JPS6046828B2 - Placement determination device - Google Patents

Placement determination device

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JPS6046828B2
JPS6046828B2 JP53006394A JP639478A JPS6046828B2 JP S6046828 B2 JPS6046828 B2 JP S6046828B2 JP 53006394 A JP53006394 A JP 53006394A JP 639478 A JP639478 A JP 639478A JP S6046828 B2 JPS6046828 B2 JP S6046828B2
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JP
Japan
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parts
arrangement
arithmetic
placement
replaced
Prior art date
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JP53006394A
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JPS5499581A (en
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和宏 上田
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、配置決定装置、特にLSIチップ上における
論理ゲートの配置やプリント回路基板上におけるICの
配置などを、従来のソフトウェアによつて決定する方法
に比べて極めて短時間に決定する配置決定装置に関する
ものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention provides a placement determining device, particularly a method for determining the placement of logic gates on an LSI chip, the placement of ICs on a printed circuit board, etc., in an extremely short time compared to conventional software-based methods. The present invention relates to a placement determining device that makes decisions on time.

LSIのレイアウト設計において、そのLSIチップに
搭載すべき複数個の論理ゲートをどのような相対位置関
係で配置するか、あるいはまたICプリント回路基板の
設計において、そのプリント基板に搭載すべき複数個の
ICを基板上のどこに配・置するかを決定する設計過程
を、それぞれLSIにおける配置設計、プリント基板に
おける配置設計と呼んでいる。
In the layout design of an LSI, what is the relative positional relationship between the multiple logic gates to be mounted on the LSI chip, or in the design of an IC printed circuit board, how should the multiple logic gates to be mounted on the printed circuit board be arranged? The design process of deciding where to place an IC on a board is called layout design for LSI and layout design for printed circuit board, respectively.

この配置設計はそれに引続いて行われる配線設計の成否
に大きな影響を与える。
This layout design has a great influence on the success or failure of the subsequent wiring design.

すなわち、良い配置が与えられれば100%の配線径路
がみつかる論理回路が得られるのに対して、悪い配置が
与えられると如何に配線設計で努力しても100%の配
線径路が見つけられないことがしばしば起きる。したが
つて、配置設計はプリント基板やu■チップの設計にお
いて重要な設計過程となつている。この配置設計は人手
によつて行われる場合が多かつたが、最近では設計時間
の短縮、配置品質の向上、設計エラーの低減等をねらつ
て、計算機を利用してプログラムによつて決定されるこ
とが多くなつてきた。配置設計をソフトウェアで処理す
る場命、品質の良い配置を得るためには入れ換え改善法
(あるいは逐次改善法)と呼ばれる配置手法が用いられ
ることが多い。
In other words, if a good placement is given, a logic circuit in which 100% of the wiring routes can be found can be obtained, whereas if a bad placement is given, no matter how hard the wiring design is made, 100% of the wiring paths cannot be found. occurs often. Therefore, layout design has become an important design process in the design of printed circuit boards and U-chips. This placement design was often done manually, but recently it has been decided by a program using a computer with the aim of shortening design time, improving placement quality, and reducing design errors. A lot of things have happened. When processing placement design using software, a placement method called the replacement improvement method (or sequential improvement method) is often used to obtain a high-quality placement.

この手法はある与えられた初期配置から出発して部品(
LS■の場合には論理ゲート、プリント基板の場合には
IC)をお互いに入れ換えることによつて徐々に配置を
改善していくものである。ある部品のベアを入れ換えた
ら配置が改善されるかどうかを判断する基準を配置の評
価基準という。この評価基準としては総配線長最小化と
呼ばれる基準が用いられる。
This method starts from a given initial configuration and starts with the parts (
The arrangement is gradually improved by replacing logic gates in the case of LS■ and ICs in the case of printed circuit boards. The criteria for determining whether or not the arrangement will be improved if the bare parts of a certain part are replaced are called placement evaluation criteria. As this evaluation standard, a standard called total wiring length minimization is used.

この基準はある配置を評価する場合、論理接続関係に従
つて部品間に仮に配線を引いてみてこれらの配線の長さ
の総和が短かければ良い配置であり長ければ悪い配置と
みなす評価基準である(ここで゜゜仮に配線する゛とい
うことは配線同士がショートするかどうかなどかまわす
配線を引くことを意味する。従つて全ての配線径路はそ
れぞれ最短に引かれる)。入れ換え改善法ではある規則
によつて選んだ部品のベアを仮に交換して、それらの部
品に関与している配線を引きなおしてみて、上記の総配
線長和が小さくな−ると判断すれば実際にその部品ベア
を入れ換え、小さくならなければ入れ換えを行わないと
いう操作を順次異なる部品ベアについて繰返すことによ
つて配置改善を行うのてある。第1図〜第3図を用いて
入れ換え改善法による,配置改善手順を詳しく説明する
This criterion is used to evaluate a certain layout by temporarily drawing wires between components according to logical connection relationships, and assuming that the sum of the lengths of these wires is short, it is a good layout, and if it is long, it is a bad layout. (Here, ゜゜Temporary wiring゛ means to draw wiring that takes into consideration whether the wiring will short-circuit or not. Therefore, all wiring routes are drawn to be the shortest possible.) In the replacement improvement method, if you temporarily replace bare components selected according to a certain rule, reroute the wiring related to those components, and judge that the sum of the total wiring lengths mentioned above becomes smaller. The arrangement is improved by actually replacing the component bears and repeating this operation for different component bears in sequence, such as not replacing them unless they become smaller. The arrangement improvement procedure using the replacement improvement method will be explained in detail with reference to FIGS. 1 to 3.

第1図は初期配置の一例である。ここでは1帽の゛部品
を4×4のアレイ上に配置する場合を想定している。部
品間の線は仮の配線を表わし、この配線長の総和で配置
の良否を評価する。配線長は例えば部品6と10の間は
“゜1゛、部品1と2の間はX方向に゜゛1゛、Y方向
に“゜2゛で併わせて゜゜3゛の距離と考える。このよ
うな計算の仕方で第1図の総配線長和を計算すると゜゜
54゛となる。この値を減少させるように配置換えを行
うのである。例えば第1図て部品6と10を入れ換える
と第2図の配置が得られるが、このとき総配線長和ぱ“
49゛となり配置改善が行われたことになる。このよう
な操作を異なる部品のベアについて繰返していくと第3
図のような配置が得られる(総配線長和=・゜゜25゛
)。この配置に到達するとこのあと如何なるベアを入れ
換えても配置改善が行われないのでこれが最終配置とな
る。ここで、部品のベアの選び方は全てのベアの組合せ
を考慮するとその組合せ数は厖大になるので、普通隣接
した部品同士が選ばれることが多い。しかし、たとえ、
隣接した部品ベアの組合せにしぼつても上記手法による
配置処理においては部品交換操作の数は取扱う部品数が
増えるとともに指数関数的に増大するので部品数が数1
00以上のものに対しては処理時間がきわめて厖大とな
り、このような手法の適用が禁止的となつている。ある
いはたとえ適用したとしてもきわめて不十分な配置結果
しか得られないのが現″状である。本発明は上記のよう
な配置処理を汎用計算機を用いてソフトウェアで行うか
わりに、その大半の処理をハードウェアで行うことによ
つて処理時間を短縮するようにした配置のための専用装
置を提供することを目的としている。
FIG. 1 is an example of an initial arrangement. Here, it is assumed that the parts of one hat are arranged on a 4×4 array. The lines between the parts represent temporary wiring, and the quality of the arrangement is evaluated based on the sum of the wiring lengths. The wiring length is, for example, ``1'' between components 6 and 10, 1'' in the X direction and 2'' in the Y direction between components 1 and 2, giving a total distance of 3''. If the total wiring length sum in FIG. 1 is calculated using this method of calculation, it will be ゜゜54゛. Rearrangement is performed to decrease this value. For example, if parts 6 and 10 in Fig. 1 are replaced, the arrangement shown in Fig. 2 is obtained, but at this time, the total wiring length is
49゜, which means that the arrangement has been improved. By repeating this operation for different bare parts, the third
The arrangement shown in the figure is obtained (total wiring length sum = .゜゜25゛). Once this arrangement is reached, the arrangement will not be improved no matter what bears are replaced thereafter, so this becomes the final arrangement. Here, when selecting component bears, if all bear combinations are taken into consideration, the number of combinations becomes enormous, so adjacent components are often selected. However, even if
Even when combining adjacent component bears, in the placement process using the above method, the number of component replacement operations increases exponentially as the number of handled components increases, so the number of components is several 1.
The processing time becomes extremely long for numbers greater than 00, and the application of such a method is prohibited. Otherwise, even if it is applied, the current situation is that only extremely insufficient placement results can be obtained.Instead of performing the above placement processing using software using a general-purpose computer, the present invention performs most of the processing. The object is to provide a dedicated device for placement which reduces processing time by performing it in hardware.

以下図面について詳細に説明する。第4図は本発明の実
施例を示し、図中の符号、21はメモリユニット、22
は演算ユニット、23はデータ信号線、24はコントロ
ール信号線、25は多相クロック発生回路、26,27
,28,29は夫々クロック線である。
The drawings will be explained in detail below. FIG. 4 shows an embodiment of the present invention, in which reference numerals 21 are memory units, 22
is an arithmetic unit, 23 is a data signal line, 24 is a control signal line, 25 is a multiphase clock generation circuit, 26, 27
, 28 and 29 are clock lines, respectively.

メモリユニット21は複数語から成つており、データ信
号線23およびコントロール信号線24を介して演算ユ
ニット22と接続されている。
The memory unit 21 consists of a plurality of words and is connected to the arithmetic unit 22 via a data signal line 23 and a control signal line 24.

演算ユニット22は加減算、リードライトコントロール
、レジスタ機能等を有している。多相クロック発生回路
25は4相のクロック信号を発生し、クロック線26,
27,28,29を介して演算ユニット22にクロック
信号を供給する。以下第4図にもとずいて本装置の動作
を詳細に説明する。
The arithmetic unit 22 has functions such as addition and subtraction, read/write control, and register functions. The multiphase clock generation circuit 25 generates four-phase clock signals and connects the clock lines 26,
A clock signal is supplied to the arithmetic unit 22 via 27, 28, and 29. The operation of this device will be explained in detail below with reference to FIG.

本装置の動作は大きく分けて次の2つのフェイズに分か
れる。初期配置セットフェイズ、入れ換え改善フェイズ
である。以下順に説明する。(1)初期配置セットフェ
イズ。
The operation of this device can be roughly divided into the following two phases. These are the initial arrangement set phase and the replacement and improvement phase. The explanation will be given below in order. (1) Initial arrangement set phase.

このフェイズでは第4図の各メモリユニット21に初期
配置の状態をセットする。
In this phase, the initial arrangement state is set in each memory unit 21 shown in FIG.

各メモリユニットに与えるべき情報はそのメモリユニッ
ト21に割当てられた部品の番号とその部品が接続され
ている単一あるいは複数個の部品の番号と座標位置であ
る。第4図ではこれらの情報を各メモリユニット21に
書込むためめ信号線等は図面が複雑になるので示してい
ないが、これは明らかに既知の方法で容易に実施できる
ので省略した。(2)入れ換え改善フェイズ。
The information to be given to each memory unit is the number of the part assigned to that memory unit 21, the number and coordinate position of the single or plural parts to which that part is connected. In FIG. 4, signal lines and the like for writing this information into each memory unit 21 are not shown because they would complicate the drawing, but they are omitted because they can obviously be easily implemented using a known method. (2) Replacement improvement phase.

このフェイズでは初期配置フェイズで与えられた配置か
ら出発して各演算ユニット22でそれに隣接する上下あ
るいは左右の2つのメモリbユニット21の部品を入れ
換えたら配置が改善されるかどうかを計算し、その結果
にもとずいて入れ換えを実際に行つたり、行わなかつた
りする。
In this phase, starting from the placement given in the initial placement phase, each calculation unit 22 calculates whether the placement will be improved if the parts of the two memory b units 21 on the upper and lower sides or on the left and right adjacent to it are replaced. Depending on the results, the replacement may or may not be performed.

どの部品のベアについて入れ換え改善を調べるかは多相
クロック発生回路5によつて発1・生された4相のクロ
ック信号を各演算ユニット22に供給することによつて
選択する。例えば、クロック線26が′6r5になつた
ときには演算ユニット22のうちPl,2,P3,2,
P,,2,P7啼29P9ラ2およびP1?69P39
69P5169P71691P9,6が選択されたこと
になり、従つてメモリユニット21のベア(Ml,l,
Ml,3),(M3,l,M3l3)9(M59l9M
593)9(M79l9M793)9(M99l9M9
,3)および(Ml,59Ml,7)9(M3,59M
3,7)9(M5◆59M597)9(M7ラ59M7
97)9(M9959M29,7)が選択されたことに
なる。また、同様にしてクロック線28が゜゜1゛にな
つたときにはメモリユニット1のベアとして(M3,l
,M5,l)9(M3,39M5,3)9(M3,5f
M5,5)9(M3,79M597)9(Mお99M5
ヤ9)および(M79l9M9?1)92(M7,39
M9,3)9(M7,59M9,5)9(M7,79M
9,7),(M7,9,M9,9)が選択されたことに
なる。このようにしてクロック線26,27,28,2
9がそれぞれ時刻を異にして“゜1゛になれば全てのメ
モリユニット21のベアが選択さ3れることになる。上
記のような方式で順番に指定されたメモリユニット21
内の部品のベアに対して、入れ換えによる配置改善があ
るかどうかを判定し改善があれば入れ換え、なければ入
れ換えない。
Which component bare is to be checked for replacement improvement is selected by supplying four-phase clock signals generated by the multiphase clock generation circuit 5 to each arithmetic unit 22. For example, when the clock line 26 becomes '6r5, Pl,2, P3,2,
P,,2,P7啼29P9ra2 and P1?69P39
69P5169P71691P9,6 has been selected, so the bare memory unit 21 (Ml, l,
Ml, 3), (M3, l, M3l3) 9 (M59l9M
593)9(M79l9M793)9(M99l9M9
,3) and (Ml,59Ml,7)9(M3,59M
3,7)9(M5◆59M597)9(M7ra59M7
97)9 (M9959M29,7) has been selected. Similarly, when the clock line 28 becomes ゜゛1゛, the memory unit 1 becomes bare (M3, l
,M5,l)9(M3,39M5,3)9(M3,5f
M5,5)9(M3,79M597)9(M99M5
Ya9) and (M79l9M9?1)92(M7,39
M9,3)9(M7,59M9,5)9(M7,79M
9, 7), (M7, 9, M9, 9) are selected. In this way, the clock lines 26, 27, 28, 2
If 9 becomes "゜1" at different times, all the bare memory units 21 will be selected and 3 will be selected.
It is determined whether or not there is an improvement in the placement of bare parts within the system by replacing them.If there is an improvement, the parts are replaced, and if not, they are not replaced.

3以下クロック線26が゜“1゛の状態をとつたとき
を仮定して説明を行う。このとき(Ml,l9Ml93
)9(M39l9M393)9,(M9ラ59M997
),がベアとして選択されたことになるが、このうち(
Ml,l,Ml,3)のベアに着目する。ク演算ユニッ
トPl,2によつてメモリユニットMl,lとMl,3
の内容を読み出しMl,,中の部品とMl,3中の部品
を入れ換えたと仮定したとき総配線長和が増えるか減る
かを計算し、減る場合にはMl,,とMl,3中の部品
番号およびそれに伴なう情報の入れ換えを行う。同じか
、増える場合には情報の入れ換えは行わない。このよう
な処理が選択された全てのベアについて行われる。その
結果、一つ以上のメモリユニットのベアについて部品の
入れ換えがあつた場合、その部品と接続関係をもつ部品
が格納されているメモリユニット21中の位置情報を更
新する必要がある。従つて入れ換えのあつたメモリユニ
ットから部品番号と位置情報を読み出し、これに関与す
る部品が格納されているメモリユニットの内容を更新す
る。これを第1図、第2図を例にとつて説明すると、部
品6と10が入れ換えになつた場合に部品10に接続関
係のある部品5,7,9,13,14でもつている部品
10の位置情報を第1図での(X=1,Y=4)から第
2図での(X=1,Y=3)というデータに書き変える
ことに相当する。このようにして入れ換えによつて生じ
た部品位置データの変更を全て終えると初期配置セット
フェイズ後の状態と同じになる(但し部品位置は第1図
から第2図へというような変化をしている)。引続いて
クロック線27が“r1になり、クロック線28が゜゜
1゛になるという経過に従つて、次々に異なるメモリユ
ニットのベアが選択され上記と同様の処理が繰返される
The following explanation assumes that the clock line 26 is in the state of ゜"1". At this time, (Ml, l9Ml93
)9(M39l9M393)9,(M9ra59M997
), was selected as a bear, but among these, (
We focus on the bare Ml,l,Ml,3). memory unit Ml,l and Ml,3 by block calculation unit Pl,2.
Read the contents of Ml,, and calculate whether the total wiring length sum increases or decreases when assuming that the parts in Ml,, and the parts in Ml,3 are replaced, and if it decreases, read the contents of Ml,, and the parts in Ml,3. Replace numbers and associated information. If the information remains the same or increases, the information is not replaced. Such processing is performed for all the selected bears. As a result, when a component is replaced in one or more bare memory units, it is necessary to update the position information in the memory unit 21 in which components having a connection relationship with that component are stored. Therefore, the part number and position information are read from the replaced memory unit, and the contents of the memory unit in which the parts involved are stored are updated. To explain this using FIGS. 1 and 2 as examples, when parts 6 and 10 are exchanged, parts 5, 7, 9, 13, and 14 that are connected to part 10 also have parts 10. This corresponds to rewriting the position information from (X=1, Y=4) in FIG. 1 to (X=1, Y=3) in FIG. 2. In this way, when all changes in part position data caused by replacement are completed, the state will be the same as after the initial placement set phase (however, the part position will change from Figure 1 to Figure 2). ). Subsequently, as the clock line 27 becomes "r1" and the clock line 28 becomes "°1", different memory unit bears are selected one after another and the same process as above is repeated.

この操作を繰返してクロック線26,27,28,29
が1周期経過しても如何なるノードベアにも入れ換えに
よる改善がなくなつたときあるいはある時間が経過した
とき入れ換えフェイズを完了する。この時点の各メモリ
ユニットに格納されている部品位置データが最終配置に
なる。以上説明したように本装置は従来ソフトウェアこ
よつて求めていた配置決定の問題をハードウェアで直接
解くことによつて極めて短時間に処理しうる効果をもた
らす。
Repeat this operation to connect the clock lines 26, 27, 28, 29
The replacement phase is completed when there is no improvement due to replacement for any node bear after one cycle has passed, or when a certain amount of time has elapsed. The component position data stored in each memory unit at this point becomes the final arrangement. As explained above, the present device has the advantage of being able to solve the problem of placement determination, which was conventionally solved by software, directly in hardware, thereby making it possible to process the problem in an extremely short time.

従来のソフトウェアによる易合にも、汎用計算機という
ハードウェアを用いてはいるが、演算回路が単一である
ため逐次的にしか処理することができなかつたが、本発
明の装餡こよれば複数の演算回路によつて並列処理が可
圭になる。そのため従来のソフトウェアによる方去に比
べて処理時間の大幅な短縮が期待できる。なお、本実施
例ではメモリユニットアレイを5×5にしているが、こ
れは一般にNxmになる。
Conventional software-based processing uses hardware called a general-purpose computer, but because it has a single arithmetic circuit, it can only process sequentially, but with the present invention, Parallel processing becomes possible with multiple arithmetic circuits. Therefore, a significant reduction in processing time can be expected compared to conventional software-based processing. In this embodiment, the memory unit array is 5×5, but this is generally N×m.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図、第2図、第3図は配置改善処理手法を説明する
説明図、第4図は本発明装置の一実施例の回路図を示す
。 21・・・・・メモリユニット、22・・・・・演算ユ
ニット、23・・・・・データ信号線、24・・・・・
コントロール信号線、25・・・・・多相クロック発生
回路、26,27,28,29・・・・・クロック線。
FIGS. 1, 2, and 3 are explanatory diagrams for explaining the placement improvement processing method, and FIG. 4 is a circuit diagram of an embodiment of the apparatus of the present invention. 21...Memory unit, 22...Arithmetic unit, 23...Data signal line, 24...
Control signal line, 25...multiphase clock generation circuit, 26, 27, 28, 29...clock line.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 アレイ状に配置されたメモリ回路、これらの各メモ
リ回路の間に設けられた少なくとも加減算と読み書き制
御とレジスタ機能とを有する演算回路、これらの演算回
路の位置する行・列に対応して異なる相のクロック信号
を供給するための回路からなり、各メモリユニットに初
期配置データとして部品番号とその部品に接続関係のあ
る部品の番号と位置を格納しておき、上記クロック信号
によつて選択された演算回路に隣接した一対のメモリ回
路に格納された部品を入れ換えたときに配置が改善され
るか否かを所定の評価基準にもとずいて該演算回路で判
定し、改善されれば部品を入れ換え、改善されなければ
入れ換えを行わないという処理を繰返して配置改善を逐
次行つて最終配置を得ることを特徴とする配置決定装置
。 2 上記演算回路は、互に隣接するメモリ回路の間にも
うけられかつ該隣接するメモリ回路の両者をアクセスす
るよう構成されることを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載の配置決定装置。 3 上記異なる相の各クロック信号は、当該クロック信
号が与えられる複数の上記演算回路における演算処理を
並列的に始動することを特徴とする特許請求の範囲第1
項または第2項記載の配置決定装置。
[Scope of Claims] 1. Memory circuits arranged in an array, arithmetic circuits provided between each of these memory circuits having at least addition/subtraction, read/write control, and register functions, and rows and rows in which these arithmetic circuits are located. It consists of a circuit for supplying clock signals of different phases corresponding to columns, and each memory unit stores a part number and the numbers and positions of parts connected to that part as initial placement data, and Based on a predetermined evaluation standard, the arithmetic circuit determines whether or not the arrangement will be improved when parts stored in a pair of memory circuits adjacent to the arithmetic circuit selected by the signal are replaced. . A placement determining device characterized in that if an improvement is achieved, the parts are replaced, and if no improvements are made, the parts are not replaced. The arrangement is successively improved by repeating the process of replacing the parts, and obtaining a final arrangement. 2. Claim 1, wherein the arithmetic circuit is provided between adjacent memory circuits and is configured to access both of the adjacent memory circuits.
Placement determining device described in Section 1. 3. Claim 1, wherein each of the clock signals of different phases starts arithmetic processing in parallel in the plurality of arithmetic circuits to which the clock signals are applied.
The arrangement determining device according to item 1 or 2.
JP53006394A 1978-01-24 1978-01-24 Placement determination device Expired JPS6046828B2 (en)

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