JPS6052787A - Scintillation camera - Google Patents

Scintillation camera

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JPS6052787A
JPS6052787A JP16000483A JP16000483A JPS6052787A JP S6052787 A JPS6052787 A JP S6052787A JP 16000483 A JP16000483 A JP 16000483A JP 16000483 A JP16000483 A JP 16000483A JP S6052787 A JPS6052787 A JP S6052787A
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nonlinear
signal
energy signal
circuit
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Yoshihiko Kumazawa
熊澤 良彦
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Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
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Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/161Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
    • G01T1/164Scintigraphy
    • G01T1/1641Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
    • G01T1/1642Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras

Abstract

PURPOSE:To correct always a spatial distortion and an ununiformity due to this distortion independently of energy by changing the nonlinear characteristic of an amplifying system of a PMT (photomultiplier) nonlinearly in accordance with an energy window level or an energy signal. CONSTITUTION:Weighting addition different in weight by the position of each PMT 3 and normalization due to division by an energy signal Z are performed in a position operating circuit 7 to obtain position signals X and Y. Respective outputs of waveform shaping circuits 5 are inputted to an adding circuit 8 also to obtain the energy signal Z, and this energy signal Z is sent to a pulse height analyzer 9, and it is discriminated by this pulse height analyzer 9 whether the energy signal Z is within a certain energy window or not, and an unblank signal is generated from the pulse height analyzer 9 if the energy signal is within the energy window. The energy signal Z is transformed by an energy signal nonlinear circuit 10 and is inputted to a nonlinear point control voltage supply circuit 11, and a nonlinear point control voltage is so generated that nonlinear points of nonlinear circuits 6 are changed in accordance with the energy for every event of radiation incidence, and this voltage is supplied to individual nonlinear circuits 6.

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 この発明はシンチレーションカメラの改良に関する。[Detailed description of the invention] (b) Industrial application fields This invention relates to improvements in scintillation cameras.

(ロ)従来技術 シンチレーションカメラは、よく知られているように、
シンチレータに放射線を入射させてシンチレーション光
を発生させ、この光をシンチレータの裏面に多数配列さ
れた光電変換器(普通はフォトマルチプライア; PM
Tを用いることが多いので以下PMTと言う)に導き、
この各PMTの出力をそれぞれ増幅系を通して重み付は
加算回路よりな−る位置演算回路に入力することにより
、シンチレーション光の発生位置を計算して画像を得る
ものである。
(b) Conventional scintillation cameras, as is well known,
Radiation is incident on a scintillator to generate scintillation light, and this light is transferred to a large number of photoelectric converters (usually photomultipliers; PM) arranged on the back side of the scintillator.
(hereinafter referred to as PMT),
The output of each PMT is passed through an amplification system and inputted to a position calculating circuit consisting of a weighting and adding circuit, thereby calculating the position where scintillation light is generated and obtaining an image.

従来より、このようなシンチレーションカメラにおいて
空間分解能を向上させる目的で、あるいは空間的歪を改
善させる目的で、各PMTと位置演算回路との間に接続
された増幅系に関して非線形特性を持たせることが提案
され、その非線形特性を波高分析器のエネルギウィンド
レベルまたは各事象毎のエネルギ信号に比例して変化さ
せることも提案されている(特公昭51−29839、
特公昭56−51312、特開昭53−84378、特
開昭55−44998等の各公報参照)。
Conventionally, in order to improve spatial resolution or improve spatial distortion in such scintillation cameras, it has been possible to provide nonlinear characteristics to the amplification system connected between each PMT and the position calculation circuit. It has also been proposed to change the nonlinear characteristics in proportion to the energy wind level of the pulse height analyzer or the energy signal for each event (Japanese Patent Publication No. 51-29839,
(See Japanese Patent Publication No. 56-51312, Japanese Patent Application Publication No. 53-84378, Japanese Patent Application Publication No. 55-44998, etc.).

しかし、従来のこれらの提案にかかる構成では、非線形
特性をエネルギウィンドレベルまたはエネルギ信号に線
形に比例変化させるようにしているため、たとえば、低
エネルギ測定時に空間分解能や空間歪に起因する不均一
性が最適になるように非線形特性のパラメータを選択し
た場合、高エネルギ測定時にPMTの真上でホットスポ
ットとなるような不均一性が生じたりするという問題が
あった。
However, in the configurations of these conventional proposals, the nonlinear characteristics are changed linearly and proportionally to the energy wind level or energy signal. If the parameters of the nonlinear characteristics are selected to be optimal, there is a problem in that non-uniformity such as a hot spot directly above the PMT occurs during high-energy measurement.

すなわち、上記提案では、上記増幅系の入出力特性を、
たとえば第1図Aに示すような高入力信号に対する増幅
率が小さい所謂抑圧型非線形特性とし、2箇所の折れ曲
り点(低い方をLNL、高い方をHNLとする)を持た
せる。そしてこれらの折れ曲り点を、同図Bに示すよう
に、エネルギ信号Zに対して線形に比例するよう変化さ
せている。そのため、たとえば、低エネルギZl、中エ
ネルギZ2.高エネルギZ3についての特性は第1Ug
!JAの点線、実線、1点鎖線にそれぞれ示されている
ようになる。
That is, in the above proposal, the input/output characteristics of the above amplification system are
For example, as shown in FIG. 1A, the so-called suppressed nonlinear characteristic has a small amplification factor for a high input signal, and has two bending points (the lower one is LNL and the higher one is HNL). These bending points are changed linearly in proportion to the energy signal Z, as shown in FIG. Therefore, for example, low energy Zl, medium energy Z2. The characteristics for high energy Z3 are the 1st Ug
! The results are as shown by the dotted line, solid line, and dashed-dotted line of JA, respectively.

しかし、ある条件下で測定した場合、中エネルギZ2に
関して空間歪およびそれに起因する不均一性が最も良好
に改善されるように調節すると、低エネルギZlに関し
てはPMTの真上でコールドスポットが生じるような空
間歪が、高エネルギZ3に関してはPMTの真上でホッ
トスポットが生じるよ之な空間歪が、それぞれ多少化じ
る傾向を持つ。これはシンチレータ内で放射線が吸収さ
れてシンチレーション光が生じる位置が、高エネルギ程
平均的に深くなることに起因すると考えられる。
However, when measured under certain conditions, if the spatial distortion and resulting inhomogeneity are adjusted to be best improved for medium energy Z2, a cold spot appears directly above the PMT for low energy Zl. For the high energy Z3, the spatial distortion that causes a hot spot directly above the PMT tends to change somewhat. This is thought to be due to the fact that the position where radiation is absorbed within the scintillator and scintillation light is generated becomes deeper on average as the energy increases.

(ハ)目的 この発明は、エネルギに依らずに常に空間的歪およびそ
れに起因する不均一性を良好に改善するようにしたシン
チレーションカメラを提供することを目的とする。
(C) Objective The object of the present invention is to provide a scintillation camera that always improves spatial distortion and non-uniformity caused by it, regardless of energy.

(ニ)構成 この発明によれば、シンチレータ内で放射線が吸収さ□
れてシンチレーション光が生じる位置が、高エネルギ程
平均的に深くなることに着目し、各PMTの増幅系にお
ける非線形特性を、波高分析器のエネルギウィンドレベ
ルまたは放射線入射の各事象毎のエネルギ信号に対して
非線形に変化させるようにしている。
(d) Configuration According to this invention, radiation is absorbed within the scintillator.
Focusing on the fact that the position where scintillation light is generated becomes deeper on average as the energy increases, we calculated the nonlinear characteristics in the amplification system of each PMT into the energy wind level of the pulse height analyzer or the energy signal for each event of radiation incidence. It is made to change non-linearly.

(ホ)実施例 第2図に示すように、シンチレータlの裏面にライトガ
イド2を介して多数のPMT3が配列されている。この
ライトガイド2の厚さくおよびシンチレータlの厚さ)
を薄くし、これにより高分解能を得る代り各PMT3の
真上でホットスポットとなるような空間歪およびこれに
起因する不均一性が著しくなるような構成とし、後述の
非線形回路6の作用によりこの空間歪およびこれに起因
する不均一性を改善するようにし、結果的に空間分解能
と空間的歪(およびこれに起因する不均一性)の両方を
改善することができるようにしている。
(E) Embodiment As shown in FIG. 2, a large number of PMTs 3 are arranged on the back surface of a scintillator 1 via a light guide 2. Thickness of this light guide 2 and thickness of scintillator l)
In exchange for obtaining high resolution by thinning the PMT 3, the configuration is such that the spatial distortion that becomes a hot spot directly above each PMT 3 and the resulting non-uniformity become significant. Spatial distortion and non-uniformity caused by this are improved, and as a result, both spatial resolution and spatial distortion (and non-uniformity caused by this) can be improved.

シンチレータlに放射線が入射するとこのシンチレータ
1のなかでシンチレーション光が発生し、この光がライ
トガイド2を経てPMT3の各々に導かれる。こうして
PMT3の各々から出力が生じ、この各出力がそれぞれ
対応するプリアンプ4で線形に積分され、各波形整形回
路5で整形・増幅された後、非線形回路6に入力され非
線形に増幅される(なお非線形回路6を減衰器で構成し
て非線形に減衰してもよい)、各非線形回路6の出力は
位置演算回路7に入力され、この位置演算回路7で通常
のアンガ型シンチレーションカメラと同様に各PMT3
の位置によって重みが異なる重み付は加算とエネルギ信
号Zで除算する規格化とが行なわれて位置信号X、Yが
得られる。上記波形整形回路5の各々の出力はまた、加
゛算回路8にも入力され、エネルギ信号Zが得られ、こ
のエネルギ信号Zは波高分析器9に送られてこの波高分
析器9によりこのエネルギ信号Zがあるエネルギウィン
ド内に入ってい・るか否かが判別され、入っている場合
アンプランク信号がこの波高分析器9から発生する。ま
たエネルギ信号Zはエネルギ信号非線形回路10によっ
て変形させられた後非線形点制御電圧供給回路11に入
力され、放射線入射の各事象毎にそのエネルギに応じて
非線形回路6の非線形点が変るように非線形点制御電圧
を発生し、これを非線形回路6の各々に供給する。非線
形回路6の入出力特性は、たとえば第3図Aで示すよう
な、高入力信号に対する増幅率が小さい所謂抑圧型非線
形特性とし、2箇所の折れ曲り点(低い方をLNL、高
い方をHNLとする)を有し、これら各折れ曲り点はそ
れぞれ非線形点制御電圧供給回路11からの非線形点制
御電圧で制御される。
When radiation is incident on the scintillator 1, scintillation light is generated within the scintillator 1, and this light is guided to each of the PMTs 3 via the light guide 2. In this way, an output is generated from each PMT 3, each output is linearly integrated by the corresponding preamplifier 4, shaped and amplified by each waveform shaping circuit 5, and then input to a nonlinear circuit 6 where it is nonlinearly amplified. (The nonlinear circuit 6 may be configured with an attenuator to nonlinearly attenuate it.) The output of each nonlinear circuit 6 is input to a position calculation circuit 7, and the position calculation circuit 7 calculates each PMT3
The weighting, which has different weights depending on the position, is added and normalized by dividing by the energy signal Z to obtain the position signals X and Y. The output of each of the waveform shaping circuits 5 is also input to an adding circuit 8 to obtain an energy signal Z. This energy signal Z is sent to a pulse height analyzer 9, which converts the energy It is determined whether the signal Z falls within a certain energy window, and if so, an unblank signal is generated from this pulse height analyzer 9. The energy signal Z is transformed by the energy signal non-linear circuit 10 and then inputted to the non-linear point control voltage supply circuit 11. A point control voltage is generated and supplied to each of the nonlinear circuits 6. The input/output characteristics of the nonlinear circuit 6 are so-called suppressed nonlinear characteristics with a small amplification factor for high input signals, as shown in FIG. ), and each of these bending points is controlled by a nonlinear point control voltage from a nonlinear point control voltage supply circuit 11, respectively.

ここで、折れ曲り点は従来のように線形に変化させる(
第1図Bのように)とシンチレータl内での放射線吸収
位置が高エネルギ程平均的に深くなることに起因して空
間的歪が生じるので、エネルギ信号非線形回路10によ
りエネルギ信号Zを非線形に変化させ、折れ曲り点がエ
ネルギ信号Zに対して非線形に変化するようにする。そ
の結果非線形回路6の入出力特性が第3図Aに示される
ように(第1図Aと比較して)低エネルギZlに関して
は多少浅く、高エネルギZ3に関しては多少深く抑圧す
るような特性となり、どのようなエネルギに関しても空
間的歪およびこれに起因する不均一性が最も改善される
よう調整することが可能になる。なお、2つの折れ曲り
点の一方のみを非線形に、他方を線形に変化させても効
果が得られる場合もある。
Here, the bending point is changed linearly as before (
As shown in FIG. 1B), spatial distortion occurs due to the fact that the radiation absorption position within the scintillator l becomes deeper on average as the energy increases. so that the bending point changes non-linearly with respect to the energy signal Z. As a result, as shown in FIG. 3A, the input/output characteristics of the nonlinear circuit 6 become somewhat shallower for low energy Zl and somewhat deeper for high energy Z3 (compared to FIG. 1A). , it becomes possible to make adjustments so that spatial distortion and non-uniformity caused by it are most improved for any energy. Note that even if only one of the two bending points is changed nonlinearly and the other one linearly, an effect may be obtained.

また、たとえば非線形回路6がエネルギ変化に対して1
確に相似な特性曲線を必ずしも満足していない場合(こ
れはダイオードクランプを利用して非線形特性を得るよ
うにした場合折れ曲り部の曲線がダイオードのスレッシ
ョルド特性に起因するため避けられない問題である)と
か、ライトガイド2の中にマスクが配置されている場合
等では、上記と同じような傾向の空間的歪が生じる訳で
はない(ライトガイド2中にマスクが配置されている場
合には、放射線吸収深さのエネルギ依存性から、上記と
は逆の傾向、つまり低エネルギZ1でPMT3上にホッ
トスポットが生じ、高エネルギZ3でPMT3上にコー
ルドスポットが生じるような傾向の空間的歪がある)が
、このような場合でも上記のようにすることにより一定
のエネルギ範囲でエネルギに依らず常に空間的歪を良好
に改善できる。
Also, for example, the nonlinear circuit 6 may have a 1
If similar characteristic curves are not necessarily satisfied (this is an unavoidable problem when using a diode clamp to obtain nonlinear characteristics, since the curve at the bend is due to the threshold characteristics of the diode) ) or when a mask is placed inside the light guide 2, spatial distortion with the same tendency as above does not occur (when a mask is placed inside the light guide 2, Due to the energy dependence of the radiation absorption depth, there is a spatial distortion with a tendency opposite to the above, that is, a hot spot appears on PMT3 at low energy Z1, and a cold spot appears on PMT3 at high energy Z3. ) However, even in such a case, by doing as described above, spatial distortion can always be improved satisfactorily within a certain energy range regardless of the energy.

なお、上記の実施例では、非線形回路6の入出力特性が
第3図Aで示すような2箇所の折れ曲り点を有する抑圧
型非線形特性であるとして説明したが、折れ曲り点が2
箇所以外の場合、折れ曲りが滑らかな場合、連続的非線
形特性の場合等の類似の種々の場合にも同様に適用して
効果がある。
In the above embodiment, the input/output characteristic of the nonlinear circuit 6 was explained as a suppressed nonlinear characteristic having two bending points as shown in FIG. 3A.
It is also effective to apply it to various similar cases such as cases other than the location, cases where bending is smooth, cases with continuous nonlinear characteristics, etc.

たとえば第4図Aに示すように抑圧型特性に加えてスレ
ッショルド特性を有する場合、高エネルギでPMT3上
にホットスポットを生じるような傾向があるとき、第4
図Bに実線で示したように高エネルギZ3に関してスレ
ッショルド点を多少浅くする(点線で示した線形の場合
に比べて)ことで上記と同様な改善ができる。このとき
折れ曲り点とスレッショルド点との両方をそれぞれ第3
図Bおよび第4図Bのように非線形に変化させてもよい
し、一方のみを非線形に、他方を線形に変化させるよう
にしてもよい。
For example, as shown in FIG. 4A, when there is a threshold characteristic in addition to the suppression type characteristic, when there is a tendency to generate a hot spot on the PMT3 at high energy, the fourth
As shown by the solid line in FIG. B, the same improvement as described above can be achieved by making the threshold point somewhat shallower for the high energy Z3 (compared to the linear case shown by the dotted line). At this time, both the bending point and the threshold point are
It may be changed non-linearly as shown in FIG. B and FIG. 4B, or only one may be changed non-linearly and the other linearly.

また、上記実施例では非線形回路6の入出力特性が放射
線入射の各事象毎のエネルギ信号Zに応じて変化する構
成としたが、この代わりに波高分析器9のエネルギウィ
ンドレベルによって変化する構成とすることもできる。
Further, in the above embodiment, the input/output characteristics of the nonlinear circuit 6 are configured to change according to the energy signal Z for each event of radiation incidence, but instead of this, a configuration is adopted in which the input/output characteristics of the nonlinear circuit 6 are changed depending on the energy window level of the pulse height analyzer 9. You can also.

あるいは、第2図と位置演算方法が多少異なる構成(た
とえばプリアンプ4が非積分型で、波形整形回15を持
たず、ピーク検出を行なうか、位置演算途中で積分を行
なうようにした構成)を採用した場合でも同様に適用可
能である。
Alternatively, a configuration in which the position calculation method is slightly different from that in FIG. 2 (for example, a configuration in which the preamplifier 4 is a non-integrating type, does not have the waveform shaping circuit 15, and performs peak detection, or performs integration during position calculation) may be used. The same applies even if it is adopted.

また、ライトガイド2内にマスクを配置し、非線形回路
6の入山力特性が第5図Aに示すように低入力信号に対
する増幅率が小さい所謂スレッショルド効果のみを有し
上記の実施例のような抑圧効果を有しない構成とする場
合にも、この特性が第5図Bの実線で示されるように、
各事象毎のエネルギ信号または波高分析器9のエネルギ
ウィンドレベルに対して非線形に変化させるようにして
同様の効果を得る。この場合、非線形回路6がプリアン
プ4に組み込まれていてもよい。
In addition, a mask is placed in the light guide 2, so that the input input characteristic of the nonlinear circuit 6 has only a so-called threshold effect with a small amplification factor for low input signals, as shown in FIG. 5A, and is similar to the above embodiment. Even in the case of a configuration that does not have a suppressing effect, this characteristic is shown by the solid line in FIG. 5B,
A similar effect can be obtained by nonlinearly changing the energy signal for each event or the energy window level of the pulse height analyzer 9. In this case, the nonlinear circuit 6 may be incorporated into the preamplifier 4.

さらに、非線形回路6の入出力特性は固定し、各PMT
3の増幅率または各PMT3から各非線形回路6までの
間に挿入された増幅器(または減衰器)の増幅率を各事
象毎のエネルギ信号または波高分析器9のエネルギウィ
ンドレベルに対して非線形に変化させても同様である。
Furthermore, the input/output characteristics of the nonlinear circuit 6 are fixed, and each PMT
3 or the amplification factor of the amplifier (or attenuator) inserted between each PMT 3 and each nonlinear circuit 6 is changed nonlinearly with respect to the energy signal for each event or the energy wind level of the pulse height analyzer 9. The same is true if you let it.

(へ)効果 この発明によれば、シンチレータ内で放射線が吸収され
てシンチレーション光が生じる位置が高エネルギ程平均
的に深くなることに着目してこれを補償するようにPM
Tの増幅系の非線形特性をエネルギウィンドレベルまた
はエネルギ信号に応じて非線形に変えるようにしたので
、エネルギに依らず常に空間的歪およびそれに起因する
不均一性を良好に改善することができるとともに、エネ
ルギに依らず常に高分解能を保ちながら上記の改善を実
現できる。
(Effect) According to the present invention, focusing on the fact that the position where radiation is absorbed in the scintillator and scintillation light is generated becomes deeper on average as the energy increases, PM is used to compensate for this.
Since the nonlinear characteristics of the T amplification system are changed nonlinearly according to the energy wind level or the energy signal, spatial distortion and nonuniformity caused by it can always be improved regardless of the energy, and The above improvements can be achieved while always maintaining high resolution regardless of energy.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図A、Bは従来例における特性を示すグラフ、第2
図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第3図A、
Bはこの実施例における特性を示すグラフ、第4図A、
Bおよび第5図A、Bばそれぞれ変形例の特性を示すグ
ラフである。 l・・・シンチレータ 2・・・ライトガイド3・・・
PMT 4・・・プリアンプ 5・・・波形整形回路 6・・・非線形回路7・・・位
置演算回路 8・・・加算回路9・・・波高分析器 10・・・エネルギ信号非線形回路 11・・・非線形点制御電圧供給回路 答1謂 簾2目 クリ 答3頂 A 算l珠 ス :tl:12 Z31S
Figures 1A and B are graphs showing the characteristics of the conventional example;
The figure is a block diagram showing one embodiment of the present invention, FIG. 3A,
B is a graph showing the characteristics in this example, FIG. 4A,
FIGS. 5A and 5B are graphs showing characteristics of modified examples, respectively. l...Scintillator 2...Light guide 3...
PMT 4... Preamplifier 5... Waveform shaping circuit 6... Nonlinear circuit 7... Position calculation circuit 8... Addition circuit 9... Wave height analyzer 10... Energy signal nonlinear circuit 11...・Nonlinear point control voltage supply circuit Answer 1 Curtain 2 Eye Clear Answer 3 Vertex A Mathematical beads: tl:12 Z31S

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)シンチレータと、このシンチレータの裏面に配列
される多数の光電変換器と、この各光電変換器の出力を
それぞれ増幅する非線形特性を有する増幅系と、上記多
数の光電変換器の出力の全てを加算することによりエネ
ルギ信号を得る加算回路と、この加算回路から得られる
エネルギ信号の波高があらかじめ設定されたエネルギウ
ィンドに入っているか否かを判別し入っているときにア
ンプランク信号を生じる波高分析器と、上記各増幅系を
経た各光電変換器の出力が入力される位置演算回路とを
有するシンチレーションカメラにおいて、上記波高分析
器のエネルギウィンドレベルまたは放射線入射の各事象
毎のエネルギ信号が入力されており、上記増幅系に制御
信号を与えることにより、上記増幅系の非線形特性を、
上記波高分析器のエネルギウィンドレベルまたは放射線
入射め各事象毎のエネルギ信号に対して非線形に変化さ
せる非線形特性制御回路を備えるようにしたことを特徴
とするシンチレーションカメラ。
(1) A scintillator, a large number of photoelectric converters arranged on the back side of the scintillator, an amplification system having nonlinear characteristics that amplifies the output of each of the photoelectric converters, and all of the outputs of the above-mentioned large number of photoelectric converters. An adder circuit that obtains an energy signal by adding , and a wave height that determines whether the wave height of the energy signal obtained from this adder circuit is within a preset energy window and generates an unranked signal when it is within a preset energy window. In a scintillation camera having an analyzer and a position calculation circuit into which the output of each photoelectric converter that has passed through each of the amplification systems is input, the energy wind level of the wave height analyzer or the energy signal for each event of radiation incidence is input. By applying a control signal to the amplification system, the nonlinear characteristics of the amplification system can be controlled by
A scintillation camera characterized by comprising a nonlinear characteristic control circuit that nonlinearly changes the energy wind level of the wave height analyzer or the energy signal for each event of radiation incidence.
JP16000483A 1983-08-31 1983-08-31 Scintillation camera Granted JPS6052787A (en)

Priority Applications (1)

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JP16000483A JPS6052787A (en) 1983-08-31 1983-08-31 Scintillation camera

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JP16000483A JPS6052787A (en) 1983-08-31 1983-08-31 Scintillation camera

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JPS6052787A true JPS6052787A (en) 1985-03-26
JPH0475474B2 JPH0475474B2 (en) 1992-11-30

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ID=15705893

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5537983A (en) * 1978-09-12 1980-03-17 Toshiba Corp Scintillation camera

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5537983A (en) * 1978-09-12 1980-03-17 Toshiba Corp Scintillation camera

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JPH0475474B2 (en) 1992-11-30

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