JPS6037513A - Shift amount detector - Google Patents

Shift amount detector

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JPS6037513A
JPS6037513A JP14714283A JP14714283A JPS6037513A JP S6037513 A JPS6037513 A JP S6037513A JP 14714283 A JP14714283 A JP 14714283A JP 14714283 A JP14714283 A JP 14714283A JP S6037513 A JPS6037513 A JP S6037513A
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correlation
amount
shift
photoelectric
photoelectric element
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JP14714283A
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Takeshi Utagawa
健 歌川
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Nikon Corp
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Nikon Corp
Nippon Kogaku KK
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    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/34Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane
    • G02B7/346Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane using horizontal and vertical areas in the pupil plane, i.e. wide area autofocusing

Abstract

PURPOSE:To detect a shift amt. with high accuracy without increasing the scale and time of calculation by forming the light image of a subject on two photoelectric element arrays and determining the shift amt. when a correlation amt. is max. by the prescribed calculation while shifting both output patterns by a prescribed amt. CONSTITUTION:The luminous flux past image forming optical system 1 passes through the light transmission region 2a of a field lens 2, is reflected by a pair of concave mirrors 4, 5 and mirrors 6, 7 in a block 3 and forms the light image of the subject on photoelectric element arrats 9, 10. The relative positions of the two light images change according to the focusing condition of the system 1. A correlation amt. C(L) is calculated from the output data (ai), (bj) (i=q-r, j-i= L) of the arrays 9, 10 in an arithmetic part 14 for the correlation. When a discriminating part 16 judges that C0 is min. from the three correlation amts. C-1, C0, C+1 with respect to the shift amts. L-1, L, L+1, the shift amt. that gives the max. correlation from the point across the axis L of abscissa is determined by an intrpolation method in an interpolation part 17. The shift amt. is thus obtd. with high accuracy.

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) 本発明は、一対の光電素子アレイトに投影された光像の
相対的ずれ鼠を検出するずれI検出装置に係り、特に上
記ずれlから焦点調節状態又は対象物体までの距離を検
出するずれ量検出装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Technical Field of the Invention) The present invention relates to a deviation I detection device for detecting a relative deviation of optical images projected onto a pair of photoelectric element arrays, and particularly relates to a deviation I detection device for detecting a relative deviation of an optical image projected onto a pair of photoelectric element arrays, and in particular, to The present invention relates to a deviation detection device that detects a state or a distance to a target object.

(発明の背景) 従来のこの種のずれけ検出装置は、1−記2光像の相対
的ずれ吐を検出するのに、一方の光電素子アレイの光電
用カバターンを他方の光電素子アレイの光電用カバター
ンに対して電気的に所定歇ずつシフトした時々の両光型
出カバターンの相関けを算出1/、その相関が最大とな
る時のシフト量からパターン相対ずれ131をめている
(Background of the Invention) This type of conventional deviation detection device detects the relative deviation of two optical images (1-) by connecting the photoelectric cover of one photoelectric element array to the photoelectric cover of the other photoelectric element array. The correlation between the two optical output patterns when electrically shifted by a predetermined interval with respect to the cover pattern for use is calculated as 1/, and the pattern relative shift 131 is determined from the shift amount when the correlation is maximum.

具体的(・ては、各光電素子アレイが夫々第1図(a)
に示す[、てピッチPで配列された充電素子T’hから
構成されているとすると、各光電素子の光電出力から醐
る光電用カバターンをヒ記ピッチP学位で相対的にシフ
トしながら両光型出カバターンの相関をとり、−ヒ記パ
ターンシフト晴毎に相関量を算出する。こうして得た複
数個の相関量から最大相関を与える相関はをめて、この
相関lを与、えるシフト吐をめる。ところが、シフト叶
はピッチ単位であるので、この最大相関を与えるシフト
量も当然ピッチ単位となり、結局、」−述の光像ずれ量
検出装置は光像のずれI検出精度が」二記ピッチ単位に
制限されるという欠点がある。またこの検出装置は更に
以下に述べる欠点を有する。
Specifically, each photoelectric element array is shown in Fig. 1(a).
Assuming that the charging elements T'h are arranged at a pitch P as shown in [,], the photoelectric cover turn obtained from the photoelectric output of each photoelectric element is shifted relatively by the pitch P as shown in Fig. The correlation between the light pattern output patterns is calculated, and the amount of correlation is calculated for each pattern shift. From the plurality of correlation amounts obtained in this way, the correlation giving the maximum correlation is selected, and a shift is performed to give this correlation l. However, since the shift leaf is in pitch units, the shift amount that gives this maximum correlation is naturally in pitch units, and as a result, the optical image deviation amount detection device described above has a detection accuracy of optical image deviation I in pitch units. The disadvantage is that it is limited to This detection device also has the following drawbacks.

第1図(h)、(C)、(、l)に夫々示すように、一
方の光電素子アレイ」−の光像Aと、他方の光電素子ア
レイ上の光像Bとが夫々相対的に合致している場合、0
、5 Pずれている場合及び4.5Pずれている場合に
おける各シフトIiLに対する相関量C(L)を第2図
(a)、(b)、(c)に夫々示す。両光像A、Hの相
対的ずれ量が第1図(b)の如くピッチPの整数倍であ
る場合には、第2図(a)の如くそのずれ量に対応する
シフト量(白抜き矢印で示す。)において、相関WkC
CL’)は他のシフト量の相関量に比べて著しく小さく
なるので、最大相関を与えるシフト量を容易にめること
ができる。しかしながら、光像のずれ量がピッチPの整
数倍でなく、特に第1図(c)、(d)の如(0,5P
の奇数倍ずれている場合には、第2図(b)、(c)の
如く他に比べては比較的小さいが互にはほぼ等しい゛相
関量(図中、大きい黒丸で示す。)が複数のシフト酸、
(矢印で示す。)について得られるにすぎない。したが
って、この様な場合には最大相関を与えるシフト量はも
ちろんそれに近いシフト量すらめることができず、ずれ
量の検出は不可能となるという欠点がある。
As shown in FIGS. 1(h), (C), and (l), the optical image A on one photoelectric element array and the optical image B on the other photoelectric element array are relative to each other. 0 if matched
, 5P and 4.5P, respectively, are shown in FIGS. 2(a), 2(b), and 2(c), respectively, showing the correlation amount C(L) for each shift IiL. When the relative deviation between the two optical images A and H is an integral multiple of the pitch P as shown in Fig. 1(b), the shift amount corresponding to the deviation (white outline) is shown in Fig. 2(a). ), the correlation WkC
CL') is significantly smaller than the correlation amounts of other shift amounts, so the shift amount that provides the maximum correlation can be easily determined. However, the amount of deviation of the optical image is not an integral multiple of the pitch P, and in particular, as shown in FIGS. 1(c) and (d) (0,5P
If the deviation is an odd number of times, the correlation amount (indicated by a large black circle in the figure) is relatively small compared to the others but almost equal to each other, as shown in Figure 2 (b) and (c). multiple shift acids,
(indicated by an arrow). Therefore, in such a case, it is not possible to determine the shift amount that gives the maximum correlation, or even a shift amount close to it, and there is a drawback that it is impossible to detect the amount of deviation.

また、シフト量の数を第2図に示す如く、例えばL=−
10,−9、−8、・・・・・・8.9.10と多数(
21個)とることは、回路規模又は演算規模の飛躍的な
増大を招く。そこでシフト数を少なくし、例えばL−一
3、−2、−1.0.1.2.3の合計7個とした場合
、第2図(C)ではこのシフト領域を内では最も小さい
値がシフトFIL=Oの一点でのみ現われるので、光像
の相対的ずれ量が4.5Pにも拘らず、シフト量r、 
−oをこの時のずれ喰として誤検出してしまうという欠
点もある。
In addition, as shown in FIG. 2, the number of shift amounts is, for example, L=-
10, -9, -8,...8.9.10 and many (
21) would lead to a dramatic increase in circuit scale or calculation scale. Therefore, if the number of shifts is reduced, for example, L-3, -2, -1.0.1.2.3, a total of 7, then in Figure 2 (C) this shift area is the smallest value in the range. appears only at one point of shift FIL=O, so even though the relative shift amount of the optical image is 4.5P, the shift amount r,
There is also the drawback that -o is erroneously detected as the deviation at this time.

この欠点を解決した光像ずれ量検出装置が特開昭57−
45510に開示されている。この装置は、原理的には
以下の如くして光像ずれ量を検出する。
An optical image deviation detection device that solved this drawback was published in Japanese Patent Application Laid-open No. 57-
No. 45510. In principle, this device detects the amount of optical image deviation as follows.

即ち、一対の光電素子アレイの光電用カバターンを光電
素子ピッチPの単位で相互にシフトしながら相関量をめ
、これらの相関量の差に相当する関数V (L) =C
(L−1) −C(L+1) 請求a6ル。第3図(a
)、市)、(C)は夫々第1図(t))、(C)、(d
)の光像に対する関数V (L)を単位シフト量毎にプ
ロットしたものである。このプロットされた点の隣接す
るものどうし直線で結んだ時の各直線の傾きをめ、この
傾きの最大を検出し、この傾き最大の直線が横軸りを切
る点をめる。この点が最大相関を怪えるシフト計となる
。このように、この検出装置では、上記関数V(L)や
ヒ記最大傾き直線などを算出することにより、ピッチP
Ili位のシフト叶からめた相関量を補間しているので
、第3図(a)、(b)、(c)に白抜き矢印で示す如
く1.光像のずれ[i二をピッチPよりも小さいm位ま
で正確に検出可能となる。また上記傾き最大の直線は第
3図に示す如く、最大相関に関するもの以外には現われ
ないので、少なくともシフト領1或を広faに選定すれ
ば、誤検出や検出不能となることはない。
That is, the amount of correlation is calculated while mutually shifting the photoelectric cover turns of a pair of photoelectric element arrays in units of the photoelectric element pitch P, and the function V (L) = C corresponding to the difference between these amounts of correlation is calculated.
(L-1) -C(L+1) Claim a6 le. Figure 3 (a
), city), and (C) are respectively shown in Figure 1 (t)), (C), and (d
) is plotted for each unit shift amount. When adjacent plotted points are connected by a straight line, calculate the slope of each straight line, detect the maximum slope, and find the point where the straight line with the maximum slope cuts the horizontal axis. This point becomes the shift meter that makes the maximum correlation doubtful. In this way, this detection device calculates the pitch P by calculating the function V(L) and the straight line with the maximum slope.
Since the correlation amount obtained from the Ili shift leaf is interpolated, 1. It becomes possible to accurately detect the deviation of the optical image [i2] up to m, which is smaller than the pitch P. Furthermore, as shown in FIG. 3, the straight line with the maximum slope does not appear except for those related to the maximum correlation, so if at least shift region 1 is selected to be wide fa, false detection or failure to detect will not occur.

しかしながら、この検出装置にあっても上記検出装置と
同様にシフト数が少ないと誤検出をするという欠点が存
在する。例示すると、シフト数を例えばL=−3、−2
、−1,0,1,2,3の合計7個とした場合、第3図
(c)においてこのシフト領域を内での頌き最大の直線
はL=Oを通る直線となるので、光像のずれ量が4.5
Fであるにも拘らず、ずれ量を零と誤検出してしまう。
However, like the above-mentioned detection device, this detection device also has the drawback of erroneous detection if the number of shifts is small. To illustrate, the number of shifts is, for example, L=-3, -2
, -1, 0, 1, 2, 3, a total of 7, the maximum straight line within this shift area in Figure 3(c) is the straight line passing through L=O, so the light Image shift amount is 4.5
Even though it is F, the amount of deviation is erroneously detected as zero.

更に、上記補間をする為に、即ち上記直線をめる為には
、4つの異った相関量を必要とし、このことは回路規模
や演笠甲1漠を増大するという欠点を招来する。
Furthermore, in order to perform the above-mentioned interpolation, that is, to draw the above-mentioned straight line, four different correlation quantities are required, which has the disadvantage of increasing the circuit scale and the complexity of the calculation.

(発明の目的) 本発明の目的は、シフト酸よりも充分小さな1″t:J
(Object of the invention) The object of the present invention is to
.

位置まで光像のずれ量を検出可能で、かつ回路規模又は
演算規模を不当に増大することなくト記誤検出を防1]
−できるずれ■:量検出装置提供することである。
It is possible to detect the amount of deviation of the optical image up to the position, and prevent erroneous detection without unduly increasing the circuit scale or calculation scale.1]
- Possible deviation ■: Providing a quantity detection device.

本願の第2発明の目的は、回路規模又は演算規模の著し
い増大を招くことなく、三個の相関計から補間を実行で
きるずれ量検出装置を提供することである。
A second object of the present invention is to provide a deviation amount detection device that can perform interpolation from three correlators without causing a significant increase in circuit scale or calculation scale.

第1の発明の構成を第4図に基づいて説明する。The configuration of the first invention will be explained based on FIG. 4.

光学手段100は、はぼ同一対象物についての光像を一
対作成する。この一対の光像は、対物レンズの焦点調節
状態に応じて、又は対象物体までの距離に応じて両光像
の相対的位置が変化する。
The optical means 100 creates a pair of optical images about the same object. The relative positions of the pair of light images change depending on the focus adjustment state of the objective lens or the distance to the target object.

光電変換手段101は、第1及び第2の光電素子アレイ
102,1.03を含み、この第1光電素子アレイ10
2はに2両光像の一方を、第2光電素子アレイ103け
、[]IL方の光像を夫々受光し光電変換する。相関演
算手段104は、第1光電素子アレイ102の光電出力
文[3:それを適宜処理した上記光電出力に関連した出
力のパターンを、第2光電素子アレイの光電出力又はそ
れを適宜処理した出力のパターンに対して所定量・・、
L−1、L。
The photoelectric conversion means 101 includes first and second photoelectric element arrays 102, 1.03, and this first photoelectric element array 10
The second photoelectric element array 103 receives one of the two optical images, respectively, and photoelectrically converts one of the two optical images. The correlation calculating means 104 converts the photoelectric output pattern of the first photoelectric element array 102 [3: an output pattern related to the photoelectric output obtained by appropriately processing it into the photoelectric output of the second photoelectric element array or an output obtained by appropriately processing it A predetermined amount for the pattern...
L-1, L.

L+1、− (ココでわけ整数である。)ずつシフトし
た時々の両川カバターンの相関量をめる。
Calculate the correlation amount of the Ryogawa Kabataan shifted by L + 1, - (here is an integer).

例えば、所常滑1. 1シフトだけした時の相関量C(
L−1)、所定量りだけシフトした時の相関量C(L)
、所定量L −1だけシフトした時の相関量C(L−1
)を算出する。内挿手段105は、相関演算子段104
からの相関量−C(L−*)、C(L)、C(L+1)
・・から、極値をとる極値相関量とそれを与えるシフト
量とを内挿する。判別手段106は、L記極値相関量が
所定値を越えるか否かを比較する。これが趣える場合に
、この極値を与える、内挿シフト量を、上記焦点調節状
態又は上記対象物体距離を表わす信号とする。
For example, Tokoname 1. The correlation amount C (
L-1), correlation amount C(L) when shifted by a predetermined amount
, the correlation amount C(L-1
) is calculated. The interpolation means 105 includes the correlation operator stage 104
Correlation amount from -C(L-*), C(L), C(L+1)
..., interpolate the extreme value correlation amount that takes the extreme value and the shift amount that gives it. The determining means 106 compares whether the L extreme value correlation amount exceeds a predetermined value. If this is possible, the interpolated shift amount that gives this extreme value is used as a signal representing the focus adjustment state or the target object distance.

第2の発明の構成を第2図を用いて説明する。The configuration of the second invention will be explained using FIG. 2.

光学手段100、光電素子アレイ102,103、相関
演算手段104は、第1の発明のものと同一である。内
挿手段107は、三つのシフト量T7−1、L、L+1
に対すル三つノ相関量C(L−1)、C(L) 、C(
I、+1)からその間の極値に対応するシフト量を演算
; L +−T (C(L−’1)−C(L+1) )
により内挿する。ココア、E = MAX (C(T−
−1’) −C(L)、C(L−1−1) −C(T−
))。
The optical means 100, the photoelectric element arrays 102 and 103, and the correlation calculation means 104 are the same as those of the first invention. The interpolation means 107 calculates three shift amounts T7-1, L, and L+1.
The three correlation amounts C(L-1), C(L), C(
Calculate the shift amount corresponding to the extreme value between I, +1); L + -T (C(L-'1)-C(L+1))
Interpolate by. Cocoa, E = MAX (C(T-
-1') -C(L), C(L-1-1) -C(T-
)).

(発明の実施例) 以下に本発明の一実施例を図面を参照して説明する。(Example of the invention) An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第6図は、実施例に係る焦点検出装置の光学系を示す。FIG. 6 shows an optical system of a focus detection device according to an embodiment.

同図において撮影レンズの如き結像光学系1の予定結像
面61次像面)の近傍に、フィールドレンズ2が配置さ
れ、このフィールドレンズ2はその中央部に矩形の光透
過領域2aを有し、その領域2a以外は遮光領域となっ
ている。はぼ直方体状の透明ブロック3はガラスやプラ
スチック等の高屈折率物質から成り、この一端面3aに
は上記フィールドレンズ2が貼付されている。この一端
面3aに対向した他端面3bには、互(・て逆方向にわ
ずかに傾いた一対の凹面鏡4.5が設けられている。こ
の両端部3a、3bの間のブロック3中には所定の間隙
を隔てて一対のミラー6.7がほぼ45°の角度で斜設
されている。透明ブロック3の下方には、夫々光電変換
装置8が配置されている。この光電変換装置8は、上記
ミラー6.7の下方に夫々に対応した光電素子アレイ9
.10が形成されている。各光電素子アレイは、直線的
に配列された複数の光電素子から構成されている。
In the figure, a field lens 2 is arranged near a planned imaging plane (61st-order image plane) of an imaging optical system 1 such as a photographing lens, and this field lens 2 has a rectangular light transmission area 2a in its center. However, the area other than the area 2a is a light-shielding area. The transparent block 3 in the shape of a rectangular parallelepiped is made of a high refractive index material such as glass or plastic, and the field lens 2 is attached to one end surface 3a of the block 3. A pair of concave mirrors 4.5 are provided on the other end surface 3b opposite to the one end surface 3a, and are slightly tilted in opposite directions. A pair of mirrors 6.7 are diagonally arranged at an angle of approximately 45° with a predetermined gap in between.A photoelectric conversion device 8 is arranged below the transparent block 3.This photoelectric conversion device 8 , photoelectric element arrays 9 respectively below the mirrors 6.7.
.. 10 are formed. Each photoelectric element array is composed of a plurality of linearly arranged photoelectric elements.

結像光学系1を通過した光束はフィールドレンズ2の光
透過領域2aを通過しブロック3内に入り、ミラー6.
7の間の間隙を通って一対の凹面鏡4.5に入射する。
The light beam that has passed through the imaging optical system 1 passes through the light transmitting area 2a of the field lens 2, enters the block 3, and is reflected by the mirror 6.
7 and enters a pair of concave mirrors 4.5.

一方の凹面鏡4は入射光をミラー6の方へ、他方の凹面
鏡5は入射光をミラー7の方へ夫々反射し、各反射光は
ミラー6.7を介して夫々光電素子アレイ9.10に到
達する。
One concave mirror 4 reflects the incident light towards mirror 6, the other concave mirror 5 reflects the incident light towards mirror 7, and each reflected light passes through a mirror 6.7 to a respective photoelectric element array 9.10. reach.

こうしてほぼ同一被写体についての一対の被写体像がア
レイ9、l0J−に形成される。これらの被写体像は、
結像光学系1の焦1飄調節状態に応じて各アレイ9.1
0−Lでの相対位置が変化する。只一体的しζは、合焦
状態の時、画像は相対的に合致し、前ビンの時一方向に
ずれ、後ビンの時逆方向にずれる。このような光学系は
、上記例に限ることなく、特開昭54−104859号
公報に示される再結像光学系であっても、特開昭54−
159259号公報に示されるレンズレットアレイ光学
系であっても、また特開昭57−/I(1212号公報
に示される測距光学系であってもよい。
In this way, a pair of object images of substantially the same object are formed in the array 9, 10J-. These subject images are
Each array 9.1 corresponds to the focal length adjustment state of the imaging optical system 1.
The relative position at 0-L changes. In the case of ζ, when in focus, the images are relatively aligned, shifted in one direction when the front bin is set, and shifted in the opposite direction when the back bin is set. Such an optical system is not limited to the above example, but may be a re-imaging optical system disclosed in JP-A-54-104859.
It may be the lenslet array optical system shown in Japanese Patent Application No. 159259, or the distance measuring optical system shown in Japanese Patent Application Laid-open No. 1212.

光電素子アレイ9は、各光電素子の光電出力a1、al
、a、・・a、・を第7図(a)に示すように時系列的
に発生し、同様に光電素子アレイ10も光電出力す、、
 b・、bl・b、・・を第7図缶)に示すように時系
列的に発生する。第7図(a)に示す光電素子アレイ9
の光電出力のパターン9Aは、そのアレイに投影された
光像の強度分布パターンに対応し、第7図(I))に示
す光電素子アレイ10の光電用カバターンIOAも同様
である。従って、両光型出カバターン9A110Aのず
れ量ΔXは、各アレイ9.10上の光像の相対的ずれ量
に対応している。
The photoelectric element array 9 has photoelectric outputs a1 and al of each photoelectric element.
, a, . . . a, . are generated in time series as shown in FIG.
b・, bl・b, . . . occur in chronological order as shown in Fig. 7 (can). Photoelectric element array 9 shown in FIG. 7(a)
The photoelectric output pattern 9A corresponds to the intensity distribution pattern of the optical image projected onto the array, and the same applies to the photoelectric cover turn IOA of the photoelectric element array 10 shown in FIG. 7(I). Therefore, the amount of deviation ΔX between the two light output patterns 9A and 110A corresponds to the relative amount of deviation of the optical images on each array 9.10.

第8図において、−上記光電変換装置8の各光電素子ア
レイ9.10の光電出力データa+、aS、a、・・、
とbllbl、−・・bl、は処理回路11に人力され
る。この処理回路11は、上記入力データを対数等の非
線形変換を施こしたり、フィルタリングを施こす。この
様な処理を施こされた光電出力データはA/Dコンバー
タ12によりディジタル値に変換される。MCはマイク
ロコンピュータであり、点線ブロックMC内に示した実
線ブロック13〜21の機能を果す。メモリ部13はコ
ンバータ】2の出力を記憶する。相関演算部14は、光
電素子アレイ9に関する一連のデータa+、aS、・・
a、・・ と光電素子アレイ10に関する一連のデータ
b11b!、・ b、・・・との相関を、前者のデータ
列を後方のデータ列しで対して所定数のデータ分りずつ
シフトしながら、順次算出する。具体的には、相関量C
(T、)を次式で算出する。
In FIG. 8, - photoelectric output data a+, aS, a, . . . of each photoelectric element array 9.10 of the photoelectric conversion device 8;
and bllbl, -...bl are manually input to the processing circuit 11. This processing circuit 11 subjects the input data to non-linear transformation such as logarithm or filtering. The photoelectric output data subjected to such processing is converted into a digital value by the A/D converter 12. MC is a microcomputer and performs the functions of solid line blocks 13 to 21 shown within the dotted line block MC. The memory section 13 stores the output of the converter 2. The correlation calculation unit 14 generates a series of data a+, aS, . . . regarding the photoelectric element array 9.
a,... and a series of data b11b regarding the photoelectric element array 10! , · b, . . . are sequentially calculated by shifting the former data string by a predetermined number of data with respect to the subsequent data string. Specifically, the correlation amount C
(T,) is calculated using the following formula.

ここで、Lは上述の如くデータ列のシフト量に当る整数
であり、初項qと最終項rはシフト量りに依存して変化
させてもよい。もちろんこの相関量C(L)は上式に限
らすΣLa5−b、7(”やΣ(−a=)・h、などを
用いることもできる。
Here, L is an integer corresponding to the shift amount of the data string as described above, and the first term q and the final term r may be changed depending on the shift amount. Of course, this correlation amount C(L) is not limited to the above equation, but it is also possible to use ΣLa5-b, 7('', Σ(-a=)·h, etc.

メモリ部15は、データシフト量を互に1デ一タ分ずつ
増加した@L−1、L、L−1−]とした時(7)三個
の相関量C(L−1) =C−、、c (r−)= c
o 。
The memory unit 15 stores three correlation amounts C (L-1) = C when the data shift amounts are increased by one data each @L-1, L, L-1-]. −,,c (r−)=c
o.

C(L+1)−C,を夫々メモリする。極値存在判別部
16は、メモリされた相関量c−1、co、clについ
て、C−7と00、C,とclの夫々の大小関係を比較
し、条件c−1> C6及びCI)COを満たすか否か
を61別する。この判別部1Gは、離散的な相関量C(
t、)を第9図(a)に示す如くプロットした時、これ
らの相関量を内挿して作成した相関関数F(点線で示−
t′o)がC−+とC8との間で極小値を有するか否か
を判別するもので、上記条件が満された時、極小値が存
在する可能性がある。
C(L+1)−C, are respectively stored in memory. The extreme value existence determining unit 16 compares the magnitude relationship between C-7 and 00, C, and cl for the stored correlation quantities c-1, co, and cl, and satisfies the conditions c-1>C6 and CI). It is determined by 61 whether CO is satisfied or not. This discriminator 1G has a discrete correlation amount C(
t, ) is plotted as shown in Figure 9(a), the correlation function F (shown by the dotted line -
It is determined whether or not t'o) has a minimum value between C-+ and C8, and when the above conditions are met, there is a possibility that a minimum value exists.

第1内挿部17は、上記条件が充足された時、メモリ部
15内の相関量C−1、C,1C,から上記極小値C0
1o を次式により内挿する。
When the above-mentioned conditions are satisfied, the first interpolation section 17 calculates the above-mentioned minimum value C0 from the correlation amounts C-1, C, 1C, in the memory section 15.
1o is interpolated using the following equation.

oL= 0.5 X CC−、−CI)・11)Ti:
 =MAX(C,−Co%C,−C,) −+21Ce
xt = Ca l Tl、l −−−i3)ここで、
MAX (Ca、 Cb )はCaとchのうちの大な
る方を選択することを意味する。
oL=0.5 x CC-, -CI)・11) Ti:
=MAX(C, -Co%C, -C,) -+21Ce
xt = Ca l Tl, l---i3) where,
MAX (Ca, Cb) means selecting the greater of Ca and ch.

この内挿方法を第9図(b)を用いて詳説する。同図で
は、C,<C,<C,であるとした。こhらの三個の相
関量のうちの最大値C,と最小値C0とを直線t1で結
rE、この直線t1の傾きと絶対値が等しいが符号が逆
である傾ぎを持つ直m t −’を、中間の値C−1を
通るように引く。この両直線11.1−+の交点が相関
量?tFの極小値C・、管となる。座標軸C(L)方向
におけるC・とC・・電との間の距離をDLとすると、
この距@D、、は上記(1)式でまる。
This interpolation method will be explained in detail using FIG. 9(b). In the figure, it is assumed that C,<C,<C. The maximum value C, and the minimum value C0 of these three correlation amounts are connected by a straight line t1, and a straight line m having a slope that is equal in absolute value to the slope of this straight line t1 but has an opposite sign. t-' is drawn through the intermediate value C-1. Is the intersection of these two straight lines 11.1-+ the amount of correlation? When the minimum value of tF is C., it becomes a tube. If the distance between C and C in the direction of the coordinate axis C (L) is DL, then
This distance @D, is calculated by the above equation (1).

従って、極小値Ce+uはC・−IT)Llとなる。伺
、相関量C(t)の大きさは被写体像のパターンに大き
く依存して変化するので、上記極小値が被写体像パター
ンに依存しない様に規格化する。この為に、規格化因子
としてL記(2)式のEを用いて、」1記(3)式のC
1−ITlILlをEで割った値を規格化極小値C・・
・とする。このようkて極小値を被写体像に依存しない
様シで1見格化すると、第9図ra)に示すように相関
関数Fの最小値即ち最大相関を与える相関量F0は、被
写体像にほとんど無関係なほぼ零に近い値となり、その
他の極小値F・はそれた比べてかなり友ぎい値となる。
Therefore, the minimum value Ce+u becomes C.-IT)Ll. However, since the magnitude of the correlation amount C(t) varies greatly depending on the pattern of the subject image, it is standardized so that the minimum value does not depend on the pattern of the subject image. For this purpose, using E in equation (2) of L as a normalization factor, C in equation (3) of
The value obtained by dividing 1-ITlILl by E is the normalized minimum value C...
・Suppose. In this way, if the local minimum value is made into one magnification so that it does not depend on the subject image, the correlation amount F0 that gives the minimum value of the correlation function F, that is, the maximum correlation, is almost the same as the subject image, as shown in Figure 9 (ra). It becomes an unrelated value close to zero, and the other minimum values F are considerably close to each other.

メモリ部181f内挿部17で演算した出力T′)Ll
E 、 Ce+++−を一時的にメモリする。
The output T′)Ll calculated by the memory unit 181f and the interpolation unit 17
E, Ce+++- is temporarily stored in memory.

最大相関判別部19は、このメモリ18(・て記憶され
た極小値て;と参照値C1、fとを比較I7、前者が後
者より小さい時、比較出力を発生する。この参照値C・
・lは、L記最大用関を与える相関量F・と、他の極小
値F・との中間の値に選定されている。
The maximum correlation determining unit 19 compares the minimum value stored in the memory 18 (I7) with the reference value C1, f, and when the former is smaller than the latter, generates a comparison output.
・l is selected to be an intermediate value between the correlation amount F・ that gives the maximum function of L and the other minimum value F・.

従って、この判別部19は、内挿部17が内挿した極小
値F・が最大相関を与える相関量F・に該当するか否か
を判別する。
Therefore, the determining unit 19 determines whether the minimum value F· interpolated by the interpolating unit 17 corresponds to the correlation amount F· that gives the maximum correlation.

第2内挿部20は、最大tn関判別部19の比較出力し
て応じて、即ち極小値F8が最大相関を与える相関Ii
′F−に該当する時、その相関+i F・に対(15) 応するシフト量L・を式り。−L+’−により内挿する
The second interpolation unit 20 calculates the correlation Ii according to the comparison output of the maximum tn relation determination unit 19, that is, the correlation Ii where the minimum value F8 gives the maximum correlation.
'F-, the correlation +i F. (15) Formulate the corresponding shift amount L. Interpolate by -L+'-.

kは、このシフト量り一を被写体像と所定結像面との光
軸方向のずれ量2に変換する係数である。
k is a coefficient that converts this shift amount into an amount of deviation 2 in the optical axis direction between the subject image and the predetermined imaging plane.

メモリ部21は、第2内挿手段20からの最大相関を与
えるシフト量L1をメモリし、駆動表示部22は、メモ
リ20にメモリされたシフト?LL11tて応じて、前
ビン、彷ビン又は合焦の別を表示すると共に、第6図の
結像光学系1を合焦位置の方向に駆動する。また、第2
内挿部20において、上記シフト量り、を、式7=に−
L、、により、被写体像と所定結像面との光軸方向のず
れ量Zに変換し、この像面ずれ量2をメモリ部21にメ
モリし、駆動表示部22がこの量Zに応動するようにし
てもよい。
The memory section 21 stores the shift amount L1 that gives the maximum correlation from the second interpolation means 20, and the drive display section 22 stores the shift amount L1 that gives the maximum correlation from the second interpolation means 20, and the drive display section 22 stores the shift amount L1 that gives the maximum correlation from the second interpolation means 20. Depending on the LL11t, the front bin, wandering bin, or focus is displayed, and the imaging optical system 1 shown in FIG. 6 is driven in the direction of the focus position. Also, the second
In the interpolation unit 20, the shift amount is expressed as −
L, , is converted into the amount of deviation Z in the optical axis direction between the subject image and the predetermined image forming plane, this image plane deviation amount 2 is stored in the memory section 21, and the drive display section 22 responds to this amount Z. You can do it like this.

なお、処理回路11では上述の処理の代りまたはそれに
加えて、入力データのサンプリング処理を行うようにし
てもよい。
Note that the processing circuit 11 may perform sampling processing of input data instead of or in addition to the above-described processing.

次にこの作用を第8図及びそのフローチャートを示す第
10図を用いて説明する。
Next, this operation will be explained using FIG. 8 and FIG. 10 showing its flowchart.

(17) (16) 光電素子アレイ9の出力a1、・・a、・ と、光電素
子アレイ10の出力hl、・・b、・とけ、処理回路1
1により適宜処理され、A/D変換器12でA/D変換
された後、メモリ部13に記憶される。
(17) (16) Outputs a1, . . . a, . of the photoelectric element array 9 and outputs hl, .
1, the data is A/D converted by an A/D converter 12, and then stored in a memory unit 13.

マイクロコンピュータMCはシフト量りを零に設定する
(第10図ステップ■)。相関演算部14は、シフト量
をL−1、L1L+1とした時の相関量C(L−1)、
c(L)、c (r−+−4) k算出し、コレらの相
関量C(L−1)、C(T−)、C(Ll1) ハメモ
IJ部14の各メモリC−+、Co、CIに夫々格納さ
れる(ステップ■)。極値存在判別部16は、メモリC
7の内容とメモリC0の内容とを、またメモリc、とC
,の各内容を夫々比較し、条件C,>C,TItびC−
1λC0を満たすか否かを判別し、満たす時、メモリC
−+の内容とメモリCIの内容との間に極値が存在する
と判別する(ステップ■)。第1内挿部17は、上記条
件が充足された時、メモリC−1、C,、C,の各内容
から値D(、、E 1C@It 、−Coatを算出し
、これらの値DL N U s Caw+−がメモリ部
18に記憶される(ステップ■)。この内挿)こより(
1B) められた↑f小値Cax+と参照値C2゜tとが最大相
関判別部19により比較され、条件C1、’ < Cr
e+を充足するか否かが判別される(ステップ■)。こ
の条件が充足される時、極小値C・、Iが第9図の相関
関数Fの最小値であると判別し、第2内挿部20は演算
r、m−(L+DL−)を行い、この値し−をメモリ部
21に記憶する(ステップ■)。駆動表示手段22は、
この値し・に応じて結像光学系を合焦位置の方へ駆動し
、また焦点調節状態を表示する。
The microcomputer MC sets the shift scale to zero (step ■ in FIG. 10). The correlation calculation unit 14 calculates the correlation amount C(L-1) when the shift amount is L-1, L1L+1,
c(L), c (r-+-4) k is calculated, and their correlation amounts C(L-1), C(T-), C(Ll1) Each memory C-+ of the Hame memo IJ section 14, The data are stored in Co and CI, respectively (step ■). The extreme value existence determination unit 16 stores the memory C
7 and the contents of memory C0, and memories c and C
, and the conditions C, >C, TIt and C-
Determine whether or not 1λC0 is satisfied, and when it is satisfied, the memory C
It is determined that an extreme value exists between the contents of -+ and the contents of memory CI (step 2). When the above conditions are satisfied, the first interpolation unit 17 calculates the values D(,, E 1C@It , -Coat from the contents of the memories C-1, C, , C, and converts these values DL N U s Caw+- is stored in the memory unit 18 (step ■). From this interpolation) (
1B) The obtained ↑f small value Cax+ and the reference value C2°t are compared by the maximum correlation determination unit 19, and the condition C1,'< Cr
It is determined whether or not e+ is satisfied (step ■). When this condition is satisfied, the minimum value C·, I is determined to be the minimum value of the correlation function F in FIG. 9, and the second interpolation unit 20 performs the calculation r, m−(L+DL−), This value is stored in the memory section 21 (step 2). The drive display means 22 is
In accordance with this value, the imaging optical system is driven toward the in-focus position, and the focus adjustment state is displayed.

一方、ステップ■の条件が充足されない場合、この時の
シフト量りが条件L>Oを満たすか否かを判別する(ス
テップ■)。今シフト量りは零に設定されているので、
上記条件L)Oは充足されない。この時、シフト量は−
L+1、即ちJに更新される(ステップ■)。この新た
に設定されたシフト量りと所定数At とが比較される
(ステップ■)。この所定量L+は、最大シフト量を決
定する整数値である。このステップ■の条件が満たされ
ないとき上述のステップ■へ戻る。このステップ■へ戻
った後、再びステップのに来た時、L−1であるのでス
テップ■での条件L>Oが充足、され、シフト酸は−L
1叩ち−」に更新され(ステップO)、再びステップ■
へ戻る。このようにして、シフト量りをOから順次1、
−1.2、−2.3、−3、と漸増して、最大相関を4
えるシフト量をめる。最大相関が得られることなく、シ
フトFILが所定値!、tになった時、このことを表わ
す為に、ステップ■でC=yl =C+elとし終了す
る。
On the other hand, if the condition of step (2) is not satisfied, it is determined whether the shift scale at this time satisfies the condition L>O (step (2)). The shift scale is currently set to zero, so
The above condition L)O is not satisfied. At this time, the shift amount is −
It is updated to L+1, that is, J (step ■). This newly set shift scale is compared with a predetermined number At (step 2). This predetermined amount L+ is an integer value that determines the maximum shift amount. When the condition of this step (2) is not satisfied, the process returns to the above-mentioned step (2). After returning to step ■, when we come to step again, since L-1, the condition L>O in step ■ is satisfied, and the shifted acid is −L
1 hit-” (step O), and then step ■
Return to In this way, shift the scale from 0 to 1,
-1.2, -2.3, -3, and the maximum correlation is 4.
Adjust the amount of shift required. Shift FIL is at a predetermined value without obtaining the maximum correlation! , t, in order to express this fact, C=yl=C+el is set in step (2) and the process ends.

結像光学系が合焦位置に近づり1・でつれて、最大相関
を墜えるシフト@(叶当然小さくなるので、上述の例の
如く、最大相関をめるの1・てシフト量を零から漸増さ
せることは可鍛に迅速な焦、I¥調節状態の検出若しく
は測距を達成できる利点がある。
As the imaging optical system approaches the in-focus position, the maximum correlation decreases by 1. Gradually increasing the amount from 100 to 100 has the advantage of achieving malleable and rapid detection of the I adjustment state or distance measurement.

−上述の相関演算において、例えばT、−0の時の相関
量c (r、)、C(L+1)は夫々T、−1の時の相
関量C(L−1)、C(T5 に等しく、L = Oの
時の相関量C(t、−1)、C(し)は夫々I、−一1
 の時の相関1ic(L)、C(I、+1)に等しい。
- In the above correlation calculation, for example, the correlation amounts c(r,) and C(L+1) when T is -0 are equal to the correlation amounts C(L-1) and C(T5) when T is -1, respectively. , when L = O, the correlation amounts C(t, -1) and C(shi) are respectively I, -1
The correlation when 1ic(L), is equal to C(I, +1).

同様に、L−1の時のC(L)、C(L+1)は夫々L
=2の時のC(L−1)、C(L)に等L<、L−一1
の時のc(r−=i)、C(L)はL=−2の時のC−
(T−’)、C(L+1)に等しい。この様な関係にも
拘らず、第10図のフローチャートでは、Lが変化した
時三つの相関量C(T、−1)、C(L)、C(T、+
1)を全部所たに算出した。C(L)の演算には相当時
間がかかるので、これは演算時間の増大を意味するもの
である。
Similarly, when L-1, C(L) and C(L+1) are respectively L
C(L-1) when =2, equal to C(L) L<, L-1
c(r-=i) when , C(L) is C- when L=-2
(T-'), which is equal to C(L+1). Despite this relationship, in the flowchart of Fig. 10, when L changes, the three correlation quantities C(T, -1), C(L), C(T, +
1) were all calculated separately. Since the computation of C(L) takes a considerable amount of time, this means an increase in computation time.

そこで、この様な演算時間の増大を防市した改良例を第
11図に示す。
FIG. 11 shows an improved example that prevents such an increase in calculation time.

第11図において、ステップ[株]で、相関1ic(L
−1)、C(L)、C(L+1.)を算出した後、これ
らを夫々メモリC−1、C0、CIに格納すると1(に
、このメモリC6、C3の内容C(L)、C(L+1)
を夫々メモリci、c; に、同様にメモIJC−1、
C+1の内容を夫々メモリCo 1C+−に格納する。
In Figure 11, at step [stock], correlation 1ic (L
-1), C(L), and C(L+1.), and store them in memories C-1, C0, and CI, respectively. (L+1)
into the memories ci, c; and the memo IJC-1, respectively.
The contents of C+1 are respectively stored in memory Co 1C+-.

ステップ■で、シフト鼠が1だけ増加した後、ステップ
Oにおいて、相関量C(L+1)を新たに算出しこの値
でメモリCI の内容を更新し、またステップ′0て格
納されたメモリc”−+、c;の内容で夫々メモリC−
11coの内容を更新すると共に、このメモリC−,C
I の内容で夫々メモリC:%、C;1を更新する。こ
のステップOで更新されたメモリC−1、co、CI 
の内容はステップ■で処理される。同様に、ステップ■
で、シフト量の符号は反転された後、ステップ0におい
て、相関量C(L−1)が新たに算出され、この値C(
L−1)、及びメモリCo、C’;の内容で夫々メモリ
C−,、C0、C,の内容を更新すると共に、このメモ
リC−,、Cのの内容でメモリC;、C,−の内容を更
新する。このステップ◎で更新されたメモリC,−、、
C,、C,の内容もステップ■で処理される。その他は
第10図と同一である。
After the shift mouse is incremented by 1 in step (2), in step O, the correlation amount C(L+1) is newly calculated and the contents of the memory CI are updated with this value, and in step '0, the stored memory c'' -+, c; memory C- respectively with the contents of
In addition to updating the contents of 11co, this memory C-, C
Memory C:% and C;1 are updated with the contents of I, respectively. Memory C-1, co, CI updated in this step O
The contents of are processed in step ■. Similarly, step ■
After the sign of the shift amount is inverted, the correlation amount C(L-1) is newly calculated in step 0, and this value C(
L-1), and the contents of memories Co, C';, respectively, update the contents of memories C-, , C0, C, and update the contents of memories C;, C, - with the contents of memories C-, , C. Update the contents of. Memory C,−,, updated in this step ◎
The contents of C,,C, are also processed in step (2). Other details are the same as in FIG.

以にの説明では、シフトはを零から順次+側及び−測へ
交互に増大させる例であったが、次にシフト量を一方向
に増大させる例を第12図のフローチャートにより説明
する。
In the above explanation, the shift is sequentially increased from zero to the + side and the - side alternately. Next, an example in which the shift amount is increased in one direction will be explained with reference to the flowchart of FIG. 12.

第12図において、ステップ■でシフト量りを負の初期
1直t、に設定する。ステップ[相]において相関1i
c(L)を算出しこれをメモリC−+に格納する。ステ
ップ@でLを1だけ増加し、ステップ[相]で相関量C
(L)、C(L+1)を算出し、それらを夫々メモリC
o、CI に格納する。ステップOで、メモリC1と0
0の各内容を比較し、条件C+>C。
In FIG. 12, in step 2, the shift scale is set to the negative initial shift t. Correlation 1i in step [phase]
c(L) is calculated and stored in memory C-+. In step @, increase L by 1, and in step [phase], the correlation amount C
(L) and C(L+1), and store them respectively in the memory C.
o, stored in CI. At step O, memories C1 and 0
Compare each content of 0, condition C+>C.

が満たされた時、ステップ■でメモリC−8と00の各
内容を比較し条件C−1≧C6が充足された時、このC
−1とCI との間に極小値が存在するので、ステップ
[相]でDL、Eを算出し、この値D5、EトC0から
極小値U;を内挿する。ステップ0において、この極小
値−が参照値C・・fより小さいとき、これが最大相関
を午える相関量と判断され、ステップ[相]でこの最大
相関に対するシフトILmが内挿され、シーフェンスは
終了する。
is satisfied, the contents of memories C-8 and 00 are compared in step ①, and when the condition C-1≧C6 is satisfied, this C
Since there is a minimum value between -1 and CI, DL and E are calculated in step [phase], and the minimum value U is interpolated from the values D5, E and C0. In step 0, when this minimum value - is smaller than the reference value C...f, it is determined that this is the correlation amount that crosses the maximum correlation, and in step [phase], the shift ILm for this maximum correlation is interpolated, and the sea fence is finish.

書、・他方、ステップ■において、条件CIンC1が充
足されない時、ステップ[相]でシフト量は更に1だけ
増加され乙。ステップ[相]においてこのシフト量が正
の最終値tI より小さければ、ステップ■で新たに相
関@c(L+t)を算出しこれでメモリC1の内容を更
新し、かつメモリC−1、C,の内容をメモリC0、C
I の内容に更新する。この後ステップOへ戻る。また
ステップ[相]の条件が充足されない時、Lを1だけ増
加してもその時のシフト量り一】とL+1との間に極小
値を得られないことは明らかであるので、ステップ[相
]でLを2だけ増加する。またステップOの条件が充足
されない時も、同様の理由でステップ[相]に移る。ス
テップOではこの増加後のしが最終値1−tより小さい
時、ステップ■においてメモリC−茸の内容をメモリC
Iの内容に更新した後、ステップOに戻る。
On the other hand, when the condition CIINC1 is not satisfied in step ①, the shift amount is further increased by 1 in step [phase]. If this shift amount is smaller than the positive final value tI in step [phase], a new correlation @c(L+t) is calculated in step 2, the contents of memory C1 are updated with this, and memories C-1, C, The contents of memory C0, C
Update to the contents of I. After this, the process returns to step O. Also, when the conditions for step [phase] are not satisfied, it is clear that even if L is increased by 1, a minimum value cannot be obtained between the current shift amount [1] and L+1, so in step [phase] Increase L by 2. Also, when the conditions of step O are not satisfied, the process moves to step [phase] for the same reason. In step O, when the value after this increase is smaller than the final value 1-t, in step
After updating to the contents of I, the process returns to step O.

ステップ[株]又は0において、Lが最終値Atに達す
ると、ステップ[相]でその旨を示す為にメモリで=に
参照値C+alを格納し、シーフェンスを終了する。
When L reaches the final value At in step [stock] or 0, the reference value C+al is stored in = in the memory to indicate this in step [phase], and the sea fence is ended.

冑、上述の実施例は、極小値で:の内挿演算に使用する
値Eを規格化因子としても用いているので、演算時間等
の短縮に役立つ利点がある。しかしこの様な利点を無視
するならば、規格化因子としては被写体光像のコントラ
ストに関連した任意の値を選定でき、例えば特開昭55
−Q B 709 公報に記載された値を用いることも
でき、またMax(C(L) −C(L−1))、Ma
x(C(L+1) −C(L−1))もしくはMax 
(C(L) )等を用いることもできる。
In the above-mentioned embodiment, the value E used in the interpolation operation of : at the minimum value is also used as a normalization factor, which has the advantage of helping to shorten the calculation time. However, if such advantages are ignored, any value related to the contrast of the object light image can be selected as the standardization factor.
-Q B 709 The values described in the publication can also be used, and Max(C(L) -C(L-1)), Ma
x(C(L+1) -C(L-1)) or Max
(C(L)) etc. can also be used.

次に、極小値を規格化しない例を第13図に基づき説明
する。
Next, an example in which the minimum value is not normalized will be explained based on FIG. 13.

シフト領域t、〜ifνておいて、複数個の極小値のい
ずれが最小値に該当するかは、極小値の規格化を行わな
い場合には、個々の極小値の値自身からは判断すること
はできない。そこで以下に述べるように、上記領域にお
ける極小値をすべて算出しその中から最小値をめなけれ
ばならない。
In the shift region t, ~ifν, which of the plurality of local minimum values corresponds to the minimum value cannot be determined from the value of each local minimum value itself if the local minimum values are not normalized. I can't. Therefore, as described below, it is necessary to calculate all the minimum values in the above region and find the minimum value among them.

第13図において、ステップ0でメモリCml・に通常
の極小値よりも充分大きな任意の初期値A。
In FIG. 13, at step 0, an arbitrary initial value A that is sufficiently larger than the normal minimum value is stored in the memory Cml.

を、またメモリ■5゜に任意の値Aeaを夫々格納する
。ステップ■〜@は第12図のステップ[相]〜Oと同
一である。ステップOにおいて、0.5X(C−1−C
,、)の演算を行いその結果をメモリDに格納すると共
に、Co−1+ の演算結果をメモリCs*+に格納す
る。こうして内挿してめた相関量の極小値がメモリC0
*1に記憶される。ステップOにおいてこのメモリC1
81とCm1mの各内容とが比較され、条件C*+u 
(Cmtmが充足されると、ステップ@において、この
ときのメモリCtyIの内容でメモリCff1Ifiの
内容を、このときのシフト量を表わすメモリしの内容で
メモリL、の内容を、またメモリDの内容でメモQ D
Lの内容を夫々更新する。更に演算M ax (C+ 
Co、C−、−C,)の結果をメモリEに格納する。こ
のように、メモリC−(。はステップ@の条件を充足す
るCartで更新されるので、このメモリCml。には
常にそれまでに算出した極小値のうちで最小のものが格
納される。ステップ@の後、又はステップOの条件が充
足されない時には、ステップ[相]に移る。ステップ0
〜0は第12図のステップ@〜0と同一である。ステッ
プ■の条件が充足されない時は、ステップ@に移る。ス
テップO〜Oは第12図のステップ[相]〜Oと同一で
ある。
and an arbitrary value Aea in the memory 5°. Steps ① to @ are the same as steps [phase] to O in FIG. In step O, 0.5X(C-1-C
, , ) are performed and the results are stored in the memory D, and the results of the calculation Co-1+ are stored in the memory Cs**. The minimum value of the correlation amount obtained by interpolation in this way is the memory C0
*1 is stored. In step O, this memory C1
81 and each content of Cm1m are compared, and condition C*+u
(When Cmtm is satisfied, in step @, the contents of memory Cff1Ifi are changed to the contents of memory CtyI at this time, the contents of memory L are changed to the contents of memory L representing the shift amount at this time, and the contents of memory D are changed to Memo QD
The contents of L are updated respectively. Furthermore, the operation M ax (C+
Co, C-, -C,) are stored in memory E. In this way, since the memory C-(. is updated with the Cart that satisfies the conditions of step @, the smallest of the minimum values calculated so far is always stored in this memory Cml. After @ or when the conditions of step O are not satisfied, move to step [phase]. Step 0
~0 is the same as step @~0 in FIG. If the conditions of step ■ are not satisfied, move to step @. Steps O to O are the same as steps [phase] to O in FIG.

ステップ■又は0においてシフト量りが最終値Atに達
すると、ステップ[相]でこのシフト領域t、〜Atに
おける相関量の最小値Cml。に対応するシフト量り、
が演算し。十〜■により内挿される。
When the shift scale reaches the final value At in step (2) or 0, the minimum value Cml of the correlation amount in this shift region t, ~At is determined in step [phase]. Shift scale corresponding to,
calculates. Interpolated by 10~■.

(発明の効果) 以−ヒの説明から明らかなように、本発明によると、演
算規模又は演算時間を増大することなく高精度のずれ量
検出が可能となる。
(Effects of the Invention) As is clear from the following explanation, according to the present invention, it is possible to detect the amount of deviation with high accuracy without increasing the calculation scale or calculation time.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図(a)は、光電素子アレイの配列を示す図、第1
図(b)〜第1図/d)は夫々二つの光像の相対的位置
関係を示す図、第2図(a)〜第2図(c)は従来のず
れ量検出装置によるシフト量と相関量の関係を示す図、
第3図(a)〜第3図(c)は別の従来のずれ量検出装
置によるシフト量と相関量との関係を示す図、第4図は
本発明の構成を示すブロック図、第5図は第2の発明の
構成を示すブロック図、第6図は本発明の一実施例の光
学系を示す斜視図、第7図(a)及び第7図ら)は光電
素子アレイの光電出力波形を示す図、第8図は上記実施
例を示すブロック図、第9図(a)は上記実施例による
相関量とシフト量との関係を示す図、第9図(b)は内
挿方法を説明するための説明図、第10図乃至第13図
は、本実施例の作用を表わすフローチャートである。 100・・光学手段 102,103・・光電素子アレ
イ104 相関演算手段 105・・内挿手段(27) 106 ・判別手段 107 ・内挿手段出願人 11
本光学工業株式会社 代理人 渡 辺 隆 男 (28) オゴ′1図 矛4ε因 第4?図
FIG. 1(a) is a diagram showing the arrangement of the photoelectric element array.
Figures (b) to 1/d) are diagrams showing the relative positional relationship between two optical images, respectively, and Figures 2 (a) to 2 (c) are diagrams showing the shift amount and the shift amount by the conventional shift amount detection device. A diagram showing the relationship between correlation amounts,
3(a) to 3(c) are diagrams showing the relationship between the shift amount and the correlation amount by another conventional deviation amount detection device, FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of the present invention, and FIG. The figure is a block diagram showing the configuration of the second invention, FIG. 6 is a perspective view showing an optical system of an embodiment of the invention, and FIGS. 7(a) and 7 et al.) are photoelectric output waveforms of the photoelectric element array. FIG. 8 is a block diagram showing the above embodiment, FIG. 9(a) is a diagram showing the relationship between the correlation amount and shift amount according to the above embodiment, and FIG. 9(b) is a diagram showing the interpolation method. 10 to 13 are flowcharts showing the operation of this embodiment. 100... Optical means 102, 103... Photoelectric element array 104 Correlation calculation means 105... Interpolation means (27) 106 - Discrimination means 107 - Interpolation means applicant 11
Hon Kogaku Kogyo Co., Ltd. Agent Takao Watanabe (28) Ogo'1 Zuko 4ε Cause 4? figure

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)対物レンズの焦点調節状態に応じて、または対象
物体までの距離に応じて、相対位置が変化する対象物体
の第1及び第2の光像を夫々作成する光学手段と、 上記第1光像と第2光像とを夫々光電変換する第1及び
第2光電素子アレイを含む光電変換手段と、 上記第1光電素子アレイの光電出力に関連する出力のパ
ターンを上記第2光電素子アレイの光電出力に関連する
出力のパターンに対して所定量・・、L−1、L、L+
1、・ (ここでLは整数である。)ずつ、シフトした
時々の両出カバターンの相関量をめる相関演算手段と、 上記複数の相関量から、極値とそれを与える上記シフト
量とを内挿する内挿手段と、 1 A 上記極値が所定値を越えるか否かを判別する判別手段と
を具備17、 L記極値が1−配所定値を越える時のL記内挿シフト量
を、に記焦点調節状態または1−記距離を表わす信号と
して使用することを特徴とするずれ陰検出装置。
(1) an optical means for respectively creating first and second optical images of a target object whose relative positions change according to the focus adjustment state of the objective lens or according to the distance to the target object; a photoelectric conversion means including first and second photoelectric element arrays for photoelectrically converting an optical image and a second optical image, respectively; A predetermined amount for the output pattern related to the photoelectric output of..., L-1, L, L+
1. (where L is an integer), a correlation calculation means for calculating the correlation amount of both output cover patterns shifted from time to time, and from the plurality of correlation amounts, an extremum value and the shift amount giving it. interpolation means for interpolating 1A, and determination means for determining whether or not the above extreme value exceeds a predetermined value. A deviation detection device characterized in that a shift amount is used as a signal representing a focus adjustment state or a distance as described in (1).
(2)対物1ノンズの焦点調節状態に応じて、または対
象物体までの距離に略して、相対位置が変化する対象物
体の第1′F?Iび第2の光像を夫々作成する光学手段
と、 L記第1光像と第2光像とを夫々光電変換する第1及び
第2光電素子アレイとを含む光電変換手段と、 上記第1光電素子アレイの光電出力に関連する出力のパ
ターンを上記第2光電素子の光電出力に関連する出力の
パターンに対して所定量・・、L−1、■7、L+1、
・・・(ここでLは整数である。)ずつ、シフトした時
々の両出カバターンの相関量をめる相関演算手段と、 tの′11 −F記所定晴L−1、Ll L+1、ずつシフトした時
の相関量を夫々C(L−1’)、c (1,)、C(L
+1) とした時、極値相関量を与えるシフト量を式■
、十−i−(c、(t−1)−C(L+ 1))(ここ
で、Eはc (r、−H)−C(L)とC(L−1)−
C(L)とのうちの大なる値である。)により内挿する
内挿手段を具備することを特徴とするずれ量検出装置。
(2) The 1'F of the target object whose relative position changes depending on the focusing state of the objective 1 lens, or depending on the distance to the target object? a photoelectric conversion means including an optical means for respectively creating a first optical image and a second optical image; and first and second photoelectric element arrays for photoelectrically converting the first optical image and the second optical image, respectively; The output pattern related to the photoelectric output of the first photoelectric element array is set by a predetermined amount to the output pattern related to the photoelectric output of the second photoelectric element...L-1, ■7, L+1,
... (Here, L is an integer.) Correlation calculation means for calculating the correlation amount of the sometimes shifted both output cover patterns, and t'11 -F specified clear L-1, Ll L+1, respectively. The correlation amounts when shifted are C(L-1'), c(1,), and C(L
+1), the shift amount that gives the extreme value correlation amount is expressed by the formula■
, ten-i-(c, (t-1)-C(L+ 1)) (where E is c(r,-H)-C(L) and C(L-1)-
It is the larger value of C(L). ) A deviation amount detection device comprising an interpolation means for interpolating according to the method.
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