JPS60234420A - 継電器の点検装置 - Google Patents
継電器の点検装置Info
- Publication number
- JPS60234420A JPS60234420A JP59090694A JP9069484A JPS60234420A JP S60234420 A JPS60234420 A JP S60234420A JP 59090694 A JP59090694 A JP 59090694A JP 9069484 A JP9069484 A JP 9069484A JP S60234420 A JPS60234420 A JP S60234420A
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- Japan
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- substation
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は送電線の保護継電器の点検装置に関する。
送電線の保護継電器としては第１変電所から見て対向す
る第２変電所の電流データＩＢを使用する位相比較継電
器や電流差動継電器がある。こｎら継電器は時々保守点
検を行って事故時に確実に動作可能となるか全試験する
ことが行われている。
る第２変電所の電流データＩＢを使用する位相比較継電
器や電流差動継電器がある。こｎら継電器は時々保守点
検を行って事故時に確実に動作可能となるか全試験する
ことが行われている。
継電器の動作試験を行う場合は、普通次のように行われ
る。まず第２変電所よシミ光データＩＢを検出し、この
データと第１変電所で検出された電流データエＡとを保
護演算部に入力して演算する。このとき両軍流データＩ
Ａ ＋ ＩＢは同期（電源が共通で周波数が一致してい
ること）シ、かつ位相の調整ができることが条件となる
。このため、継電器を試験する場合の電流ＩＡ ＋ Ｉ
Ｂの同期は変電所の所内電源（送電系統の電源と同一の
もの〕を専用の継電器試験器に入力し、その出力を継電
器の電流データＩＡ ｔ よりとして得ていた。また、
位相は両変電所間で電話連絡によシ系統の基準電圧に対
して設定する手段をとっていた。この従来の手段は専用
の試験器に対して必ず系統の電源が必要になる。（なお
、送電線への送電が中止されたときは変電所の所内電源
が確保できなくなるため、別の配電線などから引き込む
必要がある）ｔ−た、位相の設定には相手変電所との電
話連絡を必要とする作業上の手間を要し、さらに電流デ
ータを自動的に継電器に入力してそれの自動点検を行う
ことも難しかった。
る。まず第２変電所よシミ光データＩＢを検出し、この
データと第１変電所で検出された電流データエＡとを保
護演算部に入力して演算する。このとき両軍流データＩ
Ａ ＋ ＩＢは同期（電源が共通で周波数が一致してい
ること）シ、かつ位相の調整ができることが条件となる
。このため、継電器を試験する場合の電流ＩＡ ＋ Ｉ
Ｂの同期は変電所の所内電源（送電系統の電源と同一の
もの〕を専用の継電器試験器に入力し、その出力を継電
器の電流データＩＡ ｔ よりとして得ていた。また、
位相は両変電所間で電話連絡によシ系統の基準電圧に対
して設定する手段をとっていた。この従来の手段は専用
の試験器に対して必ず系統の電源が必要になる。（なお
、送電線への送電が中止されたときは変電所の所内電源
が確保できなくなるため、別の配電線などから引き込む
必要がある）ｔ−た、位相の設定には相手変電所との電
話連絡を必要とする作業上の手間を要し、さらに電流デ
ータを自動的に継電器に入力してそれの自動点検を行う
ことも難しかった。
この発明は上記の事情に鑑みてなされたもので。
同期した系統の電源及び位相設定を不要にし、しかも自
動点検を可能にした保護継電器の点検装置を提供するこ
とにある。
動点検を可能にした保護継電器の点検装置を提供するこ
とにある。
〔問題点を解決するための手段及び作用〕この発明は第
２変電所の′電流データと第１変電所の電流データを保
護演算部で演算する際の第２変電所の電流データを伝送
路としての光ファイバーによシ演算部に供給して送電線
の保護を図る装置において、継電器点検用テストデータ
を第２変電所のデータ受信部に伝送し、データ受信部の
出力端に接続された試験器でテストデータの位相を変化
させてから試験器の出力信号を第２変電所の電流データ
供給電路から光ファイバを介して前記演算部に供給し、
演算部にてテストデータを演算し、演算結果から継電器
の良否判定を行うにしたことにある。
２変電所の′電流データと第１変電所の電流データを保
護演算部で演算する際の第２変電所の電流データを伝送
路としての光ファイバーによシ演算部に供給して送電線
の保護を図る装置において、継電器点検用テストデータ
を第２変電所のデータ受信部に伝送し、データ受信部の
出力端に接続された試験器でテストデータの位相を変化
させてから試験器の出力信号を第２変電所の電流データ
供給電路から光ファイバを介して前記演算部に供給し、
演算部にてテストデータを演算し、演算結果から継電器
の良否判定を行うにしたことにある。
以下図面全参照してこの発明の一実施例を説明する。
第１図において１図示点源で囲んだＡは第１変電所、Ｂ
は第２変電所である。両変電所Ａ、Ｂ間は送電朦路ぶて
接続される。第１変ぼ所Ａは変流ｉ ＣＴ＆、図示しな
い補助変流器、サンプルホールド回路、アナログデジタ
ル変換器などからなる入力変換部ＩＦａ １保幽演算部
Ｒａ及びテストデータヤ演算出力データを送信するデー
タ送信部ＭＴＸからなる。また、第２変成所Ｂは変流器
ＣＴｂ、アナログデジタル変換器Ａ／Ｄとデータ送信部
ＳＴＸからなる入力変換部ＩＦｂ及びデータ受信部ＳＲ
Ｘからなる。なお、ＣＢａ 、 ＣＢｂはしゃＶｉｒａ
ｒ、 ＣＴＴａ 。
は第２変電所である。両変電所Ａ、Ｂ間は送電朦路ぶて
接続される。第１変ぼ所Ａは変流ｉ ＣＴ＆、図示しな
い補助変流器、サンプルホールド回路、アナログデジタ
ル変換器などからなる入力変換部ＩＦａ １保幽演算部
Ｒａ及びテストデータヤ演算出力データを送信するデー
タ送信部ＭＴＸからなる。また、第２変成所Ｂは変流器
ＣＴｂ、アナログデジタル変換器Ａ／Ｄとデータ送信部
ＳＴＸからなる入力変換部ＩＦｂ及びデータ受信部ＳＲ
Ｘからなる。なお、ＣＢａ 、 ＣＢｂはしゃＶｉｒａ
ｒ、 ＣＴＴａ 。
ＣＴＴｂ は変流器ＣＴａ 、 ＣＴｂのテスト入力端
子である。第１１第２変電所Ａ、Ｂのデータは伝送路で
ある光７アイバｐｗ１． ｐｗ、 ２用いて伝送される
。
子である。第１１第２変電所Ａ、Ｂのデータは伝送路で
ある光７アイバｐｗ１． ｐｗ、 ２用いて伝送される
。
ＴＥは試験器で、この試験器ＴＥはシフトレジスタなど
からなる位相設定器ＳＨと、この位相設定器ＳＨの出力
信号をアナログ信号に変換するデジタル−アナログ変換
器Ｄ ／ Ａと、この変換器Ａ／Ｄの出力信号を増幅す
るアンプＡｍｐとマツチングトランスＴＲとから構成で
れる。試験器ＴＥの入力］ｉｔ＋はデータ受信部ＳＲＸ
の出力端子ｔに接続され、その出力端ｔ、は変流器ＣＴ
ｂのテスト端子ＣＴＴｂに接続される。
からなる位相設定器ＳＨと、この位相設定器ＳＨの出力
信号をアナログ信号に変換するデジタル−アナログ変換
器Ｄ ／ Ａと、この変換器Ａ／Ｄの出力信号を増幅す
るアンプＡｍｐとマツチングトランスＴＲとから構成で
れる。試験器ＴＥの入力］ｉｔ＋はデータ受信部ＳＲＸ
の出力端子ｔに接続され、その出力端ｔ、は変流器ＣＴ
ｂのテスト端子ＣＴＴｂに接続される。
次に上記実施列の動作？述べる。継電器の点検を行うに
は第１変電所Ａのデータ送信部ＭＴＸよシ例えば基本周
波数（５０Ｈｚ 、 ６０Ｈｚ ）の継電器点検用デジ
タルデータ（テストデータ）を光ファイバＰＷ茸を介し
て第２変電所Ｂのデータ受信部ＳＲＸに送信する。デー
タ受信部ＳＲＸは上記テストデータＩｔ を受信し、そ
の受信出力を出力端子ｔから試験器ＴＫの入力端ｔｉに
供給する。入力端ｔ１に入力されたテストデータＩｔは
位相設定器ＳＨに入力させる。この設定器ＳＨは入力さ
れたデータをシフトすることによシテストデークＩｊに
対してΔθの刻みで位相を変化させる。位相設定器ＳＨ
の出力信号はデジタル−アイログ変換器Ｄ／Ａでアナロ
グ信号に変換されてアンプＡｍｐで増幅される。このア
ンプＡｍｐで所望の直まで増幅てれた信号はマツチング
トランスＴＲを介して変流器ＣＴｂのテスト端子ＣＴＴ
ｂに入力される。テスト端子ＣＴＴｂに入力された信号
は入力変換部ＩＦｂから光ファイバｐｗ１を介して保護
演算部−に入力される。この演算部Ｒ，にはデータ送信
部ＭＴＸから直接テストデータＩｊが入力甥れているの
で、演算部Ｒａでは第２変電所Ｂから光ファイバＰＷ、
ｆ介して伝送されてくるテストデータＩｔとを演算すれ
ば継電器の点検がなされる。
は第１変電所Ａのデータ送信部ＭＴＸよシ例えば基本周
波数（５０Ｈｚ 、 ６０Ｈｚ ）の継電器点検用デジ
タルデータ（テストデータ）を光ファイバＰＷ茸を介し
て第２変電所Ｂのデータ受信部ＳＲＸに送信する。デー
タ受信部ＳＲＸは上記テストデータＩｔ を受信し、そ
の受信出力を出力端子ｔから試験器ＴＫの入力端ｔｉに
供給する。入力端ｔ１に入力されたテストデータＩｔは
位相設定器ＳＨに入力させる。この設定器ＳＨは入力さ
れたデータをシフトすることによシテストデークＩｊに
対してΔθの刻みで位相を変化させる。位相設定器ＳＨ
の出力信号はデジタル−アイログ変換器Ｄ／Ａでアナロ
グ信号に変換されてアンプＡｍｐで増幅される。このア
ンプＡｍｐで所望の直まで増幅てれた信号はマツチング
トランスＴＲを介して変流器ＣＴｂのテスト端子ＣＴＴ
ｂに入力される。テスト端子ＣＴＴｂに入力された信号
は入力変換部ＩＦｂから光ファイバｐｗ１を介して保護
演算部−に入力される。この演算部Ｒ，にはデータ送信
部ＭＴＸから直接テストデータＩｊが入力甥れているの
で、演算部Ｒａでは第２変電所Ｂから光ファイバＰＷ、
ｆ介して伝送されてくるテストデータＩｔとを演算すれ
ば継電器の点検がなされる。
第２図は点検を自動的に行うためのこの発明の他の実施
例で、第１図と同一部分は同一符号を付して示す。第２
図において、第２変電所Ｂの入力変換部ＩＦｂの変流器
ＣＴｂのテスト端子ＣＴＴ ｂとアナログ−デジタル変
換器Ａ／Ｄとの間に補助変流器ＡＵＸＣＴ を設け、こ
の変流器ＡＵＸＣＴの点検巻線ＴＷと試験器ＴＥの出力
端１．との電路に一定のＪＵｊＡでオンオフする吸点Ｘ
ｔを介挿する。これによシ自動的に継電器の点検が可能
となる。なお、予め入力されている電流データＩＢはテ
ストデータＩｔを入力する前の直ヲメモリしておけば、
テストデータＩｔ′？ｃ入力したときにもメモリした直
によって補償することが可能となる。
例で、第１図と同一部分は同一符号を付して示す。第２
図において、第２変電所Ｂの入力変換部ＩＦｂの変流器
ＣＴｂのテスト端子ＣＴＴ ｂとアナログ−デジタル変
換器Ａ／Ｄとの間に補助変流器ＡＵＸＣＴ を設け、こ
の変流器ＡＵＸＣＴの点検巻線ＴＷと試験器ＴＥの出力
端１．との電路に一定のＪＵｊＡでオンオフする吸点Ｘ
ｔを介挿する。これによシ自動的に継電器の点検が可能
となる。なお、予め入力されている電流データＩＢはテ
ストデータＩｔを入力する前の直ヲメモリしておけば、
テストデータＩｔ′？ｃ入力したときにもメモリした直
によって補償することが可能となる。
以上述べたように、この発明によれば、テストデータに
対して位相を変化させることができる試験器により継電
器の点検を行うようにしたので、試験器に対して系統の
電源供給を不要とすることができるとともに位相設定を
行う作業の手間を省くこともでき、しかも点検の自動化
も可能とした利点が得られる。
対して位相を変化させることができる試験器により継電
器の点検を行うようにしたので、試験器に対して系統の
電源供給を不要とすることができるとともに位相設定を
行う作業の手間を省くこともでき、しかも点検の自動化
も可能とした利点が得られる。
第１図はこの発明の一実施例を示す構成説明図、第２図
はこの発明の他の実施例の要部全示す構成図である。 Ａ、Ｂ・・・第１．第２変電所、Ｒａ・・・保護演算部
、ＭＴＸ・・・データ送信部、 ＩＦａ 、 ＩＦｂ・
・・入力変換部。 ＳＲＸ・・データ受信部、ＴＥ・・・試験器、 ＣＴａ
、 ＣＴｂ・・・変流器、 ＣＴＴｂ・・・テスト端
子、ＰＷ、、ＰＷ、・・・光ファイバ。
はこの発明の他の実施例の要部全示す構成図である。 Ａ、Ｂ・・・第１．第２変電所、Ｒａ・・・保護演算部
、ＭＴＸ・・・データ送信部、 ＩＦａ 、 ＩＦｂ・
・・入力変換部。 ＳＲＸ・・データ受信部、ＴＥ・・・試験器、 ＣＴａ
、 ＣＴｂ・・・変流器、 ＣＴＴｂ・・・テスト端
子、ＰＷ、、ＰＷ、・・・光ファイバ。
Claims (1)
- （１）第１変電所に配設され、第２変電所の電流データ
を伝送路全弁して供給し、この電流データと第１変電所
の電流データと全演算する保護演算部と、この演算部で
演算されたデータが供給され、このデータを第２変電所
に伝送路を介して送信するデータ送信部と、第２変電所
に配設され、データ送信部からのデータを受信するデー
タ受信部とを備え、第２変電所の電流データを使用して
送電線の保護を図る保護継電装置において、前記データ
送信部から継電装置点検用テストデータを送信し、この
テストデータをデータ受信部で受信し、受信されたテス
トデータをデータ受信部の出力端に接続された試験器に
入力し、試験器内でテストデータの位相を変化させた後
、そのデータを試験器の出力から第２変電所の電流デー
タ供給砥路に入力し、伝送路を介して保護演算部に供給
し、その演算部でデータ送信部からのテストデータと第
２変電所を介して供給されてくるテストデータとを演算
するようにしたことを特徴とする継電器の点検装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59090694A JPS60234420A (ja) | 1984-05-07 | 1984-05-07 | 継電器の点検装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59090694A JPS60234420A (ja) | 1984-05-07 | 1984-05-07 | 継電器の点検装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60234420A true JPS60234420A (ja) | 1985-11-21 |
| JPH0546770B2 JPH0546770B2 (ja) | 1993-07-14 |
Family
ID=14005632
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59090694A Granted JPS60234420A (ja) | 1984-05-07 | 1984-05-07 | 継電器の点検装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60234420A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5736531A (ja) * | 1980-08-14 | 1982-02-27 | Tokyo Shibaura Electric Co | |
| JPS5755726A (en) * | 1980-09-22 | 1982-04-02 | Tokyo Shibaura Electric Co | Protecting relay system testing device |
-
1984
- 1984-05-07 JP JP59090694A patent/JPS60234420A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5736531A (ja) * | 1980-08-14 | 1982-02-27 | Tokyo Shibaura Electric Co | |
| JPS5755726A (en) * | 1980-09-22 | 1982-04-02 | Tokyo Shibaura Electric Co | Protecting relay system testing device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0546770B2 (ja) | 1993-07-14 |
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