JPS60207020A - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
- Publication number
- JPS60207020A JPS60207020A JP6384684A JP6384684A JPS60207020A JP S60207020 A JPS60207020 A JP S60207020A JP 6384684 A JP6384684 A JP 6384684A JP 6384684 A JP6384684 A JP 6384684A JP S60207020 A JPS60207020 A JP S60207020A
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- JP
- Japan
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- output
- photodiode
- current
- switch
- absorbance
- Prior art date
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- Pending
Links
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- 238000002835 absorbance Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 8
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
- G01J1/1626—Arrangements with two photodetectors, the signals of which are compared
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ、産業上の利用分野
本発明は吸光度測定を行う分光光度計に関する。
口、従来技術
分光光度計の主要な用途は吸光分光分析で、この場合測
光出力を試料の吸光度値に変換する必要がある。試料の
透過光測光出力を工、対照試料透ある。従って吸光度を
める場合、測光出力を対数変換する必要があるが、対数
変換方式にはディ分光光度計において広く利用されてい
る。
光出力を試料の吸光度値に変換する必要がある。試料の
透過光測光出力を工、対照試料透ある。従って吸光度を
める場合、測光出力を対数変換する必要があるが、対数
変換方式にはディ分光光度計において広く利用されてい
る。
シカシアナログ方式の対数変換回路はトランジスタとか
ダイオードのような一方向性の素子を対数変換素子とし
て使用しているため、入方光電流が測光レベル以下或は
０になると、これらの素子は対数変換素子として機能が
なくなり、輝線スペクトルを用いて分光器の波長精度を
評価するような場合に障碍となっていた。この点を従来
例を示す第２図の回路によって説明する。
ダイオードのような一方向性の素子を対数変換素子とし
て使用しているため、入方光電流が測光レベル以下或は
０になると、これらの素子は対数変換素子として機能が
なくなり、輝線スペクトルを用いて分光器の波長精度を
評価するような場合に障碍となっていた。この点を従来
例を示す第２図の回路によって説明する。
第２図でＤはフォトダイオードでオペアンプＡ１の両入
力端子間に接続されている。ＱｌはオペアンプＡ１のフ
ィードバックループを構成しているトランジスタで、そ
のペースエミッタ間の対数特性により、オペアンプＡｌ
の出力はフォトダイオードＤの出力を対数変換したもの
になっている。
力端子間に接続されている。ＱｌはオペアンプＡ１のフ
ィードバックループを構成しているトランジスタで、そ
のペースエミッタ間の対数特性により、オペアンプＡｌ
の出力はフォトダイオードＤの出力を対数変換したもの
になっている。
Ｓｌは切換えスイッチで通常測定の場合は接点ａ側に接
している。分光器の波長チェックを行う場合スイッチＳ
１は接点す側に切換えられる。オペアンプＡ４は抵抗ｒ
と共に引算回路を構成しており、一方の入力端子に一定
信号ｅが印加されており、他方の入力端子にオペアンプ
Ａ１の出力即ち光信号を対数変換した信号ｅｒが入力さ
れる。従ってＡ４の出力信号ｅ１はＧ（ｅ−ｅｒ）であ
シ、こ５で光源に輝線スペクトルを放射しているものを
用いればそれの輝線の波長によって、分光器の波長精度
をチェックできる。しかし輝線スペクトルの場合、輝線
以外の波長位置では光のエネルギーが存在しないので、
フォトダイオードの出力はイードパックループがＯＦＦ
されたことになる。
している。分光器の波長チェックを行う場合スイッチＳ
１は接点す側に切換えられる。オペアンプＡ４は抵抗ｒ
と共に引算回路を構成しており、一方の入力端子に一定
信号ｅが印加されており、他方の入力端子にオペアンプ
Ａ１の出力即ち光信号を対数変換した信号ｅｒが入力さ
れる。従ってＡ４の出力信号ｅ１はＧ（ｅ−ｅｒ）であ
シ、こ５で光源に輝線スペクトルを放射しているものを
用いればそれの輝線の波長によって、分光器の波長精度
をチェックできる。しかし輝線スペクトルの場合、輝線
以外の波長位置では光のエネルギーが存在しないので、
フォトダイオードの出力はイードパックループがＯＦＦ
されたことになる。
手用陪トＩ
オペアンプのフィードバック 列 量
が存在するので、トランジスタＱ１がオフの状態で輝線
が立上った場合、上記容量がトランジスタＱｌが導通す
る電圧に充電される迄はオペアンプＡ１の出力は立上ら
ず実際の輝線の立上シよりおくれで立上り、実際の輝線
のピーク中心を過ぎてピーク中心が現れるので、正確な
波長精度のチェツクができない。
が立上った場合、上記容量がトランジスタＱｌが導通す
る電圧に充電される迄はオペアンプＡ１の出力は立上ら
ず実際の輝線の立上シよりおくれで立上り、実際の輝線
のピーク中心を過ぎてピーク中心が現れるので、正確な
波長精度のチェツクができない。
ハ、目 的
本発明は上述した問題点を解消することを目的とする。
二、 構 成
本発明は波長精度チェンジの際等、輝線スペクトルの測
定を行う場合には、フォトダイオードの出力に一定のオ
フセット電流を例加して対数変換回路に入力するように
し、輝線以外の位置でも対数変換回路への入力電流がＯ
にならないようＫした分光光度計を提供するものである
、 ホ・実施例 第１図は本発明の一実施例吸光度変換の回路図である。
定を行う場合には、フォトダイオードの出力に一定のオ
フセット電流を例加して対数変換回路に入力するように
し、輝線以外の位置でも対数変換回路への入力電流がＯ
にならないようＫした分光光度計を提供するものである
、 ホ・実施例 第１図は本発明の一実施例吸光度変換の回路図である。
Ｄｒは対照光を受光するフォトダイオード、Ｄｓは試料
光を受光するダイオードである。
光を受光するダイオードである。
各フォトダイオードはオペアンプＡｌ、Ａ２の二人力端
子間に接続されている。Ｑｌ、Ｑ２は各オペアンプＡＩ
、Ａ２のフィードバックループ全４ｆｔＮ成シているト
ランジスタで、Ａｌ、Ａ２の出力側にはフォトダイオー
ドＤｒ、ＤＢの出力電流ｉη、ｉｓを対数変換した出力
電圧が現れる。通常の吸光度測定の場合、スイッチＳ２
は開いており、オペアンプＡｌ、Ａ２の出力はオペアン
プＡ３と抵抗Ｒ，Ｒ”等で構成される引算回路に入力さ
れ、オペアンプＡ３の出力側には試料光の吸光度変換信
号 Ｖ＝Ｋｌｏｇ、（ｉｒ／ｉｓ） が出力される。この吸光度変換信号は切換スイッチＳ１
の接点ａ、切換スイッチＳ１を通してＡ／Ｄ変換器でデ
ィジタルデータに変換されてコンピュータ１に取込まれ
、吸光度値に変換されて表示装置２により表示される。
子間に接続されている。Ｑｌ、Ｑ２は各オペアンプＡＩ
、Ａ２のフィードバックループ全４ｆｔＮ成シているト
ランジスタで、Ａｌ、Ａ２の出力側にはフォトダイオー
ドＤｒ、ＤＢの出力電流ｉη、ｉｓを対数変換した出力
電圧が現れる。通常の吸光度測定の場合、スイッチＳ２
は開いており、オペアンプＡｌ、Ａ２の出力はオペアン
プＡ３と抵抗Ｒ，Ｒ”等で構成される引算回路に入力さ
れ、オペアンプＡ３の出力側には試料光の吸光度変換信
号 Ｖ＝Ｋｌｏｇ、（ｉｒ／ｉｓ） が出力される。この吸光度変換信号は切換スイッチＳ１
の接点ａ、切換スイッチＳ１を通してＡ／Ｄ変換器でデ
ィジタルデータに変換されてコンピュータ１に取込まれ
、吸光度値に変換されて表示装置２により表示される。
通常の吸光度測定の場合、上記したようにスイッチＳ２
け開いている。
け開いている。
分光器の波長精度を検定する場合には、スイッチＳ２を
閉じ、スイッチＳ１を接点す側に切換える。
閉じ、スイッチＳ１を接点す側に切換える。
この動作モードにおいて、オペアンプＡ４の動作機能は
前述した従来例と同じである。本発明に係わる点はオペ
アンプＡ１の入力にフ第１・ダイオードＤｒの出力電流
に加えて、スイッチＳ２を通して電流源３から一定電流
工が入力されるようになっている点である。こ＼で光源
として輝線スペクトルを放射（〜でいる光源を用いて分
光器の波長走査を行うと、輝線のない所ではフォトダイ
オードＤｒの出力電流は略Ｏであるが、オペアンプＡ１
には電流工が流入しているだめ、前述従来例のようにＡ
１は飽和してし１うことがなく、分光器が輝線位置に来
たとき、Ａ１の出力はおくれなしにフォトダイオードＤ
ｒの出力の立上りに応答して立上ることができ、輝線ス
ペクトルに対応する分光器の波長位置がコンピュータ］
に正しく読込まれる。
前述した従来例と同じである。本発明に係わる点はオペ
アンプＡ１の入力にフ第１・ダイオードＤｒの出力電流
に加えて、スイッチＳ２を通して電流源３から一定電流
工が入力されるようになっている点である。こ＼で光源
として輝線スペクトルを放射（〜でいる光源を用いて分
光器の波長走査を行うと、輝線のない所ではフォトダイ
オードＤｒの出力電流は略Ｏであるが、オペアンプＡ１
には電流工が流入しているだめ、前述従来例のようにＡ
１は飽和してし１うことがなく、分光器が輝線位置に来
たとき、Ａ１の出力はおくれなしにフォトダイオードＤ
ｒの出力の立上りに応答して立上ることができ、輝線ス
ペクトルに対応する分光器の波長位置がコンピュータ］
に正しく読込まれる。
なお上述実施例では対数変換回路に一定電流■を流入さ
せるようになっているのは対照元側の回路だけであるが
、試料光側の対数変換回路にも一定電流を流し込めるよ
うにしておくと、従来、入射光量がＯになるだめ使えな
かった光チョッパー等を光路に挿入することが可能とな
る。但し、上述した波長精度検定のように輝線スペクト
ルの位置だけが正確に判ることがめられ定量性が必要で
ない場合、対数変換回路の入力側に付加する一定電流は
比較的自由に設定してよいが、定量性が必要なときは、
この定電流は測定したい入力光電流よシ充分小さくない
と、測定値の直線性が低下するコ へ、効 果 本発明によれば、受光信号をアナログ方式で対数変換し
ているような分光光度計においでも、輝線スペクトルの
測定とか時間的に通断切換えられ７ｊｌｌ＋ る光信号の測定〆簡単に行えるようになる。
せるようになっているのは対照元側の回路だけであるが
、試料光側の対数変換回路にも一定電流を流し込めるよ
うにしておくと、従来、入射光量がＯになるだめ使えな
かった光チョッパー等を光路に挿入することが可能とな
る。但し、上述した波長精度検定のように輝線スペクト
ルの位置だけが正確に判ることがめられ定量性が必要で
ない場合、対数変換回路の入力側に付加する一定電流は
比較的自由に設定してよいが、定量性が必要なときは、
この定電流は測定したい入力光電流よシ充分小さくない
と、測定値の直線性が低下するコ へ、効 果 本発明によれば、受光信号をアナログ方式で対数変換し
ているような分光光度計においでも、輝線スペクトルの
測定とか時間的に通断切換えられ７ｊｌｌ＋ る光信号の測定〆簡単に行えるようになる。
第１図は本発明の一実施例の回路図、第２図は従来例の
要部回路図である。 Ｄｒｌ・・・対照光側フォトダイオード、Ｄｓ・・・試
料光側フォトダイオード、Ａｌ、Ａ２・・・対数変換回
路を構成するオペアンプ、Ｑ、１１Ｑ２・・・対数変換
用トランジスタ、３・・・定電流源。 代理人 弁理士 係 浩 介
要部回路図である。 Ｄｒｌ・・・対照光側フォトダイオード、Ｄｓ・・・試
料光側フォトダイオード、Ａｌ、Ａ２・・・対数変換回
路を構成するオペアンプ、Ｑ、１１Ｑ２・・・対数変換
用トランジスタ、３・・・定電流源。 代理人 弁理士 係 浩 介
Claims (1)
- 対数変換素子によるフィードバックループを有するオペ
アンプよシなる対数変換回路によって光電変換信号を対
数変換して吸光度信号とする構成を有し、開閉スイッチ
を介して上記対数変換回路の入力側に、上記光電変換信
号に加えて定電流をも流入し得るようにしたことを特徴
とする分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6384684A JPS60207020A (ja) | 1984-03-31 | 1984-03-31 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6384684A JPS60207020A (ja) | 1984-03-31 | 1984-03-31 | 分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60207020A true JPS60207020A (ja) | 1985-10-18 |
Family
ID=13241102
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6384684A Pending JPS60207020A (ja) | 1984-03-31 | 1984-03-31 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60207020A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997017596A1 (fr) * | 1995-11-08 | 1997-05-15 | Kyoto Daiichi Kagaku Co., Ltd. | Appareil et procede pour traiter les spectres obtenus lors de mesures spectrales |
| US6381489B1 (en) | 1995-10-31 | 2002-04-30 | Kyoto Daiichi Kagaku Co., Ltd. | Measuring condition setting jig, measuring condition setting method and biological information measuring instrument |
| US6404492B1 (en) | 1995-10-31 | 2002-06-11 | Kyoto Daiichi Kagaku Co., Ltd. | Light source apparatus and measurement method |
-
1984
- 1984-03-31 JP JP6384684A patent/JPS60207020A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6381489B1 (en) | 1995-10-31 | 2002-04-30 | Kyoto Daiichi Kagaku Co., Ltd. | Measuring condition setting jig, measuring condition setting method and biological information measuring instrument |
| US6404492B1 (en) | 1995-10-31 | 2002-06-11 | Kyoto Daiichi Kagaku Co., Ltd. | Light source apparatus and measurement method |
| WO1997017596A1 (fr) * | 1995-11-08 | 1997-05-15 | Kyoto Daiichi Kagaku Co., Ltd. | Appareil et procede pour traiter les spectres obtenus lors de mesures spectrales |
| US6201606B1 (en) | 1995-11-08 | 2001-03-13 | Kyoto Daiichi Kagaku Co., Ltd. | Method and apparatus for processing spectrum in spectral measurement |
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