JPS60171407U - 反射スペクトル測定プロ−ブ - Google Patents

反射スペクトル測定プロ−ブ

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JPS60171407U
JPS60171407U JP5977484U JP5977484U JPS60171407U JP S60171407 U JPS60171407 U JP S60171407U JP 5977484 U JP5977484 U JP 5977484U JP 5977484 U JP5977484 U JP 5977484U JP S60171407 U JPS60171407 U JP S60171407U
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JP
Japan
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optical fiber
light
reflection spectrum
measuring
measurement probe
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Pending
Application number
JP5977484U
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English (en)
Inventor
昌彦 神田
Original Assignee
住友電気工業株式会社
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Publication date
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  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は反射スペクトル測定プローブの構成概念および
測定原理を示す概要図、第２図は本考案による反射スペ
クトル測定プローブ先端部の軸方内部分断面図、第３図
は反射スペクトル測定プロニブの測定端部から反射面ま
での距離と受光量との関係を示すグラフ。 １・・・・・・プローブ本体、２・・・・・・送光用光
ファイバ、３・・・・・・受光用光ファイバ、５・−・
・・・一体光ファイバ束、６・・・・・・測定端部、１
５・・・・・・物体の反射面。

Claims (3)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. （１）互いに概ね並行する癲光用光ファイバと受光用光
    ファイバが一体光ファイバ束として形成された測定端部
    を有し、該測定端部にて該送光用光ファイバから光を照
    射しその反射光を該受光用光ツアイバで受けるよう構成
    された反射スペクトル測定プローブにおいて、該測定端
    部前方に可視光領域にて均一な反射特性を有する物体の
    反射面を該測定端部における該下体光ファイバ束の軸線
    に対し概ね垂直に延在するよう配置したことを特徴とす
    る反射スペクトル測定プローブ。
  2. （２）該物体が標準白色板であることを特徴とする、実
    用新案登録請求の範囲第１項に記載の反射スペクトル測
    定プローブ。
  3. （３）該物体が該物体の反射面と該測定端部の先端面と
    の間の距離を調節可能に該測定端部に取付けられたこと
    を特徴とする実用新案登録請求の範囲第１項に記載の反
    射子ベクトル測定プローブ。
JP5977484U 1984-04-23 1984-04-23 反射スペクトル測定プロ−ブ Pending JPS60171407U (ja)

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JP5977484U JPS60171407U (ja) 1984-04-23 1984-04-23 反射スペクトル測定プロ−ブ

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JP5977484U JPS60171407U (ja) 1984-04-23 1984-04-23 反射スペクトル測定プロ−ブ

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JPS60171407U true JPS60171407U (ja) 1985-11-13

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