JPS6047905A - 測長器 - Google Patents
測長器Info
- Publication number
- JPS6047905A JPS6047905A JP15501783A JP15501783A JPS6047905A JP S6047905 A JPS6047905 A JP S6047905A JP 15501783 A JP15501783 A JP 15501783A JP 15501783 A JP15501783 A JP 15501783A JP S6047905 A JPS6047905 A JP S6047905A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- slit
- light
- section
- scanner
- detection signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B43—WRITING OR DRAWING IMPLEMENTS; BUREAU ACCESSORIES
- B43L—ARTICLES FOR WRITING OR DRAWING UPON; WRITING OR DRAWING AIDS; ACCESSORIES FOR WRITING OR DRAWING
- B43L7/00—Straightedges
- B43L7/005—Straightedges combined with other drawing aids
Landscapes
- Optical Transform (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は新規な測長器に関し、特に縮図、拡大図等の図
面に描かれたものの実寸を自動的に算出することができ
る新規な測長器を提供しようとするものである。
面に描かれたものの実寸を自動的に算出することができ
る新規な測長器を提供しようとするものである。
背景技術とその問題点
土木図面、配管施工図面等からそれに示された物の実際
の大きさを把握するには図面上に描かれた物の長さをス
ケールで測定し、その測定値と尺度とを筆算により演算
して実寸をめなければならない。従って複雑な図面につ
いてその内容を把握する場合には測定箇所が非常に多く
なり、そして測定する毎に筆算しなければならないので
、筆算に要する時間、労力が無視できない。
の大きさを把握するには図面上に描かれた物の長さをス
ケールで測定し、その測定値と尺度とを筆算により演算
して実寸をめなければならない。従って複雑な図面につ
いてその内容を把握する場合には測定箇所が非常に多く
なり、そして測定する毎に筆算しなければならないので
、筆算に要する時間、労力が無視できない。
発明の目的
しかして、本発明は、縮図、拡大図等の図ｉｊ’ｒｉに
描かれたものの実寸を自動的に算出することができる新
規な測長器を提供しようとするものである。
描かれたものの実寸を自動的に算出することができる新
規な測長器を提供しようとするものである。
発明の概要
上記目的を達成する本発明測長器の第１のものは、光透
過スリ・ントを一定の間隔をおいて一定方向に沿って配
列したスリット配列部を備えたスケールと、該スケール
に上記スケール配列方向に？ｆ）って移動可動に取り付
けられたスキャナと、からなり、該スキャナは、上記ス
リット配列部を挟んで発光手段と受光手段とを対向せし
めたスリッＩ・検出部と、該スリット検出部の受光手段
により検知されたスリット透過光を電気的なスリット検
知信号に変換し、そのスリット検知信号のパルス数をカ
ウントし、そのカウント結果を演算処理する演算部と、
演算処理の結果を表示する表示部と、を備えることを特
徴とするものである。
過スリ・ントを一定の間隔をおいて一定方向に沿って配
列したスリット配列部を備えたスケールと、該スケール
に上記スケール配列方向に？ｆ）って移動可動に取り付
けられたスキャナと、からなり、該スキャナは、上記ス
リット配列部を挟んで発光手段と受光手段とを対向せし
めたスリッＩ・検出部と、該スリット検出部の受光手段
により検知されたスリット透過光を電気的なスリット検
知信号に変換し、そのスリット検知信号のパルス数をカ
ウントし、そのカウント結果を演算処理する演算部と、
演算処理の結果を表示する表示部と、を備えることを特
徴とするものである。
本発明測長器の第２のものは、光透過スリットを一定の
間隔をおいて一定方向に沿って配列したスリ・ント配列
部を備えたスケールと、該スケールに−に記スリット配
列方向に沿って移動可動に取り付けられたスキャナと、
からなり、該スキャナは、上記スリット配列部を挟んで
発光手段と受光手段とを対向せしめたスリット検出部と
、スリット検出部の受光手段により検知されたスリット
透過光を電気的なスリット検知信号に変換し、そのスリ
ット検知信号のパルス数をカウントし、そのカウント数
に換算定数を乗算する波′ＪＬ部と、該演算部において
カウント数に乗算する換算定数の値ぐし をジノ換える検算定数切換部と、を備えるとを特徴とす
るものである。
間隔をおいて一定方向に沿って配列したスリ・ント配列
部を備えたスケールと、該スケールに−に記スリット配
列方向に沿って移動可動に取り付けられたスキャナと、
からなり、該スキャナは、上記スリット配列部を挟んで
発光手段と受光手段とを対向せしめたスリット検出部と
、スリット検出部の受光手段により検知されたスリット
透過光を電気的なスリット検知信号に変換し、そのスリ
ット検知信号のパルス数をカウントし、そのカウント数
に換算定数を乗算する波′ＪＬ部と、該演算部において
カウント数に乗算する換算定数の値ぐし をジノ換える検算定数切換部と、を備えるとを特徴とす
るものである。
実施例
以下に１本発明測長器を添附図面に示した実施例に従っ
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
第１図乃至第５図は本発明測長器の実施の一例を示すも
のであり、この測長器はスケールｌとスキャナ２とから
なる。
のであり、この測長器はスケールｌとスキャナ２とから
なる。
スケール１は図面上に直接に接する長細の基板３の上面
にスリット形成片４を有するスキャナガイド５を一体又
は一体重に形成してなるものである。基板３の一方の側
縁部には目盛６．６、・・・が一定の間隔例えば１＋ｎ
ｍ間隔で配列されている。
にスリット形成片４を有するスキャナガイド５を一体又
は一体重に形成してなるものである。基板３の一方の側
縁部には目盛６．６、・・・が一定の間隔例えば１＋ｎ
ｍ間隔で配列されている。
スキャナガイド５は、断面形状が略矩形で基板３よりも
適宜幅狭にされており、基板３と同じ長さを有している
。そして、該スキャナガイド５は目盛形成部７と重なら
ない位置にて基板３上面にその長手方向に沿って平行に
固定されている。該スキャナガイド５の目盛形成部７側
の面（正面）にはその全長に亘って前記スリット形成片
４が突出形成されており、又、スリ・ント形成片４が形
成された面と反対側の面の上端より相下側の部分にはス
キャナガイド５の全長にわたってガイド片８が突出形成
されている。
適宜幅狭にされており、基板３と同じ長さを有している
。そして、該スキャナガイド５は目盛形成部７と重なら
ない位置にて基板３上面にその長手方向に沿って平行に
固定されている。該スキャナガイド５の目盛形成部７側
の面（正面）にはその全長に亘って前記スリット形成片
４が突出形成されており、又、スリ・ント形成片４が形
成された面と反対側の面の上端より相下側の部分にはス
キャナガイド５の全長にわたってガイド片８が突出形成
されている。
スリット形成片４にはｖｊ４図に示すように光透過スリ
ット９．９、・・勢が前記目盛６．６、・・・の配列間
隔と同じ間隔で配列されている。
ット９．９、・・勢が前記目盛６．６、・・・の配列間
隔と同じ間隔で配列されている。
スキャナ２はスリット形成片４が遊嵌されるスリット形
成片遊嵌溝１０及びガイド片８が遊嵌されるガイ）・溝
１１を有しており、Ｍ嵌溝１０及びカイｌ” Ｊｏｎ
ｌ １にスリット形成片４及びカイト片８が遊嵌された
状ｊ法でスキャナカイト５の上面及び正面上をその長手
方向に沿って摺動し得るようにスキャナカイト５に取イ
づけられている。１２はスキャナ２に設けられたカーソ
ルで、スキャナ２正面から突出するように設けられてい
る。該カーソル１２は透明材料からなり、先端部１３が
二等辺三角形状にされており、その中心線上にはカーソ
ル線１４が刻設されている。しかして、スキャナ２がス
ケールｌの長手方向に沿って摺動されるとそれに伴って
カソール１２が目盛形成部７上を摺動される。
成片遊嵌溝１０及びガイド片８が遊嵌されるガイ）・溝
１１を有しており、Ｍ嵌溝１０及びカイｌ” Ｊｏｎ
ｌ １にスリット形成片４及びカイト片８が遊嵌された
状ｊ法でスキャナカイト５の上面及び正面上をその長手
方向に沿って摺動し得るようにスキャナカイト５に取イ
づけられている。１２はスキャナ２に設けられたカーソ
ルで、スキャナ２正面から突出するように設けられてい
る。該カーソル１２は透明材料からなり、先端部１３が
二等辺三角形状にされており、その中心線上にはカーソ
ル線１４が刻設されている。しかして、スキャナ２がス
ケールｌの長手方向に沿って摺動されるとそれに伴って
カソール１２が目盛形成部７上を摺動される。
１５はスキャナ２に形成された発光素子配置室、１６は
同じく受光素子配置室で、この２つの配置室１５．１６
はスリット形成片遊嵌溝１０を挟んで下側と上側とに形
成されており、発光素子配置室１５には発光ダイオード
１７が配置され、受光素子配置室１６にはフォトトラン
ジスタ１８が配置されている。１９．２０は配置室１５
．１６とスリット形成片遊端溝ｌＯとの間を連通ずる光
透過窓であり、その幅（スキャナ摺動方向における長さ
）はスリット９．９の幅と略同じにされており、この２
つの光透過窓１９．２０は互いに対向する位置に設けら
れている。
同じく受光素子配置室で、この２つの配置室１５．１６
はスリット形成片遊嵌溝１０を挟んで下側と上側とに形
成されており、発光素子配置室１５には発光ダイオード
１７が配置され、受光素子配置室１６にはフォトトラン
ジスタ１８が配置されている。１９．２０は配置室１５
．１６とスリット形成片遊端溝ｌＯとの間を連通ずる光
透過窓であり、その幅（スキャナ摺動方向における長さ
）はスリット９．９の幅と略同じにされており、この２
つの光透過窓１９．２０は互いに対向する位置に設けら
れている。
２１はスキャナ２に一体設けられた演算器で、換算定数
切換部２２及び２つの表示部２３．２４を外部に有し、
又、演算回路２５及び高周波変調回路２６を内蔵してい
る。第５図は演算器の回路構成を示すものであり、この
図に従って演算器の回路構成を説明する。高周波変調回
路２６は発光タイオード１７を短かい周期で点滅させる
ためのもので、その出力である高周波変調信号が発光ダ
イオード１７に印加される。このように発光ダイオード
１７を短かい周期で点滅させるのは発光ダイオード１７
からの光と、自然光あるいは照明光とを区別できるよう
するためである。
切換部２２及び２つの表示部２３．２４を外部に有し、
又、演算回路２５及び高周波変調回路２６を内蔵してい
る。第５図は演算器の回路構成を示すものであり、この
図に従って演算器の回路構成を説明する。高周波変調回
路２６は発光タイオード１７を短かい周期で点滅させる
ためのもので、その出力である高周波変調信号が発光ダ
イオード１７に印加される。このように発光ダイオード
１７を短かい周期で点滅させるのは発光ダイオード１７
からの光と、自然光あるいは照明光とを区別できるよう
するためである。
２７は演算回路２５を構成する復調用フィルタで、フォ
トトランジスタ１８からの光検知信号の高周波成分をカ
ントするものであり、スキャナ２がスケール１上を移動
したときは該復調用のフィルタ２７からはスキャナ２の
発光ダイオード１７及びフォトトランジスタ１８からな
るスリット検知部２８が通過したスリット９の薮と等１
７いパルス数の光検知信号が出力される。２９はその光
検出信号−のパルス数をカウントするカウンタ、３０は
カウンタ２９によるカウントの結果を記憶するメモリ、
３１はメモリ３０により記憶されたカウント結果に換算
定数切換部２２により設定された切換定数Ａを乗算する
乗算回路である。そして、これ等フィルり２７、カウン
タ２９、メモリ３０及び乗算回路３１により演算回路２
５が構成される。
トトランジスタ１８からの光検知信号の高周波成分をカ
ントするものであり、スキャナ２がスケール１上を移動
したときは該復調用のフィルタ２７からはスキャナ２の
発光ダイオード１７及びフォトトランジスタ１８からな
るスリット検知部２８が通過したスリット９の薮と等１
７いパルス数の光検知信号が出力される。２９はその光
検出信号−のパルス数をカウントするカウンタ、３０は
カウンタ２９によるカウントの結果を記憶するメモリ、
３１はメモリ３０により記憶されたカウント結果に換算
定数切換部２２により設定された切換定数Ａを乗算する
乗算回路である。そして、これ等フィルり２７、カウン
タ２９、メモリ３０及び乗算回路３１により演算回路２
５が構成される。
上記乗算回路３１において得た乗算結果は実寸表示用の
表示部２３において表示される。又、メモリ３０におい
て記憶されたところのカウンタ２９によるカウント結果
は図面上の実測値を表示する実測値表示用の表示部２４
において表示される。
表示部２３において表示される。又、メモリ３０におい
て記憶されたところのカウンタ２９によるカウント結果
は図面上の実測値を表示する実測値表示用の表示部２４
において表示される。
この測長器を使用する場合は図面の尺度に応じて換算定
数切換部２２を操作して換算定数Ａｆ７）伯を切換える
。例えば、図面の尺度が３分の１の場合は換算定数Ａを
「３」に切換える。そして、長さを測定しようとする図
面上の線（あるいは２点間）にスケールｌの目盛形成部
７の側縁を沿わせ、次イで、スキャナ２を移動してカー
ソル１３のカーソル線１４を測定しようとする線の一端
（あるいは２点のうち１点）上に位置させる。その後適
宜なキイ３２の操作により演算器２１をクリアし、スキ
ャナ２をカーソル１３のカーソル線１４がｆｉｌ１１定
しようとする線の他端（あるいは他方の点）上に位置す
るまで移動する。すると、スキャナ２がスケールｌ上を
移動する過程で誠りント検知部２８がスリット９を１つ
通過する毎に発光ダイオード１７から出射された光がス
リット９を通してフォトトランジスタ１８へ入射され、
フォトトランジスタ１８からは光検知信号が発生する。
数切換部２２を操作して換算定数Ａｆ７）伯を切換える
。例えば、図面の尺度が３分の１の場合は換算定数Ａを
「３」に切換える。そして、長さを測定しようとする図
面上の線（あるいは２点間）にスケールｌの目盛形成部
７の側縁を沿わせ、次イで、スキャナ２を移動してカー
ソル１３のカーソル線１４を測定しようとする線の一端
（あるいは２点のうち１点）上に位置させる。その後適
宜なキイ３２の操作により演算器２１をクリアし、スキ
ャナ２をカーソル１３のカーソル線１４がｆｉｌ１１定
しようとする線の他端（あるいは他方の点）上に位置す
るまで移動する。すると、スキャナ２がスケールｌ上を
移動する過程で誠りント検知部２８がスリット９を１つ
通過する毎に発光ダイオード１７から出射された光がス
リット９を通してフォトトランジスタ１８へ入射され、
フォトトランジスタ１８からは光検知信号が発生する。
この光検知信号はフィルタ２７により復調されたうえで
カウンタ２９に入力される。徒って、カウンタ２９に入
力される光検知信号のパルスの数はスキャナ２のスリッ
ト検知部２８が通過したスリ７ト９の数と同じになる。
カウンタ２９に入力される。徒って、カウンタ２９に入
力される光検知信号のパルスの数はスキャナ２のスリッ
ト検知部２８が通過したスリ７ト９の数と同じになる。
依って、カウンタ２９によって光検知信号のパルス数を
カウントすることによりスキャナ２の移動距離を検出す
ることができる。即ち、スリンｌ−９が１ｍｍ間隔で配
置されている場合においてカウンタ２９によってカウン
トされた数がイ列えば２５０であった場合にはスキャナ
２の移動距離は２５０ｍｍということになる。この移動
距離は実測値表示用の表示部２４において表示される。
カウントすることによりスキャナ２の移動距離を検出す
ることができる。即ち、スリンｌ−９が１ｍｍ間隔で配
置されている場合においてカウンタ２９によってカウン
トされた数がイ列えば２５０であった場合にはスキャナ
２の移動距離は２５０ｍｍということになる。この移動
距離は実測値表示用の表示部２４において表示される。
又、そのカウンタ２９によってカウントされたところの
ハンドスキャナ１の移動距離を示すカウント数をメモリ
３０において一詩的に記憶し、乗算回路３１においてそ
のカウント数に換算定数切換部２２により図面の尺度に
応じて設定されたところの換算定数Ａを乗算する。する
と、図面」二に描かれた線によって表されたものの実際
の長さくあるいは２点間の実際の距離、間隔）が得られ
、それが実寸表示用の表示部２３において表示される。
ハンドスキャナ１の移動距離を示すカウント数をメモリ
３０において一詩的に記憶し、乗算回路３１においてそ
のカウント数に換算定数切換部２２により図面の尺度に
応じて設定されたところの換算定数Ａを乗算する。する
と、図面」二に描かれた線によって表されたものの実際
の長さくあるいは２点間の実際の距離、間隔）が得られ
、それが実寸表示用の表示部２３において表示される。
従って、表示部２３の表示により図面上に描かれたもの
の実際の長さを筆算することなく知ることができる。
の実際の長さを筆算することなく知ることができる。
第６１：ａ（Ａ）、（Ｂ）は本発明測長器のスリット配
列部の変形例を示すものである。
列部の変形例を示すものである。
該変形例においてはスリット形成片４ａを透明材料によ
り形成し、該スリット形成片４ａの上下両面に遮光膜３
３を印刷することにより光透過スリット９ａを形成して
なる。即ち、遮光膜３３が塗布されていない部分がスリ
７ト９ａとなる。このように、本発明における光透過ス
リットにはスリット形成片に穿設された孔のみならず透
明材料からなるスリット形成片の両生表面に遮光膜を選
折的に塗布することにより形成されたスリント状の光路
も包含されるものとする。
り形成し、該スリット形成片４ａの上下両面に遮光膜３
３を印刷することにより光透過スリット９ａを形成して
なる。即ち、遮光膜３３が塗布されていない部分がスリ
７ト９ａとなる。このように、本発明における光透過ス
リットにはスリット形成片に穿設された孔のみならず透
明材料からなるスリット形成片の両生表面に遮光膜を選
折的に塗布することにより形成されたスリント状の光路
も包含されるものとする。
尚、図示した実施例においては発光ダイオードエフを高
周波変調回路２６によって短かい周期で点滅させ、発光
タイオード１７からの光と、自然光あるいは照明光等の
一般的光とを区別できるようにされているが１発光ダイ
オード１７等の光源の光を一般的な光に比しく強くする
ことができる場合にはそのようにする必要はなく、直流
電源により発光ダイオード１７等の光源を点灯すれば良
い。このようにした場合には演算回路２５内の復Ｊμｊ
用のフィルタ２７は設ける必要がなく、適宜なしきい値
を有する２値化回路を設けてフォトトランジスタ１８に
入射される発光ダイオード１７がらの光の有無を検知で
きるようにすれば良いので回路構成を簡単にすることが
できる。
周波変調回路２６によって短かい周期で点滅させ、発光
タイオード１７からの光と、自然光あるいは照明光等の
一般的光とを区別できるようにされているが１発光ダイ
オード１７等の光源の光を一般的な光に比しく強くする
ことができる場合にはそのようにする必要はなく、直流
電源により発光ダイオード１７等の光源を点灯すれば良
い。このようにした場合には演算回路２５内の復Ｊμｊ
用のフィルタ２７は設ける必要がなく、適宜なしきい値
を有する２値化回路を設けてフォトトランジスタ１８に
入射される発光ダイオード１７がらの光の有無を検知で
きるようにすれば良いので回路構成を簡単にすることが
できる。
ヌ、上記実施例においては実寸表示用の表示部２３の外
に実測値表示用の表示部２４が設けられているが、この
表示部２４は必ずしも必要ではない。
に実測値表示用の表示部２４が設けられているが、この
表示部２４は必ずしも必要ではない。
尚、測長器を特定の尺度（例えば５分の１）専用にし、
換算定数Ａを切換えないようにすることも考えられる。
換算定数Ａを切換えないようにすることも考えられる。
この場合は当然のことながら換算定数切換部２２は不要
となる。そして、その場合、多数のフルアダーから構成
された乗算回路３１に代えてメモリ３０から信号を受け
るとその信号にその測長器に固有の換算定数を乗算した
信号を出力するデコーダを用いることができる。
となる。そして、その場合、多数のフルアダーから構成
された乗算回路３１に代えてメモリ３０から信号を受け
るとその信号にその測長器に固有の換算定数を乗算した
信号を出力するデコーダを用いることができる。
以上に述べたよ・−うに、本発明測長器の第１のものは
、光透過スリットを一定の間隔をおいて一定方向に沿っ
て配列したスリット配列部を備えたスケールと、該スケ
ールに上記スケール配列方向に沿って移動可動に取り伺
けられたスキャナと、からなり、該スキャナは、上記ス
リット配列部を挟んで発光手段と受光手段とを対向せし
めたスリット検出部と、該スリット検出部の受光手段に
より検知されたスリット透過光を電気的なスリット検知
信号に変換し、そのスリット検知信号のパルス数をカウ
ントし、そのカウント結果を演算処理する＠算部と、演
算処理の結果を表示する表示部と、を備えることを特徴
とするものである。従って、スケールに沿ってスキャナ
を移動するとスリット検知部がスリット配列部の光透過
スリン）・を１つ通過する毎に発光手段からの光がその
光透過スリットを通して受光手段へ入射される。従って
、その受光手段において受光された光を光電変換して得
た光検知信号のパルス数をカウントすることによりスキ
ャナの移動距離をめることができ、そのカウント結果を
演算処理することにより実寸をめそれを表示部によって
表示することができる。依って、実寸をめるために筆算
をすることは必要でなくなる。
、光透過スリットを一定の間隔をおいて一定方向に沿っ
て配列したスリット配列部を備えたスケールと、該スケ
ールに上記スケール配列方向に沿って移動可動に取り伺
けられたスキャナと、からなり、該スキャナは、上記ス
リット配列部を挟んで発光手段と受光手段とを対向せし
めたスリット検出部と、該スリット検出部の受光手段に
より検知されたスリット透過光を電気的なスリット検知
信号に変換し、そのスリット検知信号のパルス数をカウ
ントし、そのカウント結果を演算処理する＠算部と、演
算処理の結果を表示する表示部と、を備えることを特徴
とするものである。従って、スケールに沿ってスキャナ
を移動するとスリット検知部がスリット配列部の光透過
スリン）・を１つ通過する毎に発光手段からの光がその
光透過スリットを通して受光手段へ入射される。従って
、その受光手段において受光された光を光電変換して得
た光検知信号のパルス数をカウントすることによりスキ
ャナの移動距離をめることができ、そのカウント結果を
演算処理することにより実寸をめそれを表示部によって
表示することができる。依って、実寸をめるために筆算
をすることは必要でなくなる。
本発明測長器の第２のものは、光透過スリン）・を一定
の間隔をおいて一定方向に沿って配列したスリット配列
部を備えたスケールと、該スケールに」二記スリット配
列方向に沿って移動可動に取り伺けられたスキャナと、
からなり、該スキャナは、上記スリット配列部を挟んで
発光手段と受光手段とを対向せしめたスリット検出部と
、該スリット検出部の受光手段により検知されたスリ・
ンド透過光を電気的なスリット検知信号に変換し、その
スリット検知信号のパルス数をカウントし。
の間隔をおいて一定方向に沿って配列したスリット配列
部を備えたスケールと、該スケールに」二記スリット配
列方向に沿って移動可動に取り伺けられたスキャナと、
からなり、該スキャナは、上記スリット配列部を挟んで
発光手段と受光手段とを対向せしめたスリット検出部と
、該スリット検出部の受光手段により検知されたスリ・
ンド透過光を電気的なスリット検知信号に変換し、その
スリット検知信号のパルス数をカウントし。
そのカウント数に換算定数を乗算する演算部と、該演算
部においてカウント数に乗算する換算定数の値を切換え
る換算定数切換部と、を備えるとを特徴とするものであ
る。従って、この測長器によれば本発明測長器の第１の
ものと同様に図面上のスキャナの移動距離の実寸をめる
ことができ、又、演算定数を切換えることができるので
、図面の尺度の違いに対応させることができる。
部においてカウント数に乗算する換算定数の値を切換え
る換算定数切換部と、を備えるとを特徴とするものであ
る。従って、この測長器によれば本発明測長器の第１の
ものと同様に図面上のスキャナの移動距離の実寸をめる
ことができ、又、演算定数を切換えることができるので
、図面の尺度の違いに対応させることができる。
第１図乃至第５図は本発明測長器の実施の一例を説明す
るためのもので、第１図は平面図、第２図は背面図、第
３図は１部切欠側面図、１ｂ４図はスリット配列部を示
す拡大平面図、第５図は演算部の回路ブロック図、第６
図は本発明測長器のスリット配列部の変形例を示すもの
で、（Ａ）は平面図、（Ｂ）は（Ａ）のＢ−Ｂｌに沿う
断面図である。 符号の説明 １＠−＠スケール、２・ｅ−スキャナ、４・・・スリッ
ト配列部、９．９ａ・争・スリット、１７−・・発光手
段、１８−・番受光手段、２２・・・換算定数切換部、
２３・・・表示部、２５・・・＠算部、２８・・争スリ
ッＩ・検知部
るためのもので、第１図は平面図、第２図は背面図、第
３図は１部切欠側面図、１ｂ４図はスリット配列部を示
す拡大平面図、第５図は演算部の回路ブロック図、第６
図は本発明測長器のスリット配列部の変形例を示すもの
で、（Ａ）は平面図、（Ｂ）は（Ａ）のＢ−Ｂｌに沿う
断面図である。 符号の説明 １＠−＠スケール、２・ｅ−スキャナ、４・・・スリッ
ト配列部、９．９ａ・争・スリット、１７−・・発光手
段、１８−・番受光手段、２２・・・換算定数切換部、
２３・・・表示部、２５・・・＠算部、２８・・争スリ
ッＩ・検知部
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１）光透過スリットを一定の間隔をおいて一定方向に
沿って配列したスリット配列部を備えたスケールと、該
スケールに上記スケール配列方向に沿って移動可動に取
り付けられたスキャナと、からなり、該スキャナは、上
記スリット配列部を挟んで発光手段と受光手段とを対向
せしめたスリット検出部と、該スリット検出部の受光手
段により検知されたスリット透過光を電気的なスリット
検知偶“号に変換し、そのスリット検知信号のパルス数
をカラン）・シ、そのカウント結果を演ｑ、処理する演
算部と、演算処理の結果を表示する表示部と、を備える
ことを特徴とする測長器（２）スリット検出部の発光手
段がらは、高周波変調信号により一定の周期で点滅せし
められた光が発生するようにされ、演算部においてはス
リット検知信号を復調処理したうえでそのパルス数をカ
ウントするようにされてなることを特徴とする特許請求
の範囲第１項記載の測長器（３）光透過スリットを一定
の間隔をおいて一定方向に沿って配列したスリット配列
部を備えたスケールと、該スケールに上記スリット配列
方向に沿って移動可動に取り付けられたスキャナと、か
らなり、該スキャナは、上記スリット配列部を挟んで発
光手段と受光手段とを対向せしめたスリット検出部と、
該スリット検出部の受光手段により検知されたスリット
透過光を電気的なスリット検知信号に変換し、そのスリ
ット検知信号のパルス数をカウントし、そのカウント数
に換算定数を乗算する演算部と、該演算部においてカラ
ンＩ・数に乗算する８＋！算定数の値をすｊ換える換算
定数切換部と、を備えさを特徴とする測長器 （４）スリット検出部の発光手段からは、高周波変調信
号により一定の周期で点滅せしめられた光が発生するよ
うにされ、演算部においてはスリット検知信号を復調処
理したうえでそのパルス数をカウントするようにされて
なることを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の測長
器
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15501783A JPS6047905A (ja) | 1983-08-26 | 1983-08-26 | 測長器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15501783A JPS6047905A (ja) | 1983-08-26 | 1983-08-26 | 測長器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6047905A true JPS6047905A (ja) | 1985-03-15 |
Family
ID=15596851
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15501783A Pending JPS6047905A (ja) | 1983-08-26 | 1983-08-26 | 測長器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6047905A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63157865A (ja) * | 1986-10-31 | 1988-06-30 | エヌ・ヴイ・ベカルト・エス・エイ | コーティングされた細長い基材の処理方法及びその装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5156665A (ja) * | 1974-11-13 | 1976-05-18 | Nhk Spring Co Ltd | Ichikenshutsusochi |
| JPS5769201A (en) * | 1980-10-20 | 1982-04-27 | Yoshihiro Kimura | Measuring device for line on reduced drawing |
-
1983
- 1983-08-26 JP JP15501783A patent/JPS6047905A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5156665A (ja) * | 1974-11-13 | 1976-05-18 | Nhk Spring Co Ltd | Ichikenshutsusochi |
| JPS5769201A (en) * | 1980-10-20 | 1982-04-27 | Yoshihiro Kimura | Measuring device for line on reduced drawing |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63157865A (ja) * | 1986-10-31 | 1988-06-30 | エヌ・ヴイ・ベカルト・エス・エイ | コーティングされた細長い基材の処理方法及びその装置 |
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