JPS60237736A - 光信号折り返し回路 - Google Patents
光信号折り返し回路Info
- Publication number
- JPS60237736A JPS60237736A JP59094141A JP9414184A JPS60237736A JP S60237736 A JPS60237736 A JP S60237736A JP 59094141 A JP59094141 A JP 59094141A JP 9414184 A JP9414184 A JP 9414184A JP S60237736 A JPS60237736 A JP S60237736A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical
- signal
- wavelength
- optical signal
- transmission device
- Prior art date
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- Granted
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光通信方式の試験回路に関する。特に、双方向
波長多重伝送方式で使用される試験用光折り返し回路に
関する。
波長多重伝送方式で使用される試験用光折り返し回路に
関する。
光通信技術の中で重要なものの一つである波長多重技術
を利用した波長多重伝送方式が実用化されつつあり、こ
の方式の運用面での検討も重要である波長多重伝送方式
では、いくつかの岡なる波長の光信号を一本の光ファイ
バの中を通して伝送するので、一本の光ファイバ当りの
伝送容量を増すあるいは双方向伝送を行うなどが可能で
あり、伝送路のコスト低減効果が期待されている。
を利用した波長多重伝送方式が実用化されつつあり、こ
の方式の運用面での検討も重要である波長多重伝送方式
では、いくつかの岡なる波長の光信号を一本の光ファイ
バの中を通して伝送するので、一本の光ファイバ当りの
伝送容量を増すあるいは双方向伝送を行うなどが可能で
あり、伝送路のコスト低減効果が期待されている。
双方向波長多重伝送用装置の構成は大きくわけて、光送
信部、光受信部および光合・分波器の3つの部分からな
る。この3つの部分を分割して実装した場合の欠点とし
ては光ファイバで各部分を接続しなければならないこと
である。これでは光ファイバが輻較して取り扱いが煩雑
となってしまう。それに実装上は、できるだけ光ファイ
バが外へでない方が好ましい。
信部、光受信部および光合・分波器の3つの部分からな
る。この3つの部分を分割して実装した場合の欠点とし
ては光ファイバで各部分を接続しなければならないこと
である。これでは光ファイバが輻較して取り扱いが煩雑
となってしまう。それに実装上は、できるだけ光ファイ
バが外へでない方が好ましい。
そこで、光送信部、光受信部、光合・分波部の3つを一
体化して1つのパッケージに収めることによって、外へ
出る光ファイバは伝送路側の1本だけとなり、前述した
ような実装上の問題は少なくなる。
体化して1つのパッケージに収めることによって、外へ
出る光ファイバは伝送路側の1本だけとなり、前述した
ような実装上の問題は少なくなる。
このようにして、一つのパンケージに光送信部、光受信
部、および光合・分波部を一体化すると、その性能を確
認するために、伝送路へ出力する信号を自局へ戻して信
号の導通を見る「折り返し試験」が難しくなってしまっ
た。
部、および光合・分波部を一体化すると、その性能を確
認するために、伝送路へ出力する信号を自局へ戻して信
号の導通を見る「折り返し試験」が難しくなってしまっ
た。
光送信部、光受信部と光合・分波部の3つに分割されて
いれば折り返し試験を行う場合には、光送信部から光合
・分波部を通さずに直接光受信部へ光信号を戻して、信
号を通すことが可能であるが、一体化されている場合は
、伝送装置の伝送路側の出力が1つしかないため、光送
信部から出力された信号は、光合・分波部を通り一旦伝
送路側へ出た後また、光合・分波部へ戻され、光受信部
へ入力される。この双方向波長多重伝送方式では、送信
側の波長と受信側の波長が異なり、光合・分波部でそれ
らを波長によって合波および分波しているので、原理的
に自局の送信側の信号は、光合・分波部を通して受信側
へ戻すことは不可能である。これを可能にするためには
、光送信部からの光信号の波長と異なる波長(例えば光
受信部へ入る波長と同じ波長)の信号に変換して戻す必
要がある。
いれば折り返し試験を行う場合には、光送信部から光合
・分波部を通さずに直接光受信部へ光信号を戻して、信
号を通すことが可能であるが、一体化されている場合は
、伝送装置の伝送路側の出力が1つしかないため、光送
信部から出力された信号は、光合・分波部を通り一旦伝
送路側へ出た後また、光合・分波部へ戻され、光受信部
へ入力される。この双方向波長多重伝送方式では、送信
側の波長と受信側の波長が異なり、光合・分波部でそれ
らを波長によって合波および分波しているので、原理的
に自局の送信側の信号は、光合・分波部を通して受信側
へ戻すことは不可能である。これを可能にするためには
、光送信部からの光信号の波長と異なる波長(例えば光
受信部へ入る波長と同じ波長)の信号に変換して戻す必
要がある。
本発明は、異なる波長2波による双方向波長多重伝送装
置の試験において、出力された光信号を波長の異なる信
号に変換して、伝送装置の自局折り返し試験を行うこと
ができるような試験用光信号折り返し回路を提供するこ
とを目的とする。
置の試験において、出力された光信号を波長の異なる信
号に変換して、伝送装置の自局折り返し試験を行うこと
ができるような試験用光信号折り返し回路を提供するこ
とを目的とする。
本発明は、被試験物が接続される光信号端子と、この端
子の光信号が通過する方向性結合器と、この方向性結合
器の出力光信号を波長により複数の光信号に分波する光
分波器と、その光分波器の複数の出力光信号をそれぞれ
電気信号に変換する複数の光−電気変換器と、この光−
電気変換器のそれぞれの出力電気信号をその光−電気変
換器に人力する光信号の波長とはことなる波長の光信号
に変換する複数の電気−光変換器と、この複数の電気−
光変換器の光信号出力を合波する光合波器と、この合波
器の出力光信号が通過する可変減衰器と、この可変減衰
器の出力光信号が上記光信号端子に向かうように上記方
向結合器の一つの入力に接続する回路と、上記複数の光
−電気変換器の出力レベルを比較しそのレベルが最大の
ものを検出する手段と、この手段により検出された最大
のレベルのもの以外のものの信号通路を遮断する手段と
を備えたことを特徴とする。
子の光信号が通過する方向性結合器と、この方向性結合
器の出力光信号を波長により複数の光信号に分波する光
分波器と、その光分波器の複数の出力光信号をそれぞれ
電気信号に変換する複数の光−電気変換器と、この光−
電気変換器のそれぞれの出力電気信号をその光−電気変
換器に人力する光信号の波長とはことなる波長の光信号
に変換する複数の電気−光変換器と、この複数の電気−
光変換器の光信号出力を合波する光合波器と、この合波
器の出力光信号が通過する可変減衰器と、この可変減衰
器の出力光信号が上記光信号端子に向かうように上記方
向結合器の一つの入力に接続する回路と、上記複数の光
−電気変換器の出力レベルを比較しそのレベルが最大の
ものを検出する手段と、この手段により検出された最大
のレベルのもの以外のものの信号通路を遮断する手段と
を備えたことを特徴とする。
次に本発明による試験用光信号折り返し回路を用いて、
双方向波長多重用伝送装置の試験を行う場合には、伝送
装置から波長λ1で出力された光信号は、本発明の試験
用光信号折り返し回路で波長λ2の光信号に変換された
後、光可変減衰器でレベル調整され、上記伝送装置側に
戻される。この戻された信号は光合・分波器で分波され
、光−電気変換器へ入力されてもとの電気信号へ変換さ
れる。すなわち伝送装置の電気信号入力端子から電気信
号出力端子へ信号が戻されて伝送路の折り返し試験が行
われる。
双方向波長多重用伝送装置の試験を行う場合には、伝送
装置から波長λ1で出力された光信号は、本発明の試験
用光信号折り返し回路で波長λ2の光信号に変換された
後、光可変減衰器でレベル調整され、上記伝送装置側に
戻される。この戻された信号は光合・分波器で分波され
、光−電気変換器へ入力されてもとの電気信号へ変換さ
れる。すなわち伝送装置の電気信号入力端子から電気信
号出力端子へ信号が戻されて伝送路の折り返し試験が行
われる。
次に図面を用いて、本発明の実施例について説明する。
第1図は、本発明実施例装置を示すブローツク構成図で
ある。図面符号1は本試験用光信号折り返し回路の入・
出力端子、2は光の方向性結合器、3は2波長式片方向
光中継器、4は電圧比較器、5は光の可変減衰器を示す
。光の方向性結合器2の出力は、2波長式片方向光中継
器3を介して光の可変減衰器5に入力する。この可変減
衰器5の出力は、光の方向性結合器2の他方の入力に接
続される。上記2波長式片方向光中継器3の光分波器3
1と光合波器32との間に、光−電気変換器33と電気
−光変換器35の縦続接続回路と、光−電気変換器34
と電気−光変換器36の縦続接続回路との並列回路が介
在する。光−電気変換器33と34は電圧比較器4の入
力に結合し、電気−光変換器35と36は電圧比較器4
の出力側に結合する。
ある。図面符号1は本試験用光信号折り返し回路の入・
出力端子、2は光の方向性結合器、3は2波長式片方向
光中継器、4は電圧比較器、5は光の可変減衰器を示す
。光の方向性結合器2の出力は、2波長式片方向光中継
器3を介して光の可変減衰器5に入力する。この可変減
衰器5の出力は、光の方向性結合器2の他方の入力に接
続される。上記2波長式片方向光中継器3の光分波器3
1と光合波器32との間に、光−電気変換器33と電気
−光変換器35の縦続接続回路と、光−電気変換器34
と電気−光変換器36の縦続接続回路との並列回路が介
在する。光−電気変換器33と34は電圧比較器4の入
力に結合し、電気−光変換器35と36は電圧比較器4
の出力側に結合する。
本発明は、波長多重伝送用光中継器用であるため電気−
光変換器35と36との光出力信号の波長は異なる。入
・出力端子1へ入力された光信号は、方向性結合器2を
通って2波長式片方向光中継器3へ入力される。この光
中継器3へ入力された光信号は、光分波器31でその波
長によって光−電気変換器33あるいは34へ入力され
各々電気信号に変換され、再び電気−光変換器35およ
び36で光信号へ変換され、光合波器32で合波され、
光可変減衰器5を通り、方向性結合器2で入・出力端子
1からもとの方向へ戻される。一方光一電気変換器33
.34で光信号が電気信号に変換されるとともにその光
信号のレベルに応じた電圧4を電圧比較器4で、比較し
、光レベルの低い方の電気−光変換器の光出力を1断」
とする。これは、2波長式片方向光中継器30入力信号
の波長とその出力信号の波長とが異なり、また、その出
力信号が光の方向性結合器2で一部廻り込んで光中継器
3へ漏れ込むために、光中継器3の出力からは、2つの
波長の光信号が出力されてしまうことを防くためである
。
光変換器35と36との光出力信号の波長は異なる。入
・出力端子1へ入力された光信号は、方向性結合器2を
通って2波長式片方向光中継器3へ入力される。この光
中継器3へ入力された光信号は、光分波器31でその波
長によって光−電気変換器33あるいは34へ入力され
各々電気信号に変換され、再び電気−光変換器35およ
び36で光信号へ変換され、光合波器32で合波され、
光可変減衰器5を通り、方向性結合器2で入・出力端子
1からもとの方向へ戻される。一方光一電気変換器33
.34で光信号が電気信号に変換されるとともにその光
信号のレベルに応じた電圧4を電圧比較器4で、比較し
、光レベルの低い方の電気−光変換器の光出力を1断」
とする。これは、2波長式片方向光中継器30入力信号
の波長とその出力信号の波長とが異なり、また、その出
力信号が光の方向性結合器2で一部廻り込んで光中継器
3へ漏れ込むために、光中継器3の出力からは、2つの
波長の光信号が出力されてしまうことを防くためである
。
一般的には伝送装置などの「折り返し試験」では、受信
レベルの低い所で動作するかどうかをチェックするため
に、伝送装置の光出力レベルよりもずっと低いレベルの
光信号を折り返すことになる。すなわち、この光信号折
り返し回路Aで用いている光中継器3の入力では、光中
紙器出力の「もれ込み信号」よりも伝送装置からの光信
号のレベルの方が大きく、この大きいレベルの方の光中
紙器出力だけを電圧比較器4で選択するごとになる。
レベルの低い所で動作するかどうかをチェックするため
に、伝送装置の光出力レベルよりもずっと低いレベルの
光信号を折り返すことになる。すなわち、この光信号折
り返し回路Aで用いている光中継器3の入力では、光中
紙器出力の「もれ込み信号」よりも伝送装置からの光信
号のレベルの方が大きく、この大きいレベルの方の光中
紙器出力だけを電圧比較器4で選択するごとになる。
次に第2図は、本発明による第1図試験用光信号折り返
し回路Aを用いて、双方向波長多重用伝送装置6の試験
を行うブロック構成回路図を示す。
し回路Aを用いて、双方向波長多重用伝送装置6の試験
を行うブロック構成回路図を示す。
この伝送装置6からλ、の波長で出力された光信号は、
光信号折り返し回路Aでλ2の波長の光信号に変換され
た後に光可変減衰器5でレベル調整され伝送装置に戻さ
れる。戻された信号は光合・分波器61で分波され、光
−電気変換器63へ人力されて、もとの電気信号へ変換
される。すなわち伝送装置6の電気信号入力端子7から
電気信号出力端子8へ信号が戻されて、折り返し試験が
可能となる。
光信号折り返し回路Aでλ2の波長の光信号に変換され
た後に光可変減衰器5でレベル調整され伝送装置に戻さ
れる。戻された信号は光合・分波器61で分波され、光
−電気変換器63へ人力されて、もとの電気信号へ変換
される。すなわち伝送装置6の電気信号入力端子7から
電気信号出力端子8へ信号が戻されて、折り返し試験が
可能となる。
本発明は2波長ものについて説明したが2波長ものに限
定されるものでなく、波長多重ものについても拡張する
ことが可能である。
定されるものでなく、波長多重ものについても拡張する
ことが可能である。
以上説明したように、本発明によれば、任意の波長の光
信号に対して自動的にそれと異なる波長の光信号に変換
して戻す、光波長変換回路を構成して、容易に双方向波
長多重用光伝送装置の光信号折り返し試験が可能となる
効果がある。
信号に対して自動的にそれと異なる波長の光信号に変換
して戻す、光波長変換回路を構成して、容易に双方向波
長多重用光伝送装置の光信号折り返し試験が可能となる
効果がある。
第1図は本発明の実施例装置を示すブロック構成図。
第2図は本発明による第1図実施例回路を用いて、伝送
装置の折り返し試験を行うブロック構成回路図。 l・・・光信号折り返し回路の入出力端子、2・・・光
の方向性結合器、3・・・2波長式片方向光中継器、4
・・・電圧比較器、5・・・光の可変減衰器、6用双方
向波長多重用光伝送装置、7・・・双方向用光伝送装置
の電気信号入力端子、8・・・双方向用光伝送装置の電
気信号出力端子、31・・・光分波器、32・・・光合
波器、33.34.63・・・光−電気変換器、35.
36.62・・・電気−光変換器、61・・・光合分波
器、A・・・光信号折り返し回路。 M 1 図 爪 2 ■
装置の折り返し試験を行うブロック構成回路図。 l・・・光信号折り返し回路の入出力端子、2・・・光
の方向性結合器、3・・・2波長式片方向光中継器、4
・・・電圧比較器、5・・・光の可変減衰器、6用双方
向波長多重用光伝送装置、7・・・双方向用光伝送装置
の電気信号入力端子、8・・・双方向用光伝送装置の電
気信号出力端子、31・・・光分波器、32・・・光合
波器、33.34.63・・・光−電気変換器、35.
36.62・・・電気−光変換器、61・・・光合分波
器、A・・・光信号折り返し回路。 M 1 図 爪 2 ■
Claims (1)
- (1)被試験物が接続される光信号端子と、この端子の
光信号が通過する方向性結合器と、この方向性結合器の
出力光信号を波長により複数の光信号に分波する光分波
器と、 その光分波器に複数の出力光信号をそれぞれ電気信号に
変換する複数の光−電気変換器と、この光−電気変換器
のそれぞれの出力電気信号をその光−電気変換器に人力
する光信号の波長とはことなる波長の光信号に変換する
複数の電気−゛光変換器と、 この複数の電気−光変換器の光信号出力を合波する光合
波器と、 この合波器の出力光信号が通過する可変減衰器と、 この可変減衰器の出力光信号が上記光信号端子に向かう
ように上記方向結合器の一つの人力に接続する回路と、 上記複数の光−電気変換器の出力レベルを比較しそのレ
ベルが最大のものを検出する手段と、この手段により検
出された最大のレベルのもの以外のものの信号通路を遮
断する手段とを備えた光信号折り返し回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59094141A JPS60237736A (ja) | 1984-05-11 | 1984-05-11 | 光信号折り返し回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59094141A JPS60237736A (ja) | 1984-05-11 | 1984-05-11 | 光信号折り返し回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60237736A true JPS60237736A (ja) | 1985-11-26 |
JPH0310261B2 JPH0310261B2 (ja) | 1991-02-13 |
Family
ID=14102102
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59094141A Granted JPS60237736A (ja) | 1984-05-11 | 1984-05-11 | 光信号折り返し回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60237736A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01114128A (ja) * | 1987-10-27 | 1989-05-02 | Fujitsu Ltd | 波長多重光通信装置 |
US4879763A (en) * | 1986-02-21 | 1989-11-07 | AT&T Bell Laboratories American Telephone and Telegraph Company | Optical fiber bidirectional transmission system |
GB2425904A (en) * | 2005-05-03 | 2006-11-08 | Marconi Comm Gmbh | Optical network fault test apparatus which modifies a received test signal using a passive optical device to generate a response signal |
-
1984
- 1984-05-11 JP JP59094141A patent/JPS60237736A/ja active Granted
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4879763A (en) * | 1986-02-21 | 1989-11-07 | AT&T Bell Laboratories American Telephone and Telegraph Company | Optical fiber bidirectional transmission system |
JPH01114128A (ja) * | 1987-10-27 | 1989-05-02 | Fujitsu Ltd | 波長多重光通信装置 |
GB2425904A (en) * | 2005-05-03 | 2006-11-08 | Marconi Comm Gmbh | Optical network fault test apparatus which modifies a received test signal using a passive optical device to generate a response signal |
US8331777B2 (en) | 2005-05-03 | 2012-12-11 | Ericsson Ab | Passive optical test termination |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0310261B2 (ja) | 1991-02-13 |
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