JPS60236168A - プリフオ−マツトデイスク検査装置 - Google Patents
プリフオ−マツトデイスク検査装置Info
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- JPS60236168A JPS60236168A JP9315184A JP9315184A JPS60236168A JP S60236168 A JPS60236168 A JP S60236168A JP 9315184 A JP9315184 A JP 9315184A JP 9315184 A JP9315184 A JP 9315184A JP S60236168 A JPS60236168 A JP S60236168A
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- preformat
- signal
- disk
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明はプリフォーマットディスク検査装置に関し、特
にプリフォーマット情報の位置合検出し該プリフォーマ
ット情報を保護しながら検査するプリフォーマットディ
スク検査装置に関する。
にプリフォーマット情報の位置合検出し該プリフォーマ
ット情報を保護しながら検査するプリフォーマットディ
スク検査装置に関する。
（従来技術）
一般に磁気ディスク装置等では、プリフォーマットされ
ていない複数のディスク単板を装置に組み込んだ後、デ
ィスク上のあるトラックにディスクの回転ぶれに同期し
回転周期を等分割したクロツクを書き込み、核クロック
を用いてプリフォーマット情報全書き込んでいる。従っ
てプリフォーマット情報の保霞は前記クロックを用いて
位相精度よく保護用ゲートが構成できていた、］７がＬ
ながら光ディスク装置ｉｆ等でｔま、該装置にディスク
小板を縮み込まずにあらかじめプリフォーマット悄＠を
ｉｎ込んだ１枚のプリフォーマットディスクを交換して
ディスク配憶装ｆｔ’に形成１．ている。従って光ディ
スク装Ｗｌ＠−のブリフＡ マットティスフを検査する
ときけ前Ｈ（シプリフメーマット情報の位置を検出しプ
リフォーマットｔＲ報全保睦しながら検査する必要があ
り、従来のディスク検査装置の機能にブリフＡ−マット
情報検出保護４１能を加える必要がある。
ていない複数のディスク単板を装置に組み込んだ後、デ
ィスク上のあるトラックにディスクの回転ぶれに同期し
回転周期を等分割したクロツクを書き込み、核クロック
を用いてプリフォーマット情報全書き込んでいる。従っ
てプリフォーマット情報の保霞は前記クロックを用いて
位相精度よく保護用ゲートが構成できていた、］７がＬ
ながら光ディスク装置ｉｆ等でｔま、該装置にディスク
小板を縮み込まずにあらかじめプリフォーマット悄＠を
ｉｎ込んだ１枚のプリフォーマットディスクを交換して
ディスク配憶装ｆｔ’に形成１．ている。従って光ディ
スク装Ｗｌ＠−のブリフＡ マットティスフを検査する
ときけ前Ｈ（シプリフメーマット情報の位置を検出しプ
リフォーマットｔＲ報全保睦しながら検査する必要があ
り、従来のディスク検査装置の機能にブリフＡ−マット
情報検出保護４１能を加える必要がある。
プリフォーマット情報を検出し保護する時、あらかじめ
プリフォーマット情報が曹き込まれたディスク単板では
ディスク回転ぶねに同期し回転周期を等角度分割したク
ロックを持っていガいので、従来のプリフォーマットデ
ィスク検査装置においては、前記ディスク単板のフリフ
ォーマット情報を検出し保護する機能に関して以下に述
べる欠点があった。
プリフォーマット情報が曹き込まれたディスク単板では
ディスク回転ぶねに同期し回転周期を等角度分割したク
ロックを持っていガいので、従来のプリフォーマットデ
ィスク検査装置においては、前記ディスク単板のフリフ
ォーマット情報を検出し保護する機能に関して以下に述
べる欠点があった。
（１）ディスク単板を装着するスピンドルから等角度々
位置信号を検出して前記クロック信号を得ようとした場
合、ディスク単板の装着状態に依存して変化する位相差
が存在する。従って位相差がないようにディスク単板を
装着する必要がある。
位置信号を検出して前記クロック信号を得ようとした場
合、ディスク単板の装着状態に依存して変化する位相差
が存在する。従って位相差がないようにディスク単板を
装着する必要がある。
（２） ディスク単板には媒体欠陥が存在するため、レ
ベルスライス等ではプリフォーマツＨＷｆ１．！：エラ
ーパルスの区別がつかない。従ってプリフォーマット情
報の位置を正確に知るためにはプリフォーマット情報を
読み取る回路が必要である。
ベルスライス等ではプリフォーマツＨＷｆ１．！：エラ
ーパルスの区別がつかない。従ってプリフォーマット情
報の位置を正確に知るためにはプリフォーマット情報を
読み取る回路が必要である。
（３）フリフォーマット情報をレベルスライス等で検出
した場合、上８ピ（２）の理由により上記（１１で土げ
た位相差に誤動作が発生する。
した場合、上８ピ（２）の理由により上記（１１で土げ
た位相差に誤動作が発生する。
（発明の目的）
本発明は上記欠点を除去するためになされたものでその
目的は、ディスク単板の装着状態に依存せず、しかもデ
ィスク部板土の媒体欠陥による囮動作を生ぜずにプリフ
噌−マット悄卵ヲ保瞳することができるプリフォーマッ
トディスク検査装置を提供することにある。
目的は、ディスク単板の装着状態に依存せず、しかもデ
ィスク部板土の媒体欠陥による囮動作を生ぜずにプリフ
噌−マット悄卵ヲ保瞳することができるプリフォーマッ
トディスク検査装置を提供することにある。
（発明の構成）
本発明によれば、ディスク記憶装置用ディスク単板であ
らかじめ回転方向に対し等角度に曹き込まれたプリフォ
ーマットディスクのプリフォーマット情報を保１１Ｌな
がら該プリフォーマットディスクを検査するプリフォー
マットディスク検査装置であって、前記プリフォーマッ
トディスクの回転速度の変動に同期ｊ〜かつ周期が前記
プリフォーマット情報の周期の整数分の１である等角度
位置信号を検出する等角度位置信号検出部と、前記プリ
フォーマット情報の存在を検出するプリフォーマット検
出部と、１周当りのプリフォーマット情報数と同数でか
つ該プリフォーマット情報が発生するタイミングに対（
−て位相差が最小である前！ｌｔ、：等角度位置信号Ｏ
分周信号を近接等角度位置信号として選出する近接等角
度位置信号検出部と、前５− 記等角度位館信号とプリフォーマット情報の発生するタ
イミングとの位相差を測定するプリフォーマット情報位
置検出部と、前記位相差と前記近接等角度位置信号とを
用いてゲート信号を発生し前記プリフォーマット情報を
保護するプリフォーマット情報保護部とを備えることを
特徴とするプリフォーマットディスク検査装置が得られ
る。
らかじめ回転方向に対し等角度に曹き込まれたプリフォ
ーマットディスクのプリフォーマット情報を保１１Ｌな
がら該プリフォーマットディスクを検査するプリフォー
マットディスク検査装置であって、前記プリフォーマッ
トディスクの回転速度の変動に同期ｊ〜かつ周期が前記
プリフォーマット情報の周期の整数分の１である等角度
位置信号を検出する等角度位置信号検出部と、前記プリ
フォーマット情報の存在を検出するプリフォーマット検
出部と、１周当りのプリフォーマット情報数と同数でか
つ該プリフォーマット情報が発生するタイミングに対（
−て位相差が最小である前！ｌｔ、：等角度位置信号Ｏ
分周信号を近接等角度位置信号として選出する近接等角
度位置信号検出部と、前５− 記等角度位館信号とプリフォーマット情報の発生するタ
イミングとの位相差を測定するプリフォーマット情報位
置検出部と、前記位相差と前記近接等角度位置信号とを
用いてゲート信号を発生し前記プリフォーマット情報を
保護するプリフォーマット情報保護部とを備えることを
特徴とするプリフォーマットディスク検査装置が得られ
る。
（実施例）
次に図面を参照して本発明について説明する。
第１図は本発明のプリフォーマットディスク検査装置の
一実施例を示すブロック図でおる。同図において、プリ
フォーマットディスク検査装置はプリフォーマットディ
スクの回転速度の変動に同期しかつディスク単板の１回
転の中のクロック数がプリフォーマット情報数の整数倍
である等角度位置信号６を検出する等角度位置信号検出
部１と、プリフォーマット情報の存在を検出しプリフォ
ーマット検出信号７全出力するプリフォーマツ）［山部
２と、前記プリフォーマット検出信号７と等角度位置信
号６とを用いてプリフォーマット情報６一 と同数でかつプリフォーマット情報が発生するタイミン
グに対して位相差が最小である等角度位置信号６０分周
信号を近接等角度位置信号８として選出し、該近接等角
度位置信号８を選定（−たときの選定周期信号１０をプ
リフォーマット情報位置検出部４に出力する近接等角度
位置イｇ号検出部３と、ディスク単板の回転周期の中で
選定周期信号１０が存在する部分の近接等角度位置信号
８とプリフォーマット位置検＋１１（１号７との位相差
テーク９を測定するプリフォーマット情報位置検出部４
と、前記位相差テーク９と近接等角１１Ｊ位置徊−ｊＪ
Ｂとを用いてゲート信号を発生しプリフォーマット情
報を保護するプリフォーマット悄軸保護部５とを備える
。
一実施例を示すブロック図でおる。同図において、プリ
フォーマットディスク検査装置はプリフォーマットディ
スクの回転速度の変動に同期しかつディスク単板の１回
転の中のクロック数がプリフォーマット情報数の整数倍
である等角度位置信号６を検出する等角度位置信号検出
部１と、プリフォーマット情報の存在を検出しプリフォ
ーマット検出信号７全出力するプリフォーマツ）［山部
２と、前記プリフォーマット検出信号７と等角度位置信
号６とを用いてプリフォーマット情報６一 と同数でかつプリフォーマット情報が発生するタイミン
グに対して位相差が最小である等角度位置信号６０分周
信号を近接等角度位置信号８として選出し、該近接等角
度位置信号８を選定（−たときの選定周期信号１０をプ
リフォーマット情報位置検出部４に出力する近接等角度
位置イｇ号検出部３と、ディスク単板の回転周期の中で
選定周期信号１０が存在する部分の近接等角度位置信号
８とプリフォーマット位置検＋１１（１号７との位相差
テーク９を測定するプリフォーマット情報位置検出部４
と、前記位相差テーク９と近接等角１１Ｊ位置徊−ｊＪ
Ｂとを用いてゲート信号を発生しプリフォーマット情
報を保護するプリフォーマット悄軸保護部５とを備える
。
次に第２図はｗＪ１図におりる動作シーケンスを・示す
タイムチャート、第３図は第１図における等角度位を信
号検出ｈ１への一檜成例を示す図、第４図。
タイムチャート、第３図は第１図における等角度位を信
号検出ｈ１への一檜成例を示す図、第４図。
第５図および氾６図はそれぞれ第１図における近接等角
度位置信号検出部、プリフォーマット情報位置検出部お
よびプリフォーマット情報保護部の−檜成例を示す回路
ブロック図である。
度位置信号検出部、プリフォーマット情報位置検出部お
よびプリフォーマット情報保護部の−檜成例を示す回路
ブロック図である。
まず第１図、第２図を参照して本実施例の動作タイミン
グについて説明する。近接等角度位置信号検出部３は等
角度位置信号検出部１で検出された等角度位置信号６を
分周し、この分周信号の中からプリフォーマット検出部
２で検出されたプリフォーマット検出信号７を用いて近
接等角度位置信号８を選択し、該近接等角度位置信号８
をプリフォーマット情報位置検出部４とプリフォーマッ
ト情報保護部５とに出力する。プリフォーマット情報位
置検出部４は選定周期信号１０が存在する時間の近接等
角度位置信号８とプリフォーマット検１１１信号７との
位相差Ｐを検出し、位相差データ９ｔプリフオーマツト
情報保護部５に出力する。
グについて説明する。近接等角度位置信号検出部３は等
角度位置信号検出部１で検出された等角度位置信号６を
分周し、この分周信号の中からプリフォーマット検出部
２で検出されたプリフォーマット検出信号７を用いて近
接等角度位置信号８を選択し、該近接等角度位置信号８
をプリフォーマット情報位置検出部４とプリフォーマッ
ト情報保護部５とに出力する。プリフォーマット情報位
置検出部４は選定周期信号１０が存在する時間の近接等
角度位置信号８とプリフォーマット検１１１信号７との
位相差Ｐを検出し、位相差データ９ｔプリフオーマツト
情報保護部５に出力する。
プリフォーマット情報保護部５では近接等角度位置信号
８を基準にして位相差データ９をもとに保護マージンｍ
が設定されたゲート信号１１を発生しプリフォーマット
情報＊Ｓ誓込みから保護する。
８を基準にして位相差データ９をもとに保護マージンｍ
が設定されたゲート信号１１を発生しプリフォーマット
情報＊Ｓ誓込みから保護する。
なお参照記号”＋ ＋ Ｔ鵞（第２図に図示）はプリフ
ォーマット情報の検出周期、核検出周期１貫に相当する
時間である。
ォーマット情報の検出周期、核検出周期１貫に相当する
時間である。
次に第３図において、明・角度位置信号検出部】（第１
図に図示）はディスク単＆３１を装着するスピンドル３
２と接続されたエンコーダ３３を備え、第２図に示すよ
うな等角度位置信号６を検出する。またプリフォーマッ
ト検出部２（第１図に図示）は前記ディスク単板３１か
ら読み出されるレベルスライス等を用いて、第２図に示
すように、プリフォーマット情報７０のパルスと媒体欠
陥に起因するエラーパルス７１とから々るプリフォーマ
ット検出信号７を検出する。
図に図示）はディスク単＆３１を装着するスピンドル３
２と接続されたエンコーダ３３を備え、第２図に示すよ
うな等角度位置信号６を検出する。またプリフォーマッ
ト検出部２（第１図に図示）は前記ディスク単板３１か
ら読み出されるレベルスライス等を用いて、第２図に示
すように、プリフォーマット情報７０のパルスと媒体欠
陥に起因するエラーパルス７１とから々るプリフォーマ
ット検出信号７を検出する。
次に前記ディスク単板３１の１回転における等角度位置
信号６のクロック数とプリフォーマット情報７０の情報
数との比をｎ（但しｎは１以上の正の整数）とすれば、
近接等角度位置信号検出部３は、第４図に示すように、
ｎ個のアンドゲート４２１．４２２．〜４２ｎと、ｎ個
の分周器４１１，４１２゜〜４１ｎと、ｎ個のＤタイプ
フリップフロップ４３１゜４３２、〜４３ｎと、１個の
データセレクタ４４０と、誤検出判定回路４５０と、選
定周期設定回路４６０９− とから１１＃威されており、プリフォーマット情報の発
生周期と等しい選定周期を設定して被選定周期内に媒体
欠陥に起因するエラーパルスがなければ、選定周期内に
はプリフォーマット情報しか存在しないからＤタイプフ
リップフロップの値を読みとることにより、プリフォー
マット検出信号７に含まれるエラーパルスによる誤動作
を防止し、プリフォーマット情報と最も位相が近い等角
度位置信号６の分周借上を近接等角度位置信号８として
選出する。すなわち、第４図において、婢角度位置借上
６は分周器４１１，４１２．〜４１ｎに入力され分周さ
れた出力信号はそれぞれアントゲ−） ４２１゜４２２
、〜４２ｎ の一方の入力になるとと吃にデータセレク
タ４４０に入力される。また分局器４】１のｌｔｌ力信
号は選定周期設定回路４６０に入力され、誤検出判定回
路４５０の指示により設定された該選定周期設定回路４
６０からの選定周期信号１０はアンドゲート４２１，４
２２１〜４２ｎの他方の入力と々る。アンドゲート４２
１，４２２．〜４２ｎ で論理積がとられた信号はそれ
ぞｆｉＤタイプフリツー１〇− プ７０７ブ４３１，４３２．〜４３ｎの１）端仔に入力
され、Ｄタイプフリップフロッグ４３１．４３２ 。
信号６のクロック数とプリフォーマット情報７０の情報
数との比をｎ（但しｎは１以上の正の整数）とすれば、
近接等角度位置信号検出部３は、第４図に示すように、
ｎ個のアンドゲート４２１．４２２．〜４２ｎと、ｎ個
の分周器４１１，４１２゜〜４１ｎと、ｎ個のＤタイプ
フリップフロップ４３１゜４３２、〜４３ｎと、１個の
データセレクタ４４０と、誤検出判定回路４５０と、選
定周期設定回路４６０９− とから１１＃威されており、プリフォーマット情報の発
生周期と等しい選定周期を設定して被選定周期内に媒体
欠陥に起因するエラーパルスがなければ、選定周期内に
はプリフォーマット情報しか存在しないからＤタイプフ
リップフロップの値を読みとることにより、プリフォー
マット検出信号７に含まれるエラーパルスによる誤動作
を防止し、プリフォーマット情報と最も位相が近い等角
度位置信号６の分周借上を近接等角度位置信号８として
選出する。すなわち、第４図において、婢角度位置借上
６は分周器４１１，４１２．〜４１ｎに入力され分周さ
れた出力信号はそれぞれアントゲ−） ４２１゜４２２
、〜４２ｎ の一方の入力になるとと吃にデータセレク
タ４４０に入力される。また分局器４】１のｌｔｌ力信
号は選定周期設定回路４６０に入力され、誤検出判定回
路４５０の指示により設定された該選定周期設定回路４
６０からの選定周期信号１０はアンドゲート４２１，４
２２１〜４２ｎの他方の入力と々る。アンドゲート４２
１，４２２．〜４２ｎ で論理積がとられた信号はそれ
ぞｆｉＤタイプフリツー１〇− プ７０７ブ４３１，４３２．〜４３ｎの１）端仔に入力
され、Ｄタイプフリップフロッグ４３１．４３２ 。
〜４３ｎはそれぞれＣＬＫ端子に７リフオ一マツト検出
信号７が入力さｔそれぞれセットされたときＱ端子から
誤検出判定回路４５０へ信号を出力する。データセレク
タ４４０はｗ４Ｓ出判定回路４５０の指示により分周器
４］１．４１２．〜４１ｎ出力の分局信号からグリフ４
−マット情報の検出周期′１゛１（第２図に図示）当り
のプリフォーマット情報７０のパルスと同数でかつ該プ
リフォーマット情報７０が発生するタイミングに対して
最小の位相差Ｐのものを選出し近接等角度位置信号８と
して選出するＯ 次にプリフォーマット情報位置検出部４は、第５図示す
ように、カウンタ５２．アンドゲート５３．５４．Ｄタ
イプフリップフロップ５５．５６から構成されてお９、
近接等角度位置信号８とプリフォーマット検出信号７と
リセット信号１２と選定周期信号１０とにより位相差存
在イ８号５８ｆｃ発生し、位相差存在信号５８と選定周
期信号１０と論理積をとることにより位相差測定信号５
９を発生し、この位相差測定信号５９を用いて位相差測
定用クロック５１をカウンタ５２でカウントして位相差
データ９を出力する。なおリセット信号１２はディスク
１回転に１クロツクで等角度位置信＋ｉ６と同相な信号
である。すなわち、本回路では位相差測定用クロック５
１ケカウンタ５２のクロック端子に入力し、選定周期信
号１０をアンドゲート５３とＤタイプフリップフロップ
５５．５６の各り端子に入力し、Ｄタイプフリップ７０
ツブ５５．５６の各ＣＬＡ端子にリセット信号１２をま
た各ＣＬＫ端子にそれぞれ近接等角度位置信号８１プリ
フオーマツト検出信号７を接続し、Ｄタイプフリップフ
ロップ５５のＱ端子とＤタイプフリップフロップ５６の
Ｑ端子の出力をそれぞれアンドゲート５４を介してアン
ドゲート５３の一方の入力とし、選定周期信号１０を他
方の入力とするアンドゲート５３の出力端子音カウンタ
５２のカウント制御端子に接続して上述の動作が行われ
る。
信号７が入力さｔそれぞれセットされたときＱ端子から
誤検出判定回路４５０へ信号を出力する。データセレク
タ４４０はｗ４Ｓ出判定回路４５０の指示により分周器
４］１．４１２．〜４１ｎ出力の分局信号からグリフ４
−マット情報の検出周期′１゛１（第２図に図示）当り
のプリフォーマット情報７０のパルスと同数でかつ該プ
リフォーマット情報７０が発生するタイミングに対して
最小の位相差Ｐのものを選出し近接等角度位置信号８と
して選出するＯ 次にプリフォーマット情報位置検出部４は、第５図示す
ように、カウンタ５２．アンドゲート５３．５４．Ｄタ
イプフリップフロップ５５．５６から構成されてお９、
近接等角度位置信号８とプリフォーマット検出信号７と
リセット信号１２と選定周期信号１０とにより位相差存
在イ８号５８ｆｃ発生し、位相差存在信号５８と選定周
期信号１０と論理積をとることにより位相差測定信号５
９を発生し、この位相差測定信号５９を用いて位相差測
定用クロック５１をカウンタ５２でカウントして位相差
データ９を出力する。なおリセット信号１２はディスク
１回転に１クロツクで等角度位置信＋ｉ６と同相な信号
である。すなわち、本回路では位相差測定用クロック５
１ケカウンタ５２のクロック端子に入力し、選定周期信
号１０をアンドゲート５３とＤタイプフリップフロップ
５５．５６の各り端子に入力し、Ｄタイプフリップ７０
ツブ５５．５６の各ＣＬＡ端子にリセット信号１２をま
た各ＣＬＫ端子にそれぞれ近接等角度位置信号８１プリ
フオーマツト検出信号７を接続し、Ｄタイプフリップフ
ロップ５５のＱ端子とＤタイプフリップフロップ５６の
Ｑ端子の出力をそれぞれアンドゲート５４を介してアン
ドゲート５３の一方の入力とし、選定周期信号１０を他
方の入力とするアンドゲート５３の出力端子音カウンタ
５２のカウント制御端子に接続して上述の動作が行われ
る。
次にプリフォーマット情報保護部５１１１第６図に示す
ように、ゲート設定用クロック６１をカウントする２種
類のカウンタ６２．６５と、２柚類のディジタルコンパ
レータ６３，６６と、データ設定制御回路６４を含み構
成されており、近接等角度位置信号８を基準にゲート設
定用クロック６１ｔ−用いて位相差データ９とプリフォ
ーマット長データ６１１に基づくゲート信１１’に発生
し、ディスク単板上のプリフォーマット情報を再書込み
から保護する。すなわち、ゲート設定用クロック６１は
カウンタ６２，６５のクロック入力端子に入力され、カ
ウンタ６２出力はディジタルコンパレータ６３に入力さ
れる。ディジタルコンパレータ６３はカウンタ６２出力
を用いてデータ設定制御回路６４からの位相差設定信号
６７と近接等角度信号８を比較しその出力をアンドゲー
ト６１０へ与える。一方カウンタ６５はディジタルコン
パレータ６３出力をカウントしてディジタルコンパレー
タ６６に出力信号を与え、ディジタルコンパレータ６６
はデータ設定制御回路６４からのプリ１３− フォーマット長設定信号６８とカウンタ６５の出力信号
を比較し、ノットゲート６９を介してアンドゲート６１
０へｉＨ力する。アンドゲート６１０はディジタルコン
パレータ６３の出力信号とノットゲート６９の出力信号
との論理積をと９ゲ一ト信号１１を出力する。なおデー
タ設定制御回路６４は位相差データ９とプリフォーマッ
ト長データ６１１を用いて位相差設定信号６７、プリフ
ォーマット長設定信号６８を出力する。
ように、ゲート設定用クロック６１をカウントする２種
類のカウンタ６２．６５と、２柚類のディジタルコンパ
レータ６３，６６と、データ設定制御回路６４を含み構
成されており、近接等角度位置信号８を基準にゲート設
定用クロック６１ｔ−用いて位相差データ９とプリフォ
ーマット長データ６１１に基づくゲート信１１’に発生
し、ディスク単板上のプリフォーマット情報を再書込み
から保護する。すなわち、ゲート設定用クロック６１は
カウンタ６２，６５のクロック入力端子に入力され、カ
ウンタ６２出力はディジタルコンパレータ６３に入力さ
れる。ディジタルコンパレータ６３はカウンタ６２出力
を用いてデータ設定制御回路６４からの位相差設定信号
６７と近接等角度信号８を比較しその出力をアンドゲー
ト６１０へ与える。一方カウンタ６５はディジタルコン
パレータ６３出力をカウントしてディジタルコンパレー
タ６６に出力信号を与え、ディジタルコンパレータ６６
はデータ設定制御回路６４からのプリ１３− フォーマット長設定信号６８とカウンタ６５の出力信号
を比較し、ノットゲート６９を介してアンドゲート６１
０へｉＨ力する。アンドゲート６１０はディジタルコン
パレータ６３の出力信号とノットゲート６９の出力信号
との論理積をと９ゲ一ト信号１１を出力する。なおデー
タ設定制御回路６４は位相差データ９とプリフォーマッ
ト長データ６１１を用いて位相差設定信号６７、プリフ
ォーマット長設定信号６８を出力する。
（発明の効果）
以上の説明により明らかなように本発明のプリフォーマ
ットディスク検査装置によれば、ディスク単板の装着状
態に依存しない等角度位置信号とプリフォーマット情報
との位相差を検出してプリフォーマット情報保護ゲート
信号を発生するので、ディスク単板全前記位相差のない
位置に装着せず任意に装着してプリフォーマットディス
クを検査することができる。また前記位相差を検出する
ときは選定周期信号を用いてディスク単板１回転の中の
１プリフオーマツト情報と近接等角度位置信１４− 号との位相差を検出するので、媒体欠陥に起因するプリ
フォーマット情報検出保護機能の誤動作を防き、さらに
プリフォーマット情報を詳細に読み取る回路を必要とせ
ず簡単な構成のレベルスライス等を用いることによりプ
リフ、（−マットディスク検査装置の構成が簡単になる
などの大きい効朱が生じる。
ットディスク検査装置によれば、ディスク単板の装着状
態に依存しない等角度位置信号とプリフォーマット情報
との位相差を検出してプリフォーマット情報保護ゲート
信号を発生するので、ディスク単板全前記位相差のない
位置に装着せず任意に装着してプリフォーマットディス
クを検査することができる。また前記位相差を検出する
ときは選定周期信号を用いてディスク単板１回転の中の
１プリフオーマツト情報と近接等角度位置信１４− 号との位相差を検出するので、媒体欠陥に起因するプリ
フォーマット情報検出保護機能の誤動作を防き、さらに
プリフォーマット情報を詳細に読み取る回路を必要とせ
ず簡単な構成のレベルスライス等を用いることによりプ
リフ、（−マットディスク検査装置の構成が簡単になる
などの大きい効朱が生じる。
第１図は本発明のプリフォーマントティスフ検査装置の
一夾施例を示すブロック図、第２図は第１図における動
作シーケンスを示すタイムチャート、第３図は第１図に
おける等角度位置信号検出部の一構成例を示す図、第４
図、ＷｋＳ図および第６図はそれぞれ第１図における近
接等角度位置信号検出部、プリフォーマット情報位置検
出部およびプリフォーマット情報保護部の一構成例を示
す回路ブロック図である。 図において、１ ＃！角度位置信号検出部、２・プリフ
ォーマット検１Ｆ１部、３・・近接等角度付Ｉｆ信−１
ζ−
一夾施例を示すブロック図、第２図は第１図における動
作シーケンスを示すタイムチャート、第３図は第１図に
おける等角度位置信号検出部の一構成例を示す図、第４
図、ＷｋＳ図および第６図はそれぞれ第１図における近
接等角度位置信号検出部、プリフォーマット情報位置検
出部およびプリフォーマット情報保護部の一構成例を示
す回路ブロック図である。 図において、１ ＃！角度位置信号検出部、２・プリフ
ォーマット検１Ｆ１部、３・・近接等角度付Ｉｆ信−１
ζ−
Claims (1)
- ディスク記憶装置用ディスク単板であらかじめ回転方向
に対し等角度に書き込まれたプ’）７ｉ＝マツトデイス
クのプリ７メーマツト悄相ヲ保護しながら該プリフォー
マットディスクを検査するプリフォーマットディスク検
査装置であって、前記プリフォーマットディスクの回転
速度の変動に同期しかつ周期が前記プリフォーマット情
報の周期の整数分の１である等角度位置信号全検出する
尋角度位置信号検出部と、前記プリフォーマット情報の
存在を検出するプリフォーマット検出部と、１周当シの
プリフォーマット情報数と同数でかつ該プリフォーマッ
ト情報が発生タイミングに対して位相差が最小である前
記等角度位置信号の分周信号を近接等角度位置信号とし
て選出する近接等角度位置信号検出部と、前記等角度付
ｔＩＬ信号とプリフォーマット情報の発生するタイミン
グとの位相差を測定するプリフォーマット情報位置検出
部と、前記位相差と前記近接等角度位置信号とを用いて
ゲート信号を発生し前記プリフォーマット情報を保護す
るプリフォーマット情報保護部とを備えることを特徴と
するプリフォーマットディスク検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9315184A JPH0664857B2 (ja) | 1984-05-10 | 1984-05-10 | プリフオ−マツトデイスク検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9315184A JPH0664857B2 (ja) | 1984-05-10 | 1984-05-10 | プリフオ−マツトデイスク検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60236168A true JPS60236168A (ja) | 1985-11-22 |
| JPH0664857B2 JPH0664857B2 (ja) | 1994-08-22 |
Family
ID=14074535
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9315184A Expired - Lifetime JPH0664857B2 (ja) | 1984-05-10 | 1984-05-10 | プリフオ−マツトデイスク検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0664857B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01122079A (ja) * | 1987-11-04 | 1989-05-15 | Nec Corp | 信号発生回路 |
-
1984
- 1984-05-10 JP JP9315184A patent/JPH0664857B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01122079A (ja) * | 1987-11-04 | 1989-05-15 | Nec Corp | 信号発生回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0664857B2 (ja) | 1994-08-22 |
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