JPS60155991A - 中性子又はガンマ線又はその双方の検出系 - Google Patents
中性子又はガンマ線又はその双方の検出系Info
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- JPS60155991A JPS60155991A JP20389084A JP20389084A JPS60155991A JP S60155991 A JPS60155991 A JP S60155991A JP 20389084 A JP20389084 A JP 20389084A JP 20389084 A JP20389084 A JP 20389084A JP S60155991 A JPS60155991 A JP S60155991A
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- light
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- optical fiber
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- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
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- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
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- G—PHYSICS
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- G01T1/16—Measuring radiation intensity
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- G01T1/202—Measuring radiation intensity with scintillation detectors the detector being a crystal
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- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T3/00—Measuring neutron radiation
- G01T3/06—Measuring neutron radiation with scintillation detectors
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、大きな受容面に入射した放射線がシンチレ
ータから光量子を放出させ、この光量子が光ファイバに
光結合される中性子とγ線のいずれか一方又はその双方
に対する検出系に関する。
ータから光量子を放出させ、この光量子が光ファイバに
光結合される中性子とγ線のいずれか一方又はその双方
に対する検出系に関する。
この発明は特に回転橿室用のものを対象として考えてい
る。
る。
中性子検出の実施は人員堰塞における核物質監視の補助
手段である。持出し側において中性子遮蔽を行なうこと
はγ検出の場合よりもはるかに困難であるから、材料対
照領域からの不法な核物質搬出を発見する確率はこの補
助手段によって高められる。
手段である。持出し側において中性子遮蔽を行なうこと
はγ検出の場合よりもはるかに困難であるから、材料対
照領域からの不法な核物質搬出を発見する確率はこの補
助手段によって高められる。
ZnS (Ag)は検出目的に使用できる最強力のシン
チレーション物質の一つである。しかし効果的な検出器
の構成には発生した光の、坤“集と光電増倍管(PTM
)への伝達を最良にすることが条件となる。従来次のよ
うな光収集構造が採用されている。文献(1)(別表参
照)によるPTM入射窓では検出盤が直接PTMにとり
つけられ、光伝送路を短くして損失を少くする。この構
造の欠点は使用される光電増倍管の入射窓の直径に限定
されることである。文献(2)Kよる構造はシンチレー
タ内に組み込まれた光伝導板の有効光結合面を5倍に拡
げるが、この構造でも小型のユニットでは回転堰塞に設
けた場合捕捉立体角が不さ過ぎる。
チレーション物質の一つである。しかし効果的な検出器
の構成には発生した光の、坤“集と光電増倍管(PTM
)への伝達を最良にすることが条件となる。従来次のよ
うな光収集構造が採用されている。文献(1)(別表参
照)によるPTM入射窓では検出盤が直接PTMにとり
つけられ、光伝送路を短くして損失を少くする。この構
造の欠点は使用される光電増倍管の入射窓の直径に限定
されることである。文献(2)Kよる構造はシンチレー
タ内に組み込まれた光伝導板の有効光結合面を5倍に拡
げるが、この構造でも小型のユニットでは回転堰塞に設
けた場合捕捉立体角が不さ過ぎる。
従来の等方性光伝送路は次の欠点を持つ。
(1)光密度が高いシンチレータに直接光結合する場合
散乱損失が生ず机 (2)減衰による損失が大きい。
散乱損失が生ず机 (2)減衰による損失が大きい。
(3)光フアイバ断面(光放出面)と集光面の面積比が
不利である。
不利である。
大形のシンチレータ結晶の光放出効率は屈折率に関係し
て5乃至11%程度である。
て5乃至11%程度である。
光学的に希薄な(屈折率小)媒質である空気に境を接す
る等方性光伝送路の結合効率と伝送効率に関する上記の
値は大面積のシンチレータに適した光学系は次の要求を
満たしていなければならないことを示している。
る等方性光伝送路の結合効率と伝送効率に関する上記の
値は大面積のシンチレータに適した光学系は次の要求を
満たしていなければならないことを示している。
(1)境界面においての散乱損失を避けるため光源と光
伝送路の間はシンチレータ(n z 1.5 )よりも
屈折率が低い中間層をはさんで隔離しなければならない
。
伝送路の間はシンチレータ(n z 1.5 )よりも
屈折率が低い中間層をはさんで隔離しなければならない
。
(2)光電増倍管までの伝送距離を乗り越えるため充分
な強度の光を光結合すること。
な強度の光を光結合すること。
光ファイバ端面を通しての光結合方式は検出器に使用す
る場合必要な光路の反転に際して文献(3)の残光増幅
器の大画面スクリーンの構成に利用されている。この場
合の欠点はファイバ材料に対する高度の要求と光の放出
面に対する入射面の比の達成可能な低減率が低いことで
ある。これらの欠点により従来使用されていなかった光
結合方式が考えられるようになった。
る場合必要な光路の反転に際して文献(3)の残光増幅
器の大画面スクリーンの構成に利用されている。この場
合の欠点はファイバ材料に対する高度の要求と光の放出
面に対する入射面の比の達成可能な低減率が低いことで
ある。これらの欠点により従来使用されていなかった光
結合方式が考えられるようになった。
この発明の基本的な目的は、冒頭に挙げた大面積検出系
を核物理の分野でも有効なシンチレーション物質の使用
も、又検出系への光の伝達に有効なファイバの使用をも
可能にするように構成することである。
を核物理の分野でも有効なシンチレーション物質の使用
も、又検出系への光の伝達に有効なファイバの使用をも
可能にするように構成することである。
この目的は特許請求の範囲第1項に特徴として挙げた構
造とすることによって達成される。この発明の有利な実
施態様は特許請求の範囲第2項以下に示されている。
造とすることによって達成される。この発明の有利な実
施態様は特許請求の範囲第2項以下に示されている。
この発明による検出系には光の収集機能と伝送機能が分
離して作用する異方性光伝送系を使用すると特に有利で
ある。これによって空間的に拡がった検出系において光
の吸収による損失が著しく低下する。光導体の表面を通
して入射した光強度は光導体端に結合されたオプトエレ
クロニク増幅器にほとんど減衰されることなく到着する
。
離して作用する異方性光伝送系を使用すると特に有利で
ある。これによって空間的に拡がった検出系において光
の吸収による損失が著しく低下する。光導体の表面を通
して入射した光強度は光導体端に結合されたオプトエレ
クロニク増幅器にほとんど減衰されることなく到着する
。
ファイバクラッドを通す光結合作用は、ファイバコア内
に励起可能の固有振動波の位相速度と偏光方向の同期化
に基くものである。
に励起可能の固有振動波の位相速度と偏光方向の同期化
に基くものである。
円筒対称ファイバを使用する場合電磁波の形状に基いて
ファイバクラッドを通しての光結合を可能にする特性が
生ずることは実験的に確められている。ファイバコアの
半径又はファイバの直径の上昇に伴って増大するモード
容積(可能な固有振動の個数)はファイバクラッド内の
両波の同期化確率を高める。この事実は時間空間的に確
率現象的の位相変化が起る非コヒーレント光の結合に対
して重大な意味を持つ。
ファイバクラッドを通しての光結合を可能にする特性が
生ずることは実験的に確められている。ファイバコアの
半径又はファイバの直径の上昇に伴って増大するモード
容積(可能な固有振動の個数)はファイバクラッド内の
両波の同期化確率を高める。この事実は時間空間的に確
率現象的の位相変化が起る非コヒーレント光の結合に対
して重大な意味を持つ。
円筒対称ファイバのそれ自体として公知であるこのよう
な特性は従来次の場合に限定されていた。
な特性は従来次の場合に限定されていた。
a)光学的トンネル効果を利用するときは別の境界条件
に導く平面形異方性薄膜光ファイバを使用する場合 b)コヒーレント光源(レーザー光源)を結合する場合
。
に導く平面形異方性薄膜光ファイバを使用する場合 b)コヒーレント光源(レーザー光源)を結合する場合
。
しかしこれらは技術的に利用されるものではなく、特に
光学異方性光ファイバが中性子検出に使用されたことは
ない。
光学異方性光ファイバが中性子検出に使用されたことは
ない。
次に第1図乃至第4図を参照して理論と実験結果によっ
てこの発明を更に詳細に説明する。
てこの発明を更に詳細に説明する。
プリズム形の基体5 (ZnS (Ag)/Bマトリッ
クス)の光受容面2を通して光結合されているファイバ
検出器1の動作原理を第1図に示す。中性子束3により
基体5のシンチレーション物質から閃光4が放出される
。この閃光は平行に並べられ多重層状に重ねられたファ
イバ6によって捕捉される。各ファイバ6は基板の両端
面においてファイバ束7に會とめられ、その一方は光電
増倍管8に導かれる。
クス)の光受容面2を通して光結合されているファイバ
検出器1の動作原理を第1図に示す。中性子束3により
基体5のシンチレーション物質から閃光4が放出される
。この閃光は平行に並べられ多重層状に重ねられたファ
イバ6によって捕捉される。各ファイバ6は基板の両端
面においてファイバ束7に會とめられ、その一方は光電
増倍管8に導かれる。
次にファイバ60種々の断面半径においてシンチレータ
5内に埋め込まれた光捕集面と光放出面との面積比と照
射光強度の間の関係を説明する。
5内に埋め込まれた光捕集面と光放出面との面積比と照
射光強度の間の関係を説明する。
光結合個所(屈折率nl 、 +12の境界面)におい
て達成可能の照射光強度は各ファイバの半径Rで決定さ
れる光捕集面への光放出面に対する面積比に対応する。
て達成可能の照射光強度は各ファイバの半径Rで決定さ
れる光捕集面への光放出面に対する面積比に対応する。
ファイバ半径孔の低下に伴ってファイバのクラッド表面
積はRに比例して減少し、ファイバ端面積はR2に比例
して減少する。シンチレータ内の光捕集面積を一定に保
持するためには、ファイバの直径の低下と共にファイバ
の本数を増す必要がある。ファイバ束の端面積もファイ
バ半径孔の自乗に比例して低下するから、1本のファイ
バ6を追加したときの光結合表面の増大は次式%式% 埋め込まれたマントル表面積が大きくなると各シンチレ
ータ光源と近接光フアイバ表面との間の間隔が減少し、
光ファイバ6に結合される光の強度が増大する。
積はRに比例して減少し、ファイバ端面積はR2に比例
して減少する。シンチレータ内の光捕集面積を一定に保
持するためには、ファイバの直径の低下と共にファイバ
の本数を増す必要がある。ファイバ束の端面積もファイ
バ半径孔の自乗に比例して低下するから、1本のファイ
バ6を追加したときの光結合表面の増大は次式%式% 埋め込まれたマントル表面積が大きくなると各シンチレ
ータ光源と近接光フアイバ表面との間の間隔が減少し、
光ファイバ6に結合される光の強度が増大する。
次表に一般的なファイバ直径に対して種々の境界条件の
下での光源・結合個所間の距離を示す。
下での光源・結合個所間の距離を示す。
1500 1100 R3400
1050227012,0315
5001000025,1150
10025000012G、0 、 3070 510
200 180.0 213CI 2777780 4
20.0 910 25000000 125’ZO3
これから1500μフアイバと70μフアイバとの間で
光結合個所(屈折率n1とR2の境界面)においての照
射光強度比は1/863となる。
200 180.0 213CI 2777780 4
20.0 910 25000000 125’ZO3
これから1500μフアイバと70μフアイバとの間で
光結合個所(屈折率n1とR2の境界面)においての照
射光強度比は1/863となる。
上記の説明から光フアイバ検出器の構成に対しては次の
事項が重要であることが示唆される。
事項が重要であることが示唆される。
−ファイバ・クラッドを通しての光結合のメカニズム
−ファイバに入射した光に対する伝送特性異方性光ファ
イバは屈折率n1のコアと屈折率n2のクラッドから構
成される。光波の伝送に際して電磁場エネルギーは主と
して高い屈折率n1の物質内に偏在する(文献(4))
。
イバは屈折率n1のコアと屈折率n2のクラッドから構
成される。光波の伝送に際して電磁場エネルギーは主と
して高い屈折率n1の物質内に偏在する(文献(4))
。
低屈折率媒質との境界面における全反射の条件は幾何光
学のスネルの法則から導かれる(文献(5))。
学のスネルの法則から導かれる(文献(5))。
詳細な理論に立入ることなく主要な結論だけを次に挙げ
る。
る。
げ)光の伝送は低屈折率n2の層における全反射の原理
に基く。有限の光フアイバ直径に対して光の波長λ、開
口数NAおよびファイバコア直径aに関係してファイバ
内の伝搬条件が具体的にめられる。
に基く。有限の光フアイバ直径に対して光の波長λ、開
口数NAおよびファイバコア直径aに関係してファイバ
内の伝搬条件が具体的にめられる。
(ロ)幾何光学からの推断に反して全反射の場合禁止側
の低屈折率媒質にもエネルギーが移る。その際波動ペル
トルkoはnl・02 間の境界層に平行に02 層内
を進む。周囲の媒質への放射損失によるファイバコアの
光損失はファイバクラッドの厚さSの部分(トンネル領
域)によって決定される。波長λが05μm付近の可視
光に対する多モード・ファイバでは一般に厚さSはほぼ
波長の7乃至10倍である。
の低屈折率媒質にもエネルギーが移る。その際波動ペル
トルkoはnl・02 間の境界層に平行に02 層内
を進む。周囲の媒質への放射損失によるファイバコアの
光損失はファイバクラッドの厚さSの部分(トンネル領
域)によって決定される。波長λが05μm付近の可視
光に対する多モード・ファイバでは一般に厚さSはほぼ
波長の7乃至10倍である。
これによって生ずるらせん状の光伝搬はn2媒質のトン
ネル領域内のジンクロン表面波と外部シンチレータ光と
の結合を補助の光カブラ例えばプリズムを使用すること
なく可能にする。シンチレータLQnから放出された光
は円錐状に拡がり、nl・n2間の境界面に接触する。
ネル領域内のジンクロン表面波と外部シンチレータ光と
の結合を補助の光カブラ例えばプリズムを使用すること
なく可能にする。シンチレータLQnから放出された光
は円錐状に拡がり、nl・n2間の境界面に接触する。
入射角γVと07′の選定に対応して位相速度と偏光方
向に関する同期化条件が一致する場合、共振により固有
振動に属する表面波を通してファイバ内にV番目の電磁
固有振動が起る。湾曲した光学境界面の形状効果を利用
する光結合は実地において次の利点を示す。
向に関する同期化条件が一致する場合、共振により固有
振動に属する表面波を通してファイバ内にV番目の電磁
固有振動が起る。湾曲した光学境界面の形状効果を利用
する光結合は実地において次の利点を示す。
(1)低屈折率フィルムへの光結合に使用される補助の
結合系例えばプリズム・カプラが不要となる。
結合系例えばプリズム・カプラが不要となる。
(2)光結合のメカニズムは結合光路の優先選択に関し
て不均等である。その結果入射した光エネルギーは長い
伝送区間に亘ってファイバ内にとどまる。
て不均等である。その結果入射した光エネルギーは長い
伝送区間に亘ってファイバ内にとどまる。
(3) ファイバの全長が結合領域として利用される。
入射した光エネルギーの中ファイバの品質に関係して約
10%は結合損失と吸収損失によって失われる。
10%は結合損失と吸収損失によって失われる。
検出器の構想の適否を調べるため第2図に断面を示した
堰塞検出器を組立てた。矩形容器9は蓋板10と底板1
1から成り、これらは互にねじ止めされ、周縁に沿って
置かれたバッキング12により基板5を収容する室13
が外周に対して気密閉鎖される。光ファイバ束7(第1
図)、は多くの場合対角線上に配置された管14.15
を通して引き出され、そこに固定される。
堰塞検出器を組立てた。矩形容器9は蓋板10と底板1
1から成り、これらは互にねじ止めされ、周縁に沿って
置かれたバッキング12により基板5を収容する室13
が外周に対して気密閉鎖される。光ファイバ束7(第1
図)、は多くの場合対角線上に配置された管14.15
を通して引き出され、そこに固定される。
有効な検出面の大きさは900 ct!であり、直径1
500μmのファイバが単層配置をもってZn5(A’
g)−ホウ酸・マトリックス内に埋め込まれる。断面積
の大きいファイバの使用は光学的の見地からは不利であ
るが、加工技術上では有利である。太いファイバを使用
して充分な光結合効率を達成するためファイバのクラッ
ド表面を粗面にした。表面に作られた散乱中心は平面光
ファイバに使用された格子カプラと類似の作用がある。
500μmのファイバが単層配置をもってZn5(A’
g)−ホウ酸・マトリックス内に埋め込まれる。断面積
の大きいファイバの使用は光学的の見地からは不利であ
るが、加工技術上では有利である。太いファイバを使用
して充分な光結合効率を達成するためファイバのクラッ
ド表面を粗面にした。表面に作られた散乱中心は平面光
ファイバに使用された格子カプラと類似の作用がある。
nl・n2境界面に垂直に入射するシンチレータ光が表
面波との結合に同期化された入射方向に散乱することに
より、結合光の強度を平滑なファイバ表面の場合に比べ
て約20倍に高めることができる。
面波との結合に同期化された入射方向に散乱することに
より、結合光の強度を平滑なファイバ表面の場合に比べ
て約20倍に高めることができる。
γ感度の測定は次の境界条件の下で行なわれた。
最適パラメーターを文献(7)に記載されている仕様と
試行によって調整する。使用された増幅電子部品(Ph
ilips社XP2230光電増倍管)はγ検出用のI
RT液体シンチレータ装置のそれと同一である。
試行によって調整する。使用された増幅電子部品(Ph
ilips社XP2230光電増倍管)はγ検出用のI
RT液体シンチレータ装置のそれと同一である。
選別器しきい値Uuと窓幅IJyは種々のγエネルギー
において測定され゛たSN比S5/Bを使用して決める
。測定されたエネルギー値範囲はAm−241(Uu”
0.IVにおいてE=60 keV)からBa−133
(E=360 keV)を経てCo−60(Eン117
0 key)に達する。
において測定され゛たSN比S5/Bを使用して決める
。測定されたエネルギー値範囲はAm−241(Uu”
0.IVにおいてE=60 keV)からBa−133
(E=360 keV)を経てCo−60(Eン117
0 key)に達する。
選別器の設定は測定結果としてUu=0.IV。
Uw=3.OVK固定された。
線源から検出器板の中心までの距離の種々の値において
められたSN比は第3図に示されている。更に誤嘗報率
を0.01%として検出確率95%に対応してS2//
B−5,650”であることも記入されている。設定さ
れた4σ警報しきい値は電子装置の安定度の変動を考慮
したものである。検出確率95%は書報しきい値より1
.650だけ高い正味信号5=G−Bに対応し8%る。
められたSN比は第3図に示されている。更に誤嘗報率
を0.01%として検出確率95%に対応してS2//
B−5,650”であることも記入されている。設定さ
れた4σ警報しきい値は電子装置の安定度の変動を考慮
したものである。検出確率95%は書報しきい値より1
.650だけ高い正味信号5=G−Bに対応し8%る。
要求されたSN比は絶対m数し−)Bに無関係に
S2’B = (5,65婦)”/B=32となる。S
2/Bは増幅パラメータの調整にはほとんど無関係な検
出器良否判定基準となる。
2/Bは増幅パラメータの調整にはほとんど無関係な検
出器良否判定基準となる。
第3図の測定値は検出板中心位置を(x、y)= (5
,5)としてそこから種々の距離においてめたものであ
る。
,5)としてそこから種々の距離においてめたものであ
る。
第4図には2を一定として光電増倍管までの距離に対す
るSN比S2/Bの値を示す。y=lは最短距離30c
mに対応し、y−9は約QOcmの距離に対応する。
るSN比S2/Bの値を示す。y=lは最短距離30c
mに対応し、y−9は約QOcmの距離に対応する。
測定結果は異方性光ファイバが大きな直径のファイバを
使用する場合にも光の収集ならびに伝送媒質として機能
することを保証している。
使用する場合にも光の収集ならびに伝送媒質として機能
することを保証している。
中性子とガンマ線に対して予期される信号強度の差異に
基く言1数レート効率の差異からZ n 8 (Ag)
−ホウ酸検出器が同時にγ検出に使用され、その際信号
の分離は異るエネルギーしきい値の設定により達成され
るとの推定が可能である。
基く言1数レート効率の差異からZ n 8 (Ag)
−ホウ酸検出器が同時にγ検出に使用され、その際信号
の分離は異るエネルギーしきい値の設定により達成され
るとの推定が可能である。
−■里文監
Nucleonis (July 1956)+21
W、 8. EmmerichPlenum Pres
s、’London、 N、 Y、 1973(5)
W、 Pohl Springer、 Berlin 1983
W、 8. EmmerichPlenum Pres
s、’London、 N、 Y、 1973(5)
W、 Pohl Springer、 Berlin 1983
第1図はこの発明の対象となる光ファイノぐ検出器の概
観図、第2図はこの発明による堰塞検出器の断面図、第
3図と第4図は種々の放射線エネルギーにおいて放射線
源・検出面間の距離と8N比の関係を示すグラフである
。第1図において1:ファイバ検出器、3:中性子束、
4:シンチレータ閃光、5:シンチレーション物質基板
、6:光ファイバ、8:光電増倍管。 手続補正書(方式) 昭和60年2月28日 1、事件の表示 事件との関係 特許出願人 住 所 ドイツ連邦共和国カールスルーIC番地なし)
名称 ケルン7オルシュングスツエントルム、カールス
ルーエ、ゲゼルシャフト、ミツト、ベシュレンクテル、
ハフラング4、代理人〒112 住 所 東京都文京区大塚4−16−12σ1用文献 (1) サン、マルムバークおよびベチャック著「シン
チレーション カウンタース」 (K、 H,Sun、 P、 R,Ma Imberg
、、 F、んPecjakScintillation
CountersNucleonis(July 1
956))(21エマーリッチ著r77アース) ニュ
ートロンシンチレータ」 (W、 S、 FjTlITIerichA Fast
Neutron 5cintillatorRev、
5cien、In5t、、Vol、25.No、1.J
an。 1954〕 (3)アラン著[ファイバ オブチクス、セオリー ア
ンド プラクチス] (Fibre 0ptics、Theory and
PracticePlenum Press、 Lon
don、 N、 Y、 1973 )(4)カバニおよ
びパーク著「ファイバ オブチクス■、ウエイブガイド
エフエクツ」 (N、 S、 Kapany、 J、 J、 Burk
eFiber 0ptics ■、Waveguide
EffectsJ、 Am、、Opt、 Soc、
Vol、 51. No、 10. Oct。 19(11) (5)ボール著「オフチク ラント アトームフイジー
ク」〔W、 Pol+1 0ptik und Atomphysik8prin
ger 1928) (6)ホルン著「オフチク」 (M、130rn ptik Springer、Berlin 1033)(7)チ
ャン著「ペリオディック ストラクチュアズ アンドゼ
アアプリケーション イン インテグレーテッド オフ
。 チフス」 (W、 S、 C,C11ang
観図、第2図はこの発明による堰塞検出器の断面図、第
3図と第4図は種々の放射線エネルギーにおいて放射線
源・検出面間の距離と8N比の関係を示すグラフである
。第1図において1:ファイバ検出器、3:中性子束、
4:シンチレータ閃光、5:シンチレーション物質基板
、6:光ファイバ、8:光電増倍管。 手続補正書(方式) 昭和60年2月28日 1、事件の表示 事件との関係 特許出願人 住 所 ドイツ連邦共和国カールスルーIC番地なし)
名称 ケルン7オルシュングスツエントルム、カールス
ルーエ、ゲゼルシャフト、ミツト、ベシュレンクテル、
ハフラング4、代理人〒112 住 所 東京都文京区大塚4−16−12σ1用文献 (1) サン、マルムバークおよびベチャック著「シン
チレーション カウンタース」 (K、 H,Sun、 P、 R,Ma Imberg
、、 F、んPecjakScintillation
CountersNucleonis(July 1
956))(21エマーリッチ著r77アース) ニュ
ートロンシンチレータ」 (W、 S、 FjTlITIerichA Fast
Neutron 5cintillatorRev、
5cien、In5t、、Vol、25.No、1.J
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ンド プラクチス] (Fibre 0ptics、Theory and
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don、 N、 Y、 1973 )(4)カバニおよ
びパーク著「ファイバ オブチクス■、ウエイブガイド
エフエクツ」 (N、 S、 Kapany、 J、 J、 Burk
eFiber 0ptics ■、Waveguide
EffectsJ、 Am、、Opt、 Soc、
Vol、 51. No、 10. Oct。 19(11) (5)ボール著「オフチク ラント アトームフイジー
ク」〔W、 Pol+1 0ptik und Atomphysik8prin
ger 1928) (6)ホルン著「オフチク」 (M、130rn ptik Springer、Berlin 1033)(7)チ
ャン著「ペリオディック ストラクチュアズ アンドゼ
アアプリケーション イン インテグレーテッド オフ
。 チフス」 (W、 S、 C,C11ang
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)光ファイバが受容面全体に亘ってシンチレータ内に
設けられていること、光の結合が光ファイバのクラッド
面全体に亘って行なわれること、光ファイバが異方性構
成であることを特徴とする検出放射線の受容面が大きく
、シンチレータで発生した光量子が光ファイバに導かれ
る中性子とガンマ線のいずれか一方又はその双方の検出
系。 2)光ファイバが放射線受容面に平行な一つ又は複数の
層を形成するように互に平行に並べられてシンチレータ
内に埋め込まれていることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の検出系。 3)シンチレーション光の取り出しが光ファイバの一方
の端面でtテなわれることを特徴とする特許請求の範囲
第1項又は第2項記載の検出系。 4)光ファイバが円筒対称構成であり、そのコアの屈折
率n1がクラッドの屈折率n2より大きいことを特徴と
する特許請求の範囲第1項乃至第3項の一つに記載の検
出系。 5)光ファイバのクラッドの表面が粗面になっているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第4項の一つ
に記載の検出系。 6)受容面が正方形又は矩形であることを特徴とする特
許請求の範囲第1項乃至第5項の一つに記載の検出系。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19833335512 DE3335512A1 (de) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | Neutronen- und/oder gammadetektionssystem |
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- 1983-09-30 DE DE19833335512 patent/DE3335512A1/de active Granted
-
1984
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- 1984-09-14 GB GB08423269A patent/GB2149193B/en not_active Expired
- 1984-09-28 JP JP20389084A patent/JPS60155991A/ja active Pending
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