JPS6018752A - 残留塩素測定装置 - Google Patents
残留塩素測定装置Info
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- JPS6018752A JPS6018752A JP58126130A JP12613083A JPS6018752A JP S6018752 A JPS6018752 A JP S6018752A JP 58126130 A JP58126130 A JP 58126130A JP 12613083 A JP12613083 A JP 12613083A JP S6018752 A JPS6018752 A JP S6018752A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/416—Systems
- G01N27/4166—Systems measuring a particular property of an electrolyte
- G01N27/4168—Oxidation-reduction potential, e.g. for chlorination of water
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- Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は゛電解分析形式の゛電極を用いて遊離有効塩素
（以下残留塩素と呼ぶ）を測定する残留塩素測定装置（
二関する。
（以下残留塩素と呼ぶ）を測定する残留塩素測定装置（
二関する。
残留塩素測定装置は上水の残留塩素濃度の制御および監
視に広く用いられておシ、これは検知極と対極との間（
ニ一定電圧を印加し、酸化還元反応（二ともなう電流の
測定（二よシ残留塩素濃度を測定するものである。検知
極の表面ではぜ元（二ともない残留塩素の消費が生じる
ため、安定な境膜を形成しこれを維持するための施策が
必要である。現在広範（二用いられているものとしては
、検知極を気体透過性の半透膜（隔膜）で被覆隔離し、
内部の電解液中に対極および検知極を配した隔膜電極や
、検知極を一定速度で回転させる回転電極などを用いた
ものがある。
視に広く用いられておシ、これは検知極と対極との間（
ニ一定電圧を印加し、酸化還元反応（二ともなう電流の
測定（二よシ残留塩素濃度を測定するものである。検知
極の表面ではぜ元（二ともない残留塩素の消費が生じる
ため、安定な境膜を形成しこれを維持するための施策が
必要である。現在広範（二用いられているものとしては
、検知極を気体透過性の半透膜（隔膜）で被覆隔離し、
内部の電解液中に対極および検知極を配した隔膜電極や
、検知極を一定速度で回転させる回転電極などを用いた
ものがある。
ここでは、隔膜磁極を用いたものを対象としている。こ
こで、隔膜醒極は実際Ｃ二は残留塩素濃度を測定するの
ではなく、水中の次亜塩Ｈａ度を測定している。このた
め、残留塩素濃度を得るに）＆水のｐＨ値がほぼ一定で
あるものと仮定し、そのｐＨ値を基（−シて計器の目盛
を残留塩素の値（二更正していた。一般に、水のｐＨは
大きく変動することはほとんどないが、それでもある範
囲内（二おける変動は生じる。このため、測定値もこれ
（＝つれて変化してしまい、高精度の値を得ることは困
難であった。また、ｐＦＩ値が大きく変動する異常時（
二は測定困難となってしまう。
こで、隔膜醒極は実際Ｃ二は残留塩素濃度を測定するの
ではなく、水中の次亜塩Ｈａ度を測定している。このた
め、残留塩素濃度を得るに）＆水のｐＨ値がほぼ一定で
あるものと仮定し、そのｐＨ値を基（−シて計器の目盛
を残留塩素の値（二更正していた。一般に、水のｐＨは
大きく変動することはほとんどないが、それでもある範
囲内（二おける変動は生じる。このため、測定値もこれ
（＝つれて変化してしまい、高精度の値を得ることは困
難であった。また、ｐＦＩ値が大きく変動する異常時（
二は測定困難となってしまう。
近年浄水場（二おいては塩素注入設備の更νｆおよび大
形計↓ｉｌｌの尋人が進められており、水盛ユ１工程ご
とのきめこまかな残留塩素一度の＋ｆｊｌＪ ｉｍＩ］
および浄水、場から配水さＡする上水中のトリハロメタ
ンの低減化の施策などが検討されている。
形計↓ｉｌｌの尋人が進められており、水盛ユ１工程ご
とのきめこまかな残留塩素一度の＋ｆｊｌＪ ｉｍＩ］
および浄水、場から配水さＡする上水中のトリハロメタ
ンの低減化の施策などが検討されている。
ここで残留塩素とは前述した次亜塩素酸（ｆ（ＯＣ７り
と次亜塩素酸イオン（ＯＣＺ−） との総ｉｌｌでるり
、水道法（二よれば上水の末端の給水栓で残留塩素とし
て０．Ｉ ＰＰｍ 以上存仕することを義務づけている
。
と次亜塩素酸イオン（ＯＣＺ−） との総ｉｌｌでるり
、水道法（二よれば上水の末端の給水栓で残留塩素とし
て０．Ｉ ＰＰｍ 以上存仕することを義務づけている
。
したがってＩｆｉｌ述の／４棟の施策の実施（＝当って
は■ｌ０ＣｌとＯＣｆとの殺菌力、赦化刀および安定性
などにおける特性Ｑ遅い（二層目した効率的なｊ厘系注
入が必要と考える。
は■ｌ０ＣｌとＯＣｆとの殺菌力、赦化刀および安定性
などにおける特性Ｑ遅い（二層目した効率的なｊ厘系注
入が必要と考える。
浄水場（二おける塩素注入は遡冨２段階（二おこなわれ
る。これらは取水（一対しておこなう１１Ｊ塩素注入と
、ろ過水（二対しておこなう陵塩素注入とである。前塩
素注入の役割９は取水中のアンモニア性窒素の除去、鉄
・マンガン那の１娑化およびｆｆｌ、Ｎである。しかし
、過剰な注入は有機塩素化合物と力＼トリハロメタンな
どの人体（二有害な物質を生じるため、適正な塩素注入
を実行しなければならない。
る。これらは取水（一対しておこなう１１Ｊ塩素注入と
、ろ過水（二対しておこなう陵塩素注入とである。前塩
素注入の役割９は取水中のアンモニア性窒素の除去、鉄
・マンガン那の１娑化およびｆｆｌ、Ｎである。しかし
、過剰な注入は有機塩素化合物と力＼トリハロメタンな
どの人体（二有害な物質を生じるため、適正な塩素注入
を実行しなければならない。
このため従来は凝集沈殿池の残留塩素濃度の管理目標値
を設定し、これを維持する方法がとられてきた。しかし
ながら本発明者らは残留塩素（すなわちＨＯＣｌとＯＣ
ｌ″−の和）を指標とする従来方法では測定対象として
ｘｌｔ力の弱いｏｃｅ−＊包含しているため殺菌効果の
把握がしにくいということおよび殺菌効果を維持するた
め（二残留塩素濃度の管理目、漂値を大きく設定し結果
的（二有機塩素化合物とかトリハロメタンなどの有害物
質の増加を生じているということ（＝気付いた。したが
って、必要着の塩素注入を実行し７てかつ有害物質の発
生を抑制するためには殺菌力の強いＨＯＣＡを指標（二
加える新規な前塩素注入の方法が望まれる。また後塩素
注入の役割シは、上水配水・８内およびポンプ場などで
生じる、残留塩素の減衰（二対して末端の給水栓の残留
塩素濃度を０．１ ｐｐｍ ｉ−維持することである。
を設定し、これを維持する方法がとられてきた。しかし
ながら本発明者らは残留塩素（すなわちＨＯＣｌとＯＣ
ｌ″−の和）を指標とする従来方法では測定対象として
ｘｌｔ力の弱いｏｃｅ−＊包含しているため殺菌効果の
把握がしにくいということおよび殺菌効果を維持するた
め（二残留塩素濃度の管理目、漂値を大きく設定し結果
的（二有機塩素化合物とかトリハロメタンなどの有害物
質の増加を生じているということ（＝気付いた。したが
って、必要着の塩素注入を実行し７てかつ有害物質の発
生を抑制するためには殺菌力の強いＨＯＣＡを指標（二
加える新規な前塩素注入の方法が望まれる。また後塩素
注入の役割シは、上水配水・８内およびポンプ場などで
生じる、残留塩素の減衰（二対して末端の給水栓の残留
塩素濃度を０．１ ｐｐｍ ｉ−維持することである。
しかし、過剰の注入は塩素臭を伴い、飲料水としての質
の低下をもたらすため、前塩素注入と同様（二適正な塩
素注入を実行しなければならない。従来方法（二よる後
塩素注入の管理は、配水池の残留塩素濃度を管理目標値
に維持するものであり、測定対象として不安定なＨＯＣ
ｌを包含していた。このため、配水管内での残留塩素の
減衰を別置的かつ正確（＝把握することが困難であり、
残留塩素濃度の低下事故を防止する観点から、過剰気味
の塩素注入が実行されてきた。本発明者らは安定性の高
いＯＣｌ″″を指標（＝加えることにより、配水管内で
の残留塩素の減秋盪の予測精度が向上し、適正な後塩素
注入が実行されるものと考える。
の低下をもたらすため、前塩素注入と同様（二適正な塩
素注入を実行しなければならない。従来方法（二よる後
塩素注入の管理は、配水池の残留塩素濃度を管理目標値
に維持するものであり、測定対象として不安定なＨＯＣ
ｌを包含していた。このため、配水管内での残留塩素の
減衰を別置的かつ正確（＝把握することが困難であり、
残留塩素濃度の低下事故を防止する観点から、過剰気味
の塩素注入が実行されてきた。本発明者らは安定性の高
いＯＣｌ″″を指標（＝加えることにより、配水管内で
の残留塩素の減秋盪の予測精度が向上し、適正な後塩素
注入が実行されるものと考える。
以上の説明から浄水場（−おける塩素注入の管理および
上水配水管内の残留塩素の・Ｕ埋にはＨＯＣ７およびＯ
ＣＩ″″を個別に測定しうる残留塩素測定装置が望まれ
る。
上水配水管内の残留塩素の・Ｕ埋にはＨＯＣ７およびＯ
ＣＩ″″を個別に測定しうる残留塩素測定装置が望まれ
る。
本発明の目的は、高ｎ度の残留塩素濃度を測定し、かつ
ＨＯＣＪおよびＯＣｌ″″全個別測定し得、しかも水中
のｐｆ（値の急激な変化シニよっても誤差を生じること
のない残留塩素測定装置を提供することである。
ＨＯＣＪおよびＯＣｌ″″全個別測定し得、しかも水中
のｐｆ（値の急激な変化シニよっても誤差を生じること
のない残留塩素測定装置を提供することである。
本発明（−よる残留塩素測定装置は、筒体内（二階膜電
極と攪拌器とをそれらの感応部および撹拌翼が間隔を保
って互いに対向する如く配置しかつ上記間隔の周面とな
る筒外周面（二回目を設りた検出器と、内部（二ＰＨ電
極を有しかつその感応面より軸方向（二突出した位置に
開口を設けた防波管とを備え、上記検出器と防波管とを
、前記隔膜電極およびｐＨ覗極の各感応面が水中（二浸
漬する如く設置しており、前記防波管により検出器とｐ
Ｈ４極との時定数を合せてｐｆＩ急変時の過渡特性を防
止したものである。
極と攪拌器とをそれらの感応部および撹拌翼が間隔を保
って互いに対向する如く配置しかつ上記間隔の周面とな
る筒外周面（二回目を設りた検出器と、内部（二ＰＨ電
極を有しかつその感応面より軸方向（二突出した位置に
開口を設けた防波管とを備え、上記検出器と防波管とを
、前記隔膜電極およびｐＨ覗極の各感応面が水中（二浸
漬する如く設置しており、前記防波管により検出器とｐ
Ｈ４極との時定数を合せてｐｆＩ急変時の過渡特性を防
止したものである。
第１図（１不発明（二よる残留塩素測定装置の一実施例
を示す。検出器１およびｐｉ（４極２を、測定槽３（二
着脱自在Ｃ；挿入配置して検出部４を形成する。
を示す。検出器１およびｐｉ（４極２を、測定槽３（二
着脱自在Ｃ；挿入配置して検出部４を形成する。
５は試料水面である。検出器１の出力Ｘ１を入力する変
換器６、ｐＨ電極２の出力ｐＨ＋を入力する変換器７、
この変換器７の出力ｐＨを入力する一＄１の演算器８お
よびこの第ｌの演算器８の出力Ｇ （ｐＨ）と変換器６
の出力Ｘとを入力する第２の演算器９などで演算部１０
を形成する。指示部１１をま第２のυ（算器９の出力全
表示する指示計１２からなる。
換器６、ｐＨ電極２の出力ｐＨ＋を入力する変換器７、
この変換器７の出力ｐＨを入力する一＄１の演算器８お
よびこの第ｌの演算器８の出力Ｇ （ｐＨ）と変換器６
の出力Ｘとを入力する第２の演算器９などで演算部１０
を形成する。指示部１１をま第２のυ（算器９の出力全
表示する指示計１２からなる。
本発明の検出部４の一笑施例全第２図を用いて説明する
。検出器１は′ｒｉｉｉ１４−茄（二１）１１１健−使
２１および攪拌器２２を上下に対同配置したものご、隔
ｊ換電極２１の感応同温と、」祉拌器２２との間の自体
２００μｌｉ囲（二は、開口部２４ヲ設ける。２５は支
持体で、その丸穴２６（５顯吊器ｌを挿入して７ｄ脱自
任（二固定−ｊ−る。
。検出器１は′ｒｉｉｉ１４−茄（二１）１１１健−使
２１および攪拌器２２を上下に対同配置したものご、隔
ｊ換電極２１の感応同温と、」祉拌器２２との間の自体
２００μｌｉ囲（二は、開口部２４ヲ設ける。２５は支
持体で、その丸穴２６（５顯吊器ｌを挿入して７ｄ脱自
任（二固定−ｊ−る。
まだもう１つの丸穴２７には、下端ｉ１＋ ２８が、検
出器ＬＬ／）開口部列とほぼ同レベルになる防波管２９
を挿入固層する。前ｉ己ｐＨ嘔他２はこの防波管２９内
く二着脱自在（二固定する。ｐＨ′嘔極２の固定に際し
ては、その感応面間を水面用と防波管２９の端部２８と
の間の任意の位置（二配直可能Ｃ二しておく。検出器１
のリード７３２ａ ′＃？よびｐｌＩ電４ａ ２のリー
ドｄ ３２ｂは共通のリード、尿３２として支持体２５
のカバー３３に設けた貫通孔３４を通し第１図の演算、
１ｆｌＳ］０に接続する。
出器ＬＬ／）開口部列とほぼ同レベルになる防波管２９
を挿入固層する。前ｉ己ｐＨ嘔他２はこの防波管２９内
く二着脱自在（二固定する。ｐＨ′嘔極２の固定に際し
ては、その感応面間を水面用と防波管２９の端部２８と
の間の任意の位置（二配直可能Ｃ二しておく。検出器１
のリード７３２ａ ′＃？よびｐｌＩ電４ａ ２のリー
ドｄ ３２ｂは共通のリード、尿３２として支持体２５
のカバー３３に設けた貫通孔３４を通し第１図の演算、
１ｆｌＳ］０に接続する。
前記の検出器１、ｐＨ市他極２よびカバー３３などを配
設した支持体５を側面（二試料水の出口部とこれよりも
わずかに上位試料水の入口３６を配した測定槽３７にポ
ル）３８を用いて固定して検出一部４を構成する。
設した支持体５を側面（二試料水の出口部とこれよりも
わずかに上位試料水の入口３６を配した測定槽３７にポ
ル）３８を用いて固定して検出一部４を構成する。
次に本発明の詳細な説明する。水中（二おいて残留塩素
はＨＯＣｌおよび０Ｃ１−の形で存在してお９式（１）
の解離平衡にある。ＫはｐｙＩ離定数である。
はＨＯＣｌおよび０Ｃ１−の形で存在してお９式（１）
の解離平衡にある。ＫはｐｙＩ離定数である。
式（１）の〔イ〕は水素・イオン濃度であり試料水のｐ
ｆ（を用いて１０ と衆わせる。（ＨＯＣＡ）は次亜塩
素酸磯度〔０Ｃｌ−〕は次亜塩素ばイオン濃度である。
ｆ（を用いて１０ と衆わせる。（ＨＯＣＡ）は次亜塩
素酸磯度〔０Ｃｌ−〕は次亜塩素ばイオン濃度である。
また残留塩素とは（ＨＯＣ１）と〔ＯＣｌ′−〕との和
でろり、（ＨＯＣＩＪおよびｐＨを用いて式（２）で表
わせる。
でろり、（ＨＯＣＩＪおよびｐＨを用いて式（２）で表
わせる。
残留塩！ ＝ （ＨＯｃｚ） ＋ （ｏｃｅ−）＝ （
ＨＯＣｌ）・（１＋１ｏｐＨ−Ｋ） 式（２）隔膜電極
は、前述のよう（二［ＨＯＣｌ） −二感応するもので
あシ、（ｏｃａ”−）は隔膜を透過しないため感応しな
い。したがって隔膜電極の測定値Ｘは［ＨＯＣ＃Ｊとい
える。残留塩素をＸ。、（ｏｃｚ）をＹ、１ ＋ １０
”’・Ｋｆ、Ｇ（ｐｌ−Ｉ）とおくとこれらはＸおよび
ｐＨを用いて式（３）のように衣わぜる。
ＨＯＣｌ）・（１＋１ｏｐＨ−Ｋ） 式（２）隔膜電極
は、前述のよう（二［ＨＯＣｌ） −二感応するもので
あシ、（ｏｃａ”−）は隔膜を透過しないため感応しな
い。したがって隔膜電極の測定値Ｘは［ＨＯＣ＃Ｊとい
える。残留塩素をＸ。、（ｏｃｚ）をＹ、１ ＋ １０
”’・Ｋｆ、Ｇ（ｐｌ−Ｉ）とおくとこれらはＸおよび
ｐＨを用いて式（３）のように衣わぜる。
以上（二よりｐｉ（這、富と隔膜′磁極とを用いると、
残留塩素、（ＨＯＣｌ）および（ｏｃｌ−）を個々（−
求めることが可自七（−なる。
残留塩素、（ＨＯＣｌ）および（ｏｃｌ−）を個々（−
求めることが可自七（−なる。
上記の原理は第１図（−示した残留塩素測定装置６二お
いて次のよう（二作用する。検出器１の出力Ｘ１は通常
数マイクロアンペアのレベルであり変換器６において公
知の電流パ屯圧変換、インピーダンス変換などを実行し
所定レベルし１藍した測定出力Ｘを得る。出力Ｘは（Ｈ
ＯＣｌ）である。ｐＨ４７２（二おいても出力Ｐｕｔに
対して変換器７を用いてインピーダンス変換を実行し所
定レベル（＝調整した測定出力ｐＨを得る。第１の演算
器８では入力ｐＨに対してＧ （ｐＩ（）なる演算を実
行する。第２の演算器９では変換器６の出力Ｘおよび第
１の演算器８の出力Ｇ（ｐＨ）を用いて式（３）のＸＯ
，Ｘ、Ｙを個別に出力し、指示計１２１＝表示する。
いて次のよう（二作用する。検出器１の出力Ｘ１は通常
数マイクロアンペアのレベルであり変換器６において公
知の電流パ屯圧変換、インピーダンス変換などを実行し
所定レベルし１藍した測定出力Ｘを得る。出力Ｘは（Ｈ
ＯＣｌ）である。ｐＨ４７２（二おいても出力Ｐｕｔに
対して変換器７を用いてインピーダンス変換を実行し所
定レベル（＝調整した測定出力ｐＨを得る。第１の演算
器８では入力ｐＨに対してＧ （ｐＩ（）なる演算を実
行する。第２の演算器９では変換器６の出力Ｘおよび第
１の演算器８の出力Ｇ（ｐＨ）を用いて式（３）のＸＯ
，Ｘ、Ｙを個別に出力し、指示計１２１＝表示する。
以上残留塩素測定装置の作用の概要を述べた。
実際の試料（二おいては試料のｐｉ（が急変する場合が
あシ、このような時シニ人力Ｘ１と入力ｐＬとの間に時
間的なずれが生じると第２の演算器９では多大な演算誤
差を生じる。したがって人力Ｘ１と入力ｐＨ１との間の
時間的ずれの防止、すなわち検出器１とｐｉ（磁極２と
の画定の時定数を一致しておく必要がある。
あシ、このような時シニ人力Ｘ１と入力ｐＬとの間に時
間的なずれが生じると第２の演算器９では多大な演算誤
差を生じる。したがって人力Ｘ１と入力ｐＨ１との間の
時間的ずれの防止、すなわち検出器１とｐｉ（磁極２と
の画定の時定数を一致しておく必要がある。
本発明の作用を第２図（二よって説明する。検出器１に
おいては攪拌器２２の駆ＢＩＪ＋二ともない開口部列を
出入する試料水流３９が生じる。この際攪拌器ｎを筒体
回内に収納し同定配置しているため、感応同温では時間
変化することなくかつ十分大きい試料水流３９を得て第
１図のＸｌを出力する。ここで検出器１の測定の時定数
をτ、とする。次（二ｐＨ市極２Ｃ二おいては端部あで
、試料水流３９、ｕｉ１口部２４と端部あとの距離、測
定槽３７の形状および試料水の入口３６からの試料水の
流入世なと（二よって一義的（二定まる試料水流４０が
生じるこの試料水流４０（−よって防波管２９内の感応
面３０と端部あとの間の試料水が時定数τ２で置換する
。また感応面３００個有の時定数をτ３とするとｐｉ（
測定の時定数はτ２＋τ３である。τ１およびτ、は、
感応同温および感応向３０の特性（−よって定まり、
調整できなく、両者の関係はτ１〉τ３である。τ２は
概略式（４）で記述できる。
おいては攪拌器２２の駆ＢＩＪ＋二ともない開口部列を
出入する試料水流３９が生じる。この際攪拌器ｎを筒体
回内に収納し同定配置しているため、感応同温では時間
変化することなくかつ十分大きい試料水流３９を得て第
１図のＸｌを出力する。ここで検出器１の測定の時定数
をτ、とする。次（二ｐＨ市極２Ｃ二おいては端部あで
、試料水流３９、ｕｉ１口部２４と端部あとの距離、測
定槽３７の形状および試料水の入口３６からの試料水の
流入世なと（二よって一義的（二定まる試料水流４０が
生じるこの試料水流４０（−よって防波管２９内の感応
面３０と端部あとの間の試料水が時定数τ２で置換する
。また感応面３００個有の時定数をτ３とするとｐｉ（
測定の時定数はτ２＋τ３である。τ１およびτ、は、
感応同温および感応向３０の特性（−よって定まり、
調整できなく、両者の関係はτ１〉τ３である。τ２は
概略式（４）で記述できる。
ここでＦは試料水流４０の流速、■は感応面３０と端部
あとの間の防波管２９内の庫槍、Ｃは定数である。
あとの間の防波管２９内の庫槍、Ｃは定数である。
式（４）はＶの選定（−よシτ２が調整可能であること
を示している。したがって■をで・（τ１−τ３）（二
設定しておくと検出器１の時定数とｐＨ測定の時定数が
一致する。
を示している。したがって■をで・（τ１−τ３）（二
設定しておくと検出器１の時定数とｐＨ測定の時定数が
一致する。
試料水の入口３６からの試料水の供給は節水および試料
水流４０への外乱の防止の観点から小流量（二設定する
ことが望ましい。
水流４０への外乱の防止の観点から小流量（二設定する
ことが望ましい。
本発明は第２図の実施例に限定されるものではなく次の
ような実施形態が可能である。
ような実施形態が可能である。
（１）第２図の防波管２９は直管であるが、第３図のよ
う）二、支持体２５の開口２７に、曲部５０を持ちかつ
端部５１を開口したＬ字状の防波管５２を下側から挿入
固着し、６リング５３を介してＩ）Ｈ＝極２を上側から
挿入する。このような防波管５２は置換の時定数を大き
くする場合（二有効である。
う）二、支持体２５の開口２７に、曲部５０を持ちかつ
端部５１を開口したＬ字状の防波管５２を下側から挿入
固着し、６リング５３を介してＩ）Ｈ＝極２を上側から
挿入する。このような防波管５２は置換の時定数を大き
くする場合（二有効である。
（２）防波管２９の水面３１下での開口を端部２８（一
般けているが側面（＝切υ込みまたは穴を設けて開口し
てても同様の結果を得る。
般けているが側面（＝切υ込みまたは穴を設けて開口し
てても同様の結果を得る。
以上述べた本発明（二よると試料水のｐＨ急変時（二も
演算誤差を生じることなくかつ広範囲のｐＨに対して高
精度で遊離有効塩素、次亜塩素酸および次亜塩素酸イオ
ンのＭＵを１−々（二測定し得る残留塩素測定装置が提
供される。
演算誤差を生じることなくかつ広範囲のｐＨに対して高
精度で遊離有効塩素、次亜塩素酸および次亜塩素酸イオ
ンのＭＵを１−々（二測定し得る残留塩素測定装置が提
供される。
第１図は本発明（二よる残留塩素測定装置の一英施例を
示す構成図、第２図は本発明（二もとづく検出部の構成
を示す断面図、第３図は本発明（二剤いる防波管の他の
構成例を示す断面図である。 １・・・・・・・・・検出器 ２・・・・・・・・・ｐＨ″市極 ３．３７・・・測定槽 ４・・・・・・・・・検出部 ６．７・・・変換器 ８．９・・・演算器 加・・・・・・・・・尚庫 ２１・・・・・・・・・隔ｊ摸磁極 四・・・・・・・・・攪拌器 乙、３０・・・感応面 Ｕ・・・・・・・・・開口 ２９．５２・・・防波管 ３９．４０・・・試料水流 （７３１７） 代理人 弁理士 則 近 憲 佑（ほか
１名）第１図 第２図 第３図
示す構成図、第２図は本発明（二もとづく検出部の構成
を示す断面図、第３図は本発明（二剤いる防波管の他の
構成例を示す断面図である。 １・・・・・・・・・検出器 ２・・・・・・・・・ｐＨ″市極 ３．３７・・・測定槽 ４・・・・・・・・・検出部 ６．７・・・変換器 ８．９・・・演算器 加・・・・・・・・・尚庫 ２１・・・・・・・・・隔ｊ摸磁極 四・・・・・・・・・攪拌器 乙、３０・・・感応面 Ｕ・・・・・・・・・開口 ２９．５２・・・防波管 ３９．４０・・・試料水流 （７３１７） 代理人 弁理士 則 近 憲 佑（ほか
１名）第１図 第２図 第３図
Claims (1)
- 筒体内（二噛膜″嘔極と攪拌器とをそれらの感応部およ
び攪拌翼が間隔を保って互い（二対向する如く配置しか
つ上記間隔の周面となる筒体局面（二開口を設けた検出
器と、内部にｐＨ４極を有しかつその感応面よｐ軸方向
ζ二突出した位置に開口を設けた防波管とを備え、上記
検出器と防波管とを前記隔［電極およびｐＨ屯電極′Ｉ
！ｒ感応面が水中（二浸漬する如く設置した残留塩素測
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58126130A JPS6018752A (ja) | 1983-07-13 | 1983-07-13 | 残留塩素測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58126130A JPS6018752A (ja) | 1983-07-13 | 1983-07-13 | 残留塩素測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6018752A true JPS6018752A (ja) | 1985-01-30 |
Family
ID=14927404
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58126130A Pending JPS6018752A (ja) | 1983-07-13 | 1983-07-13 | 残留塩素測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6018752A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009027210A1 (de) * | 2007-08-30 | 2009-03-05 | Endress+Hauser Conducta Gesellschaft Für Mess- Und Regeltechnik Mbh+Co. Kg | Elektrochemischer sensor |
-
1983
- 1983-07-13 JP JP58126130A patent/JPS6018752A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009027210A1 (de) * | 2007-08-30 | 2009-03-05 | Endress+Hauser Conducta Gesellschaft Für Mess- Und Regeltechnik Mbh+Co. Kg | Elektrochemischer sensor |
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