JPS60194938A - X線ct装置 - Google Patents
X線ct装置Info
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- JPS60194938A JPS60194938A JP59050730A JP5073084A JPS60194938A JP S60194938 A JPS60194938 A JP S60194938A JP 59050730 A JP59050730 A JP 59050730A JP 5073084 A JP5073084 A JP 5073084A JP S60194938 A JPS60194938 A JP S60194938A
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- collimator
- collimator device
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 241000257465 Echinoidea Species 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 235000015067 sauces Nutrition 0.000 description 1
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 description 1
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 1
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
本発明は、X線(ンT装置に関し、更に詳しくは被検体
のxfi+投影を行う際のスライス幅を決定J−るコリ
メータ装置の改良に関する。
のxfi+投影を行う際のスライス幅を決定J−るコリ
メータ装置の改良に関する。
(従来技術)
従来から、ファンビームを使用りるX線CT H置にお
いては、スライス厚くスライス幅ともいう)を決定づる
コリメータ装置が’d= (Iiiされている。
いては、スライス厚くスライス幅ともいう)を決定づる
コリメータ装置が’d= (Iiiされている。
第1図はこの1重のコリメータ装置の問611の一例を
示すものである。図において、1はX線を敢01するX
線管である。2はコリメータ装置で、X線と共に、意図
するスライス幅3を決定するもので、X線管1の近くに
配置されている。5はX線検出器で、被検体4をはさん
でX線管1と対向して配置されCいる。
示すものである。図において、1はX線を敢01するX
線管である。2はコリメータ装置で、X線と共に、意図
するスライス幅3を決定するもので、X線管1の近くに
配置されている。5はX線検出器で、被検体4をはさん
でX線管1と対向して配置されCいる。
この場合において、X線管1から発生しlcX線ビーム
は、コリメーター3A置2にJ:っでX線検出器5の有
効検出面に合せて紙面と垂直な面に対しては扇状に整形
されると共に、紙面と平行な方向に対しては被検体4の
必要とするスライス幅に合せて絞りこまれた後、X線検
出器5により透過X線強度に応じた電気fR号に変換さ
れる。この時の被検体4のスライス幅はコリメータ装置
2によって制御されるが、常開固定であるか、又はスキ
ャン毎に可変となるものかのいずれかであった。
は、コリメーター3A置2にJ:っでX線検出器5の有
効検出面に合せて紙面と垂直な面に対しては扇状に整形
されると共に、紙面と平行な方向に対しては被検体4の
必要とするスライス幅に合せて絞りこまれた後、X線検
出器5により透過X線強度に応じた電気fR号に変換さ
れる。この時の被検体4のスライス幅はコリメータ装置
2によって制御されるが、常開固定であるか、又はスキ
ャン毎に可変となるものかのいずれかであった。
しかしながら、1スキ亀シン中に同時にスライス位置や
スライス幅の異なる複数の断層像を得ようとした場合に
は、スライス方向に複数列のX線検出器を配列づる複雑
な構成を必要とした。
スライス幅の異なる複数の断層像を得ようとした場合に
は、スライス方向に複数列のX線検出器を配列づる複雑
な構成を必要とした。
(発明の目的)
本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、そ
の目的は、複数列のX線検出器配列を要することなく、
1回のスキャンにおいてスライス幅の異なる複数の1l
li層像若しくはスライス位「(の異なる複数の断層像
を同時に得ることのできるX線CT装置を提供すること
にある。
の目的は、複数列のX線検出器配列を要することなく、
1回のスキャンにおいてスライス幅の異なる複数の1l
li層像若しくはスライス位「(の異なる複数の断層像
を同時に得ることのできるX線CT装置を提供すること
にある。
(発明の構成)
このような目的を達成するだめの本発明は、X線管から
の放射Xaビームをファンビームに整形Jるコリメータ
8HtRと、このファンビームにより被検体をスキャン
しX線検出器に一二り投影データを19、この投影デー
タから再構成像をめる演詐処理装置を有するX線CF装
置におい“C1前記コリメータ装置は、断面が円状又は
板状であって、2つ以上の開口を成づ−ようなX線遮蔽
板で形成され、前記X線管から発生するX線パルス又は
前記投影データのυンブリング周期又はイf意のビー1
−のいずれかに同期して異なる聞[1が選択可能にff
/+成されlζものであり、前記演鋒処理装置は、前記
開口の種類に対応した多数の演算処■ゴ!装置と、前記
開口に対応して投影ア゛−タを前記多数の演搾処理装置
に分配づるためのデータ分配装置より構成され、前記一
つのX線検出器により多数のスライス位置での再構成像
を得るようにしたことを特徴とするものである。
の放射Xaビームをファンビームに整形Jるコリメータ
8HtRと、このファンビームにより被検体をスキャン
しX線検出器に一二り投影データを19、この投影デー
タから再構成像をめる演詐処理装置を有するX線CF装
置におい“C1前記コリメータ装置は、断面が円状又は
板状であって、2つ以上の開口を成づ−ようなX線遮蔽
板で形成され、前記X線管から発生するX線パルス又は
前記投影データのυンブリング周期又はイf意のビー1
−のいずれかに同期して異なる聞[1が選択可能にff
/+成されlζものであり、前記演鋒処理装置は、前記
開口の種類に対応した多数の演算処■ゴ!装置と、前記
開口に対応して投影ア゛−タを前記多数の演搾処理装置
に分配づるためのデータ分配装置より構成され、前記一
つのX線検出器により多数のスライス位置での再構成像
を得るようにしたことを特徴とするものである。
(実施例)
以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明づる。
尚、本発明の実施例を示づ説明図において、第1図と対
応Jる部分には、同一符号を付しである。
応Jる部分には、同一符号を付しである。
第2図は1スキトン中に2つの異なるスライス幅を決定
づるコリメータ装置の実施例を示づ説明図である。図に
おいて、1はX線を発生づ−るX線管である。、21は
本発明に係るコリメータ装置で、この場合はIflli
面が円状のX線遮蔽板によって構成され、回転中心点Δ
点を中心として対向し、大きさの異なる2対の間口部を
有している。4は被検体、5はX線検出器で、被検体4
をはさんでX線管1と対向して配置されている。
づるコリメータ装置の実施例を示づ説明図である。図に
おいて、1はX線を発生づ−るX線管である。、21は
本発明に係るコリメータ装置で、この場合はIflli
面が円状のX線遮蔽板によって構成され、回転中心点Δ
点を中心として対向し、大きさの異なる2対の間口部を
有している。4は被検体、5はX線検出器で、被検体4
をはさんでX線管1と対向して配置されている。
このJ:うな構成にお()る動作を次にび2明づる。
置21によって扇状に広がるように整形され、被検体4
を透過り゛る。被検体4を透過した透過X線は、X線検
出器5に入射し、ここで投影データとして電気信号に変
換される。この時、コリメータ装置21はスキトン中で
あってもA点を中心どじで充分に高速で回転作動を行う
ことかできるように構成されている。今、第2図の(イ
)にJ3いて、あるビューでX線ビームが大きな間口部
を通過づるようにコリメータ装置21を制御づると、幅
の広いスライス幅が得られる。次に別のヒユーで]リメ
ータ装置21を90°回転してJ5けば小さな間口部を
X線ビームが通過するようにtlす、前のピコ−と異な
る幅の狭いスライス幅を(9ることができる。
を透過り゛る。被検体4を透過した透過X線は、X線検
出器5に入射し、ここで投影データとして電気信号に変
換される。この時、コリメータ装置21はスキトン中で
あってもA点を中心どじで充分に高速で回転作動を行う
ことかできるように構成されている。今、第2図の(イ
)にJ3いて、あるビューでX線ビームが大きな間口部
を通過づるようにコリメータ装置21を制御づると、幅
の広いスライス幅が得られる。次に別のヒユーで]リメ
ータ装置21を90°回転してJ5けば小さな間口部を
X線ビームが通過するようにtlす、前のピコ−と異な
る幅の狭いスライス幅を(9ることができる。
このように、1スキヤン中に」リメータ!!i ’Fi
21を回転することにより2つのUいに異なるスライ
ス幅の投影データを得ることができる。
21を回転することにより2つのUいに異なるスライ
ス幅の投影データを得ることができる。
尚、コリメータ装置21の間口変化は、X線管から発生
づるX線パルス又は投影データのリーンプリングIII
1111 高A IA Li J?’ 合7711”
i −1−IWI llTl + 、 7偉4−1れ
るが、どれに同期させるかは任意に選択可能に構成され
ている。
づるX線パルス又は投影データのリーンプリングIII
1111 高A IA Li J?’ 合7711”
i −1−IWI llTl + 、 7偉4−1れ
るが、どれに同期させるかは任意に選択可能に構成され
ている。
ここで、1スキヤン中に2つのスライス幅を決定するコ
リメータ装置は次のようにしてもよい。
リメータ装置は次のようにしてもよい。
第3図はその実施例を示ず説明図である。この図におい
て、22はこれを実現Jるコリメータ装置である。この
場合のコリメータ装置22は2枚の板状のX線遮蔽板に
よって構成されており、スキトン中であっても回転中心
点Δ点を中心として充分に高速で回転作動するように動
作する。この図の(イ)において、あるビューで意図す
るワイドなスライス幅が得られるJ:うにX線遮蔽板が
決められ、その間[1部をX線ビームが通過して、意図
づる幅広なスライス幅が得られる。次に別のビニI−で
意図する別の幅の狭いスライス幅を決める場合はX線遮
蔽板がA点を中心に180°高速回転りることによって
([1)のように■110部が狭くなり、前のビューと
異なる意図する狭いスライス幅を決定Jることができる
ものである。
て、22はこれを実現Jるコリメータ装置である。この
場合のコリメータ装置22は2枚の板状のX線遮蔽板に
よって構成されており、スキトン中であっても回転中心
点Δ点を中心として充分に高速で回転作動するように動
作する。この図の(イ)において、あるビューで意図す
るワイドなスライス幅が得られるJ:うにX線遮蔽板が
決められ、その間[1部をX線ビームが通過して、意図
づる幅広なスライス幅が得られる。次に別のビニI−で
意図する別の幅の狭いスライス幅を決める場合はX線遮
蔽板がA点を中心に180°高速回転りることによって
([1)のように■110部が狭くなり、前のビューと
異なる意図する狭いスライス幅を決定Jることができる
ものである。
次に1ス1ヤン中に2つの異なるスライス位置を得るこ
とを実現しIζコリメータ装置の実施例を第4図によっ
て説明する。
とを実現しIζコリメータ装置の実施例を第4図によっ
て説明する。
この図において23はこの場合のコリメータ装置である
。このコリメータ装置23は意図Jる2つのスライス位
置が得られるように中心線からずれた位置に1itlD
部を右づる断面が円状のX線遮蔽板から構成されている
。この時、コリメーク装置23は回転中心点A点を中心
としてスキ17ン中であっても充分に高速で回転体fi
l+ iるにうに動作するものである。今、この図の(
イ)に承りようにあるビューでスライス1のスライス位
置を得ようとすると、コリメータ装@23は高速作動し
意図するスライス位置を得る。次に別のビューでは(ロ
)に示すようにスライス2のスライス位F1を19よう
とJる場合は、A点を中心に180°高速回転作動して
、スライス中心がスライス2の中心に移動し、意図する
スライス位置を決定づることかできるもので、前のビュ
ーのスライス位置ど異なるスライス位置を17ることが
できる。
。このコリメータ装置23は意図Jる2つのスライス位
置が得られるように中心線からずれた位置に1itlD
部を右づる断面が円状のX線遮蔽板から構成されている
。この時、コリメーク装置23は回転中心点A点を中心
としてスキ17ン中であっても充分に高速で回転体fi
l+ iるにうに動作するものである。今、この図の(
イ)に承りようにあるビューでスライス1のスライス位
置を得ようとすると、コリメータ装@23は高速作動し
意図するスライス位置を得る。次に別のビューでは(ロ
)に示すようにスライス2のスライス位F1を19よう
とJる場合は、A点を中心に180°高速回転作動して
、スライス中心がスライス2の中心に移動し、意図する
スライス位置を決定づることかできるもので、前のビュ
ーのスライス位置ど異なるスライス位置を17ることが
できる。
このような1ス4:11ン中に2つの異なるスライス位
置を決定するコリメータ装置は次のようにしてもにい。
置を決定するコリメータ装置は次のようにしてもにい。
第5図はその実施例を示す説明図である。この図におい
て、24はこれを実現りるコリメータ装ばである。この
場合のコリメータ装置24は開口部をhする板状のX線
遮蔽板から構成されており、意図するスライス位置くス
ライス1及びスライス2)をjワるようにスキ17ン中
でも高速に左右に移動りるJ、うに動作−4る。このコ
リメータ装置24によっであるビューでX線遮蔽板は右
に移動し、スライス1のスライス位置を決定し、次に別
のピコ−で高速で左に移動してスライス2のスライス位
置を1することかできるしのである。
て、24はこれを実現りるコリメータ装ばである。この
場合のコリメータ装置24は開口部をhする板状のX線
遮蔽板から構成されており、意図するスライス位置くス
ライス1及びスライス2)をjワるようにスキ17ン中
でも高速に左右に移動りるJ、うに動作−4る。このコ
リメータ装置24によっであるビューでX線遮蔽板は右
に移動し、スライス1のスライス位置を決定し、次に別
のピコ−で高速で左に移動してスライス2のスライス位
置を1することかできるしのである。
更に、第6図は本発明の1スキヤン中に3つのスライス
位置を決定ηるコリメータ装置の実施例を示J説明図で
ある。この図において25は本発明に係るコリメーク装
置である。この場合のコリメータ装置25は意図覆るス
ライス位置(スライス1.スライス2.スライス3)を
得るにうに決められた中心線上に対向した間口部0P2
1.212とを有した円状のX線遮蔽板hIら(14成
さ1′シているもので、回転中心点A点を中心にス:i
iyン「i+であっても充分に高速作動ができる、1
第61閑σ〕(イ)に45いて、あるビューでX線ビー
l≧/)り間1−10P11,0P12を通過Jるにう
に11)メータ装置25が高速作動りるとスライス1の
スライス位置が決定される1、次に別のビコ−−て(よ
間口0P22.0P21をX線ビームが通過りるように
:」リメータ!!装置25が高速作動りるとスライス2
σ〕スライス位置が決められる。更に別のビューてIま
開DOP12.○[)11をX線ビームが通過Jるよう
コリメータ装J 25が高速動作づるとスライス3のス
ライス位置が決定されることになる。
位置を決定ηるコリメータ装置の実施例を示J説明図で
ある。この図において25は本発明に係るコリメーク装
置である。この場合のコリメータ装置25は意図覆るス
ライス位置(スライス1.スライス2.スライス3)を
得るにうに決められた中心線上に対向した間口部0P2
1.212とを有した円状のX線遮蔽板hIら(14成
さ1′シているもので、回転中心点A点を中心にス:i
iyン「i+であっても充分に高速作動ができる、1
第61閑σ〕(イ)に45いて、あるビューでX線ビー
l≧/)り間1−10P11,0P12を通過Jるにう
に11)メータ装置25が高速作動りるとスライス1の
スライス位置が決定される1、次に別のビコ−−て(よ
間口0P22.0P21をX線ビームが通過りるように
:」リメータ!!装置25が高速作動りるとスライス2
σ〕スライス位置が決められる。更に別のビューてIま
開DOP12.○[)11をX線ビームが通過Jるよう
コリメータ装J 25が高速動作づるとスライス3のス
ライス位置が決定されることになる。
このJ:うなコリメータ装置にJ、って1スキ17ン中
に2つ以上の異なるスライス幅若しくはスライス位置を
決定づることかで・きる。
に2つ以上の異なるスライス幅若しくはスライス位置を
決定づることかで・きる。
次にそれぞれのスライス幅若しくはスラーrスIil眉
の断層(r(を1gるための演算処j…)装置の実施例
について説明づる。
の断層(r(を1gるための演算処j…)装置の実施例
について説明づる。
笛7 Fiil lまそjΣ9のスライスの断層像を1
1するための演算処理装置の概略的髄部構成図である。
1するための演算処理装置の概略的髄部構成図である。
この図において、25は前記実施例で説明したコリメー
タ装置で、この場合は3つのスライス位置を決定するコ
リメータ装置とJる。6は透過X線強度が電気信号に変
換されたX線検出器5のデータを収集するデータ収集装
置である。7はそれぞれのスライスのデータをコンピュ
ータ8の指令により、それぞれのスライス毎にデータを
分配り−るデータ分配装置である。91はスライス1の
処理装置、92はスライス2の処理装置、93はスライ
ス3の処理装置である。
タ装置で、この場合は3つのスライス位置を決定するコ
リメータ装置とJる。6は透過X線強度が電気信号に変
換されたX線検出器5のデータを収集するデータ収集装
置である。7はそれぞれのスライスのデータをコンピュ
ータ8の指令により、それぞれのスライス毎にデータを
分配り−るデータ分配装置である。91はスライス1の
処理装置、92はスライス2の処理装置、93はスライ
ス3の処理装置である。
このような構成における動作を以下に説明リ−る。
X線管1から発生したX線ビームはコリメータ装置25
によってファンビームとなり、被検体4を透過してX#
Q検出器5に入射する。この時、コリメータ装置25は
1スキヤンで3つの意図4るスライス位置くスライス1
.スライス2及びスライス3)が決定されるように高速
作動リ−る。その結果、被検体4の異なっIζ3つのス
ライス位置の透過X線強度はX線検出器5によって次々
と電気信号に変換された後、データ収集装@6に供給さ
れる。データ収集装置6ではスライス1.スライス2.
スライス3のデータを受(ノデータ毎に必要な信号処理
を施し、データ分配装置に供給する。
によってファンビームとなり、被検体4を透過してX#
Q検出器5に入射する。この時、コリメータ装置25は
1スキヤンで3つの意図4るスライス位置くスライス1
.スライス2及びスライス3)が決定されるように高速
作動リ−る。その結果、被検体4の異なっIζ3つのス
ライス位置の透過X線強度はX線検出器5によって次々
と電気信号に変換された後、データ収集装@6に供給さ
れる。データ収集装置6ではスライス1.スライス2.
スライス3のデータを受(ノデータ毎に必要な信号処理
を施し、データ分配装置に供給する。
コンピュータ装置8は、コリメータ装置25がらのコリ
メータ動作及び位置情報を受けて適宜判gjiし、コリ
メータ位置の最適制御を行うと共に、コリメータ情報を
適宜データ分配装置7に供給する。
メータ動作及び位置情報を受けて適宜判gjiし、コリ
メータ位置の最適制御を行うと共に、コリメータ情報を
適宜データ分配装置7に供給する。
データ分配装置7では、コンピュータ装置8がらのコリ
メータ装置25のコリメータ情報をもとに、データ収集
装置6から受ける各スライスデータがどのスライスにd
3りるデータかを判断し、それぞれのスライスデータを
分配し、スライス1のデータであればスライス1の処理
装置91に、又スライス2のデータであればスライス2
の処理装置92に、更にスライス3のデータであればス
ライス3の処理装置93にそれぞれ供給りる3、それぞ
れの処理装置においては、分配・供給されたスライスデ
ータに画像処理を施して、それぞれのスライスの断層像
を得る。
メータ装置25のコリメータ情報をもとに、データ収集
装置6から受ける各スライスデータがどのスライスにd
3りるデータかを判断し、それぞれのスライスデータを
分配し、スライス1のデータであればスライス1の処理
装置91に、又スライス2のデータであればスライス2
の処理装置92に、更にスライス3のデータであればス
ライス3の処理装置93にそれぞれ供給りる3、それぞ
れの処理装置においては、分配・供給されたスライスデ
ータに画像処理を施して、それぞれのスライスの断層像
を得る。
このJ、うにス4:ヤン中にあっても高速作動し、複数
のスライス位置と、複数のスライス幅とが任意に決定で
きるように構成された]リメータ装置と、その後の演算
処理装置とによって1回のスキャンで複数のスライスの
1WilFi像を同時に得ることができる。
のスライス位置と、複数のスライス幅とが任意に決定で
きるように構成された]リメータ装置と、その後の演算
処理装置とによって1回のスキャンで複数のスライスの
1WilFi像を同時に得ることができる。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明によればX線検出器のスラ
イス方向に複数列の検出器配列を用意することなく、ス
キトン中でも充分に高速で作動することのできるコリメ
ータ装置によって、1回のスキャンでスライス位置やス
ライス幅の異なる複数の断層像を得ることができる。
イス方向に複数列の検出器配列を用意することなく、ス
キトン中でも充分に高速で作動することのできるコリメ
ータ装置によって、1回のスキャンでスライス位置やス
ライス幅の異なる複数の断層像を得ることができる。
イのために短時間で多数のスライス面のデータを(qる
ごどが可能であり、且つスライス幅の変化データにより
、スライス幅に生ずる部分的な特異データN〕arti
al Volume)によるCT値の異常やアーティフ
ァクト等が識別可能となる。
ごどが可能であり、且つスライス幅の変化データにより
、スライス幅に生ずる部分的な特異データN〕arti
al Volume)によるCT値の異常やアーティフ
ァクト等が識別可能となる。
舘1図はty駆の1+1鷹−々貼習の翻lE貨50rl
lii21第2図は本発明の1スキヤンで2つのスライ
ス幅を得るコリメータ装置の実施例を示す説明図、第3
図は本発明の1スキヤンで2つのスライス幅を得るコリ
メータ4!!i置の他の実施例を示す説明図、第4図は
本発明の1スキトンで2つのスライス位置を得るコリメ
ータ装置の更に他の実施例を承り説明図、第5図は本発
明の1スキヤンで・2つのスライス位置を得るコリメー
タ装置の他の実施例を示づ説明図、第6図は本発明の1
スキt・ンで3つのスライス位置を得るコリメータ装置
の実施例を示す説明図、第7図は本発明の複数のスライ
スの断層像を得るスライス演算処理装(行の概略的要部
(M成因である。 21〜25・・・コリメータ装置 6・・・データ収集装置 7・・・データ分配装置8・
・・コンピュータ装置 91〜93・・・スライス処1!l!装置 ゛と 口 □ ・v −) Cリノ [侶コ 0 Cつ く 区 \才 城
lii21第2図は本発明の1スキヤンで2つのスライ
ス幅を得るコリメータ装置の実施例を示す説明図、第3
図は本発明の1スキヤンで2つのスライス幅を得るコリ
メータ4!!i置の他の実施例を示す説明図、第4図は
本発明の1スキトンで2つのスライス位置を得るコリメ
ータ装置の更に他の実施例を承り説明図、第5図は本発
明の1スキヤンで・2つのスライス位置を得るコリメー
タ装置の他の実施例を示づ説明図、第6図は本発明の1
スキt・ンで3つのスライス位置を得るコリメータ装置
の実施例を示す説明図、第7図は本発明の複数のスライ
スの断層像を得るスライス演算処理装(行の概略的要部
(M成因である。 21〜25・・・コリメータ装置 6・・・データ収集装置 7・・・データ分配装置8・
・・コンピュータ装置 91〜93・・・スライス処1!l!装置 ゛と 口 □ ・v −) Cリノ [侶コ 0 Cつ く 区 \才 城
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1〉X線管からのh5!身寸X線ど一ムをフン7ンビ
ームに整形づるコリメータ装置と、この)1ンビームに
より被検体をスキトンしX線検出器にJ:り投影データ
を得、この投影データから再購威像をめる演算処理装置
を有りるX線CT装置において、前記コリメータ装置は
、ii面が円状又は板状であって、2つ以−りの間口を
成t J:うなxm遮蔽板で形成され、前記X線筈から
発生づるX線パルス又は前記投影データのサンプリング
周期又は任意のビューのいずれかに同期して異なる開[
jが選択可能に構成されたものであり、前記洟*51!
l埋装置は、前記間[1の種類に対応した多数の演算処
理装置と、前記聞]]に対応して投影データを前記多数
の演算処理装置に分配するためのデ検出器により多数の
スライス位@Cの再構成像を彎るようにしたことを特徴
とり−るX線CT装置。 (2)前記コリメータ装置は、各スライス位回でその間
し]の大ささが互いに異なるように形成されたことを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載のX t!;ACT
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59050730A JPS60194938A (ja) | 1984-03-16 | 1984-03-16 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59050730A JPS60194938A (ja) | 1984-03-16 | 1984-03-16 | X線ct装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60194938A true JPS60194938A (ja) | 1985-10-03 |
Family
ID=12866968
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59050730A Pending JPS60194938A (ja) | 1984-03-16 | 1984-03-16 | X線ct装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60194938A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01254148A (ja) * | 1988-04-01 | 1989-10-11 | Toshiba Corp | X線ctスキヤナ |
JP2015509419A (ja) * | 2012-03-07 | 2015-03-30 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | X線ビーム整形器 |
-
1984
- 1984-03-16 JP JP59050730A patent/JPS60194938A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01254148A (ja) * | 1988-04-01 | 1989-10-11 | Toshiba Corp | X線ctスキヤナ |
JP2015509419A (ja) * | 2012-03-07 | 2015-03-30 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | X線ビーム整形器 |
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