JPS6049850B2 - 放射温度計 - Google Patents

放射温度計

Info

Publication number
JPS6049850B2
JPS6049850B2 JP55135489A JP13548980A JPS6049850B2 JP S6049850 B2 JPS6049850 B2 JP S6049850B2 JP 55135489 A JP55135489 A JP 55135489A JP 13548980 A JP13548980 A JP 13548980A JP S6049850 B2 JPS6049850 B2 JP S6049850B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation thermometer
radiation
measured
light
angle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP55135489A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5760233A (en
Inventor
純一郎 山下
利一 佐伯
敏夫 竹居
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP55135489A priority Critical patent/JPS6049850B2/ja
Publication of JPS5760233A publication Critical patent/JPS5760233A/ja
Publication of JPS6049850B2 publication Critical patent/JPS6049850B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/06Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、物体よりの熱放射を受光し、その放射量に
よつて前記物体の温度を測定する、放射温度計に関する
ものである。
第1図は製鉄所等て用いられる、連続式鋼片加熱炉に設
けられた従来の放射温度計の例を示す図である。
連続式鋼片加熱炉は、鋼片を連続して焼きなます場合に
広く用いられ、鋼片の品質管理や、加熱炉に供給する熱
量の最適化の観点から、鋼片温度の絶対値を知ることは
重要てある。第1図において、放射温度計1は、加熱炉
2中に存在する鋼片3を垂直に見込み、鋼片表面からの
放射4を受光することによつて鋼片の温度を測定する。
しかし、鋼片3表面の垂直方向の赤外光に対する放射率
は通常約0、2とあまり小さくなく、また、炉壁5の温
度は通常鋼片3の温度と同程度もしくはそれ以上である
ので、炉壁からの放射6が鋼片3表面で反射されて放射
温度計1に入射する成分は鋼片表面からの放射4に比べ
て無視できない。放射温度計1は受光した放射電力が全
て鋼片3表面からの放射によるものであるとみなして温
度測定値を算出するため、上記の鋼片3表面で反射され
た成分は温度測定値に誤差を与える。この発明は、この
欠点を除去するために、放射温度計が鋼片を見込む角を
鋼片の光学的性質て決まる特定の角度とするとともに放
射温度計の受光窓に偏光板を設けたもので、次にその原
理を述べる。第2図は、物体の表面ての光の反射の関係
を表わす図である。
物体からの熱放射などの自然光は進行方向に垂直でかつ
、互いに直交する方向への二つの偏光成分の組合せで表
わせる。
光の反射を考える場合には、入射光7および物体表面8
の垂線9を含む面すなわち入射面とこの入射面に垂直な
面内の成分を考え、入射面内の偏光成分10に対する反
射率・ Rpおよび入射面に垂直な面内の偏光成分11
に対する反射率Rsは入射角12θoの関数として次の
ように示されることは光学関係の技術者にとつては周知
の事実である。Rp(θo)■rprp木 (1) Rs(θo)■rsrs木 (2) 但し、rp■(ηIP−ηop)/(η1P+ηop)
n=(ηOs−η、s)/(ηΦ+η、s)なお、上式
中N..kはそれぞれ物体の複素屈折率の実部、虚部て
あり、iは虚数単位である。
物体を透過する光が無い場合、すなわち、入射光が反射
成分と物体へ吸収される成分だけに分配される場合には
、熱平衡の関係から熱放射の放射率と吸収率が等しいた
め、入射面内に偏光する成分の放射率εpおよび入射面
に垂直な面内に偏光する成分の放射率ESは、Rp.R
sと次の関係にある。第3図は、反射率R1放射率εの
入射角θ。
への依存性の例を表わす図で、n=3、k=0.1の場
合につき、Rpl3、RSl4、εPl5、εSl6の
4つの値を上記第(1)式〜第(4)式を用いて求めた
ものである。Rpl3の最小値を与えるθ。の値θBは
k=0の物質すなわちガラスのような誘電体の表面の反
射の場合においてはブリュースター角と呼ばれ、θB=
Arctann(5) で与えられる。
また、k≠Oの場合においてもn〉1であれば00〈θ
oく90合の間においてRpを最小とする角θ8が存在
する。一方、EPは.Rpと第(3)式の関係にあるた
め、Rpが最小となる角θ8に対しては最大となる。な
お、この角θ8は反射物体の複素屈折率n−1kによソ
ー意に決まる値である。第4図は、この発明の実施例を
表わす図であ・る。
放射温度計17は、温度を測定しようとする鋼片3をθ
8なる角18をもつて見込み、放射温度計17の受光窓
には放射温度計17の見込む光路ど鋼片の表面の垂線1
9のなす平面内に偏光している成分を最も多く透過させ
る偏光板20が設けられている。ここで、0Bは先に述
べた、Rpを最小とする入射角てあり、この角をもつて
物体の表面を見込む場合には、他のいずれの角をもつて
見込む場合よりも放射温度計17の見込む光路と鋼片の
垂線19のなす平面すなわち入射面内に偏光している光
に対する鋼片3表面の反射率Rpが小さく、また、その
平面内に偏光している光に対する鋼片3表面の放射率E
Pが大きくなる。一フ方、この入射面に垂直な方向に偏
光している成分は、偏光板20によつて遮られ、放射温
度計内の検出部21には到達しない。従つて、先に第1
図に示した従来の方式における放射温度計に比べ、検出
部21に入射する鋼片表面からの放射4の炉7壁からの
放射6が鋼片3表面て反射される成分22に対する割合
は第4図に示す場合の方が大きくなり、鋼片3表面の反
射光による温度測定値の誤差は軽減できる。なお、以上
は鋼片加熱炉に用いられる放射温度ノ計の場合について
説明したが、この発明はこれに限らず、被測定物体の表
面で背景光が反射され、その反射光によつて放射温度計
の温度測定値に誤差が生ずる場合に、その誤差を軽減す
る必要がある場合には広く用いることができる。
以上のように、この発明に係る放射温度計では、被測定
物体を放射温度計か見込む光路と被測定物体表面の垂線
のなす平面内に偏光している成分に対する被測定物体表
面の反射率が最小となる角度て放射温度計が被測定物体
を見込むとともに、上記偏光成分を最も多く透過させる
偏光板を設けることにより物体表面て反射される背景光
による温度測定値の誤差を軽減させることがてきる。
【図面の簡単な説明】
第1図は連続式鋼片加熱炉に設けられた従来の放射温度
計の例を示す図、第2図は物体の表面ての光の反射の関
係を表わす図、第3図は反射率R1放射率εの入射角θ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 被測定物体よりの熱放射を受光し、その受光放射量
    によつて前記物体の温度を測定する放射温度計において
    、被測定物体を放射温度計が見込む光路を含み、かつ被
    測定物体表面に垂直な平面内に偏光する成分に対する被
    測定物体表面の光の反射率が最小となる角度で放射温度
    計が被測定物体を見込むとともに、上記偏光成分を最も
    多く透過させる偏光板を受光部に設けたことを特徴とす
    る放射温度計。
JP55135489A 1980-09-29 1980-09-29 放射温度計 Expired JPS6049850B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP55135489A JPS6049850B2 (ja) 1980-09-29 1980-09-29 放射温度計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP55135489A JPS6049850B2 (ja) 1980-09-29 1980-09-29 放射温度計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5760233A JPS5760233A (en) 1982-04-12
JPS6049850B2 true JPS6049850B2 (ja) 1985-11-05

Family

ID=15152917

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP55135489A Expired JPS6049850B2 (ja) 1980-09-29 1980-09-29 放射温度計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6049850B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018105551A1 (ja) * 2016-12-07 2018-06-14 旭化成株式会社 放射温度測定装置

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58178034A (ja) * 1982-04-10 1983-10-18 Tokico Ltd シリンダ装置
JPS58178036A (ja) * 1982-04-13 1983-10-18 Tokico Ltd シリンダ装置
JPS62259112A (ja) * 1986-05-02 1987-11-11 Mitsubishi Electric Corp 目標物体位置検出装置
JP3161535B2 (ja) 1998-09-16 2001-04-25 セイコーエプソン株式会社 インクジェット式記録装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018105551A1 (ja) * 2016-12-07 2018-06-14 旭化成株式会社 放射温度測定装置
US11573128B2 (en) 2016-12-07 2023-02-07 Asahi Kasel Kabushiki Kaisha Radiation temperature measuring device

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5760233A (en) 1982-04-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0335224B1 (en) Radiation thermometry
JPH01202633A (ja) 放射温度計
JPS6049850B2 (ja) 放射温度計
JPS6049849B2 (ja) 物体の表面温度と放射率の測定装置
JPS6112212B2 (ja)
JPH0521412B2 (ja)
JPS6047538B2 (ja) 物体の温度と放射率の測定方法
JPH0737911B2 (ja) 開口部の熱流計測装置及び熱流計測方法
JPS634651B2 (ja)
JPS5987329A (ja) 鋼板の温度測定方法
JPH02134522A (ja) H↓2o吸収補正型放射温度計
JPH07174634A (ja) 炉内物体の温度測定方法
JPH05203497A (ja) 鋼板の温度測定方法
JP2000186962A (ja) 鋼板の温度測定方法および装置
JPS6221953Y2 (ja)
JPS6225973B2 (ja)
JPH0815036A (ja) 新しい内挿公式を利用して輻射温度計及び光計測装備を矯正する方法
JPS6225972B2 (ja)
JPH0310128A (ja) 高温炉内における温度と放射率の同時測定方法
GLICKSMAN et al. Errors associated with temperature measurements in hot glass
CN116759339A (zh) 用于半导体工件的热处理装置和温度调控方法
JPH0232207A (ja) 金属表面の粗度測定方法
JPS6184528A (ja) 温度測定装置
JPS62145122A (ja) 放射温度計
JPS59111026A (ja) 鋼板の温度測定方法