JPS60183918A - Power source malfunction detector - Google Patents
Power source malfunction detectorInfo
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- JPS60183918A JPS60183918A JP3936684A JP3936684A JPS60183918A JP S60183918 A JPS60183918 A JP S60183918A JP 3936684 A JP3936684 A JP 3936684A JP 3936684 A JP3936684 A JP 3936684A JP S60183918 A JPS60183918 A JP S60183918A
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- input
- signal
- sampling
- converter
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】 この発明は電源異常検出装置に関するものである。[Detailed description of the invention] The present invention relates to a power supply abnormality detection device.
負荷に供給される交流入力が一時的に低下またはしゃ断
した場合、あるいは過電圧となった場合に負荷(各種電
気機器)が誤動作するおそれが高い。このような誤動作
を防止する装置の一環として電源異常検出装置がある。If the AC input supplied to the load is temporarily reduced or cut off, or if an overvoltage occurs, there is a high possibility that the load (various electrical equipment) will malfunction. There is a power supply abnormality detection device as part of the device for preventing such malfunctions.
電源異常検出装置の従来例で簡単なものに第1図に示す
ものがある。これはACリレーYンYによりAC入力の
有無を検出するもので、構成が簡単ではあるが、検出時
間が20〜30 m5ecと長いという欠点がある。A simple conventional example of a power supply abnormality detection device is shown in FIG. This detects the presence or absence of AC input using an AC relay Y-in-Y, and although it has a simple configuration, it has the disadvantage that the detection time is long, 20 to 30 m5ec.
別の従来例として第2図にボずものがある。T rは絶
縁トランス、Dは整流器、R,、R2は抵抗、Cは平l
Wコンデンザ、OPはオペアンプ、Eは基準電圧諒であ
る。これはAC入力を整流平消・してオペアンプ01l
(これに代えトランジスタとツェナダ−(;t −F−
の組合−ロのものもある)により直流レベルで電圧低下
を検出するものである。ずなわら、AC入力による整流
電圧が基準電圧よりも低ドしたときに(、(、出信℃−
を出力する。しがし、抵抗R2とコンデンサCとで決ま
る時定数12Xc)による時間遅れが生し、通常、検出
時間は10〜20rns+、B(と艮いという欠点があ
る。Another conventional example is the bozumono shown in FIG. Tr is an isolation transformer, D is a rectifier, R,, R2 are resistors, and C is a flat
W is a capacitor, OP is an operational amplifier, and E is a reference voltage. This is an operational amplifier 01l that rectifies and smoothes the AC input.
(Instead of this, a transistor and Zenada (;t -F-
(There are also combinations of Of course, when the rectified voltage due to AC input becomes lower than the reference voltage (, (, output °C -
Output. However, there is a drawback that a time delay occurs due to the time constant 12Xc determined by the resistor R2 and the capacitor C, and the detection time is normally 10 to 20 rns+.
この発明の目的は、上記従来欠点を解消して交流入力の
低下またはしゃ断あるいは過電圧、過電流を極く短時間
のうちに検出できる応答性のすくれた電源界雷検出装置
を提供することである。An object of the present invention is to provide a power field lightning detection device with low responsiveness that can eliminate the above-mentioned conventional drawbacks and detect drop or cutoff of AC input, overvoltage, or overcurrent in a very short time. be.
この発明の構成を第3図に基いて説明する。1は交流入
力に結合するA/Dコンバータ、2はマイクロコンピュ
ータにおける中央処理装置(マイクロプロセノザ:CP
U)で、これには所定時間to間隔でサンプリング信号
を発信する手段3と、前記所定時間間隔で定められた個
々の時刻に対応する基準値VSI、Vs2・・・・・・
を記憶したテーブル4と、サンプリング信号によりA/
Dコンバータ1からデータ信号を読込む手段5と、サン
プリング信号に、Lりう−−ブル4から基準値νs1.
Vs2・・・・・・を読込む手段6と、前記の読込まれ
たデータ信号の値Vllと基準値VSI(Jば整数)と
を比較してV+ y SVs Jのときに(過電圧検出
のときにはVsJ<VlJとする。)入力低下検出信号
(しゃ断検出信月もこれに含まれる)を出力する手段7
とを備えている。The configuration of this invention will be explained based on FIG. 1 is an A/D converter coupled to AC input, 2 is a central processing unit (microprocessor: CP) in a microcomputer.
U), which includes means 3 for transmitting sampling signals at predetermined time intervals, and reference values VSI, Vs2, etc. corresponding to individual times determined at said predetermined time intervals.
A/
A means 5 for reading a data signal from the D converter 1 and a reference value νs1.
The means 6 for reading Vs2... compares the value Vll of the read data signal with the reference value VSI (J is an integer) and when V+ y SVs J (when overvoltage is detected) VsJ<VlJ.) Means 7 for outputting an input drop detection signal (this also includes cutoff detection signal)
It is equipped with
NFは外部からのザージや高周波ノイスなどを除去する
ノイズフィルタ、TrはノイズフィルタNFの出力端に
接続した絶縁トランスで、これにより入力電源と検出回
路とを絶縁している。D、DはトランスTrの二次巻線
に接続された整流器(ダイオード)であり、これによっ
て全波整流を行う。PCは発光ダイオードI) Dとフ
ォトトランジスタPTからなるフォトカプラである。フ
ォトカプラpcからの出力(入力低下検出信号)は負荷
本体に伝達される。フォトカプラPCに代えてトランジ
スタその他の適当な伝達手段を用いることもある。′1
゛は・インターバルタイマで、−= 定周期L aごと
にCPU2に割込みを入力する。NF is a noise filter that removes external surges and high-frequency noise, and Tr is an isolation transformer connected to the output end of the noise filter NF, thereby insulating the input power source and the detection circuit. D and D are rectifiers (diodes) connected to the secondary winding of the transformer Tr, thereby performing full-wave rectification. PC is a photocoupler consisting of a light emitting diode I)D and a phototransistor PT. The output (input drop detection signal) from the photocoupler PC is transmitted to the load body. A transistor or other suitable transmission means may be used instead of the photocoupler PC. '1
゛ is an interval timer, which inputs an interrupt to the CPU 2 at every -= fixed period La.
CPU2とΔ/Dコンバータ1とばスタート信号線8、
アドレスバス9、データバス10で結線されており、C
PU2からA/Dコンバータ1ヘスタート信号、アドレ
ス信号が出力され、A /’D右
コンバータ1からCPU2ヘデ一タ信号が出力さいる。CPU2 and Δ/D converter 1 and start signal line 8,
It is connected by an address bus 9 and a data bus 10.
A start signal and an address signal are output from the PU 2 to the A/D converter 1, and a data signal is output from the A/'D right converter 1 to the CPU 2.
第5図は電圧比較の説明図であり、比較手段7で比較さ
れるのはデータ信号のディジタル値VIJと基準値Vs
J (J =1. 2.・・・・・・)であり、サン
プリング周期tQは約0.5〜1.m3(B(である。FIG. 5 is an explanatory diagram of voltage comparison, and the comparison means 7 compares the digital value VIJ of the data signal and the reference value Vs.
J (J = 1.2...), and the sampling period tQ is approximately 0.5 to 1. m3(B(.
電源周波数5011Z、L O= l m5ecの場合
、位相角0〜180°の範囲が10等分される。この場
合のCPU2におりるフローチャートを第6図に示す。When the power supply frequency is 5011Z and L O = l m5ec, the range of phase angles from 0 to 180° is divided into 10 equal parts. A flowchart for the CPU 2 in this case is shown in FIG.
このフローチャートでは、Vl+≦■SJが3回連続し
たときに入力低下検出動作をするようにしである。イン
ターバルタイマTによりサンプリング周期1oごとにC
PU2に割込みが入り、これによりプログラムがスター
トする。In this flowchart, the input drop detection operation is performed when Vl+≦■SJ occurs three times in a row. C every sampling period 1o by interval timer T
An interrupt is generated in PU2, which starts the program.
ステップ■でA/Dコンバータ1にスター1信号を送る
。ステップ■の変換終了をまってステップ■でへ/Dコ
ンバータ1からデータ信号を読込み、ステップ■でサン
プリングカウンタをト1する。ステップ■で基!(ζ値
■oとデータ信月の値V。Send the star 1 signal to A/D converter 1 in step ①. Waiting for the completion of the conversion in step (2), the data signal is read from the /D converter 1 in step (2), and the sampling counter is incremented by 1 in step (2). Base on step ■! (ζ value ■o and data Shingetsu value V.
とを比較する。Compare with.
v、<Voであれば、ステップ■に移り、サンプリング
カウンタが1.≧10かどうかを判断する。vl<vo
でかつむ1≧10であるとき、正弦波の位相が0°また
ば18o°とみなし、ステップ■においてサンプリング
カウンタをt、 =0にする。If v,<Vo, the process moves to step (2), and the sampling counter is 1.Vo. Determine whether ≧10. vl<vo
When 1≧10, it is assumed that the phase of the sine wave is 0° or 18°, and the sampling counter is set to t, =0 in step (3).
ジ′ンプリングカウンタがtl≧loてあっても、Vl
<Voとなっていなげれば、vl<voになるまでまっ
てシーンプリングカウンタをL ]−Qにする。それま
では検出不能とする。カウンタがLI≧10となること
は殆どないが、波形の乱れなどで万−化した場合には、
このような方法で回避する。Even if the sampling counter is tl≧lo, Vl
If <Vo continues, wait until vl<vo and set the scene pulling counter to L]-Q. Until then, it will be undetectable. The counter rarely becomes LI≧10, but if it changes due to waveform disturbance etc.
Avoid this method.
第5図の右半分のようにカウンタがtl=10に達しな
いうらにV[<Voとなった場合には正規の電圧が出て
いないものとみなし、サンプリングカウンタはそのまま
とする。If the counter does not reach tl=10 and becomes V[<Vo, as shown in the right half of FIG. 5, it is assumed that a normal voltage is not being output, and the sampling counter is left as is.
さて、V、<VoがNOの場合、またばVl<VoがY
ESでかつt1≧ioがNoの場合にはステップ■に移
る。Now, if V<Vo is NO, then Vl<Vo is Y
If ES and t1≧io is No, the process moves to step (2).
ステップ■で対応する時刻の基準値Vsを読込み、ステ
ップ■において両者をV、>V、のように比較する。Y
ESであればステップ[相]に移り、そこでVl>VS
が3回連続するかどうかを判断し、NOであれば終了し
再スタートするが、YIESであれば、ステップOで低
電圧検出出力をオフにする。In step (2), the reference value Vs of the corresponding time is read, and in step (2), both are compared as V,>V. Y
If ES, move to step [phase], where Vl>VS
It is determined whether or not this occurs three times in a row. If NO, the process ends and restarts. If YIES, the low voltage detection output is turned off in step O.
またステップ■てNoであれば、ステップ@に移りV、
≦Vsが3回連続するかどうかをJl:lI断゛(る。Also, if step ■ is No, move to step @V,
Check whether ≦Vs occurs three times in a row.
NOであればそのまま終了し再スタートするが、YES
であれば、ステップ■で低電圧検出出力をオフにする。If NO, it will end and restart, but if YES
If so, turn off the low voltage detection output in step (■).
また、ステップ■でNoであれば、スう−ノブσ争に移
り■1≦Vsが3回連続するかどうかを判断する。NO
であればそのまま終了し再スタートするが、YESのと
きはステップOに移り、低電圧検出出力をオンにする。Further, if the result in step (2) is No, the process moves to the su-knob σ contest (2) and it is determined whether 1≦Vs occurs three times in a row. NO
If so, the process ends and restarts, but if YES, the process moves to step O and turns on the low voltage detection output.
電源周波数が5011y、の場合、サンプリング周期t
o はto = 1 +50−+ 2÷10=0.00
1 (s ec)=1 (msec )であり、3回の
NOは2XtO=2(msec )で検出される。When the power supply frequency is 5011y, the sampling period t
o is to = 1 +50-+ 2÷10=0.00
1 (sec)=1 (msec), and three NOs are detected in 2XtO=2 (msec).
サンプリング周期toをさらに小さくすれば検出時間は
さらに短くなる。なおステップ[相]2@の判断て連続
判断の回数を3回に限る必要はない。If the sampling period to is made even smaller, the detection time becomes even shorter. Note that it is not necessary to limit the number of consecutive judgments in Step [Phase] 2@ to three times.
この実施例の場合、入力低下またはしゃ断の検出が極め
て短■、5間のうらに行えるほか、ノイズフィルタN
Fの存在により誤検出をG「実に防止できるし、また、
電源の質や周波数などに応してプし1グラムを変更する
ことにより広範な利用か可能である。なお、プログラム
変更とともにCPU2の出力回路を別にイNJ加するこ
とにより、過電圧・低電圧の検出も可能となる。In the case of this embodiment, in addition to being able to detect an input drop or cutoff extremely quickly, the noise filter N
The presence of F can actually prevent false positive detection, and
It can be used in a wide variety of ways by changing the 1 gram input depending on the quality and frequency of the power source. In addition, by changing the program and adding a separate power supply to the output circuit of the CPU 2, it is also possible to detect overvoltage and undervoltage.
以上、実施例について説明したが、この発明の電源界雷
検出装置は、交流入力に結合するA/D−1ンハータと
、所定時間間隔てサンプリング信号を発信する手段と、
前記所定時間間隔で定められた個々の時刻に対応する基
〆IB値を記憶したう−−ブルと、前記サンプリンゲイ
、1号により前記A / I)コンバータからデータ信
号を読込む手段と、前記サンプリング信号により前記テ
ーブルから基準値を読込む手段と、前記読込まれたデー
タ信号の値と基準値とを比較してデータ信号の値が基準
値以下または以上のときに入力異常検出信号を出力する
手段とを備えたものであり、この構成ゆえにこの発明に
は、人力しゃ断を含めて入力低下や過電圧。Although the embodiments have been described above, the power field lightning detection device of the present invention includes: an A/D-1 converter coupled to an AC input; means for transmitting a sampling signal at predetermined time intervals;
a table storing base IB values corresponding to individual times determined at the predetermined time intervals; means for reading data signals from the A/I converter according to the sampling gain No. 1; means for reading a reference value from the table using a sampling signal; comparing the value of the read data signal with the reference value and outputting an input abnormality detection signal when the value of the data signal is below or above the reference value; Because of this configuration, the present invention is capable of preventing input drop or overvoltage, including manual cutoff.
過電流などの入力異常の検出を極めて短時間に行え、応
答性を飛躍的に向上できるとい・)効果がある。It is effective in being able to detect input abnormalities such as overcurrent in an extremely short time and dramatically improving responsiveness.
第1図は従来例の電気回路図、第2図は別の従来例の電
気回路図、第3図はこの発明の構成図、第4図はその具
体的電気回路図、第5図は電圧比較の説明図、第6図は
フローチャートである。
l・・・A / f)コンバータ、3・・・ザンプリン
グ信号発信手段、4・・・テーブル、5・・・データ信
号読込み手段、6・・・基準値読込め手段、7・・・比
較手段第1図
り
第2図
第3図
第5図
第6図Fig. 1 is an electric circuit diagram of a conventional example, Fig. 2 is an electric circuit diagram of another conventional example, Fig. 3 is a configuration diagram of the present invention, Fig. 4 is a specific electric circuit diagram thereof, and Fig. 5 is a voltage An explanatory diagram of the comparison, FIG. 6 is a flowchart. l...A/f) converter, 3... sampling signal transmitting means, 4... table, 5... data signal reading means, 6... reference value reading means, 7... comparing means Figure 1 Figure 2 Figure 3 Figure 5 Figure 6
Claims (1)
でサンプリング信号を発信する手段と、前記所定肋間間
隔で定められた個々の時刻に対応する基71ζ値を記憶
したテーブルと、前記サンプリング信号により前記A/
Dコンバータからデータ信号を>k込む手段と、前記サ
ンプリング信号により前記テーブルから基41値を読込
む手段と、前記:)+1;込まれたデータ1a号の値と
基準値とを比較し゛ζデータ信号の値が基準値以下また
は以上のときに人力異常検出信茸を出力する手段とをI
Alofえた電源異常検出装置。a Δ/D converter coupled to an AC input; means for transmitting a sampling signal at predetermined time intervals; a table storing base 71ζ values corresponding to individual times determined by the predetermined intercostal intervals; Said A/
means for inputting >k data signals from the D converter; means for reading base 41 values from the table using the sampling signals; means for outputting a manual abnormality detection signal when the signal value is below or above the reference value;
Alofe power supply abnormality detection device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3936684A JPS60183918A (en) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | Power source malfunction detector |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3936684A JPS60183918A (en) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | Power source malfunction detector |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60183918A true JPS60183918A (en) | 1985-09-19 |
Family
ID=12551056
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3936684A Pending JPS60183918A (en) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | Power source malfunction detector |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60183918A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02129137U (en) * | 1989-03-31 | 1990-10-24 | ||
JP2010158157A (en) * | 2008-12-30 | 2010-07-15 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Apparatus, system, and method for accurate early detection of ac power loss |
WO2022004539A1 (en) * | 2020-06-30 | 2022-01-06 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Abnormality detection device and laser oscillator provided with same |
JP2022066004A (en) * | 2020-10-16 | 2022-04-28 | Necプラットフォームズ株式会社 | Abnormality detection device, abnormality detection method, and program |
-
1984
- 1984-02-29 JP JP3936684A patent/JPS60183918A/en active Pending
Cited By (5)
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