arranged in a planar manner, and the imaging means is characterized in that the image is taken at a predetermined scanning timing. Or the optical fiber inspection device according to item 2. (9) The imaging means is an imaging means in which a plurality of sets of semiconductor photodetectors and single mode fibers coupled thereto are arranged in a plane, and the enlarged image is taken at a predetermined scanning timing. An optical fiber inspection device according to claim 1 or 2. Q0 Claims 1 or 2 include an automatic focus adjustment mechanism configured to be movable in eight dimensions so as to automatically perform focusing when capturing the enlarged image. The optical fiber inspection device described. 0]) The optical fiber according to claim 10, wherein the automatic focus adjustment mechanism is configured to be able to move the optical system three-dimensionally with respect to the one end surface. Inspection equipment. (6) The automatic focusing mechanism is configured to be able to move the one end surface eight-dimensionally (ζ) with respect to the optical system. Phi) <Inspection equipment. [N person-F color]
JP17556983A 1983-09-22 1983-09-22 Optical fiber inspector Pending JPS6067833A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17556983A JPS6067833A (en) 1983-09-22 1983-09-22 Optical fiber inspector

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17556983A JPS6067833A (en) 1983-09-22 1983-09-22 Optical fiber inspector

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6067833A true JPS6067833A (en) 1985-04-18

Family

ID=15998369

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17556983A Pending JPS6067833A (en) 1983-09-22 1983-09-22 Optical fiber inspector

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6067833A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006021270A (en) * 2004-07-07 2006-01-26 Mitsui High Tec Inc Lateral table feeding mechanism of plane grinding machine
JP2016125885A (en) * 2014-12-26 2016-07-11 住友電気工業株式会社 Method of measuring optical fiber structure
WO2017145629A1 (en) * 2016-02-26 2017-08-31 株式会社フジクラ Multi-core fiber cross talk measuring method and measuring apparatus
JP2017156335A (en) * 2016-02-26 2017-09-07 株式会社フジクラ Multi-core fiber cross talk measuring method and measuring apparatus

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006021270A (en) * 2004-07-07 2006-01-26 Mitsui High Tec Inc Lateral table feeding mechanism of plane grinding machine
JP2016125885A (en) * 2014-12-26 2016-07-11 住友電気工業株式会社 Method of measuring optical fiber structure
WO2017145629A1 (en) * 2016-02-26 2017-08-31 株式会社フジクラ Multi-core fiber cross talk measuring method and measuring apparatus
JP2017156335A (en) * 2016-02-26 2017-09-07 株式会社フジクラ Multi-core fiber cross talk measuring method and measuring apparatus
CN107709954A (en) * 2016-02-26 2018-02-16 株式会社藤仓 The crosstalk assay method and measure device of multi-core fiber
US10444113B2 (en) 2016-02-26 2019-10-15 Fujikura Ltd. Method of measuring crosstalk of multicore fiber and apparatus of measuring the same
CN107709954B (en) * 2016-02-26 2019-11-05 株式会社藤仓 The crosstalk measuring method and measurement device of multi-core optical fiber

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7053395B2 (en) Wafer defect detection system with traveling lens multi-beam scanner
US5768461A (en) Scanned remote imaging method and system and method of determining optimum design characteristics of a filter for use therein
US5621532A (en) Laser scanning microscope utilizing detection of a far-field diffraction pattern with 2-dimensional detection
JP2012177697A (en) Conversion method from scanner image coordinates of rare cell into microscope coordinates using reticle mark on sample medium
US4702607A (en) Three-dimensional structure viewer and method of viewing three-dimensional structure
US7923672B2 (en) Process and devices for optically sensing a specimen with a large depth of field
JPS6067833A (en) Optical fiber inspector
US5255069A (en) Electro-optical interferometric microdensitometer system
US11885947B2 (en) Lattice light sheet microscope and method for tiling lattice light sheet in lattice light sheet microscope
JPH09197280A (en) Scanning linearlity correcting method for scanning type optical microscope
US11333870B2 (en) Large-angle optical raster scanning system for deep tissue imaging
JP4303465B2 (en) Confocal microscope
JP2000097881A (en) X-ray inspection device, image processor for x-ray inspection, and storage medium with image processing program for x-ray inspection stored
JPS58215524A (en) Device for determining refractive-index form of optical fiber and optical-fiber mother material
JP2001242070A (en) Photographing device
JP2008032995A (en) Confocal microscope
Gesley et al. A high throughput spectral image microscopy system
JP2001083098A (en) Optical surface inspection mechanism and device
KR100187016B1 (en) Auto image quality test method and instrument for lcd module
JP4694137B2 (en) Scanning laser microscope, control method, and control program
Kibblewhite et al. The automated photographic measuring facility at Cambridge.
JPH09304700A (en) Optical scanning type microscope
JP4941710B2 (en) Shape measuring device and confocal microscope
JPH03138507A (en) Method for measuring three-dimensional form
CN1037026C (en) Method and arrangement for measuring by making use optical and electric means with submicron resolution factor