JPS6066122A - 放射温度計の放射率補正方法 - Google Patents
放射温度計の放射率補正方法Info
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- JPS6066122A JPS6066122A JP58173855A JP17385583A JPS6066122A JP S6066122 A JPS6066122 A JP S6066122A JP 58173855 A JP58173855 A JP 58173855A JP 17385583 A JP17385583 A JP 17385583A JP S6066122 A JPS6066122 A JP S6066122A
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- JP
- Japan
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- radiation thermometer
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 22
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
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- 210000004185 liver Anatomy 0.000 description 1
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- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/80—Calibration
- G01J5/802—Calibration by correcting for emissivity
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、放射温度計の放射率補正方法に関する０
放射温度計は物体からの元の放射エネルギーを測定する
ことで、その物体の絶対ｍ度をめる温度計である。この
放射エネルギーは物体の絶対温度とともに、その物体の
放射率ｅにも依存している。すなわち、放射温度計は物
体の放射率εが正しくめられているときに、その物体の
温度を精度よくめることができるのである。従来の放射
温度計は、放射率εの設定のための調節機構を設け、マ
ニュアルにてこのεを調整することでこの問題に対処し
てきた。しかしながらよく知られているように、放射率
εはその物体の温度の関数でもある。このため物体の真
の温度と測定温度が一致するように放射率εを調整した
としても、調整した温度以外の温度では、放射率εの温
、度依存性の影響を受けるため、真の温度と測定温度と
の間に誤差が生じ、正確な温度がめられなかった。
ことで、その物体の絶対ｍ度をめる温度計である。この
放射エネルギーは物体の絶対温度とともに、その物体の
放射率ｅにも依存している。すなわち、放射温度計は物
体の放射率εが正しくめられているときに、その物体の
温度を精度よくめることができるのである。従来の放射
温度計は、放射率εの設定のための調節機構を設け、マ
ニュアルにてこのεを調整することでこの問題に対処し
てきた。しかしながらよく知られているように、放射率
εはその物体の温度の関数でもある。このため物体の真
の温度と測定温度が一致するように放射率εを調整した
としても、調整した温度以外の温度では、放射率εの温
、度依存性の影響を受けるため、真の温度と測定温度と
の間に誤差が生じ、正確な温度がめられなかった。
本発明は、従来の放射Ｗ度肝の温度出力に特定の信号処
理を施し、この放射率の温度依存性の影響をなくすこと
で、放射温度計の測定精度を高める補正方法を提供する
ことを目的としている。
理を施し、この放射率の温度依存性の影響をなくすこと
で、放射温度計の測定精度を高める補正方法を提供する
ことを目的としている。
第１図は１本発明の補正方法が適用される放射温度計を
示すもので、丙申の符号１は温度が測定されるべき被測
定物体、２は放射温度計、６は本発明の放射率補正方法
を実行する信号処理装置を示し、Ｒは被測定物体の温度
を、Ｔは放射ｍ度肝の測定温度の出力を、Ｓは信号処理
装置によってめられた被測定物体の温度を表わす。
示すもので、丙申の符号１は温度が測定されるべき被測
定物体、２は放射温度計、６は本発明の放射率補正方法
を実行する信号処理装置を示し、Ｒは被測定物体の温度
を、Ｔは放射ｍ度肝の測定温度の出力を、Ｓは信号処理
装置によってめられた被測定物体の温度を表わす。
次に本発明の信号処理の内容について説明する。
本発明では、前もっていくつかの点で被測定物体の真の
温度Ｒｉを熱電対等の温度計で測定するとともに、その
ときの放射１変針の測定温度Ｔｉをめることで、第２因
に示すようなＲとＴの関係を得ておく。前述したように
、放射率εが各温度毎で正しく設定されているならば、
第２図の破線で示すようにＲｉとＴｉは等しくなるが、
放射率εがある値で固定されているならばｅの温度依存
性によりＲ１とＴｉは等しい値ではなくなる。第２図の
例ではＴ ｓ （＝ Ｒｓ ）の温度で放射率εが正し
く設足されていることを示す。
温度Ｒｉを熱電対等の温度計で測定するとともに、その
ときの放射１変針の測定温度Ｔｉをめることで、第２因
に示すようなＲとＴの関係を得ておく。前述したように
、放射率εが各温度毎で正しく設定されているならば、
第２図の破線で示すようにＲｉとＴｉは等しくなるが、
放射率εがある値で固定されているならばｅの温度依存
性によりＲ１とＴｉは等しい値ではなくなる。第２図の
例ではＴ ｓ （＝ Ｒｓ ）の温度で放射率εが正し
く設足されていることを示す。
第２図の信号処理装置３０機能は、放射温度針の測定温
度Ｔがめられたとき、第３図に示すような一実施例のフ
ローチャートに従ってこのＴが前もって分割されたどの
［Ｔ１．Ｔｉ十□〕に属するかをめるとともに、下式に
従って演算される温度Ｓを出力させる。
度Ｔがめられたとき、第３図に示すような一実施例のフ
ローチャートに従ってこのＴが前もって分割されたどの
［Ｔ１．Ｔｉ十□〕に属するかをめるとともに、下式に
従って演算される温度Ｓを出力させる。
Ｒｉ＋Ｉ Ｒｉ
＝Ｔｉ＋、−０（Ｔ−Ｔｉ ） 十Ｒｉ ・・・（υす
なわち、いくつかの点でめられたＲとＴの関係を直線補
間させることで、被測定物体の真の温度Ｒに近似する温
度Ｓを演算によりめるのである。なお第３図に示したフ
ローチャートにおいて。
なわち、いくつかの点でめられたＲとＴの関係を直線補
間させることで、被測定物体の真の温度Ｒに近似する温
度Ｓを演算によりめるのである。なお第３図に示したフ
ローチャートにおいて。
どの区間に属するかの識別アルゴリズムはこれに限られ
るものではない。
るものではない。
第４図にこのような補正を実行する信号処理装置のブロ
ック構成図を示す。インターフェース１１は放射温変態
の測定温度Ｔを取り込むための機能ヲ有シ、マイクロコ
ンピュータ１２は第３図に示すフローチャートを実行す
る。出力回路１６は演算によりめられた温度Ｓを外部装
置へ接続するための回路であり、Ｒｉ／Ｔｉ入力装置１
４は前もって実験によりめられたＲｉとＴｉの関係を示
すブータラマイクロコンピュータ１２に入力する。
ック構成図を示す。インターフェース１１は放射温変態
の測定温度Ｔを取り込むための機能ヲ有シ、マイクロコ
ンピュータ１２は第３図に示すフローチャートを実行す
る。出力回路１６は演算によりめられた温度Ｓを外部装
置へ接続するための回路であり、Ｒｉ／Ｔｉ入力装置１
４は前もって実験によりめられたＲｉとＴｉの関係を示
すブータラマイクロコンピュータ１２に入力する。
このように本発明は、前もっていくつかの点における被
測定物体の真の温度Ｒｉとそのときの放射温展計の測定
温度Ｔｉを実験により調べておき。
測定物体の真の温度Ｒｉとそのときの放射温展計の測定
温度Ｔｉを実験により調べておき。
任意の温度における放射温度劇の測定温度Ｔがめられた
とき、上記区間を直線補間することで被測定物体の真の
温度に近似する被測定物体の温度Ｓを演算によりめるも
のである。
とき、上記区間を直線補間することで被測定物体の真の
温度に近似する被測定物体の温度Ｓを演算によりめるも
のである。
本発明は、被測定物体の温度が順次変化し工いくような
プロセス等で放射温度計を使用する際に生ずる、放射率
の湯度変化による測定誤差を取り除くための極めて有効
な補正手段を提供するものである。
プロセス等で放射温度計を使用する際に生ずる、放射率
の湯度変化による測定誤差を取り除くための極めて有効
な補正手段を提供するものである。
第１図は本発明の補正方法が適用される放射温度計のブ
ロック図、第２図は絶対温ＦＴと放射率ｅとの関係を示
すグラフ、第３図は信号処理装置の動作を示すフローチ
ャート％第４囚は第１図に示した信号処理装置の構成を
示すブロック図である０ １・・・物体、２・・・放射温度計、６・・・信号処理
装置、１１・・・インターフェース、１２・・・マイク
ロコンピュータ、１６・・・出力回路、１４・・・ｋｌ
、ｉ／Ｔ １人力装置。 第１図 第 ２ 図
ロック図、第２図は絶対温ＦＴと放射率ｅとの関係を示
すグラフ、第３図は信号処理装置の動作を示すフローチ
ャート％第４囚は第１図に示した信号処理装置の構成を
示すブロック図である０ １・・・物体、２・・・放射温度計、６・・・信号処理
装置、１１・・・インターフェース、１２・・・マイク
ロコンピュータ、１６・・・出力回路、１４・・・ｋｌ
、ｉ／Ｔ １人力装置。 第１図 第 ２ 図
Claims (1)
- 相互に異なる複数の点で真の温度とその温度における放
射温度計の測定温度との関係をあらかじめめておき、測
定時に上記放射温度計から得られた測定値が与えられた
ときに、上記関係を直線補間することで上記被測定物体
の真の温度に近似する温度を演算によりめることを特徴
とする放射温度ご十の放射率補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58173855A JPS6066122A (ja) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | 放射温度計の放射率補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58173855A JPS6066122A (ja) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | 放射温度計の放射率補正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6066122A true JPS6066122A (ja) | 1985-04-16 |
Family
ID=15968394
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58173855A Pending JPS6066122A (ja) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | 放射温度計の放射率補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6066122A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115283456A (zh) * | 2022-10-09 | 2022-11-04 | 冠县仁泽复合材料有限公司 | 热镀锌钢板在线温度检测方法和生产工艺 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5269371A (en) * | 1975-12-07 | 1977-06-09 | Seiichi Okuhara | Twoocolor thermometer |
| JPS5651631A (en) * | 1979-10-02 | 1981-05-09 | Chiyou Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai | Measuring instrument for surface temperature distribution |
-
1983
- 1983-09-20 JP JP58173855A patent/JPS6066122A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5269371A (en) * | 1975-12-07 | 1977-06-09 | Seiichi Okuhara | Twoocolor thermometer |
| JPS5651631A (en) * | 1979-10-02 | 1981-05-09 | Chiyou Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai | Measuring instrument for surface temperature distribution |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115283456A (zh) * | 2022-10-09 | 2022-11-04 | 冠县仁泽复合材料有限公司 | 热镀锌钢板在线温度检测方法和生产工艺 |
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