JPS6036942A - 管円周放射線透過検査装置 - Google Patents
管円周放射線透過検査装置Info
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- JPS6036942A JPS6036942A JP58144360A JP14436083A JPS6036942A JP S6036942 A JPS6036942 A JP S6036942A JP 58144360 A JP58144360 A JP 58144360A JP 14436083 A JP14436083 A JP 14436083A JP S6036942 A JPS6036942 A JP S6036942A
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- Japan
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- rotating
- adjust
- radiation
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/18—Investigating the presence of flaws defects or foreign matter
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、管円周付合せ溶接部の欠陥検査をするための
管円周放射線透過検査装置に関するものである。
管円周放射線透過検査装置に関するものである。
管円周付合せ溶接部の欠陥検査の方法としては二重壁両
面撮影法9回転撮影法などが従来から知られている。二
重壁両面撮影法とは、第1図及び第2図に示すように線
源(1)およびフィルム(2)を溶接部(3)を含む平
面と適当な角度αをとって配置し、管壁(4)を二重に
透過して撮影する方法をいう。この方法で撮影する場合
は、フィルム(2)の像質を評価するための目安として
透過度計(5)と、フィルム(2)のコントラストをめ
る階調針(6)とを溶接部(3)の近傍に各々取付けて
おく。撮影によって得られたものは第6図に示すように
現われる。このように二重壁両面撮影法は管円周付合せ
溶接部の欠陥検査の方法としてはかなシ有効なものであ
る。しかし、この方法は撮影配置の設定に時間がかかり
、必要な濃度に調整す乏のが困難であり、しかも露出効
率が悪いという欠点を有している。
面撮影法9回転撮影法などが従来から知られている。二
重壁両面撮影法とは、第1図及び第2図に示すように線
源(1)およびフィルム(2)を溶接部(3)を含む平
面と適当な角度αをとって配置し、管壁(4)を二重に
透過して撮影する方法をいう。この方法で撮影する場合
は、フィルム(2)の像質を評価するための目安として
透過度計(5)と、フィルム(2)のコントラストをめ
る階調針(6)とを溶接部(3)の近傍に各々取付けて
おく。撮影によって得られたものは第6図に示すように
現われる。このように二重壁両面撮影法は管円周付合せ
溶接部の欠陥検査の方法としてはかなシ有効なものであ
る。しかし、この方法は撮影配置の設定に時間がかかり
、必要な濃度に調整す乏のが困難であり、しかも露出効
率が悪いという欠点を有している。
回転撮影法とは、第4図に示すように被検管ae内に輪
状のフィルム(32)を挿入し、この被検管(l[9を
回転させながらその溶接部(31)に放射線発生器(2
)から発生された放射線をスリットIを備えた遮蔽装置
Q3を介して照射して欠陥を撮影する方法をいう。この
方法も管円周付合せ溶接部の欠陥検査の方法としては有
効なものである。しかし、この方法は、露出効率が悪い
、不鮮鋭度が大きい、濃度調整が難しい、ストロボ現象
の問題が残されている、焦点−フィルム間距離、焦点寸
法、回転数、スリット−被検管距離、露出時間、管電圧
、管電流などの最適条件が明らかでなく、設定が困難で
あるなどの種々の欠点を有している。
状のフィルム(32)を挿入し、この被検管(l[9を
回転させながらその溶接部(31)に放射線発生器(2
)から発生された放射線をスリットIを備えた遮蔽装置
Q3を介して照射して欠陥を撮影する方法をいう。この
方法も管円周付合せ溶接部の欠陥検査の方法としては有
効なものである。しかし、この方法は、露出効率が悪い
、不鮮鋭度が大きい、濃度調整が難しい、ストロボ現象
の問題が残されている、焦点−フィルム間距離、焦点寸
法、回転数、スリット−被検管距離、露出時間、管電圧
、管電流などの最適条件が明らかでなく、設定が困難で
あるなどの種々の欠点を有している。
本発明はこの回転撮影法に使用する管円周放射線透過検
査装置であって、焦点−フィルム間距離、スリット−被
検管距離を被検管によって自由に調整できるようにし、
X線の実効焦点の大きさを変えることができるようにし
、X線の焦点の高さと溶接部分の高さとを合わせること
ができるようにし、更に被検管を最適回転数で回転させ
るようにした管円周放射線透過検査装置を提供すること
を目的とする。
査装置であって、焦点−フィルム間距離、スリット−被
検管距離を被検管によって自由に調整できるようにし、
X線の実効焦点の大きさを変えることができるようにし
、X線の焦点の高さと溶接部分の高さとを合わせること
ができるようにし、更に被検管を最適回転数で回転させ
るようにした管円周放射線透過検査装置を提供すること
を目的とする。
本発明は、放射線発生器を備えた放射線装置と、巾調整
可能なスリットを備えた遮蔽装置と、被検管を回転させ
る回転装置とから成シ、これら放射線装置と遮蔽装置と
回転装置とは同一直線上を移動させる移動手段を各々備
え、前記放射線発生器は角度変位可能に昇降装置を介し
て上記移動手段に取付けられ、前記回転装置はスピード
コントローラを備えている管円周放射線透過検査装置を
要旨とするものである。
可能なスリットを備えた遮蔽装置と、被検管を回転させ
る回転装置とから成シ、これら放射線装置と遮蔽装置と
回転装置とは同一直線上を移動させる移動手段を各々備
え、前記放射線発生器は角度変位可能に昇降装置を介し
て上記移動手段に取付けられ、前記回転装置はスピード
コントローラを備えている管円周放射線透過検査装置を
要旨とするものである。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第5図及び第6図は本発明に係る管円周放射線透過検査
装置の一実施例を示すものである。図中、(IυはX線
発生器aX6を備えたX線装置、α騰は鉛板を被覆した
鋼板から成シ、巾調整可能なスリットα4を備えた遮蔽
装置、(L!9は被検管aeを回転させる回転装置であ
り、これらX線装置aυと遮蔽装置a騰と回転装置(I
!9とは同一のレール07)上を移動させる移動手段a
枠、α■、(イ)を各々備えてい右。前記X線発生器α
冬は水平面内で角度変位可能に昇降装置器を介して上記
移動手段(11に取付けられている。前記回転装置(L
!9は昇降装置脅を介して上記移動手段−に取付けられ
ている。回転装置αつは被検管aIを垂直に取付けて回
転させるターンテーブルQルと、被検管019をターン
テーブルQ4に取付けるための被検管押え(ハ)と、タ
ーンテーブル(2)を回転させるためにターンテーブル
(財)の中心に取付けられた回転軸(ハ)と、該回転軸
(ハ)を回転させるために回転軸(イ)に取付けられた
プーリー■と、ベルト(ハ)を介して該プーリー(財)
を回転させるモータ翰とから成シ、該モータ(ハ)には
スピードコントローラ(至)が取付けられている。
装置の一実施例を示すものである。図中、(IυはX線
発生器aX6を備えたX線装置、α騰は鉛板を被覆した
鋼板から成シ、巾調整可能なスリットα4を備えた遮蔽
装置、(L!9は被検管aeを回転させる回転装置であ
り、これらX線装置aυと遮蔽装置a騰と回転装置(I
!9とは同一のレール07)上を移動させる移動手段a
枠、α■、(イ)を各々備えてい右。前記X線発生器α
冬は水平面内で角度変位可能に昇降装置器を介して上記
移動手段(11に取付けられている。前記回転装置(L
!9は昇降装置脅を介して上記移動手段−に取付けられ
ている。回転装置αつは被検管aIを垂直に取付けて回
転させるターンテーブルQルと、被検管019をターン
テーブルQ4に取付けるための被検管押え(ハ)と、タ
ーンテーブル(2)を回転させるためにターンテーブル
(財)の中心に取付けられた回転軸(ハ)と、該回転軸
(ハ)を回転させるために回転軸(イ)に取付けられた
プーリー■と、ベルト(ハ)を介して該プーリー(財)
を回転させるモータ翰とから成シ、該モータ(ハ)には
スピードコントローラ(至)が取付けられている。
次に本発明にかかる管円周放射線透過検査装置の作用に
ついて説明する。まず、被検管αe内にフィルム(32
)を挿入し、これをターンテーブル04上に垂直に立て
、被検管αQを被検管押え(至)でターンテーブル(財
)上に取付ける。回転装置α鴎とX線装置aυとをレー
ル(I7)上で相対的に移動させて線源と被検管amと
の間の距離を調整する。レールα的上で遮蔽装置峙を移
動させてスリットα4と被検管αQとの間の距離を調整
する。X線発生器aaの角度を水平面内で変位させて線
源の見掛けの幅寸法を調整する。この見掛けの幅寸法は
スリット巾に近づけるのが好ましい。X線発生器aりと
回転装置(l!9とを昇降装置(イ)、(ハ)によって
上下に動かし、被検管αQの溶接部(3工)と線源との
高さを合わせる。スピード。
ついて説明する。まず、被検管αe内にフィルム(32
)を挿入し、これをターンテーブル04上に垂直に立て
、被検管αQを被検管押え(至)でターンテーブル(財
)上に取付ける。回転装置α鴎とX線装置aυとをレー
ル(I7)上で相対的に移動させて線源と被検管amと
の間の距離を調整する。レールα的上で遮蔽装置峙を移
動させてスリットα4と被検管αQとの間の距離を調整
する。X線発生器aaの角度を水平面内で変位させて線
源の見掛けの幅寸法を調整する。この見掛けの幅寸法は
スリット巾に近づけるのが好ましい。X線発生器aりと
回転装置(l!9とを昇降装置(イ)、(ハ)によって
上下に動かし、被検管αQの溶接部(3工)と線源との
高さを合わせる。スピード。
コントローラ(至)によシ回転装置α9の回転を調整し
、被検管(1eの回転数を最適値に合わせる。回転数は
12/被検管の外径(インチ)、とするのが好ましい。
、被検管(1eの回転数を最適値に合わせる。回転数は
12/被検管の外径(インチ)、とするのが好ましい。
以上の調整をした後、放射線を照射して、欠陥検査をす
る。
る。
本発明は以上説明したように構成したので、線源−フィ
ルム間距離、スリット−被検管距離を被検管によって自
由に調整できるようにし、X線の線源の見掛けの幅寸法
を変えることができるようにし、X線の線源の高さと溶
接部の高さを合わせることができるようにし、更に被検
管を最適回転数で回転させるようにしたので、撮影を必
要最少限の時間で確実に行なうことができ゛、最適条件
を設定することによシ露出効率、不鮮鋭度の改善をする
ことができ、また撮影条件を変−えることにより簡単に
必要な濃度を出すことができる効果がある。
ルム間距離、スリット−被検管距離を被検管によって自
由に調整できるようにし、X線の線源の見掛けの幅寸法
を変えることができるようにし、X線の線源の高さと溶
接部の高さを合わせることができるようにし、更に被検
管を最適回転数で回転させるようにしたので、撮影を必
要最少限の時間で確実に行なうことができ゛、最適条件
を設定することによシ露出効率、不鮮鋭度の改善をする
ことができ、また撮影条件を変−えることにより簡単に
必要な濃度を出すことができる効果がある。
第1図及び第2図は二重壁両面撮影法の説明図であシ、
第1図はその側面図、第2図はその正面図、第3図は二
重壁両面撮影法で得られたフィルムの現象状態を示す説
明図、第4図は回転撮影法の説明図、第5図及び第6図
は本発明に係る管円周放射線透過検査装置の一実施例を
示すものであシ、第5図はその正面図、第6図はその平
面図、第7図は本発明に係る管円周放射線透過検査装置
の他の実施例を示す正面図である。 11・・・X線装置、12・・・X線発生装置、13・
・・遮蔽装置、14・・・スリット、15・・・回転装
置、18゜19.20・・・移動手段、22.23・・
・昇降装置、30・・・スピードコントローラ。 代理人 弁理士 木 村 三 朗
第1図はその側面図、第2図はその正面図、第3図は二
重壁両面撮影法で得られたフィルムの現象状態を示す説
明図、第4図は回転撮影法の説明図、第5図及び第6図
は本発明に係る管円周放射線透過検査装置の一実施例を
示すものであシ、第5図はその正面図、第6図はその平
面図、第7図は本発明に係る管円周放射線透過検査装置
の他の実施例を示す正面図である。 11・・・X線装置、12・・・X線発生装置、13・
・・遮蔽装置、14・・・スリット、15・・・回転装
置、18゜19.20・・・移動手段、22.23・・
・昇降装置、30・・・スピードコントローラ。 代理人 弁理士 木 村 三 朗
Claims (1)
- 放射線発生器を備えた放射線装置と、中調整可能なスリ
ットを備えた遮蔽装置と、被検管を回転させる回転装置
とから成シ、これら放射線装置と遮蔽装置と回転装置と
は同一直線上を移動させる移動手段を各々備え、前記放
射線発生器は角度変位可能に昇降装置を介して上記移動
手段に取付けられ、前記回転装置は昇降装置を介して上
記移動手段に取付けられ、回転装置はスピードコントロ
ーラを備えていることを特徴とする管円周放射線透過検
査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58144360A JPS6036942A (ja) | 1983-08-09 | 1983-08-09 | 管円周放射線透過検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58144360A JPS6036942A (ja) | 1983-08-09 | 1983-08-09 | 管円周放射線透過検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6036942A true JPS6036942A (ja) | 1985-02-26 |
JPH0319922B2 JPH0319922B2 (ja) | 1991-03-18 |
Family
ID=15360287
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58144360A Granted JPS6036942A (ja) | 1983-08-09 | 1983-08-09 | 管円周放射線透過検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6036942A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5296552A (en) * | 1991-02-27 | 1994-03-22 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Adhesive resin composition |
US7254211B2 (en) | 2004-09-14 | 2007-08-07 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus for performing computed tomography |
-
1983
- 1983-08-09 JP JP58144360A patent/JPS6036942A/ja active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5296552A (en) * | 1991-02-27 | 1994-03-22 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Adhesive resin composition |
US7254211B2 (en) | 2004-09-14 | 2007-08-07 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus for performing computed tomography |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0319922B2 (ja) | 1991-03-18 |
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