JPS60243509A - 干渉計 - Google Patents

干渉計

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JPS60243509A
JPS60243509A JP60088459A JP8845985A JPS60243509A JP S60243509 A JPS60243509 A JP S60243509A JP 60088459 A JP60088459 A JP 60088459A JP 8845985 A JP8845985 A JP 8845985A JP S60243509 A JPS60243509 A JP S60243509A
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signal
loop
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frequency
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JP60088459A
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ビヤング・ユーン・キム
ハーバート・ジヨン・シヨウ
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Leland Stanford Junior University
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Publication date
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    • G01C19/58Turn-sensitive devices without moving masses
    • G01C19/64Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
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    • G01C19/64Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams
    • G01C19/72Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams with counter-rotating light beams in a passive ring, e.g. fibre laser gyrometers

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 」」へ11 この発明は干渉計に関するものであり、特に、動作の拡
大されたダイナミックレンジにわたり干渉計からの位相
差信号を測定するための方法および装置を含む、位相続
出金ファイバ光学干渉計に関するものである。
干渉4は、典型的には、2つの干渉し合う光波を伝播す
る装置を含み、これらの光波間の位相差は、干渉■内で
2つの光波が進むそれぞれの光学経路長さの差に依存す
る。2つの干渉し合う波間の位相差もまた、干渉計の回
転のような外力により彩管を受ける。したがって、干渉
y1は、一般に、その強度が光波間の位相差に依存する
ような出力信号を与える。この位相差を検出しかつ測定
するための種々の方法および装置が考案されているが、
いずれも成る作動状態の下で問題または限界があるとい
うことが示されている。
位相差を測定するための装置は、しばしば、回転検知の
ために用いられる干渉計の応用を見出している。このよ
うに、位相差出力信号を検出し測定するための、ここに
開示される方法および装置は従来のあらゆる干渉計とと
もに用いることができるが、その形態および動作につい
ては、この発明の好ましい一実施例を含む、ファイバ光
学回転センサに関して最もよく説明されるがもじれない
ファイバ光学回転センサは、典型的には、互いに逆方向
にループのまわりを伝播するように光波が結合されるフ
ァイバ光学材料のループを含む。
ループの回転により、周知の“サグナック効果″に従っ
て、互いに逆方向に伝播する波間に相対的な位相差が作
り出され、その位相差の量は回転速度に対応する。互い
に逆方向に伝播する波が、再結合されると、建設的にま
たは破壊的に干渉して、ループの回転速度に従って強度
が変化する光学出力信号を発生する。回転検知は、通常
、この光学出力信号を検出することによって行なわれる
ファイバ光学回転センサの感度を小さな回転速度まで増
大するための種々の技術が考案されている。たとえば、
成るオープンループ技術は、第1高調波周波数で互いに
逆方向に伝播する光波を位相変調することを含む。次い
で、回転速度が、位相変調周波数で光学出力信号の成分
の位相感度検出によって決定される。この成分の振幅は
回転速度に比例する。しかしながら、この技術は、大き
な回転速度を検出するためには利用できない、なぜなら
ば光学出力信号は回転速度が増大しまたは減少するに従
って周期的に繰返す波形を規定するからである。このよ
うに、測定された成分の振幅は、たとえ関連のループ回
転速度が異なってぃても、出力信号の各周期的繰返しご
とに同じである。
ざらに、装置の感度は繰返し信号波形上の成る位置では
本質的にOとなり、装置の非線形応答を生じることにな
る。このような技術は、拡大されたダイナミックレンジ
にわたり回転検知が必要な多くの応用において用いるの
が困難である。
オープンループ形態を含む他の技術は、デー・エバーハ
ードおよびイー・ボーグズの、°゛位相変調された中側
波帯検出を備えたファイバジャイロスコープ” 、 O
pt、 L−ett、9.22 (1984)に説明さ
れるような、単側波帯検出方法を含む。
しかしながら、このアプローチは可能ではない、なぜな
らばそれは、現在ファイバ光学形式では利用できない広
帯域位相変調器を必要とするからである。
回転検知に対するさらに他のアプローチは、グー・ボー
ム、ビー・マーテン、イー・ライ−デル。
およびグー・ビータ−マンの゛ディジタルデータ処理を
用いることによってファイバ光学ジャイロを備えた直接
回転速度検出°′(D trect Rotati。
n −Rate Detection With A 
Fiber−Qptic ayro By Using
 Digital [)ata proceSSinQ
 ) 、E+ectron、Lett、19,997(
1983)に説明されるように、信号処理技術である。
このアプローチでは、上述した技術と同様に、互いに逆
方向に伝播する波は選択された周波数で位相変調される
。出力信号の奇数高調波および偶数高調波が各々測定さ
れ、かつこれらの信号が処理され、結合されて、ループ
の回転により生じる位相シフトのタンジェントを規定す
る。回転速度はこの情報から計算される。このI冒とと
もに用いられる現在利用できるアナログ−ディジタルコ
ンバータのレンジが限られているので、装置は、多くの
形式の航法のような、多数のジャイロスコープ応用に要
求される解像度で、必要なダイナミックレンジを与える
ことができない。
上述した技術に関連する問題のいくつかを克服するため
に、他の種々の閉ループアプローチが開発されている。
たとえば、いくつかの閉ループ技術は、選択された周波
数での互いに逆方向に伝播する光波の位相変調を含む。
光波によって発生される光学出力信号はループの回転を
検出するようにモニタされる。回転が検出されると、互
いに逆方向に伝播す、る光波へ与えられる位相変調信号
を一重部するフィードバック信号が発生される。フィー
ドバック信号に応答して、位相変調信号の振幅はループ
の回転により発生された光学出力信号の成分をOにして
しまうように調整される。このように、位相変調信号の
振幅はループの回転速度の測定を含む。
これらの閉ループ技術は、オープンループ装置において
利用できる同じ感度レベルを与え、一方で、回転速度が
正確に測定されるダイナミックレンジを意義深く増大さ
せる。しかしながら、これらの回転センサの精度および
レンジは、センサが接続される種々の出力装置の能力に
よってその応用が限られている。たとえば、出力装置は
、非常に小さな回転速度のみならず、大きな回転速度に
対しても位相変調信号の振幅の測定を可能にするレンジ
および解像度を有しなければならない。これらのシステ
ムとともに用いられるべき出力装置は、航空機航法のよ
うな応用に対する条件に近づく感度レベルおよびダイナ
ミックレンジでは現在利用できない。さらに、これらの
システムは、そこに含まれる付加的な電子回路のため、
オープンループシステムよりも固有に、より複雑である
上記に照らし、全ファイバ光学<all −1iber
−optic )ジャイロスコープの回転速1度が、拡
大されたダイナミックレンジにわたり、精密に、曖昧で
なくかつ線形的に決定されることができるそのようなオ
ープンループの回転検知システムおよび方法を提供づる
ことか当該技術分野において大ぎな改善であろう。実質
的に制限のないダイナミックレンジにわたり回転速度の
ディジタル続出を発生するため現存するコンポーネント
を用いるシステムおよび方法を提供することはさらに重
要な改善であろう。
L1列LL この発明は、動作の拡大されたダイナミックレンジにわ
たり干渉計に対する選択された外力の影響を検出しかつ
測定するための装置および方法を含む。この装置は干渉
計1を含み、干渉計は、その干渉針内を伝播する2個の
干渉する光波からなる出力を与えるための検出器を有す
る。干渉し合う光波間の位相差は、干渉計内を光波が進
むそれぞれの光学経路長さの差に依存し、かつ干渉計の
圧力、温度および回転のような外力の影響にも依存する
。出力の強度は、光波の位相差に依存し、かつしたがっ
て干渉計に与えられる外力にも依存する。
第1の回路はその出力を振幅変調して、その出力の正弦
波および余弦波成分の両方を含む選択された高調波を有
する第1の信号を発生する。第2の回路は、第1の信号
に応答して、外力により生じた干渉光波の位相差のシフ
トを表わす第2の信号を与える機能をする。
1つの好ましい実施例では、この発明は回転速度の幅広
いレンジを正確にかつ信頼性よく検知しかつ検知された
回転に対応する低周波信号の位相を与えるのに用いるた
めのオーブンループ回転センサおよびその動作方法を含
む。回転センサは、(a )光源からの光を、互いに逆
方向に、検知ループのまわりを伝播する2つの光波に分
割し、かつ(b)互いに逆方向に伝播する光波を結合し
て光学出力信号を与える、ファイバ光学方向性結合器の
ようなずべてのファイバ光学コンポーネントを含む。与
えられた光、互いに逆方向に伝播する光波、および光学
出力信号の正しい偏光が、ファイバ光学偏光子およびフ
ァイバ光学偏光制御装置によって確立され、制御されか
つ維持される。第2のファイバ光学結合器は連続するス
トランドからの光学出力信号を、光学信号の強度に比例
する電気信号を出力する光検出器へ結合するために設け
られる。
回転センサの改善された動作安定性および感度は、位相
変調器を用いて選択された周波数で互いに逆方向に伝播
する光波を位相変調することによって、かつそれによっ
て光学出力信号の位相をバイアスすることによって達成
される。光検出器からの光学強度出力信号は位相変調周
波数で振幅変調されて、光学位相シフトを、低周波電子
信号の位相シフトへ変換する。変調された信号はフィル
タされて、その高調波周波数のうちの1つを選択する。
好ましい一実施例において、振幅変調は、振幅変調され
た信号を、位相変調周波数で、2個のチャネルのうちの
1つのチャネルへ交互に伝送する電子スイッチによって
達成される。このように、2Ilのチャネルにおける信
号は変調周波数で変調された方形波であり、かつ互いに
180度逆相となっている。チャネルにおける信号の各
々の成分は、バンドパスフィルタによって変調周波数の
高調波で選択され、かつこれらの成分の位相差が位相測
定器において決定される。この位相差は回転速度によっ
て互いに逆方向に伝播する波において発生される位相差
の2倍の値を含む。好ましい一実施例では、位相測定器
は、従来のディジタル出力装置におい、て簡単に用いら
れることができる非常に正確なディジタル出力信号を発
生ずる時間間隔カウンタである。
伯の好ましい実施例において、強度出力信号は従来の電
子ゲートによって振幅変調され、かつ振幅変調された信
号の選択された高調波の位相は、位相変調信号の対応す
る高調波の位相に対して測定される。この測定は、上述
したような位相測定器によって行なわれて、ループの回
転によって互いに逆方向に伝播する光波において発生さ
れる位相差に対応するディジタル値を発生する。選択的
に、振幅変調が、シャッタのような光学ゲートを用いる
ことによって、光学ループにおいて行なわれることがで
きる。
この発明のこれらおよび他の目的ならびに特徴は添付図
面とともに行なう以下の説明および前掲の特許請求の範
囲からさらに明らかとなろう。
好ましい実施例の詳 な説明 上で示したように、この発明は、この発明の好ましい一
実施例を含む特定の応用におレプる干渉計の特定形式に
関してその用途を参照することによって最もよく説明で
きる。したがって、この発明は回転検知のためのサグナ
ック干渉計に関して説明する。しかしながら、この発明
は多数の形式の応用にお番プる干渉計とともに用いられ
ることができるということを理解されたい。
この発明の好ましい実施例の議論を進める前に、この発
明に用いられる基本的な回転センサの議論が、この改良
点を十分に理解するために必要である。第1図は、この
発明に用いられる形式の基本的な構造を有する回転セン
サを示す。これは、連続的な長尺のまたはストランドの
光学ファイバ12へ光を導くための光源10を含み、そ
のファイバの一部は検知ループ14へ巻回されている。
ここに用いられ−Cいるように、参照数字12は、光学
ファイバの全体の連続するストランドを一般に示してい
るが、参照数字12にサフィックス(△。
B、Cなど)が付いたものは光学ファイバ12の部分を
示すものである。
図示した実施例において、光源10は、0.82ミクロ
ンのオーダの波長を有する光を作り出すヒ化ガリウム(
Ga As )ループを含む。特定の実施例によれば、
光11i10は、ニュージャージー州、サウス・プレイ
ンフィールド、3005 ハートレー・ロードのジェネ
ラル・オブトロニクス・コーポレーションから商業的に
入手できる、モデルGo−D I Pレーザダイオード
であってもよい。ストランド12のようなファイバ光学
ストランドは、好ましくは、たとえば、80ミクロンの
外径と、4ミクロンのコア直径を有する単一モードファ
イバである。ループ14はスプールまたは他の適当な支
持部材(図示せず)のまわりに巻かれたファイバ12の
複数のターン(巻数)を含む。
特定の実施例によれば、ループ14は、14センチメー
トルの直径を有するフオームの上に巻かれたファイバの
約1000ターンを有してもよい。
好ましくは、ループ14は、中心から始まって対称的に
巻回され、それによりループ14の対称点は接近してい
る。これは、回転セン勺の環境的な感痩を減少させるも
のと思われる、なぜならばこのようなシンメトリによっ
て、時間により変化する温度および圧力勾配が互いに逆
方向に伝播する波の双方に同様な影響を及ぼすからであ
る。
光源10からの光は、光源10に対してファイバ12を
当接させることによって、ファイバ12の一方端へ光学
的に結合される。光を案内しかつ処理するための種々の
コンポーネントは、連続的なストランド12に沿って種
々の場所に位置決めされまたは形成される。これらのコ
ンボーネン1−の相対的な配置を説明する目的で、連続
的なファイバ12は12Aないし12Gの符号の付いた
それぞれ7つの部分に分けられるものとして説明されて
おり、これらの部分12Aないし12Eは、光源10へ
結合されるループ14の側にあり、部分12Fおよび1
2Gはループ14の反対側にある。
偏光制御装置24が、ファイバ部分12Aおよび12B
の間で、光源10に隣接している。制御装@24として
用いるのに適した偏光制御装置の形式は、本JI¥発明
の譲受人に譲渡された、同時係属中のアメリカ合衆国特
許出願連続番号用183゜975 (1980年9月4
日に出願)の“ファイバ光学偏光コンバーダ′に詳細に
説明されており、ここでは参照することによって援用す
る。偏光制御装置24の簡単な説明については後で行な
う。
しかしながら、この制御装置24は、与えられた光の偏
光の状態および方向の両方の調節を許容するということ
をここで理解すべきである。
ファイバ12は、次いで、ファイバ部分12Bおよび1
2Cの間に配置される、方向性結合器26の、Aおよび
Bの符号の付いたボートを通過する。結合器26は光学
出力を、結合器26の符号CおよびDの付いたボートを
通過する光学ファイバの第2のストランドへ結合し、ボ
ートCはボートAと、結合器の同じ側にあり、かつボー
トDはボートBと結合器の同じ側にある。ボートDから
延びるファイバ28の端部は’ N O” (not 
connected )の符号の付いた点で非反射的に
終端し、他方、ボートCから延びるファイバ29の端部
は光検出器30へ光学的に結合される。特定の例によれ
ば、光検出器30は標準的な、逆バイアスされたシリコ
ン、PIN型のフォトダイオードであってもよい。結合
器26は、1980年4月11日に提出されたアメリカ
合衆国特許出願連続番号用139,511号(1981
年4月8日に出願のヨーロッパ特許出願連続番号用81
102667.3で、かつ1981年10月21日に公
開された公開番号0038023に対応する)、゛ファ
イバ光学方向性結合器°°の部分継続出願である、19
81年9月10日に出願された同時係属中の特許出願連
続番号用300,955 (1982年9月8日に出願
されたヨーロッパ特許出願連続番号用82304705
.5で、かつ1983年3月23日に公開された公開番
号0074789に対応する)の゛ファイバ光学方向性
結合器゛′に詳細に説明されており、これらの特許出願
は共に本願出願の譲受人に譲渡されている。これらの同
時係属中の特許出願はここで参照することによって援用
する。
結合器26のポルトBから延びるファイバ部分12Cは
、ファイバ部分12Gおよび120の間に配置される偏
光子32を通過する。単モード光学ファイバは任意の光
波に対する進路の2つの偏光モードを有する。偏光子3
2は、ファイバ12の偏光モードの一方のモードにおい
て光を通過させ、他方、他の偏光モードにおいては光の
通過を妨げる。好ましくは、上述した偏光制御装[24
は、与えられた光の偏光を調整するために用いられ、そ
れにより、このような偏光が実質的に、偏光子32によ
り通される偏光モードと同じとなる。
これによって、与えられた光が偏光子を通過するとき光
学出力の損失が減少される。この発明に用いるための偏
光子の好ましい形式は、本願発明の譲受人に譲渡された
、1983年6月7日に特許されたアメリカ合衆国特許
番号箱4.386.822号の、°゛偏光子および方法
″に詳細に説明されており、ここでは参照することによ
って援用する。
偏光子32を通過した後、ファイバ12はファイバ部分
12Dおよび12Eの間に配置される、方向性結合器3
4のAおよびBの符号の付いたボートを通過する。この
結合器34は、好ましくは、結合器26を参照して上述
したと同じ形式のものである。ファイバ12は、偏光制
御装[36がループ14とファイバ部分12Eとの間に
配置されて、ループ14に巻回される。この偏光制御装
置36は、制御装置24を参照して議論した形式のもの
であってもよく、かつ、これらの互いに逆方向に伝播す
る波の干渉によって形成される、光学出力信号が、最初
の光学出力損失で偏光子32によって、効果的に通され
る偏光を有するように、ループ14を介して互いに逆方
向に伝播する光波の偏光を調整するために利用される。
このように、偏光制御装M2413よび26の両方を用
いることによって、ファイバ12を伝播する光の偏光は
最大光学パワー出力のために調整されることができる。
AC信号発住器40により駆動される位相変調器38は
、ループ14と、第2の方向性結合器34との間でファ
イバ部分12Fkm装着される。この変調器38は、フ
ァイバ12が巻かれたPZT円筒を含む。ファイバ12
は、それが発生器4゜からの変調信号に応答して放射方
向に拡がるとき、それはファイバ12を拡げるように円
筒部へ結合される。
この発明とともに用いるのに適した代替の形式の変調器
(図示せず)は、円筒の両端で2倍の長さの毛細管へ結
合されるファイバ12の4つの部分を長手方向に引延ば
すPZT円筒を含む。当業壱は、このような代替の形式
の変調器は、変調器38と比べて、より少ない程度の偏
光変調を伝播する光学信号に与えてもよいということを
認識するであろうが、しかしながら、変調器38は、偏
光変調の望ましくない効果を除去する周波数で作動され
てもよいということが後でわかるであろう。
したがって、変調器のどの形式も、この発明において使
用するのに適している。
次に、ファイバ12は結合器34のCおよσDの符号の
付いたボートを通過し、ファイバ部分12FはボートD
から延び、ファイバ部分12GはボートCから延びる。
ファイバ部分12Gは“Nc ” (not Conn
ected )の符号の付いた点で非反射的に終端する
AC発生器40からの出力信号はうイン44上で、基準
信号としてロック−イン増幅器46へ供給され、ロック
イン増幅器46はまたライン48によって、光検出器3
0の出力を受けるように接続される。増幅器46に対す
るライン44上のこの信号は、基準信号を与えて、増幅
器46が、変調器38の変調周波数、すなわち、光学出
力信号の第1高調波成分で検出器出力信号を同期的に検
出することができるようにし、他方、この周波数の他の
すべての高調波を阻止する。
ロックイン増幅器は当該技術分野において周知であり、
商業的に入手可能である。
検出器出力信号の第1^調波成分の大きさは、ループ1
4の回転速度に対し、成る限られた作動範囲を通じて比
例するということが後でわかるであろう。増幅器46は
、この第1高調波成分に比例する信号を出力し、かつし
たがって回転速度を直接表示し、これは表示パネル47
上で可視的に表示されてもよい。しかしながら、第1図
に示される検出方法は、第9図の議論に関してわかるよ
うに、比較的小さな回転速度に対してのみ用いられるこ
とができる。
結合器26および・34 この発明の回転センサ°またはジャイロスコープにおけ
る結合器26および34として用いるための好ましいフ
ァイバ光学方向性結合器を第2図に示す。結合器は、そ
の−刃側から取除かれたクラツディングの一部を有する
単一モードファイバ光学材料の、第2図の50A、50
Bで示される2個の光学ファイバス・トラツトを含む。
2個のストランド50Aおよび50Bは、それぞれのブ
ロック53Aおよび53Bに形成される、それぞれの円
弧状スロット52Aおよび52Bに装着される。
ストランド50Aおよび50Bは、光がストランドのコ
ア部分間で転送される相互作用領域54を形成するよう
に、クラツディングが密に間隔を隔てて除去されたスト
ランドの部分で、位置決めされる。除去された材料の量
は、各ストランド50Aおよび50Bのコア部分が他方
のエバネセントフィールド内にあるようなものである。
結合器の中心でのストランド間の中心間の間隔は、典型
的には、約2−3コア直径よりも小さい。
相互作用領域54のストランド間で転送される光は方向
性であるということを注目するのが重要である。すなわ
ち、入力ポートAへ与えられる光のすべては、実質的に
、ボートCへ逆方向性結合することなく、出力ポートB
および−Dへ与えられる。同様に、入力ポートCへ与え
られる光のすべては、実質的に、出力ポートBおよびD
へ与えられる。さらに、この方向性は対称である。した
がって、入力ポートBまたは入力ポートDのいずれかへ
供給される光は、出力ポートAおよびCへ与えられる。
さらに、結合器は偏光に関して実質的に非弁別的であり
、かつしたがって、結合された光の偏光を保つ。このよ
うに、たとえば、垂直偏光を有する光ビームがボートA
へ入力されれば、ボートAからボートDへ結合された光
は、ボートAからボートBへ光が真直ぐに通過するのと
同様に、垂直に偏光されたままである。
前述の説明から、結合器はビーム分割器とじて機能し、
与えられた光を2個の互いに逆方向に伝播する波W1.
W2 (第1図)へ分割するということがわかる。さら
に、結合器は、付加的に、互いに逆方向に伝播する波が
ループ14(第1図)を横切った後、それらの波を再結
合する働きをする。
図示の実施例において、結合器26.34の各々は、5
0%の結合効率を有する、なぜならばこの結合効率の選
択を行なうことにより光検出器30(第1図)で最大光
出力が与えられるからである。ここに用いられているよ
うに、用語°゛結合効率”はパーセントとして表現され
、結合されたパワーと、全出力パワーとのパワー比とし
て規定される。たとえば、第2図を参照して、光がボー
トAへ与えられれば、結合効率は、ボートBおよびDで
のパワー出力の総和に対するボートDのパワーの比に等
しいであろう。さらに、結合器34のための50%の結
合効率は、互いに逆方向に伝播する波W1.W2が等し
い大きさになるのを確実にする。
偏光子32 第1図の回転センサに用いるための好ましい偏光子を第
3図に示す。この偏光子は、ファイバ12により伝えら
れる光のエバネセントフィールド内に位置決めされる、
複屈折結晶60を含む。ファイバ12は、一般に矩形の
水晶のブロック64の上面63に通ずるスロット62に
装着される。
スロット62は円弧状に曲げられた底部壁を有し、かつ
ファイバは、それがこの底部壁の輪郭に追従するように
、スロット62に@着される。ブロック64の上面63
は領域67におけるファイバ12から、クラツディング
の一部を除去するように重ねられる。結晶60は、ファ
イバ12のエバネセントフィールド内に結晶60を位置
決めするように、その結晶の下面68がブロック64の
上面63に面した状態で、ブロック64上に装着される
。ファイバ12および複屈折材料60の相対屈折率は、
所望の偏光モードの波の速さが、ファイバ12における
よりも複屈折結晶60における方が大きく、他方、不所
望な偏光モードの波の速さが複屈折結晶60におけるよ
りもファイバ12における方が大きいように、選ばれる
。所望の偏光モードの光は、ファイバ12のコア部分に
より案内されたままであるのに対し、不所望な偏光モー
ドの光はファイバ12から複屈折結晶60へ結合される
。このように、偏光子32は一方の偏光モードにおいて
光を通過させることができ、他方、他方偏光モードにお
いては光の通過を妨げる。前に示したように、偏光制御
装置24.36 (第1図)は、偏光子による光学パワ
ー損失が最小にされるように、それぞれ、与えられた光
および光学出力信号の偏光を調整するために用いられる
こともできる。
子12436 第1図の回転センサに使用するために適した偏光制御装
置の1つの形式を第4図に示す。制御装置は、複数個の
直立したブロック72Aないし72Dが装着されるベー
ス70を含む。ブロック72のうちの隣接するものの闇
には、スプール74Aないし74Cが、それぞれ、シャ
フト76Aないし76C上に接線方向に装着さる。シャ
フト76は、互いに軸方向に整列されており、かつブロ
ック72間で回転自在に装着される。スプール74は、
概して、円筒状であり、かつシャフト76に対して接線
方向に位置決めされる。
ストランド12はシャフト76における軸方向のボアを
介して延び、かつ3個のコイル78Aないし78Cを形
成するためスプール74の各々のまわりに巻かれる。コ
イル78の半径は、ファイバ12がコイル78の各々に
おいて複屈折媒体を形成するように応力が加えられるよ
うなものである。3個のコイル78Aないし78Cは、
ファイバ12の複屈折を調整するように、かつしたがっ
て、ファイバ12を通過する光の偏光を制御するように
、それぞれシャフト74Aないし74Gの軸のまわりで
互いに独立に回転される。
コイル78のターンの直径および数は、外側のコイル7
8Aおよび78Cが4分の1波長の空間的な遅延を与え
、他方中心のコイル78Bが2分の1波長の空間的遅延
を与えるようなものである。
4分の1波長コイル78Aおよび780は偏光の離心率
を制御し、かつ2分の1波長コイル78Bは偏光方向を
制御する。これは、ファイバ12を伝播する光の偏光の
全調節範囲を与える。
偏光方向(他の方法で中央コイル78Bにより与えられ
る)は2個の4分の1波艮コイル78Aおよび78Cに
よって偏光の離心率を正しく調整することによって間接
的に制御されてもよいので、偏光制御装置は2個の4分
の1波長コイル78Aおよび78Cのみを提供するよう
に修正されてもよいということが理解されよう。したが
って、偏光制御装置24および36は、第1図において
、2個の4分の1波長コイル78Aおよび78Gのみを
含むものとして示されている。この形態により、制m装
置24−36の全体的な寸法が減少されるので、スペー
スの制限のある本願発明のある種の応用に対しては有利
であるかもしれない。
このように、偏光制御装置24および36は、与えられ
た光および逆方向に互いに伝播する波の両方の偏光を確
立し、維持しかつ制御するための手段を提供する。
位相変調または 先制 なしの動 偏光子32(第1図)および位相変調器38の機能およ
び重要性を十分に理解する目的で、回転センサの動作に
ついて、まず、これらのコンポーネントがシステムから
除去されたかのように説明する。したがって、第5図は
変調器38、偏光子32およびそれらから除去された関
連の成分を備えた、概略ブロック図形式で、第1図の回
転センサを示す。
その中で伝播するため、光がレーザ源10からファイバ
12へ結合される。光は結合器26のボートAに入り、
そこで、光の一部がボートDを介して失われる。光の残
りの部分は結合器のボートBからポート八へ伝播し、そ
こで、それは等しい振幅の2つの互いに逆方向に伝播す
る並Wl、W2へ分割される。波W1はループ14のま
わりを時計方向にボートBから伝播し、他方、波W2は
ループ14のまわりを反時計方向にボートDから伝播す
る。
波W1.W2がループ14を横切った後、それらは結合
器34によって再結合されて光学出力信号を形成し、そ
れは結合器34のボートAから結合器26のボートBへ
伝播する。光学出力信号の一部は結合器26のボートB
からボートCへ結合されてファイバ29に沿って光検出
器30へ伝播する。この光検出器30は、光学出力信号
によって、そこに印加される光の強度に比例する電気信
号を出力する。
光学出力信号の強度は、波W1.W2が結合器34で再
結合され、または干渉されるとぎに、波W1.’W2間
の干渉の量および形式、すなわち、建設的かまたは破壊
的かにしたがって、変化する。
取敢えず、ファイバの複屈折の効果を無視して、波W1
.W2はループ14のまわりの同じ光学経路を進む。し
たがって、ループ14が静止しているものと想定すれば
、波Wl、W2は結合器34で再結合されるとき、それ
らは、それらの間に何の位相差もなく、建設的に干渉し
、かつ光学出力信号の強度は最大となる。しかしながら
、ループ14が回転されていると、互いに逆方向に伝播
する波W1.W2はサグナック効果に従って位相がシフ
トされ、それにより、それらが結合器34で重畳される
と、それらは破壊的に干渉して光学出力信号の強度を減
少させる。ループ14の回転により生じる、波Wl、W
2間のこのようなサグナック位相差は、次の関係によっ
て規定される。
Δφ −1rr−五〇 ・・・(1) 入に こにおいて、Aは光学ファイバのループ14により結合
された領域であり、 Nはその領域Aのまわりの光学ファイバのターン数であ
り、 Ωは、ループの面に垂直な軸のまわりのループの角速度
であり、かつ λおよびCは、ループへ与えられた光の、それぞれ波長
および速度の自由空間の値である。
光学出力信号の強度(1丁)は、波W1.W2間のサグ
ナック位相差(Δφ、)の関数であり、次の方程式によ
り定義される。
IT −1+ + 12 +2ETTゴ、cos(Δφ
、)・・・ (2) ここにおいて、■、およびI2は、それぞれ、波W1.
W2の個々の強度である。
方程式(1)および(2)から、光学出力信号の強度は
回転速度(Ω)の関数であることがわかる。このように
、そのような回転速度の表示は、検出器30を用いて、
光学出力信号の強度を測定することによって得られる。
第6図は曲線80を示し、この曲線は、互いに逆方向に
伝播する波W1.W2間のサグナック位相差(Δφk)
と、光学出力信号の強度(1丁)との間の関係を示す。
曲線80は余弦曲線の形状を有し、かつ光学出力信号の
強度は、サグナック位相差がOのとき最大である。互い
に逆方向に伝播する波W1.W2間の位相差が完全にル
ープ14の回転により生じる場合は、曲線80は垂直軸
のまわりを対称に変化する。しかしながら、1981年
7月29日に出願された、同時係属中のアメリカ合衆国
特許出願連続番号288,212110Ω1な70Q 
n 口LIJ 1lili /7’lコーn−1−re
 Am を山願連続番号第82902595.6で、か
つ1983年7月27日に公開された公開番号0084
055に対応する)、゛偏光されない光を用いたファイ
バ光学回転センサ2′に議論されているように、偏光さ
れた光では、互いに逆方向に伝播する波W1.W2間の
付加的な、非相反的な位相差は、光学ファイバ12の残
留複屈折によって生じるかもしれない。この出願は、参
照することによってここに援用する。この付加的な非相
反位相差は、完全に偏光されない光が用いられれば生じ
ない。
単一モードファイバ12の2つの偏光モードの各々にお
いて進行する光は異なる速さで進行するので、複屈折に
より誘起される位相差は生じない。
複屈折は、一方の偏光モードで進む光の一部を他方のモ
ードへ結合させる。これは波W1.W2間に、非回転的
に誘起された位相差を作り出し、これによって、波W1
.W2は、第6図の曲線80を歪ませまたはシフトさせ
るように干渉する。このようなシフトは、第6図の透視
線で示される曲WjAB2によって示される。
このような複屈折により誘起される、非相反的な位相差
は、回転的に誘起されるサグナック位相差と区別するこ
とができず、かつ温度や圧力などのようなファイバ複屈
折を変化させる環境的なファクタに依存する。したがっ
て、ファイバ複屈折は、ファイバ光学回転センサにおけ
る主たるエラー源の原因である。
偏光子32による ファイバ複屈折による非相反動作の問題は、1個の偏光
モードのみを用いることができるようにする偏光子32
(第1図)によってこの発明の回転センサにおいて解決
される。偏光子32は、第5図の参照数字84′c示さ
れる点においてシステムへ導入されるとき、偏光子32
を通過する光は、一方の選ばれた偏光モードにおいてル
ープ14へ伝播する。さらに、互いに逆方向に伝播する
波は光学出力信号を形成するように再結合されるとき、
ループへ与えられる光と同じ偏光のものではない任意の
光が光検出器30へ到達するのを妨げられる、なぜなら
ば光出力信号は偏光子j2を通過するからである。この
ように、光出力信号は、それが結合器34のボートAか
ら結合器26のボートBへ進むとき、ループへ与えられ
た光と同じ偏光を正確に有する。
イれゆえに、同じ偏光子32を介して入力光および光学
出力信号を通過させることによって、ただ1つの光学経
路のみが用いられ、それによって、2個の可能な偏光モ
ードにおける異なる伝播速度により生じる複屈折により
誘起される位相差の問題を除去する。すなわち、選ばれ
たモードから、選ばれていないモードへ、ファイバにお
ける複屈折により転送されるすべての光をフィルタして
しまうことにより、伝播速度が異なるため、選ばれたモ
ードに関して位相を利得しまたは損失するかもしれない
選ばれないモードにおいてすべての光波を除去すること
ができる。さらに、偏光子制御装置24.36(第1図
)は、偏光子32での光学パワー損失を減少させかつし
たがって検出器30での信号強度を最大にするため、そ
れぞれ与えられた光および光学出力信号の偏光を調整す
るために用いられることができるということが注目され
るべきである。
変 38に伴なう動作 再び第6図を参照して、曲線80は余弦関数であるので
、光学出力信号の強度は、波W1.W2間での小さなサ
グナック位相差(Δφ、)に対して非線形であるという
ことがわかる。さらに、光学出力信号の強度は、Δφ、
の小さな値に対して、位相差の変化に対しては比較的鈍
感である。このような非線形性および不感応性のため、
検出器30によって測定される光学強度(It)を、ル
ープ14の回転速度を表わす信号に変換(方程式1によ
って)するのは難しい。
さらに、偏光子32を用いて上述したように、波W1.
W2間の、複屈折により誘起される位相差が除去される
が、ファイバ複屈折により生じる偏光モード間の交差結
合が生じる。この交差結合は、交差結合された光が偏光
子32上の光検出器32に達するのを妨げられるので、
光学出力信号複屈折における変化により、第6図の曲線
80の振幅は、たとえば、曲線84で示されるように変
化する。第6図の曲線80.82.84は等倍に描かれ
ていないということが理解されよう。
前述の問題点は、第1図に示される位相変調器38、信
号発生器40およびロックイン増幅器46を用いて同期
検出システムによって第1図の装置において解決される
第7図を参照して、位相変調器38は信号発生器40の
周波数で、伝播する波W1.W2の各々の位相を変調さ
せる。しかしながら、第1図から見られるように、位相
変調器38はループ14の一方端に配置される。このよ
うに、波W1の変調は必ずしも、波W2の変調と同相で
ある必要はない。事実、この同期検出システムの適切な
動作に対しては、波W1.W2の変調は180°逆相で
あるのが好ましい。第7図を参照して、正弦波曲線90
により示される波W1の変調は、曲線92で示される波
W2の変調と1800逆相であるのとの間にそのような
1800の位相差を与える変調周波数を用いるというこ
とは、それが検出器30により測定される光学出力信号
において変調器により誘起される振幅変調を除去すると
いう点において、特に有利である。この変調周波数(f
、)は次の方程式を用いて計算される。
1、W2に対する結合器34と変調器38との間の差動
ファイバ長、すなわち、変調器38と、ループ14の他
方側の対称点との間の、ファイバに沿って測定された距
離であり、 ne>は、単一モードファイバ12のための等価屈折率
であり、かつ Cはループ14へ与えられた光の自由空間の速さである
“適切な°′周波数と呼ばれるこの変調周波数(f、、
)で、曲線90および92に従ってこれらの互いに逆方
向に伝播する波W1.W2の位相変調から分岐する、こ
れらの波W1.W2間の位相差(Δφ、)は、第7図に
おいて正弦波曲線94で示される。この曲線94は、曲
線9oがら曲線92を減算してWlおよびw2間の位相
差を得ることによって得られる。波W1.W2間の位相
差の変調もまた、ちょうどサグナック位相シフトがそう
であるように第6図の曲線80に従って光学出力信号の
強度(Ir)を変調させる、なぜならばこのような位相
変調Δφ1は、回転的に誘起されたサグナック位相差Δ
φ、と区別できないからである。
(a) 第7図の曲線94により規定される位相変調Δ
φ、と、(b)光学出力信号の強度(I7〉のときのサ
グナック位相差Δφ、との効果を図解的に示す第8図お
よび第9図を参照することによって、前述の説明がより
十分に理解されよう。
第8図および第9図の議論を進める前に、変調された光
出力信号の強度(IT)は、波W1.W2間の全位相差
の関数であるということを理解すべきである。このよう
な全位相差は、回転的に誘起されたサグナック位相差Δ
φ2と、時間変化する変調により誘起される位相差Δφ
、との両方からなる。波W1.W2間の全位相差Δφは
、次のにうに表わされる。
Δφ−Δφ、+Δφ、 ・・・(4) したがって、回転的に誘起された位相差Δφ3のみなら
ず、変調により誘起された位相差Δφ、の効果は第8図
および第9図を参照して考慮されるので、曲線80のた
めの水平軸は、第6図におけるように、回転的に誘起さ
れた位相差のみよりもむしろ、全体の位相差が考慮され
ているということを示すためΔφとして改めて符号が付
けられている。
位相差の項Δφ、が、回転により誘起した位相差を表わ
すものとして好ましい実施例を参照して用いられている
が、この項は、一般的な意味において、外力または物理
量が検知されているものは何でも、たとえば回転、圧力
、温度などによって誘起される位相シフトを表わすとい
うことが理解されよう。さらに、当業者であれば、ここ
に説明した方程式(4)およびそれに続く方程式は干渉
する光波が同じ光学経路を進むサグナック干渉計のため
に特に抽出されたということを認識しよう。
もしもこの発明が、2個の光波に対して異なる光学経路
を与えるように構造的に構成されている、M ach 
−Zehnder干渉計のような他の形式の干渉計に用
いられれば、付加的な位相項が、構造的に異なる光学経
路に帰する位相シフトを規定するために加えられなけれ
ばならない。しかしながら、さらなる位相項の付加は、
この発明により与えられる干渉計位相検出のための解像
度を変更せず、または、ここに提示されたような位相検
出の分析にも影響を及ぼさない。上記方程式(4)およ
び方程式(5)−(6)、(8)−(9)および(11
1(17)は、Δφ、に対して量(Δφ、+Δφst)
を代入することによってのみ、構造誘起位相差を反映す
るために改定されてもよく、この場合φルは構造的に異
なる光学経路に帰する位相差である。他方、方程式(7
)および(10)は、このような構造的に誘起された位
相差φ、tを考慮するためにそのような改定を必要とし
ない。
令弟8図を参照して、光学出力信号の強度ITのときの
位相変調Δφl (曲線94)の効果を議論する。曲線
80は2つの干渉しているコヒーレントな波から生じる
光学出力信号の強度と、これらの波の間の位相差Δφと
の間の関係を示ず。これらの間の相対位相角度は、93
で示されるように、0であるとき、組合わされた波の結
果的に生じる強度は95で示されるように最大である。
波W1およびW2間の相対位相がOrないとき、組合わ
された光学信号は、位相差Δφの大きさに依存してより
小さな強度を有する。相対位相差が、それぞれ97およ
び99で示されるように+または−1800になるまで
、Δφが増大するに従って減少し続ける。+または一1
80°の位相差で、2つの互いに逆方向に伝播する波は
完全に破壊的に干渉し、その結果生じる強度は97およ
び99で示されるようにOである。
第8図において、ループ14は静止しており、かつした
がって、光学信号はサグナック効果によって影響を受け
ないと想定する。特に、変調により誘起される位相差曲
線94によって、光学出力信号は曲線96によって示さ
れるように変化するということがわかる。曲線96は、
WlおよびW2間の瞬間的な位相差Δφ、を表わす、曲
線94上の点を、その大きさの位相差に対する結果的に
生じる光学的な強度を表わす曲線80上へ変換すること
によって得られる。曲線94上のすべての点は曲線80
上へ変換されると、かつ対応する強度がプロットされる
と、曲線96が生じる。曲線80を通じての曲線94へ
の移行は、曲線80の垂直軸に関して対称であり、その
ため検出器30によって測定される光学強度は、曲線9
6によって示されるように、変調周波数の第2高調波に
等しい周波数で周期的に変化する。
ループ14が回転されるとき、互いに逆方向に伝播する
波W1.W2は、サグナック効果に従って上述したよう
に位相がシフトされる。サグナック位相シフ1−は、一
定の回転速度に対して一定の位相差Δφ6を与える。こ
のサグナック位相シフトは、変調器38によって作り出
された位相差Δφ、を増し、それにより、全曲線94は
、第9図に示されるように、Δφ、に等しい量だけ、第
8図に示す位置から位相が移される。これによって、光
学出力信号は点99および101の間で曲線80に沿っ
て非対称的に変化する。これは曲線96によって示され
るような光学出力信号を生じる。
曲線96上の点は次のように導き出される。曲線94上
の103で示される組合わされた位相差は、曲線80上
の点101を介して曲線96上の点105へ移る。曲線
94上の点107は曲線80上の点109を介して曲線
96上の点111へ移る。同様に、点113は点99を
介して点115へ移り、かつ点117は点109を介し
て点119へ移る。最後に、点121は点101を介し
て点123へ移る。
光学出力信号96は正弦波曲線98の透視線ひ示される
ように第1高調波成分を有する。第1高調波成分98の
ピーク振幅は、しかしながら、点115での光学出力信
号の振幅に正確にマツチする必要はないが、成る場合に
はマツチする必要があるかもしれない。
この正弦波曲線98のRMSliffiは回転的に誘起
されたサグナック位相差Δφ、の正弦に比例するという
ことが後でわかるであろう。増幅器46は変調器38の
基本周波数を有する信号を同期的に検出するので、増幅
器46は曲線98のRMS値に比例する信号を出力する
。この信号はループの回転速度を示すために用いられる
ことができる。
第9図の図面はループ14の一方の回転方向(たとえば
時計方向)に対する光学出力信号の強度波形を示す。し
かしながら、もしループ14が等しい速さで逆方向(た
とえば、反時計方向)に回転されれば、光学出力信号の
強度波形96は、それが曲線98が第9図に示される位
置から180度シフトされるように移し変えられるであ
ろうということを除き、第9図に示されるのと全く同一
になるであろうということが理解されよう。
ロックイン増幅器46は、第1高調波98の位相を、信
号発生器40からの基準信号の位相と比較することによ
って、曲線98に対するこの180°位相差を検出し、
ループの回転が時計方向か反時計方向かどうかを決定す
る。回転方向によって、増幅器46は表示装置47に対
して正または負の信号のいずれかを出力する。しかしな
がら、回転方向にかかわらず、信号の大ぎさはループ1
4の回転の速度が等しいものに対しては同じである。
方程式(3)を参照して議論したことから思い出される
ように、光波W1およびW2の変調間の位相差が180
度である特定のまたは正しい″周波数で作動することに
よって、変調器38によって互いに逆方向に伝播する光
波W1.W2の各々において誘起される、この振幅変調
の奇数高調波周波数成分は、これらの波が光学出力信号
を形成するように重畳されるときに互いに打消し合う。
したがって、上述の検出システムが、光学出力信号の奇
数高調波、すなわち、基本周波数のみを検出するので、
不所望な振幅変調の効果が除去される。
適切な周波数で作動するさらに他の利点は、互いに逆方
向に伝播する位相W1.W2の各々において変調器38
により誘起される、位相変調の偶数高調波は、これらの
波が光学出力信号を形成するために重畳されるときに相
殺されるということである。これらの偶数高調波は、重
畳することによって、検出システムによりさもなくば検
出されたかもしれない光学信号におけるスプリアス奇数
高調波を発生するので、これらの除去は、回転検知の精
度を改善することになる。
方程式〈3)によって規定される周波数で位相変調器3
8を作動させるのに加えて、光学出力信号の強度の検出
された第1高調波の振幅が最大にされるように位相変調
の大きさを調整するのも好ましい、なぜならばこれは回
転検知感度および精度を改善するからである。第7図、
第8図および第9図で2の符号の付いた寸法によって示
される、波W1.W2間の、変調器により誘起される位
相差Δφ、の振幅が1.84ラジアンであるとき、光学
出力信号の強度の第1高調波は、与えられた回転速度に
対して、最大にあるということがゎがつている。これは
、位相差がΔφを持つ、それぞれI、およびI2の個々
の強度を有する2つの重畳された波の全強度(It)に
対する以下の方程式を参照することによってより十分に
理解されるかもしれない。
IT =1+ +12 +2C「−同 cos (Δφ
)・・・(5) ここで、 Δφ−Δφ、+Δφ、 ・・・(6) Δφ+ −Z sin(2yr1mt) −(7)した
がって、 Δφ−Δφ、 +Z 5in(2πLt> ”−(8)
COS (Δφ)のフーリエ展開は次のとおりである。
cosΔφ−cos (ΔφR) (Jo (z )+
2ΣJ2 n (Z )cos [2π(2nf t)
 ] ) + 5in(Δφ、)(2Σ J2 n −
+ (Z )Sift [2π(2n −1) f、t
l ) ・・・(9) ここにおで、Jll(Z)は変数Zの0次ベッセル関数
であり、Zは波W1.W2間の、変調器により誘起され
た位相差のピーク振幅である。
それゆえに、ITの第1高調波のみを検出することによ
り次の式が得られる。
I r(1) = r丁7丁2 Jl (Z )Sin
 (Δφ、)sin (2πflT1t) ・・・(10) このように、光学出力信号の強度の第1高調波の振幅は
第1ベッセル関数J、(Z)の値に依存する。Jl(Z
)は2が1.84ラジアンに等しいとき最大であるので
、位相変調の振幅は、好ましくは、波W1.W2間の、
変調器により誘起された位相差Δφ、の振幅(2)が1
.84ラジアンであるように選ばれなければならない。
後方散乱効果の減少 周知のように、現在の技術状態の光学ファイバは光学的
に完全なものではなく、ファイバの基礎材料にお番プる
密麿の変動のような不完全さを有する。これらの不完全
さのためファイバの屈折率に変動を生じ、それにより少
量の光の散乱を生じる。
この現象は一般にレイリー散乱と称されている。
このような散乱のため、成る光はファイバから失われる
が、そのような損失量は比較的小さく、それゆえに主た
る関心事ではない。
レイリー散乱に関連する主たる問題は、失われる散乱光
に関するものではなく、むしろ、もとの伝播方向と逆の
方向にファイバを伝播するように反射される光に関する
ものである。これは、一般に、゛後方散乱された”光と
称される。このような後方散乱された光は互いに逆方向
に伝播する波W1.W2からなる光とコヒーレントであ
るので、それはそのような互いに逆方向に伝播する波と
建設的にまたは破壊的に干渉することができ、かつそれ
によって、検出器30によって測定されるような光学出
力信号の強度に変動を生じる。
互いに逆方向に伝播する波と」ヒーレントな一方の波か
らの後方散乱光の部分は、ループ14の中心のコヒーレ
ンジ長内で散乱されるものである。。
したがって、光源のコヒーレンジ長を減少させることに
よって、後方散乱された光と、互いに逆方向に伝播する
波との間のコヒーレンジが減少される。後方散乱された
光の残りの部分は互いに逆方向に伝播する波と干渉性で
はな(、かつしたがって、それらの間の干渉は、それが
平均化されるようにランダムに変化する。それゆえに、
後方散乱された光の非干渉性部分は、実質的に一定の強
度を有するものであり、かつしたがって、それは光学出
力信号の強度に意義ある変動を生じない。
したがって、この発明においては、後方散乱の影響は、
光源10として、たとえば、1メートルまたはそれ以下
のような比較的短いコヒーレンジ長を有するレーザを用
いることによって減少される。特定の例によれば、光源
10は上述したように、ジェネラル・オプトロニクス・
コーポレーションから商業的に入手可能なモデルGO−
DIPレーザダイオードを含んでもよい。
後方散乱された波と、伝播している波との間の破壊的ま
たはil設的干渉を禁止する代わりの方法は、ファイバ
ループ14の中心でそのシステムにおける付加的な位相
変調器を含むことである。この位相変調器は変調器38
と同期しない。
伝播する波は、ループのまわりを進行するときに1回だ
けこの付加的な位相変調器を通過する。
波が付加的な変調器に達する前に伝播している波から生
じる後方散乱に対して、その後方散乱はこの付加的な変
調器によって位相変調されないであろう、なぜならば波
を伝播する光源も後方散乱それ自体も付加的な変調器を
通過しなかったからである。
他方、波がこの付加的な位相変調器を通過した後伝播し
ている波から生じる後方散乱に対しては、その伝播して
いる波が付加的な位相変調器を通過したとき1回、かつ
後方散乱が付加的な変調器を通過したとき1回、後方散
乱は効果的に2倍、位相変調されるであろう。
このように、その付加的な位相変調器がφ(1)の位相
変調を誘起すれば、ループ14の中心における場合を除
き、任意の点で始まる後方散乱された波は、0または2
φ(1)のいずれかの位相シフトを有し、それらのいず
れかは伝播している波に対してφ(1)位相シフトに関
して時間変化している。この時間変化する干渉は、時間
平均され、効果的に後方散乱の影響を除去する。
後方散乱からの破壊的なまたは建設的な干渉を禁止する
さらに他の代わりの方法では、変調器38と同期されな
い、付加的な位相変調器が光N10の出力で誘起されて
もよい。
この場合、ループ14の中心以外の任意の点で生じる後
方散乱は、後方散乱が生じた伝播する波の場合と異なり
、光源10から検出器30への異なる光学経路長を有す
る。
このように、伝播している波はループ14を1回横切る
が、後方散乱された波およびそれから午じた伝播してい
る波はループ14の一部を2回横切るであろう。この部
分はループの半分でなければ、経路長は異なる。
経路長が異なるので、検出器30に到達する伝播する波
は、同時に検出器30に到達する後方散乱された波と異
なる時間に光源10で発生されているであろう。
光11110で付加的な位相変調器により誘起された位
相シフトは、伝播している波に関しては位相シフトφ(
1)を誘起するが、後方散乱された波に対しては位相シ
フトφ(t+K)の位相シフトを誘起し、ここにおいて
Kは変調器を通過する波の経路間の時間差である。φ(
t +K)はφ(【)に関して時間変化しているので、
後方散乱された干渉は時間について平均化され、効果的
に、後方散乱の影響を除去する。
第1図ないし第9図を参照して上述した検出システムは
ループ14のための回転速さの成るレンジ内で非常に有
効な回転検知システムである。しかしながら、ダイナミ
ックレンジは成る現象によって制限される。たとえば、
第9図を参照して、検出システムの感度は、非常に小さ
な回転速度で、すなわち、回転によって曲線94の中心
軸が点95または97近くになるときに誘起されること
ができるということがわかる。
また、曲線80は周期的であるということもわかる。そ
れゆえに、大きな回転速度によって点97または点95
のいずれかを通過して曲線94の中心軸を移動させるの
に十分に大きなΔφ6を生じれば、関数96は第2の、
より^い回転速度のために繰返すであろう。この第2の
回転速度は、第9図に示されるサグナック位相シフトΔ
φ2を生じた回転速度よりも実質的に大きいが、出力光
学信号96はより低い回転速度で発生されたものに対応
する。すなわち、より大きな成る回転速度からのΔφ3
が、曲線80の第2の突出部上の2個の新しい点99′
および101′間で作動するように曲線94を移動させ
るのに十分大きければ、出力光学信号96は、曲線94
が点99および101間で作動する図示の場合に対しC
現われるように現われるであろう。
この発明は、光学ファイバジレイロスコープの回転のよ
うな、干渉計に対する外力の影響が正確にかつ信頼性よ
く検知されることができるレンジを拡大するための新規
な方法、および関連のオーブンループ装置を含む。この
発明は、さらに、低周波信号の位相を与え、この低周波
信号の位相はループ回転の速度のような外力により生じ
る効果に対応し、かつ、回転速度のようなこれらの効果
の量を定めるために従来のディジタル出力装置へデータ
を与えるために都合よく用いられているかもしれない。
本願の新規な回転センサの好ましい一実施例が第10図
に示される。第10図の検出システムはオーブンループ
ファイバ光学センサ形態を含むことに注目されよう。第
10図の検出システムは第1図に図解されるシステムの
コンポーネントの多(のちのを具体化している。したが
って、簡略化のため、同じ構成および機能を有する第1
図および第10図のこれらのコンポーネントに・対して
は対応する参照番号を付している。
差動位相シフト(Δφ、)は回転速度に直線的に比例す
るということがここにおいて注目されている。しかしな
がら、検出器30からの強度出力は回転速度の非線形(
周期)関数である。それゆえに、このオーブンループシ
ステムについての拡大ダイナミックレンジを得るために
は、検出器30の光学出力信号からの原光学位相情報を
回復する必要がある。
第10図の装置において、回転ループからの光学信号は
検出器30によって電気出力信号に変換される。この電
気出力信号は次のような方程式によって示されるように
、位相変調周波数f、の成分およびその高調波を含む。
1 (t ) =C[1+cos(Δφ、、ls:n(
1)、t+Δφす]=C[1+(Jo(ΔφM)+2Σ
Jzn(Δφ) cos 2n ω、目cos (Δφ
家)、、′″ 十(2ΣJ2o−1(Δφ、rl)sin+1=1 (2n −1) ω、、t) sin (Δφ縫)]・
・・(11) ここにおいて、Cは定数であり、J、は0次ベッセル関
数を示し、Δφ□は、変調によって発生される互いに逆
方向に伝播する波間の位相差の振幅であり、かつω。−
2π騙である。
この発明は、原光学位相情報が、Δφ、を表わす低周波
信号の位相を迅速にかつ正確に与えるために用いられる
ことができるオーブンループ回転センサを提供すること
によって、当該技術分野において経験していた問題の多
くを克服しようとするものである。出力信号の成分が、
位相が直角位相の状態で、それぞれCOSΔφ、および
sin△φ、の振幅を有する同じ周波数(nωい)での
2個の正弦波信号を含んだ場合、これが達成されること
ができる。その場合、周知の三角法の規則を用いて、こ
れらの信号は直接加えられて、その位相がΔφ6に対応
する1個の低周波の正弦波信号を得ることができる。こ
の発明は、以下に説明するように、検出器30からの出
力信号を処理することによって1個の正弦波信号を提供
する。
方程式(11)は検出器30からの出力が上述の種類の
項を含んでいることを示しているが、CO3Δφ、およ
びsinΔφ、の項が異なる周波数のものであるという
点においてのみ欠いている。第11図は、検出器30か
らの出力信号の第1ないし第4高調波周波数成分間にそ
のような関係が存在するものとして、そのような関係を
図解的に示す。特に、すべての奇数高調波周波数成分(
102,106>のO交差は位相差変調信号102の0
交差に対応し、かつすべての偶数高調波周波数成分(1
04,108>は変調信号の各O交差でそれらのピーク
にある(位相変調信号102での90度逆相)というこ
とがわかる。これらの高調波成分の波形は数学的には次
のように定義できる。
奇数高調波〜(2n −1) sin (I)、t s
inΔφR・・・(12) 偶数高調波〜2ncosωいt cos ΔφR・・・
(13) ここにおいて、nは整数の値である。
種々の高調波は異なる周波数のものであるので、上述の
関係は、その位相が△φ、である1個の正弦波信号を得
るために直接用いられることができない。しかしながら
、上述の波形は同じ周波数で存在したとすれば、Δφ、
の位相を有づる所望の1個の正弦波信号が次のような正
弦波信号を組合わせることによって発生されることがで
きる。
sin n ω1vlt sin Δφ、+cos n
 ω、t cos Δφ、 =CO3(n ω、t−Δ
φR) ・・・ (14) 第10図の回転センサは、上述の波形の関係を達成する
回転センサの好ましい一実施例を含む。
特に、この関係は、振幅変調を用いることによって第1
0図の装置において達成される。振幅変調は、単に、検
出器30からの電気出力信号の振幅を変調している信号
の振幅に従って変化さ「るだけである。
検出器30からの出力信号は、位相変調周波数f□(こ
れはまた隣接の高調波間の差の周波数である)の奇数倍
である周波数を有する変調信号によって振幅変調される
とき、10周波数の高調波である、検出器30からの出
力信号の各成分は部分的にその高調波近傍の周波数に変
換されることになる。換言すれば、このような方法での
振幅変調を通じて、側波帯周波数が位相変調周波数の高
調波で作り出される。これらの側波帯周波数は検出器3
0からの出力信号の高調波振幅変調された成分から周波
数シフトされた正弦波成分を含む。これらの側波帯周波
数は対応する周波数で、出力信号の成分と組合わせられ
る。したがって、f□周波数の高調波である検出器30
からの出力信号の成分は方程式(14)によって規定さ
れる形式の波形を規定する。振幅変調のこれらおよび伯
の特性は、一般に、当業者にとって知られており、かつ
、エフ・ジー・ストレムラーのI ntroducti
on to Communication Syste
ms、(1979)に詳細に説明されており、参照する
ことによってここに援用する。この点で特に適切な主題
はストレムラーテキストの第191頁ないし260頁に
説明されている。
上記に基づき、周波数f工での正弦波振幅変調は、各高
調波周波数成分からかつ最も近い高調波周波数近傍へエ
ネルギを変換するということが理解されよう。さらに、
このような振幅変調から生じる各信号は、検出器30か
らの出力信号にお【ノる対応する高調波周波数成分では
同相である。このような振幅変調の結果、すべての高調
波は、n次高調波が項cos(nω社Δφ、)を有する
ようにCO8Δφ6およびsinΔφ、の両方に項を含
む。このように、サグナック光学位相シフトΔφ、は分
離され、かつ標準的な手段によって直接測定されること
ができる低周波位相シフトに変換される。
拡大されたダイナミックレンジにわたり回転速度を検出
するため第10図に示される検出センサを用いる一例に
ついて、第10図に関して第12図を参照して説明する
。特に、信号検出器150(第10図)は、サインΔφ
7tに対応して、第12図の200で示されるような波
形を有する周波数−の位相差変調信号を発生する。
好ましくは、位相変調周波数r7は、方程式(3)を参
照して前に説明した正しい″周波数t、に対応する。正
しい周波数で互いに逆方向に伝播する波を位相変調する
ことによって、回転センサの感度が大いに改善される。
もちろん、センサもまた周波数f、以外の周波数で作動
するが、前に説明したように、ノイズが加わり感度が落
ちることになる。
発生器150からの位相変調信号は位相変調器38へ与
えられ、それによって、第1図の装置を参照して説明し
たような方法で、ループ内で互いに逆方向に伝播する光
波を位相変調する。ファイバ29上の結果的に生じる光
学出力信号は、検出器30によって検出され、検出器3
0は光学出力信号に対応する電気出力信号を発生する。
検出器30からの電気信号は従来のAC増幅器152に
おいて増幅され、かつライン154を介して、従来の、
双極スイッチ156の入力へ伝達される。
スイッチ156は従来の電子信号遅延回路162からラ
イン164を介して受信された制御信号に応答して機能
する。好ましい実施例では、制御信号は位相変調周波数
fff、にある。回路162は、その発生器から制御信
号を受けるように、信号発生器150へ接続される。遅
延回路162は、発生器150から受信された信号を、
ライン154からスイッチ156において受信された信
号の位相へ同期させるために調整されてもよい。
遅延回路162からの制御信号に応答して、スイッチ1
56はその信号をライン154から2個の出力ボート1
58および160の一方へ転送し、この出力ボートは、
それぞれ、検出システムのチャネル1および2の入力ポ
ートを規定する。このスイッチング作用は、遅延回路1
62からライン164を介して受信された同期信号の「
7周波数で、ライン154から受信された信号を振幅変
調する働きをする。スイッチ156によって発生された
振幅変調の方形波波形は、チャンネル1に対しては20
2で、かつチャネル2に対しては204で、第12図(
B)において図解的に示される。
第10図の装置に設けられる方形波振幅変調は、この振
幅変調のために用いられ得る多数の波形のうちの1個だ
けであるということが理解されよう。
方形波変調は、単に、第10図の装置において特に実現
するのが簡単な実施例を含むにすぎない。
さらに、f、以外の周波数で、またはf、nの奇数高調
波での振幅変調が用いられることができるということも
理解されよう。
しかしながら、波形間の三角法の関係のため、f、の偶
数高調波での振幅変調は隣接の高調波周波数間の結合を
生じないであろう。むしろ、fnQの偶数高調波での振
幅変調は偶数高調波と結合する偶数高調波を生じ、かつ
奇数高調波と結合する奇数高調波を生じるであろう。こ
のような状況は、一般に、当業者によって理解されると
ころであり、この条件に対する根拠は、ここにおいて援
用したストレムラーのテキストを参照してより十分に理
解されるかもしれない。これらの問題点は、奇数高調波
での振幅変調が用いられれば避けられる。
第12図(C)を参照して、ループが回転していないと
き、スイッチ156により発生される方形波振幅変調は
、チャネル2の出力信号208に関して180度の逆相
であるチャネル1における出力信号206を与えるとい
うことに注目されたい。ライン154上の信号を振幅変
調して180度逆相の信号を発生することによって、成
分の正弦および余弦関係が容易に評価されるかもしれな
い。
スイッチ156の出力158から、チャネル1における
変調された信号は、チャネル1の信号の1個の高調波成
分(nωカ)(ここにおいて、nは選択された高調波で
ある)を選択するようにチューニングされたバンドパス
フィルタ166を通過する。同様に、スイッチ156の
出力160からの信号はバンドパスフィルタ168へ伝
送され、このフィルタ168は、対応する高調波周波数
でチャネル2の信号の成分を選択するようにチューニン
グされている。フィルタ166および168から伝送さ
れた、フィルタされた信号は数学的には次のように説明
できる。
チャネル1: 1+=に、cos(ΔφR)cos(nωmt)+に2
sin(ΔφIL) sin (n ω−t)チャネル
2: 12 =Ka C05(ΔφLI) cos (n ω
ffLt) 十に、5in(Δφ、) sin (n 
ω、t)・・・(15) ここにおいてに1ないしに4はΔφおよびnによって決
定される定数である。
第12図に図解した例では、17周波数の第2高調波は
、エレクトロニクスによって発生されるノイズを避ける
ためのみならず、f−周波数でスイッチによって発生さ
れるかもしれないスプリアス信号を排除するために選ば
れた。もちろ/v、fの他の高調波もまた、所望の周波
数レンジと、スイッチおよび電子成分の特性に基づいて
選択されることもできるということが理解されよう。
第2の高調波周波数では、定数に、ないしに4は次のよ
うに説明できる。
K、=に、らJ2 (Δφrn) K2 =−に、〜(8/π)Σ(1)’J21.−+w
−1 (△φm)/ (2n −3) (2n +1 )・・
・(16) もしに、=に2 =にとすれば、方程式15は次のよう
になる。
1 + =K cos(2ω7を一Δφ、)L=Kco
s(2ωrnt+Δφ、)・・・(17)係数Kl−に
、の評価は、たとえば、位相変調器に与えられる位相変
調の振幅、振幅変調の波形、スイッチ156におけるス
イッチングの周波数、およびバンドパスフィルタ166
および168がチューニングされる周波数を含む種々の
7アクタに依存するということが、当業者によって認識
されよう。この情報を仮定して、当業者は、上述したス
トレムラーのテキストのような数多くの参考文献におい
て一般的に説明されているように、従来の数学的手段に
よってに、−に4の値を決定することができる。
方程式(17)の関係は、回転センサのエレメントを実
際に調整することによって数学を用いることなく得られ
ることもできる。たとえば、スイッチの周波数、バンド
パスフィルタがチューニングされている周波数、および
振幅変調の波形が選択される。方程式(17)における
に、およびに2の値は、変調器38に与えられる位相変
調信号の振幅を単に調整することによって、互いに等し
くなるようにされることができる。そのシステムをKI
=に2になる条件にチューニングする際に、位相変調信
号の振幅が繰返し調整され、かつループは、バンドパス
フィルタからの信号の振幅が回転の結果として変化しな
くなるまで回転される。
再び第12図(C)を参照して、チャネル1におけるバ
ンドパスフィルタ166からの第2高調波出力波形が2
10で示される。同様に、チャネル2における出力バン
ドパスフィルタ168からの第2高調波波形が212で
示される。
第10図のライン170および172上の信号(210
,212)は位相測定器174へ伝送され、この位相測
定器174は、ヒコーレット・バラカード社によって製
造されるモデムN0.5345Aのような、従来の時間
間隔カウンタを含んでもよい。この位相測定器174に
おいて、時間間隔カウンタは、第12図(C)の波形2
10が0と交差するときに駆動され、かつ波形212が
○と交差するまでカウントし続ける。全カウントは、位
相差Δφ2の2倍に対応する波形210および212間
の位相差を識別する。もちろん、この位相差は光学ルー
プによって受けた回転の量を表わす。それゆえに、位相
測定器174によって発生される位相差測定はループの
回転速度を表わす。
第12図(C)の波形は、光学ループが何の回転も受け
ないときに発生される。これらの条件の下では、波形2
10および212は同相であり、かつ位相測定器174
は、それゆえに、これらの波形間には何の位相差も検出
しないであろう。このような状況は第12図(C)の2
14で示されており、Δφ、の値がOであるということ
がわかる。したがって、この状況では、位相測定器17
4からの出力もまた0であろう。測定器174からのこ
の信号は、ライン176上へ通され、そこから、それは
ループの回転速度を通信させるためディジタルコンピュ
ータのような従来の出力Q1178によって用いられる
ことができる。
典型的には、位相測定器174からの回転速度における
現在の変化に関する情報が出力装置178の回転速度記
録を更新するために用いられるように、出力装置178
が最も最近測定された回転速度の記録を維持することが
できる。したがって、もしシステムの作動レンジが、信
号212のO交差が波形210のO交差から1周期越え
C拡大するようなものであったならば、ディジタル出力
装置は、位相測定器174からの出力が単独ではこの測
定が波形の第1の期間を越えるようにされたということ
を反映することができなくても、この拡大されたダイナ
ミックレンジで回転速度を決定するであろう。
令弟12図(D)を参照して、毎秒40度の量のループ
回転の結果として第10図の回転センサの受けた茶杓が
示される。再び、位相変調信号は、200で示されるよ
うに周波数「、で与えられ、かつ検出器30からの出力
信号はスイッチ156において、周波数f□での方形波
信号202.204で振幅変調される。スイッチ156
からのチャネル1における出力信号は第12図(D)の
216で示され、他方、チャネル2のスイッチ156が
らの出力は218で示される。チャネル1のための対応
するバンドパスフィルタ出力は220で示され、他方、
チャネル2のための出力【よ222で示される。
回転の結果として、位相測定器174は、チャネル1の
波形220と、チャネル2の波形222との間の位相差
を検出する。この位相差は第12図(D>の224で示
され、かつ光学ループの回転によって発生される位相差
Δφ6の2倍に比例する。
今、第13図を参照すると、グラフのライン250は、
実際のサグナック位相シフトと比較して、チャネル1お
よびチャネル2のフィルタ出力信号間の位相測定器17
4により検出された位相シフトを示す。非常に幅広いダ
イナミックレンジにわたり実質的に線形の結果が達成さ
れていることに注目されたい。ライン250に沿う点線
は、行なわれた特定的な実験的測定からのプロットを示
す。
上述の説明から、第10図の簡単な、オープンループ回
転センサは、ファイバ光学ジャイロスコープ回転の拡大
されたダイナミック検知を達成するためオーブンループ
回転センサを用いるための重要な技術を実用する装置を
含んでいるということがわかる。この装置は、高感度で
、かつ回転センサの他の形式において必要であった広範
な電子コンポーネントまたは他の装置を用いることなく
、これを正確に達成する。
この発明の回転センサの他の好ましい実施例を第14図
に示す。この実施例において、第10図のスイッチ15
6は従来の電子ゲート300によって置換えられる。ゲ
ート300は、第10図の実施例に関して前述した態様
で、遅延回路162からライン164上で受信された信
号に応答して機能する。したがって、ゲート300は、
第10図に示された装置に従って増幅器152から受信
した信号の方形波振幅変調を発生する。周波数fmに関
して適当な位相および振幅で変調されると、この実施例
の振幅変調された信号は方程式C03(nω、vtl−
ΔφR)によって規定される。これは、$10図の実施
例のチャネル1の1.に対し方程式〈17)の規定に対
応する。
ゲート300から、振幅変調された信号はライン302
を介してバンドパスフィルタ304へ伝送され、このフ
ィルタ304は、位相変調周波数fMの選択された高調
波にチューニングされている。
以下に示す理由で、第14図に示す特定の実施例におい
ては、選択された周波数は「6周波数に対応する第1高
調波でなければならない。フィルタされた信号は、次い
で、位相測定器308へ、ライン306を介して伝送さ
れ、この位相測定器308は、機能的に、第10図の実
施例における測定器174に対応する。ライン306か
らの信号は、周波数f、で遅延回路162からライン3
10を介して受信された基準信号と比較される。ライン
310上の信号は、回路162において遅延された位相
差変調信号に対応し、それは項COS ω工(によって
定義される。位相測定器308からの結果的に生じた出
力は、光学ループの回転によって発生される位相差信号
Δφ、に対応する。
もしもバンドパスフィルタ304の第1高調波以外の高
調波を選択するのが望ましい場合は、第14図の装置は
、ライン310に周波数逓倍器(図示せず)を含むこと
によって修正され、それによってf1位相変調信号の選
択された高調波が位相測定器308の適当な入力へ与え
られることができる。第10図の実施例の位相測定器1
74からの出力におけるように、位相測定器308の出
力は、光学ループの回転速度を示すための従来のディジ
タル装置によって用いられることができる。
第15図を参照して、第14図の装置の動作を図解的に
説明する。特に、位相変調信号が信号発生器150から
、周波数f4の位相変調器38へ与えられるとぎ、周波
数f□の結果的に生じる位相差変調波形が350で示さ
れる。この周波数で、ゲート300は、352で示され
る波形に従って方形波振幅変調を与える。
第15図(B)は、光学ループが回転されないときに発
生される波形を示す。特に、ループが何の回転も受けな
いときは、検出器3oの出力信号の波形が354で示さ
れる。ゲーr−300によって発生される周波数〜の振
幅変調された出力信号が356で示されており、周波数
flvlのバンドパスフィルタ304の結果的に生じる
出力が358で示される。これらの条件の下で、位相測
定器3゜8は、波形358の0交差と、基準信号352
の前縁との間の時間間隔を検出する。同様な正弦波の項
がこの状態において打消し合うので、位相測定器308
は、回転速度がOであることを示す。
この状況が、第15図(B)の360で図解的に示され
る。
第15図(C)は、光学ループの回転の間、第14図の
装置に存在する状況を図解する。この状況において、周
波数frnでの位相変調および周波数虎でのゲート処理
された振幅変調の状態で、検出器30の出力が362で
示される。したがって、ゲート300からの振幅変調さ
れた信号が364で示される。周波数f、、1のパンド
パ、スフィルタ304の出力に見られるような対応する
波形が366で示される。この状況において、波形36
6のO交差は基準信号352の対応する前縁からずらさ
れていることに注目されたい。したがって、このずれが
位相測定器308において検出され、かつ出力信号が、
光学ループの回転によって、互いに逆方向に伝播する波
に発生される位相差信号に対応して発生される。Δφ、
に対応する、この位相シフトの量は第15図(C)の3
68で示される。
選択的に、第10図または第14図のいずれかの装置の
ゲート処理が、光検出器30の前に、光学ループ上の任
意の所望の場所に位置決めされる、シャッタのような少
なくとも1個の光学ゲートを用いることによって、電気
的よりもむしろ光学的に達成されることができる。たと
えば、光学ゲートは、第1方向性結合器と、レーザダイ
オードとの間で、光源の入力に位置決めされることがで
きる。このような形態において、ループ内を進む光はt
ff1周波数で変調された振幅であるように、ゲートは
周波数f□の遅延信号によって制御され続ける。
他のすべての点において、光学ゲートを用いることによ
って、第10図または第14図の装置に関して説明した
と実質的に同一の結果が1qられるであろう。
要約すると、ここに説明した発明は光学ジャイロスコー
プの回転速度を検出するに際し先行技術以上の意義ある
改善を含むのみならず、この発明はまた、(1)実質的
に制限のないダイナミックレンジを有するオープンルー
プセンサを提供することによって;(2)従来の電子お
よびファイバ光学装置と両立し得るセンサを提供するこ
とによって;(3)構成が簡単でかつ、他の形式の干渉
計にも一般に用いられる複雑な電子フィードバックシス
テムまたは他の制御装置を必要としないシステムを提供
することによって、かつ(4)ディジタル装置によって
直接用いられることができる非常に正確な結果を提供す
ることによって、当該技術分野において長く存在してい
た他の問題点をも克服できる。
これらの問題点を克服することに加えて、ここに説明し
た形式の装置は、現在市場にある他の検知装置と比べて
製造するのに非常に安価であり、かつしたがってこの発
明は商業的な応用に用いることに関して大きな経済的節
約を提供する。簡略であるためかつダイナミックレンジ
が拡大され、さらにその空間的条件が最小であるので、
ここに説明した装置および方法は数多くのかつ種々の用
途に応用を見出し、かつ数多くの異なる形式の実施例に
簡単に組入れられることもできる。
この発明はサグナック干渉計と参照して説明してきたが
、この発明の検出システムはマツクーテンダー干渉計、
マイケルソン干渉計、およびファプリーぺ口〜干渉計の
ような他のすべての形式の干渉計にも等しく適用できる
ということが理解されよう。上述した干渉計のすべては
当該技術分野において周知であり、2個の干渉する光波
からなる干渉出力信号を与え、光波間の位相差は出力信
号の強度を決定する。さらに、この発明は同時係属中の
アメリカ合衆国特許出願連続番号426゜890(19
82年9月29日出願)の″″ファイバ第1ティック共
振器″に開示されるファイバ光学干渉計の形式(これは
ファプリーペロー千感計に類似4る)に対しても適用で
きる。この出願もここに参照することによって援用する
ファイバ光学干渉計によってこの発明を説明してきたが
、ビームスプリッタおよび/または鏡のようなバルク光
学コンポーネントを用いた干渉計にも均等に適用できる
ということもまた理解されよう。当業者は、もしも光学
ファイバが干渉している波を案内するために用いられな
ければ、波の変調は、鏡またはエレクトロ−オプティカ
ル装置のような他の手段によって達成されることができ
るということを理解しよう。
回転検知の分脈において好ましい実施例を説明してきた
が、この発明は、2個の光波間の位相差を発生する任意
の干渉計の応用にも均等に適用できる。この発明は、位
相差を発生する特定の量または現象にかかわらずそのよ
うな位相差を検出することができる。したがって、この
発明は、干渉計の構造的な局面、そなような干渉計を構
成するために用いられるコンポーネントまたは干渉計の
2個の干渉する波間の検出された位相差を発生ずる量に
かかわらず、任意の形式の干渉計とともに用いるのに適
している。
この発明はその精神または本質的特徴から逸脱すること
なく他の特定の形式で実施されてもよい。
説明した実施例は例示的であって限定的でないものとし
て、すべての点において考慮されるべきである。この発
明の範囲は、それゆえに、前述の説明によって示される
よりもむしろ前掲の特許請求の範囲によって示される。
特許請求の範囲の均等性の意味および範囲内にあるすべ
ての変形はその範囲内に含まれるべきである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、基本的な回転センサの概略図であり、ファイ
バ光学材料からなる連続的な、中断されていないストラ
ンドに冶って位置決めされたファイバ光学コンポーネン
トを示し、かつさらに、検出システムに関連する信号発
生器、光検出器、ロックイン増幅器および表示装置を示
す。 第2図は第1図の回転センサに用いるIcめのファイバ
光学方向性結合器の一実施例の断面図である。 第3図は第1図の回転センサに用いるためのファイバ光
学偏光子の一実施例の断面図である。 第4図は第1図の回転センサに用いるためのファイバ光
学偏光制御装首の一実施例の斜視図である。 第5図は第1図の回転センサの概略図であり、偏光子、
偏光制御装置および位相変調器がそこから除去されてい
る。 第6図は回転的に誘起されるザブナック位相差の関数と
して、光検出器により測定される、光学出力信号の強度
のグラフであり、複屈折誘起された位相差および複屈折
誘起された振幅変動の影響を示す。 第7図は互いに逆方向に伝播する波の間の位相差および
互いに逆方向に伝播する波の各々の位相変調を示す、時
間の関数としての位相差のグラフである。 第8図は、ループが静止しているとき、検出器により測
定される、光学出力信号の強度についての位相変調の影
響を示す概略図である。 第9図はループが回転しているとぎ検出器により測定さ
れる光学出力信号の強度についての位相変調の影響を示
す概略図である。 第10図は、拡大されたダイナミックレンジを持つオー
プンループ位相読出回転センサの好ましい一実施例の図
である。 第11図は回転センサに関連するファイバオプティック
ループからの光学出力信号の第1ないし第4高調波周波
数成分を図解する図である。 第12図は第10図に示される回転センサに関連する光
学ループの静止および回転の両方の状態の間、スイッチ
およびフィルタ出力信号と、位相および振幅変調信号の
関係を示す図である。 第13図は第10図に示される回転センサの線形スケー
ルファクタを示す図である。 第14図は拡大ダイナミックレンジを備えたオープンル
ープの位相読出回転センサの好ましい他の実施例の図で
ある。 第15図は第14図に示す回転センサに関連の光学ルー
プの静止および回転の両方の状態の間の、位相および振
幅変調信号と、ゲートおよびフィルタ出力信号との間の
関係を示す図である。 図において、10は光源、12は光学ファイバ、14は
検知ループ、24は偏光制御装置、26は方向性結合器
、30は光検出器、32は偏光子、36は偏光制御装置
、38は位相変調器、46は増幅器、41は表示パネル
を示す。 特許出願人 ザ・ボード・オブ・ トラステイーズ・オブ・ザ・ レランド・スタッフォード・ 図面の浄書(内容に変更なし) J″9z 4夕j //) 47りσ 4ラタ7 ζ も−(公e案・Xヘニ(〈) [F] ■・I −If−〜Δφ (3,8RF915c 手続補正口(方式) %式% 1、事件の表示。 昭和60年特許願第 88459 8 2、発明の名称 干渉計 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 アメリカ合衆国、カリフォルニア州、スタンフ
ォード〈番地なし) 名 称 ザ・ボード・オブ・トラスティーズ・オブ・ザ
・レランド・スタッフォード・ジュニア・ユニバーシテ
ィ代表者 キャサリン・クー 4、代理人 住 所 大阪市北区天神橋2丁目3番9号 八千代第一
ビル自発補正 6、補正の対象 図面企図 7、補正の内容 115!で描いた図面全図を別紙のとおり補充致します
。なお内容についての変更はありません。 以上

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. (1) 光学ファイバのループと、光源と、前記光源か
    らの光を前記ループへ、2個の互いに逆方向に伝播する
    光波の形式で導入するための結合器と、前記ループから
    光学出力を測定するための検出器とを含む干渉計であっ
    て、前記光波間の位相差、かつしたがって前記検出器で
    の測定された出力i1渕定されるべき、ループの外部環
    境条件の影響に依存し、前記干渉計は、 前記検出器の出力を振幅変調して前記出力の正弦波およ
    び余弦波成分を含む選択された高調波を有する第1の信
    号を発生するための第1の回路と、前記第1の信号に応
    答して前記位相差のシフトを表わす第2の信号を与える
    ための第2の回路とをさらに備えることを特徴とする、
    干渉計。
  2. (2) 第1の周波数で前記互いに逆方向に伝播する光
    波を変調するための位相変調器をさらに備え、かつ前記
    第1の回路は、前記第1の信号が前記第1の周波数の高
    調波を含むように前記第1の周波数で前記出力を特徴と
    する特許請求の範囲第1項に記載の干渉計。
  3. (3) 前記第1の回路は前記第1の周波数で2個のス
    イッチ出力のうちの一方の出力で前記検出器の前記出力
    を交互に切換えて、互いに180度の逆相である振幅変
    調された信号を前記スイッチ出力上に与えるためのスイ
    ッチを含む、特許請求の範囲第2項に記載の干渉計。
  4. (4) 前記第2の回路は、前記2個のスイッチ出力に
    接続されて前記第1周波数の高調波で前記振幅変調され
    た信号の成分を選択する1対のフィルタにより特徴付け
    られる、特許請求の範囲第3項に記載の干渉計。
  5. (5) 前記第2の回路は、前記対のフィルタの出力間
    の位相差を測定するための測定器によってさらに特徴付
    【ノられる、特許請求の範囲第4項に記載の干渉計。
  6. (6) 前記第2の回路は、前記第1の周波数の高調波
    にある前記第1の信号の成分を選択するためのフィルタ
    により特徴付けられる、特許請求の範囲第2項記載の干
    渉計。
  7. (7) 前記第2の回路は、前記フィルタの出力を、基
    準信号と比較して、互いに逆方向に伝播する光波間の位
    相差に対応する信号を発生するための回路により特徴付
    けられる、特許請求の範囲第6項記載の干渉計。
  8. (8) 前記比較回路は位相測定器である、特許請求の
    範囲第7項に記載の干渉計。
JP60088459A 1984-04-25 1985-04-24 干渉計 Pending JPS60243509A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06504844A (ja) * 1990-12-21 1994-06-02 ハネウエル・インコーポレーテツド 回転センサ

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4770535A (en) * 1985-02-08 1988-09-13 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Distributed sensor array and method using a pulsed signal source
DE3628409C2 (de) * 1986-08-21 1994-09-08 Teldix Gmbh Schaltungsanordnung zur Erzeugung einer Phasenmodulation in einer Lichtleitfaser
DE3682680D1 (de) * 1986-09-09 1992-01-09 Litef Gmbh Verfahren zur drehratenmessung und drehratensensor mit faseroptischem sagnac-interferometer.
DE3727167A1 (de) * 1987-08-14 1989-02-23 Teldix Gmbh Faserkreisel
EP0400197B1 (de) * 1989-06-02 1993-10-06 LITEF GmbH Verfahren und Einrichtung zur Demodulation des Drehratensignals eines Faserkreisels
US5148236A (en) * 1990-06-18 1992-09-15 Honeywell Inc. Demodulation reference signal source
CN102997945B (zh) * 2011-09-16 2015-09-16 北京航空航天大学 光纤分布式扰动传感器的多点扰动定位方法
US9267799B2 (en) 2014-02-24 2016-02-23 Honeywell International Inc. Method and apparatus of monitoring and tracking optical frequency differences of modulated beams

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0153123B1 (en) * 1984-02-17 1991-04-10 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Gated fiber optic rotation sensor with extended dynamic range

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06504844A (ja) * 1990-12-21 1994-06-02 ハネウエル・インコーポレーテツド 回転センサ

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KR940004651B1 (ko) 1994-05-27
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DE3582446D1 (de) 1991-05-16
NO851642L (no) 1985-10-28
AU4162585A (en) 1985-10-31
CA1276810C (en) 1990-11-27
BR8501938A (pt) 1985-12-24
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KR850007483A (ko) 1985-12-04
ATE62547T1 (de) 1991-04-15
EP0160450B1 (en) 1991-04-10

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