JPS60254285A - Method and device for discrimination of pattern - Google Patents

Method and device for discrimination of pattern

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JPS60254285A
JPS60254285A JP59111262A JP11126284A JPS60254285A JP S60254285 A JPS60254285 A JP S60254285A JP 59111262 A JP59111262 A JP 59111262A JP 11126284 A JP11126284 A JP 11126284A JP S60254285 A JPS60254285 A JP S60254285A
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JP
Japan
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pattern
circuit
pattern matching
characters
dictionary
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聡 桜井
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雅人 中島
Tetsuo Hizuka
哲男 肥塚
Noriyuki Hiraoka
平岡 規之
Hiroyuki Tsukahara
博之 塚原
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Fujitsu Ltd
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  • Image Analysis (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve scan accuracy and also to shorten the scan time by integrating the collation between an overall pattern of plural characters and a pattern of a specific part and recognizing these patterns. CONSTITUTION:The patterns on a keyboard 14 containing plural characters are collated with a dictionary at a time by means of a wide-band dictionary memory 16, a wide-band picture memory 17 and a wide-band pattern collation circuit 18. While each of different characters is collated with the dictionary through a local dictionary memory 19, a local picture memory 20 and a local pattern collation circuit 21. These collation results are integrated by a logical circuit 22, and a pattern is identified by a deciding circuit 12.

Description

【発明の詳細な説明】 (al 産業上の利用分野 本発明は各種電子機器の入力装置として使用されるキー
ボードの製造設備に係り、特にキートップに表示される
文字を検査する装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to equipment for manufacturing keyboards used as input devices for various electronic devices, and more particularly to a device for inspecting characters displayed on key tops.

キーボードは第2図の斜視図に示す如く、プリント基板
11押釦スイツチ2、コネクタ3および押釦スイッチ2
の頭部に嵌着するキートップ4からなり、図示してない
がキートップ4にはキーボードの用途に合わせて各種の
文字や記号が表示されており、文字や記号の配列、大き
さ、字体、線の太さ等がキーボードの機種毎に異なって
いる。
As shown in the perspective view of FIG. 2, the keyboard includes a printed circuit board 11, a push button switch 2, a connector 3, and a push button switch 2.
Although not shown, various characters and symbols are displayed on the key top 4 according to the purpose of the keyboard, and the arrangement, size, and font of the characters and symbols are , line thickness, etc. differ depending on the keyboard model.

キーボードは各種電子機器の入力装置としてオペレータ
を始めとして、不特定多数の目に触れる部分であり、文
字や記号の配列違いは勿論、文字や記号の大きさ、字体
、線の太さ等が異なるキートップの混入は絶対に許され
ない。
Keyboards serve as input devices for various electronic devices and are visible to an unspecified number of people, including operators, and they not only have different arrangements of characters and symbols, but also have different sizes, fonts, line thicknesses, etc. Contamination with key tops is absolutely not allowed.

しかるに上述の通り文字や記号の配列、大きさ、字体、
線の太さ等がキーボードの機種毎に異なっているために
、キーボードの製造においては文字や記号の配列違い、
文字や記号の大きさ、字体、線の太さ等が異なるキート
ップの混入による障害が屡々発生する。かかる障害を排
除するためにキーボード1台毎に文字や記号の配列、大
きさ、字体、線の太さ等を検査しているが、検査項目お
よび検査対象が多いため、肉眼では時間が掛かると共に
、障害を見落とす可能性が多い。
However, as mentioned above, the arrangement of characters and symbols, size, font,
Because line thickness, etc. differs between keyboard models, there may be differences in the arrangement of characters and symbols during keyboard manufacturing.
Failures often occur due to the mixing of key tops with different character and symbol sizes, fonts, line thicknesses, etc. In order to eliminate such obstacles, we inspect the arrangement, size, font, line thickness, etc. of characters and symbols for each keyboard, but since there are many inspection items and objects, it takes time and is difficult to see with the naked eye. , there is a high possibility that failures will be overlooked.

そこで検査精度を向上し、且つ検査時間の短縮を可能に
するパターン識別装置の提供が望まれている。
Therefore, it is desired to provide a pattern identification device that can improve inspection accuracy and shorten inspection time.

(bl 従来の技術 第3図は従来のパターン識別装置を示すブロックダイヤ
グラムである。
(bl) Prior Art FIG. 3 is a block diagram showing a conventional pattern identification device.

撮像光学系5、光信号を電気信号に変換するラインセン
サ6、A/D変換回路7、デジタル信号化された画像を
記憶するフレームメモリ8、標準パターンを記憶してい
る辞書メモリ9、フレームメモリ8が記憶している画像
から検査対象部分のみを切り出して記憶する画像メモリ
刊、辞書メモ’J 9の内容と画像メモリ10の内容を
細部にわたって照合するパターン照合回路11、一致、
不一致を判定する判定回路12、出力装置13、および
搭載されたキーボード14をX−Y方向に移動させるス
テ従来のパターン識別装置を用いて例えば第4図に示す
複数個(図では6個)の文字を有するキートップを検査
する場合の方法として、複数個の文字からなるパターン
を同時に辞書と照合する方法と、1文字毎に辞書と照合
する方法がある。
An imaging optical system 5, a line sensor 6 that converts optical signals into electrical signals, an A/D conversion circuit 7, a frame memory 8 that stores images converted into digital signals, a dictionary memory 9 that stores standard patterns, and a frame memory. A pattern matching circuit 11 matches the contents of the image memory 10 with the contents of the image memory 10 in detail.
For example, a plurality of patterns (six in the figure) shown in FIG. Methods for inspecting key tops having characters include a method in which a pattern consisting of a plurality of characters is checked against a dictionary at the same time, and a method in which each character is checked against a dictionary.

複数個の文字からなるパターンを同時に辞書と照合する
方法は、検査時間の短縮を図る上では効果的であるが、
画像全体の情報に占める相違点に関する情報の比率が小
さくなり、例えば3の開口部を見落として8と誤識別す
るなどの問題がある。
The method of checking patterns consisting of multiple characters against a dictionary at the same time is effective in reducing inspection time, but
The ratio of information regarding the difference to the information on the entire image becomes small, and there is a problem that, for example, the aperture 3 may be overlooked and mistakenly identified as 8.

一方1文字毎に辞書と照合する方法は、画像全体の情報
に占める相違点に関する情報の比率が大きくなり識別精
度は向上するが、第4図に示す如く1文字しか違わない
場合でも、それ以外の文字が違っていることもあり、全
ての文字について照合する必要がある。したがって検査
に要する時間が増大するという問題がある。
On the other hand, the method of comparing each character with a dictionary increases the ratio of information about differences to the information of the entire image, improving identification accuracy, but as shown in Figure 4, even if only one character differs, The characters may be different, so it is necessary to match all characters. Therefore, there is a problem that the time required for inspection increases.

ldl 問題点を解決するための手段 辞書メモリ回路、画像メモリ回路、およびパターン照合
回路よりなる広域パターン照合系と、同じく辞書メモリ
回路、画像メモリ回路、およびパターン照合回路よりな
る局所パターン照合系の二系統のパターン照合系を具え
、両者の判定結果を綜合してパターンを識別することで
前記問題点の解決を図っている。
ldl Means for solving the problem Two types of system are available: a wide area pattern matching system consisting of a dictionary memory circuit, an image memory circuit, and a pattern matching circuit, and a local pattern matching system also consisting of a dictionary memory circuit, an image memory circuit, and a pattern matching circuit. The above-mentioned problem is solved by providing a pattern matching system for both systems and integrating the determination results of both systems to identify a pattern.

(8)作用 例えば第4図に示す複数個の文字を有するキートップを
検査する場合、広域パターン照合系で文字全体のパター
ンを同時に照合して識別を行うと共に、局所パターン照
合系で特定部分(図では数字部分)におけるパターンを
照合して識別を行い、両者の判定結果を綜合してパター
ンを識別することによって次の効果が得られる。
(8) Effect: For example, when inspecting a key top with multiple characters as shown in Figure 4, the wide area pattern matching system simultaneously matches and identifies the pattern of the entire character, and the local pattern matching system identifies the specific part ( The following effects can be obtained by comparing and identifying patterns in the numbers (in the figure), and by combining the results of both determinations to identify the pattern.

即ち広域パターン照合系の判定結果から1文字でも違っ
ていれば1回の照合によってパターンの相違点が識別で
きる。また3と8のように広域パターン照合系の判定結
果からは相違点が識別が困難な場合でも、局所パターン
照合系によって識別され、1回の照合によってパターン
の相違点が識別できるために検査時間の短縮が可能にな
る。
That is, if even one character differs from the determination result of the wide-area pattern matching system, the difference in patterns can be identified by one matching. In addition, even if differences are difficult to identify based on the judgment results of the wide-area pattern matching system, as in cases 3 and 8, they are identified by the local pattern matching system, and the differences in patterns can be identified with a single match, which reduces the inspection time. can be shortened.

また3の開口部を見落として8と誤識別するなどの問題
が無くなり識別精度が向上する。
Further, the problem of overlooking the opening 3 and misidentifying it as 8 is eliminated, and the identification accuracy is improved.

(f) 実施例 以下添付図により本発明の詳細な説明する。(f) Example The present invention will be explained in detail below with reference to the accompanying drawings.

第1図は本発明になるパターン識別装置の一実施例、第
5図は本発明の他の実施例、第6図は本発明の更に別の
実施例を示すブロックダイヤグラムであり、第3図と同
じ対象物は同一符号で表している。
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the pattern identification device according to the present invention, FIG. 5 is a block diagram showing another embodiment of the present invention, FIG. 6 is a block diagram showing still another embodiment of the present invention, and FIG. Objects that are the same as are represented by the same symbols.

本発明になるパターン識別装置は第1図に示す如く広域
の標準パターンを記憶している広域辞書メモリ16、フ
レームメモリ8が記憶している画像から検査対象部分を
切り出して記憶する広域画像メモリ17、広域辞書メモ
1月6の内容と広域画像メモリ17の内容を細部にわた
って照合する広域パターン照合回路18からなる広域パ
ターン照合系と、局所の標準パターンを記憶している局
所辞書メモ11月9、フレームメモリ8が記憶している
画像から検査対象部分を切り出して記憶する局所画像メ
モIJ20、局所辞書メモ1月9の内容と局所画像メモ
リ20の内容を細部にわたって照合する局所パターン照
合回路21よりなる局所パターン照合系と、広域パター
ン照合回路18の照合結果と局所パターン照合回路21
の照合結果の論理和をとる論理和回路22を具えている
As shown in FIG. 1, the pattern identification device according to the present invention includes a wide area dictionary memory 16 that stores standard patterns over a wide area, and a wide area image memory 17 that cuts out and stores a portion to be inspected from an image stored in a frame memory 8. , a wide area pattern matching system consisting of a wide area pattern matching circuit 18 that matches the contents of the wide area dictionary memo January 6 and the contents of the wide area image memory 17 in detail, and a local dictionary memo November 9 that stores local standard patterns; Consisting of a local image memo IJ20 that cuts out and stores the inspection target part from the image stored in the frame memory 8, and a local pattern matching circuit 21 that matches the contents of the local dictionary memo January 9 and the local image memory 20 in detail. Local pattern matching system, matching results of wide area pattern matching circuit 18, and local pattern matching circuit 21
It is provided with a logical sum circuit 22 which calculates the logical sum of the collation results.

本発明になるパターン識別装置を用いて例えば第4図に
示す複数個の文字を有するキートップを検査する場合、
広域辞書メモリ】6、広域画像メモリ17、および広域
パターン照合回路】8によって、複数個の文字からなる
パターンを同時に辞書と照合すると共に、局所辞書メモ
1月9、局所画像メモIJ20、および局所パターン照
合回路2】によって、異なっている文字(図においては
数字のみ)を1文字毎に辞書と照合する。
For example, when inspecting a key top having a plurality of characters as shown in FIG. 4 using the pattern recognition device of the present invention,
Wide-area dictionary memory 6, wide-area image memory 17, and wide-area pattern matching circuit 8 simultaneously check a pattern consisting of a plurality of characters with a dictionary, and also store local dictionary memo January 9, local image memo IJ20, and local pattern. The matching circuit 2 matches different characters (in the figure, only numbers) one by one with a dictionary.

即ち従来の複数個の文字からなるパターンを同時に辞書
と照合する方法と、1文字毎に辞書と照合する方法を平
行して実施することにより、検査精度の向上と検査時間
の短縮を可能にする、両者の特徴を兼ね備えたパターン
識別装置を提供することができる。
In other words, by performing the conventional method of simultaneously checking a pattern consisting of multiple characters with a dictionary and the method of checking each character with a dictionary in parallel, it is possible to improve inspection accuracy and shorten inspection time. , it is possible to provide a pattern identification device that combines the features of both.

また第5図に示す他の実施例は前記実施例の局所パター
ン照合回路21の代わりに、局所辞書メモリ19の内容
と局所画像メモリ20の内容を細部にわたって照合し、
特定部分におけるパターンが有する面積、周囲長、投影
幅等の特徴を抽出する特徴抽出回路23を具えている。
Further, in another embodiment shown in FIG. 5, instead of the local pattern matching circuit 21 of the previous embodiment, the contents of the local dictionary memory 19 and the contents of the local image memory 20 are compared in detail,
It includes a feature extraction circuit 23 that extracts features such as area, perimeter, and projected width of a pattern in a specific portion.

したがって広域パターン照合系の出力信号と特徴抽出回
路23の出力信号を綜合して判定することにより、前記
実施例と同様に検査精度の向上と検査時間の短縮を可能
にするパターン識別装置を提供することができる。
Therefore, by combining the output signals of the wide-area pattern matching system and the output signals of the feature extraction circuit 23 and making a decision, a pattern identification device is provided which makes it possible to improve inspection accuracy and shorten inspection time in the same way as in the embodiments described above. be able to.

なお本実施例によれば線の太さが異なっていればパター
ン面積の相違として識別できるため、従来のパターン識
別装置では識別困難であった、同一パターンの文字や記
号における線幅の相違等の識別が可能になる。
According to this embodiment, differences in line thickness can be identified as differences in pattern area, so it is possible to identify differences in line width between characters and symbols of the same pattern, which are difficult to identify with conventional pattern recognition devices. Identification becomes possible.

更に前記の二つの実施例に示す方法を併用することも可
能である。第6図に示す別の実施例は局所パターン照合
回路21と共に、特徴抽出回路23を具えており、前記
の二つの実施例と同様に検査精度の向上と検査時間の短
縮を可能にし、しかも線幅の相違等の識別も可能なパタ
ーン識別装置を提供することができる。
Furthermore, it is also possible to use the methods shown in the above two embodiments in combination. Another embodiment shown in FIG. 6 includes a local pattern matching circuit 21 as well as a feature extraction circuit 23, and as in the previous two embodiments, it is possible to improve the inspection accuracy and shorten the inspection time, and also to improve the accuracy of the inspection. It is possible to provide a pattern identification device that can also identify differences in width.

(沿 発明の効果 以上述べたように本発明によれば検査精度を向上し、且
つ検査時間の短縮を可能にするパターン識別装置を提供
することができる。
(Along with the Effects of the Invention) As described above, according to the present invention, it is possible to provide a pattern identification device that can improve inspection accuracy and shorten inspection time.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明になるパターン識別装置の一実施例を示
すブロックダイヤグラム、 第2図はキーボードの外観を示す斜視図、第3図は従来
のパターン識別装置を示すブロックダイヤグラム、 第4図はキートップの文字表示例、 第50は本発明になるパターン識別装置の他の実施例を
示すブロックダイヤグラム、 第6図は本発明になるパターン識別装置の更に別の実施
例を示すブロックダイヤグラム、である。 図において 16は広域パターン辞書メモリ、 17は広域画像メモリ、 18は広域パターン照合回路、 19は局所パターン辞書メモリ、 20は局所画像メモリ、 21は局所パターン照合回路、 22は論理和回路、 23は特徴抽出回路、 をそれぞれ示す。 1
Fig. 1 is a block diagram showing an embodiment of the pattern identification device according to the present invention, Fig. 2 is a perspective view showing the external appearance of a keyboard, Fig. 3 is a block diagram showing a conventional pattern identification device, and Fig. 4 is a block diagram showing an embodiment of the pattern identification device according to the present invention. An example of character display on a key top. 50th is a block diagram showing another embodiment of the pattern identification device according to the present invention. FIG. 6 is a block diagram showing still another embodiment of the pattern identification device according to the present invention. be. In the figure, 16 is a wide area pattern dictionary memory, 17 is a wide area image memory, 18 is a wide area pattern matching circuit, 19 is a local pattern dictionary memory, 20 is a local image memory, 21 is a local pattern matching circuit, 22 is an OR circuit, and 23 is a logical sum circuit. The feature extraction circuits are shown respectively. 1

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1)複数個の文字や記号からなるパターンの識別方法に
おいて、 複数個の文字全体のパターンを同時に標準パターンと照
合することによって識別すると共に、特定部分における
パターンを標準パターンと照合することによって識別し
、両者の判定結果を綜合してパターンを識別することを
特徴とするパターン識別方法。 2)複数個の文字や記号からなるパターンの識別方法に
おいて、 複数個の文字全体のパターンを同時に標準パターンと照
合することによって識別すると共に、特定部分のパター
ンが有する面積、周囲長、投影幅等の特徴を抽出し、標
準パターンと比較することを特徴とするパターン識別方
法。 3)複数個の文字や記号からなるパターンの識別装置に
おいて、 辞書メモリ回路、画像メモリ回路、およびパターン照合
回路よりなる広域パターン照合系と、同じく辞書メモリ
回路、画像メモリ回路、およびパターン照合回路よりな
る局所パターン照合系の二系統のパターン照合系を具え
たことを特徴とするパターン識別装置。 4)複数個の文字や記号からなるパターンの識別装置に
おいて、 辞書メモリ回路、画像メモリ回路、およびパターン照合
回路よりなる広域パターン照合系と、同じく辞書メモリ
回路、画像メモリ回路、および特定部分におけるパター
ンが有する面積、周囲長、投影幅等の特徴を抽出し、標
準パターンと比較する特徴抽出回路よりなる局所パター
ン照合系の二系統のパターン照合系を具えたことを特徴
とするパターン識別装置。
[Claims] 1) In a method for identifying a pattern consisting of a plurality of characters or symbols, the entire pattern of the plurality of characters is identified by simultaneously comparing it with a standard pattern, and the pattern in a specific part is identified as the standard pattern. A pattern identification method characterized in that the pattern is identified by comparing the two, and the pattern is identified by integrating the determination results of both. 2) In a method for identifying patterns consisting of multiple characters and symbols, the entire pattern of multiple characters is identified by simultaneously comparing it with a standard pattern, and the area, perimeter, projected width, etc. of the pattern of a specific part is identified. A pattern identification method characterized by extracting the features of and comparing them with a standard pattern. 3) In an identification device for a pattern consisting of multiple characters or symbols, a wide area pattern matching system consisting of a dictionary memory circuit, an image memory circuit, and a pattern matching circuit, and a wide area pattern matching system consisting of a dictionary memory circuit, an image memory circuit, and a pattern matching circuit are used. 1. A pattern identification device comprising two pattern matching systems, a local pattern matching system. 4) In a device for identifying patterns consisting of a plurality of characters and symbols, there is a wide area pattern matching system consisting of a dictionary memory circuit, an image memory circuit, and a pattern matching circuit, and a pattern matching system in a specific part, which also includes a dictionary memory circuit, an image memory circuit, and a pattern matching circuit. 1. A pattern identification device comprising two pattern matching systems, a local pattern matching system comprising a feature extraction circuit that extracts features such as area, perimeter, and projected width of a pattern and compares them with a standard pattern.
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5211827A (en) * 1975-07-18 1977-01-29 Hitachi Ltd Character recognition system
JPS5294038A (en) * 1976-02-04 1977-08-08 Hitachi Ltd Optical character reading device
JPS53118943A (en) * 1977-03-28 1978-10-17 Hitachi Ltd Pattern recognition unit

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