JPS60187875A - Shaping of waveform - Google Patents

Shaping of waveform

Info

Publication number
JPS60187875A
JPS60187875A JP4216684A JP4216684A JPS60187875A JP S60187875 A JPS60187875 A JP S60187875A JP 4216684 A JP4216684 A JP 4216684A JP 4216684 A JP4216684 A JP 4216684A JP S60187875 A JPS60187875 A JP S60187875A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
waveform
signals
pulse
pulse signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP4216684A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0479432B2 (en
Inventor
Toru Onodera
徹 小野寺
Kimihiko Nakamura
公彦 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Genshiryoku Jigyo KK
Nippon Atomic Industry Group Co Ltd
Original Assignee
Nippon Genshiryoku Jigyo KK
Nippon Atomic Industry Group Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Genshiryoku Jigyo KK, Nippon Atomic Industry Group Co Ltd filed Critical Nippon Genshiryoku Jigyo KK
Priority to JP4216684A priority Critical patent/JPS60187875A/en
Publication of JPS60187875A publication Critical patent/JPS60187875A/en
Publication of JPH0479432B2 publication Critical patent/JPH0479432B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/17Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
    • G01T1/171Compensation of dead-time counting losses

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Abstract

PURPOSE:To remove a pile-up by shaping an input signal to a pulse signal with a short time range while the resolution and the counting rate characteristic are both improved based on a pulse signal of an exponential waveform. CONSTITUTION:Timing signals for generation of a pulse signal with the waveform decreasing exponentially are detected with a detection circuit 34 separately and each time a setup time Ts for an exponential function simulation circuit 41 passes, a simulation signal decreasing exponentially simulating these waveforms while the peak thereof is adjusted respectively is generated. The difference is determined between input signals and the simulation signal with an arithmetic unit 33 to shape the input signals to a group of pulse signals with a short time range thereby removing the pile-up.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は放射線測定等の分野において、入力信号群をそ
れぞれ所定の時間幅のパルス信号に整形するtこめの波
形整形方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a waveform shaping method for shaping a group of input signals into pulse signals each having a predetermined time width in the field of radiation measurement and the like.

〔発明の技術的背景〕[Technical background of the invention]

第1図は本発明の波形整形方法を適用することのできる
放射線測定装置の一般的な構成を表わしたものである。
FIG. 1 shows the general configuration of a radiation measuring device to which the waveform shaping method of the present invention can be applied.

線源11から放出される放射線は、この装置の検出器1
2によって検出される。検出出力はμ■程度の微弱なも
のである。プリアンプ13はこれをmV程度に増幅する
と共に、内蔵のRC回路で波形整形を行う。リニアアン
プ(メインアンプ)14は、これを波高分析器等の測定
器15に適合した電圧レベルまで増幅するとともに波形
整形する。
The radiation emitted from the radiation source 11 is transmitted to the detector 1 of this device.
Detected by 2. The detection output is as weak as μ■. The preamplifier 13 amplifies this to about mV and also shapes the waveform using a built-in RC circuit. A linear amplifier (main amplifier) 14 amplifies this to a voltage level suitable for a measuring device 15 such as a pulse height analyzer, and also shapes the waveform.

ところでこのような放射線測定装置で強い線源の測定を
行うと、放射線の単位時間当りの計数率が高くなる。こ
の結果として、信号波形が互に重なり合うという現象が
発生ずる。この現象はパイルアップと呼ばれている。パ
イルアップが生じると、重ね合わされたパルス信号の部
分でベースラインがシフトすることになり、その波高を
正しく測定することができなくなる。このようなことか
ら、放射線の計数率に限界が生じる。
By the way, when such a radiation measuring device measures a strong radiation source, the radiation counting rate per unit time becomes high. As a result, a phenomenon occurs in which signal waveforms overlap each other. This phenomenon is called pileup. When pile-up occurs, the baseline shifts in the portion of the superimposed pulse signals, making it impossible to accurately measure the wave height. For this reason, there is a limit to the radiation counting rate.

このような問題点を解決するために、リニアアンプで波
形整形を行うことが提案されている。これには、(i)
遅延線を用いた波形整形方法と(11)微分回路を用い
た波形整形方法が存在する。
In order to solve these problems, it has been proposed to perform waveform shaping using a linear amplifier. This includes (i)
There are a waveform shaping method using a delay line and (11) a waveform shaping method using a differentiating circuit.

(1)まず前者の方法では、終端を短絡した遅延線を用
い、人力信号から遅延後の信号を差し引いてパルス信号
の整形を行う。
(1) First, in the former method, a pulse signal is shaped by subtracting the delayed signal from the human input signal using a delay line whose ends are short-circuited.

第2図はこの波形整形方法の原理を表わしたものである
。同図aに示すようなパルス信号17が発生したとする
と、これを基にして同図すのような遅延されたパルス信
号18を作成し、両者の和として同図cに示すパルス信
号19を得る。
FIG. 2 shows the principle of this waveform shaping method. Assuming that a pulse signal 17 as shown in a of the figure is generated, a delayed pulse signal 18 as shown in the figure is created based on this, and a pulse signal 19 as shown in c of the figure is created as the sum of both. obtain.

ところがこの波形整形方法では、次のような問題がある
However, this waveform shaping method has the following problems.

■パルス信号にノイズが重畳されているときは、これが
57倍に加算されることになり、S/N比が低下してし
まう。
(2) When noise is superimposed on the pulse signal, this will be added 57 times, resulting in a decrease in the S/N ratio.

■第2図ではその詳細を省略したが、例えば指数関数波
形については、ベースラインが正確に補正されずアンダ
ーシュートが発生してしまう。
(2) Although the details are omitted in FIG. 2, for example, in the case of an exponential function waveform, the baseline is not accurately corrected and undershoot occurs.

■パルス幅を任意に変えることが困難である。■It is difficult to arbitrarily change the pulse width.

(ii )次に後者の方法では、CRを用いた微分回路
で人力信号の微分を行う。
(ii) Next, in the latter method, the human signal is differentiated using a differentiation circuit using CR.

第3図はこの波形整形方法の原理を表わしたものである
。同図aに示すようなパルス信号20が発生したとする
と、これを微分し同図すのようなパルス信号21を作成
し、波形を整形する。
FIG. 3 shows the principle of this waveform shaping method. Assuming that a pulse signal 20 as shown in the figure a is generated, this is differentiated to create a pulse signal 21 as shown in the figure, and the waveform is shaped.

しかしこの波形整形方法にも次のような問題がある。However, this waveform shaping method also has the following problems.

■微分後には、ガウシアンフィルタを用いガウス波形に
整形することが一般的である。このとき、微分を行った
ことによるS/N比の低下が無視できなくなる。
■After differentiation, it is common to use a Gaussian filter to shape the waveform into a Gaussian waveform. At this time, the decrease in the S/N ratio due to the differentiation cannot be ignored.

■微分後の波形は、微分時定数をもった指数関数となる
。このため波形の“すそ”の部分が尾を引いたようにな
り、信号が完全にベースラインに戻るまでの時間が無視
できなくなる。すなわちシャープな特性を得ることがで
きない。
■The waveform after differentiation becomes an exponential function with a differentiation time constant. As a result, the "tail" portion of the waveform appears to be trailing, and the time it takes for the signal to completely return to the baseline cannot be ignored. In other words, sharp characteristics cannot be obtained.

■分解能と計数率特性(計数率の限界)が互に反する関
係にあり、目的によって一方を優先し他方を犠牲にしな
ければならない。
■Resolution and counting rate characteristics (counting rate limit) are in a contradictory relationship, and one must be prioritized and the other sacrificed depending on the purpose.

以上説明したように、従来の波形整形方法では、プリア
ンプから得られたパルス信号の精度、分解能および計数
率特性が波形整形によって損われてしまうという問題が
あった。
As explained above, the conventional waveform shaping method has a problem in that the accuracy, resolution, and count rate characteristics of the pulse signal obtained from the preamplifier are impaired by waveform shaping.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明はこのような事情に鑑み、指数関数波形のパルス
信号を基にして、分解能、計数率特性を共に向上させな
がらも、短い時間幅のパルス信号に整形し、パイルアッ
プを除去することのできる波形整形方法を提供すること
をその目的とする。
In view of these circumstances, the present invention aims to improve both resolution and count rate characteristics based on an exponential waveform pulse signal, while shaping it into a pulse signal with a short time width and eliminating pile-up. The purpose is to provide a waveform shaping method that can

〔発明の構成〕[Structure of the invention]

本発明では、指数関数的に減少する波形のパルス信号群
からなる入力信号について、これらのパルス信号の発生
タイミングをそれぞれ検出し、所定の遅延時間が経過す
るたびに、これらの波形を模擬しかつ波高をそれぞれ調
整した指数関数的に減少する模擬信号を発生させる。そ
して入力信号と模擬信号との差をとって、入力信号を短
い時間幅のパルス信号群に整形する。これにより、パイ
ルアップを除去することができる。
In the present invention, for an input signal consisting of a group of pulse signals with an exponentially decreasing waveform, the generation timing of each of these pulse signals is detected, and each time a predetermined delay time elapses, these waveforms are simulated and Generate exponentially decreasing simulated signals with respective wave heights adjusted. Then, the difference between the input signal and the simulated signal is taken, and the input signal is shaped into a group of pulse signals with a short time width. This makes it possible to eliminate pile-ups.

〔実施例〕〔Example〕

以下実施例につき本発明の詳細な説明する。 The present invention will be described in detail below with reference to Examples.

第4図は本実施例の波形g形方法を用いた波形整形装置
を表わしたものである。この装置は指数関数的に減少す
るパルス信号のみを整形する装置であり、入力端子31
には例えば第5図aに示すような信号32がプリアンプ
から人力されることになる。信号32を構成する2つの
パルス信号32、.322は時間t。の時点でパイルア
ップされている。
FIG. 4 shows a waveform shaping device using the waveform g-shape method of this embodiment. This device is a device that shapes only pulse signals that decrease exponentially, and the input terminal 31
For example, a signal 32 as shown in FIG. 5a is input manually from a preamplifier. Two pulse signals 32, . 322 is time t. It's piled up as of now.

今、第6図aに示すように最初のパルス信号321 の
波高値をA、とし、次のパルス信号322のそれをΔ2
とする。この場合、プリアンプから入力される信号32
の電圧レベルvp(l は、次の式で表わすことができ
る。
Now, as shown in FIG. 6a, the peak value of the first pulse signal 321 is set to A, and that of the next pulse signal 322 is set to Δ2.
shall be. In this case, the signal 32 input from the preamplifier
The voltage level vp(l) can be expressed by the following equation.

・・・・・(1) ここてτ。はプリアンプの放電時定数である。・・・・・・(1) Here τ. is the discharge time constant of the preamplifier.

信号32は演算器33を経て信号検出回路34に人力さ
れる。信号検出回路34は信号32を微分し、各パルス
信号32..32□の立ち」二かりに同期した検出信号
35..35□を出力する(第5図b)。信号検出回路
34はこのように微分回路で構成してもよいし、コンパ
レークで構成してもよい。
The signal 32 is manually inputted to the signal detection circuit 34 via the arithmetic unit 33. The signal detection circuit 34 differentiates the signal 32 and separates each pulse signal 32 . .. Detection signal synchronized with 32□ rising 35. .. 35□ is output (Figure 5b). The signal detection circuit 34 may be configured with a differentiating circuit as described above, or may be configured with a comparator.

検出信号351.352 はシングルンヨット・マルヂ
ハイブレーク(以下シングルショット回路という。)3
6に入力され、それぞれ信号通過最小時間△のパルス信
号37..372が作成される(第5図C)。これらパ
ルス信号371.372は2番目のシングルショット回
路38に人力され、それらの立ち下がりで立ち」二がる
パルス信号39..392が作成されろく第5図d)。
Detection signals 351 and 352 are single shot multi-high break (hereinafter referred to as single shot circuit) 3
6, and each pulse signal 37.6 has a minimum signal passing time Δ. .. 372 is created (Figure 5C). These pulse signals 371 and 372 are input to the second single shot circuit 38, and the pulse signals 39 and 372 rise and fall at the falling edges of these pulse signals 371 and 372, respectively. .. 392 is created (Figure 5 d).

これらのパルス信号39..392の時間幅は、次に説
明する指数関数模擬回路41のセットアツプ時間T5 
に設定される。
These pulse signals 39. .. The time width of 392 corresponds to the setup time T5 of the exponential function simulation circuit 41, which will be explained next.
is set to

さて、指数関数模擬回路4Iには、2段のオペアンプ4
2.43が配置されており、後段のオペアンプ43の入
力端にはRC充放電回路44が設けられている。この充
放電回路44には、前段のオペアンプ42の出力側がス
イッチ回路45を介して接続されている。充放電回路4
4のベース側の電位V r e I は、演算誤差検出
回路47によって、設定されるようになっている。この
電位■、8「は、演算器33を経て出力端子48から出
力されると仮定される指数関数の最終値に設定され、グ
ランドレベルの補正が行われるようになっている。
Now, the exponential function simulation circuit 4I has a two-stage operational amplifier 4.
2.43 is arranged, and an RC charging/discharging circuit 44 is provided at the input end of the operational amplifier 43 in the latter stage. The output side of the operational amplifier 42 at the previous stage is connected to this charge/discharge circuit 44 via a switch circuit 45 . Charge/discharge circuit 4
The base side potential V r e I of 4 is set by an arithmetic error detection circuit 47. These potentials ``1'' and 8'' are set to the final value of the exponential function that is assumed to be output from the output terminal 48 via the arithmetic unit 33, and the ground level is corrected.

ところでスイッチ回路45はパルス信号391.392
の各立ち上がりでその接点を閉じ、各立ち下がりで接点
を開(ようになっている。従って指数関数模擬回路41
は、第6図すに示すように時刻0から信号通過最小時間
△経過後に立ち上がり、最初のパルス信号321 (同
図a)を模擬したパルス信号511を作成する。このパ
ルス信号51、の波高値はパルス信号32.の同一時点
における波高の推定値A+’に設定される。時刻Oから
t。」6時間経過後には、次のパルス信号322を模擬
したパルス信号512が作成される。
By the way, the switch circuit 45 receives pulse signals 391.392.
The contact is closed at each rising edge of , and the contact is opened at each falling edge. Therefore, the exponential function simulation circuit 41
As shown in FIG. 6, the pulse signal 511 rises after the minimum signal passing time Δ has elapsed from time 0, and creates a pulse signal 511 that simulates the first pulse signal 321 (a in the figure). The peak value of this pulse signal 51 is the pulse signal 32. is set to the estimated value A+' of the wave height at the same point in time. From time O to t. '' After 6 hours have elapsed, a pulse signal 512 that simulates the next pulse signal 322 is created.

この波高値は同様にしてA2 ′となる。Similarly, this peak value becomes A2'.

このようにして指数関数模擬回路41によって作成され
た模擬信号51の電圧レベルVS(t)は、次式で表わ
すことができる。
The voltage level VS(t) of the simulated signal 51 created by the exponential function simulation circuit 41 in this manner can be expressed by the following equation.

Vs(t)− ・−・・・・(2) ここでτ、は指数関数模擬回路の放電時定数である。Vs(t)- ・-・・・(2) Here, τ is the discharge time constant of the exponential function simulation circuit.

演算器33では、プリアンプから人力された信号32と
前記した模擬信号51の差をとり、出力信号52を作成
する。出力信号52の電圧レベルを■。(1)で表わす
と、これは次式で表わされる。
The arithmetic unit 33 calculates the difference between the signal 32 input manually from the preamplifier and the simulated signal 51 described above, and creates an output signal 52. The voltage level of the output signal 52 is ■. (1), this is expressed by the following equation.

Vo (t) −Vp (t>−Vs (1:)・・・
・・・(3) 具体的には次式のようになる。
Vo (t) -Vp (t>-Vs (1:)...
...(3) Specifically, it is as follows.

Vo(t)− 使用するプリアンプがわかれば、放電時定数τ。Vo(t)- If you know the preamplifier to be used, you can find the discharge time constant τ.

をプリアンプのそれτ。にほぼ等しくすることが可能で
ある。すなわぢτ、、″、τ0のとき、(4)式は次の
ように書き改めることができる。
The preamplifier's τ. It is possible to make it approximately equal to . In other words, when τ, , ″, τ0, equation (4) can be rewritten as follows.

・・・・・・(5) 第6図Cはτs”’Iτ0のときの出力信号を表わした
ものである。人力されたパルス信号321.322 (
同図a)が短い時間幅のパルス信号52、.52□に整
形され、パイルアップが除去されたことがわかる。
......(5) Figure 6C shows the output signal when τs'''Iτ0.The manually generated pulse signal 321.322 (
In the same figure, pulse signals 52, . It can be seen that the image has been reshaped to 52□ and the pileup has been removed.

さて以上の波形整形方法では、第5図eに示すように出
力信号の通過する時間幅はそれぞれのパルス信号32.
.322について△+Ts となる。
Now, in the above waveform shaping method, as shown in FIG.
.. 322 becomes Δ+Ts.

これらの時間帯における後の部分子、について着目して
みると、パルス信号51..512の立ち上がりは必ず
しも満足できるほど急峻に行われない(第5図f)。こ
のような場合では、演算器33の演算結果は第5図gに
示すようになり、各パルス信号52..52.がわずか
ではあるが尾を引いたような波形となる。
If we pay attention to the later molecules in these time periods, we can see that the pulse signal 51. .. The rise of 512 is not necessarily satisfactorily steep (FIG. 5f). In such a case, the calculation result of the calculator 33 is as shown in FIG. 5g, and each pulse signal 52. .. 52. The waveform appears to have a tail, albeit slightly.

このような波形のくずれを補正するためには、指数関数
模擬回路41の出力側か演算器33の出力側に信号通過
ゲートを設ければよい。この信号通過ゲートは、第5図
りに示すようなゲートパルス54..542によってパ
ルス信号521.52□を通過させ、その結果として第
5図1に示すパルス信号521 ′、52□ ′を得る
ことができる。
In order to correct such waveform distortion, a signal passing gate may be provided on the output side of the exponential function simulating circuit 41 or on the output side of the arithmetic unit 33. This signal passing gate has a gate pulse 54. as shown in Figure 5. .. 542 allows the pulse signals 521 and 52□ to pass through, and as a result, the pulse signals 521' and 52□' shown in FIG. 5 can be obtained.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明によれば指数関数を模擬して
入力信号から短い幅のパルスを作成するので、パイルア
ップを除去することができ、高計数率放射線測定におい
ても、精度や分解能を損わない。
As explained above, according to the present invention, since a short width pulse is created from an input signal by simulating an exponential function, it is possible to eliminate pile-up, and even in high count rate radiation measurements, accuracy and resolution are compromised. No.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は放射線測定装置の一般的な構成を示すブロック
図、第2図は従来の波形整形方法のうち遅延線を用いた
方法を説明するための各種波形図、第3図は同じ〈従来
の波形整形方法のうち微分回路を用いた方法を説明する
ための各種波形図、第4図は本発明の波形整形方法を実
施する回路の一例を表わしたブロック図、第5図および
第6図はこの回路における波形の整形過程を説明するだ
めの各種波形図である。 32・・・・・・信号(入力信号)、 33・・・・・・演算器、 34・・・・・・信号検出回路、 36.38・・・・・・シングルショット回路、41・
・・・・・指数関数模擬回路、 51・・・・・・模擬信号、 52・・・・・出力信号。 出 願 人 日本原子力事業株式会社 代 理 人 弁理士 山 内 梅 雄 第1図 第6図 第2図 第3図 第2
Fig. 1 is a block diagram showing the general configuration of a radiation measuring device, Fig. 2 is various waveform diagrams to explain a conventional waveform shaping method using a delay line, and Fig. 3 is the same (conventional 4 is a block diagram showing an example of a circuit for carrying out the waveform shaping method of the present invention; FIGS. 5 and 6 are various waveform diagrams for explaining the waveform shaping process in this circuit. 32... Signal (input signal), 33... Arithmetic unit, 34... Signal detection circuit, 36.38... Single shot circuit, 41...
...exponential function simulation circuit, 51 ...simulation signal, 52 ...output signal. Applicant Japan Atomic Energy Corporation Representative Patent Attorney Umeo Yamauchi Figure 1 Figure 6 Figure 2 Figure 3 Figure 2

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] それぞれ指数関数的に減少する波形のノクルス信号群か
らなる人力信号について、これらのノ々ルス信号の発生
タイミングをそれぞれ検出し、所定の遅延時間が経過す
るたびに、これらの波形を模擬しかつ波高をそれぞれ調
整した指数関数的に減少する模擬信号を発生させ、前記
人力信号と模擬信号との差をとって、人力信号を短い時
間幅のノクルス信号群に整形することを特徴とする波形
整形方
For human signals consisting of a group of Noculus signals each having a waveform that decreases exponentially, the generation timing of these Noculus signals is detected, and each time a predetermined delay time elapses, these waveforms are simulated and the wave height is A waveform shaping method characterized in that the human-powered signal is shaped into a group of Noculus signals with a short time width by generating a simulated signal that decreases exponentially by adjusting each of the human-powered signals and the simulated signal, and by taking the difference between the human-powered signal and the simulated signal.
JP4216684A 1984-03-07 1984-03-07 Shaping of waveform Granted JPS60187875A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4216684A JPS60187875A (en) 1984-03-07 1984-03-07 Shaping of waveform

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4216684A JPS60187875A (en) 1984-03-07 1984-03-07 Shaping of waveform

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60187875A true JPS60187875A (en) 1985-09-25
JPH0479432B2 JPH0479432B2 (en) 1992-12-15

Family

ID=12628376

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4216684A Granted JPS60187875A (en) 1984-03-07 1984-03-07 Shaping of waveform

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60187875A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6488390A (en) * 1987-09-30 1989-04-03 Shimadzu Corp Radiation pulse processing circuit
US6789055B1 (en) * 2000-05-08 2004-09-07 Renesas Technology Corp. Timing verification checking value extracting method
JP2008002920A (en) * 2006-06-22 2008-01-10 Shimadzu Corp Digital filter for pulse measurement
JP2010204124A (en) * 2010-06-14 2010-09-16 Toshiba Corp Radiation detector

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6488390A (en) * 1987-09-30 1989-04-03 Shimadzu Corp Radiation pulse processing circuit
US6789055B1 (en) * 2000-05-08 2004-09-07 Renesas Technology Corp. Timing verification checking value extracting method
JP2008002920A (en) * 2006-06-22 2008-01-10 Shimadzu Corp Digital filter for pulse measurement
JP2010204124A (en) * 2010-06-14 2010-09-16 Toshiba Corp Radiation detector

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0479432B2 (en) 1992-12-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5487310A (en) Electromagnetic flowmeter
JPS60187875A (en) Shaping of waveform
US5182596A (en) Device for measuring surface potentials at photosensitive body and electrostatic recording apparatus using said device
JPS60187876A (en) Shaping of waveform
JP2577386B2 (en) Radiation energy spectrum measurement device
JPS60158719A (en) Waveform shaping method
JPS5615040A (en) Mark detector
SU769424A1 (en) Device for measuring electrode potentials under non-standard conditions of electrolysis
JPS60158354A (en) Spatial filter applied speed sensor
SU1188665A1 (en) Method of measuring peak power
JPH02307074A (en) Pulse width measuring system
JPS6226710B2 (en)
JPS6171381A (en) Waveform identifying circuit
SU1314282A1 (en) Meter of extraneous amplitude modulation in magnetic tape recording equipment
JPS62134861A (en) Asymmetry correcting method for jitter measurement of compact disk
SU1019350A1 (en) Single radio pulse frequency determination device
JPS63275967A (en) Semiconductor measuring apparatus
JPS60158720A (en) Waveform shaping method
JP3379160B2 (en) Beam current measuring device
SU1327325A1 (en) Device for measuring particle dimensions
JPS594667B2 (en) Center frequency measurement method for narrowband irregular signals
JP2720556B2 (en) Phase difference measurement method
JPS6290550A (en) Method for detecting peak value
JPS6018944B2 (en) Pulse detection circuit
JPH068849B2 (en) Partial discharge pulse measuring device

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term