JPH0221027B2 - - Google Patents

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JPH0221027B2
JPH0221027B2 JP59111262A JP11126284A JPH0221027B2 JP H0221027 B2 JPH0221027 B2 JP H0221027B2 JP 59111262 A JP59111262 A JP 59111262A JP 11126284 A JP11126284 A JP 11126284A JP H0221027 B2 JPH0221027 B2 JP H0221027B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
characters
local
dictionary
memory
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP59111262A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS60254285A (en
Inventor
Satoshi Sakurai
Masahito Nakajima
Tetsuo Hizuka
Noryuki Hiraoka
Hiroyuki Tsukahara
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP59111262A priority Critical patent/JPS60254285A/en
Publication of JPS60254285A publication Critical patent/JPS60254285A/en
Publication of JPH0221027B2 publication Critical patent/JPH0221027B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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  • Character Discrimination (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (a) 産業上の利用分野 本発明は各種電子機器の入力装置として使用さ
れるキーボードの製造設備に係り、特にキートツ
プに表示される文字を検査する装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (a) Field of Industrial Application The present invention relates to equipment for manufacturing keyboards used as input devices for various electronic devices, and particularly to a device for inspecting characters displayed on key tops.

キーボードは第2図の斜視図に示す如く、プリ
ント基板1、押釦スイツチ2、コネクタ3および
押釦スイツチ2の頭部に嵌着するキートツプ4か
らなり、図示してないがキートツプ4にはキーボ
ードの用途に合わせて各種の文字や記号が表示さ
れており、文字や記号の配列、大きさ、字体、線
の太さ等がキーボードの機種毎に異なつている。
As shown in the perspective view of FIG. 2, the keyboard consists of a printed circuit board 1, a push button switch 2, a connector 3, and a key top 4 that fits onto the head of the push button switch 2. Although not shown, the key top 4 has a purpose for the keyboard. Various characters and symbols are displayed according to the keyboard, and the arrangement, size, font, line thickness, etc. of the characters and symbols differ depending on the keyboard model.

キーボードは各種電子機器の入力装置としてオ
ペレータを始めとして、不特定多数の目に触れる
部分であり、文字や記号の配列違いは勿論、文字
や記号の大きさ、字体、線の太さ等が異なるキー
トツプの混入は絶対に許されない。
Keyboards serve as input devices for various electronic devices and are visible to an unspecified number of people, including operators, and they not only have different arrangements of characters and symbols, but also have different sizes, fonts, line thicknesses, etc. Contamination with key tops is absolutely not allowed.

しかるに上述の通り文字や記号の配列、大き
さ、字体、線の太さ等がキーボードの機種毎に異
なつているために、キーボードの製造においては
文字や記号の配列違い、文字や記号の大きさ、字
体、線の太さ等が異なるキートツプの混入による
障害が屡々発生する。かかる障害を排除するため
にキーボード1台毎に文字や記号の配列、大き
さ、字体、線の太さ等を検査しているが、検査項
目および検査対象が多いため、肉眼では時間が掛
かると共に、障害を見落とす可能性が多い。
However, as mentioned above, the arrangement, size, font, line thickness, etc. of characters and symbols differ between keyboard models, so when manufacturing keyboards, there are differences in the arrangement of characters and symbols, the size of characters and symbols, etc. Problems often occur due to the mixing of keytops with different fonts, line thicknesses, etc. In order to eliminate such obstacles, we inspect the arrangement, size, font, line thickness, etc. of characters and symbols for each keyboard, but since there are many inspection items and objects, it takes time and is difficult to see with the naked eye. , there is a high possibility that failures will be overlooked.

そこで検査精度を向上し、且つ検査時間の短縮
を可能にするパターン識別装置の提供が望まれて
いる。
Therefore, it is desired to provide a pattern identification device that can improve inspection accuracy and shorten inspection time.

(b) 従来の技術 第3図は従来のパターン識別装置を示すブロツ
クダイヤグラムである。
(b) Prior Art FIG. 3 is a block diagram showing a conventional pattern identification device.

撮像光学系5、光信号を電気信号に変換するラ
イセンサ6、A/D変換回路7、デジタル信号化
された画像を記憶するフレームメモリ8、標準パ
ターンを記憶している辞書メモリ9、フレームメ
モリ8が記憶している画像から検査対象部分のみ
を切り出して記憶する画像メモリ10、辞書メモ
リ9の内容と画像メモリ10の内容を細部にわた
つて照合するパターン照合回路11、一致、不一
致を判定する判定回路12、出力装置13、およ
び搭載されたキーボード14をX―Y方向に移動
させるステージ15で構成されている。
An imaging optical system 5, a licensor 6 that converts optical signals into electrical signals, an A/D conversion circuit 7, a frame memory 8 that stores images converted into digital signals, a dictionary memory 9 that stores standard patterns, and a frame memory 8. An image memory 10 that cuts out and stores only the inspection target part from the image stored in the image memory 10, a pattern matching circuit 11 that matches the contents of the dictionary memory 9 and the contents of the image memory 10 in detail, and a judgment that determines whether there is a match or a mismatch. It consists of a circuit 12, an output device 13, and a stage 15 that moves a mounted keyboard 14 in the XY direction.

(c) 発明が解決しようとする問題点 従来のパターン識別装置を用いて例えば第4図
に示す複数個(図では6個)の文字を有するキー
トツプを検査する場合の方法として、複数個の文
字からなるパターンを同時に辞書と照合する方法
と、1文字毎に辞書と照合する方法がある。
(c) Problems to be Solved by the Invention As a method for inspecting a keytop having a plurality of characters (six in the figure) as shown in FIG. There are two methods: one is to simultaneously check the pattern consisting of ``characters'' against the dictionary, and the other is to check the pattern character by character against the dictionary.

複数個の文字からなるパターンを同時に辞書と
照合する方法は、検査時間の短縮を図る上では効
果的であるが、画像全体の情報に占める相違点に
関する情報の比率が小さくなり、例えば3の開口
部を見落として8と誤識別するなどの問題があ
る。
The method of simultaneously checking a pattern consisting of multiple characters against a dictionary is effective in shortening the inspection time, but the ratio of information regarding differences to the information of the entire image becomes small. There are problems such as overlooking the part and misidentifying it as 8.

一方1文字毎に辞書と照合する方法は、画像全
体の情報に占める相違点に関する情報の比率が大
きくなり識別精度は向上するが、第4図に示す如
く1文字しか違わない場合でも、それ以外の文字
が違つていることもあり、全ての文字について照
合する必要がある。したがつて検査に要する時間
が増大するという問題がある。
On the other hand, the method of comparing each character with a dictionary increases the ratio of information about differences to the information of the entire image, improving identification accuracy, but as shown in Figure 4, even if only one character differs, The characters may be different, so it is necessary to match all characters. Therefore, there is a problem that the time required for the inspection increases.

(d) 問題点を解決するための手段 複数の文字や記号の内特定部分のみが個々に異
なる表示パターンを持つ複数のキートツプの該パ
ターン識別方法であつて、全パターンを一括して
対応する標準パターンと照合して識別すると同時
に、上記特定部分のパターンを対応する標準パタ
ーンと照合して識別し、両者の判定結果を綜合し
て全パターンを識別することで前記問題点の解決
を図つている。
(d) Means for solving the problem A method for identifying patterns of multiple key tops in which only specific parts of multiple characters and symbols have different display patterns, and a standard that handles all patterns at once. At the same time, the above-mentioned problem is solved by comparing and identifying the pattern, and at the same time comparing and identifying the pattern of the specific part with the corresponding standard pattern, and combining the judgment results of both to identify the entire pattern. .

(e) 作用 例えば第4図に示す如く複数個の文字からなり
且つ最後尾に位置する数字のみが個々に変化する
キートツプを検査する場合、広域パターン照合系
で文字全体のパターンを一括して照合して識別を
行うと同時に、局所パターン照合系で特定部分
(図では数字部分)におけるパターンを照合して
識別を行い、両者の判定結果を綜合してパターン
を識別することによつて次の効果が得られる。
(e) Function For example, when inspecting a keytop that consists of multiple characters and only the last number changes individually, as shown in Figure 4, the pattern of all the characters can be matched at once using a wide-area pattern matching system. At the same time, a local pattern matching system performs identification by matching the pattern in a specific part (the numerical part in the figure), and by integrating the judgment results of both to identify the pattern, the following effects can be achieved. is obtained.

即ち広域パターン照合系の判定結果から1文字
でも違つていれば1回の照合によつてパターンの
相違点が識別できる。また3と8のように広域パ
ターン照合系の判定結果からは相違点が識別が困
難な場合でも、局所パターン照合系によつて同時
に識別され、1回の照合によつてパターンの相違
点が識別できるために検査時間の短縮が可能にな
る。
That is, if even one character differs from the determination result of the wide-area pattern matching system, the difference in patterns can be identified by one matching. In addition, even if it is difficult to identify differences based on the judgment results of the wide-area pattern matching system, as in cases 3 and 8, they are simultaneously identified by the local pattern matching system, and the differences in patterns can be identified with a single match. This makes it possible to shorten inspection time.

また3の開口部を見落として8と誤識別するな
どの問題が無くなり識別精度が向上する。
Further, the problem of overlooking the opening 3 and misidentifying it as 8 is eliminated, and the identification accuracy is improved.

(f) 実施例 以下添付図により本発明の実施例を説明する。
第1図は本発明になるパターン識別方法を実現す
る装置の一実施例、第5図は本発明の他の実施
例、第6図は本発明の更に別の実施例を示すブロ
ツクダイヤグラムであり、第3図と同じ対象物は
同一符号で表している。
(f) Examples Examples of the present invention will be described below with reference to the attached drawings.
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of a device for realizing the pattern identification method according to the present invention, FIG. 5 is a block diagram showing another embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a block diagram showing still another embodiment of the present invention. , the same objects as in FIG. 3 are represented by the same symbols.

本発明になるパターン識別方法を実現する装置
は第1図に示す如く広域の標準パターンを記憶し
ている広域辞書メモリ16、フレームメモリ8が
記憶している画像から検査対象部分を切り出して
記憶する広域画像メモリ17、広域辞書メモリ1
6の内容と広域画像メモリ17の内容を細部にわ
たつて照合する広域パターン照合回路18からな
る広域パターン照合系と、局所の標準パターンを
記憶している局所辞書メモリ19、フレームメモ
リ8が記憶している画像から検査対象部分を切り
出して記憶する局所画像メモリ20、局所辞書メ
モリ19の内容と局所画像メモリ20の内容を細
部にわたつて照合する局所パターン照合回路21
よりなる局所パターン照合系と、広域パターン照
合回路18の照合結果と局所パターン照合回路2
1の照合結果の論理和をとる論理和回路22を具
えている。
As shown in FIG. 1, an apparatus for implementing the pattern identification method of the present invention cuts out and stores a portion to be inspected from an image stored in a wide-area dictionary memory 16 and a frame memory 8 that store wide-area standard patterns. Wide area image memory 17, wide area dictionary memory 1
6 and the contents of the wide area image memory 17 in detail, a wide area pattern matching system consisting of a wide area pattern matching circuit 18, a local dictionary memory 19 storing local standard patterns, and a frame memory 8. a local image memory 20 that cuts out and stores a portion to be inspected from an image; a local pattern matching circuit 21 that matches the contents of the local dictionary memory 19 with the contents of the local image memory 20 in detail;
A local pattern matching system consisting of the matching results of the wide area pattern matching circuit 18 and the local pattern matching circuit 2
It is provided with an OR circuit 22 that performs a logical OR of the comparison results of 1.

本発明になるパターン識別方法を実現する装置
を用いて例えば第4図に示す複数個の文字を有す
るキートツプを検査する場合、広域辞書メモリ1
6、広域画像メモリ17、および広域パターン照
合回路18によつて、複数個の文字からなるパタ
ーンを一括して辞書と照合すると同時に、局所辞
書メモリ19、局所画像メモリ20、および局所
パターン照合回路21によつて、異なつている文
字(図においては数字のみ)を1文字毎に辞書と
照合する。
When inspecting a keytop having a plurality of characters as shown in FIG.
6. The wide-area image memory 17 and the wide-area pattern matching circuit 18 collectively match a pattern consisting of a plurality of characters with a dictionary, and at the same time, the local dictionary memory 19, the local image memory 20, and the local pattern matching circuit 21 , the different characters (in the figure, only numbers) are checked against the dictionary one by one.

即ち従来の複数個の文字からなるパターンを一
括して辞書と照合する方法と、1文字毎に辞書と
照合する方法を平行して実施することにより、検
査精度の向上と検査時間の短縮を可能にする、両
者の特徴を兼ね備えたパターン識別装置を提供す
ることができる。
In other words, by performing the conventional method of checking a pattern consisting of multiple characters against a dictionary all at once and the method of checking each character against a dictionary in parallel, it is possible to improve inspection accuracy and shorten inspection time. It is possible to provide a pattern identification device that combines the features of both methods.

また第5図に示す他の実施例は前記実施例の局
所パターン照合回路21の代わりに、局所辞書メ
モリ19の内容と局所画像メモリ20の内容を細
部にわたつて照合し、特定部分におけるパターン
が有する面積、周囲長、投影幅等の特徴を抽出す
る特徴抽出回路23を具えている。
Further, in another embodiment shown in FIG. 5, instead of the local pattern matching circuit 21 of the previous embodiment, the contents of the local dictionary memory 19 and the contents of the local image memory 20 are compared in detail, and the pattern in a specific portion is checked. It is equipped with a feature extraction circuit 23 that extracts features such as area, perimeter, and projected width.

したがつて広域パターン照合系の出力信号と特
徴抽出回路23の出力信号を綜合して判定するこ
とにより、前記実施例と同様に検査精度の向上と
検査時間の短縮を可能にするパターン識別方法と
実現する装置を提供することができる。
Therefore, by combining the output signals of the wide-area pattern matching system and the output signals of the feature extraction circuit 23 and making a determination, a pattern identification method that can improve inspection accuracy and shorten inspection time in the same manner as in the above embodiments is provided. It is possible to provide a device that realizes this.

なお本実施例によれば線の太さが異なつていれ
ばパターン面積の相違として識別できるため、従
来のパターン識別装置では識別困難であつた、同
一パターンの文字や記号における線幅の相違等の
識別が可能になる。
According to this embodiment, differences in line thickness can be identified as differences in pattern area, so differences in line width between characters and symbols of the same pattern, etc., which were difficult to identify with conventional pattern recognition devices, can be identified as differences in pattern area. identification becomes possible.

更に前記の二つの実施例に示す方法を併用する
ことも可能である。第6図に示す別の実施例は局
所パターン照合回路21と共に、特徴抽出回路2
3を具えており、前記の二つの実施例と同様に検
査精度の向上と検査時間の短縮を可能にし、しか
も線幅の相違等の識別も可能なパターン識別方法
を実現する装置を提供することができる。
Furthermore, it is also possible to use the methods shown in the above two embodiments in combination. Another embodiment shown in FIG. 6 includes a local pattern matching circuit 21 and a feature extraction circuit 2.
To provide an apparatus which realizes a pattern identification method which is equipped with the following features and which enables improvement of inspection accuracy and shortening of inspection time as in the above two embodiments, and also enables identification of differences in line width, etc. Can be done.

(g) 発明の効果 以上述べたように本発明によれば検査精度を向
上し、且つ検査時間の短縮を可能にするパターン
識別方法を実現する装置を提供することができ
る。
(g) Effects of the Invention As described above, according to the present invention, it is possible to provide an apparatus that implements a pattern identification method that improves inspection accuracy and reduces inspection time.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明になるパターン識別方法を実現
する装置の一実施例を示すブロツクダイヤグラ
ム、第2図はキーボードの外観を示す斜視図、第
3図は従来のパターン識別装置を示すブロツクダ
イヤグラム、第4図はキートツプの文字表示例、
第5図は本発明になるパターン識別方法を実現す
る装置の他の実施例を示すブロツクダイヤグラ
ム、第6図は本発明になるパターン識別方法を実
現する装置の更に別の実施例を示すブロツクダイ
ヤグラム、である。 図において、16は広域パターン辞書メモリ、
17は広域画像メモリ、18は広域パターン照合
回路、19は局所パターン辞書メモリ、20は局
所画像メモリ、21は局所パターン照合回路、2
2は論理和回路、23は特徴抽出回路、をそれぞ
れ示す。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a device implementing the pattern identification method according to the present invention, FIG. 2 is a perspective view showing the external appearance of a keyboard, and FIG. 3 is a block diagram showing a conventional pattern identification device. Figure 4 shows an example of character display on the key top.
FIG. 5 is a block diagram showing another embodiment of the apparatus for realizing the pattern identification method according to the invention, and FIG. 6 is a block diagram showing still another embodiment of the apparatus for realizing the pattern identification method according to the invention. , is. In the figure, 16 is a wide area pattern dictionary memory;
17 is a wide area image memory, 18 is a wide area pattern matching circuit, 19 is a local pattern dictionary memory, 20 is a local image memory, 21 is a local pattern matching circuit, 2
2 represents an OR circuit, and 23 represents a feature extraction circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 複数の文字や記号の内特定部分のみが個々に
異なる表示パターンを持つ複数のキートツプの該
パターン識別方法であつて、 全パターンを一括して対応する標準パターンと
照合して識別すると同時に、上記特定部分のパタ
ーンを対応する標準パターンと照合して識別し、
両者の判定結果を綜合して全パターンを識別する
ことを特徴とするパターン識別方法。
[Scope of Claims] 1. A pattern identification method for a plurality of keytops in which only specific portions of a plurality of characters and symbols have different display patterns, the method comprising: comparing all the patterns at once with a corresponding standard pattern; At the same time, the pattern of the specific part is identified by comparing it with the corresponding standard pattern,
A pattern identification method characterized by integrating both determination results to identify all patterns.
JP59111262A 1984-05-31 1984-05-31 Method and device for discrimination of pattern Granted JPS60254285A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59111262A JPS60254285A (en) 1984-05-31 1984-05-31 Method and device for discrimination of pattern

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JP59111262A JPS60254285A (en) 1984-05-31 1984-05-31 Method and device for discrimination of pattern

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Publication Number Publication Date
JPS60254285A JPS60254285A (en) 1985-12-14
JPH0221027B2 true JPH0221027B2 (en) 1990-05-11

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ID=14556739

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5211827A (en) * 1975-07-18 1977-01-29 Hitachi Ltd Character recognition system
JPS5294038A (en) * 1976-02-04 1977-08-08 Hitachi Ltd Optical character reading device
JPS53118943A (en) * 1977-03-28 1978-10-17 Hitachi Ltd Pattern recognition unit

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JPS60254285A (en) 1985-12-14

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