JPS60161556A - Method of eddy current flaw detection for continuously-cast piece - Google Patents
Method of eddy current flaw detection for continuously-cast pieceInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は連続鋳造鋳片表面の欠陥を検出する渦流探傷方
法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an eddy current flaw detection method for detecting defects on the surface of a continuously cast slab.
厚鋼板、熱延鋼板等の素材となるスラブ鋳片の多くは連
続鋳造プロセスにより鋳造される。近年、省エネルギー
施策の一環として、これらスラブ鋳片を鋳造後、熱温片
のまま次工程の加熱炉に装入して加熱炉での燃料の節約
を計る、いわゆるホットチャージプロセスが鋼板製造工
程の1つとして採用されている。しかしこのホットチャ
ージプロセスの適用には限度がある。即ちホットチャー
ジプロセスを実施した場合には、鋳造されたスラブ鋳片
に疵が存在するときでも疵を除去せずそれをそのまま加
熱炉に装入した後圧延するため、圧延後の鋼板にその疵
を原因とする表面疵が残存することがあり、疵の発生が
多いと予想される鋳片には適用し難い。これを可能とす
るには、表面疵を形成する疵を有するスラブ鋳片を加熱
炉にそのまま装入するのを防止すべくスラブ鋳片を熱・
温間の段階で正確に疵の有無を判定する必要があり、こ
のために熱間探傷法が意欲的に開発されている。Most of the slab slabs that are used as raw materials for thick steel plates, hot rolled steel plates, etc. are cast using a continuous casting process. In recent years, as part of energy-saving measures, the so-called hot charge process has been introduced in the steel sheet manufacturing process, in which after casting these slab slabs, they are charged into the heating furnace for the next process as hot slabs to save fuel in the heating furnace. It is adopted as one. However, there are limits to the application of this hot charging process. In other words, when the hot charging process is carried out, even if there are flaws in the cast slab slab, the flaws are not removed and are loaded into the heating furnace and then rolled, so the flaws do not appear on the steel plate after rolling. Surface flaws caused by this method may remain, making it difficult to apply to cast slabs where many flaws are expected to occur. To make this possible, it is necessary to heat the slab slabs to prevent them from being directly charged into the heating furnace.
It is necessary to accurately determine the presence or absence of flaws at the warm stage, and hot flaw detection methods are being actively developed for this purpose.
そして例えばタテワレのように疵が大きいものは光学的
に探傷する方法が実用化されスいるが、一方ヒビワレ、
コーナーワレ等の疵についてはその疵長さが短いため光
学探傷法では検出が困難である。このため微小な疵をも
検出すべく渦流探傷法を用いたものが利用されている。For example, optical flaw detection methods have been put into practical use for large flaws such as vertical cracks, but on the other hand, cracks and
It is difficult to detect flaws such as corner cracks using optical flaw detection because the flaw length is short. For this reason, eddy current flaw detection is used to detect even minute flaws.
その1つは第1図に示すようにその長手方向(白抜矢符
方向)に移送されているスラブ鋳片1に対し鋳片の幅方
向に並設した2つのプローブコイル105a、 、10
5bを幅方向に往復走査させて各コイルの出力差を利用
して渦流探傷する方式である。One of them is, as shown in FIG. 1, two probe coils 105a, , 10 are arranged in parallel in the width direction of the slab slab 1 that is being transferred in the longitudinal direction (in the direction of the white arrow).
5b is scanned back and forth in the width direction, and the eddy current flaw detection is performed using the output difference of each coil.
この方式の場合は、その走査方向と疵方向との関係から
タテワレ疵の検出には適するが、鋳片幅方向のヨコワレ
疵、コーナーワレ疵等を十分には検出できない。This method is suitable for detecting vertical cracks due to the relationship between the scanning direction and the flaw direction, but cannot sufficiently detect horizontal cracks, corner cracks, etc. in the width direction of the slab.
また第2図に示すように、その長手方向(白抜矢符方向
)に移送されているスラブ鋳片1に対し、その移送方向
に相前後させて並設した2つのプローブコイル105a
、 105bの組をスラブ鋳片1の全幅に亘り多数組配
設して探傷する方式がある。この方式の場合は、プロー
ブコイル105a、 105bの配設態様及び疵方向と
の関係からヨコワレ、コーナーワレ等鋳片幅方向の疵に
は適するがタテワレ疵には不敵であり、また多くのプロ
ーブコイルが入用であり信号処理系が多チャンネル化し
て複雑になるという欠点がある。Further, as shown in FIG. 2, two probe coils 105a are arranged in parallel in the direction of the slab slab 1 being transferred in the longitudinal direction (in the direction of the white arrow).
, 105b are arranged over the entire width of the slab slab 1 for flaw detection. In the case of this method, due to the arrangement of the probe coils 105a and 105b and the relationship with the direction of the flaw, it is suitable for defects in the width direction of the slab such as horizontal cracks and corner cracks, but is invulnerable to vertical cracks. The disadvantage is that a coil is required and the signal processing system becomes multi-channel and complex.
ヒビワレ、コーナーワレ等の疵はオンシレージョンマー
クに沿って発生していることが多く、このような疵を探
傷する場合にはオンシレージョンマークの凹部により雑
音が発生する。この他に雑音が発生する要因としては、
探傷中にスラブ鋳片が上下に振動し、スラブ鋳片、プロ
ーブコイル間距離が変動する、いわゆるリフトオフ変動
による場合がある。Flaws such as cracks and corner cracks often occur along oncision marks, and when such flaws are detected, noise is generated by the concave portions of the oncillation marks. Other causes of noise include:
This may be due to so-called lift-off fluctuations in which the slab slab vibrates up and down during flaw detection, causing the distance between the slab slab and the probe coil to fluctuate.
このような雑音が発生する場合には疵信号を検出するの
が困難となる。そして雑音信号と疵信号とを弁別する方
法として位相回転法が知られている。When such noise occurs, it becomes difficult to detect a flaw signal. A phase rotation method is known as a method for distinguishing between noise signals and flaw signals.
この方法は第3図に示す如く、例えば探傷して得られた
信号軌跡(X軸を実数部としy軸を虚数部とするインピ
ーダンス複素平面−ベクトル平面にて表したもの)の疵
信号Aと雑音信号Bとは位相角度が異なっており、この
ような疵信号A、雑音信号B夫々を雑音信号Bがy軸上
に位置するように位相回転しく第4図)、雑音信号BO
X成分を減少させ、疵信号AのX成分を増大させること
によりX成分の大きさに基づき疵の存否、大きさ等を判
定するものである。As shown in Fig. 3, this method uses, for example, a flaw signal A of a signal trajectory (represented on an impedance complex plane-vector plane with the real part on the X-axis and the imaginary part on the y-axis) obtained by flaw detection. The phase angle is different from that of the noise signal B, and the phases of the flaw signal A and the noise signal B are rotated so that the noise signal B is located on the y-axis (Fig. 4), and the noise signal BO is
By decreasing the X component and increasing the X component of the flaw signal A, the presence or absence, size, etc. of a flaw is determined based on the magnitude of the X component.
しかしながらオンシレージョンマーク信号と疵信号との
位相角度差は実際には小さく、この方法では両者の弁別
は困難であった。However, the phase angle difference between the oncillation mark signal and the flaw signal is actually small, and it is difficult to distinguish between the two using this method.
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、その
目的とするところはタテワレ疵、ヨコワレ疵等の疵を疵
の延在方向に拘わらす探傷でき、また2周波法を利用し
てオンシレージョンマークに沿う疵の場合にあってもオ
ンシレージョンマークによる雑音信号に影響されず疵を
検出できる連続鋳造鋳片の渦流探傷方法を提供するにあ
る。The present invention has been made in view of the above circumstances, and its purpose is to detect defects such as vertical cracks and horizontal cracks regardless of the extending direction of the defects, and to detect defects using a two-frequency method. To provide an eddy current flaw detection method for continuously cast slabs capable of detecting flaws without being affected by noise signals caused by on-sillation marks even in the case of flaws along sillage marks.
本発明に係る連続鋳造鋳片の渦流探傷方法は、プローブ
コイルを用いて連続鋳造鋳片を渦流探傷する方法におい
て、前記プローブコイルに2周波数の電流を通電せしめ
ると共にプローブコイルを鋳片の移動方向に対し所定の
角度をなす方向に往復走査せしめ、検出信号の一方の周
波数成分の雑音信号成分と、他方の周波数成分の疵信号
成分とを各周波数成分のベクトル平面にて一方の直交軸
に一致させるべく検出信号の各周波数成分の一方又は両
方を位相回転し、前記一方の周波数成分の雑音信号に直
交する成分及び前記他方の周波数成分の疵信号成分に直
交する成分を抽出し、抽出した両成分を新たなベクトル
平面にて直交せしめ、その信号軌跡の各直交成分の最大
値と最小値との差の比により疵信号と雑音信号とを弁別
することを特徴とする。The eddy current flaw detection method for continuously cast slabs according to the present invention is a method for eddy current flaw detection of continuously cast slabs using a probe coil, in which electric current of two frequencies is applied to the probe coil, and the probe coil is moved in the direction of movement of the slab. The noise signal component of one frequency component of the detection signal and the flaw signal component of the other frequency component are aligned with one orthogonal axis in the vector plane of each frequency component. The phase of one or both of the frequency components of the detection signal is rotated in order to eliminate the noise signal, and a component orthogonal to the noise signal of the one frequency component and a component orthogonal to the defect signal component of the other frequency component are extracted. It is characterized in that the components are orthogonalized in a new vector plane, and a flaw signal and a noise signal are discriminated based on the ratio of the difference between the maximum value and the minimum value of each orthogonal component of the signal locus.
以下本発明を図面に基づき具体的に説明する。 The present invention will be specifically explained below based on the drawings.
第5図は本発明の実施に使用する装置の略示正面断面図
であり、連続鋳造鋳片の移送方向に対して水平方向に角
度αだけ傾けである走査方向より見た図であり、第6図
は第5図のVl−Vl線による探傷ボックスの断面図、
第7図は探傷ヘッド及びその支持管近傍を示す正面断面
図、第8図はフレーム及び移動体近傍を示す側面図、第
9図は第8図のIX−IX線による拡大立面断面図、第
10図は探傷ヘッド下面を示す模式図である。FIG. 5 is a schematic front sectional view of the apparatus used for carrying out the present invention, as seen from the scanning direction, which is inclined at an angle α in the horizontal direction with respect to the conveying direction of the continuously cast slab; Figure 6 is a cross-sectional view of the flaw detection box taken along the line Vl-Vl in Figure 5.
Fig. 7 is a front sectional view showing the flaw detection head and its support tube vicinity, Fig. 8 is a side view showing the frame and the vicinity of the moving body, Fig. 9 is an enlarged elevational sectional view taken along line IX-IX in Fig. 8, FIG. 10 is a schematic diagram showing the lower surface of the flaw detection head.
図中1は図示しない連続鋳造設備のピンチロールにより
矯正された直後の高温の連続鋳造鋳片であって、その長
手方向へ水平に移送されている。In the figure, reference numeral 1 denotes a high-temperature continuous casting slab that has just been straightened by pinch rolls of a continuous casting facility (not shown), and is being transported horizontally in its longitudinal direction.
鋳片1の移送域にはその移送方向に直交して門状の支持
枠2が跨設されており(図には上辺の枠材のみが現れて
いる)、支持枠2の上辺枠材は角筒を横向きにし、その
側面−例の中央部を横方向に切欠いた形状をなしている
。その内部には、頭部を半円状にした上下に長い吊下部
材31.31の頭部寄りに車軸を固定された車輪32.
32が転勤自在に嵌合されており、該吊下部材31.3
1の下端は昇降装置3の箱枠30の上面に取付けられて
いる。車輪32の1つにはモータ(図示せず)がギヤを
介して取付けられてあってモータの駆動により車輪32
が回転せしめられ、昇降装置3は鋳片1の幅方向に移動
可能である。箱枠30にはエアーシリンダ33がシリン
ダコンド36下面より突出して内設されており、シリン
ダロンド36の下端には矩形状の連結板39が水平に固
着されている。A gate-shaped support frame 2 is installed across the transfer area of the slab 1 at right angles to the transfer direction (only the upper frame material is shown in the figure), and the upper frame material of the support frame 2 is A rectangular tube is turned sideways, and its side surface (example: center portion) is cut out in the horizontal direction. Inside the wheel 32, an axle is fixed near the head of a vertically long hanging member 31, the head of which is semicircular.
32 are removably fitted, and the hanging member 31.3
1 is attached to the upper surface of the box frame 30 of the lifting device 3. A motor (not shown) is attached to one of the wheels 32 via a gear, and the wheel 32 is driven by the motor.
is rotated, and the lifting device 3 is movable in the width direction of the slab 1. An air cylinder 33 is installed inside the box frame 30 and protrudes from the lower surface of a cylinder rod 36, and a rectangular connecting plate 39 is fixed horizontally to the lower end of the cylinder rod 36.
連結板39の下面には矩形状の連結部材39aが固定さ
れており、断面T字状の連結部材5aがその頭部を連結
部材39a内に位置せしめるようにしてあり、頭部は連
結部材39aの底面によって抜は落ちを防止されて固定
されている。A rectangular connecting member 39a is fixed to the lower surface of the connecting plate 39, and the head of the connecting member 5a having a T-shaped cross section is positioned within the connecting member 39a. The bottom of the holder prevents it from falling and is fixed in place.
前記エアーシリンダ33の給排管34.35は図示しな
いエアー供給源に接続されており、該エアー供給源から
供給されるエアーによりエアーシリンダ33はロンド3
6を進出退入して探傷ボックス5を鉛直方向に上下せし
める。The supply/discharge pipes 34 and 35 of the air cylinder 33 are connected to an air supply source (not shown), and the air cylinder 33 is operated by the air supplied from the air supply source.
6 is moved in and out to move the flaw detection box 5 up and down in the vertical direction.
連結板39にはシリンダロンド36を挟んで2つの回転
防止用ロンド37.38が鉛直に立設されており、ロン
ド37.38上端部は箱枠30の下面に開設された係留
穴41.42より夫へ挿入されており、挿入部の長さは
シリンダロンド36が最大進出しても抜けないように定
めである。連結板39及び回転防止用ロンド37.38
は探傷ボックス5の回転を防止する。Two anti-rotation ronds 37 and 38 are installed vertically on the connecting plate 39 with the cylinder rond 36 in between, and the upper ends of the ronds 37 and 38 are connected to mooring holes 41 and 42 formed on the lower surface of the box frame 30. The length of the inserted portion is determined so that it will not come out even if the cylinder rond 36 is advanced to its maximum extent. Connecting plate 39 and rotation prevention iron 37.38
prevents the flaw detection box 5 from rotating.
探傷ボックス5は直方体の箱の底面の中央部が切欠され
た形状を有し、その切欠部5bの周辺には底板51が架
設固着されている。底板51には矩形状の走査盤53が
載っており、走査盤53の中央部には所定寸法の帯状の
開口部53aがその長手方向を走査盤53の長手方向と
一致させて開設されている。The flaw detection box 5 has the shape of a rectangular parallelepiped box with a central portion of the bottom thereof cut out, and a bottom plate 51 is constructed and fixed around the cutout portion 5b. A rectangular scanning plate 53 is mounted on the bottom plate 51, and a strip-shaped opening 53a of a predetermined size is formed in the center of the scanning plate 53 so that its longitudinal direction coincides with the longitudinal direction of the scanning plate 53. .
前記底板51には第6図に示す如く開口部53aの長辺
の長さより少し長い直径の円形の開口部51aがその中
心を前記開口部53aの中心と一致させて開設されてお
り、走査盤53は開口部53a、開口部51aの中心の
周りに回転できるようになっている。As shown in FIG. 6, the bottom plate 51 is provided with a circular opening 51a having a diameter slightly longer than the length of the long side of the opening 53a, with its center aligned with the center of the opening 53a. 53 can rotate around the center of the opening 53a and the opening 51a.
底板51の下面4隅近傍には、軸受脚58が取付けられ
ており、鋳片1の幅方向に対向する軸受脚58゜58に
は4つの回転自在の車軸60.60・・・が取付けられ
た軸部59が車輪60の下部を探傷ボックス5より下側
に覗かせるように挿設されている。Bearing legs 58 are attached near the four corners of the lower surface of the bottom plate 51, and four rotatable axles 60, 60, . A shaft portion 59 is inserted so that the lower part of the wheel 60 can be seen below the flaw detection box 5.
探傷ボックス5はエアーシリンダ33へのエアー給排調
節により車輪60を介して鋳片1上に載せられる。車輪
60は鋳片1の移送によって転動する。The flaw detection box 5 is placed on the slab 1 via wheels 60 by adjusting air supply and discharge to the air cylinder 33. The wheels 60 roll as the slab 1 is transferred.
走査盤53上には第6図に示す如く開口部53aの長辺
より長い2本のレール55b 、 55bが開口部53
aを挟んで開口部53aの長平方向に延設されており、
表たレール55b 、 55bの上部に摺動可能に嵌合
されたスライドベアリングを内装するスライド部材55
a 、 55aを下面に取付けた探傷ヘッド取付板54
が設けられている。探傷ヘッド取付板54は長辺側がレ
ール55b 、 55bの間隔よりも長い矩形状のもの
であってその長手方向をレール55bの・敷設方向に直
交させており、走査盤53の開口部53aに対応する位
置に円形の開口部54aが開設されている。On the scanning plate 53, as shown in FIG.
It extends in the longitudinal direction of the opening 53a across the a,
The exposed rails 55b, a slide member 55 containing a slide bearing slidably fitted to the upper part of the rail 55b.
a, Flaw detection head mounting plate 54 with 55a attached to the bottom surface
is provided. The flaw detection head mounting plate 54 has a rectangular shape whose long side is longer than the interval between the rails 55b, 55b, and its longitudinal direction is perpendicular to the laying direction of the rails 55b, and corresponds to the opening 53a of the scanning plate 53. A circular opening 54a is provided at the position where the opening 54a is located.
開口部54aの周囲には第7図に示すように上端が中央
の開口部56aを除いて閉鎖された円筒状のバネ受筒5
6が取付けられている。Around the opening 54a, as shown in FIG. 7, there is a cylindrical spring receiver 5 whose upper end is closed except for the central opening 56a.
6 is installed.
開口部54a 、 56a及び51aには中途に鍔部5
7aを有する探傷ヘッド取付用の支持管57が鍔部57
aをハネ受は筒56内に位置させるようにして挿通され
ており、ハネ受筒56上奥面と鍔部57aとの間には支
持管57を囲繞してハネ57bが介装されており、鍔部
57aを下方に付勢している。The openings 54a, 56a and 51a have a flange 5 in the middle.
A support tube 57 for attaching a flaw detection head having a diameter of 7a is attached to the flange 57.
The spring receiver a is inserted so as to be positioned inside the tube 56, and a spring 57b is interposed between the upper rear surface of the spring receiver tube 56 and the flange 57a to surround the support tube 57. , urges the collar portion 57a downward.
支持管57の下端は底板51より下方に位置しており、
探傷ヘッド100が連結されている。支持管57の長さ
及び鍔部57aの位置は探傷ヘッド100と鋳片1との
距離が所定長さとなるように調節されている。The lower end of the support tube 57 is located below the bottom plate 51,
A flaw detection head 100 is connected. The length of the support tube 57 and the position of the flange 57a are adjusted so that the distance between the flaw detection head 100 and the slab 1 is a predetermined length.
走査盤53上には長辺がレール55bよりも長い帯状の
フレーム75がその長平方向をレール55bの敷設方向
と一致させて鉛直に設けた支柱76、76を介して設置
されている。A belt-shaped frame 75 whose long sides are longer than the rails 55b is installed on the scanning board 53 via vertical supports 76, 76, with the elongated direction of the frame 75 coinciding with the installation direction of the rails 55b.
探傷ヘッド取付板54の長辺側の一方の端部の上面には
、断面がC形状であってその先端部が太肉となっている
移動体8oがその下面と断面I形状の連結部材72を介
して取付けられており、移動体8゜の先端部の対向する
面には夫々溝80a 、 80aが切られている。On the upper surface of one end of the long side of the flaw detection head mounting plate 54, a moving body 8o having a C-shaped cross section and a thick tip end is connected to its lower surface and a connecting member 72 having an I-shaped cross section. Grooves 80a and 80a are cut in opposing surfaces of the distal end of the movable body 8, respectively.
該溝80a 、 80aには移動体8oよりも探傷ヘッ
ド取付板54の中央側にあるフレーム75の上縁、下縁
が摺動可能に嵌合されていてフレーム75が一体となっ
た探傷ヘッド取付板54.移動体8oの移動を案内する
。The upper and lower edges of a frame 75 located closer to the center of the flaw detection head mounting plate 54 than the movable body 8o are slidably fitted into the grooves 80a, 80a, so that the flaw detection head is integrated with the frame 75. Board 54. Guides the movement of the moving body 8o.
フレーム75はその長平方向に細長い開口部が開設され
ており、フレーム75の移動体8oと対向する面の長手
方向両端部には駆動スプロケット77及び従動スプロケ
ット78が設けられていてスブロヶソ)77、78には
チェーン83が張設されている。駆動スプロケット77
の軸には走査盤53上の台74に載置された一方向回転
用の駆動モータ71の回転軸が固着され、その駆動によ
りチェーン83は周動する。The frame 75 has an elongated opening in its longitudinal direction, and a driving sprocket 77 and a driven sprocket 78 are provided at both longitudinal ends of the surface of the frame 75 facing the movable body 8o. A chain 83 is stretched across. Drive sprocket 77
A rotating shaft of a drive motor 71 for one-way rotation, which is placed on a stand 74 on the scanning plate 53, is fixed to the shaft, and the chain 83 is rotated by its drive.
移動体80にはリバースギヤ84がチェーン83に噛合
されて設けられており、フレーム75の移動体8゜に対
向する面の駆動スプロケット77、従動スプロケット7
8夫々に近い位置にはリバースギヤ84反転用のストッ
パ81.82が突設されている。これによりリバースギ
ヤ84がチェーン83の上側に噛合している場合には移
動体8oは白抜矢符方向へ移動し、ストッパ82に当接
するとリバースギヤ84が反転してチェーン83の下側
に噛合し、移動体80は白抜矢符方向とは逆の方向へ移
動する。そしてリバースギヤ84がストッパ81に当接
するとリバースギヤ84はチェーン83の上側に噛合せ
しめられ、これを繰り返す。従って移動体80と連結さ
れた探傷ヘソドエ00は往復走査する。The moving body 80 is provided with a reverse gear 84 meshing with a chain 83, and a driving sprocket 77 and a driven sprocket 7 on the surface of the frame 75 facing the moving body 8°.
Stoppers 81 and 82 for reversing the reverse gear 84 are protrudingly provided at positions close to each of the reverse gears 84. As a result, when the reverse gear 84 is engaged with the upper side of the chain 83, the movable body 8o moves in the direction of the white arrow, and when it comes into contact with the stopper 82, the reverse gear 84 is reversed and moves below the chain 83. They mesh, and the movable body 80 moves in the direction opposite to the direction of the white arrow. When the reverse gear 84 comes into contact with the stopper 81, the reverse gear 84 is brought into mesh with the upper side of the chain 83, and this process is repeated. Therefore, the flaw detection head 00 connected to the moving body 80 scans back and forth.
この往復走査する方向、或いはスライド部材55a。This direction of reciprocating scanning or the sliding member 55a.
レール55b、フレーム75の方向は探傷すべき疵の長
さ、疵の延在方向及びプローブコイル105a、 10
5bの鋳片1幅方向の間隔、探傷ヘソl”200の走査
ストローク等を考慮して定めればよく、鋳片1のヨコワ
レ疵の場合は鋳片1の移送方向に対してレール55b等
がなす角度αを10゛程度とするのがよい。The direction of the rail 55b and frame 75 is the length of the flaw to be detected, the direction of extension of the flaw, and the probe coils 105a, 10.
5b in the width direction of the slab 1, the scanning stroke of the flaw detection heel l"200, etc. It is preferable that the angle α formed is about 10°.
探傷ヘソに100には鋳片lの移送方向に相前後するよ
うに2つ1組のプローブコイル105a、 105bが
内設されており、これが3組第10図に示すように鋳片
1の幅方…農こ所定の間隔で配設されている。A pair of probe coils 105a and 105b are installed in the flaw detection hem 100 one after the other in the direction of conveyance of the slab 1, and as shown in FIG. Agricultural fields are placed at predetermined intervals.
各プローブコイル105a、 l05bは水冷されてお
り、その両端は信号処理部のブリッジ105に接続され
ている。プローブコイルl05a、 105bは、信号
処理部のブロック図である第11図に示す如く、ブリッ
ジ105を構成する4辺のうちの2辺であり、発振器1
02 、103夫々の周波数fI+ r2の出力はこれ
らを混合する周波数混合器104を介してブリッジ10
5へ与えられている。Each probe coil 105a, l05b is water-cooled, and both ends thereof are connected to the bridge 105 of the signal processing section. As shown in FIG. 11, which is a block diagram of the signal processing section, the probe coils l05a and 105b are two of the four sides constituting the bridge 105, and are connected to the oscillator 1.
The outputs of frequencies fI+r2 of 02 and 103 are sent to the bridge 10 via a frequency mixer 104 that mixes them.
It is given to 5.
プローブコイル105a、 105bのインピーダンス
は鋳片1の表面状態によって変化し、これによるブリッ
ジ105の不平衡電流はフィルター106 、107へ
送られ、ここで周波数f1に基づく成分の信号fI ′
と周波数f2に基づく成分の信号f2′とに分離される
。分離された信号fl Z f2 ′は夫々増幅器10
8 、109へ送られて増幅され、増幅信号は検波器1
10 、111へ送られる。検波器11O2111には
発振器102 、103夫々から同期信号が与えられて
おり、検波器110 、111は増幅器108゜109
からの信号を同期検波し、夫々の検波信号を移送回転器
112 、113へ入力する。周波数f1の信号は第1
2図(a)に示すように直交座標系(X、。The impedance of the probe coils 105a and 105b changes depending on the surface condition of the slab 1, and the resulting unbalanced current in the bridge 105 is sent to filters 106 and 107, where the component signal fI' based on the frequency f1 is transmitted.
and a component signal f2' based on the frequency f2. The separated signals fl, Z, and f2' are sent to amplifiers 10, respectively.
8, 109 and is amplified, and the amplified signal is sent to the detector 1.
10, sent to 111. Detectors 11O2111 are given synchronizing signals from oscillators 102 and 103, respectively, and detectors 110 and 111 are provided with amplifiers 108 and 109.
The signals from the transfer rotators 112 and 113 are synchronously detected, and the detected signals are input to the transfer rotators 112 and 113, respectively. The signal of frequency f1 is the first
As shown in Figure 2(a), the orthogonal coordinate system (X,.
y+)のベクトル平面に必要信号A1.不要信号B1が
現われるものであり、周波数f2の信号は第12図(b
)に示すように直交座標系(Xl、yzのベクトル平面
に必要信号A2+ 不要信号B2が現われるものである
。位相図!2−器112ば信号AI。y+) on the vector plane of the necessary signal A1. The unnecessary signal B1 appears, and the signal of frequency f2 is shown in Fig. 12 (b
), the necessary signal A2+ and the unnecessary signal B2 appear on the vector plane of the orthogonal coordinate system (Xl, yz).
B1を81がyl ′軸上に位置する。ように移送回転
し、位相回転後の信号、つまり(X+ ’、y1平面上
の信号A+ ’、B+ ’ (第13図(a)〕のx1
′成分を位相回転器114へ入力する。一方の位相回
転器113は信号A 2 + B 2をA2がyz ′
軸上に位置するように位相回転し、位相回転後の信号、
つまり(Xl ’、yz ’)平面上の信号A2’、B
2’(第13図(b)〕のx2 ′成分の信号を位相回
転器114へ入力する。B1 81 is located on the yl' axis. The signals after the phase rotation, that is, the signals A+', B+' on the (X+', y1 plane,
' component is input to the phase rotator 114. One phase rotator 113 converts the signal A 2 + B 2 so that A2 is yz'
The phase is rotated so that it is located on the axis, and the signal after the phase rotation is
In other words, the signals A2', B on the (Xl', yz') plane
The x2' component signal of 2' (FIG. 13(b)) is input to the phase rotator 114.
位相回転器114は入力信号、つまりxl ′成分及び
Xl ′成分の信号を更に位相回転せしめて各信号を新
たなベクトル平面(X、Y)のX、 Y軸方向にて直交
するようにする。The phase rotator 114 further rotates the phase of the input signal, that is, the xl' and
このようにして得られた第13図(C)に示す信号は、
必要信号A1 ′と不要信号B2 ′とをそれらのなす
位相角度差を直角に拡大してなる信号A。The signal shown in FIG. 13(C) obtained in this way is
A signal A is obtained by orthogonally expanding the phase angle difference between the necessary signal A1' and the unnecessary signal B2'.
Bとなる。このように直角にすると両信号の分離識別が
容易となり疵信号に相当する必要信号Aの大きさを読む
ことによって疵の存否、大きさを知ることが可能となる
。It becomes B. By arranging the signals at right angles in this way, it becomes easy to separate and identify both signals, and by reading the magnitude of the necessary signal A corresponding to the flaw signal, it becomes possible to know the presence or absence and size of a flaw.
コンパレータ115 、116には予め基準値が設定さ
れており、この基準値以上の信号が入力された場合はそ
の入力信号、ここではX、Y成分夫々の信号をX成分最
小値検出回路117及び最大値検出回路118 、 Y
成分最小値検出回路119及び最大値検出回路120へ
与える。A reference value is set in advance in the comparators 115 and 116, and when a signal equal to or higher than this reference value is input, the input signal, in this case the X and Y component signals, is sent to the X component minimum value detection circuit 117 and the maximum Value detection circuit 118, Y
It is applied to the component minimum value detection circuit 119 and maximum value detection circuit 120.
X成分最小値検出回路117 、 Y成分最小値検出回
路119及びX成分最大値検出回路118 、 Y成分
最大値検出回路120は入力信号の最小値、最大値を検
出して保持するものである。The X component minimum value detection circuit 117, the Y component minimum value detection circuit 119, the X component maximum value detection circuit 118, and the Y component maximum value detection circuit 120 detect and hold the minimum value and maximum value of the input signal.
リセット信号125は発振器102.103から出力さ
れる周波数又はプローブコイル105a、 105bと
鋳片1との相対移動速度に基づいて定めた時間ごとに各
検出回路117 、118 、119 、120にリセ
ット信号を発して、先のリセット信号以来のX成分の最
大値、最小値を差動増幅器121へ、Y成分の最大値、
最小値を差動増幅器122へ出力せしめ、差動増幅器1
21 、122はX成分、Y成分夫々の最大値−最小値
(ΔX及びΔY)を算出し、その差信号ΔX、ΔYを夫
々除算器123へ送る。徐算器123はΔX/ΔYの演
算を行い、商信号ΔX、/ΔYを判定回路124へ入力
する。The reset signal 125 sends a reset signal to each of the detection circuits 117, 118, 119, and 120 at intervals determined based on the frequency output from the oscillators 102 and 103 or the relative movement speed between the probe coils 105a, 105b and the slab 1. The maximum value and minimum value of the X component since the previous reset signal are sent to the differential amplifier 121, and the maximum value and minimum value of the Y component are sent to the differential amplifier 121.
The minimum value is output to the differential amplifier 122, and the differential amplifier 1
21 and 122 calculate the maximum value-minimum value (ΔX and ΔY) of each of the X component and Y component, and send the difference signals ΔX and ΔY to the divider 123, respectively. The divider 123 calculates ΔX/ΔY, and inputs the quotient signals ΔX, /ΔY to the determination circuit 124.
判定回路124はこれに設定されている比較比率と入力
値とを比較して入力値が設定値を超える場合には有害疵
か存在すると判定して所定の出力を発する。The determination circuit 124 compares the comparison ratio set therein with the input value, and if the input value exceeds the set value, determines that a harmful defect exists and issues a predetermined output.
次に本発明の雑音信号と疵信号との弁別原理と位相回転
器112 、113 、114の位相調整につき説明す
る。検波器110でinられた信号fI ′が位相回転
器112により位相回転されて得られた(xl ′y1
′)平面での位相角度差がθ1の疵信号A、′とオン
シレージョンマーク信号B1 ′ 〔第14図(a)〕
とをベペクトで表すと、夫々のベクトルr’ 。Next, the principle of discrimination between a noise signal and a flaw signal and the phase adjustment of the phase rotators 112, 113, and 114 of the present invention will be explained. The signal fI' input by the detector 110 is phase rotated by the phase rotator 112 and obtained (xl 'y1
') Flaw signals A, ' with a phase angle difference of θ1 on the plane and oncillation mark signal B1 ' [Figure 14 (a)]
When expressed as vectors, the respective vectors r'.
「ご′は 、/\。“Hello? ,/\.
A+ ’ =A1 ’ sinθ+ X+ +A+ ’
cosθ1△
「こ’−B+ ’)’1 ’ ・・・(2)/\7 △
但し、Xl + y1’はX1’+ 3’l ’ 軸の
ユニ、トベクトル
となる。検波器111で得られた信号f2′における(
Xl、)’2)平面での位相角度差がθ2の疵信号A2
とオンシレージョンマーク信号B2 (第14図(b)
〕 とをベペクトで表すと、肩−A・・i・(α+θ・
)G +
△
A2C05(α+θ2)yz・・・(3)貯=B2 s
inαC+132 COsα* ・・−(41但し、0
.介はX2+ yl軸のユニットベクトル、αはyl軸
とB2とのなす角
となる。(Xl、)’2)平面を位相回転器113に・
より角度θだけ座標回転すると、回転後の(xl ′
−→7−→。A+ ' = A1 ' sinθ+ X+ +A+ '
cos θ1△ "ko'-B+ ')'1' ... (2)/\7 △ However, Xl + y1' becomes the unit vector of the X1' + 3'l ' axis. (
Xl,)'2) Flaw signal A2 with a phase angle difference of θ2 on the plane
and oncillation mark signal B2 (Fig. 14(b)
] When expressed in bepect, shoulder −A・・i・(α+θ・
) G + △ A2C05 (α + θ2) yz... (3) Storage = B2 s
inαC+132 COsα* ・・−(41However, 0
.. The angle is the unit vector of the X2+yl axis, and α is the angle between the yl axis and B2. (Xl,)'2) Place the plane in the phase rotator 113.
When the coordinates are rotated by an angle θ, the rotated (xl ′
−→7−→.
yz ′)平面におけるA2 、 B2 は上記(3)
。A2 and B2 in the yz') plane are as in (3) above.
.
(4)式より
A2 ’ =A2 sin (α+φ+θ2 ) C’
+/\。From formula (4), A2' = A2 sin (α+φ+θ2) C'
+/\.
一−゛(J、l B2 cos (α+φ)yz ・・
・(6)となる。1-゛(J, l B2 cos (α+φ)yz...
・(6) becomes.
位相回転器114へ入力される信号XIZ x2 ′で
構成される(xlZX2’)平面での1曾は上記(11
,+21及び(51,f6)式により→ へ。1 in the (xlZX2') plane composed of the signal XIZ x2' input to the phase rotator 114 is the above (11
, +21 and formula (51, f6), go to →.
A= A1 ’ sinθ、X、+ 。A = A1' sin θ, X, +.
2/\、
Azsin(α十φ+θ2 ) X2 ’ =・(71
B=82 5in(α十φ)x′;’ ・(8)−う
である。位相回転器114にてAとBを直交させるには
A −B=0となるようにすれば良いが、その条件はφ
=−α若しくはφ=−(α+θ2)である。2/\, Azsin(α+φ+θ2) X2' =・(71
B=82 5in(α+φ)x';' (8)-Ude. In order to make A and B orthogonal in the phase rotator 114, A - B = 0, but the condition is φ
=-α or φ=-(α+θ2).
第14図(b)から理解されるように位相回転器113
−一→
を調整してB2がy2軸上となるように設定すればφ−
−αを満足し、またA2をy2軸上に設定すればφ−一
(α+02)を満足する。し々1しながら信号A、Bは
実際には直線ベクトルではなく8字形軌跡である。この
ような実際の波形を考慮してφ−−α、φ−一(α+θ
2)の回転走査後の波形をシミューレートしてめた信号
を夫々第15図、第13図に示す。φ=−αの場合には
信号A1B1 ′ 〔第15図(a)〕の位相角度が信
号A2’、B2〔第15図(b)〕のそれに近接するに
伴って演算結果の信号A、 B (第15図(C)〕の
位相角度差は小さくなって弁別が困難となるが、φ−一
(α+02)の場合には信号A1 ’ + 81’及び
信号A2′。As understood from FIG. 14(b), the phase rotator 113
If you adjust -1 → and set B2 to be on the y2 axis, φ-
-α is satisfied, and if A2 is set on the y2 axis, φ-1 (α+02) is satisfied. However, the signals A and B are actually not straight vectors but figure-8 trajectories. Considering these actual waveforms, φ−−α, φ−1(α+θ
Signals obtained by simulating the waveform after the rotational scanning in 2) are shown in FIGS. 15 and 13, respectively. In the case of φ=-α, as the phase angle of the signal A1B1' [Fig. 15(a)] approaches that of the signals A2', B2 [Fig. 15(b)], the calculation result signals A and B (FIG. 15(C)) The phase angle difference becomes small and discrimination becomes difficult, but in the case of φ-1 (α+02), the signal A1' + 81' and the signal A2'.
B2 ′の各位相角度差が小さいときであっても第13
図(C1に示した信号A、Bが直交して疵信号とオンシ
レージョンマーク信号とを良好に弁別できる。Even when the phase angle difference of B2' is small, the 13th
The signals A and B shown in FIG.
このため本発明においては、位相回転器113の回転操
作には後者の条件を用いており、従って本発明は庇部が
オンシレージョンマークの谷部に存在しない場合には位
相回転器114出力を利用して庇部を良好に検出できる
。即ち疵が存在する場合には信号AのX方向の値で存否
、大きさにより検出できるからである。Therefore, in the present invention, the latter condition is used for the rotation operation of the phase rotator 113. Therefore, in the present invention, when the eaves are not present in the valley of the oncillation mark, the output of the phase rotator 114 is Using this method, the eaves can be detected well. That is, if a flaw exists, it can be detected by the presence or absence and size of the signal A in the X direction.
さてオンシレージョンマークの谷部に疵が存在する場合
には第16図tc+に示す如くその検出軌跡はオンシレ
ージョンマークのみの検出軌跡〔第16図(a)〕と疵
信号のみの検出軌跡〔第16図(b)〕とが重なったも
のとなっており、オンシレージョンマークのみを検出し
た軌跡〔第16図(a)〕 と殆ど変化しないが、疵の
大きさ、つまり疵信号の大きさに応じて位相角度が異な
ると共にX成分が増大し、Y成分が減少したものとなる
。そこで本願の第2の発明は8字形軌跡のX成分の最大
値−最小値ΔX〔第16図(C)〕をY成分の最大値−
最小値ΔY(第16図(C〕〕で除したΔX/ΔY値に
より疵の存否を判定することとする。Now, if there is a flaw in the valley of the oncillation mark, the detection trajectory is the detection trajectory of only the oncillation mark [Fig. 16(a)] and the detection trajectory of only the flaw signal, as shown in Fig. 16 tc+. [Fig. 16(b)] is overlapped, and there is almost no difference from the trajectory in which only the oncillation mark was detected [Fig. 16(a)], but the size of the flaw, that is, the flaw signal The phase angle differs depending on the size, and the X component increases and the Y component decreases. Therefore, the second invention of the present application is to convert the maximum value of the X component of the figure-8 trajectory to the minimum value ΔX [Fig. 16 (C)] to the maximum value of the Y component -
The presence or absence of a flaw is determined based on the ΔX/ΔY value divided by the minimum value ΔY (FIG. 16 (C)).
なおオンシレージョンマーク信号が表面の凹凸に起因し
たプローブコイル、鋳片間の距離変動に基づく信号であ
り、またこの距離変動はプローブコイルの揺動或いは鋳
片1の搬送時の上下動等に起因するリフトオフ変動と本
質的に同じものであるので、本発明はリフトオフ変動に
関する信号と表面疵信号とを弁別する場合にも適用でき
ることは勿論である。Note that the oncillation mark signal is a signal based on the distance variation between the probe coil and the slab due to surface irregularities, and this distance variation is caused by swinging of the probe coil or vertical movement of the slab 1 during conveyance. Since they are essentially the same as the resulting lift-off fluctuations, it goes without saying that the present invention can also be applied to the case where a signal related to lift-off fluctuations is discriminated from a surface flaw signal.
次に引抜速度1.44m/分で連続鋳造中の熱間のスラ
ブ鋳片のコーナーワレを探傷すべく、3組のプローブコ
イルの離隔距離が60+nmに配された探傷ヘッドを鋳
片の両側縁部を臨む位置に夫々配置し、角度αを10°
、探傷ヘッドの走査速度を24m/分。Next, in order to detect corner cracks in the hot slab slab that is being continuously cast at a drawing speed of 1.44 m/min, a flaw detection head with three sets of probe coils arranged at a distance of 60+ nm is placed on both sides of the slab. The angle α is 10°.
, the scanning speed of the flaw detection head was 24 m/min.
走査ストロークを400mmとして本発明により渦流探
傷した。この場合、探傷ヘッドの鋳片1幅方向の探傷幅
は250mm程度であり、またコーナーワレは鋳片の両
側端部のコーナーより200mm程度以内に存在するこ
とが多いので、上記探傷はコーナーワレ探傷範囲を十分
カバーする。Eddy current flaw detection was performed according to the present invention with a scanning stroke of 400 mm. In this case, the flaw detection width of the flaw detection head in the width direction of the slab is about 250 mm, and since corner cracks often exist within about 200 mm from the corners on both sides of the slab, the above flaw detection is performed to detect corner cracks. Cover enough range.
第17図はそのときの鋳片1に対するプローブコイルの
実質的な走査軌跡を示した図であり、矢符は走査方向を
示す。上述の例ではこのジグザグの軌跡のピッチは8
、5mm程度となり、探傷すべき全範囲をカバーでき、
なお走査盤53の角度α、走査速度、走査ストロークは
引抜速度と疵の形状1寸法に応じて適当に定めればよい
。FIG. 17 is a diagram showing a substantial scanning locus of the probe coil with respect to the slab 1 at that time, and the arrow mark indicates the scanning direction. In the example above, the pitch of this zigzag trajectory is 8
, approximately 5mm, covering the entire range to be detected.
Note that the angle α, scanning speed, and scanning stroke of the scanning plate 53 may be appropriately determined depending on the drawing speed and the shape and dimension of the flaw.
第18図は横軸に疵深さくmm)をとり縦軸に渦流出力
値(V)をとって、その探傷結果を示したグラフであり
、図中○印は連続鋳造中のスラブ鋳片の幅方向にタガネ
により作成した長さ7mmの人口疵、◇印は同じくタガ
ネによりスラブ鋳片の幅方向に作成した長さ3mmの人
口疵、e印1口印1Δ印は夫々鋳造中自然発生のヨコワ
レ疵、押込み疵。Figure 18 is a graph showing the flaw detection results, with the horizontal axis representing the flaw depth (mm) and the vertical axis representing the eddy current output value (V). An artificial flaw with a length of 7 mm created with a chisel in the width direction, ◇ is an artificial flaw with a length of 3 mm created in the width direction of the slab slab with a chisel, and e marks 1 mouth marks 1 Δ marks are natural defects that occurred during casting. Horizontal scratches, push-in scratches.
タテワレ疵の場合の探傷出力値を夫々系しており、破線
はこの探傷時の深さl+++m程度のオンシレージョン
マークをも含む雑音出力レベルを0表している。They are based on flaw detection output values for vertical cracks, and the broken line represents the noise output level of 0, which also includes oncillation marks at a depth of about l+++m during this flaw detection.
この図から理解される如く、疵信号出力値は1■以上で
あり、0.5V程度の雑音出力レベルと比較しても大き
く、雑音に影響されることなく鋳片1の長平方向及び幅
方向の疵を判定できる。As can be understood from this figure, the flaw signal output value is 1 or more, which is large compared to the noise output level of about 0.5V, and the flaw signal output value is greater than 1. Can determine defects in
なお本発明はタテワレ疵等鋳片の位相方向の疵を探傷す
る場合、走査盤を更に回転してその走査方向が位相方向
に直交する(α−90°)ようにもできることは勿論で
あり、この場合タテワレ疵等の探傷精度が向上できる。In addition, in the present invention, when detecting flaws in the phase direction of a slab such as vertical cracks, it is of course possible to further rotate the scanning plate so that the scanning direction is perpendicular to the phase direction (α-90°). In this case, the accuracy of detecting vertical cracks etc. can be improved.
又本発明では探傷へ・ノドを走査させるためにリバース
ギヤ、スライドベアリングを採用しているが、夫々、こ
れに限らす他のものを使用してもよいことは勿論であり
、リバースギヤ、スライドベアリングを使用する場合に
は、探傷ヘッドの停止2反転起動時の振動が少なく、安
定した探傷ができる。In addition, in the present invention, a reverse gear and a slide bearing are used to scan the gutter for flaw detection, but it is of course possible to use other gears other than these. When a bearing is used, there is less vibration when the flaw detection head stops, reverses, and starts, allowing stable flaw detection.
以上詳述した如く本発明は2周波数の電流を通電するプ
ローブコイルを鋳片の長平方向に対し傾けて往復走査す
るので探傷すべき全域を探傷でき、また検出された信号
を3個の位相回転器を用いて雑音信号と疵信号とを直交
させ、更には検出軌跡のX成分値とY成分値との比によ
り探傷するので、オンシレージョンマークに平行或いは
直交する疵に拘わらず検出でき、また疵がオンシレージ
ョンマークの谷部等の雑音が生じる個所に存在する場合
であっても正確な疵検出が可能であり、更にはこの疵検
出が連続鋳造中に可能であるためホントチャージプロセ
スによる場合であっても、不良鋳片を手入れ工程に別送
りすることにより圧延後の成品歩留の向上が計れる等価
れた効果を奏する。As described in detail above, the present invention uses a probe coil that carries current of two frequencies to tilt in the longitudinal direction of the slab and scans it back and forth, so that the entire area to be inspected can be inspected. Since the noise signal and the flaw signal are orthogonalized using a detector, and the flaws are detected by the ratio of the X component value and the Y component value of the detection trajectory, it is possible to detect flaws regardless of whether they are parallel or perpendicular to the oncision mark. In addition, even if a flaw exists in a place where noise occurs, such as the valley of an oncision mark, it is possible to accurately detect the flaw.Furthermore, since this flaw detection is possible during continuous casting, it is possible to detect the real charge process. Even in this case, the equivalent effect of improving the product yield after rolling can be achieved by separately sending defective slabs to the care process.
第1図、第2図、第3図、第4図は従来方法の説明図、
第5図は本発明の実施に使用する装置の略示正面断面図
、第6図は第5図のv+−vit線による探傷ボックス
の断面図、第7図ば探傷ヘッド及びその支持管近傍を示
す正面断面図、第8図はフレーム及び移動体近傍を示す
側面図、第9図は第8図のIX−IX線による拡大立面
断面図、第10図は探傷へ・ノド下面を示す模式図、第
11図は本発明の信号処理部のブロック図、第12図、
第13図、第14図、第15図、第16図は本発明の原
理説明に使用する図、第17図は走査軌跡を示した図、
第18図は本発明の効果を示す図である。
1・・・連続鋳造鋳片 53・・・走査盤 71・・・
駆動モータ 80・・・移動体 100・・・探傷ヘッ
ド 102 、103・・・発1辰器 105a、 1
05b・・・ブローフ゛コイル 112゜113 、1
14・・・位相回転器 117・・・X成分最小値検出
回路 118・・・X成分最大値検出回路 119・・
・Y成分最小値検出回路 120・・・Y成分最大値検
出回路 121 、122・・・差分増幅器 123・
・・除算器特 許 出願人 住友金属工業株式会社外1
名代理人 弁理士 河 野 登 夫
第+1211 ¥、a図
茅3[X] 熱+I
第 S 図
第9 図
(a) (b)
(a) (b)
茅14図
(C)
第1占図
” (b)
V16図
vI’1国
ん 5¥ぎ (mm)
第1g7
第1頁の続き
0発 明 者 廣 島 龍 夫 尼崎市西長洲本通央技
術研究所内Figures 1, 2, 3, and 4 are explanatory diagrams of conventional methods;
Fig. 5 is a schematic front cross-sectional view of the apparatus used to carry out the present invention, Fig. 6 is a cross-sectional view of the flaw detection box taken along the v+-vit line in Fig. 5, and Fig. 7 shows the flaw detection head and its support tube vicinity. 8 is a side view showing the frame and the vicinity of the moving body, FIG. 9 is an enlarged elevational sectional view taken along line IX-IX in FIG. 8, and FIG. 10 is a schematic diagram showing the lower surface of the gutter for flaw detection. 11 is a block diagram of the signal processing section of the present invention, FIG.
13, 14, 15, and 16 are diagrams used to explain the principle of the present invention, and FIG. 17 is a diagram showing the scanning locus.
FIG. 18 is a diagram showing the effects of the present invention. 1...Continuous casting slab 53...Scanning plate 71...
Drive motor 80...Moving body 100...Flaw detection head 102, 103...Emission device 105a, 1
05b... blow coil 112゜113, 1
14... Phase rotator 117... X component minimum value detection circuit 118... X component maximum value detection circuit 119...
・Y component minimum value detection circuit 120...Y component maximum value detection circuit 121, 122...Difference amplifier 123・
...Divider patent Applicant: Sumitomo Metal Industries, Ltd. 1
Famous agent Patent attorney Noboru Kono No. +1211 ¥, Figure a 3 [X] Heat + I Figure S Figure 9 (a) (b) (a) (b) Figure 14 (C) 1st horoscope (b) Figure V16 vI'1 country 5 yen (mm) No. 1g7 Continuation of page 1 0 Inventor Tatsuo Hiroshima Inside Nishinagasu Honmichio Technical Research Institute, Amagasaki City
Claims (1)
探傷する方法において、前記プローブコイルに2周波数
の電流を通電せしめると共にプローブコイルを鋳片の移
動方向に対し所定の角度をなす方向に往復走査せしめ、
検出信号の一方の周波数成分の雑音信号成分と、他方の
周波数成分の疵信号成分とを各周波数成分のベクトル平
面にて一方の直交軸に一致させるべく検出信号の各周波
数成分の一方又は両方を位相回転し、前記一方の周波数
成分の雑音信号に直交する成分及び前記他方の周波数成
分の疵信号成分に直交する成分を抽出し、抽出した両成
分を新たなベクトル平面にて直交せしめ、その信号軌跡
の各直交成分の最大値と最小値との差の比により疵信号
と雑音信号とを弁別することを特徴とする連続鋳造鋳片
の渦流探傷方法。1. In a method of eddy current flaw detection of continuously cast slabs using a probe coil, the probe coil is energized with electric current at two frequencies, and the probe coil is reciprocated in a direction forming a predetermined angle with respect to the direction of movement of the slab. scan,
One or both of the frequency components of the detection signal are adjusted so that the noise signal component of one frequency component of the detection signal and the defect signal component of the other frequency component are aligned with one orthogonal axis in the vector plane of each frequency component. The phase is rotated, a component orthogonal to the noise signal of the one frequency component and a component orthogonal to the defect signal component of the other frequency component are extracted, and the two extracted components are orthogonalized in a new vector plane, and the signal is An eddy current flaw detection method for continuously cast slabs, characterized in that a flaw signal and a noise signal are discriminated based on the ratio of the difference between the maximum value and the minimum value of each orthogonal component of the trajectory.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59016255A JPS60161556A (en) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | Method of eddy current flaw detection for continuously-cast piece |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59016255A JPS60161556A (en) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | Method of eddy current flaw detection for continuously-cast piece |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60161556A true JPS60161556A (en) | 1985-08-23 |
JPH0516545B2 JPH0516545B2 (en) | 1993-03-04 |
Family
ID=11911450
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59016255A Granted JPS60161556A (en) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | Method of eddy current flaw detection for continuously-cast piece |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60161556A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0282930A2 (en) * | 1987-03-17 | 1988-09-21 | Törnbloms Kvalitetskontroll Ab | Method and device for phase-selective testing and/or measuring of test objects with eddy current techniques. |
-
1984
- 1984-01-31 JP JP59016255A patent/JPS60161556A/en active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0282930A2 (en) * | 1987-03-17 | 1988-09-21 | Törnbloms Kvalitetskontroll Ab | Method and device for phase-selective testing and/or measuring of test objects with eddy current techniques. |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0516545B2 (en) | 1993-03-04 |
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