JPS60194938A - X線ct装置 - Google Patents

X線ct装置

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JPS60194938A
JPS60194938A JP59050730A JP5073084A JPS60194938A JP S60194938 A JPS60194938 A JP S60194938A JP 59050730 A JP59050730 A JP 59050730A JP 5073084 A JP5073084 A JP 5073084A JP S60194938 A JPS60194938 A JP S60194938A
Authority
JP
Japan
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slice
ray
collimator
collimator device
data
Prior art date
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Pending
Application number
JP59050730A
Other languages
English (en)
Inventor
山口 珪紀
松村 滋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
GE Healthcare Japan Corp
Original Assignee
Yokogawa Medical Systems Ltd
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Publication date
Application filed by Yokogawa Medical Systems Ltd filed Critical Yokogawa Medical Systems Ltd
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は、X線(ンT装置に関し、更に詳しくは被検体
のxfi+投影を行う際のスライス幅を決定J−るコリ
メータ装置の改良に関する。
(従来技術) 従来から、ファンビームを使用りるX線CT H置にお
いては、スライス厚くスライス幅ともいう)を決定づる
コリメータ装置が’d= (Iiiされている。
第1図はこの1重のコリメータ装置の問611の一例を
示すものである。図において、1はX線を敢01するX
線管である。2はコリメータ装置で、X線と共に、意図
するスライス幅3を決定するもので、X線管1の近くに
配置されている。5はX線検出器で、被検体4をはさん
でX線管1と対向して配置されCいる。
この場合において、X線管1から発生しlcX線ビーム
は、コリメーター3A置2にJ:っでX線検出器5の有
効検出面に合せて紙面と垂直な面に対しては扇状に整形
されると共に、紙面と平行な方向に対しては被検体4の
必要とするスライス幅に合せて絞りこまれた後、X線検
出器5により透過X線強度に応じた電気fR号に変換さ
れる。この時の被検体4のスライス幅はコリメータ装置
2によって制御されるが、常開固定であるか、又はスキ
ャン毎に可変となるものかのいずれかであった。
しかしながら、1スキ亀シン中に同時にスライス位置や
スライス幅の異なる複数の断層像を得ようとした場合に
は、スライス方向に複数列のX線検出器を配列づる複雑
な構成を必要とした。
(発明の目的) 本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、そ
の目的は、複数列のX線検出器配列を要することなく、
1回のスキャンにおいてスライス幅の異なる複数の1l
li層像若しくはスライス位「(の異なる複数の断層像
を同時に得ることのできるX線CT装置を提供すること
にある。
(発明の構成) このような目的を達成するだめの本発明は、X線管から
の放射Xaビームをファンビームに整形Jるコリメータ
8HtRと、このファンビームにより被検体をスキャン
しX線検出器に一二り投影データを19、この投影デー
タから再構成像をめる演詐処理装置を有するX線CF装
置におい“C1前記コリメータ装置は、断面が円状又は
板状であって、2つ以上の開口を成づ−ようなX線遮蔽
板で形成され、前記X線管から発生するX線パルス又は
前記投影データのυンブリング周期又はイf意のビー1
−のいずれかに同期して異なる聞[1が選択可能にff
/+成されlζものであり、前記演鋒処理装置は、前記
開口の種類に対応した多数の演算処■ゴ!装置と、前記
開口に対応して投影ア゛−タを前記多数の演搾処理装置
に分配づるためのデータ分配装置より構成され、前記一
つのX線検出器により多数のスライス位置での再構成像
を得るようにしたことを特徴とするものである。
(実施例) 以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明づる。
尚、本発明の実施例を示づ説明図において、第1図と対
応Jる部分には、同一符号を付しである。
第2図は1スキトン中に2つの異なるスライス幅を決定
づるコリメータ装置の実施例を示づ説明図である。図に
おいて、1はX線を発生づ−るX線管である。、21は
本発明に係るコリメータ装置で、この場合はIflli
面が円状のX線遮蔽板によって構成され、回転中心点Δ
点を中心として対向し、大きさの異なる2対の間口部を
有している。4は被検体、5はX線検出器で、被検体4
をはさんでX線管1と対向して配置されている。
このJ:うな構成にお()る動作を次にび2明づる。
置21によって扇状に広がるように整形され、被検体4
を透過り゛る。被検体4を透過した透過X線は、X線検
出器5に入射し、ここで投影データとして電気信号に変
換される。この時、コリメータ装置21はスキトン中で
あってもA点を中心どじで充分に高速で回転作動を行う
ことかできるように構成されている。今、第2図の(イ
)にJ3いて、あるビューでX線ビームが大きな間口部
を通過づるようにコリメータ装置21を制御づると、幅
の広いスライス幅が得られる。次に別のヒユーで]リメ
ータ装置21を90°回転してJ5けば小さな間口部を
X線ビームが通過するようにtlす、前のピコ−と異な
る幅の狭いスライス幅を(9ることができる。
このように、1スキヤン中に」リメータ!!i ’Fi
 21を回転することにより2つのUいに異なるスライ
ス幅の投影データを得ることができる。
尚、コリメータ装置21の間口変化は、X線管から発生
づるX線パルス又は投影データのリーンプリングIII
 1111 高A IA Li J?’ 合7711”
 i −1−IWI llTl + 、 7偉4−1れ
るが、どれに同期させるかは任意に選択可能に構成され
ている。
ここで、1スキヤン中に2つのスライス幅を決定するコ
リメータ装置は次のようにしてもよい。
第3図はその実施例を示ず説明図である。この図におい
て、22はこれを実現Jるコリメータ装置である。この
場合のコリメータ装置22は2枚の板状のX線遮蔽板に
よって構成されており、スキトン中であっても回転中心
点Δ点を中心として充分に高速で回転作動するように動
作する。この図の(イ)において、あるビューで意図す
るワイドなスライス幅が得られるJ:うにX線遮蔽板が
決められ、その間[1部をX線ビームが通過して、意図
づる幅広なスライス幅が得られる。次に別のビニI−で
意図する別の幅の狭いスライス幅を決める場合はX線遮
蔽板がA点を中心に180°高速回転りることによって
([1)のように■110部が狭くなり、前のビューと
異なる意図する狭いスライス幅を決定Jることができる
ものである。
次に1ス1ヤン中に2つの異なるスライス位置を得るこ
とを実現しIζコリメータ装置の実施例を第4図によっ
て説明する。
この図において23はこの場合のコリメータ装置である
。このコリメータ装置23は意図Jる2つのスライス位
置が得られるように中心線からずれた位置に1itlD
部を右づる断面が円状のX線遮蔽板から構成されている
。この時、コリメーク装置23は回転中心点A点を中心
としてスキ17ン中であっても充分に高速で回転体fi
l+ iるにうに動作するものである。今、この図の(
イ)に承りようにあるビューでスライス1のスライス位
置を得ようとすると、コリメータ装@23は高速作動し
意図するスライス位置を得る。次に別のビューでは(ロ
)に示すようにスライス2のスライス位F1を19よう
とJる場合は、A点を中心に180°高速回転作動して
、スライス中心がスライス2の中心に移動し、意図する
スライス位置を決定づることかできるもので、前のビュ
ーのスライス位置ど異なるスライス位置を17ることが
できる。
このような1ス4:11ン中に2つの異なるスライス位
置を決定するコリメータ装置は次のようにしてもにい。
第5図はその実施例を示す説明図である。この図におい
て、24はこれを実現りるコリメータ装ばである。この
場合のコリメータ装置24は開口部をhする板状のX線
遮蔽板から構成されており、意図するスライス位置くス
ライス1及びスライス2)をjワるようにスキ17ン中
でも高速に左右に移動りるJ、うに動作−4る。このコ
リメータ装置24によっであるビューでX線遮蔽板は右
に移動し、スライス1のスライス位置を決定し、次に別
のピコ−で高速で左に移動してスライス2のスライス位
置を1することかできるしのである。
更に、第6図は本発明の1スキヤン中に3つのスライス
位置を決定ηるコリメータ装置の実施例を示J説明図で
ある。この図において25は本発明に係るコリメーク装
置である。この場合のコリメータ装置25は意図覆るス
ライス位置(スライス1.スライス2.スライス3)を
得るにうに決められた中心線上に対向した間口部0P2
1.212とを有した円状のX線遮蔽板hIら(14成
さ1′シているもので、回転中心点A点を中心にス:i
 iyン「i+であっても充分に高速作動ができる、1
第61閑σ〕(イ)に45いて、あるビューでX線ビー
l≧/)り間1−10P11,0P12を通過Jるにう
に11)メータ装置25が高速作動りるとスライス1の
スライス位置が決定される1、次に別のビコ−−て(よ
間口0P22.0P21をX線ビームが通過りるように
:」リメータ!!装置25が高速作動りるとスライス2
σ〕スライス位置が決められる。更に別のビューてIま
開DOP12.○[)11をX線ビームが通過Jるよう
コリメータ装J 25が高速動作づるとスライス3のス
ライス位置が決定されることになる。
このJ:うなコリメータ装置にJ、って1スキ17ン中
に2つ以上の異なるスライス幅若しくはスライス位置を
決定づることかで・きる。
次にそれぞれのスライス幅若しくはスラーrスIil眉
の断層(r(を1gるための演算処j…)装置の実施例
について説明づる。
笛7 Fiil lまそjΣ9のスライスの断層像を1
1するための演算処理装置の概略的髄部構成図である。
この図において、25は前記実施例で説明したコリメー
タ装置で、この場合は3つのスライス位置を決定するコ
リメータ装置とJる。6は透過X線強度が電気信号に変
換されたX線検出器5のデータを収集するデータ収集装
置である。7はそれぞれのスライスのデータをコンピュ
ータ8の指令により、それぞれのスライス毎にデータを
分配り−るデータ分配装置である。91はスライス1の
処理装置、92はスライス2の処理装置、93はスライ
ス3の処理装置である。
このような構成における動作を以下に説明リ−る。
X線管1から発生したX線ビームはコリメータ装置25
によってファンビームとなり、被検体4を透過してX#
Q検出器5に入射する。この時、コリメータ装置25は
1スキヤンで3つの意図4るスライス位置くスライス1
.スライス2及びスライス3)が決定されるように高速
作動リ−る。その結果、被検体4の異なっIζ3つのス
ライス位置の透過X線強度はX線検出器5によって次々
と電気信号に変換された後、データ収集装@6に供給さ
れる。データ収集装置6ではスライス1.スライス2.
スライス3のデータを受(ノデータ毎に必要な信号処理
を施し、データ分配装置に供給する。
コンピュータ装置8は、コリメータ装置25がらのコリ
メータ動作及び位置情報を受けて適宜判gjiし、コリ
メータ位置の最適制御を行うと共に、コリメータ情報を
適宜データ分配装置7に供給する。
データ分配装置7では、コンピュータ装置8がらのコリ
メータ装置25のコリメータ情報をもとに、データ収集
装置6から受ける各スライスデータがどのスライスにd
3りるデータかを判断し、それぞれのスライスデータを
分配し、スライス1のデータであればスライス1の処理
装置91に、又スライス2のデータであればスライス2
の処理装置92に、更にスライス3のデータであればス
ライス3の処理装置93にそれぞれ供給りる3、それぞ
れの処理装置においては、分配・供給されたスライスデ
ータに画像処理を施して、それぞれのスライスの断層像
を得る。
このJ、うにス4:ヤン中にあっても高速作動し、複数
のスライス位置と、複数のスライス幅とが任意に決定で
きるように構成された]リメータ装置と、その後の演算
処理装置とによって1回のスキャンで複数のスライスの
1WilFi像を同時に得ることができる。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明によればX線検出器のスラ
イス方向に複数列の検出器配列を用意することなく、ス
キトン中でも充分に高速で作動することのできるコリメ
ータ装置によって、1回のスキャンでスライス位置やス
ライス幅の異なる複数の断層像を得ることができる。
イのために短時間で多数のスライス面のデータを(qる
ごどが可能であり、且つスライス幅の変化データにより
、スライス幅に生ずる部分的な特異データN〕arti
al Volume)によるCT値の異常やアーティフ
ァクト等が識別可能となる。
【図面の簡単な説明】
舘1図はty駆の1+1鷹−々貼習の翻lE貨50rl
lii21第2図は本発明の1スキヤンで2つのスライ
ス幅を得るコリメータ装置の実施例を示す説明図、第3
図は本発明の1スキヤンで2つのスライス幅を得るコリ
メータ4!!i置の他の実施例を示す説明図、第4図は
本発明の1スキトンで2つのスライス位置を得るコリメ
ータ装置の更に他の実施例を承り説明図、第5図は本発
明の1スキヤンで・2つのスライス位置を得るコリメー
タ装置の他の実施例を示づ説明図、第6図は本発明の1
スキt・ンで3つのスライス位置を得るコリメータ装置
の実施例を示す説明図、第7図は本発明の複数のスライ
スの断層像を得るスライス演算処理装(行の概略的要部
(M成因である。 21〜25・・・コリメータ装置 6・・・データ収集装置 7・・・データ分配装置8・
・・コンピュータ装置 91〜93・・・スライス処1!l!装置 ゛と 口 □ ・v −) Cリノ [侶コ 0 Cつ く 区 \才 城

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1〉X線管からのh5!身寸X線ど一ムをフン7ンビ
    ームに整形づるコリメータ装置と、この)1ンビームに
    より被検体をスキトンしX線検出器にJ:り投影データ
    を得、この投影データから再購威像をめる演算処理装置
    を有りるX線CT装置において、前記コリメータ装置は
    、ii面が円状又は板状であって、2つ以−りの間口を
    成t J:うなxm遮蔽板で形成され、前記X線筈から
    発生づるX線パルス又は前記投影データのサンプリング
    周期又は任意のビューのいずれかに同期して異なる開[
    jが選択可能に構成されたものであり、前記洟*51!
    l埋装置は、前記間[1の種類に対応した多数の演算処
    理装置と、前記聞]]に対応して投影データを前記多数
    の演算処理装置に分配するためのデ検出器により多数の
    スライス位@Cの再構成像を彎るようにしたことを特徴
    とり−るX線CT装置。 (2)前記コリメータ装置は、各スライス位回でその間
    し]の大ささが互いに異なるように形成されたことを特
    徴とする特許請求の範囲第1項記載のX t!;ACT
    装置。
JP59050730A 1984-03-16 1984-03-16 X線ct装置 Pending JPS60194938A (ja)

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JP59050730A JPS60194938A (ja) 1984-03-16 1984-03-16 X線ct装置

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JP59050730A JPS60194938A (ja) 1984-03-16 1984-03-16 X線ct装置

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JPS60194938A true JPS60194938A (ja) 1985-10-03

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ID=12866968

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JP59050730A Pending JPS60194938A (ja) 1984-03-16 1984-03-16 X線ct装置

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JP (1) JPS60194938A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01254148A (ja) * 1988-04-01 1989-10-11 Toshiba Corp X線ctスキヤナ
JP2015509419A (ja) * 2012-03-07 2015-03-30 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ X線ビーム整形器

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01254148A (ja) * 1988-04-01 1989-10-11 Toshiba Corp X線ctスキヤナ
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