JPS6057983A - Photoconductive member - Google Patents

Photoconductive member

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JPS6057983A
JPS6057983A JP58166149A JP16614983A JPS6057983A JP S6057983 A JPS6057983 A JP S6057983A JP 58166149 A JP58166149 A JP 58166149A JP 16614983 A JP16614983 A JP 16614983A JP S6057983 A JPS6057983 A JP S6057983A
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恵志 斉藤
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大貫 幸彦
Shigeru Ono
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    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/08Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors

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Abstract

PURPOSE:To obtain the titled photoconductive member of total environment type having stabilized electric, optical and photoconductive characteristics at all times and also having excellent photosensitivity on the long wave side and optical fatigue resistance by a method wherein the condition of distribution of Ge atoms in the first layer region of a photoreceptive layer is unevenly formed in layer thickness direction, and a substance which controls condutivity is contained in the first layer region. CONSTITUTION:A photoreceptive layer 102 has the layer construction wherein the first layer region 103 consisting of a-Si(H, X)[a-SiGe(H, X)] containing Ge atoms and the second layer region 104 consisting of a-si (H, X) and having photoconductivity are laminated successively from the side of supporting member 101. The germanium atoms to be contained in the first layer region 103 are continuously formed in the layer thickness direction of the first layer region 103, and they are contained in the first layer region 103 in such a manner that they are more abundantly distributed on the side of the supporting member 101 than the side 105 which is reverse to the side where the supporting member 101 is provided. In this photoconductive member 100, a substance C which controls conductivity is contained at least in the first layer region 103, and the desired conductive characteristics are given to the first layer region 103.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、光(ここでは広義の光で、紫外光線。[Detailed description of the invention] The present invention is based on light (here, light in a broad sense, ultraviolet light).

可視光線、赤外光線、X線、γ線等を示す)の様な電磁
波に感受性のある光導電部材に関する。
The present invention relates to photoconductive members that are sensitive to electromagnetic waves such as visible light, infrared light, X-rays, gamma rays, etc.

固体撮像装置、或いは像形成分野における電子写真用像
形成部材や原稿読取装置における光導電層を形成する光
導電材料としては、高感度で、8N比〔光電流(I、)
 /暗電流(Id) )が高く、照射する電磁波のスペ
クトル特性にマツチングした吸収スペクトル特性を有す
ること、光応答性が速く、所望の暗抵抗値を有すること
、使用時において人体に対して無害であること、更には
固体層像装置においては、残像を所定時間内に容易に処
理することができること等の特性が要求される。殊に、
事務機としてオフィスで使用される電子写真装置内に組
込まれる電子写真用像形成部材の場合には、上記の使用
時における無害性は重要な点である。
As a photoconductive material for forming a photoconductive layer in a solid-state imaging device, an electrophotographic image forming member in the image forming field, or a document reading device, it is highly sensitive and has a photocurrent (I) of 8N ratio [photocurrent (I)].
/dark current (Id)), has absorption spectrum characteristics that match the spectrum characteristics of the electromagnetic waves to be irradiated, has fast photoresponsiveness, has a desired dark resistance value, and is harmless to the human body during use. In addition, solid-state imaging devices are required to have characteristics such as being able to easily dispose of afterimages within a predetermined period of time. Especially,
In the case of an electrophotographic imaging member incorporated into an electrophotographic apparatus used in an office as a business machine, the above-mentioned harmlessness during use is an important point.

この様な点に立脚して最近注目きれている光導電材料に
アモルファスシリコン(以後a−8iと表記す)があり
、例えば、独国公開第2746967号公報、同第28
55718号公報には電子写真用像形成部材への応用、
独国公開第2933411号公報には光電変換読取装置
への応用が記載されている。
Based on this point, amorphous silicon (hereinafter referred to as a-8i) is a photoconductive material that has recently attracted attention.
No. 55718 describes application to electrophotographic image forming members;
DE 2933411 describes an application to a photoelectric conversion reader.

しかしながら、従来のa−8lで構成された光導電層を
有する光導電部材は、暗抵抗値、光感度。
However, the conventional photoconductive member having a photoconductive layer composed of A-8L has a low dark resistance value and a low light sensitivity.

光応答性等の電気的、光学的、光導電的特性、及び耐湿
性等の使用環境特性の点、更には経時的安定性の点にお
いて、結合的な特性向上を計る必要があるという更に改
良される可き点が存するのが実情である。
Further improvements are required in terms of electrical, optical, and photoconductive properties such as photoresponsiveness, use environment properties such as moisture resistance, and stability over time. The reality is that there are points that could be made.

例えば、電子写真用像形成部材に適用した場合に、高光
感度化、高暗抵抗化を同時に計ろうとすると、従来にお
いては、その使用時において残留電位が残る場合が度々
観測され、この種の光4電部材は長時間繰返し使用し続
けると、繰返し使用による疲労の蓄積が起って、残像が
生ずる所謂ゴースト現象を発する様になる、或いは、高
速で繰返し使用すると応答性が次第に低下する等の不都
合な点が生ずる場合が少なくなかった。
For example, when applied to an electrophotographic image forming member, when trying to achieve high photosensitivity and high dark resistance at the same time, in the past, it was often observed that residual potential remained during use. When 4-electric components are used repeatedly for a long period of time, fatigue accumulates due to repeated use, resulting in the so-called ghost phenomenon that causes afterimages, or when used repeatedly at high speeds, the response gradually decreases. There were many cases where inconveniences occurred.

更には、a−81は可視光領域の短波長側に較べて、長
波長側の波長領域よりも長い波長領域の吸収係数が比較
的小さく、現在実用化されている半導体レーザとのマツ
チングに於いて、また通常使用されているハロダンラン
プや螢光灯を光源とする場合、長波長側の元金有効に使
用し得ていないという点に於いて、夫々改良される余地
が残っている。
Furthermore, a-81 has a relatively smaller absorption coefficient in the long wavelength region than in the short wavelength region of the visible light region, which makes it difficult to match with semiconductor lasers currently in practical use. Furthermore, when a commonly used halodan lamp or fluorescent lamp is used as a light source, there remains room for improvement in that the source material on the longer wavelength side cannot be used effectively.

又、別には、照射される光が光導電層中に於いて充分吸
収されずに支持体に到達する光の倉が多くなると、支持
体自体が光導電層を透コ謁して来る光に対する反射率が
高い場合には、光導電層内に於いて多重反射による干渉
が起って、画像の「Mヶ」が生ずる一要因となる。
Additionally, if the amount of light that is irradiated is not absorbed sufficiently in the photoconductive layer and reaches the support, the support itself will absorb more of the light that passes through the photoconductive layer. When the reflectance is high, interference due to multiple reflections occurs within the photoconductive layer, which is one of the causes of "M" in the image.

この影醤は、解像度を上ける為に照射スポットを小さく
する程大きくなり、殊に半導体レーザを光源とする場合
には大きな問題となっている。
This shadow becomes larger as the irradiation spot is made smaller in order to improve the resolution, and it becomes a big problem especially when a semiconductor laser is used as the light source.

更に、a−8i材料で光導電層全構成する場合には、そ
の電気的、光導電的特性の改良を計るために水素原子或
いは弗素原子等のハロゲン原子が、及び電気伝導型の制
御のために硼素原子や燐原子等が、或いはその他の特性
改良のために他の原子が、各々構成原子として光導電層
中に含有はれるが、これ等の構成原子の含有の仕方如何
によっては、形成した層の電気的或いは光導電的特性に
問題が生ずる場合がるる。
Furthermore, when the entire photoconductive layer is composed of a-8i material, halogen atoms such as hydrogen atoms or fluorine atoms are added to improve the electrical and photoconductive properties, and to control the electrical conductivity type. In addition, boron atoms, phosphorus atoms, etc., or other atoms to improve properties, are contained in the photoconductive layer as constituent atoms, but depending on how these constituent atoms are contained, the formation Problems may arise with the electrical or photoconductive properties of the applied layer.

即ち、例えば、形成した光導N層中に光照射に(5) よって発生したフォトキャリアの該層中での寿命が充分
でないこと、或いは暗部において、支持体側よりの電荷
の注入の阻止が充分でないこと等が生ずる場合が少なく
ない。
That is, for example, the lifetime of photocarriers generated in the formed photoconductive N layer due to light irradiation (5) is not sufficient, or the injection of charge from the support side is not sufficiently prevented in the dark area. There are many cases where this happens.

更には、層厚が十数μ以上になると、層形成用の真空堆
積室よシ取シ出した後、空気中での放置時間の経過と共
に、支持体表面からの層の浮きや剥離、或いは層に亀裂
が生ずる等の現象を引起し勝ちであった。この功、象は
、殊に支持体が、通常電子写真分野に於いて使用されて
いるドラム状支持体の場合に多く起る等、経時的安定性
の点に於いて解決される可き点がある。
Furthermore, when the layer thickness exceeds 10-odd microns, the layer may lift or peel off from the surface of the support as time passes after it is left in the air after being removed from the vacuum deposition chamber for layer formation. This tends to cause phenomena such as cracks in the layers. This problem often occurs especially when the support is a drum-shaped support commonly used in the field of electrophotography, and there are issues that need to be resolved in terms of stability over time. There is.

従ってa−8i材料そのものの特性改良が計られる一方
で、光導電部材を設計する際に上記した様な問題の総て
が解決される様に工夫される必要がある。
Therefore, while efforts are being made to improve the properties of the a-8i material itself, efforts must be made to solve all of the above-mentioned problems when designing photoconductive members.

本発明は、上記の諸点に鑑み成されたもので、a−8i
に就て電子写真用像形成部材や固体撮像装置、読取装置
等に使用される光導電部材としての適用4・十とその応
用性という観点から総括的に鋭意(6) 研究検討を続けた結果、シリコン原子を母体とし、水素
原子(H)又はハロゲン原子(X)のいずれか一方を少
なくとも含有するアモルファス羽村、所謂水素化アモル
ファスシリコン、ハロゲン化アモルファスシリコン、或
いはハロゲン含有水素化アモルファスシリコン〔以後こ
れ等の総称的表記として[a−81()I、X) Jを
使用する〕から構成され、光導電性を示す光受容層を有
する光導電部材の層構成を、以後に説明される様に特定
化して設計されて作成された光導電部材は、実用上著し
く優れた特性を示すばかりでな〈従来の光導電部材と較
べてみてもあらゆる点において凌駕していること、殊に
電子写真用の光導電部材として著しく優れた特性を有し
ていること、及び長波長側に於ける吸収スペクトル特性
に優れていることを見出した点に基いている。
The present invention has been made in view of the above points, and is
As a result of continued comprehensive research and study from the viewpoint of application as a photoconductive member used in electrophotographic image forming members, solid-state imaging devices, reading devices, etc., and its applicability. , amorphous Hamura which has a silicon atom as a matrix and contains at least either a hydrogen atom (H) or a halogen atom (X), so-called hydrogenated amorphous silicon, halogenated amorphous silicon, or halogen-containing hydrogenated amorphous silicon [hereinafter referred to as "hydrogenated amorphous silicon"] The layer structure of a photoconductive member having a photoreceptive layer exhibiting photoconductivity is as explained below Photoconductive materials that have been specially designed and produced not only exhibit extremely superior properties in practical use, but also exceed conventional photoconductive materials in all respects, especially for use in electrophotography. This is based on the discovery that it has extremely excellent properties as a photoconductive member, and that it has excellent absorption spectrum properties on the long wavelength side.

本発明は電気的、光学的、光導電的特性が常時安定して
いて、殆んど使用環境に制限を受けない全環境型であシ
、長波長側の光感度特性に優れると共に耐光疲労に著し
く長け、繰返し使用に際しても劣化現象を起さず、残留
電位が全く又は殆んど観測されない光導電部材を提供す
ることを主たる目的とする。
The present invention has stable electrical, optical, and photoconductive properties at all times, is an all-environment type with almost no restrictions on usage environments, and has excellent photosensitivity on the long wavelength side and is resistant to light fatigue. The main object of the present invention is to provide a photoconductive member that is extremely durable, does not exhibit any deterioration phenomenon even after repeated use, and has no or almost no residual potential observed.

本発明の別の目的は、全可視光域に於いて光感度が高く
、殊に半導体レーザとのマツチングに優れ、且つ光応答
の速い光導電部材を提供することである。
Another object of the present invention is to provide a photoconductive member that has high photosensitivity in the entire visible light range, has excellent matching with semiconductor lasers in particular, and has fast photoresponse.

本発明の他の目的は、支持体上に設けられる層と支持体
との間や積層される層の各層間に於ける密着性に優れ、
構造配列的に緻密で安定的であシ、層品質の高い光導電
部材を提供することである。
Another object of the present invention is to have excellent adhesion between a layer provided on a support and the support and between each layer of laminated layers,
It is an object of the present invention to provide a photoconductive member that is dense and stable in terms of structural arrangement and has high layer quality.

本発明の他の目的は、電子写真用の像形成部材として適
用させた場合、通常の電子写真法が極めて有効に適用さ
れ得る程度に静電像形成の為の帯電処理の際の電荷保持
能が充分あシ、且つ多湿雰囲気中でもその特性の低下が
殆んど観測されない優れた電子写真特性を有する光導電
部材を提供することである。
Another object of the present invention is that when applied as an image forming member for electrophotography, the present invention has a charge retention property during charging processing for electrostatic image formation to such an extent that ordinary electrophotography can be applied very effectively. It is an object of the present invention to provide a photoconductive member which has excellent electrophotographic properties, which are sufficiently thick and whose properties hardly deteriorate even in a humid atmosphere.

本発明の更に他の目的は、濃度が高く、ハーフトーンが
鮮明に出て且つ解像度の高い、高品質画像を得る事が宕
易に出来る電子写真用の光導電部材を提供することであ
る。
Still another object of the present invention is to provide a photoconductive member for electrophotography that can easily produce high-quality images with high density, clear halftones, and high resolution.

本発明の更にもう1つの目的は、高光感度性。Yet another object of the present invention is high photosensitivity.

高SN比特性及び支持体との間に良好な電気的接触性を
有する光導電部材を提供することでもある。
It is also an object to provide a photoconductive member having high signal-to-noise ratio characteristics and good electrical contact with the support.

本発明の光導電部材は、光導電部材用の支持体と、シリ
コン原子とダルマニウム原子とを含む非晶質材料で構成
された第1の層領域およびシリコン原子を含む非晶質材
料で構成され光導電性を示す第2の層領域とが前記支持
体側よシj@に設けられた層構成の光受容層とを有し、
前記第1の層領域中に於けるゲルマニウム原子の分布状
態が層厚方向に不均一であって、前記第1の層領域に伝
導性を支配する物質が含有され、前記光受容j−には炭
素原子が含有されている事を特徴とする。
The photoconductive member of the present invention comprises a support for the photoconductive member, a first layer region made of an amorphous material containing silicon atoms and dalmanium atoms, and an amorphous material containing silicon atoms. a second layer region exhibiting photoconductivity and a photoreceptive layer having a layered structure provided on the side of the support,
The distribution state of germanium atoms in the first layer region is non-uniform in the layer thickness direction, the first layer region contains a substance that controls conductivity, and the light receiving j- It is characterized by containing carbon atoms.

上記した様な層構成を取る様鈍して設計された本発明の
光導電部材は、前記した諸間匙の総てを解決し得、極め
て優れた電気的、光学的、光導電的特性、電気的耐圧性
及び使用環境特性を示す。
The photoconductive member of the present invention, which is carefully designed to have the above-mentioned layer structure, can solve all of the above-mentioned problems, and has extremely excellent electrical, optical, and photoconductive properties. Indicates electrical voltage resistance and operating environment characteristics.

殊に、電子写真用像形成部材として適用させた(9) 場合には、画像形成への残留電位の影響が全くなく、そ
の電気的特性が安定しておシ高感度で、高SN比を有す
るものであって、耐光疲労、繰返し使用特性に長け、濃
度が高く、ハーフトーンが鮮明に出て、且つ解像度の高
い、高品質の画像を安定して繰返し得ることができる。
In particular, when applied as an electrophotographic image forming member (9), there is no influence of residual potential on image formation, its electrical characteristics are stable, and it has high sensitivity and a high signal-to-noise ratio. It has excellent light fatigue resistance and repeated use characteristics, and can stably and repeatedly produce high-quality images with high density, clear halftones, and high resolution.

又、本発明の光導電部材は支持体上に形成される光受容
層が、層自体が強靭であって、且つ支持体との密着性に
著しく優れており、高速で長時間連続的に繰返し使用す
ることができる。
In addition, the photoconductive member of the present invention has a photoreceptive layer formed on a support, which is strong and has excellent adhesion to the support, and can be continuously repeated at high speed for a long time. can be used.

更に、本発明の光導電部材は、全可視光域に於いて光感
度が高く、殊に半導体レーザとのマツチングに優れ、且
つ光応答が速い。
Further, the photoconductive member of the present invention has high photosensitivity in the entire visible light range, is particularly excellent in matching with semiconductor lasers, and has fast photoresponse.

(10) 以下、図面に従って、本発明の光導電部材に就て詳細に
説明する。
(10) Hereinafter, the photoconductive member of the present invention will be explained in detail with reference to the drawings.

第1図は、本発明の第1の実施態様例の光導電部材の層
構成を説明するために模式的に示した模式的構成図であ
る。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram schematically shown to explain the layer configuration of a photoconductive member according to a first embodiment of the present invention.

第1図に示す光導電部材100は、光導電部材用として
の支持体101の上に、光受容層102全有し、該光受
容M102は自由表面105を一方の端面に有している
The photoconductive member 100 shown in FIG. 1 has a photoreceptive layer 102 entirely on a support 101 for the photoconductive member, and the photoreceptor M102 has a free surface 105 on one end surface.

光受容層102は支持体101側よりyルマニウムJJ
i、子を含有するa−st(H,x) (以後ra−8
+Ge(H,X) Jと略記する)で構成された第1の
層領域(G) 103と、a−81(H,X)で構成さ
れ光導電性を有する第2の層領域(S) 104とが順
に積層された層構造を有する。
The light-receiving layer 102 is made of ylumanium JJ from the support 101 side.
i, a-st(H,x) containing child (hereinafter ra-8
A first layer region (G) 103 composed of +Ge (H, 104 are laminated in order.

第1の層領域(G) 103中に含有されるゲルマニウ
ム原子は、核第1の層領域(G)103の層厚方向には
連続的であって、且つ前記支持体101の設けられであ
る側とは反対の側(光受容層102の表面105側)に
対し前記支持体101側の方に多く分布した状態となる
様に前記第1の層領域(G)103中に含有される。
The germanium atoms contained in the first layer region (G) 103 are continuous in the thickness direction of the first layer region (G) 103 and are provided with the support 101. It is contained in the first layer region (G) 103 so that it is more distributed on the support 101 side than on the opposite side (the surface 105 side of the photoreceptive layer 102).

本発明の光導電部材100に於いては、少なくとも第1
の層領域(G)103に伝導特性を支配する物質(C)
が含有されており、笛1の層領域(2)103に所望の
伝導特性が与えられている。
In the photoconductive member 100 of the present invention, at least the first
A substance (C) that controls the conduction properties in the layer region (G) 103
is contained, giving the layer region (2) 103 of the flute 1 the desired conductive properties.

本発明に於いては、第1の層領域p)103に含有され
る伝導特性を支配する物質(C)は、第1の層領域1)
103の全層領域に1偏なく均一に含有されても良く、
また第1の層領域C)103の一部の層領域に偏在する
様に含有されても良い。
In the present invention, the substance (C) controlling the conduction properties contained in the first layer region p) 103 is the substance (C) contained in the first layer region p) 103.
It may be uniformly contained in the entire layer area of 103,
Moreover, it may be contained so as to be unevenly distributed in a part of the layer region of the first layer region C) 103.

本発明に於いて伝導特性を支配する物質C)を第1の層
領域り)の一部の層領域に便存する様に第1の層領域G
)中に含有させる場合には、前記物質Ill’)の含有
される層領域(PN)は、第1の層領域G)の端部層領
域として設けられるのが望ましいものである。殊に、第
1の層領域G)の支持体側の端部層領域として前記層領
域(PN)が設けられる場合には、該層領域(PN)中
に含有される前記物質C)の種類及びその含有絹ヲ所望
に応じ適宜選択することによって、支持体から光受容層
中への特定の極性の電荷の注入を効果的に阻止すること
が出来る。
In the present invention, the first layer region G) is made such that the substance C) that controls the conduction properties is present in a part of the first layer region G).
), the layer region (PN) containing the substance Ill') is preferably provided as an end layer region of the first layer region G). In particular, when the layer region (PN) is provided as the end layer region on the support side of the first layer region G), the type of the substance C) contained in the layer region (PN) and By appropriately selecting the silk content as desired, it is possible to effectively prevent charge of a specific polarity from being injected from the support into the photoreceptive layer.

本発明の光導電部材に於いては、伝導特性を制御するこ
との出来る物質(C)を、光受容層の一部を構成する第
1の層領域り)中に、前記した様に該層領域←)の全域
に1偏なく、或いは層厚方向に偏在する様に含有させる
ものであるが、更には、第1の層領域←)上に設けられ
る第20層領M (S)中にも前記物質(C)を含有さ
せても良いものである。
In the photoconductive member of the present invention, the substance (C) capable of controlling conduction properties is contained in the first layer region constituting a part of the photoreceptive layer, as described above. Although it is contained evenly over the entire region ←) or unevenly distributed in the layer thickness direction, it is further contained in the 20th layer region M (S) provided on the first layer region ←). The substance (C) may also be contained therein.

第2の層領域(S)中に前記物質(C)を含有させる場
合には、第1の層領域■中に含有される前記物質(C)
の種類やその含有量及びその含有の仕方に応じて、第2
の層領域(S)中に含有させる物質(C)の種類やその
含有量、及びその含有の仕方が適宜法められる。
When the substance (C) is contained in the second layer region (S), the substance (C) contained in the first layer region
Depending on the type, content, and method of inclusion, the second
The type and amount of the substance (C) to be contained in the layer region (S), and the manner in which it is contained are determined as appropriate.

本発明に於いては、第2の層領域(S)中に前記物質(
C) W含有させる場合、好ましくは、少々くとも第1
の層領域@)との接触界面を含む層領域中に前記物質を
含有させるのが望ましいものである。
In the present invention, the substance (
C) When containing W, preferably at least a little
It is desirable to include the substance in the layer region including the contact interface with the layer region @).

本発明に於いては、前記物質(C)は第2の層領域(1
3) (S)の全層領域に1偏なく含有させても良いし、或い
は、その一部の層領域に均一に含有させても良いもので
ある。
In the present invention, the substance (C) is added to the second layer region (1
3) It may be contained uniformly in the entire layer region of (S), or it may be contained uniformly in a part of the layer region.

第1の層領域G)と第2の層領域(S)の両方に伝導特
性を支配する物質り)を含有させる場合、第1の層領域
り)に於ける前記物質(C)が含有されている層領域と
、第2の層領域(S)に於ける前記物質C)が含有され
ている層領域とが、互いに接触する様に設けるのが望ま
しい。又、第1の層領域C)と第2の層領域(S)とに
含有される前記物質(C)は、第1の層領域(G)と第
2の層領域(S)とに於いて同種類でも異種類であって
も良く、又、その含有量は各層領域に於いて、同じでも
異っていても良い。
In the case where both the first layer region G) and the second layer region (S) contain a substance (C) that controls conduction characteristics, the substance (C) in the first layer region (G) is contained. It is desirable that the layer region containing the substance C) and the layer region containing the substance C) in the second layer region (S) are provided so as to be in contact with each other. Moreover, the substance (C) contained in the first layer region (C) and the second layer region (S) is contained in the first layer region (G) and the second layer region (S). They may be of the same type or different types, and their content may be the same or different in each layer region.

しかしながら、本発明に於いては、各層領域に含有され
る前記物質(C)が両者に於いて同種類である場合には
、第1の層領域IG)中に含有量を充分多くするか、又
は、電気的特性の異なる種類の物質C)を、所望の各層
領域に夫々含有させるのが好ましいものである。
However, in the present invention, if the substance (C) contained in each layer region is the same in both, the content in the first layer region IG) should be increased sufficiently, or Alternatively, it is preferable that substances C) having different electrical properties are contained in each desired layer region.

本発明に於いては、少なくとも光受容層を構成(14) する第1の層領域り)中に伝導特性を支配する物質C)
金含有させることによシ、該物質(C)の含有される層
領域〔第1の層領域り)の一部又は全部の層領域のいず
れでも良い〕の伝導特性を所望に従って任意に制御する
ことが出来るものであるが、この様な物質としては、所
謂、半導体分野で云われる不純物を挙げることが出来、
本発明に於いては、形成される光受容層を構成するa−
8iGa (H,X)に対して、p型伝導特性を与える
p型不純物及びn型伝導特性を与えるn型不純物を挙げ
ることが出来る。
In the present invention, at least the first layer region constituting the photoreceptive layer (14) contains a substance C) that controls the conduction properties.
By containing gold, the conductive properties of the layer region (which may be part or all of the first layer region) containing the substance (C) can be controlled as desired. However, examples of such substances include so-called impurities in the semiconductor field.
In the present invention, a-
For 8iGa (H,

具体的には、p型不純物としては周期律表第■族に属す
る原子(第■族原子)、例えば、B(硼素) + ht
 (アルミニウム) 、 Ga (ガリウム)。
Specifically, the p-type impurity is an atom belonging to Group ■ of the periodic table (Group ■ atom), for example, B (boron) + ht
(aluminum), Ga (gallium).

In (インジウム) 、 Tt (タリウム)等があ
シ、殊に好適に用いられるのは、B、Gaである。n型
不純物としては、周期律表第■族に属する原子(第■族
原子)、例えば、P(燐)、 As <砒素)。
Examples include In (indium), Tt (thallium), etc., and B and Ga are particularly preferably used. Examples of n-type impurities include atoms belonging to Group Ⅰ of the periodic table (Group Ⅰ atoms), such as P (phosphorus) and As<arsenic).

sb (アンチモン) 、 Bl (ビスマス)等であ
シ、殊に、好適に用いらnるのは、P 、 Asである
Examples include sb (antimony), Bl (bismuth), etc., and particularly preferably used are P and As.

本発明に於いて、伝導特性を制御する物質(C)が含有
される層領域(PN)に於けるその含有量は、該層領域
(PN)に要求される伝導特性、或いは該層領域(PN
)が支持体に直に接触して設けられる場合には、その支
持体との接触界面に於ける特性との関係等、有機的関連
性に於いて適宜選択することが出来る。
In the present invention, the content in the layer region (PN) containing the substance (C) that controls conduction properties is determined by the conduction properties required for the layer region (PN) or the content of the substance (C) that controls conduction properties. P.N.
) is provided in direct contact with the support, it can be appropriately selected depending on the organic relationship, such as the relationship with the properties at the contact interface with the support.

又、前記層領域(PN)に直に接触して設けられる他の
層領域や、該他の層領域との接触界面に於ける特性との
関係も考慮されて、伝導特性を制御する物質C)の含有
量が適宜選択される。
In addition, the relationship with other layer regions provided in direct contact with the layer region (PN) and the characteristics at the contact interface with the other layer regions is also taken into consideration, and the substance C that controls the conduction characteristics is selected. ) content is selected appropriately.

本発明に於いて、層領域(PN)中に含有される伝導特
性を制御する物質(C)の含有量としては、好ましくは
0.01〜5 X 10 ato+nlc ppm 、
より好適には0.5〜l X 10 atomic p
pm +最適には1〜5×103103ato ppm
とされるのが望ましい。
In the present invention, the content of the substance (C) that controls conduction properties contained in the layer region (PN) is preferably 0.01 to 5 x 10 ato+nlc ppm,
More preferably 0.5-l x 10 atomic p
pm + optimally 1 to 5 x 103103ato ppm
It is desirable that this is done.

本発明に於いて、伝導特性を支配する物質(Cりが含有
される層領域(PN)に於ける該物質(C)の含有量を
好ましくは30 atomic ppmり上、よシ好適
には50 atomic ppm以上、最適には100
 atomle ppm以上とすることによって、例え
ば該含有させる物質(C)が前記のp型不純物の場合に
は、光受容層の自由表面が■極性に帯電処理を受けた際
に、支持体側からの光受容層中への電子の注入を効果的
に阻止することが出来、又、前記含有させる物質(C)
が前記のn型不純物の場合には、光受容層の自由表面が
e極性に帯電処理を受けた際に、支持体側から光受容層
中への正孔の注入を効果的に阻止することが出来る。
In the present invention, the content of the substance (C) in the layer region (PN) containing the substance (C) that controls the conduction properties is preferably 30 atomic ppm, more preferably 50 atomic ppm. Atomic ppm or more, optimally 100
For example, when the substance (C) to be contained is the above-mentioned p-type impurity, when the free surface of the photoreceptive layer is subjected to polar charging treatment, light from the support side is The substance (C) that can effectively prevent the injection of electrons into the receptor layer and
In the case of the above-mentioned n-type impurity, when the free surface of the photoreceptive layer is charged to e polarity, it is possible to effectively prevent the injection of holes from the support side into the photoreceptor layer. I can do it.

上記の様な場合には、前述した様に、前記層領域(PN
) 1ft除いた部分の層領域(2)には、層領域(P
N)に含有される伝導特性を支配する物質(C)の伝導
型の極性とは別の伝導型の極性の伝導特性を支配する物
質(C)を含有させても良いし、或いは同棲性の伝導型
を有する伝導特性を支配する物質(c) t 、層領域
(PN)に含有させる実際の量よシも一段と少ない量に
して含有させても良いものである。
In the above case, as mentioned above, the layer region (PN
) In the layer area (2) excluding 1 ft, there is a layer area (P
N) may contain a substance (C) that controls the conduction characteristics of a conduction type polarity different from the conduction type polarity of the substance (C) that governs the conduction characteristics contained in N), or The substance (c) t having a conductivity type and controlling the conduction characteristics may be contained in a much smaller amount than the actual amount contained in the layer region (PN).

この様な場合、前記層領域@)中に含有される前記伝導
特性を支配する物質(C)の含有量としては、層領域(
PN)に含有される前記物質(C)の極性や含有(17
) 量に応じて所望に従って適宜決定されるものであるが、
好壕しくは0.001〜1000at1000ato+
よシ好適には0.05〜500 atomic ppm
 a最適には0.1〜200 atomic ppmと
されるのが望ましい。
In such a case, the content of the substance (C) that controls the conduction properties contained in the layer region (@) is as follows:
The polarity and content (17) of the substance (C) contained in PN)
) It is determined as desired depending on the amount, but
Preferably 0.001 to 1000at1000ato+
Preferably 0.05 to 500 atomic ppm
a Optimally, it is desirable to set it to 0.1 to 200 atomic ppm.

本発明に於いて、層領域(PN)及び層領域+2)に同
種の伝導性を支配する物質(C) ’に含有させる場合
には、層領域儲)に於ける含有量としては、好ましくは
30 atomic ppm以下とするのが望ましい。
In the present invention, when the layer region (PN) and the layer region +2) contain the same kind of conductivity controlling substance (C)', the content in the layer region +2) is preferably It is desirable to set it to 30 atomic ppm or less.

本発明に於いては、光受容層中に一方の極性の伝導型を
有する伝導性を支配する物質を含有させた層領域と、他
方の極性の伝導型を有する伝導性を支配する物質を含有
させた層仲域とを、直に接触する様に設けて該接触領域
に所謂空乏層を設けることも出来る。つまシ、例えば光
受容層中に前記のp型不純物を含有する層領域と前記の
n型不純物を含有する層領域とを直に接触する様に設け
て、所謂p−n接合を形成して空乏層を設けることが出
来る。
In the present invention, the photoreceptive layer contains a layer region containing a conductivity-controlling substance having one polar conductivity type, and a layer region containing a conductivity-controlling substance having a conductivity type of the other polarity. It is also possible to provide a so-called depletion layer in the contact region by directly contacting the interlayer region. For example, the layer region containing the p-type impurity and the layer region containing the n-type impurity are provided in the photoreceptive layer so as to be in direct contact with each other to form a so-called p-n junction. A depletion layer can be provided.

本発明の光導電部材においては、第1の層領域(18) O)中に含有されるゲルマニウム原子の分布状態は、層
厚方向においては、前記の様な分布状態を取シ、支持体
の表面と平行な面内方向には均一な分布状態とされるの
が望ましいものである。
In the photoconductive member of the present invention, the distribution state of the germanium atoms contained in the first layer region (18) O) is as described above in the layer thickness direction. It is desirable to have a uniform distribution in the in-plane direction parallel to the surface.

本発明に於いては、第1の層領域り)上に設けられる第
2の層領域(S)中には、ゲルマニウム原子は含有され
ておらず、この様な層構造に光受容層を形成することに
よって、可視光領域を含む比較的短波長から比較的短波
長迄の全頭載の波長の光に対して光感度が優れている光
導電部材とし得るものである。
In the present invention, the second layer region (S) provided on the first layer region (S) does not contain germanium atoms, and a light-receiving layer is formed in such a layer structure. By doing so, it is possible to obtain a photoconductive member that has excellent photosensitivity to light of all wavelengths from relatively short wavelengths to relatively short wavelengths including the visible light region.

又、第1の層領域@)中に於けるゲルマニウム原子の分
布状態は、全層領域にゲルマニウム原子が連続的に分布
し、ゲルマニウム原子の層厚方向の分布濃度Cが支持体
側よル第2の層領域(S)に向って減少する変化が与え
られているので、第1の層領域O)と第2の層領域(S
)との間に於ける親和性に優れ、且つ後述する様に、支
持体側端部に於いてゲルマニウム原子の分布濃度Cを極
端に大きくすることによシ、半導体レーザ等を使用した
場合の第2の層領域(S)では殆んど吸収し切れない長
波長側の光を、第1の層領域(G)に於いて実質的に光
合に吸収することが出来、支持体面からの反射による干
渉を防止することが出来る。
In addition, the distribution state of germanium atoms in the first layer region @) is such that germanium atoms are continuously distributed in the entire layer region, and the distribution concentration C of germanium atoms in the layer thickness direction is the second layer from the support side. Since a change is given that decreases toward the layer region (S), the first layer region O) and the second layer region (S
), and as will be described later, by extremely increasing the distribution concentration C of germanium atoms at the edge of the support, it is possible to The light on the long wavelength side, which is almost completely absorbed in the second layer region (S), can be substantially absorbed in the first layer region (G), and the light is absorbed by the light by reflection from the support surface. Interference can be prevented.

又、本発明の光導電部材に於いては、第1の層領域O)
と第2の層領域(S)とを構成する非晶質材料の夫々が
シリコン原子という共通の構成要素を有しているので、
積層界面に於いて化学的な安定性の確保が充分成されて
いる。
Furthermore, in the photoconductive member of the present invention, the first layer region O)
Since each of the amorphous materials constituting the and the second layer region (S) has a common constituent element of silicon atoms,
Chemical stability is sufficiently ensured at the laminated interface.

第2図乃至第10図には、本発明における光導電部材の
第1の層領域(G)中に含有されるゲルマニウム原子の
層厚方向の分布状態の典型的例が示される。
2 to 10 show typical examples of the distribution state of germanium atoms contained in the first layer region (G) of the photoconductive member of the present invention in the layer thickness direction.

第2図乃至第10図において、横軸はゲルマニウム原子
の分布濃度c ′f%縦軸は、第1の層領域@)の層厚
ヲ示し、tBは支持体側の第1の層領域G)の端面の位
置金、tTは支持体側とは反対側の第1の層佃#←)の
端面の位置を示す。即ち、ゲルマニウム原子の含有され
る第1の層領域O)はtB側よシtT側に向って層形成
がなさ扛る。
2 to 10, the horizontal axis shows the distribution concentration of germanium atoms c'f%, the vertical axis shows the layer thickness of the first layer region @), and tB shows the layer thickness of the first layer region G) on the support side. tT indicates the position of the end surface of the first layer (#←) on the side opposite to the support side. That is, in the first layer region O) containing germanium atoms, no layer formation occurs from the tB side to the tT side.

第2図には、第1の層領域←)中に含有されるケ・ルマ
ニウム原子の層厚方向の分布状態の第1の典型例が示さ
れる。
FIG. 2 shows a first typical example of the distribution state of ke-rumanium atoms contained in the first layer region ←) in the layer thickness direction.

第2図に示される例では、ゲルマニウム原子の含有され
る第1の層領域り)が形成される支持体の表面と、該菓
1の層領域り)の表面とが接する界面位置1Bよシt1
の位置までは、ゲルマニウム原子の分布濃度CがC1な
る一定の値を取シ乍らゲルマニウム原子が形成される第
1の層領域り)に含有され、位置t1よりは濃度C2よ
シ界面位置tTに至るまで徐々に連続的に減少されてい
る。界面位置tTにおいてはゲルマニウム原子の分布濃
度CはC3とされる。
In the example shown in FIG. 2, from the interface position 1B where the surface of the support on which the first layer region (1) containing germanium atoms is formed and the surface of the layer (1) of the confectionery 1 are in contact, t1
Up to the position, germanium atoms are contained in the first layer region where germanium atoms are formed, while the distribution concentration C of germanium atoms takes a constant value C1, and the concentration C2 is higher than the concentration C2 at the interface position tT. has been gradually and continuously reduced until . At the interface position tT, the distribution concentration C of germanium atoms is C3.

第3図に示される例においては、含有されるゲルマニウ
ム原子の分布濃度Cは、位置tIlよシ位置1Tに至る
まで濃度C4から徐々に連続的に減少して位置tTにお
いて濃度C5となる様な分布状態を形成している。
In the example shown in FIG. 3, the distribution concentration C of the contained germanium atoms gradually and continuously decreases from the concentration C4 from the position tIl to the position 1T, and reaches the concentration C5 at the position tT. It forms a distribution state.

第4図の場合には、位置tBよシ位置t2まではゲルマ
ニウム原子の分布濃度Cは濃度C6の一定値(21) とされ、位置t2と位置tTとの間において、徐々に連
続的に減少され、位置1Tにおいて、分布濃度Cは実質
的に零とされている(ここで実質的に零とは検出限界忙
未滴の場合である)。
In the case of Fig. 4, the distribution concentration C of germanium atoms is a constant value of concentration C6 (21) from position tB to position t2, and gradually and continuously decreases between position t2 and position tT. At the position 1T, the distribution concentration C is substantially zero (substantially zero here means the detection limit is not reached).

第5図の場合には、ゲルマニウム原子の分布濃度Cは、
位置tBよシ位置tTに至るまで濃度C8よ多連続的に
徐々に減少され、位置tTにおいて実質的に零とされて
いる。
In the case of FIG. 5, the distribution concentration C of germanium atoms is
The concentration C8 is gradually decreased continuously from position tB to position tT, and becomes substantially zero at position tT.

第6図に示す例においては、ゲルマニウム原子の分布濃
度Cは、位置1Bと位置t3間においては濃度C2と一
定値であり、位置t、においては濃度C1゜される。位
置t3と位置tTとの間では、分布濃度Cは一次関数的
に位置t3よシ位置tTに至るまで減少さ扛ている。
In the example shown in FIG. 6, the distribution concentration C of germanium atoms is a constant value of concentration C2 between position 1B and position t3, and the concentration is C1° at position t. Between position t3 and position tT, the distribution density C decreases linearly from position t3 to position tT.

第7図に示される例においては、分布濃度Cは位置tB
よp位置t4までは濃度C1,の一定値を取シ、位置t
4よ多位置tTまでは濃度C12より濃度C13まで一
次関数的に減少する分布状態とされている。
In the example shown in FIG. 7, the distribution concentration C is at the position tB.
The concentration C1 is kept at a constant value up to position t4.
The distribution state is such that the concentration decreases in a linear function from the concentration C12 to the concentration C13 up to the 4th position tT.

第8図に示す例においては、位置tBより位置tT(2
2) に至るまで、ゲルマニウム原子の分布濃度Cは濃度C4
4よシ実質的に零に至る様に一次関数的に減少している
In the example shown in FIG. 8, position tT (2
2) Until the distribution concentration C of germanium atoms reaches the concentration C4
From 4 onwards, it decreases in a linear manner, essentially reaching zero.

第9図においては、位置tBより位#t5に至る1では
ゲルマニウム原子の分布濃度Cは濃度c、5よル濃度C
16″!で一次関数的に減少され、位置t5と位置tT
との間においては、濃度c、6の一定値とされた例が示
さnている。
In FIG. 9, the distribution concentration C of germanium atoms at 1 from position tB to position #t5 is concentration c;
16″!, and the positions t5 and tT
An example in which the concentrations are set to constant values of c and 6 is shown between n and .

第10図に示される例においては、ゲルマニウム原子の
分布濃度Cは位置tBにおいて濃度c、7であシ、位置
t6に至るまではこの濃度c、7より初めはゆっ〈シと
減少され、t6の位置付近においては急激に減少されて
位置t6でFi濃度c、8とされる。
In the example shown in FIG. 10, the distribution concentration C of germanium atoms is at the concentration c, 7 at the position tB, and from this concentration c, 7, it decreases slowly until it reaches the position t6. In the vicinity of the position, the Fi concentration is rapidly reduced to c, 8 at the position t6.

位置t6と位置t7との間においては、初め急激に減少
さ扛て、その稜は緩かに徐々に減少されて位置t7で濃
度C19となり、位置t7と位置t8との間では極めて
ゆっくりと徐々に減少されて、位&−18において濃度
C2oに至る。位置t8と位置LTO間においては濃度
C2oよシ実質的に零に々る様に図に示す如き形状の曲
線に従って減少されている。
Between position t6 and position t7, the concentration decreases rapidly at first, then gradually decreases to a concentration of C19 at position t7, and then gradually decreases very slowly between position t7 and position t8. and reaches the concentration C2o at position &-18. Between position t8 and position LTO, the concentration C2o is reduced to substantially zero according to a curve shaped as shown in the figure.

以上、第2図乃至第10図により、第1の層領域O)中
に含有されるゲルマニウム原子の層厚方向の分布状態の
典型例の幾つかを説明した様に、本発明においては、支
持体側においてゲルマニウム原子の分布濃度Cの高い部
分を有し、界面t、側においては、前記分布濃度Cは支
持体側に較べて可成勺低くされた部分を有するゲルマニ
ウム原子の分布状態が第1の層領域り)に設けられてい
る。
As described above with reference to FIGS. 2 to 10, some typical examples of the distribution state of germanium atoms contained in the first layer region O) in the layer thickness direction, in the present invention, support The first distribution state of germanium atoms has a portion where the distribution concentration C of germanium atoms is high on the body side, and a portion where the distribution concentration C is considerably lower on the interface t side than on the support side. layer area).

本発明に於ける光導電部材を構成する光受容層を構成す
る第1の層領域(G)は、好ましくは上記した様に支持
体側の方にゲルマニウム原子が比較的高濃度で含有され
ている局在領域(A)’を有するのが望ましい。
The first layer region (G) constituting the photoreceptive layer constituting the photoconductive member in the present invention preferably contains germanium atoms at a relatively high concentration on the support side, as described above. It is desirable to have a localized region (A)'.

本発明に於いては、局在@域(4)は、第2図乃至第1
0図に示す記号を用いて説明すれば、界面位1−rtB
より5μ以内に設けられるのが望ましいものである。
In the present invention, the localized @ area (4) is
To explain using the symbols shown in Figure 0, the interface position 1-rtB
It is more desirable that the distance be within 5μ.

本発明においては、上記局在領域α)は、界面位置tB
よ#)5μR1での全層領域(LT)とされる場合もあ
るし、又、層領域(LT)の一部とされる場合もある。
In the present invention, the localized region α) is located at the interface position tB
It may be the entire layer region (LT) with 5μR1, or it may be a part of the layer region (LT).

局在領域(ト)を層領域(LT)の一部とするが又は全
部とするかは、形成される光受容層に要求される特性に
従って適宜法められる。
Whether the localized region (g) is a part or all of the layer region (LT) is determined as appropriate depending on the characteristics required of the light-receiving layer to be formed.

局在領域(A)は、その中に含有されるゲルマニウム原
子の層厚方向の分布状態として、ゲルマニウム原子の分
布濃度の最大値Cma xがシリコン原子に対して、好
ましくは1000 atomic ppm以上、よシ好
適には5000 atomic ppm JJ上、最適
にはI X 10 atomic ppm以上とされる
様な分布状態となり得る様に層形成されるのが望ましい
The localized region (A) has a distribution state of germanium atoms contained therein in the layer thickness direction such that the maximum distribution concentration Cmax of germanium atoms is preferably 1000 atomic ppm or more with respect to silicon atoms. It is desirable that the layer be formed in such a manner that the distribution state is preferably 5000 atomic ppm JJ or more, and optimally I x 10 atomic ppm or more.

即ち、本発明においては、ゲルマニウム原子の含有され
る光受容層は、支持体側からの層厚で5μ以内(tBか
ら5μ厚の層領域)に分布濃度の最大値Cma xが存
在する様に形成されるのが好ましいものである。
That is, in the present invention, the photoreceptive layer containing germanium atoms is formed such that the maximum value Cmax of the distribution concentration exists within 5μ in layer thickness from the support side (layer region 5μ thick from tB). It is preferable that the

本発明において、第1の層領域中に含有されるゲルマニ
ウム原子の含有量としては、本発明の目的が効果的に達
成される様に所望に従って適宜法(25) められるが、好1しくは1〜9.5 X 10 ato
micPPm% よシ好ましくは100〜8 X 10
 atomicppm%最適には500〜7 X 10
 atomic ppmとされるのが望ましい。
In the present invention, the content of germanium atoms contained in the first layer region may be determined as desired according to the requirements (25) so as to effectively achieve the object of the present invention, but preferably 1 to 9.5 x 10 ato
micPPm% Preferably 100-8 X 10
atomic ppm% optimally 500~7 x 10
It is desirable to set it to atomic ppm.

本発明に於いて第1の層領域し)と第2の層領域(S)
との層厚け、本発明の目的を効果的に達成させる為の重
要な因子の1つであるので、形成される光導電部材に所
望の特性が充分与えられる様に、光導電部材の設剖の際
に充分なる注意が払われる必要がある。
In the present invention, the first layer region (S) and the second layer region (S)
The thickness of the photoconductive member is one of the important factors for effectively achieving the object of the present invention. Great care must be taken during autopsy.

本発明に於いて、第1の層領域り)の層厚TBは、好ま
しくは30X〜50μ、より好ましくは40X〜40μ
、最適には501〜30μとされるのが望ましい。
In the present invention, the layer thickness TB of the first layer region) is preferably 30X to 50μ, more preferably 40X to 40μ.
, the optimum value is preferably 501 to 30μ.

又、第2の層領切(S)の層厚Tは、好ましくは0.5
〜90μ、より好ましくは1〜80μ、最適には2〜5
0μとされるのが望ましい。
Further, the layer thickness T of the second layer section (S) is preferably 0.5
~90μ, more preferably 1-80μ, optimally 2-5
It is desirable that it be 0μ.

第1の層領域(G)の層厚TBと第2の層領域(S)の
層厚Tの和(TB十T)としては、両層領域に要求され
る特性と光受容層全体に要求される特性との相互(26
) 間の有機的関連性に基いて、光導電部材の層設計の際に
所望に従って適宜決定される。
The sum (TB + T) of the layer thickness TB of the first layer region (G) and the layer thickness T of the second layer region (S) is determined by the characteristics required for both layer regions and the characteristics required for the entire photoreceptive layer. (26)
) is suitably determined as desired when designing the layers of the photoconductive member, based on the organic relationship between them.

本発明の光導電部材に於いては、上記の(T、十T)の
数値範囲としては好ましくは1〜100μ、よシ好適に
は1〜80μ、最適には2〜50μとされるのが望まし
い。
In the photoconductive member of the present invention, the numerical range of (T, 10T) is preferably 1 to 100μ, more preferably 1 to 80μ, and most preferably 2 to 50μ. desirable.

本発明のよシ好ましい実施態様例に於いては、上記の層
厚TB及び層厚Tとしては、好ましくはT、/T≦1 
なる関係を満足するように、夫々に対して適宜適切な数
値が選択されるのが望ましい。
In a highly preferred embodiment of the present invention, the above layer thickness TB and layer thickness T are preferably T, /T≦1
It is desirable that appropriate numerical values be selected for each so as to satisfy the following relationship.

上記の場合に於ける層厚TB及び層厚Tの数値の選択に
於いて、より好ましくはTB/T≦0,9、最適にはT
、/T≦0.8なる関係が満足される様に層厚TB及び
層厚Tの値が決定されるのが望ましい。
In selecting the numerical values of layer thickness TB and layer thickness T in the above case, more preferably TB/T≦0,9, optimally T
, /T≦0.8. It is desirable that the values of the layer thickness TB and the layer thickness T be determined so as to satisfy the relationship: , /T≦0.8.

本発明に於いて、第1の層領域り)中に含有されるゲル
マニウム原子の含有量がlXl0 atomic pp
m以上の場合には、第1の層領域O)の層厚TBとして
は成可〈薄くされるのが望ましく、好ましくは30μυ
下、よシ好ましくは25μ以下、最適には20μ以丁と
されるのが望ましい。
In the present invention, the content of germanium atoms contained in the first layer region is lXl0 atomic pp
m or more, the layer thickness TB of the first layer region O) can be made thinner, preferably 30 μυ
The thickness is preferably 25μ or less, most preferably 20μ or less.

本発明において、必要に応じて光受容層全構成する第1
の層領域(G)及び第2の層領域(S)中に含有される
ハロゲン原子(至)としては、具体的にはフッ素、塩素
、臭素、ヨウ素が挙げられ、殊にフッ素、塩素を好適な
ものとして誉げることか出来る。
In the present invention, if necessary, the first
Specific examples of the halogen atoms contained in the layer region (G) and the second layer region (S) include fluorine, chlorine, bromine, and iodine, with fluorine and chlorine being particularly preferred. It is possible to honor it as something.

本発明において、a−8iGe(H+X)で構成される
第1の層領域す)全形成するには、例えばグロー放電法
、スパッタリング法、或いはイオンシレーティング法等
の放電現象を利用する真空堆積法によって成される。例
えば、グロー放電法によって、a−8IGe(T(、X
)で構成される第1の層領域(G) ’に形成するには
、基本的にはシリコン原子(Si) を供給し得るSt
供給用の原料ガスと、ゲルマニウム原子(Ge )を供
給し得るGe供給用の原料ガスと、必要に応じて水素原
子@)導入用の原料ガス又は/及びハロゲン原子閃導入
用の原料ガスを、内部が減圧にし得る堆9< g内に所
望のガス圧状態で導入して、該堆積室内にグロー放電全
生起させ、予め所定位置に設置されである所定の支持構
表面上に、含有されるゲルマニウム原子の分布濃度を所
望の変化率曲線に従って制御し乍らa−8iGe (H
,X)からなる層を形成させれば良い。又、スパッタリ
ング法で形成する場合には、例えばAr 、 Ha等の
不活性ガス又はこれ等のガスをペースとした混合ガスの
雰囲気中で、Slで構成されたターr2ト、或いは該タ
ー?、)とGsで構成されたターf、)の二枚、又はS
tとGeの混合されたターダッ)k使用して、必要に応
じてHe 、 Ar等の稀釈ガスで稀釈されたGe供給
用の原料ガスを、必要に応じて水素原子卸又は/及びハ
ロゲン原子(イ)導入用のガスをスノやツタリング用の
堆積室に導入し、所望のがスのプラズマ雰囲気を形成す
ると共に、前記Ge供給用の原料ガスのがス流量を所望
の変化率曲線に従って制御し乍ら前記のターゲットをス
・セツタリングしてやれば良い。
In the present invention, in order to completely form the first layer region composed of a-8iGe (H+X), a vacuum deposition method using a discharge phenomenon such as a glow discharge method, a sputtering method, or an ion silating method is used. done by. For example, a-8IGe(T(,X
) to form the first layer region (G)' consisting of
A raw material gas for supply, a raw material gas for Ge supply that can supply germanium atoms (Ge), and a raw material gas for introducing hydrogen atoms (@) or/and a raw material gas for introducing halogen atoms as necessary, The gas is introduced at a desired pressure into a chamber 9 < g whose interior can be reduced in pressure to cause a glow discharge in the chamber, and the gas contained in the chamber is placed on the surface of a predetermined support structure that has been previously installed at a predetermined position. a-8iGe (H
, X) may be formed. In addition, when forming by sputtering method, for example, in an atmosphere of an inert gas such as Ar or Ha, or a mixed gas containing these gases as a base, a tart composed of Sl or the tart? , ) and Gs.
A raw material gas for supplying Ge diluted with a diluent gas such as He or Ar is used as a mixture of hydrogen atoms and/or halogen atoms ( b) Introducing the introduction gas into the deposition chamber for dusting or tuttering to form a plasma atmosphere with the desired gas, and controlling the gas flow rate of the raw material gas for supplying Ge according to the desired rate of change curve. However, all you have to do is set the target mentioned above.

イオンブレーティング法の場合には、例えば多結晶シリ
コン又は単結晶シリコンと多結晶ゲルマニウム又は単結
晶ゲルマニウムとを、夫々蒸発源として蒸着デートに収
容し、この蒸発源を抵抗加熱法、或いはエレクトロンビ
ーム法(EB法)等(29) によって加熱蒸発させ、飛翔蒸発物を所望のガラスプラ
ズマ芽囲気中を通過させる以外は、スパッタリング法の
場合と同様にする事で行うことが出来る。
In the case of the ion blating method, for example, polycrystalline silicon or single-crystal silicon and polycrystalline germanium or single-crystal germanium are housed in a deposition date as evaporation sources, and the evaporation sources are heated using a resistance heating method or an electron beam method. (EB method) etc. (29) It can be carried out in the same manner as in the sputtering method, except that the flying evaporates are passed through the atmosphere surrounding the desired glass plasma.

本発明において使用される別供給用の原料ガスと成り得
る物質としては、5IH4,Si2H6,813H8゜
5i4H,o等のガス状態の又はガス化し得る水素化硅
素(シラン類)が有効に使用されるものとして挙げられ
、殊に、層作成作業時の取扱い易さ、SI供給効率の良
さ等の点で5IH4,Si2H6が好ましいものとして
挙げられる。
As a substance that can be used as a source gas for separate supply used in the present invention, silicon hydride (silanes) in a gaseous state or capable of being gasified, such as 5IH4, Si2H6, 813H8゜5i4H,o, is effectively used. Among them, 5IH4 and Si2H6 are particularly preferred in terms of ease of handling during layer creation work, good SI supply efficiency, etc.

Ge供給用の原料がスと成り得る物質としては、GeH
a r G112H6+ G(13H8* Ge4J(
1* Ge5H12*Ge6H,41Go、H26T 
Ge6H,81G69H20等のガス状態の又はガス化
し得る水素化ゲルマニウムが有効に使用されるものとし
て挙げられ、殊に、層作成作業時の取扱い易さ、Ge供
給効率の良さ等の点でGaH+ Ge H、Ge、HB
が好ましいものとして挙げ4 26 られる。
Examples of substances that can be used as raw materials for supplying Ge include GeH.
a r G112H6+ G(13H8* Ge4J(
1*Ge5H12*Ge6H, 41Go, H26T
Ge6H, 81G69H20 and other germanium hydrides in a gaseous state or that can be gasified can be effectively used. In particular, GaH + Ge H , Ge, H.B.
4 26 are listed as preferred.

(30) 本発明において使用される・・ロダン原子導入用の原料
ガスとして有効なのは、多くのハロゲン化合物が挙げら
れ、例えばハロダンガス、ハロダン化物、ハロゲン間化
合物、ハロダンで置換されたシラン誘導体等のガス状態
の又はガス化し得るハロゲン化合物が好ましく挙げられ
る。
(30) Many halogen compounds are effective as the raw material gas for introducing rodan atoms used in the present invention, such as gases such as halodane gas, halodanides, interhalogen compounds, and halodane-substituted silane derivatives. Preferable mention may be made of halogen compounds in the state or which can be gasified.

又、更には、シリコン原子とハロゲン原子とを構成要素
とするガス状態の又はガス化し得る、ハロゲン原子を含
む水素化硅素化合物も有効なものとして本発明において
は桔げることか出来る。
Furthermore, a silicon hydride compound containing a halogen atom, which is in a gaseous state or can be gasified and whose constituent elements are a silicon atom and a halogen atom, can also be used as an effective compound in the present invention.

本発明において好適に使用し得るハロダン化合物として
は、具体的には、フッ素、塩素、臭素、ヨウ素のハOj
’ンガス、BrF 、 C1F 、 ClF5.BrF
5゜BrF、 、 HF3.IP、 、 IC1、HB
r寺の/N C1)f ン間化合物を挙げることが出来
る。
Specifically, halodane compounds that can be suitably used in the present invention include fluorine, chlorine, bromine, and iodine.
'N gas, BrF, C1F, ClF5. BrF
5°BrF, , HF3. IP, , IC1, HB
Examples include compounds between /N C1)f.

ハロゲン原子を含む硅素化合物、所謂ハロゲン原子で置
換されたシラン誘導体としては、具体的には例えばSi
F4.812F6.5iC14,B1Br4等のハロゲ
ン化硅累が好ましいものとして挙げることが出来る。
Examples of silicon compounds containing halogen atoms, so-called halogen atom-substituted silane derivatives include, for example, Si
Preferred examples include halogenated silicon such as F4.812F6.5iC14 and B1Br4.

この様なハロゲン原子を含む硅素化合物を採用してグロ
ー放電法によって本発明の特徴的な光導電部材を形成す
る場合には、Ge供給用の原料ガスと共にst ’1供
給し得る原料ガスとしての水素化硅素ガスを使用しなく
とも、所望の支持体上に−・ロダン原子を含むa−8I
Geから成る第1の層領域←)を形成する事が出来る。
When forming the characteristic photoconductive member of the present invention by a glow discharge method using such a silicon compound containing a halogen atom, a raw material gas that can be supplied st '1 together with a raw material gas for supplying Ge is used. a-8I containing rodan atoms on a desired support without using silicon hydride gas
A first layer region ←) made of Ge can be formed.

グロー放電法に従って、ノ・ロダン原子を含む第1の層
領域(G) 全作成する場合、基本的には、例えばS1
供給用の原料ガスとなるハロゲン化硅累とGe供給用の
原料ガスとなる水素化ゲルマニウムとAr * H2C
He等のガス等金、所定の混合比とガス流量になる様に
して第1の層領域(G)を形成する堆積室に導入し、グ
ロー放電を生起してこれ等のガスの!ラズマガ囲気を形
成することによって、所望の支持体上に第1の層領域(
Qを形成し得るものであるが、水素原子の黒人割合の制
御を一層が易になる様に計る為に、これ等のガスに更に
水素ガス又は水素原子葡含む硅素化合物のガスも所望量
混合して層形成しても良い。
When creating the entire first layer region (G) containing No-Rhodan atoms according to the glow discharge method, basically, for example, S1
Halogenated silicon as a raw material gas for supply, germanium hydride as a raw material gas for Ge supply, and Ar*H2C
Gases such as He, etc., are introduced into the deposition chamber for forming the first layer region (G) at a predetermined mixing ratio and gas flow rate, and a glow discharge is generated to remove these gases! A first layer area (
However, in order to more easily control the proportion of hydrogen atoms, a desired amount of hydrogen gas or a silicon compound gas containing hydrogen atoms is also mixed with these gases. A layer may be formed by doing so.

又、各ガスは単独種のみでなく所定の混合比で複数種混
合して使用しても差支えないものである。
Moreover, each gas may be used not only as a single species but also as a mixture of multiple species at a predetermined mixing ratio.

スペックリング法、イオンシレーティング法の何れの場
合にも形成される層中に7・ロダン原子を導入するには
、前記の)・ロダン化合物又は前記のハロゲン原子を含
む硅素化合物のガスを、堆積室中に導入して該ガスのプ
ラズマ雰囲気を形成してやれば良いものである。
In order to introduce 7.rodan atoms into the layer formed in either the speckling method or the ion silating method, a gas of the above-mentioned)-rodan compound or a silicon compound containing the above-mentioned halogen atoms is deposited. It is sufficient to introduce the gas into the chamber to form a plasma atmosphere of the gas.

父、水素原子を導入する場合には、水素原子導入用の原
料ガス、例えばB2、或いは前記したシラン類又は/及
び水素化ゲルマニウム等のガス類をスノ4 yタリング
用の堆積室中に導入して該ガス類のプラズマ雰囲気を形
成してやれば良い。
In the case of introducing hydrogen atoms, a raw material gas for introducing hydrogen atoms, such as B2, or the above-mentioned silanes and/or germanium hydride gases, is introduced into the deposition chamber for snow-tapping. What is necessary is to form a plasma atmosphere of the gases.

(33) 本発明においては、ノ・ロダン原子導入用の原料ガスと
して上記されたノーロダン化合物或いはノーロダンを含
む硅素化合物が有効なものとして使用さnるもノテある
が、その他に、HF、HCt、HBr 、HI等のハロ
ゲン化水素、SiH2F2,5iH2I2,5iH2C
t2゜5IHC13,5IH2Br2,5iHBr3等
のノーロダン置換水素化硅素、及びGeHF3.GeB
2F2 、Gea、F’ *GeHCl5 、GaH2
C22゜GeHCt、GeHBr5.Ge)I2Br2
.GeH,Br、GeHI、、GeB2I2゜GeH3
I %の水素化ハロダン化ダルマつウム等の水素原子を
構成要素の1つとするノ・ロダン化物、GeF4*Ge
Cl4+G11Br4 、Go I 4+GeF2 +
GeC12tGe Br 2 、Ge I 2等ノハロ
ゲン化ゲルマニウム、等々のガス状態の或いはガス化し
得る物質も有効な第1の層領域(0形成用の出発物質と
して挙げる事が出来る。
(33) In the present invention, the above-mentioned no-rodane compounds or silicon compounds containing no-rodane are effectively used as the raw material gas for introducing no-rodane atoms, but in addition, HF, HCt, Hydrogen halides such as HBr, HI, SiH2F2, 5iH2I2, 5iH2C
t2゜5IHC13, 5IH2Br2, 5iHBr3 and other norodane-substituted silicon hydrides, and GeHF3. GeB
2F2, Gea, F' *GeHCl5, GaH2
C22°GeHCt, GeHBr5. Ge)I2Br2
.. GeH, Br, GeHI, , GeB2I2゜GeH3
I % hydrogenated halodanide etc. containing hydrogen atoms as one of its constituent elements, GeF4*Ge
Cl4+G11Br4, GoI4+GeF2+
Gaseous or gasifiable substances such as germanium halides such as GeC12tGeBr2, GeI2, etc. may also be mentioned as useful starting materials for the formation of the first layer region.

これ等の物質の中水素原子を含む)\ロダン化物は、第
1の層領域(G)形成の際に層中にノ・ロダン原子の導
入と同時に電気的或いは光電的特性の制御に極めて有効
な水素原子も導入されるので、本発明においては好適な
ノ・ログン導入用の原料として使用される。
(containing hydrogen atoms in these substances)\Rhodanide is extremely effective for controlling electrical or photoelectric properties at the same time as introducing rhodan atoms into the layer when forming the first layer region (G). Since hydrogen atoms are also introduced, it is used as a suitable raw material for introducing hydrogen atoms in the present invention.

(34) 水素原子を第1の層領域(G)中に構造的に導入するK
U、上記の他ニH2、或いはSiH4,Si2H6゜8
1、H8,5i4H,。等の水素化硅素を、Geを供給
する為のダルマニウム又はrルマニウム化合物と、或い
はs GeH4、Ge 2H61Gll 5HB *G
@ 4H10+ Ge 5”12 、G66H,4゜G
e 7Ht 6.Ge 6HI B +Ge 、H2o
等の水素化ゲルマニウムと、Siを供給する為のシリコ
ン又はシリコン化合物と、を堆積室中に共存させて放電
を生起させる事でも行う事が出来る。
(34) K for structurally introducing hydrogen atoms into the first layer region (G)
U, other than the above, H2, or SiH4, Si2H6゜8
1,H8,5i4H,. silicon hydride such as s GeH4, Ge 2H61Gll 5HB *G
@4H10+ Ge 5”12, G66H, 4°G
e 7Ht 6. Ge 6HI B +Ge, H2o
This can also be carried out by causing discharge to occur by coexisting germanium hydride such as the like and silicon or a silicon compound for supplying Si in the deposition chamber.

本発明の好ましい例において、形成される光導電部材の
第1の層領域(G)中に含有さnる水素原子(ロ)の量
、又はハロゲン原子(3)の址、又は水素原子とハロダ
ン原子の址の和(H十X )は好ましくは0、01〜4
0 atomic% 、より好適には0.05〜30 
atomicl!、最適には0.1〜25 atoml
 c%とされるのが望ましい。
In a preferred example of the present invention, the amount of hydrogen atoms (b) contained in the first layer region (G) of the photoconductive member to be formed, or the amount of halogen atoms (3), or the amount of hydrogen atoms and halogen atoms The sum of the atoms (Hx) is preferably 0.01 to 4.
0 atomic%, more preferably 0.05-30
atomicl! , optimally 0.1-25 atoms
It is desirable to set it to c%.

第1の層領域(G)中に含有される水素原子(ロ)又U
及びハロダン原子閃の量を制御するには、例えば支持体
温度又は/及び水素原子(ロ)、或いはハロゲン原子(
3)を含廟させる為に使用される出発物質の堆積装置系
内へ導入する量、放電電力等を制御してやれば良い。
Hydrogen atoms (b) or U contained in the first layer region (G)
In order to control the amount of halodane atoms flashed, for example, the support temperature or/and hydrogen atoms (b) or halogen atoms (
It is sufficient to control the amount of the starting material used to incorporate 3) into the deposition system, the discharge power, etc.

本発明に於いて、a−8i(H,X)で構成される第2
の層領域(S)を形成するには、前記した第1の層領域
(G)形成用の出発物質(1)の中よシ、G供給用の原
料ガスとなる出発物質を除いた出発物質〔第2の層領域
(S)形成用の出発物質(■)〕を使用して、第1の要
領M (G)を形成する場合と同様の方法と条件に従っ
て行うことが出来る。
In the present invention, the second
To form the layer region (S), the starting material (1) for forming the first layer region (G), excluding the starting material that will become the raw material gas for supplying G, is used. It can be carried out using the [starting material (■) for forming the second layer region (S)] and following the same method and conditions as in the case of forming the first procedure M (G).

即ち、本発明において、a−8i(H,X)で構成され
る第2の層領域(S)を形成するには、例えばグロー放
電法、スフ4ツタリング法、或いはイオンル−ティング
法等の放電現象を利用する真空堆積法によって成される
。例えば、グロー放電法によって、a−8i(H,X)
で構成される第2の層領域(S)を形成するには、基本
的には前記したシリコン原子(St)を供給し得る84
供給用の原料ガスと共に、必要に応じて水素原子(I(
)導入用の又は/及びハロダン原子(3)導入用の原料
ガスを、内部が減圧にし得る堆積室内に導入して該堆積
室内にグロー放電を生起させ、予め所定位置に設置され
である所定の支持表面上にa−8i(H,X)からなる
層を形成させれば良い。又、スパッタリング法で形成す
る場合には、例えはAr、Hs等の不活性又はこれ等の
ガスをベースとした混合ガスの雰囲気中で、Siで構成
されたター1’ツトをスパッタリングする際、水素原子
(刊又は/及びハロダン原子(3)導入用のガスをスパ
ッタリング用の堆積室に導入しておけば良い。
That is, in the present invention, in order to form the second layer region (S) composed of a-8i (H, This is accomplished by a vacuum deposition method that utilizes this phenomenon. For example, by glow discharge method, a-8i(H,X)
Basically, in order to form the second layer region (S) composed of 84
Along with the raw material gas for supply, hydrogen atoms (I(
) Introduction and/or halodane atoms (3) A raw material gas for introduction is introduced into a deposition chamber whose interior can be reduced in pressure to generate a glow discharge in the deposition chamber, and A layer consisting of a-8i(H,X) may be formed on the supporting surface. In addition, when forming by a sputtering method, for example, when sputtering a target made of Si in an atmosphere of an inert gas such as Ar or Hs or a mixed gas based on these gases, A gas for introducing hydrogen atoms (or/and halodan atoms (3)) may be introduced into the deposition chamber for sputtering.

本発明に於いて、形成される光受容層を構成する第2の
層領域(S)中に含有される水素原子(6)の量、又は
ハロゲン原子(3)の量、又は水素原子とハロゲン原子
の量の和(H+X )は、好ましくは1〜40atom
icチ、よシ好適には5〜30 atomicチとされ
るのが望ましい。
In the present invention, the amount of hydrogen atoms (6) or the amount of halogen atoms (3) contained in the second layer region (S) constituting the photoreceptive layer to be formed, or the amount of hydrogen atoms and halogen The sum of the amounts of atoms (H+X) is preferably 1 to 40 atoms
It is desirable that the number of IC chips is preferably 5 to 30 atomic chips.

光受容層を構成する層領域中に、送導特性全制御する物
質(C)、例えば第■族原子或いは第■族原子を構造的
に導入して前記物質(C)の含有された層領域(PN)
を形成するには、層形成の際に、第■族原子導入用の出
発物質或いは第■族原子導入用の出発物質ケガス状態で
、堆積室中に光受容層を形(37) 成する為の他の出発物質と共に導入してやれば良い。こ
の様な第■族原子導入用の出発物質と成シ得るものとし
ては、常温常圧でガス状の、又は少なくとも層形成条件
下で容易にガス化し得るものが採用されるのが望せしい
。その様な第■族原子導入用の出発物質として具体的に
は、硼素原子導入用としては、82H6,84H,。、
B5H2r B5H1,r B6H1゜。
A layer region containing the substance (C) by structurally introducing a substance (C) that completely controls the transmission properties, for example, group (I) atoms or group (I) atoms into the layer region constituting the photoreceptive layer. (PN)
In order to form a photoreceptive layer in a deposition chamber (37), a starting material for introducing a group (III) atom or a starting material for introducing a group (iii) atom is in a gaseous state during layer formation. It may be introduced together with other starting materials. It is desirable to use a starting material for the introduction of group (III) atoms that is gaseous at room temperature and pressure, or that can be easily gasified under layer-forming conditions. . Specifically, starting materials for introducing such group (I) atoms include 82H6, 84H, and the like for boron atom introduction. ,
B5H2r B5H1, r B6H1°.

B6H12,B6H14等の水素化硼素、BF、 * 
BCl3. BBr 3等のハロゲン化硼素等が挙げら
れる。この他、AtCt3゜GaCl2.Ga(CH3
)、、InCl2.TtCt3等も挙げることが出来る
Boron hydride such as B6H12, B6H14, BF, *
BCl3. Examples include boron halides such as BBr3. In addition, AtCt3°GaCl2. Ga(CH3
), , InCl2. TtCt3 etc. can also be mentioned.

第■族原子導入用の出発物質として本発明において有効
に使用されるのは、燐原子導入用としては、PH3+P
2H4等の水素比隣t PH4I 、PF、 、pF5
.PCl、。
In the present invention, effective starting materials for the introduction of Group Ⅰ atoms include PH3+P for the introduction of phosphorus atoms.
Hydrogen ratios such as 2H4 t PH4I , PF, , pF5
.. PCl,.

PCl5.PBr3.Plr5. PI3等のハtff
 )1” ン化燐が挙げられる。この他、AsHAsF
 AsCt+Al1Br3+AlF3+31 451 
5 8bH3,SbF5.SbF5,5bCt、、5bCt
5.BiG、、BiCt、#旧Br。
PCl5. PBr3. Plr5. Hatff of PI3 etc.
)1" phosphorus. In addition, AsHAsF
AsCt+Al1Br3+AlF3+31 451
5 8bH3, SbF5. SbF5, 5bCt, 5bCt
5. BiG,, BiCt, #old Br.

等も第■族原子導入用の出発物質の有効なものとして挙
げることが出来る。
and the like can also be mentioned as effective starting materials for introducing Group Ⅰ atoms.

本発明の光導電部材に於いては1高光感度化と(38) 高暗抵抗化、更には、支持体と光受容層との間の密着性
の改良を計る目的の為に、光受容層中には、炭素原子が
含有される。光受容層中に含有される炭素原子は、光受
容層の全層領域に万偏なく含有されても良いし、或いは
、光受容層の一部の層領域のみに含有させて偏在させて
も良い。
In the photoconductive member of the present invention, for the purpose of (1) increasing photosensitivity and (38) increasing dark resistance, and further improving the adhesion between the support and the photoreceptive layer, the photoreceptive layer is It contains carbon atoms. The carbon atoms contained in the photoreceptive layer may be uniformly contained in the entire layer region of the photoreceptive layer, or may be contained unevenly in only some layer regions of the photoreceptor layer. good.

又、炭素原子の分布状態は、分布濃度C(C)が光受容
層の層厚方向に於いては、均一であっても、また第2図
乃至第1O図を用いて説明したゲルマニウム原子の分布
状態と同様に不均一であっても良い。
In addition, even if the distribution concentration C (C) of carbon atoms is uniform in the thickness direction of the photoreceptive layer, the distribution state of carbon atoms is different from that of germanium atoms explained using FIGS. 2 to 1O. Like the distribution state, it may be non-uniform.

つまり、炭素原子の分布濃度c (qが層厚方向に不均
一である場合の炭素原子の分布状態は、第2図乃至第1
O図を用いてゲルマニウム原子の場合と同様に説明され
得る。
In other words, the distribution state of carbon atoms when the distribution concentration c (q) of carbon atoms is non-uniform in the layer thickness direction is shown in Figs.
It can be explained in the same way as the germanium atom using the O diagram.

本発明に於いて、光受容層に設けられる炭素原子の含有
されている層領域(C)は、光感度と暗抵抗の向上を主
たる目的とする場合には、光受容層の全層領域を占める
様に設けられ、支持体と光受容層との間の密着性の強化
を計るのを主たる目的とする場合には、光受容層の支持
体側端部領域を占める様に設けられる。
In the present invention, when the main purpose of the layer region (C) containing carbon atoms provided in the photoreceptive layer is to improve photosensitivity and dark resistance, the entire layer region of the photoreceptive layer is If the main purpose is to strengthen the adhesion between the support and the photoreceptive layer, the photoreceptor is provided to occupy the end area of the photoreceptor layer on the side of the support.

前者の場合、層領域(C)中に含有される炭素原子の含
有量は、高光感度を維持する為に比較的少なくされ、後
者の場合には、支持体との密着性の強化を確実に計る為
に比較的多くされるのが望ましい。
In the former case, the content of carbon atoms contained in the layer region (C) is relatively low in order to maintain high photosensitivity, and in the latter case, to ensure enhanced adhesion with the support. It is desirable to have a relatively large amount for measurement purposes.

又、前者と後者の両方を同時に達成する目的の為には、
支持体側に於いて比較的高濃度に分布させ、光受容層の
自由表面側に於いて比較的低濃度に分布させるか、或い
は、光受容層の自由表面側の表層領域には、炭素原子を
積極的には含有させない様な炭素原子の分布状態を層領
域(Q中に形成すれば良い。
Also, for the purpose of achieving both the former and the latter at the same time,
Carbon atoms may be distributed at a relatively high concentration on the support side and at a relatively low concentration on the free surface side of the photoreceptive layer, or carbon atoms may be distributed in a surface layer region on the free surface side of the photoreceptive layer. It is sufficient to form a distribution state of carbon atoms in the layer region (Q) such that carbon atoms are not actively contained.

本発明に於いて、光受容層に設けられる層領域(C)に
含有される炭素原子の含有量は、層領域(C)自体に要
求される特性、或いは該層領域(C)が支持体に直に接
触して設けられる場合には、該支持体との接触界面に於
ける特性との関係等、有機的関連性に於いて適宜選択す
ることが出来る。
In the present invention, the content of carbon atoms contained in the layer region (C) provided in the light-receiving layer depends on the characteristics required for the layer region (C) itself or when the layer region (C) is a support. When provided in direct contact with the support, it can be appropriately selected depending on the organic relationship, such as the relationship with the properties at the contact interface with the support.

又、前記層領域(C)に直に接触して他の層領域が設け
られる場合には、該他の層領域の特性や、該他の層領域
との接触界面に於ける特性との関係も考慮されて、炭素
原子の含有量が適宜選択される。
In addition, when another layer region is provided in direct contact with the layer region (C), the relationship with the characteristics of the other layer region and the characteristics at the contact interface with the other layer region. The carbon atom content is appropriately selected with consideration given to the carbon atom content.

層領域(C)中に含有される炭素原子の量は、形成され
る光導電部材に要求される特性に応じて所望に従って適
宜法められるが、好ましくは、0.001〜50ato
mi@%、よシ好ましくは0.002〜40atom1
cチ、最適には0.003〜30 atomlc%とさ
れるのが望ましい。
The amount of carbon atoms contained in the layer region (C) is determined as desired depending on the properties required of the photoconductive member to be formed, but is preferably 0.001 to 50 atoms.
mi@%, preferably 0.002 to 40 atoms1
The optimum content is desirably 0.003 to 30 atomlc%.

本発明に於いて、層領域(Qが光受容層の全域を占める
か、或いは、光受容層の全域を占めなくとも、層領域(
C)の層厚’rcの光受容層の層厚Tに占める割合が充
分多い場合には、層領域(C)に含有される炭素原子の
含有量の上限は前記の値よシ充分少なくさく41) れるのが望ましい。
In the present invention, even if the layer region (Q occupies the entire area of the photoreceptive layer or does not occupy the entire area of the photoreceptive layer, the layer region (
When the ratio of the layer thickness 'rc of C) to the layer thickness T of the photoreceptive layer is sufficiently large, the upper limit of the content of carbon atoms contained in the layer region (C) should be sufficiently smaller than the above value. 41) It is desirable to be able to do so.

本発明の場合には、層領域(C)の層厚TCが光受容層
の層厚Tに対して占める割合が5分の2以上となる様な
場合には、層領域(C)中に含有される炭素原子の量の
上限としては、好ましくは30atanie%以下、よ
υ好ましくは20 atomle%以下、最適には10
atomlc%以下とされるのが望ましい。
In the case of the present invention, if the ratio of the layer thickness TC of the layer region (C) to the layer thickness T of the photoreceptive layer is two-fifths or more, The upper limit of the amount of carbon atoms contained is preferably 30 atomle% or less, preferably 20 atomle% or less, and optimally 10 atomle% or less.
It is desirable that the content be atomic % or less.

本発明において、光受容層を構成する炭素原子の含有さ
れる層領域(C)は、上記した様に支持体側の方に炭素
原子が比較的高濃度で含有されている局在領域CB)を
有するものとして設けられるのが望ましく、この場合に
は、支持体と光受容層との間の密着性をより一層向上さ
せることが出来る。
In the present invention, the layer region (C) containing carbon atoms constituting the photoreceptive layer has a localized region CB) containing carbon atoms at a relatively high concentration on the support side as described above. In this case, the adhesion between the support and the light-receiving layer can be further improved.

上記局在領域(B)は、第2図乃至第10図に示す記号
を用いて説明すれば、界面位置tBよシ5μ以内に設け
られるのが望ましい。
The localized region (B) is desirably provided within 5 μ of the interface position tB, if explained using the symbols shown in FIGS. 2 to 10.

本発明においては、上記局在領域(B)は、界面位置t
Bjす5μ厚までの全層領域(LT )とされる場合も
あるし、又、層領域(L、)の一部とされる場合もある
In the present invention, the localized region (B) is located at the interface position t
Bj may be the entire layer region (LT) up to 5μ thick, or may be a part of the layer region (L,).

(=12 ) 局在領域(B) e層領域(LT )の一部とするか又
は全部とするかは、形成される光受容層に要求される特
性に従って適宜法められる。
(=12) Localized region (B) Whether to form part or all of the e-layer region (LT) is determined as appropriate depending on the characteristics required of the photoreceptive layer to be formed.

局在領域(B)はその中に含有される炭素原子の層厚方
向の分布状態として炭素原子の分布濃度C(C)の最大
値Cmaxが好ましくは500 atomic ppm
以上、よシ好適には800 atomic ppm以上
、最適には1001000ato ppm以上とされる
様な分布状態となシ得る様に層形成されるのが望ましい
The localized region (B) has a distribution state of carbon atoms contained therein in the layer thickness direction, and the maximum value Cmax of the distribution concentration C (C) of carbon atoms is preferably 500 atomic ppm.
As described above, it is desirable to form layers so as to obtain a distribution state of preferably 800 atomic ppm or more, most preferably 1001000 atomic ppm or more.

即ち、本発明においては、炭素原子の含有される層領域
(@は、支持体側からの層厚で5μ以内(tnから5μ
厚の層領域)に分布濃度C(C)の最大値Cmaxが存
在する様に形成されるのが望ましい。
That is, in the present invention, a layer region containing carbon atoms (@ is a layer thickness from the support side of 5 μm or less (5 μm from tn)
It is desirable to form the layer so that the maximum value Cmax of the distribution concentration C (C) exists in the thick layer region).

本発明に於いて、光受容層に炭素原子の含有された層領
域(C) ffi設けるには、光受容層の形成の際に炭
素原子導入用の出発物質を前記した光受容層形成用の出
発物質と共に使用して、形成される層中にその量を制御
し乍ら含有してやれば良い。
In the present invention, in order to provide a carbon atom-containing layer region (C) ffi in the photoreceptive layer, the starting material for introducing carbon atoms is added to the above-described starting material for forming the photoreceptive layer. It may be used together with the starting material and contained in the formed layer while controlling its amount.

層領域(C) ffi形成するのにグロー放電法を用い
る場合には、前記した光受容層形成用の出発物質の中か
ら所望に従って選択されたものに炭素原子導入用の出発
物質が加えられる。その様な炭素原子導入用の出発物質
としては、少なくとも炭素原子を構成原子とするガス状
の物質又はガス化し得る物質をガス化したものの中の大
概のものが使用され得る。
When a glow discharge method is used to form the layer region (C) ffi, a starting material for introducing carbon atoms is added to one selected as desired from among the starting materials for forming the photoreceptive layer described above. As the starting material for introducing carbon atoms, most of the gaseous substances containing at least carbon atoms or gasified substances that can be gasified can be used.

例えばシリコン原子(St)e構成原子とする原料ガス
と、炭素原子(C)を構成原子とする原料ガスと、必要
に応じて水素原子α◇又は及びハロゲン原子(3)全構
成原子とする原料ガスとを所望の混合比で混合して使用
するか、又は、シリコン原子(Si)を構成原子とする
原料ガスと、炭素原子(C)及び水素原子(ロ)を構成
原子とする原料ガスとを、これも又所望の混合比で混合
するか、或いは、シリコン原子(St)を構成原子とす
る原料ガスと、シリコン原子(81) *炭素原子(C
)及び水素原子αηの3つを構成原子とする原料ガスと
を混合して使用することが出来る。
For example, a raw material gas containing silicon atoms (St)e as constituent atoms, a raw material gas containing carbon atoms (C) as constituent atoms, and a raw material containing all constituent atoms as hydrogen atoms α◇ or halogen atoms (3) as necessary. or a raw material gas containing silicon atoms (Si) as constituent atoms and a raw material gas containing carbon atoms (C) and hydrogen atoms (B) as constituent atoms. are mixed at a desired mixing ratio, or a raw material gas containing silicon atoms (St) and silicon atoms (81) *carbon atoms (C
) and hydrogen atoms αη can be mixed and used.

又、別には、シリコン原子(St)と水素原子卸とを構
成原子とする原料ガスに炭素原子(Qを構成原子とする
原料ガスを混合して使用しても良い。
Alternatively, a raw material gas containing carbon atoms (Q) may be mixed with a raw material gas containing silicon atoms (St) and hydrogen atoms.

CとHとを構成原子とするものとしては、例えば炭素数
1〜5の飽和炭化水素、炭素数2〜5のエチレン系炭化
水素、炭素数2〜4のアセチレン系炭化水素等が挙げら
れる。
Examples of those having C and H as constituent atoms include saturated hydrocarbons having 1 to 5 carbon atoms, ethylene hydrocarbons having 2 to 5 carbon atoms, acetylene hydrocarbons having 2 to 4 carbon atoms, and the like.

具体的には、飽和炭化水素としてはメタン(CH4) 
sエタン(C2H6)、プロAlン(C5Ha)、n−
ブタ7 (n−C4H1(1) eペンタン(C5H1
2) #エチレン系炭化水素としてはエチレン(C2H
4) eプロピレン(CxH6)tブテン−1(04H
B) yブテン−2(C4H8) tイソブチレン(0
4H8) tペンテン(CsHlo) nアセチレン系
炭化水素としてはアセチレン(02H2) pメチルア
セチレン(CsH4) −ブチン(04H4)等が挙げ
られる。
Specifically, methane (CH4) is a saturated hydrocarbon.
s-ethane (C2H6), pro-Al-(C5Ha), n-
Pig 7 (n-C4H1(1) e Pentane (C5H1
2) #Ethylene hydrocarbons include ethylene (C2H
4) e-propylene (CxH6)t-butene-1 (04H
B) y-butene-2 (C4H8) t-isobutylene (0
4H8) t-pentene (CsHlo) n-acetylene hydrocarbons include acetylene (02H2), p-methylacetylene (CsH4) -butyne (04H4), and the like.

これ等の他にStとCとHとを構成原子とする原料ガス
として、5i(CH3)4ySI(C2H5)4等のケ
イ化アルキルを挙げることが出来る。
In addition to these, alkyl silicides such as 5i(CH3)4ySI(C2H5)4 can be cited as raw material gases containing St, C, and H as constituent atoms.

本発明に於いては、層領域(C)中には炭素原子で得ら
れる効果を更に助長させる為に、炭素原子に加えて、更
に酸素原子又は/及び窒素原子を含有することが出来る
In the present invention, the layer region (C) may further contain oxygen atoms and/or nitrogen atoms in addition to carbon atoms in order to further enhance the effects obtained by carbon atoms.

(45) 酸素原子を層領域(C)に導入する為の酸素原子導入用
の原料ガスとしては、例えば酸素(02) tオゾン(
03)*−酸化窒素(NO) #二酸化窒素(NO2)
−m=酸化窒素(N20) −三二酸化窒素(N20s
) を四三酸化窒素(N204) p三二酸化窒素(N
205) 、三酸化窒素(NO3)−シリコン原子(S
t)と酸素原子(0)と水素原子(ロ)とを構成原子と
する、例えばジシロキサン(H3SiO8iH3) #
 ト!J ’/ oキ? 7Q15810SiH20S
IH3) 等の低級シロキサン、等々を挙げることが出
来る。
(45) As the raw material gas for introducing oxygen atoms into the layer region (C), for example, oxygen (02) t ozone (
03) *-Nitrogen oxide (NO) #Nitrogen dioxide (NO2)
-m=nitric oxide (N20) -nitrogen sesquioxide (N20s
) Trinitric oxide (N204) p Trinitric oxide (N
205), nitrogen trioxide (NO3) - silicon atom (S
t), oxygen atom (0), and hydrogen atom (b) as constituent atoms, for example, disiloxane (H3SiO8iH3) #
to! J'/oki? 7Q15810SiH20S
Examples include lower siloxanes such as IH3) and the like.

窒素原子を層領域(C)に導入する為の窒素原子(財)
導入用の原料ガスに成シ得るものとして有効に使用され
る出発物質は、Nを構成原子とする或いはN、!:Hと
を構成原子とする例えば窒素(N2) eアンモニア(
NH3) 、ヒドラジン(H2NNH2) #アジ化水
素(HN5) 、アジ化アンモニウム(NH4N s 
)等のガス状の又はガス化し得る窒素、窒化物及びアジ
化物等の窒素化合物を挙げることが出来る。この他に、
窒素原子(ロ)の導入に加えて、ノ・ロダン原子(3)
の導入も行えるという点から、三弗化窒素、(FsN)
 e四弗化鼠累(F 4N 2 )等の・・ロダン化窒
素化合物を挙げ(46) ることか出来る。
Nitrogen atoms (goods) for introducing nitrogen atoms into the layer region (C)
Starting materials that can be effectively used as raw material gases for introduction include those having N as a constituent atom, or N,! :H is a constituent atom, such as nitrogen (N2) e ammonia (
NH3), hydrazine (H2NNH2) #hydrogen azide (HN5), ammonium azide (NH4N s
), gaseous or gasifiable nitrogen, and nitrogen compounds such as nitrides and azides. In addition to this,
In addition to the introduction of nitrogen atom (b), no-rodan atom (3)
Nitrogen trifluoride, (FsN)
I can list rhodanide nitrogen compounds such as F 4N 2 (46).

スパッタリング法によって、炭素原子を含有する層領域
(Qを形成するには、単結晶又は多結晶の81ウエーハ
ー、又はCウェーハー、又はStとCが混合されて含有
されているウェーハーをターゲットとして、これ等′f
t種々のガス坏囲気中でスミ4ツタリングすることによ
って行えば良い。
To form a layer region containing carbon atoms (Q) by a sputtering method, a monocrystalline or polycrystalline 81 wafer, a C wafer, or a wafer containing a mixture of St and C is targeted. etc'f
This can be done by smearing in an atmosphere surrounded by various gases.

例えば、S1ウエーハーをターff、)として使用すれ
ば、炭素原子と必要に応じて水素原子又は/及びハロダ
ン原子を導入する為の原料ガスを、必要に応じて稀釈ガ
スで稀釈して、スパッター用の堆積室中に導入し、これ
等のガスのガスプラズマを形成して前記Stウェーハー
をスパッターリングすれば良い。
For example, if an S1 wafer is used as a tar ff,), the raw material gas for introducing carbon atoms and optionally hydrogen atoms and/or halodane atoms can be diluted with a diluting gas as necessary for sputtering. The St wafer may be sputtered by introducing the St wafer into a deposition chamber to form a gas plasma of these gases.

又、別には、SIとCとは別々のターゲットとして、又
はSlとCの混合した一枚のターゲットを使用すること
によって、スパッター用のガスとしての稀釈ガスの雰囲
気中で又は少なくとも水素原子(ロ)又は/及びハロダ
ン原子(ト)を構成原子として含有するガス雰囲気中で
スパッタリングすることによって成される。炭素原子導
入用の原料ガスとしては、先述したグロー放電の例で示
した原料ガスの中の炭素原子導入用の原料がスが、スパ
ッタリングの場合にも有効なガスとして使用され得る。
Alternatively, SI and C may be used as separate targets, or by using a mixed target of SI and C, in an atmosphere of dilution gas as a sputtering gas, or at least hydrogen atoms (RO) may be generated. ) or/and by sputtering in a gas atmosphere containing halodan atoms (t) as constituent atoms. As the raw material gas for introducing carbon atoms, the raw material gas for introducing carbon atoms in the raw material gas shown in the glow discharge example described above can be used as an effective gas also in the case of sputtering.

本発明に於いて、光受容層の形成の際に、炭素原子の含
有される層領域(C’l ’z設ける場合、該層領域(
Qに含有される炭素原子の分布濃度C(C)を層厚方向
に変化させて所望の層厚方向の分布状態(dspth 
profile)を有する層領域(C)を形成するには
、グロー放電の場合には、分布濃度CC)を変化させる
べき炭素原子導入用の出発物質のガスを、そのガス流量
を所望の変化率曲線に従って適宜変化させ乍ら、堆積室
内に導入することによって成される。例えば手動あるい
は外部駆動モータ等の通常用いられている何らかの方法
によシ、ガス流路系の途中に設けられた所定のニードル
パルプの開口を漸次変化させる操作を行えば良い。この
とき、流量の変化率は線型である必要はなく、例えばマ
イコン等を用いて、あらかじめ設計された変化率曲線に
従って流量を制御し、所望の含有率曲線を得ることもで
きる。
In the present invention, when forming a photoreceptive layer, if a layer region (C'l 'z) containing carbon atoms is provided, the layer region (
By changing the distribution concentration C (C) of carbon atoms contained in Q in the layer thickness direction, a desired distribution state in the layer thickness direction (dspth
To form a layer region (C) with a profile), in the case of a glow discharge, a starting material gas for introducing carbon atoms whose distribution concentration CC) is to be changed is introduced, and its gas flow rate is adjusted to the desired rate of change curve. This is accomplished by introducing the material into the deposition chamber while changing it accordingly. For example, the opening of a predetermined needle pulp provided in the middle of the gas passage system may be gradually changed by any commonly used method, such as manually or by using an externally driven motor. At this time, the rate of change in the flow rate does not need to be linear; for example, a microcomputer or the like can be used to control the flow rate according to a rate-of-change curve designed in advance to obtain a desired content rate curve.

層領域(C)をスパッターリング法によって形成する場
合、炭素原子の層厚方向の分布濃度C(C)を層厚方向
で変化させて炭素原子の層厚方向の所望の分布状態(d
@pth profile)を形成するには、第一には
、グロー放電法による場合と同様に、炭素原子導入用の
出発物質をガス状態で使用し、核ガスを堆積室中へ導入
する際のガス流量を所望に従って適宜変化させることに
よって成される。
When forming the layer region (C) by a sputtering method, the desired distribution state (d) of carbon atoms in the layer thickness direction is obtained by changing the distribution concentration C (C) of carbon atoms in the layer thickness direction.
Firstly, as in the case of the glow discharge method, the starting material for introducing carbon atoms is used in a gaseous state, and the gas when introducing the nuclear gas into the deposition chamber is used. This is accomplished by appropriately changing the flow rate as desired.

第二には、スパッターリング用のターゲットを、例えば
SlとCとの混合されたターゲットを使用するのであれ
ば、SlとCとの混合比を、ターff、)の層厚方向に
於いて予め変化させておくことによって成される。
Second, if a sputtering target is used, for example, a mixed target of Sl and C, the mixing ratio of Sl and C should be adjusted in advance in the layer thickness direction of the target. This is done by keeping things changing.

本発明に於いて、形成される光受容層を構成する第2の
層領域(S)中に含有される水素原子(6)の量、又は
ハロゲン原子(3)の量、又は水素原子と/%ロダ/原
子の量の和(H+X)は、好ましくは1〜40atom
ie% mよυ好適には5〜30 atomic%p最
適には5〜25 atomic%とされるのが望ましい
In the present invention, the amount of hydrogen atoms (6) or the amount of halogen atoms (3) contained in the second layer region (S) constituting the photoreceptive layer to be formed, or the amount of hydrogen atoms and/or % rod/sum of amounts of atoms (H+X) is preferably 1 to 40 atoms
ie% m, preferably 5 to 30 atomic%p, most preferably 5 to 25 atomic%.

(49) 本発明において使用される支持体としては、導電性でも
電気絶縁性であっても良い。導電性支持体としては、例
えば、NiCr、ステンレス、fi、t。
(49) The support used in the present invention may be electrically conductive or electrically insulating. Examples of the conductive support include NiCr, stainless steel, fi, and t.

Cr 、Mo tAu 、Nb +Ta 、V、TI 
、Pt 、Pd等の金属又はこれ等の合金が挙げられる
Cr, MotAu, Nb + Ta, V, TI
, Pt, Pd, or alloys thereof.

電気絶縁性支持体としては、Iリエステル、ポリエチレ
ン、ポリカーボネート、セルローズアセテート、ポリプ
ロピレン、7y!す塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、
ポリスチレン、ポリアミド等の合成樹脂のフィルム又は
シート、ガラス、セラiック、紙等が通常使用される。
As the electrically insulating support, I-lyester, polyethylene, polycarbonate, cellulose acetate, polypropylene, 7y! vinyl chloride, polyvinylidene chloride,
Films or sheets of synthetic resins such as polystyrene and polyamide, glass, ceramic, paper, etc. are usually used.

これ等の電気絶縁性支持体は、好適には少なくともその
一方の表面を導電処理され、該導電処理された表面側に
他の層が設けられるのが望ましい。
Preferably, at least one surface of these electrically insulating supports is conductively treated, and another layer is preferably provided on the conductively treated surface side.

例えば、ガラスであればその表面にN I Cr rA
LvCr 1Mo +Au l I r +Nb 、T
a 、vlT’i 、p t gPd HIn 2oA
 I 5n02 、t’r。
For example, if it is glass, N I Cr rA is applied to its surface.
LvCr 1Mo + Au l I r + Nb , T
a , vlT'i , p t gPd HIn 2oA
I 5n02, t'r.

(In2O3+5n02 )等から成る薄膜を設けるこ
とによって導電性が伺与され、或いはポリエステルフィ
ルム等の合成樹脂フィルムであれば、NiCr、A/、
Conductivity can be imparted by providing a thin film made of (In2O3+5n02), etc., or if it is a synthetic resin film such as polyester film, NiCr, A/,
.

Ag、Pb、Zn、Nl、Au、Cr、Mo、Ir、N
b、Ta、V、TI 、Pt等の金(50) 属の薄膜を真空蒸着、電子ビーム蒸着、スパッタリング
等でその表面に設け、又は前記金属でその表面をラミネ
ート処理して、その表面に導電性が伺与される。支持体
の形状としては、円筒状、ベルト状、板状等任意の形状
とし得、所望によってその形状は決定されるが、例えば
第1図の光導電部材100を電子写真用像形部材として
使用するのであれば、連続高速複写の場合には無端ベル
ト状又は円筒状とするのが望ましい。支持体の厚さは、
所望通りの光導電部材が形成される様に適宜決定される
が、光導電部材として可撓性が要求される場合には、支
持体としての機能が充分発揮される範囲内であれば可能
な限シ薄くされる。しかしながらこの様な場合、支持体
の製造上及び取扱い上、機械的強度等の点から、好まし
くは10μ以上とされる。
Ag, Pb, Zn, Nl, Au, Cr, Mo, Ir, N
b, a thin film of gold (50) such as Ta, V, TI, Pt, etc. is provided on the surface by vacuum evaporation, electron beam evaporation, sputtering, etc., or the surface is laminated with the above metal to make the surface conductive. Gender is revealed. The shape of the support may be any shape such as a cylinder, a belt, or a plate, and the shape is determined depending on the needs. For example, the photoconductive member 100 shown in FIG. 1 is used as an image forming member for electrophotography. If so, it is desirable to use an endless belt or a cylindrical shape for continuous high-speed copying. The thickness of the support is
It is determined as appropriate to form a photoconductive member as desired, but if flexibility is required as a photoconductive member, it is possible as long as the function as a support is fully exhibited. The limit is thinned out. However, in such a case, the thickness is preferably 10 μm or more in view of manufacturing and handling of the support, mechanical strength, etc.

次に本発明の光導電部材の製造方法の一例の概略につい
て説明する。
Next, an outline of an example of the method for manufacturing a photoconductive member of the present invention will be explained.

第11図に光導電部材の製造装置の一例を示す。FIG. 11 shows an example of a photoconductive member manufacturing apparatus.

図中の1102〜1106のガスがンぺには、本発明の
光導電部材を形成するための原料ガスが密封されておシ
、その1例としてたとえば1102は、Heで稀釈され
た5IH4ガス(純度99.999チ、以下81H4/
Heと略す。)がンベ、1103はHeで稀釈されたG
 a H4ガス(純度99.999%、以下G eH4
/)i eと略す。)ボンベ、1104はHeで稀釈さ
れたB2H6ガス(純度99.99%、以下B 2H4
74(@と略す。)ボンベ、1105はC2I(4if
ス(純度99.999チ)ボンベ、1106はH2ガス
(純度99.999チ)ぎンペであるこれらのガスを反
応室1101に流入させるKはガスボン41102〜1
106のパルプ1122〜1126、リークパルプ11
35が閉じられていることを確認し、又、流入パルプ1
112〜1116.流出パルプ1117〜1121.補
助パルプ1132゜1133が開かれていることを確認
して、先づメインパルプ1134’i開いて反応室11
01、及び各ガス配管内を排気する。次に真空計113
6の読みが約5 X 10−’torr IIC々った
時点で補助バルブ1132.1133、流出パルプ】1
17〜1121を閉じる。
Gas tanks 1102 to 1106 in the figure are sealed with raw material gas for forming the photoconductive member of the present invention. As an example, 1102 is a 5IH4 gas diluted with He ( Purity 99.999chi, below 81H4/
It is abbreviated as He. ) is NMB, 1103 is G diluted with He.
a H4 gas (purity 99.999%, hereinafter referred to as G eH4
/) It is abbreviated as ie. ) cylinder, 1104 is B2H6 gas diluted with He (purity 99.99%, hereinafter B2H4
74 (abbreviated as @) cylinder, 1105 is C2I (4if
1106 is a H2 gas (purity 99.999 cm) gas cylinder.K is a gas cylinder 41102-1 for flowing these gases into the reaction chamber 1101.
106 pulp 1122-1126, leak pulp 11
35 is closed, and the inflow pulp 1
112-1116. Outflow pulp 1117-1121. After confirming that the auxiliary pulps 1132 and 1133 are open, first open the main pulp 1134'i and open the reaction chamber 11.
01, and exhaust the inside of each gas pipe. Next, the vacuum gauge 113
When the reading of 6 is about 5 X 10-'torr IIC, auxiliary valve 1132.1133, outflow pulp】1
Close 17-1121.

次にシリンダー状基体1137上に光受容層を形成する
場合の1例をあげると、ガスボン−’!1102よりS
iH4/Heガス、ガx*ンペ1103 !J)GeH
4/Heガス、ガス71=” ン−21i 04よ’)
 B 2Hb/l(eガス、ガスボンベ1105よシC
2H4ガスをパルプ1122〜1125を開いて出口圧
ゲージ1127〜1130の圧を1kg/cIrL2に
調整し、流入パルプ1112〜1115を徐々に開けて
マス70コン)0−ラ1107〜1110内に夫々流入
させる。引き続(53) いて流出パルプ1117〜1120.補助バルブ113
2を徐々に開いて夫々のガスを反応室1】olに流入さ
せる。このときのS+H4/Heガス流量とGe■4/
FTeガス流1′とB2H6/Heがス流ツとc2H4
ガス流lとの比が所望の値になるように流出バルブ11
17〜1120を調整し、又、反応室11o1内の圧力
が所望の値になるように真空計1136の読みを見なが
らメインパルプ1134の開口を調整する。
Next, to give an example of forming a light-receiving layer on the cylindrical substrate 1137, gas bomb-'! S from 1102
iH4/He gas, Gax*umpe1103! J) GeH
4/He gas, gas 71=”n-21i 04’)
B 2Hb/l (e gas, gas cylinder 1105
Open the pulps 1122-1125, adjust the pressure of the outlet pressure gauges 1127-1130 to 1 kg/cIrL2, gradually open the inflow pulps 1112-1115, and let the 2H4 gas flow into the mass 70 (con)0-ra 1107-1110, respectively. let Continuing (53) Outflow pulp 1117-1120. Auxiliary valve 113
2 was gradually opened to allow each gas to flow into the reaction chamber 1]ol. At this time, S+H4/He gas flow rate and Ge■4/
FTe gas flow 1' and B2H6/He are
The outflow valve 11 is adjusted so that the ratio with the gas flow l is the desired value.
17 to 1120, and also adjust the opening of the main pulp 1134 while checking the reading of the vacuum gauge 1136 so that the pressure in the reaction chamber 11o1 becomes a desired value.

そして基体】137の温度が加熱ヒーター1138によ
シ50〜400℃の範囲の温度に設定されていることを
確認された後、電源1140′fr所望の電力に設定し
て反応室1101内にグロー放電を生起させ、同時にあ
らかじめ設計された変化率曲線に従ってG e H4/
Heガスの流量を手動、あるいは外部駆動モータ等の方
法によってパルプ1118の開口を漸次変化させる操作
を行ない、形成される層中に含有されるゲルマニウム原
子の分布濃度を制御するO この様にして、基体1137上に硼素原子(B)と炭素
原子(C)とが含有され、前記の変化率曲線に従(54
) ったゲルマニウム原子の分布状態が形成されているa−
8iGe(H,X)で構成された層領域(B 、 C)
が所望の層厚に形成される。層領域(B、C)が所望層
厚に形成された段階に於いて、流出・ぐルブ1118.
1119.1120の夫々を完全に閉じること、及び必
要に応じて放電条件を変えることり夕■は、同様な条件
と手順に従って所望時間グロー放電を維持することで前
記層領域CB、C)上に硼素原子(B)、炭素原子(C
)、Nへ′)Kが^\及びゲルマニウム原子(Ge)が
含有されていない、a−8l(H。
After confirming that the temperature of the substrate 137 is set to a temperature in the range of 50 to 400°C by the heating heater 1138, the power source 1140'fr is set to the desired power and the glow in the reaction chamber 1101 is set. Generate a discharge and at the same time G e H4/
The aperture of the pulp 1118 is gradually changed by adjusting the flow rate of He gas manually or using an external drive motor, etc., to control the distribution concentration of germanium atoms contained in the formed layer. In this way, Boron atoms (B) and carbon atoms (C) are contained on the substrate 1137, and according to the rate of change curve (54
) A distribution state of germanium atoms is formed.
Layer region (B, C) composed of 8iGe(H,X)
is formed to the desired layer thickness. At the stage when the layer regions (B, C) have been formed to the desired layer thickness, the outflow groove 1118.
1119 and 1120 and changing the discharge conditions as necessary. Atom (B), carbon atom (C
), to N') K is ^^ and no germanium atom (Ge) is contained, a-8l (H.

X)で構成された層領域(S)が形成されて光受容層の
形成が終了される。
A layer region (S) composed of X) is formed, and the formation of the photoreceptive layer is completed.

上記の光受容層の形成の際に、該層形成開始後所望の時
間が経過した段階で、堆積室へのB2H6,/Heガス
ガス上C2H4がスの流入を止めることによって、硼素
原子の含有された層領域(B)及び炭素原子の含有され
た層領域(C)の各層厚を任意に制御することが出来る
During the formation of the above-mentioned photoreceptive layer, when a desired period of time has elapsed after the start of the layer formation, C2H4 on the B2H6,/He gas gas is stopped from flowing into the deposition chamber, thereby preventing boron atoms from being contained. The layer thicknesses of the layer region (B) containing carbon atoms and the layer region (C) containing carbon atoms can be arbitrarily controlled.

又、所望の変化率曲線に従って堆積室1101へのC2
H4ガスのガス流量を制御することKよって、層領域(
C)中に含有される炭素原子の分布状態を所望通シに形
成することが出来る。
Also, C2 to the deposition chamber 1101 according to the desired rate of change curve.
By controlling the gas flow rate of H4 gas, the layer region (
The distribution of carbon atoms contained in C) can be formed as desired.

層形成を行っている間は層形成の均一化を計るため基体
1137はモータ1139によシ一定速度で回転させて
やるのが望ましい。
During layer formation, it is desirable that the substrate 1137 be rotated at a constant speed by a motor 1139 in order to ensure uniform layer formation.

以下実施例について説明する。Examples will be described below.

実施例1 第11図に示した製造装置により、シリンダー状のM基
体上に、第1表に示す条件で第12図に示すガス流量比
の変化率曲線に従ってGeH4/HeガスとSiH4/
Hsガスのガス流量比を層作成経過時間と共に変化させ
て層形成を行って電子写真用像形成部材を得た。
Example 1 Using the manufacturing apparatus shown in FIG. 11, GeH4/He gas and SiH4/He gas and SiH4/
An electrophotographic image forming member was obtained by forming layers while changing the gas flow rate ratio of Hs gas with the elapsed time of layer formation.

こうして得られた像形成部材を、帯電露光実験装置に設
置しe 5. OkVで0.3mec間コロナ帯電を行
い、直ちに光像を照射した。光像はタングステンランプ
光源を用い、2Lux−seCの光量を透過型のテスト
チャートを通して照射させた。
The image forming member thus obtained was placed in a charging exposure experiment device.5. Corona charging was performed at OkV for 0.3 mec, and a light image was immediately irradiated. A light image was generated using a tungsten lamp light source, and a light amount of 2 Lux-seC was irradiated through a transmission type test chart.

その後直ちに、■荷電性の現像剤(トナーとキャリアを
含む)を像形成部材表面をカスケードすることによって
、像形成部材表面上に良好なトナー画像を得た。像形成
部材上のトナー画像ヲe5、 OkVのコロナ帯電で転
写紙上に転写した所、解像力に優れ、階調再現性のよい
鮮明な高銭度の画像が得られた。
Immediately thereafter, a good toner image was obtained on the surface of the image forming member by cascading a charged developer (containing toner and carrier) over the surface of the image forming member. When the toner image on the image forming member was transferred onto a transfer paper by corona charging at OkV, a clear, high-quality image with excellent resolution and good gradation reproducibility was obtained.

実施例2 (57) 第11図に示した製造装置により、第2表に示す条件で
第13図に示すガスb11.量比の変化率曲線に従って
G eI(4/’fl eガスとS i H4,/’f
(eガスのガス流量比を1−作成経過時間と共に変化さ
せ、その他の条件は実施例1と同様にして層形成を行っ
て電子写真用像形成部材を得た。
Example 2 (57) Using the manufacturing apparatus shown in FIG. 11, the gas b11. shown in FIG. 13 was produced under the conditions shown in Table 2. According to the rate of change curve of the quantity ratio, G eI (4/'fl e gas and S i H4,/'f
(The gas flow rate ratio of e gas was changed with 1-preparation elapsed time, and the other conditions were the same as in Example 1 to form layers to obtain an electrophotographic image forming member.

こうして得られた像形成部材に就いて、実施例1と同様
の条件及び手順で転写紙上に画像を形成したところ極め
て鮮明な画質が得られた。
When an image was formed on a transfer paper using the image forming member thus obtained under the same conditions and procedures as in Example 1, an extremely clear image quality was obtained.

実施例3 第11図に示した製造装置によシ、:窮3表に示す条件
で第14図に示すガス流量比の変化率曲線に従ってGe
H4/1(eガスとS i H4//IIeガスのガス
流量比金層作成経過時間と共に変化させ、その他の条件
は実施例1と同様にして層形成金行って電子写真用像形
成部材を得た。
Example 3 Using the manufacturing apparatus shown in FIG. 11, Ge was produced according to the rate of change curve of the gas flow rate ratio shown in FIG.
H4/1 (gas flow rate ratio of e gas and S i H4//IIe gas was changed with gold layer formation elapsed time, and other conditions were the same as in Example 1 to form a layer to form an electrophotographic image forming member. Obtained.

こうして得られた像形成部材に就いて、実施例1と同様
の条件及び手順で転写紙上に画像を形成したところ極め
て鮮明な画質が得られた。
When an image was formed on a transfer paper using the image forming member thus obtained under the same conditions and procedures as in Example 1, an extremely clear image quality was obtained.

実施例4 (58) 第11図に示した製造装置により、第4衣に示す条件で
第15図に示すガス流量比の変化率曲線に従ってaeu
41H・ガスとS i H47’に’l eガスのガス
流量比金層作成経過時間と共に変化させ、その他の条件
は実施例1と同様にして層形成を行って電子写真用像形
成部材を傅た。
Example 4 (58) Using the manufacturing apparatus shown in FIG. 11, AEU was produced according to the rate of change curve of the gas flow rate ratio shown in FIG.
The gas flow rate ratio of 41H gas and S i H47' to 'le gas was changed with the elapsed gold layer formation time, and the other conditions were the same as in Example 1 to form the layer, thereby producing an electrophotographic image forming member. Ta.

こうして得られた像形成部材に就いて、実施例1と同様
の条件及び手順で転写紙上に画像を形成したところ極め
て鮮明な画質が得られた。
When an image was formed on a transfer paper using the image forming member thus obtained under the same conditions and procedures as in Example 1, an extremely clear image quality was obtained.

実施例5 第11図に示した製造装置により、第5表に示す条件で
紀16図に示すガス流量比の変化率曲線に従ってGeH
4/Heがスと81H4,布eガスのガス流量比を層作
成経過時間と共に変化させ、その他の条件は実施例1と
同様にして層形成を行って篭子写真用像形成部材金得た
Example 5 Using the production equipment shown in Fig. 11, GeH
4/He was S and 81H4, and the gas flow rate ratio of E gas was changed with the elapsed layer formation time, and the other conditions were the same as in Example 1 to form a layer to obtain an image forming member for basket photography. .

こうして得られた像形成部材に就いて、実施例1と同1
求の条件及び手順で転写紙上に画像を形成したところ甑
めて鮮明な画質が得られた。
The image forming member thus obtained was the same as Example 1.
When an image was formed on transfer paper under the desired conditions and procedure, a clear image quality was obtained after it was polished.

実施例6 第11図に示した製造装置によシ、第6表に示す条件で
第17図に示すガス流量比の変化率曲線に便ってGeH
4/r(eガスとSiH4/Haガスのガス流哨比金層
作成経過時間と共に変化させ、その他の条件は実施例1
と同様にして層形成を行って電子写真用像形成部材を得
た。
Example 6 Using the production apparatus shown in FIG. 11, GeH
4/r (gas flow control ratio of e gas and SiH4/Ha gas was changed with the elapsed time of gold layer creation; other conditions were as in Example 1.
Layer formation was carried out in the same manner as described above to obtain an electrophotographic image forming member.

こうして得られた像形成部材に就いて、実施例1と同様
の条件及び手順で転写紙上に画像を形成したところ極め
て鮮明な画質が得られた。
When an image was formed on a transfer paper using the image forming member thus obtained under the same conditions and procedures as in Example 1, an extremely clear image quality was obtained.

実施例7 第11図に示した製造装置により、第7表に示す条件で
第18図に示すガス流量比の変化率曲線に従ってGeH
4/HeガスとS 1H4A(eガスのガス流量比を層
作成経過時間と共に変化させ、その他の条件は実施例1
と同様にして層形成を行って電子写真用像形成部材を得
た。
Example 7 Using the manufacturing apparatus shown in FIG. 11, GeH
The gas flow rate ratio of 4/He gas and S1H4A (e gas was changed with the elapsed layer formation time, and the other conditions were as in Example 1.
Layer formation was carried out in the same manner as described above to obtain an electrophotographic image forming member.

こうして得られた像形成部材に就いて、実施例1と同様
の条件及び手順で転写紙上に画像を形成したところ極め
て鮮明な画質が得られた。
When an image was formed on a transfer paper using the image forming member thus obtained under the same conditions and procedures as in Example 1, an extremely clear image quality was obtained.

実施例8 実施例1に於いて、5il(4/′Hsガスの代シにS
1□H6苅eがスを使用し第8衣に示す条件にした以外
は、実施例1と同様の条件にして層形成全行って電子写
真用像形成部材を得た。
Example 8 In Example 1, S was used instead of 5il (4/'Hs gas).
An electrophotographic image forming member was obtained by forming all layers under the same conditions as in Example 1, except that a 1□H6 e-gasu was used and the conditions shown in Example 8 were changed.

こうして得られた像形成部材に就いて、実施例1と同様
の条件及び手順で転写紙上に画像を形成したところ極め
て鮮明な画質が得られた。
When an image was formed on a transfer paper using the image forming member thus obtained under the same conditions and procedures as in Example 1, an extremely clear image quality was obtained.

実施例9 実施例1に於いて、5iH474(eガスの代りにSi
F4/)(・ガスを使用し第9表に示す条件にした以外
は、実施例1と同様の条件にして層形成を行って電子写
真用像形成部材を得た。
Example 9 In Example 1, 5iH474 (Si instead of e gas)
An electrophotographic image forming member was obtained by forming layers under the same conditions as in Example 1, except that F4/) (・gas was used and the conditions shown in Table 9 were used.

こうして得られた像形成部材に就いて、実施例1と同様
の条件及び手順で転写紙上に画像を形成したところ極め
て鮮明な画像が得られた。
When an image was formed on a transfer paper using the image forming member thus obtained under the same conditions and procedures as in Example 1, an extremely clear image was obtained.

実施例10 実施例1に於いて、SiH4/’T(eガスの代りに(
5su4/)Is + 81F4苅e)ガスを使用し第
10表に示す条件にした以外は、実施例1と同様の条件
にして層形成を行って電子写真用像形成部材を得た。
Example 10 In Example 1, SiH4/'T (instead of e gas (
An electrophotographic image forming member was obtained by forming layers under the same conditions as in Example 1, except that 5su4/)Is + 81F4e) gas was used and the conditions shown in Table 10 were used.

(61) こうしてKnられた像形成部材に就いて、実施例1と同
様の条件及び手順で転写紙上に画像を形成したところ極
めて鮮明な画質が得られた。
(61) When an image was formed on a transfer paper using the thus prepared image forming member under the same conditions and procedures as in Example 1, an extremely clear image quality was obtained.

実施例11 第11図に示した製造装置により、シリンダー状のAt
基体上に、第11表に示す条件で第12図に示すガス流
量比の変化率曲線に従って、Ge H4苅eガスと81
 H4,/f(eガスのガス流量比を層作成経過時間と
共に変化させて層形成を行って電子写真用像形成部材を
得た。
Example 11 A cylindrical At
On the substrate, under the conditions shown in Table 11 and according to the rate of change curve of the gas flow rate ratio shown in FIG.
An electrophotographic image forming member was obtained by forming layers by changing the gas flow rate ratio of H4,/f (e gas) with the elapsed time of layer formation.

こうして得られた像形成部材を、帯!露光実験装置に設
置しe 5. Okvで0.3111(1間コロナ帯電
を行い、直ちに光像を照射した。光像はタングステンラ
ンゾ光源を用い、2Lux・ICの光量を透過型のテス
トチャートを通して照射させた。
The image forming member obtained in this way is used as a band! Install it in the exposure experiment equipment 5. 0.3111 (Okv) (corona charging was performed for 1 hour, and a light image was immediately irradiated. A tungsten Lanzo light source was used for the light image, and a light amount of 2 Lux IC was irradiated through a transmission type test chart.

その後直ちに■荷電性の現像剤(トナーとキャリアを含
む)全像形成部材表面をカスケードすることによって、
像形成部材表面上に良好なトナー画像を得た。像形成部
材上のトナー画像を、Q5.Okvのコロナfi電で転
写紙上に転写した所、解像力(62) に優れ、階調再現性のよい鮮明な高濃度の画像が得られ
た。
Immediately thereafter, by cascading the charged developer (including toner and carrier) over the entire surface of the image forming member,
A good toner image was obtained on the imaging member surface. Q5. When transferred onto transfer paper using Okv's Corona Fi Electron, a clear, high-density image with excellent resolution (62) and good gradation reproducibility was obtained.

実施例12 実施例11に於いて、第1層の作成の際にはB2H6の
(5sH4+GeH4)に対する流量を、第2層の作成
の際にはB2H6のSiH4に対する流量を第12表に
示す様に変えた以外は、実施例11と同様の条件で電子
写真用像形成部材の夫々(試料j’Fx 1201〜1
208)′!il−作奴した。
Example 12 In Example 11, when creating the first layer, the flow rate of B2H6 to (5sH4 + GeH4) was changed, and when creating the second layer, the flow rate of B2H6 to SiH4 was changed as shown in Table 12. Each of the electrophotographic image forming members (samples j'Fx 1201 to 1
208)'! il-I made a slave.

こうして得られた像形成部材に就いて、実施例11と同
様の条件及び手順で転写紙上に画像を形成したところ第
12表に示す結果が得られた。
Using the image forming member thus obtained, an image was formed on a transfer paper under the same conditions and procedures as in Example 11, and the results shown in Table 12 were obtained.

実施例13 実施例1〜10に於いて、紀2層の作成条件を第13表
及び第14表に示す条件にした以外は、各実施例に示す
条件と同様にして電子写真用像形成部材の夫々(試料A
 1301〜1310.1401〜1410)を作成し
た。
Example 13 An electrophotographic image forming member was prepared in the same manner as in Examples 1 to 10, except that the conditions for creating the second layer were as shown in Tables 13 and 14. each (sample A
1301-1310.1401-1410) were created.

こうして得られた像形成部材の夫々に就いて、実施例1
と同様の条件及び手順で転写紙上に画像を形成したとこ
ろ第13A表、第14A表に示す結果が得られた。
For each of the image forming members thus obtained, Example 1
When an image was formed on a transfer paper under the same conditions and procedures as above, the results shown in Tables 13A and 14A were obtained.

実施例14 実施例1に於いて、光源をタングステンランプの代りに
810 nmのGaAs系半導体レーデ(10mW)を
用いて、静電像の形成を行った以外は、実施例1と同様
のトナー画像形成条件にして、実施例1と同様の条件で
作成した電子写真用像形成部材に就いてトナー転写画像
の画質評価全行ったところ、解像力に優れ、階調再現性
の良い鮮明な高品位の画像が得られた。
Example 14 A toner image similar to Example 1 except that an 810 nm GaAs semiconductor radar (10 mW) was used as the light source instead of the tungsten lamp to form an electrostatic image. When the image quality of the toner transfer image was completely evaluated for an electrophotographic image forming member prepared under the same forming conditions as in Example 1, it was found that it was a clear, high-quality image with excellent resolution and good gradation reproducibility. Image obtained.

以上の本発明の実施例に於ける共通の層作成条件を以下
に示す。
Common layer forming conditions in the above embodiments of the present invention are shown below.

基体温度:ゲルマニウム原子(Go)含有層・・・・・
・ 約200℃ゲルマニウム原子(Go)非含有層・・
・約250℃放電周波数: 13.56 MHz 反応時反応室内圧: 0.3 Torr
Substrate temperature: germanium atom (Go) containing layer...
・ Approximately 200℃ germanium atom (Go)-free layer...
・About 250℃ Discharge frequency: 13.56 MHz Reaction chamber pressure during reaction: 0.3 Torr

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明の光導電部材の層構成を説明する為の
模式的層構成図、第2図乃至第10図は夫々光受容層中
のゲルマニウム原子の分布状態を説明する為の説明図、
第11図は、本発明で使用された装置の模式的説明図で
、第12図乃至第18図は夫々本発明の実施例に於ける
ガス流量比の変化率曲線を示す説明図である。 100・・・光導電部材’ 1.01・・・支持体10
2・・・光受容層 103・・・第1の層領域(G)1
04・・・第2の層領域(S) (73) 第12図 ガスfL童よし 力゛ズ流量、此。 竿17厘
FIG. 1 is a schematic layer structure diagram for explaining the layer structure of the photoconductive member of the present invention, and FIGS. 2 to 10 are illustrations for explaining the distribution state of germanium atoms in the photoreceptive layer, respectively. figure,
FIG. 11 is a schematic explanatory diagram of the apparatus used in the present invention, and FIGS. 12 to 18 are explanatory diagrams showing the rate of change curves of the gas flow ratio in the embodiments of the present invention, respectively. 100...Photoconductive member' 1.01...Support 10
2... Photoreceptive layer 103... First layer region (G) 1
04...Second layer region (S) (73) Figure 12 Gas fL power supply flow rate, this. 17 rods

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)光導電部材用の支持体と、該支持体上に配置され
、シリコン原子とゲルマニウム原子とを含む非晶質材料
で構成された第1の層領域、およびシリコン原子を含む
非晶質材料で構成され光導電性を示す第2の層領域とが
前記支持体側よシ順に設けられた層構成の光受容層とを
有し、前記第1の層領域中に於けるダルマニウム原子の
分布状態が層厚方向に不均一であって、前記第1の層領
域に伝導性を支配する物質が含有され、前記光受容層に
は炭素原子が含有されている事′f:%徴とする光導電
部材。
(1) A support for a photoconductive member, a first layer region disposed on the support and made of an amorphous material containing silicon atoms and germanium atoms, and an amorphous material containing silicon atoms. a second layer region made of a material and exhibiting photoconductivity; and a photoreceptive layer having a layered structure provided in order from the side of the support; The distribution state is non-uniform in the layer thickness direction, the first layer region contains a substance controlling conductivity, and the photoreceptive layer contains carbon atoms. A photoconductive member.
(2)第1の層領域及び第2の層領域の少なくともいず
れか一方に水素原子が含有されている特許請求の範囲第
1項に記載の光導電部拐。
(2) The photoconductive part according to claim 1, wherein at least one of the first layer region and the second layer region contains hydrogen atoms.
(3)第1の層領域及び第2の層領域の少なくともいず
れか一方にハロゲン原子が含有されている特許請求の範
囲第1項又は同第2項に記載の光導電部材。
(3) The photoconductive member according to claim 1 or 2, wherein at least one of the first layer region and the second layer region contains a halogen atom.
(4)第1の層領域中に於けるゲルマニウム原子の分布
状態が前記支持体側の方に多く分布する分布状態である
特許請求の範囲第1項に記載の光導電部材。
(4) The photoconductive member according to claim 1, wherein the distribution state of germanium atoms in the first layer region is such that more germanium atoms are distributed toward the support side.
(5) 伝導性を支配する物質が周期律表第■族に属す
る原子である特許請求の範囲第1項に記載の光導電部材
(5) The photoconductive member according to claim 1, wherein the substance that controls conductivity is an atom belonging to Group Ⅰ of the periodic table.
(6)伝導性を支配する物質が周期律表第V族に属する
原子である特許請求の範囲第1項に記載の光導電部材。
(6) The photoconductive member according to claim 1, wherein the substance that controls conductivity is an atom belonging to Group V of the periodic table.
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